TWI240090B - Projector - Google Patents

Description

1240090 ⑴ 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於投影機，特別爲藉由掃描變調之雷射光 顯示畫像之投影機。 [先前技術】 投影機係藉由投射因應於由電腦等之畫像供給裝置所 供給之畫像信號之光，顯示畫像之畫像顯示裝置。傳統上 於投影機之光源部主要使用超高壓水銀燈等之金屬鹵素燈 泡。近年係揭示著於光源光用雷射光之雷射投影機。於投 影機之光源使用雷射光源之情況中，由於雷射光之指向性 較高，相較於使用燈光源乃可有効使用光。具有雷射光源 之投影機之構造乃較爲簡單且顏色重現性也較高。又藉由 使用雷射光源係可小型化投影機之光學系統。因此雷射投 影機係相較於使用傳統之金屬鹵素燈泡之投影機，乃具有 較爲小型輕薄、且可得顏色重現性良好之投射像之優點。 使用雷射光而爲了顯示畫像，係有必要有一定之強 度。因此例如由於故障而掃描停止之雷射光直接射入眼晴 之情況，乃對眼晴造成不良影響。或雷射光於一定期間以 上照射吸收率高之物體之情況中，可能會起火。特別係雷 射光之掃描停止之時，必須考量可能引起燒損螢幕。因此 因某種理由雷射光之掃描停止之時，藉由瞬時遮斷雷射光 之產生，係有必要確實避免此缺陷之事態發生。爲了減低 曝露雷射光之事故，且安全操作雷射裝置之技術，係例如 1240090 (2) 揭示於特開昭57- 6 0 3 0 9號公報，特開2 0 0 1 -2 6 7 67 0號公 幸辰。 但是藉由傳統之技術當確認雷射光之掃描無法正常進 行狀態，到遮斷雷射光產生之間係有必要經過介由控制電 路之處理經路。遮斷雷射光產生係並非直接對雷射光源進 行，而是介由控制電路間接性進行。當間接性進行遮斷雷 射光之產生時，因控制電路本身之故障而可能有無法完全 回避缺陷之發生。雷射光由於具有較高指向性，故曝露雷 射光、特別爲曝露高輸出之雷射光係成爲問題。又也有從 投影機意圖取出雷射光源而轉用於其他用途之可能性。如 此將雷射光源用於其他用途，當爲高輸出之雷射光源之時 乃更爲問題。本發明係爲了決解上述問題點而發明，且以 提供一種雷射光之掃描於無法正常進行之狀態時可直接阻 斷雷射光之產生，高安全性之投影機爲目的。並且本發明 也以提供可減低轉用於其他用途之可能性之投影機爲目 的。 [發明內容】 藉由本發明時，係可提供一種投影機，其特徵具有： 因應於畫像信號而供給光束狀之雷射光之雷射光源’和將 從前述雷射光源之前述雷射光掃描於至少一維方向之掃描 部，和以第1力量驅動前述掃描部之掃描驅動部，和以第 2力量於特定位置停止前述掃描部而保持之保持部’遮光 藉由前述保持部所保持之前述掃描部之前述雷射光之遮光 -6 - 1240090 (3) 部；前述掃描驅動部，當前述第1力量相較於前述第2力 量較大時，前述掃描部解除藉由前述保持部所保持之狀態 而驅動前述掃描部；前述保持部，當前述第2力量相較於 前述第〗力量較大時，於特定位置停止前述掃描部而加以 保持。 在此當雷射光源當供給線狀之光束光時，掃描部係於 線狀之長邊方向往略垂直之一唯方向掃描線狀雷射光。又 當雷射光源當供給點狀之光束光時，掃描部係於二唯方向 掃描點狀雷射光。 掃描部係藉由掃描驅動部來之第1力量進行掃描動 作。又掃描部係藉由從保持部來之第2力量停止並保持於 特定之位置。在此1力量與第2力量係作爲相互抵消之作 用。因此掃描部當第1力量相較於第2力量較大時，解除 所保持之狀態而進行掃描動作。藉由某種理由第1力量無 法充分抵消第2力量而進行掃描動作時，即使於無法充分 之情況或當第1力量成爲0之情況中，掃描部係變爲較難 進行常之掃描動作。所謂掃描部之掃描動作無法正常進 行，係例如掃描動作完全停止或並非一定之周期且並非爲 特定之速度之情況。當第1力量不完全或成爲0時，掃描 部係藉由從保持部之第2力量之作用力保持且停止於一定 之位置。此時遮光部係遮光從掃描部來之雷射光。藉由此 即使雷射光於無法正常掃描狀態之時，也可直接遮斷雷射 光之產生。結果，係可得到安全性高之投影機。 又作爲本發明之最佳形態，係具有驅動前述雷射光源 1240090 (4) 之光源驅動部，和檢測入射於前述遮光部之前述雷射光之 檢測部；前述光源驅動部，前述檢測部於檢測前述雷射光 時，最好將停止供給從前述雷射光源之前述雷射光。光源 驅動部，檢測部於檢測雷射光之時瞬間停止供給從雷射光 源來之雷射光。藉由此，不但可直接遮斷雷射光之產生亦 可防止遮光部之燒損。結果，係可得到安全性高之投影 機。 又作爲本發明之最佳形態，係前述掃描驅動部，具有 藉由流動電流而產生前述第1力量之磁力線圈；前述保持 部，最好具有產生前述第2力量之回復力之彈性構件。第 1力量無法充分抵消第2力量而進行掃描動作時，或當第 1力量成爲〇之情況中，掃描部係變爲較難進行常之掃描 動作。此時藉由保持部之彈性構件之第2力量係超過第1 力量。因此藉由第2力量係可於特定位置停止並保持掃描 部。藉由此係可直接遮斷雷射之產生。結果，係可得到安 全性高之投影機。 又作爲本發明之最佳形態，係前述掃描驅動部，具有 藉由流動電流而產生前述第]力量之磁力線圈；前述保持 部，最好具有產生前述第2力量之磁力之永久磁鐵。第1 力量無法充分抵消第2力量而進行掃描動作時，或當第1 力量成爲〇之情況中，掃描部係變爲較難進行常之掃描動 作。此時藉由保持部之永久磁鐵之第2力量係超過第1力 量。因此藉由第2力量係可於特定位置停止並保持掃描 部。藉由此係可直接遮斷雷射之產生。結果，係可得到安 1240090 (5) 全性高之投影機。 又作爲本發明之最佳形態，係提供一種投影機，其特 徵具有：供給因應於畫像信號所調變之光束光之雷射光 源，和於特定面內掃描前述光束光之掃描部，和投射前述 所調變之光束光之螢幕，和感光從前述螢幕之反射光之螢 幕監視部，和因應於從前述螢幕監視部之輸出，停止從前 述雷射光源之前述光束光之供給之光束光供給部。 藉由此當於螢幕發生異常時，係可停止供給雷射光。 在此於以下本說明書中所謂螢幕發生異常係指螢幕之破 損、燒損或於螢幕產生定點孔之情況。當於螢幕發生此等 之異常時，從雷射光源來之雷射光係將不會於螢幕擴散而 往投影機之外射出。因此有曝光雷射光之可能性。對於 此，本發明係於螢幕發生異常時即可停止供給雷射光。在 此於以下本說明書中所謂停止供給雷射光係指停止振動雷 射光，遮蔽雷射光源之射出開口部（此情況雷射源本身亦 可振動），或遮斷雷射光源之電源等。藉由此係可得到減 低藉由雷射光而曝光之投影機。又最好係當檢測螢幕異常 之時，藉由發出警告聲而進行提高操作者或觀察者注意之 警鈴動作。 又藉由本發明之最佳形態時，前述螢幕監視部，係最 好由射出不可見光之螢幕監視用光源部，和感光藉由前述 螢幕所反射之前述不可見光之螢幕監視用感光部所形成。 螢幕係於特定之方向彎屈從雷射光源來之大部分雷射 光再加以透過。此時雷射光之一部分係成爲往入射側之空 1240090 (6) 間反射之後方散亂光。當於螢幕發生異常時’異常部分之 反射率係相較於正常部分之反射率較爲小。例如當於螢幕 產生定點孔，雷射光係通過定點孔而往投影機外射出。如 此，於螢幕之異常部分中後方散亂光之強度係變小。因 此，藉由測檢從螢幕反射來之不可見光之強度，係可監視 螢幕之異常。又作爲不可見光係例如可使用紅外線光。 又作爲本發明之最佳形態，係於前述螢幕與前述螢幕 監視用感光部間之光路中，更具有透過前述不可見光，吸 收或反射前述雷射光之過濾部；前述螢幕監視用感光部係 感光從前述螢幕之前不可見光；前述光束光供給停止部， 當感光前述螢幕監視用感光部之前述不可見光之強度相較 於特定値較爲小時，最好停止供給前述光束光。於螢幕照 射形成畫像之雷射光與從螢幕監視用感光部來之不可見 光。然後於螢幕中雷射光之一部分與不可見光之一部分係 往後方反射。於本形態中更由於具有透過不可見光吸收或 反射雷射光之過濾部；故可有効儘將不可見光導往螢幕監 視用感光部。 又藉由本發明之最佳形態時，前述螢幕監視用光源 部，係做爲具有特定脈衝列之調變光而射出前述不可見 光；前述螢幕監視用感光部係感光具有前述脈衝列之前述 不可見光；前述光束光供給停止部，藉由感光前述螢幕監 視用感光部之前述不可見光之前述脈衝列之強度相較特定 値小等之理由，當前述當未檢測感光前述螢幕監視用感光 部之前述不可見光之前述脈衝列時，停止前述光束光之供 -10 - 1240090 (7) 給。於螢幕發生異常時，如上所述異常部分之反射率係變 低。因此當於螢幕正常部分照射不可見光時，於營幕監視 用感光部可測出脈衝列。對於此當不可見光照射於異常部 分時，於螢幕監視用感光部脈衝列之強度將低下，或脈衝 列本體有缺陷。藉由此係可更正確監視螢幕之異常。 又藉由本發明之最佳形態時，前述螢幕監視部’係具 有感光於前述螢幕所投射之前述光束光中，於前述螢幕所 反射之光，或是傳送前述螢幕內之光之光束光感光部；前 述光束光供給停止部，於前述螢幕所投射之前述光束光和 於前述螢幕所反射之光之臨界値，或是投射於前述螢幕之 前述光束光，傳送前述螢幕內之光之臨界値’相較於特定 値較爲小時，最停止前述光束光之供給。 雷射光源係因應於畫像信號而於螢幕投射已變調之雷 射光。然後使用畫像形成用之雷射光也可進行監視螢幕之 狀態。此時求取投射於螢幕前之畫像形成用之光束光之強 度，與於螢幕反射來之光束光之臨界値。當於螢幕產生異 常部位時，從異常部位反射回之光束光之臨界値，係相較 於螢幕爲正常狀態時較爲小。因此藉由記算臨界値，係可 監視螢幕之異常。於本形態中不須設置螢幕監視用光源部 即可以簡易之構造監視螢幕。 又藉由本發明時，係提供一種投影機，其特徵具有： 供給因應於畫像信號供給已調變光束光之雷射光源，和於 特定面內掃描前述光束光之掃描部’和投射前述所調變之 光束光之螢幕，和監視藉由前述掃描部所產生之掃插動作 -1卜 1240090 (8) 之掃描監視部，和因應於從前述掃描監視部之輸出’ 從前述雷射光源之前述光束光之供給之光束光供給部 如當掃描部由於故障而成爲停止之狀態’供給從雷射 來之雷射光時，於螢幕之1處將成爲照射著雷射光 態。