TW524773B - Plasma processing for porous silica thin film - Google Patents

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Ivan Louis Berry Iii
Kyuha Chung
Qingyuan Han
Youfan Liu
Eric Scott Moyer
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Dow Corning
Axcelis Tech Inc
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Description

524773 A7 s----2L____ 五、發明說明(1 ) 背景 本發明一般關於用於電子元件之塗層。更特別地,本發 明關於具有較佳彈性模數及低介電常數的塗層並關於製造 此塗層之方法。 電子元件上的薄膜介電塗層在技術上係爲人所熟知的。 J如發給Haluska等人之美國專利編號4,749,631及 4,756,977揭示藉個別塗佈烷氧化矽或氫silsesqui〇xane至基 材上,然後將此經塗覆的基材加熱至200與1 οοοχ:之溫度間 2製彳于足氧化矽基質的塗層。這些塗層的介電常數對特定 電子元件及電路而言經常過高。 發給Haluska等人之美國專利編號4,847,162及4,842,888敎 導在氨的存在下藉分別加熱氫silsesquioxane樹脂與矽酸酯 至200與1000。(:之溫度間可形成氮化氧化矽塗層。這些參考 文獻敎導無水氨的使用,使所得塗層有約丨至2重量%的氮 掺入其中。
Glasser等人,非晶質固體期刊,64 ( 1984),第2〇9·221頁 k出在氨的存在下藉加熱四乙氧基矽烷形成陶瓷塗層。此 參考文獻敎導無水氨的使用及所得氧化矽塗層係被氮化。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發給Jada等人之美國專利編號4,636,44〇揭示一種降低塗有 落膠的基材之乾燥時間的方法,包括將基材置於水性四級 铵氫氧化物及/或纪醇胺化合物中。ja(ja要求在加熱之前先 乾燥此塗層。其特別限於水解或部份水解烷氧化矽而且無 提出該方法在具有Si- Η鍵之塗層方面的實用性。 發給Chandra之美國專利編號5,262,2〇1及發給Baney等人之 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 524773 五、發明說明(2 ) 5,1 16,637提出使用驗性觸媒以降低將各種預陶t材料,所 有皆包含氫silsesquioxane,轉化成陶瓷塗層所需的溫度。 故些參考文獻提出在該塗層曝露於鹼性觸媒中之前先除去 溶劑。 μ 發給Camilletti等人之美國專利編號5,547,7〇3提出一種形 成低介電常數含Si-Ο塗層於基材上的方法,包括成功地^ &氨、乾氨及氧氣下加熱氫silseSqui〇xane樹脂。所得塗層 在1 MHz下具有如2.42般低的介電常數。此參考文獻提出在 知S塗層轉化成陶資之前先去除溶劑。 發給Balance等人之美國專利編號5,523,163提出一種形成 含Si- 0塗層於基材上的方法,包括加熱氫siisesqui⑽抓6樹 脂以將其轉化成含以_〇陶瓷塗層,然後將該塗層曝露在含 有氫氣的退火氛圍中。所得塗層具有如2·773般低的介電常 數。此參考文獻提出在將該塗層轉化成陶瓷之前先去除溶 劑。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 發給Syktich等人之美國專利編號5,618,878揭示含有溶於 飽和纟元基煙之氫silsesquioxane樹脂的塗層組合物,其可用 於形成厚陶瓷塗層。所揭示的烷基烴是這些高達十二碳烷 之烴類。此參考文獻並無提出在除去溶劑之前先將經塗覆 之基材曝露在鹼性觸媒中。 1998年11月20曰入檔發給Chung等人標題爲形成塗層的方 法之美國序號09/ 197,249揭示一種具有低介電常數之多孔性 網狀塗層的製造方法。