而於使用高輸出雷射光源之時，持續照射之部分 成損傷，且有導致雷射光往投影機外射出。於本形態 掃描雷射光之掃描部產生異常，而導致光束光之掃描 正常進行之時，將停止供給光束光。 又藉由本發明之最佳形態時，前述掃描部，係以 軸爲中心$專動平面鏡之檢流計（g a 1 V a η 〇 m e t e r )鏡片 前述掃描監視部最好爲監視前述檢流計（galvanome 鏡片部之前述轉動動作之檢流計鏡片監視部。藉由監 流計鏡片之轉動，係可監視光束光之掃描是否正常 著。 又藉由本發明之最佳形態時，前述掃描監視部， 射出不可見光之掃描部監視用光源，和設置於前述螢 外周部附近，感光前述不可見光之掃描部監視用感光 形成；前述掃描部最好爲掃描前述光束光和前述不 光。當掃描部無法正常動作時，也無法正常掃描不 光。因此錯由感光於掃描部所掃描之不可見光，係可 掃描部之動作。 又藉由本發明之最佳形態時，前述掃描監視部， 係由射出不可見光之掃描部監視兩光源，和設置於前 幕之外周部附近，反射前述不可見光之反射構件，和 停止 。例 光源 之狀 將造 中於 無法 特定 部； ter ) 視檢 進行 係由 幕之 部所 可見 可見 監視 最好 述螢 感光 -12 - 1240090 (9) 從則述反射構件之肖U述不可見光之ί市描部監視用感 形成。藉由反射構件係可反射於掃描部所掃描之 光。然後，藉由感光所反射之不可見光係可監視掃 動作。作爲反射構件係可使用反射鏡子、邊角 (corner-cube )等。 又藉由本發明時，係可提供一種投影機，其 有：供給因應於畫像信號所調變之光束光之雷射光 於特定面內掃描前述光束光之掃描部’和反射從前 部之前述光束光之反射鏡，和對向於前述反射鏡而 投射以前述反射鏡所反射之前述光束光之螢幕’和 述反射鏡狀態之反射鏡監視部’和因應於從前述反 視部之輸出，停止從前述雷射光源之前述光束光之 光束光供給部。介由反射鏡於螢幕投射光束光係可 投影機。此時係也可監視於反射鏡產生異常。在此 射鏡產生異常係指反射鏡之破損、燒損、定點孔等 反射鏡產生異常時將停止供給雷射光。藉由此係可 射光之曝光。 又藉由本發明之最佳形態時，前述反射鏡監視 由射出不可見光之反射鏡監視用光源’和以則述反 射，感光傳送前述螢幕內之前述不可見光之反射鏡 感光部所形成；前述光束光供給停止部’於前述反 視感光部所感光之前述不可見光相較於彳寸疋強度 時，最好停止前述光束光之供給。以可傳送不可見 導光之玻璃、塑膠樹脂來構成螢幕。此時從反射鏡 光部所 不可見 描部之 反射鏡 特徵具 源，和 述掃描 設置， 監視前 射鏡監 供給之 小型化 所謂反 。當於 減低雷 部，係 射鏡反 監視用 射鏡監 較爲小 光且可 來之不 -13 - 1240090 (10) 可見光係入射於螢幕。不可見光係藉由螢幕往觀 折透過。此時不可見光之一部係不透過螢幕而傳 內部。傳送到螢幕內部之光係於反射鏡監視用 光。當於反射鏡產生異常時反射率將低下。因此 幕內部之不可見光之強度也低落。如此，藉由檢 螢幕內部之不可見光係可監視反射鏡。 又藉由本發明時係可提供一種投影機，其特 供給因應於畫像信號而調變之光束光之雷射光源 定面內掃描前述光束光之掃描部，和投射前述調 光之螢幕，和收納至少前述雷射光源與前述掃描 螢幕之框體部，和設置於前述框體部之複數振動 和因應於從前述振動感應器，停止從前述雷射光 光束光之供給之光束光供給停止部。當有故意破 本體之情況、或由於地震等而導致投影機本體破 時，雷射光係有可能造成直接往框體外部射出。 故意破損投影機本體之情況時、或由於地震等而 機本體破損之情況時，投影機本體之框體係以特 振幅振動。因此當以振動感應器檢測框體之振動 停止供給雷射光，故可減低雷射光之曝光可能性 又藉由本發明時，係可提供一種投影機， 有：供給因應於畫像信號所調變之光束光之雷射 於特定面內掃描前述光束光之掃描部，和投射前 光束光之螢幕，和收納至少前述雷射光源與前述 前述螢幕之框體部，和設置於前述框體部之複 察者側屈 送到螢幕 感光部感 傳送到螢 測傳送到 徵具有= ，和於特 變之光束 部及前述 感應器， 源之前述 損投影機 損之情況 然後當有 導致投影 定以上之 之時由於 〇 其特徵具 光源，和 述調變之 掃描部及 數反射鏡 -14 - 1240090 (11) 部，和感光從至少前少反射鏡部之反射光之框體監視用感 光部，和因應於前述框體監視部之輸出，停止從前述雷射 光源之前述光束光之供給之光束光供給停止部。投影機之 框體係爲了防止雷射光光從螢幕以外之部分往外部射出， 而做成密閉構造。但是例如爲了內部構造要素之調整、補 修等，有時設有維持用之開口部。然後當於維持用之開口 部爲開著之狀態，且使雷射光源發生振動之時，雷射光係 有可能導致從開口部往框體外射出。於本形態中例如設設 維持用之開口部之框體內邰側面或特定之框體內壁面之複 數反射鏡。然後於導入電源時、定期之時間、或任意之時 往此等之反射鏡位置入射雷射光。框體監視用感光部係於 反射光所入射之位置設置全部之反射鏡。因此，於維持用 之開口部爲開著之情況中，於框體監視用感光部不感光雷 射光。結杲係可檢測框體是否光學性密封著。然後框體未 光學性密封著時，由於將停止供給雷射光，故可減低雷射 光之曝光。 又藉由本發明之最佳形態時，前述光束光供給停止 部，於框體監視用感光部所感光之前述光束光之強度相較 於特定値較爲小時，最好停止前述光束光。如上所述於維 持用之開口部爲開著之情況中，於框體監視用感光部不感 光雷射光。更即使於框體內壁面產生破損或定點孔等之異 常時，係也有導致雷射光從框體內壁之異常部分往外部射 出之可能性。此時附加於複數反射鏡即使於框體內壁之特 定部分也反射雷射光’而於框體監視用感光部感光。然 -15- 1240090 (12) 後’於框體監視用感光部感光之前述光束光之強度乃相較 於特）E値小時，係可檢測例如維持用之開口部爲開著、或 於框體內壁面產生異常。因此係可減低雷射光之曝光。 又藉由本發明時，係可提供一種投影機，其特徵具 有：收納供給因應於畫像信號所調變之第1顏色光束光之 第1雷射光源，和供給因應於畫像信號所調變之第2顏色 光束光之第2雷射光源，和供給因應於畫像信號所調變之 第3顏色光束光之第3雷射光源之雷射單元，和設置於前 述雷射單元之開口部之遮光器，和於特定面內掃描前述光 束光之掃描部，和投射前述調變之光束光之螢幕，和收納 至少前述雷射單元與前述掃描部及前述螢幕之框體部，和 固定前述框體與前述雷射單元之固定部，和於分開前述框 體不與前述雷射單元時，停止前述雷射光之供給之雷射光 供給停止部。 可考量試著從投影機本體內取出投影機內之雷射光 源’而將此雷射光源轉用於其他用途上。於此情況中也有 雷射光曝光之可能性。於本形態中藉由固定部固定著收納 各顏色用雷射光之雷射單元與框體部。然後於分開前述框 體部與前述雷射單元之情況，亦即從框體部取出雷射單元 之情況中’停止供給雷射光。藉由此係可減低將雷射光源 轉用於其他用途之可能性及雷射光之曝光之可能性。 又錯由本發明之最佳形態時，前述雷射光供給停止 部’當分離前述框體部與前述雷射單元時，不可逆向關閉 前述遮光器，而從前述開口部最好具有防止射出前述各色 - 16 - 1240090 (13) 光束光。藉由此例如雷射光於振動之狀態中也可藉由遮光 器而遮光雷身寸光。

又藉由本發明之最佳形態時，前述雷射光供給停止 部，當分離前述框體部與前述雷射單元時，最好將前述各 色雷射光源作成不可逆向不震盪狀態。當分離前述框體部 與前述雷射單元時，將前述各色雷射光源作成不可逆向不 震盪狀態。因此即使再次將雷射單元安裝於框體也無法震 盪雷射光。藉由此係更可確實減低將雷射光源轉用於其他 用途之可能性及雷射光之曝光之可能性。

又藉由本發明之最佳形態時，前述雷射單元，具有第 1辨識資料之第1電路基板，和驅動前述各色雷射光源之 控制器；前述框體除了前述雷射單元之外，具有第2辨識 資料之第2電路基板；前述控制器，前述第1辨識資料與 前述第2辨識資料僅於相同時，最好可驅動前述各色雷射 光源。藉由此當不是事先決定之辦視號碼間之雷射單元與 框體之組合時，雷射光源不會振動。結果係無法個體振動 雷射單元。並且即使於其他適當之框體安裝雷射單元也無 法振動。藉由此係更可確實減低雷射光之曝光之可能性。 【實施方式】 以下參照圖面詳細說明本發明之適當實施例。 (實施例]) 圖]爲表示本發明之實施例1之投影機之槪略構造 -17 - 1240090 (14) 圖。投影機1 ο 〇係從往螢幕9 0投射投射光之側面 像、爲所謂之前置型投影機。投影機1 00係具有雷 1 〇。光源驅動部2 0係因應於從控制電路8 0來之畫 而驅動雷射光源I 0。雷射光源1 0係因應於畫像信 且供給線狀雷射光。 圖2爲表示雷射光源1 0與光源驅動部2 0之 成。雷射光源1 〇係具有第1雷射光源1 0 R、第2 源10G和第3雷射光源10B。第1雷射光源10R 因應於畫像信號而變調之紅色雷射光（以下稱 光」）。第2雷射光源1 0 G係供給因應於畫像信 δ周之綠色雷射光（以下稱爲「G光」）。第3雷 1 0Β係供給因應於畫像信號而變調之藍色雷射光（ 爲「Β光」）。光源驅動部2 0係因應於各畫像信 動各雷射光源 1 0 R、1 0 G、1 0 Β。並且各顏色光係 形爲線狀光。於各雷射光源1 0 R、1 〇 G、1 〇 Β中係 光導體雷射或固體雷射。 分色梭鏡1 2 G係透過R光再反射〇光。分 1 2 Β係透過R光和G光再反射Β光。從各雷身寸） R、1 Q G、1 0 Β來之各顏色光，係以分色錶鏡〗？ G、 以合成再從開口部1 5射出。如此，雷射光源} 〇係 顏色光之變調光再射出。 回到圖1從雷射光源1 0來之R光、G光、^ 調光係入射於掃描部之檢流計3 0。雷射光^系& 紙面垂直之方向之第]方向，整形成平行之，線狀光 觀察畫 射光源 像信號 號變調 詳細構 雷射光 係供給 爲「R 號而變 射光源 以下稱 號而驅 各自整 可使用 色梭鏡 源10 12B加 合成各 光之變 1中於 。檢流 -18、 1240090 (15) 計3 0係以特定軸ΑΧ爲中心轉動反射面。藉由此檢流計 ^ 〇係於第1方向略垂直方向之第2方向掃描從雷射光源 1 〇來之光。fe流計3 0係以特定軸A X爲中心反覆做轉動 運動。於螢幕90中雷射光係反覆掃描於線狀之長邊方向 略垂直方向之第2方向。藉由反覆此動作投影機〗〇〇係顯 不彳又射像。且檢流計3 〇係於檢流計3 〇之一邊略中央內部 具有永久磁鐵Μ。 掃描驅動部5 0係藉由從控制電路8 〇來之畫像信號而 驅動fe流計3 0。藉由掃描驅動部5 0之驅動，檢流計3 0 係進行掃描動作。掃描驅動部5 〇係由線圈5 2與驅動裝置 5 4所形成。驅動裝置5 4係將因應從控制電路8 〇來之畫 像信號之電流流往線圈5 2。線圈5 2係藉由流動從驅動裝 置5 4來之電流而產生磁力。線圈5 2係於線圈5 2藉由流 動電流而於永久磁鐵Μ之間產生磁場。然後，藉由線圈 52與永久磁鐵Μ之間之磁力產生引力。因此檢流計3〇係 藉由於線圈5 2流動電流，朝向永久磁鐵Μ與線圈5 2相 互吸引之向向轉動。在此藉由於線圈5 2流動電流所產生 之引力，稱爲第1力量。於圖1中以箭頭F 1表示第1力 趙- 里 ° 保持部係由彈性構件之彈簧40所形成。彈_ 4〇之一 端係固定於檢流計3 0。彈簧40係與對向檢流計3 0之線 圈5 2之面爲同一面，且固定於與線圈5 2對向之位置與對 應於軸ΑΧ略對稱之位置。彈簧4 〇之另一端係固定於投 e彳歲1 〇 〇之壁面。彈簧4 0係藉由收縮於特定位置停止且 -19- (16) 1240090 保持檢流計3 0。在此彈簧4 0藉由收縮而產生之回復力係 稱爲第2力量。於圖1中以箭頭F2表示第2力量。 檢流計3 0係接授藉由掃描驅動部5 0所產生之第1力 量F 1與藉由彈簧40所產生之第2力量F2。所謂第1力 量F 1與第2力量F2係作爲相互抵消之作用。當第1力量 F 1大於第2力量F2時，於檢流計3 0第1力量F 1係產生 作用。此時檢流計3 0係朝著線圈5 2與永久磁鐵Μ相互 吸引之方向轉動。又當第2力量F2大於第1力量F1時， 於檢流計3 0第2力量F2係產生作用。此時檢流計3 0係 朝著線圈5 2與永久磁鐵“相互分離之方向動轉。 驅動裝置5 4係於線圈5 2流動具有一定強度之電流。 線圈5 2係產生因應於電流大小而產生磁場。掃描驅動部 5 0係藉由因應於電流大小而產生磁場，周期性變化第1 力量F 1之強弱。對於此，第2力量F2係經常保持一定。 因此，藉由周期性變化第1力量F 1之強弱，檢流計3 0係 周期性轉動。藉由此檢流計3 0係進行掃描動作。例如檢 流計3 0係以線狀雷射光所掃描方向之畫素數（解像度） nx60 ( Hz )，進行掃描動作。 藉由圖3 A〜圖3 D及圖4表示檢流計3 0進行掃描動作 之情況與藉由彈簧40所保持之情況。圖3 A〜圖3D係表示 藉由掃描驅動部5 0所產生檢流計3 0之掃描動作，與藉由 彈簧4 0所產生檢流計3 0之保持狀態。又圖4爲將檢流計 3 〇傾斜角度之變位與時間之關係表示於圖表中。於圖4 所示之圖表係橫軸爲時間，縱軸爲檢流計3 0傾斜角度。 -20- 1240090 (17) 檢流計3 0傾斜角度係將檢流計3 0藉由彈簧4 0所 特定位置，作爲基準値〇而加以表示。圖4中角度 示檢流計3 0於掃描動作期間之基準位置之偏移位 度。又角度Θ係表示檢流計3 0之振動角度。掃描 之檢流計3 0係以角度α爲中心而於角度士Θ之範圍轉 圖3 Α爲表示檢流計3 0於開始藉由掃描驅動咅| 驅動時之狀態。此時之時刻爲時刻10。檢流計3 0 彈簧4 0之第2力量F2保持於特定位置。於線圈ί 將檢流計3 0移動到偏移位置之角度α，而流動必 流。其後於時刻11檢流計3 0係到達最初偏移位置 α °從此處檢流計3 0係進行掃描動作。掃描驅動部 更1周大流往線圈5 2之電流。第1力量F 1由於變得 檢流計3 0係往與於從時刻tO到時刻U之時間所 方向之同一方向轉動。圖3B爲表示於時刻t2中 3 〇轉動到角度α + Θ之情況。此時檢流計3 0係於 作中之最大振動角度。從此角度位置，檢流計3 0 方向轉換轉動之方向。 從圖3 Β所示之狀態，掃描驅動部5 0係漸漸減 力量F 1。此時檢流計3 0係藉由第2力量F2往線圈 永久磁鐵Μ分離方向移動。如此，檢流計3 0係松 所示之狀態位置往逆方向轉換轉動之方向。如圖3 於時刻13中檢流計3 〇係於角度α — Θ之位置。此 §十3 0係於掃描動作中之最小振動角度。從此角度 檢流計3 0係再度往逆方向轉換轉動之方向。檢流記 保持之 α係表 置之角 動作中 薄動。 5 5 0之 係藉由 52爲了 要之電 之角度 ^ 50係 更大， 轉動之 檢流計 掃描動 係於逆 小第] 3 52與 ^圖 3B C所示 時檢流 位置， 卜3 0係 -21 - 1240090 (18) 藉由反覆此動作而掃描線狀之雷射光。 在此因某種之理由而考量於掃描驅動部5 0流動之® 流將停止或變成特定値以下之情況。此時爲了掃描檢流計 3 〇而所須之第1力量F 1係抵消第2力量F2後無法完全 進行掃描動作，亦即不完全或成爲0。如此當第1力量F1 爲不完全或〇之狀態持續時，檢流計3 0係較難進行正常 之掃描動作。而所謂檢流計3 0之掃描動作無法正常進行 之狀態，係例如掃描動作完全停止或並非一定之周期且並 非爲特定之速度。第1力量F1不完全或成爲〇時，檢流 計3 0係藉由從彈簧40來之第2力量F2，往最小振動角 度（參照圖3 C )方向移動。並且檢流計3 0係移動角度爲 〇之基準位置。然後檢流計30係藉由從彈簧40來之第2 力量F 2，保持於角度爲0之特定位置。於圖3 D中係表示 於時刻15以後，檢流計3 0藉由從彈簧4 0來之第2力量 F 2所保持之狀態。檢流計3 0係回到與圖3 A相同之位 置。此時從檢流計3 0來之雷射光係以遮光部7 0遮光（參 照圖1 )。藉由此係可防止雷射光往投影機1 〇 〇之外部射 出c 如此藉由某種理由，第1力量F ]於抵消第2力量F 2 後無法完全進行掃描動作之情況，或第1力量.F 1成爲〇 之情況，檢流計3 0係較難進行正常之掃描動作。當第] 力量F 1成爲不完全或〇之狀態時，檢流計3 〇係藉由從彈 簧4 0來之第2力量F2之作用停止且保持於特定位置。此 時遮光部7 0係遮光從檢流計3 0來之雷射光。藉由此於藉 -22- 1240090 (19) 由檢流計3 0所產生之掃描動作成爲無法正常進行之狀態 曰寸’係可防止射出雷射光之狀態，亦可直接遮斷雷射光之 產生。結果，係可達到提高投影機1 〇〇之安全性之効果。 又於藉由檢流計3 0所產生之掃描動作無法正常進行之狀 態時，藉由彈簧4 0所產生之第2力量F 2係超過第1力量 F ]。因此藉由第2力量F 2，可於特定位置停止且保持檢 流計3 0。藉由此係可直接遮斷雷射光之產生。結果係可 達到提高投影機1 〇〇之安全性。 於圖5 A〜圖5 C表示檢流計3 0、掃描驅動部5 〇、彈簧 4 〇與其他之構造例。如圖5 A所示關於檢流計30，於與 線圈52成爲反對側設置檔接部45即可。藉由設置檔接部 4 5 ’係更可安定且保持藉由彈簧4 0所保持之檢流計3 0。 錯由於特定位置更安定保持檢流計3 0，於遮光部7 0係可 更正確遮光從檢流計3 0來之雷射光。藉由此當檢流計3 0 較難正常進行掃描動作時，係更可正確防止往投影機外部 射出之雷射光。又如圖5 B所示亦可作爲關於檢流計3 0於 與線圈5 2成爲反對側固定彈簧4 0之構造。 圖5 C中表示關於檢流計3 0，與線圈5 2成爲反對側 之面，更關於軸A X於略對稱位置固定彈簧4 〇之例子。 於圖1所示彈簧40係藉由收縮而產生回復力。對於此圖 5 C所示之彈簧4 2係藉由伸張而產生回復力。檢流計3 〇 保於彈簧4 2最大限度伸張之狀態時停止。或者如圖5 C所 不’檢流計3 0係於彈簧4 2之伸張過程中亦可藉由檔接於 樯接部4 5停止。 -23- 1240090 (20) 圖6 A〜圖6 D係表示作爲保持部而使用永久磁鐵之例 子。於圖6 A所示之掃描驅動部5 0之線圈5 2中心部中設 置著永久磁鐵5 8。永久磁鐵5 8與檢流計3 0之永久磁鐵 Μ係藉由相互磁場而產生排斥力。例如圖6 A所示永久磁 鐵5 8與永久磁鐵Μ係相互配置對向S極。此時於永久磁 鐵5 8與永久磁鐵Μ之間產生之排斥力爲第2力量F2。然 後當於線圈5 2流動電流時，於線圈5 2係產生抵消永久磁 鐵5 8之磁場之磁場。此時線圈5 2與檢流計3 0之永久磁 鐵Μ係藉由相互磁場產生引力。藉由於線圈52流動電流 時，線圈5 2與永久磁鐵Μ之間產生之引力爲第1力量 F 1。檢流計3 0係與作爲保持部而使用彈簧4 0之情況相 同，接授第1力量F 1與第2力量F2。 在此係考量於掃描驅動部5 G流動之電流將停止或變 成特定値以下之情況。第1力量F 1係抵消第2力量F2後 無法完全進行掃描動作，或者第1力量成爲〇。然後，檢 流計3 0係較難進行正常之掃描動作。此時藉由永久磁鐵 5 8與永久磁鐵Μ所產生之第2力量F 2之大小係超過第1 力量F1之大小。因此，檢流計3 0係藉由第2力量F2而 從永久磁鐵5 8離開之方向轉動。然後藉由第2力量F2係 可於特定位置停止且保持檢流計3 0。藉由此係可直接遮 斷雷射光之產生。結果係可達到提高投影機]〇 〇之安全 性。又如圖6 Α所示亦可於保持檢流計3 0之位置設置檔 接部4 5。藉由設置檔接部4 5，係更可安定且保持藉由第 2力量F 2所保持之檢流計3 0。 -24 - 1240090