該方法包括將含有至少2個Si-Η基之 樹脂及溶劑所形成的溶液以塗覆後該塗層中保有至少5體積 -5 ‘紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公釐 524773 A7 五、發明說明(3 ) %溶劑的方式將塗層塗f名其 古认α 復在基材上。然後將該塗層置於含 有驗性觸媒及水的環境中。#你 ^ 士夕 甲取後’從塗層中蒸掉溶劑以形 成夕孔性網狀結構。若希望, 了以加熱万式使該塗層硬化 乂形成陶瓷。藉此方法所製得 叮^传 < 薄腠的介電常數在1.5至2.4 圍,其彈性模數爲約2_ 3 GPa。 現在已發現多孔性網狀塗層可、 牌士 玉尽』以熱力万式硬化之且以電 水處理,或以電漿硬化之而不需事先熱硬化 、仁疋’對-種製造具有較佳彈性模數之多孔性網狀塗層 之方法仍有需求。 發明概述 本發明製造-種具有低介電常數及較佳彈性模數的塗 層。製造該塗層的方法包括提供—種由含有至少2個_基 的樹脂所製得之多孔性網狀塗層。 該多孔性網狀塗層可以熱力方式硬化之並以電漿處理 在此例中,以高達6小時的時間將多孔性網狀塗層加散 至從約50。(:至約1000。0之溫度範圍。一般而言,該多隸 網狀塗層可藉在約4 5 〇 下加熱約i小時之熱力方式硬化 之。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 然後該塗層經過電漿處理以降低保留在塗層中之以^鍵 數。經熱力方式硬化之多孔性網狀塗層的電漿處理產生大 於約4 GPa之高彈性模數。與經熱力方式硬化的塗層相比, 彈性模數的增加量一般爲至少約5〇%,較普遍地是至少約 100% 〇 、” 或者,該多孔性網狀塗層可藉以低於約5分鐘的時間加熱 -6 -私纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 524773 A7 ττ---—--> 五、發明說明(4 ) 至約200 C至約225 C之溫度範圍的方式電漿硬化之。一般 而1 ’多孔性網狀塗層係經電漿硬化約2分鐘。 視情況可將經熱力方式硬化電漿處理過之塗層或經電漿 :化之塗層退火。經熱力方式硬化電漿處理過之塗層或‘ 電漿硬化之塗層的熱ϋ作用可降低該塗層的介電常數, 同時維持塗層經電漿處理或經電漿硬化時所獲得2彈性模 數的增加量。退火溫度一般低於約475。〇且退火時間一般不 超過約1 8 0秒。 此已退火、經熱力方式硬化電漿處理過之塗層及已退火 經電漿硬化之塗層具有從約U至約3·5範圍之介電常數及一 般大於約4 GPa,普遍在約4 GPa至約10 GPa範圍之彈性模 數。 因此,本發明目的在於製造具有較佳彈性模數及低介電 常數的塗層。 發明細節描述 介電常數爲約1.5至約2·4之超低介電常數塗層之製造係描 述於美國專利申請案序號〇9/ 197,249,在此將其在如何製造 具有超低介電常數之塗層方面的敎導併入以作爲參考。此 申請案描述一種方法,其中孔洞被導入氫silsesqui〇xane (HSQ)基質的薄膜中。根據美國序號〇9/ 197,249中所提出的 方法所製得已在熱力條件下硬化之HSQ基質的薄膜包含約 20至約60% Si-Η鍵密度。當塗層的介電常數爲約2時,該塗 層的彈性模數係介於約2與約3GPa之間。本發明係以電梁處 理或%滎硬化多孔性HSq基質之薄膜可增加該薄膜之彈性 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格⑵Q χ 297公爱) (請先閱讀背面之注意事項再本頁} J^T·. _線. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 524773 A7 B7 五、發明說明(5 模數的發現爲基礎。將電漿處理應用在經熱力方式硬化 HSQi質的薄膜或電漿硬化未經熱力方式硬化之HSQ薄膜可 降低剩餘的Si- Η鍵數而無損該薄膜之低密度結構。 與經熱力方式硬化之塗層相比,經電漿處理過之薄膜顯 π較佳彈性模數。但是,電漿硬化之電漿處理可在薄膜上 產生顯著量之極性物種,造成介電常數的增加。這在一些 應用中是不希望發生的。本發明也以將熱退火應用在經熱 力方式硬化電漿處理過或經電漿硬化之塗層可產生低介電 常數、較佳模數之材料的發現爲基礎。 