(21) I 又如圖6 B所示，所謂永久磁鐵5 8與檢流計3 0之永 久磁鐵Μ，係亦可對向配置永久磁鐵5 8之S極與永久磁 鐵Μ之Ν極。永久磁鐵5 8與永久磁鐵Μ係藉由相梪之 磁場而產生引力。此時於永久磁鐵5 8與永久磁鐵Μ之間 所產生之引力爲第2力量F2。然後當於線圈5 2流動電流 時，於線圈5 2係產生抵消永久磁鐵5 8之磁場之磁場。此 時線圈5 2與永久磁鐵Μ係藉由相互之磁場而產生斥力。 藉由於線圈5 2流動電流，於線圈5 2與永久磁鐵Μ之間 所產生之斥力作爲第1量力F1。當第2力量F2超過第1 力量 F 1時，檢流計3 0係吸引於永久磁鐵5 8之方向轉 動。然後，檢流計3 0，永久磁鐵Μ藉由檔接於永久磁鐵 5 8，係可停止且保持於特定位置。 又永久磁鐵並非爲線圈之中心部，關於檢流計3 0.係 亦可設置於與線圈5 2反對側。圖6 C中有關檢流計3 0表 示於與線圈5 2反對側設置永久磁鐵5 9之例子。永久磁鐵 5 9與檢流計3 0之永久磁鐵Μ係藉由相互磁場而產生引 力。例如如圖6 C所示永久磁鐵5 9與永久磁鐵Μ係對向 配置著永久磁鐵5 9之Ν極與永久磁鐵Μ之S極。此時於 永久磁鐵5 9與永久磁鐵Μ之間所產生之引力，係爲第2 力量F2。然後當於線圈5 2流動電流時，線圈5 2係產生 與永久磁鐵Μ之磁場相吸之磁場。此時線圈5 2與永久磁 鐵Μ係藉由相互磁場而產生引力。藉由於線圈5 2流動電 流，將線圈5 2與永久磁鐵Μ之間所產生之引力稱爲第1 力量F 1。當第2力量F2超越第1力量F ]時，檢流計3 0 -25- 1240090 (22) 係往吸引永久磁鐵5 9之方向轉動。然後檢流計3 0，永久 磁鐵Μ藉由檔接於永久磁鐵5 9係停止且保持於特定位 置。 於圖6D中係表示著關於檢流計30之軸ΑΧ，於對稱 2邊之略中央內部各自設置永久磁鐵Μ A、Μ Β之例子。線 圈52係設置於與永久磁鐵ΜΑ對向之位置。又永久磁鐵 5 9關於檢流計3 〇，係與線圈5 2相同側，且設置於與永久 磁鐵Μ Β對向之位置。永久磁鐵5 9與檢流計3 0之永久磁 鐵MB係藉由相互磁場而產生引力。例如如圖6D所示永 久磁鐵5 9與永久磁鐵Μ®係與永久磁鐵5 9之S極與永久 磁鐵Μ B之N極對向配置。此時於永久磁鐵5 9與永久磁 鐵Μ Β之間所產生之引力，係爲第2力量F 2。然後當於 線圈5 2流動電流時，線圈5 2係產生與永久磁鐵μ Α之磁 場相吸之磁場。此時線圈5 2與永久磁鐵Μ A係藉由相互 磁場而產生引力。藉由於線圈5 2流動電流，將線圈5 2與 永久磁鐵Μ之間所產生之引力稱爲第1力量F 1。當第2 力量F2超越第1力量F 1時’檢流計3 〇係往吸引永久磁 鐵5 9之方向轉動。然後檢流計3 0，永久磁鐵Μ藉由檔接 於永久磁鐵5 9係停止且保持於特定位置。 其次說明關於本實施例之變形例。於圖7表示本實施 例之變形例之投影機7 0 0之槪略構造圖。藉由某種理由， 而考量第1力量F1無法充分抵消第2力量而進行掃描動 作時，或當第1力量成爲0之情況。檢流計3 〇係與上述 之投影機1 0 0同樣藉由彈簧4 0來之第2力量F 2而保持於 *-26 - 1240090 (23) 特定位置。此時從檢流計3 0來之雷射光係入射於遮光部 7 〇。投影機7 〇 〇係具有檢測入射於遮光部7 0之雷射光之 檢測部7 7。檢測部7 7係藉由檢測雷射光，將信號傳達到 光源驅動部2 0。如圖7所示於從檢測部7 7傳往光源驅動 部2 0之信號傳達中係亦可介由控制電路8 0。當光源驅動 部2 0有從檢測部7 7傳來之信號傳達時，瞬間停止供給從 雷射光源1 〇來之雷射光。藉由此藉由檢流計3 0所產生之 掃描動作即使無法正常進行之情況中，亦可直接切斷雷射 光之產生。又藉由此係由於可防止雷射光照射於遮光部 7 0之期間過久，故可防止燒損遮光部7 0。結果，係可得 到提高投影機7 0 0之安全性効果。 (實施例2 ) 圖8爲表示本發明實施例2之投影機槪略構造圖。與 上述實施例1之投影機1 00相同之同一部分係標上相同之 符號而省略其重覆說明。本實施例之投影機8 0 〇藉由保持 部係以具有停止掃描部2個特定位置爲特徵。從雷射光源 1 0來之R光、G光、B光之變調光係入射於爲掃描部之 檢流計8 3 0。於圖1〇A表示檢流計8 3 0之例子。檢流計 8 3 0係關於檢流計8 3 〇之軸a X於對稱2邊之略中央部各 具有永久磁鐵MA與永久磁鐵MB。 雷射光係於圖8中於紙面垂直方向之第1方向，整形 爲平行之線狀光。檢流計8 3 0係以特定軸A X爲中心轉動 反射面。藉由此檢流計8 3 0係於於第1方向略垂直方向之 -27- 1240090 (24) 第2方向掃描從雷射光源1 〇來之光。檢流計8 3 〇係以特 定軸AX爲中心反覆轉動運動。於圖8所示之螢幕9 〇 中 画射光係於線狀之長邊方向略垂直方向之第2方向， 反覆掃描。藉由如此反覆投影機8〇〇係可顯示投射影像。 回到圖8，掃描驅動部8 5 0係藉由從控制電路8 〇來 之畫像信號而驅動檢流計8 3 〇。藉由驅動檢流計8 3 〇，檢 流^ 8 3 0係進行掃描動作。檢流計8 3 〇係由第1線_ 8 5 ]、第2線圈8 5 2、第i驅動裝置8 5 3、第2驅動裝釐 8」4與第3驅動裝置8 5 7所形成。第3驅動裝置8 5 7係於 第1驅動裝置8 5 3與第2驅動裝置854傳送畫像信號。第 1驅動裝置8 5 3係於第1線圈8 5〗傳送因應於畫像信號之 里k。第2驅動裝置8 5 4係於第2線圈8 5 2傳送因應於晝 像柄號之電流。 於第1線圈8 5 1之中心部設有永久磁鐵8 5 5。檢流計 83〇係配置對向第i線圈851與永久磁鐵MA。永久磁鐵 8 5 5 1¾ fe流5十8 3 G之永久磁鐵Μ A係藉由相互之磁場而產 =①力。又於第2線圈8 5 2之中心部係設.有永久磁鐵 8 3 6。檢流計8 3 0係配置對向第2線圈8 5 2與永久磁鐵 M B。永久fe鐵8 5 6與檢流計s 3 〇之永久磁鐵μ B係藉由 相互之磁場而產生引力。此時於永久磁鐵8 5 5與永久磁鐵 ΜΑ之間所產生之引力，與永久磁鐵8 5 6與永久磁鐵mb -間所產生之引力係爲第2力量f 2。 當於第1線圈8 5 2流動電流時，第]線圈8 5 2係產生 與水久磁鐵855之磁場相抵之磁場。此時第]線圈85]與 - 28- 1240090 (25) 檢流計8 3 0之永久磁鐵Μ A係藉由相互磁場而產生斥力。 又當於第2線圈8 5 2流動電流時，於第第2線圈8 5 2係產 生抵消永久磁鐵8 5 6之磁場之磁場。此時第2線圈8 5 2與 檢流計8 3 0之永久磁鐵Μ B係藉由相互磁場而產生斥力。 此時藉由於第1線圈8 5 1流動電流第1線圈8 5 1與永久磁 鐵Μ Α之間所產生之斥力，與藉由於第2線圈8 5 2流動電 流第2線圈8 5 2與永久磁鐵μ B之間所產生之斥力，係各 自作爲第1力量F 1。檢流計3 0係作爲保持部而與使用彈 性構件之情況相同，接受第]力量F1和第2力量F2。 掃描驅動部8 5 0係將從第3驅動裝置8 5 7流往第I驅 動裝置8 5 3之電流，與流往第2驅動裝置之電流之相位位 移爲1 / 2周期分。如此一來第1線圈8 5 1與水久磁鐵Μ A 之間所產生之斥力較大之期間，與第2線圈8 5 2與永久磁 鐵MB之間所產生之斥力較大期間乃變成相互不同，而周 期性變換第1力量F ]之強弱。相對於此第2力量F2係經 常保持一定。因此藉由周期性變換第1力量F 1之強弱， 撿流計8 3 0係周期轉動。藉由此檢流計8 3 0係進行掃描動 作。 考量因某種理由流往掃描驅動部8 5 Q之電流乃停止或 成爲特定値以下之情況。此時爲了掃描檢流計8 3 0之第1 力量F 1於抵消第2力量F2後無法完全進行掃描動作之情 況，或第1力量F 1成爲〇之情況。當第]力量F ]成爲不 完全或0之狀態時，第2力量F 2之大小將超越弟1力重 之大小。然後檢流計8 3 0係藉由於永久磁鐵8 5 5與永久磁 -29- 1240090 (26) 鐵 ΜΑ之間所產生之第 2力量 F2而檔接於永久磁鐵 8 5 5。或檢流計8 3 0係藉由於永久磁鐵8 5 6與永久磁鐵 MB之間所產生之第2力量F2而檔接於永久磁鐵8 5 6。藉 由此檢流計8 3 0係停止且保持於特定位置。又各永久磁鐵 8 5 5、8 5 6係於特定位置停止且保持檢流計8 3 0。因此投影 機8 0 0係具有停止且保持檢流計8 3 0之2個特定位置。 圖9A爲將檢流計8 3 0之傾斜角度變位與時間之關係 表示於圖表之圖。圖9A之圖表係橫軸表示時間， 軸表 示檢流計8 3 0之傾斜角度。檢流計8 3 0之傾斜角度，將檢 流計8 3 0檔接於永久磁鐵8 5 5之狀態作爲基準値0。又當 檢流計8 3 0之傾斜角度爲角度A之時，檢流計8 3 0乃位 於檔接於永久磁鐵8 5 6。圖9 B爲表示流往第1線圈8 5 1 之電流I ]之強度與時間t之關係圖。圖9 C爲表示流往第 2線圈8 5 2之電流12之強度與時間t之關係圖。 於時刻10時藉由永久磁鐵8 5 5與永久磁鐵Μ A之間 所產生之引力，檢流計8 3 0係檔接於永久磁鐵8 5 5且保持 於特定位置。於時刻ί 〇時藉由永久磁鐵8 5 6與永久磁鐵 MB之間所產生之引力，檢流計8 3 0係亦可檔接於永久磁 鐵856且保持於特定位置。此時於時刻t0時檢流計830 係位於角度A之位置。於時刻t 1中檢流計8 3 0係位於掃 描基準位置之角度α位置。從時刻t0到t 1之時間，於第 ]線圈851流動將檢流計830轉動到角度α位置所需之電 流I α ]。又從時刻10到t 1之時間，於第2線圈8 5 2流動 爲了防止檢流計S 3 0檔接於永久磁鐵8 5 6所需之電流 -30- l24〇〇9〇 (27) ι〇α。 從時刻Π到時刻t3之時間，1 /2周期分位移於第i ’線圈8 5 1流動之電流與於第2線圈8 5 2流動之電流之相 °藉由此從時刻t 1到時刻13之時間，檢流計8 3 〇係進 力*掃描動作。在此考量流往掃描驅動部8 5 〇之電流將停止 或成爲特定値以下之情況。此時爲了掃描檢流計8 3 0之第 1力量F 1於抵消第2力量F 2後無法完全進行掃描動作之 响況，亦即不完全或成爲0之狀態。如此當第1力量F j 成爲不完全或〇之狀態持續進行時，檢流計8 3 0係難於進 行正常之掃描動作。例如考量於時刻13時流往掃描驅動 部8 5 0之電流乃停止之情況。此時檢流計8 3 〇，關於掃描 動作之基準位置之角度α，相較於永久磁鐵8 5 5係位於較 接近永久磁鐵8 5 6之位置。因此當永久磁鐵8 5 6與永久磁 鐵MB之間所產生之第2力量F2乃超越第1力量F1之 時，檢流計8 3 0係轉動到角度A之位置而檔接於永久磁 鐵8 5 6。藉由此檢流計8 3 0係藉由永久磁鐵8 5 6與永久磁 鐵MB之間所產生之第2力量F2，停止且保持於特定位 霞。圖9 A爲表示檢流計3 0轉動到角度a位置之圖。此 時從檢流計s 3 0來之雷射光係於遮光部8 7 5受到遮光（參 照第8圖）。 其次於時刻t2中考量掃描驅動部8 5 0之電流將停止 或成爲特定値以下之情況。此時檢流計8 3 0，關於掃描動 作之基準位置之角度α，相較於永久磁鐵8 5 6係位於較接 近永久磁鐵8 5 5之位置。因此當永久磁鐵8 5 5與永久磁鐵 -31 - (28) 1240090 ΜΑ之間所產生之第2力量F2乃超越第1力量F1之時， 檢流計8 3 0係轉動到角度0之位置而檔接於永久磁鐵 8 5 5。藉由此檢流計8 3 0係藉由永久磁鐵8 5 5與永久磁鐵 Μ A之間所產生之第2力量F 2，停止且保持於特定位置。 此時從檢流計8 3 0來之雷射光係於遮光部8 7 〇受到遮光 (參照第8圖）。 如此檢流計8 3 0係由於某種理由而第1力量F 1於抵 消第2力量F2後無法完全進行掃描動作之情況，或第1 力量F 1成爲0之情況而難於進行正常之掃描動作。然後 當第1力量F 1成爲不完全或0之狀態時，檢流計8 3 0係 藉由第2力量F 2而檔接於永久磁鐵8 5 5或8 5 6之任一 者。檢流計8 3 0係藉檔接於永久磁鐵8 5 5或8 5 6之任一 者，乃可停止且保持於特定位置。此時遮光部 8 7 0、8 7 5 係遮光從檢流計8 3 0來之雷射光。藉由此藉由檢流計8 3 0 而產生掃描動作即使於無法正常進行之狀態下，也可防止 射出雷射光之狀態，且可直接阻斷雷射光之產生。結果係 可達到提高投影機8 00之安全性之効果。又藉由使用永久 磁鐵8 5 5、8 5 6與永久磁鐵M A、MB，藉由檢流計8 3 0而 產生掃描動作即使於無法正常進行之狀態下，於永久磁鐵 8 5 5與永久磁鐵μ A之間、或永久磁鐵8 5 6與永久磁鐵 MB之間所產生之第2力量F2，乃超越第1力量F 1。因 此藉由第2力量F2係可於特定位置停止且保持檢流計 8 3 0。藉由此係可直接阻斷雷射光之產生。結果係可達到 提高投影機800之安全性之効果。 -32- 1240090 (29) 又與實施例1之變形例同樣，係亦可具有檢測入 投影機8 0 0之遮光部8 7 0、875之雷射光之檢測部。 光源驅動部2 0係有藉由檢測部檢測雷射光之檢測時 時間停止供給從雷射光源】0來之雷射光。藉由此係 於實施例1之變形例之投影機7 0 0同樣，可達到提高 機8 0 0之安全性之効果。 於上述各實施例之投影機1 〇 〇、7 0 0、8 0 0中，檢 3 0、8 3 0係不儘於一唯方向掃描雷射光，亦可於二唯 掃描。此時雷射光源1 0係產生點狀雷射光。檢流計 8 3 0係藉由以第1軸與略正交於第1軸之第2軸爲中 動，於二唯方向掃描點狀雷射光。於此情況中亦可適 發明。又於掃描部中乃不限於檢流計，例如亦可使用 Μ E M S ( M i c r ο E ] e c t r ο M e c h a n i c a 1 S y s t e m s )之技術 造之微透鏡。圖]OB爲表示於二唯方向掃描雷射光之 鏡之構造例。微透鏡係以第1軸之ΑΧ 1與略正交於 軸之ΑΧ 1之AX2之2軸中心轉動。藉由此係可於二 向掃描入射於微透鏡略中心之雷射光。微透鏡由於非 型化，故係難於微透鏡安裝彈簧。又也難於使用線圈 鐵。因此於微透鏡中係例如設置著電極 E ]、E2、 E4。於電極El、E2、E3、E4之附近，乃更於設置其 極。微透鏡係因爲藉由設置於微透鏡之電極與設置於 近之其他電極所產生之靜電力，而進行掃描動作和於 位置之保持。藉由此即使微透鏡之掃描動作於無法正 行之狀態時，也可遮斷雷射光之產生。 射於 此時 ，瞬 與關 投影 流計 方向 30、 心轉 用本 藉由 所製 微透 第1 唯方 常小 及磁 E3、 他電 其附 等定 常進 -33- (30) 1240090 又於上述實施例中’係藉由所謂前置投射型 而說明。並不限於此’於從螢幕之背面投射變調 背面型之投影機，亦可適用上述各實施例之特 分。 (實施例3 ) 圖1 1爲表示本發明實施例3之投影機1 1 〇 〇 $ 造圖。本實施例之投影機1〗〇 〇係從螢幕1 1 1 0之_ 變調光、所謂之背面型之投影機。，第1色雷射光源 係因應於畫像信號而供給變調之R光。第2色雲 1 1 0 1 G係因應於畫像信號而供給變調之G光。第3 光源〗1 0 1 B係因應於畫像信號而供給變調之B为 雷射光源1 ] 〇 1 R、】]〇 ] G、1 1 0 1 B係藉由各控制器 加以驅動、控制著。各色雷射光源 Π R、1 1 1 〇 1 Β與控制器1 1 0 3係收納於雷射單元11 2 0內。 色雷射光源 1 1 0 1 R、110 1 G、1 1 0 1 Β，係亦可使用 雷射或固體雷射。 分色稜鏡1 1 0 2 R係與R光透過而反射G ：7t ° 稜鏡1 1 0 2 B係與R光與G光透過而反射B光。從 射光源 1 1 〇 ] R、] 1 0 1 G、Π 0 1 B來之雷射光係於分 ]]02R、1 ] 02B合成而通過遮光器1 1 04。遮光器 如後所述，於螢幕11 ] 〇未產生異常之狀態中乃開 過遮光器1 1 〇 4之雷射光係從開口部Π 0 5射出。 射出開口部1 1 0 5之各色雷射光係入射於掃描 投影機 之所謂 性之部 :槪略構 f面投射 ^ 1 1 0 1 R ΐ射光源 色雷射 i。各色 ]1 〇 3 而 1 0 1 G、 作爲各 半導體 又分色 :各色雷 •色棱鏡 1 1 0 4 係 :著。通 部之檢 -34 - 1240090 (31) Η計1 1 0 8。又掃描驅動部】丨〇 9係於略正交2軸Α χ方向 轉動檢髓U08。藉由此係於特定內而可掃描各色光 束光。於閧口邰1 1 0 5與檢流計]1 〇 8之間，係設置著射出 不可見光®幕監視用光源部1 1 〇 6。作爲不可見光係例如 可使用紅外光。從螢幕監視用光源部11〇6來之紅外光係 入射/j;分色棱1¾ 1 ] 0 7。分色棱鏡1 1 q 7係透過r光、g 光、B光而反射紅外光。因此檢流計丨丨08係於二唯方向 掃描R光、G光、B光與紅外光。然後於檢流計n〇8反 射之各色雷射光與紅外光係入射於螢幕」i丨〇。螢幕 1 1 1 G ’其一端之面乃表面加工爲氟鎳耳透鏡形狀。因此對 於螢幕1110從斜方向入射之各色雷射光係藉由螢幕 ]1 1 0，往特定方向屈折而透過射出。未圖示之觀察者係觀 察透過螢幕】1 ] 〇之各色雷射光。又紅外光由於爲不可見 光領域，故即使透過螢幕1 Η 0觀察者也不須辦視。 螢幕1 1 1 0係作爲後方散光s C而往入射側反射散亂 入射之各色雷射光、紅色光之一部分。然後藉由螢幕 ]1 1 0反射之紅外光係於螢幕監視用感光部1 1 1 3感光。於 螢幕監視用光源部）1 0 6與螢幕監視用感光部π 1 3構成螢 幕監視部。於螢幕〗1] 0產生破損、撓損、定點孔等之異 常之時，紅外光係從螢幕1 η 〇之異常部分往投影機η 00 本體外射出。因此於異常邰分中紅外光之後方散亂s C之 強度乃低下或強度爲〇 °如此’藉由判斷於螢幕監視用感 光部]].1 3所感光之紅外光強度相較於特定値是否小，而 可監視螢幕Π 10是否有異常。 -35 - 1240090 (32) 又最好係於螢幕]π 0與螢幕監視用感光部Π 1 3間之 光路中，設置可透過不可見光之紅外光，吸收或反射各色 雷射光之過瀘部1 1 Π。然後透過過瀘部1 Π 1之紅外光係 藉由聚光透鏡1〗1 2而聚光於螢幕監視用感光部Π 1 3之感 光面上。藉由此於螢幕1 1 1 〇反射之各色雷射光與紅外光 之中，係可有効儘將紅外光導往螢幕監.視用感光部 1113° 兼具光束光供給停止部功能之控制器1 1 0 .3，螢幕監 視用感光部1 1 1 3所感光之紅外光之強度乃相較於特定値 較小時，停止供給光束光。例如控制器1 1 0 3係將進行停 止各色雷射光源 1 1 01 R、1 1 〇 1 G、1 1 ο 1 β之震動、於震動 各色雷射光源 1 ] 0 1 R、11 0 1 G、11 ο 1 Β之狀態下關閉遮光 器 1 1 0 4而遮光、或遮斷各色雷射光源1 1 〇 1 R、1 1 〇 1 G、 1 1 0 1 Β之電源之任一者。藉由此於螢幕1 1 1 0產生異常之 時，係可減低雷射光從此異常部分射出而因雷射光而曝露 之可能性。又當判定於螢幕11 1 〇產生異常時，亦可作成 藉由未圖示之警鈴部發出警告音、警告光引起觀察者之注 意之構造 0 又於圖1】所示之構造中，係一致螢幕監視用光源部 ].1 0 6之光軸與各色雷射光源1 ] 0 1 R、1 ] ο 1 G、1 1 0 1 Β之光 軸。更最好係對於各色雷射光源1 1 0 1 R、1 1 0 1 G、1 1 〇 1 Β 之光軸’亦可儘以特定角度傾斜螢幕監視用光源部1 1 0 6 之光軸。藉由此於螢幕Π 1 0上相較於各色雷射光係可空 間性以紅外光掃描先前之位置。結杲各色雷射雷射光於掃 - 36- 1240090 (33) 描螢幕]1 1 〇之異常部分之前，即可檢測此異常部分。 又螢幕監視用光源部1 1 〇 6係作爲具有特定脈衝列之 變調光而射出紅外光。螢幕監視用感光部1 Π 3係感光具 有脈衝列之紅外光。兼具光束光供給停止部功能之控制器 1 1 0 3 ’螢幕監視用感光部1 1] 3所感光之紅外光之脈衝列 之強度乃相較於特定値較小時，停止供給光束光。