本發明方法特別可應用在塗覆塗層於電子元件或電子電 路上,在該處他們可當作中間介電層,摻有雜質之介電層 以製造類似電晶體之元件、摻有顏料之含有矽的黏合劑系 統以製造電容器或類似電容器之元件、多層元件、裝 置、矽於絕緣元件上、超晶格元件及類似物。但是,欲藉 本發明塗佈之基材和元件的選擇只受該基材在本發明所; 的溫度及壓力下之熱及化學安定性的需求所限制。依此, 本發明塗層可用於基材上,如塑膠包括,例如聚亞胺、環 ㈣脂、、聚四氟乙埽及其共聚物、聚碳酸@旨、㈣酸及聚 酉曰,陶瓷、皮革、織物、金屬及類似物。 如本發明中户斤用’“陶资,,表示包括陶资品如非晶質氧化 石夕及陶資類似材料如非晶質氧切類似材料,該材= 儿全不含碳及/或氫,但在其他特性 或“電子電路’’表示包括,但不限於以氧化V:::,, 件'以碎化鎵爲基質的元件、以碳化二基質的元 及儿啰馬基質的元件、焦 本紙張尺f顧_家鮮(CNS)A4^^21() x 頁 訂 線 524773 A7 -------B7 "~~----- 五、發明說明(6 ) 平面列、光電子元件、光伏打電池及光學元件。 需要多孔性網狀塗層作爲本發明之起始物。一種製造此 類多孔性網狀塗層的方法係描述於美國序號〇9/ 197,249,其 被描述於下。 製k多孔性網狀塗層之方法係以含有至少2個si_ H基之樹 脂及溶劑的溶液將塗層塗覆於基材上開始。具有至少2個 基之樹脂並無特別限制,只要si_H鍵可被水解且至少 郅份被鹼性觸媒及水縮合以形成作爲多孔性網狀塗層之結 構的交聯網狀結構。一般而言,此材料具有下式: { R3Si01/2} a{ R2Si02/2}b{ RSi03/2} c{ Si04/2} d 其中各R係獨立地選自由氫、烷基、烯基或芳基或經雜原子 如鹵素、氮、硫、氧或矽取代之烷基、烯基或芳基所組成 之群’而且a、b、c及d是特定單位之莫耳比例,其總和爲 1 ’ W提是每個分子中至少有2個R是氫而且該物質在結構上 具有充分樹脂性以形成所需網狀結構。烷基的實例爲曱 基、乙基、丙基、丁基和類似物,以1 _ 6個碳原子的烷基爲 代表。晞基的實例包括乙烯基、晞丙基及己烯基。芳基的 貫例包括苯基。經取代的基團實例包括CF3( C]p2) nCH2CH2, 其中n= 〇-6。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 可用於本發明的是各種包含式1^丨(0义)/011,;^02/2單位之 氳化石夕氧( hydridosiloxane)樹脂,已知的氫silsesquioxane 樹脂。在此式中,各個R,係獨立地選自由烷基、烯基或芳 基或經雜原子如_素、氮、硫、氧或矽取代之烷基、烯基 或芳基所組成之群。烷基的實例爲甲基、乙基、丙基、丁 -9 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) 524773
五、發明說明(7 ) (請先閱讀背面之注咅?事項再本頁) 基和類似物,以^個碳原子的烷基爲代表。烯基的實例包 括乙烯基、晞丙基及己烯基。芳基的實例包括苯基。經取 代基團的實例包括CF/CF^CI^CH2,其中n=〇_6。其中各個 R基係經由氧原子與矽键結,他們形成可水解的取代基。 在上式中’ X=0至2,y=〇至2,Z=1至3,X+y+z=3。這些樹 脂基本上可能完全縮合(HSiOWn,其中11是8或更大,或他 們可能只是部份水解(即包含一些Si- 0R,)及/或部份縮合 (即包含一些Si- 0H)。 含有至少2個Si-H基之樹脂的結構不受限制。該結構可爲 一奴已知的梯形、籠行或其混合。HSQ樹脂可包含如經 基、有機硬垸氧基、二有機氫矽烷氧基、三烷氧基、二烷 氧基及其他之末基。該HSQ樹脂也可包含小數目(如低於 1〇°/〇具有0或2個氫原子鍵結其上之矽原子及/或小數目Si_ c 基,如 CH3Si〇3/2或 HCH3Si02/2基。 丨線. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 含有至少2個Si- Η基之樹脂及其製造方法在技術上係爲人 所熟知的。例如,發給Collinsi美國專利標號3,615,272提 出藉由包括在苯磺酸水合物水解媒介中水解三氣矽烷,然 後以水或水性硫酸清洗所得樹脂之程序製造基本上完全縮 合之氫silsesquioxane樹脂(其可包含高達1〇〇-3〇〇 ppm之矽 fe醇)。