於螢幕 1 1 1 〇產生異常之情況時異常部分之反射率係變低。因此 於螢幕 η 1 〇正常部分照射紅外光之情況，於螢幕監視用 感光部1 1 1 3係可檢測脈衝列。對於此紅外光當照射於異 常部分時，於螢幕監視用感光部1 1 1 3中脈衝列之強度係 減低或脈衝列本體成爲缺陷。藉由此係更可正確監視螢幕 1 1 ] 0之異常。又脈衝變調紅外光之情況中，係未定須要 爲了儘透過紅外光帶通之過濾部1 1 1 1。 (實施例3之變形例） 圖1 2爲表示實施例3變形例之投影機1 2 0 0之構造 圖。設置螢幕監視用光源部1 1 0 6之位置係不同於上述實 施彳列3。於與其他上述實施例3相同之部分標上相同之符 號且省略重覆說明。於本變形例中螢幕監視用光源部 ]1 〇 6 ’紅外光乃配置與各色雷射光之光路獨立，而成爲個 別之光路。然後從螢幕監視用光源部1 1 06之紅外光係， 係入射於紅外光用之檢流計1 24 0。檢流計]24 0係藉由檢 流計驅動咅丨；1 1 0 9於略正交之2唯方向轉動。藉由此於螢 幕Π. ] 0上2唯方向掃描紅外光。於本變例中係可相當自 -37- 1240090 (34) 由配置螢幕監視用光源部1 1 0 6。 又不使用螢幕監視用之紅外光亦可使用爲了形成畫像 之各色雷射光而監視營幕1 ] 1 〇。此時營幕監視用感光部 1 1 1 3係於投射於螢幕1 11 〇之各色光束光中，感光於螢幕 1 1 1 〇所反射之光。然後，兼具光束光供給停止部功能之 控制器1 1 〇 3係演算投射於螢幕1 1 1 〇之各色光束光與於螢 幕1 Π 〇反射光之相關値。當演算之相關値小於特定値 時’停止供給各色光束光。於螢幕1 1 1 0產生異常部分 時，從異常部分反射回來之光束光之相關値，係相較於螢 幕11 1 〇爲正常狀態時較爲小。因此藉由演算相關値係可 監視螢幕1 1 1 〇之異常。此情況中不須設置螢幕監視用光 源部1 1 0 6，亦可以簡易之構造監視螢幕1 1 1 0。又並不限 製於感光於螢幕U 1 〇所反射之光。例如以玻璃、透明塑 膠等之導光性之構件構成螢幕11 1 0。然後於螢幕1 1 1 0端 部設置螢幕監視用感光部1 1 1 3。螢幕監視用感光部1 1 1 3 係感光傳播於螢幕1 Π 0內之光。依此構成係也可演算上 述之相關値。 (實施例4 ) 圖1 3爲表示本發明之實施例4之投影機1 3 0 0之槪略 構造圖。與上述實施例3相同之部分標上相同之符號且省 略重覆說明。於上述實施例3中監視螢幕]1 1 0。相對於 此本實施例中乃爲監視掃描部之檢流計Π 0 8之動作。 掃描監視部]3 0 ]係監視檢流計Π 0 8之掃描動作（轉 - 38- (35) 1240090 動動作）之檢流計監視部。作爲掃描監視部1 3 Q 1，作可 做爲電磁性檢測檢流計 Π 0 8之掃描動作之構造，或作爲 於光遮斷器檢測掃描動作之構造。然後控制器1 1 Q 3係係 因應於從掃描監視部1 3 Q 1來之輸出停止供給從雷射光源 1101R、 1101G、 1101B 來之光束光。 例如檢流計 η 〇 8由於故障而程現停止之狀態，當供 給從雷射光源1 1 0 1 R、1 1 0 1 G、1 1 0 1 B來之光束光之時， 將呈現於螢幕1 1 1 〇之一處照射雷射光之狀態。於使用高 輸出之雷射光源1 ] 0 1 R、1 1 0 1 G、1 1 0 1 B之情況中，所持 續照射之部分將損傷，而導致雷射光射出於投影機1300 之外。於本實施例中於掃描各色雷射光之檢流計1 1 0 8產 生異常，而光束光之掃描無法正常進行之情況時，將停止 供給光束光。 (實施例4之變形例） 圖1 4爲表不上述貫施例4變形例之雷射投影機1 4 0 0 之槪略構造圖。於本變形例中與上述實施例4相同之部分 標上相同之符號且省略重覆說明。本變形例中係使用紅外 光而監視檢流計1 1 〇 8之掃描動作。 於雷射單元1 1 2 0與檢流計]1 〇 8之間，設置著射出紅 外光之掃描部監視用光源]4 0 ]。從掃描部監視用光源 1 4 Ο 1來之紅外光係藉由分色稜鏡i 1 〇 7而可9 0度屈折光 路。分色稜鏡]]〇7係透過從雷射單元]]20來之各色雷射 光，反射紅外光。畫像形成用之各色雷射光與紅外光係藉 -39- 1240090 (36) 由檢流計1 1 0 8，而往2唯方向掃描而往螢幕]1 反射。亦即檢流計1 1 〇 8係掃描各色光束光與紅 螢幕1 1 1 0之畫像顯示領域之外周部近附，如圖 置著檢測紅外光之複數掃描部監視用感光部 S 3、S 4、S 5和S 6。以掃描部監視用光源1 4 0 1 監視用感光部S 1〜S 6構成掃描監視部。檢流計 可掃描各各色光束光與紅外光，而轉動包含設置 示領域之外周部近旁之掃描部監視用感光部S 1 圍。此情況中因應於各色雷射光之畫像信號之變 螢幕1 1 1 0之畫像顯示領域內進行。 檢流計11 〇 8於無法正常動作之情況，紅外 正常掃描。此情況於掃描部監視用感光部S 1〜S 6 係無法感光紅外光。然後控制器1 1 0 3係因應於 監視用感光部S 1〜S 6來之輸出，而停止供給從 U01R、1101G、1101B來之光束光。如此由於 檢流計1 1 〇 8所掃描之紅外光，故可監視檢流計 作。 (實施例4之其他變形例） 取代於上述實施變形例之掃描部監視j S 1〜S 6，如圖1 6所示之投影機1 6 0 0於螢幕1 1 1 〇 附近，係亦可設置反射紅外光之反射構件C ]、 反射構件C 1、C2，係可利用反射鏡、 等。配置然後感光從反射構件C ]、C2之紅外光 1 0之方向 :外光。於 1 5所示設 S1 、 S2 、 與掃描部 1 1 0 8係如 於畫像顯 〜S 6之範 調，係於 光也無法 之任一者 從掃描部 雷射光源 可感光於 U 〇 8之動 有感光部 之外周部 C2。作爲 之掃描部 -40- 1240090 (37) 監視用感光部。藉由此構造，藉由反射構件C ]、C 2係可 往特定方向反射於檢流計11 〇 8所掃描之紅外光。然後由 於感光反射之紅外光，故可監視檢流計1 1 〇 8之動作。 (實施例5 ) 圖1 7爲表示本發明實施例5之投影機1 7 〇 〇之槪略構 造圖。與上述實施例3相同之部分標上相同之符號且省略 重覆說明。於上述實施例3中檢流計1 1 0 8係對於螢幕 1 1 1 〇反射各色雷射光等。對於此於本實施例中檢流計 1 1 0 8係介由反射鏡子1 7 0 3，於螢幕]1 1 0引導各色雷射光 之物。 反射鏡子1 7 0 3係反射從掃描部之檢流計1丨〇 8來之光 束光。螢幕1 1 1 0係設置與反射鏡子〗7 0 3對向。以反射鏡 子1703所反射之光束光係投射於螢幕1110。由於介由反 射鏡子1 7 〇 3於螢幕u ；[ 〇反射各色光束光，故係可小型化 投影機1 7 0 0。 於雷射單元1 1 2 〇與檢流計1〗〇 8間，設置著射出不可 見光之紅外光之反射鏡子監視用光源]7 0 1。從反射鏡子 視用光源]7 0 1來之紅外光係藉由分色稜鏡1 7 q 2而可 9 〇度屈折光路。分色棱鏡i 7 〇 2係透過從雷射單元1 1 2 0 來之各色雷射光’反射紅外光。畫像形成用之各色雷射光 與紅外光係藉由檢流計1〗〇 8，而往2唯方向掃描而往反 射鏡子1 7 0 3之方向反射。 以反射鏡子1 7 〇 3所反射之各色雷射光與紅外光係入 -41 - (38) 1240090 射於螢幕1 1 1 〇。螢幕1 1 1 0係可以可傳播玻璃或透明塑膠 等之紅外光之構件所構成。紅外光係藉由螢幂11 1 0而往 觀察者側屈折透過。此時紅外光之一部分係不透過螢幕 π 1 0而傳播於螢幕1 1 1 0內部。傳播於螢幕1 π 〇內部之 紅外光係於反射鏡子監視用感光部R 1、R 2、R 3而加以感 光。 當於反射鏡子1 7 0 3產生異常時，其反射率係減低。 在此所謂反射鏡子1 7 0 3之異常係指反射鏡子之破損、燒 損、定點孔等。當於反射鏡子1 70 3產生異常時，傳播於 螢幕U 1 0內部之紅外光之強度也減低。此時於反射鏡子 監視用感光部R 1、R2、R3感光之紅外光係相較於特定之 強度較爲小。如此由於可檢測傳播於螢幕1 1 1 〇內部之紅 外光，故可監視反射鏡子1 7 03。然後兼具光束光供給停 止部功能之控制器]1 0 3，以反射鏡子監視用感光部R 1、 R2、R3所感光之紅外光乃相較於特定強度較爲小之時， 將停止供給各色雷射光。藉由此係可減低雷射光之曝露。 (實施例6 ) 圖1 S爲表示本發明實施例6之投影機1 8 0 0之槪略構 造圖。與上述實施例3相同之部分標上相同之符號且省略 重覆說明。於本實施例中，筐體1 1 3 0係至少收納著雷射 光源 1 1 0 1 R、1 1 0 1 G、1 1 〇 1 B、檢流計 1 ] 〇 8 和螢幕 1 ] 1 〇。 於筐體]1 3 0之內壁面，設置著複數振動感應器V ]、V 2、 V 3、V 4、V 5、V 6、V 7、V δ。於此等複數振動感應器 -42- 1240090 (39) V I〜V 8中，於圖]9中表示設置於螢幕π 1 0外周附近之振 動感應器V 5〜ν 8之配置。又兼具光束光供給停止部功能 之控制器]]〇3，係因應於振動感應器V 1〜V 8之輸出而停 北供給從雷射光源]〗〇 ] R、〗]0丨G、1 1 〇 1 Β來之各色光束 光。 例如係可考量當故意破壞投影機1 8 0 〇機體之情況， 或由於地震等而投影機1 8 0 0機體受到損壞等之情況。於 此等場合中各雷射光係有可能直接往筐體1 1 3 0之外部射 出。然後，故意破壞投影機1 8 0 0機體之情況，或由於地 震等而投影機1 8 Q 〇機體受到損壞等之情況，投影機1 8 0 0 之本體筐體1 1 3 〇係以特定之振幅値以上振動。因此當於 振動感應器V丨〜ν 8中檢測出筐體1 1 3 0之特定振幅以上之 SS動之時，將停止供給各色雷射光。藉由此係可減低雷射 先之曝露。 (實施例7 ) 圖2 〇爲表示本發明實施例7之投影機2 0 0 0之槪略構 造匱1 °與上述實施例3相同之部分標上相同之符號且省略 重覆說明。於本實施例中，於筐體Π 3 〇之內壁面設置著 複數反射鏡子ΜΙ、M2。然後筐體監視用感光部2 0 02係 至少感光反射鏡子Μ ]、Μ 2來之反射光。於本實施例中係 不須設置供給紅外光之光源部，而使用畫像形成之各色雷 射光監視筐體Π. 3 〇之光學性密封度。 投影機2 0 00之筐體1130係爲了防止雷射光從螢幕 -43 - (40) 1240090 1 1 1 0以外部分往外部射出’而作成光學性密封構造。在 此爲了調整、修補檢流計1 1 0 8等內部構造要素而有時設 有維持用開口部2 0 0 1。當維持用開口部2 0 0 1爲開著之狀 態下振動各雷射光源1 1 〇 1 R、Π 0 1 G、1 1 〇 1 B時，各色雷 射係從開口部2 0 0 1往筐體1 1 3 0外射出。 於本實施例中係於維持用開口部2 0 〇 1之筐體內部側 面或特定筐體內壁面設置著複數反射鏡子Μ 1、M2。然後 檢流計1 1 0 8係於電源切入時、固定之時間或任意之時， 驅動使雷射光入射於此等反射鏡子Μ 1、Μ 2之位置。筐體 監視用感光部2002係設置於反射全部反射鏡子ΜΙ、M2 之光所入射之位置。因此當維持用開口部2 0 0 1等爲開著 之情況時，於筐體監視用感光部2 0 0 2乃不感光雷射光。 結果係可檢測筐體1 3 0 0是否光學性密閉著。然後當筐體 1 3 0 0未光學性密閉著時，兼具光束光供給停止部功能之 控制器1 1 0 3，係停止供給雷射光。結果係可減低雷射光 之曝露。 又本實施例中控制器1 1 03，於筐體監視用感光部 2〇〇2所感光之各色光束光之強度乃相較於特定値小之 時’停止供給各色光束光。如上所述當維持用開口部 200 1等爲開著之情況時，於筐體監視用感光部2〇02乃不 感光雷射光。並且既使於筐體內壁面 W產生破損或定點 孔等之異時，雷射光係有可能從筐體內壁面W之異常 部分往外部射出。 此情況中取代於複數反射鏡子M ]、M 2而即使於筐體 -44- (41) 1240090 內壁面W之特定部分反射雷射光，亦可於筐體監視用 光部2 0 02感光。然後於筐體監視用感光部2〇〇2所感光 各色光束光之強度乃相較於特定値小之時，係可檢測出 例如維持用開口部2 0 0 1等爲開著，或於筐體內壁面w 生異常等。因此係可減低雷射光之曝露。 (實施例8 ) 圖2 1爲表示本發明實施例8之投影機2 1 0 0之槪略 造圖。與上述實施例3相同之部分標上相同之符號且省 重覆說明。各色雷射光源1 1 0 1 R、1 1 0 1 G、1 1 0 1 B係收 於雷射單元1 120內。又雷射單元1 120係對於筐體1 1 以固定部2103、2104而加以固定著。固定部2103、21 係具有付鎖之封鎖機構。藉由具有此封鎖機構係可防止 筐體1 1 3 0輕易取出。然後兼具光束光供給停止部功能 控制器丨1 〇 3，係遠離筐體1 3 0 0與雷射單元1 1 2 0之時 將停止供給雷射光。控制器1 1 0 3係具有遮光器驅動 2 1 0 5。遮光器驅動部2 1 〇 5係遠離筐體1 3 0 0與雷射單 1 1 2 0之時’將不會相反關閉遮光器1 1 〇 4。所謂不會相 關閉遮光器1】〇4係指當關閉遮光器1 1 04時無法再次 開。

也考量意途從投影機2100鷇體內取出投影機21 〇〇 之雷射單兀]1 2 0，而將各色雷射光源丨；! Q 1 R、] I 〇 J G 1 1 0 1 B轉用於其他用途上。於此情況中也有可能導致雷 光之曝露。於本實施例中收納各色雷射光源]〗〇 ] R 感 之 產 構 略 納 3 0 04 從 之 5 部 元 反 打 內 射 -45- (42) 1240090 1 1 〇 1 G、1 1 〇 1 B之雷射單元n 2 〇，與筐體n 3 〇係藉由固 疋邰2 1 0 3而加以固定著。然後當分離筐體u 3 〇與雷射單 兀Π 2 Q之時，亦即從筐體n 3 〇取出雷射單元丨^ 2 〇之情 況’將停止供給雷射光。藉由此係可減低雷射光源 1 1 G 1 R、] 1 0 1 G、1 1 〇 1 b用往其他用途之可能性及雷射光 之曝露之可能性。特別於本實施例中係藉由不會相反關閉 遮光器11 04而停止供給雷射光。藉由此即使雷射振動之 狀態，亦可藉由遮光器1 1 0 4而阻斷雷射光。 更於雷射供給停止部，於與筐體 1 1 3 0及雷射單元 1 120分離時，最好係將各色雷射光源 1 i〇iR、1 i〇ig、 1 1 〇 1 B處於不可逆向之不能振動之狀態。圖22爲表示爲 了將雷射光源1 1 〇 1 R、1 1 〇 ] G、1 1 0 1 B處於不能振動之狀 態之圖。突出部2 2 0 1係固定於雷射單元1 1 2 0。又L字型 之突起部 22 03係對於突出部22〇1以彈簧等之彈性部 2 2 0 2附勢於箭頭N方向。於突起部2 2 〇 3之端部與雷射單 元1 ] 2 0之間設有壓電兀件2 2 〇 4。雷射單元1 1 2 0乃於固 定於筐體1 1 3 0之狀態下’突起部2 2 0 3係抵抗於回復力而 於圖2 2中往上方擠去。對於此當分離遠離筐體1 3 0 0與雷 射單元1 1 2 0之時，突起部2 2 0 3係隨著彈性構件2 2 0 3之 回復力往圖22之下方擒去。然後藉由关起部2 2 〇 3之端部 而壓擠壓電元件2 2 〇 4 °作爲壓電兀件2 2 〇 4係例如可利用 壓電元件。壓電元件2 2 0 4係由於於藉由突起部2 2 〇 3而壓 縮之方向施加力纛’故可產生高電壓。作爲雷射光源 1 ] 0 ] R、] ] 0 ] G、1 1 〇 1 B係可考量半導體。對於半導體雷 -46 - 1240090 (43) 射由於施加特定値以上之過電壓，係可破壞成爲不能振動 之狀態。壓電元件2 2 04所產生之電壓値係爲了破壞半導 體雷射而作爲必要之數値。藉由此即使再次將雷射單元 Π 2 0安裝於筐體 n 3 0 ,也無法振動雷射光。結果係可減 低雷射單元用往其他用途之可能性及雷射光之曝露之可能 性。 於本實施例中雷射單元1 1 2 〇係更具有第1辨識資料 之第1電路基板2101。又於蟹體1130於雷射早兀112Ό 外設有具有第2辨識資料之第2電路基板2 1 02。控制器 1 1 03最好係儘於第1辨識資料與第2辨識資料爲相同之 情況時，驅動各色雷射光源 Π 〇 1 R、1 1 〇 1 G、1 1 01 B。藉 由此當不是組合事先決定之辨識號碼之雷射單元1 1 與 筐體 1 1 3 0之時，係無法振動雷射光源1 1 0 1 R、1 1 〇1 G、 1 1 (Π B。結果係無法單獨振動雷射單元1 1 2 0。且即使將雷 射單元1 1 2 0安裝於其他之適當筐體中也法法振動。藉由 此係更能減低雷射光之曝露之可能性。 於上述實施例中係藉由如圖2 3 A所示之所謂背面型 投影機而加以說明。但是係不限於此如圖2 3 B所示之使用 反射型螢幕2 3 0 1之投影機2 3 0 0也可適用。又於上述實施 例中作爲不可見光而使用紅外光。但不限於此亦可爲供給 不可視領域之波長光之物。又作爲投影機雖然可舉使用雷 射光之雷射投影機爲例子說明5但作爲光源係亦可使用雷 射二極體。更上述各實施例之投影機雖然爲掃描光束光之 構造，以線狀光束光掃描螢幕之構造之投影機亦可適用於 -47- (44) (44)1240090 本發明。 (產業上之可利用性） 如上所述本發明之投影機係有助於顯示發表或動畫。 【圖式簡單說明】 圖1爲表示本發明之實施例1之投影機之槪略構造 圖。 圖2爲表示雷射光源和光源驅動部之構造圖。 圖3 A、圖 3 B、圖 3 C、圖3 D爲表示檢流計、保持 部、掃描驅動部之構造圖。 圖4爲表示檢流計傾斜角度之變位與時間之關係圖。 圖5 A、圖5 B、圖5 C爲表示檢流計、保持部、掃描 驅動部之其他之構成例圖。 圖6 A、圖 6 B、圖 6 C、圖6 D爲表示檢流計、保持 部、掃描驅動部之其他之構成例圖。 圖7爲表示實施例1之變形例之投影機槪略構造圖。 圖8爲表示本發明實施例2之投影機槪略構造圖。 圖9 A、圖9 B、圖9 C爲表示掃描動作與電流強度之 圖。 圖1 0 A爲表示檢流計之槪略構造圖。 圖1 0 B爲微透鏡之槪略構造圖。 圖1 ]爲表示實施例3之投影機之槪略構造圖。 圖]2爲表示實施例3之變形例之槪略構造圖。 -48 - (45) (45)1240090 圖1 3爲表示實施例4之投影機之槪略構造圖。 圖]4爲表示實施例4之變形例之槪略構造圖。 圖1 5爲實施例4之變形例之正面表示圖。 圖]6爲實施例4之其他變形例之正面表示圖。 圖]7爲表示實施例5之投影機之槪略構造圖。 圖1 8爲表示實施例6之投影機之槪略構造圖。 圖1 9爲表示實施例6之雷射投影機之正面圖。 圖2 0爲表示實施例7之投影機之槪略構造圖。 圖2 1爲表示實施例8之投影機之槪略構造圖。 圖22爲表示實施例8之變形例之槪略構造圖。 圖23 A爲背部投影機之表示圖。 圖2 3 B爲使用反射型螢幕之投影機之表示圖。 主要元件對照表 1 〇 〇投影機 9 0營幕 4 0彈簧 F2 第2力量 3 0檢流計 7 0遮光部 1 〇雷射光源 2 0光源驅動部 8 0控制電路 5 4驅動裝置 -49- (46) (46)1240090 5 〇掃描驅動部 5 2 線圈 AX 軸 F]第1力量 Μ永久磁鐵 1 5 開口部 1 0R第1雷射光源 10G 第2雷射光源 10B 第3雷射光源 1 2 B 分色梭鏡 I 2 G分色錶鏡 10 時刻 II 時刻 12 時刻 t3 時刻 4 5 檔接部 5 8 永久磁鐵 5 9永久磁鐵 MB 永久磁鐵 Μ A 永久磁鐵 7 〇 〇投影機 7 7檢測部 8 〇 〇投影機 8 7 5 遮光部 -50 (47) (47)1240090 83 0 檢流 計 87 0 遮光 部 850 掃描 驅 動 部 85 7 第3 驅 動 裝 置 856 永久 石灶 鐵 855 永久 磁 鐵 854 第2 驅 動 裝 置 853 第1 驅 動 裝 置 852 第2 線 圈 85 1 第1 線 圈 AX1 第1 朝 AX2 第1 軸 E1 電極 E2 電極 E3 電極 E4 電極 1100 投影機 1 13 0筐體 ]1 1 1 過瀘部 1 1 1 2 聚光透鏡 1113 螢幕監視用感光部 1 1 〇 8檢流計 Π 〇 9檢流計驅動部 〗1 〇 7 分色稜鏡 -51 (48) (48)1240090 ]1 0 6螢幕監視用光源部 1 1 0 5 開口部 1 1 04遮光器 1 1 0 3 控制器 1 1 0 2 R分色稜鏡 Η 0 2 B分色稜鏡 1 1 2 0 雷射單元 1 1 0 1 R雷射光源 1 1 0 1 G雷射光源 1 1 0 1 Β 雷射光源 1 1 10螢幕 1 200投影機 1 2 4 0檢流計 1 3 00投影機 1 3 0 1掃描監視部 1 400投影機 1 4 0 1掃描部監視用光源 S 1掃描部監視用感光部 S2掃描部監視用感光部 S3掃描部監視用感光部 S4掃描部監視用感光部 S 5掃描部監視用感光部 S 6掃描部監視用感光部 ]60 0投影機 -52 (49) (49)1240090 C 1反射構件 C2 反射構件 1 7 〇 〇投影機 1 7 〇 3 反射鏡子 1 7 〇 2分色稜鏡 1 7 0 1反射鏡子監視用光源 R 1反射鏡子監視用感光部 R2反射鏡子監視用感光部 R3 反射鏡子監視用感光部 1 8 0 0投影機 V 1振動感應器 V2振動感應器 V 3 振動感應器 V4振動感應器 V 5 振動感應器 V6振動感應器 V 7振動感應器 V 8振動感應器 2 0 0 0投影機 W筐體內壁面 2 0 0 1維持用開口部 2 002筐體監視用感光部 2 1 〇 〇投影機 2 ] 0 ].第1電路基板 -53 - (50) (50)1240090 2 1 0 2第2電路基板 2 1 0 3 固定部 2 1 0 4 固定部 2 1 0 5 遮光器驅動部 2 2 0 1 突出部 2 2 0 2 彈性部 2 2 0 3 突起部 2204壓電元件 2 3 0 0 投影機 2 3 0 1反射型螢幕 -54 -

Claims (1)

1. (1) 1240090 拾、申請專利範圍 1 · 一種投影機，其特徵具有：因應於畫像信號而供給 光束狀之雷射光之雷射光源，和將從前述雷射光源之前述 雷射光掃描於至少一維方向之掃描部，和以第]力量驅動 前述掃描部之掃描驅動部，和以第2力量於特定位置停止 前述掃描部而保持之保持部，遮光藉由前述保持部所保持 之前述掃描部之前述雷射光之遮光部； 前述掃描驅動部，當前述第1力量相較於前述第2力 量較大時，前述掃描部解除藉由前述保持部所保持之狀態 而驅動前述掃描部；前述保持部，當前述第2力量相較於 前述第1力量較大時，於特定位置停止前述掃描部而加以 保持。 2.如申請專利範圍第1項所述之投影機，其中，具有 驅動前述雷射光源之光源驅動部，和檢測入射於前述遮光 部之前述雷射光之檢測部； 前述光源驅動部，前述檢測部於檢測前述雷射光時， 將停止從前述雷射光源之前述雷射光之供給。 3 ·如申請專利範圍第1項或第2項所述之投影機，其 中’前述掃描驅動部，具有藉由流動電流而產生前述第1 力量之磁力線圈； 前述保持部，具有產生前述第2力量之回復力之彈性 構件。 4 .如申請專利範圍第1項或第2項所述之投影機，其 中，前述掃描驅動部，具有藉由流動電流而產生.前述第] (2) (2)1240090 力量之磁力線圈； 前述保持部，具有產生前述第2力量之磁力之永久磁 鐵。 5 . —種投影機，其特徵具有：供給因應於畫像信號所 調變之光束光之雷射光源，和於特定面內掃描前述光束光 之掃描部，和投射前述所調變之光束光之螢幕，和感光從 前述螢幕之反射光之螢幕監視部，和因應於從前述螢幕監 視部之輸出，停止從前述雷射光源之前述光束光之供給之 光束光供給部。 6.如申請專利範圍第5項所述之投影機，其中，前述 螢幕監視部，係由射出不可見光之螢幕監視用光源部，和 感光藉由前述螢幕所反射之前述不可見光之螢幕監視用感 光部所形成。 7 ·如申請專利範圍第6項所述之投影機，其中，於前 述螢幕與前述螢幕監視用感光部之間之光路中，更具有透 過前述不可見光，吸收或反射前述雷射光之過濾部； 前述螢幕監視用感光部係感光從前述螢幕之前不可見 光； 前述光束光供給停止部，當感光前述螢幕監視用感光 部之前述不可見光之強度相較於特定値較爲小時’停止前 述光束光。 8 ·如申請專利範圍第6項所述之投影機，其中，前述 螢幕監視用光源部，係做爲具有特定脈衝列之調變光而射 出前述不可見光； -56 - (3) (3)1240090 前述螢幕監視用感光部係改光具有前述脈衝列之前述 不可見光，前述光束光供給停止邰’當未檢測感光則述螢 幕監視用感光部之前述不可見光之前述脈衝列時’停止前 述光束光之供給。 9 .如申請專利範圍第6項所述之投影機，其中，前述 螢幕監視部’係具有感光於前述螢幕所投射之前述光束光 中，於前述螢幕所反射之光’或是傳送前述螢幕內之光之 光束光感部； 前述光束光供給停止部，於前述螢幕所投射之前述光 束光和於前述螢幕所反射之光之臨界値’或是投射於前述 螢幕之前述光束光，傳送前述螢幕內之光之臨界値’相較 於特定値較爲小時’停止前述光束光之供給。 10. —種投影機1其特徵具有·供給因應於畫像柄號 所調變之光束光之雷射光源，和於特定面內掃描前述光束 光之掃描部，和投射前述所調變之光束光之螢幕，和監視 藉由前述掃描部所產生之掃描動作之掃描監視部，和因應 於從前述掃描監視部之輸出，停止從前述雷射光源之前述 光束光之供給之光束光供給部。 1 1 .如申請專利範圍第]〇項所述之投影機，其中，前 述掃描部，係以特定軸爲中心轉動平面鏡之檢流計 (galvanometer )鏡片部； 前述掃描監視部爲監視前述檢流計（g a 1 v a 11 〇 m e t e r ) 鏡片部之前述轉動動作。 ].2 .如申請專利範圍第1 0項所述之投影機，其中，前 -57 - (4) (4)1240090 述掃描監視部，係由射出不可見光之掃描部監視用光源， 和設置於前述螢幕之外周部附近，感光前述不可見光之掃 描部監視用感光部所形成； 前述掃描部爲掃描前述光束光和前述不可見光。 1 3 ·如申請專利範圍第1 0項所述之投影機，其中，前 述掃描監視部，係由射出不可見光之掃描部監視用光源， 和設置於前述螢幕之外周部附近，反射前述不可見光之反 射構件，和感光從前述反射構件之前述不可見光之掃描部 監視用感光部所形成。 1 4 . 一種投影機，其特徵具有：供給因應於畫像信號 所調變之光束光之雷射光源，和於特定面內掃描前述光束 光之掃描部，和反射從前述掃描部之前述光束光之反射 鏡，和對向於前述反射鏡而設置，投射以前述反射鏡所反 射之前述光束光之螢幕’和監視BL(述反射鏡狀態之反射鏡 監視部，和因應於從前述反射鏡監視部之輸出，停止從前 述雷射光源之前述光束光之供給之光束光供給部。 1 5 ·如申請專利範圍第1 4項所述之投影機，其中，前 述反射鏡監視部’係由射出不可見光之反射鏡監視用光 源，和以前述反射鏡反射，感光傳送前述螢幕內之前述不 可見光之反射鏡監視用感光部所形成； 前述光束光供給停止部，於前述反射鏡監視感光部所 感光之前述不可見光相較於特定強度較爲小時，停止前述 光束光之供給。 ]6 . —種投影機，其特徵具有：供給因應於畫像信號 -58- (5) (5)1240090 所調變之光束光之雷射光源，和於特定面內掃描前述光束 光之掃描部’和投射前述調變之光束光之螢幕，和收納至 少則述雷射先源與則述掃描部及則述營幕之框體部，和設 置於前述框體部之複數振動感應器，和因應於從前述振動 感應器，停止從前述雷射光源之前述光束光之供給之光束 光供給停止部。 1 7 . —種投影機，其特徵具有：供給因應於畫像信號 所調變之光束光之雷射光源，和於特定面內掃描前述光束 光之掃描部，和投射前述調變之光束光之螢幕，和收納至 少前述雷射光源與前述掃描部及前述螢幕之框體部，和設 置於前述框體部之複數反射鏡部，和感光從至少前少反射 鏡部之反射光之框體監視用感光部，和因應於前述框體監 視部之輸出，停止從前述雷射光源之前述光束光之供給之 光束光供給停止部。 1 8 .如申請專利範圍第1 7項所述之投影機，其中，前 述光束光供給停止部’於框體監視用感光部所感光之前述 光束光之強度相較於特定値較爲小時’停止前述光束光。 1 9 . 一種投影機，其特徵具有：收納供給因應於畫像 信號所調變之第1顏色光束光之第1雷射光源，和供給因 應於畫像信號所調變之第2顏色光束光之第2雷射光源， 和供給因應於畫像信號所調變之第3顏色光束光之第3雷 射光源之雷射單元5和設置於前述雷射單元之開Π部之遮 光器，和於特定面內掃描前述光束光之掃描部’和投射前 述調變之光束光之螢幕5和收納至少前述雷射單元與前述 -59- (6) 1240090 掃描部及前述螢幕之框體部，和固定前述框體與前述 單元之固定部，和於分開前述框體不與前述雷射單元 停止前述雷射光之供給之雷射光供給停止部。 2 0 .如申請專利範圍第1 9項所述之投影機，其中 述雷射光供給停止部，當分離前述框體不與前述雷射 時，不可逆向關閉前述遮光器，而從前述開口部具有 射出前述各色光束光。 2 1 .如申請專利範圍第2 0項所述之投影機，其中 述雷射光供給停止部，當分離前述框體不與前述雷射 時，將前述各色雷射光源作成不可逆向部震盪狀態。 2 2.如申請專利範圍第20項所述之投影機，其中 述雷射單元，具有第1辨識資料之第1電路基板，和 前述各色雷射光源之控制器； 前述框體除了前述雷射單元之外，具有第2辨識 之第2電路基板； 前述控制器，前述第1辨識資料與前述第2辨識 僅於相同時，驅動前述各色雷射光源。 雷射 時， ?刖 口 α —_ 早兀 防止 W一 ，刖 口口 —. 早兀 5 刖 驅動 資料 資料