相同地,發給Bank之美國專利編號5,〇 1〇, 159提出一 種包括在芳族績酸水合物水解媒介中水解氫化矽燒以形成 樹脂,然後使其與中和劑接觸的方法。 其他氫化矽氧烷樹脂,如這些發給Fry之美國專利编號 4,999,397及發給Bergstrom之美國專利編號60中所描 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7__ 五、發明說明(8 ) 述的樹脂’這些在酸性、醇的水解媒介中水解烷氧基或酿 氧基秒燒所製得的樹脂,這些在日本Kokai專利編號 59- 178749、60- 86017及03- 107 122中所描述的樹脂或任何其 他同等氫化矽氧烷樹脂在此也可發揮作用。 也可使用特殊分子量餾份之含Si_ H樹脂。此餾份及其製 備方法係描述於發給Hanneman之美國專利編號5,〇63,267及 發給Mine之美國專利編號5,416,19〇。代表性餾份包含至少 75%聚合體物種的數目平均分子量高於12〇〇之物質,更具 代表性的餾份包含至少75%聚合體物種的數目平均分子量 係介於約1200與約1〇〇,〇〇〇之間的物質。 含Si-Η又樹脂可包含其他成份,只要這些成份不會干擾 塗層的%整性。但是,應注意到特定物質可能增加塗層的 介電常數。已知添加劑包括可增加樹脂硬化速度及/或程度 的觸媒如鉑、铑或銅觸媒,如發給11&1113]^之美國專利編號 4,822,697中所述般。 也可使用陶瓷氧化物先質物與含Si_H之樹脂組合。在此 可用的陶究氧化物先質物包括各種金屬化合物如銘、欽、 錯、紐、鈮及/或釩以及各種非金屬化合物如這些硼或磷化 合物,其可在相當低的溫度下溶於溶液中,水解,狹後鼽 解以形成陶资氧化物。在此可用的陶資氧化物先質物係描 述於美國專利編號4,808,653、5,〇〇8,320及 5,29〇,394。 含Si-H樹脂以溶劑分散液的形式被塗覆在基材上以在基 材上形成塗層(“SiH樹脂塗層,,)。可使用的溶劑包括任何可 溶解或分散樹脂形成均勻液體混合物而不影響所得塗 (請先閱讀背面之注意事項再本頁) ·. -丨線· -11 - 524773 A7 ^~一-^______ 五、發明說明(9 ) 基材的試劑或試劑混合物。這些溶劑可包括醇類,如乙醇 或異丙醇;芳族烴類如苯或甲苯;經分支或線性烷類如正 庚、十二碳烷或壬烷;經分支或線性晞類如正庚烯、十 二碳缔或十四碳烯;酮類如甲基異丁基酮;酯類;醚類如 甘醇酸;或線性或環狀矽氧烷如六甲基二矽氧烷、八甲基 二石夕氧燒及其混合物,或環狀二甲基聚矽氧烷;或任何上 述/今劑之混合物。該溶劑的存在量一般足以溶解/分散樹脂 成應用所需之濃度。一般而言,該溶劑存在量爲約2〇至約 99.9重量% ’更普遍地是從約7〇至約95重量%,以樹脂及溶 劑的重量爲基準。 右希望’其他物質也可被包含在此樹脂分散液中。例如 刀政液可包括填料、著色劑、黏著促進劑及類似物。 將樹脂分散液塗佈在基質上之特定方法包括,但不限於 旋轉塗覆、塑模塗覆、噴霧塗覆、流動塗覆、篩印或其他 方法。典型的方法是旋轉塗覆。 至少約5體積%之溶劑應殘留在塗層中直到該樹脂與鹼性 觸媒及水接觸。當S丨_ Η键水解及縮合時,此溶劑形成多孔 性網狀塗層的孔洞。在一些具體實例中,普遍殘留至少約 10體積%溶劑,然而在其他實例中,普遍殘留至少約15體 積%落劑,另外在其他實例中,普遍殘留至少約25體積%溶 劑。 保留溶劑的方法無特別限制。在典型具體實例中,高滞 ”、’占溶劑可單獨使用或作爲上述溶劑之一的共溶劑。在此方 法中,如上述般在正常條件下加工樹脂分散液可使至少5〇/〇 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 χ 297公爱) 請 先 閱· 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
524773 A7 B7 五、發明說明(1〇 ) 殘留溶劑保留。在此具體實例中,典型高沸點溶劑是這些 沸點高於約175°c之溶劑,包括烴類、芳族烴類、酯類、醚 類及類似物。可用於此具體實例之特定溶劑實例包括飽和 烴類,如十二碳烷、十四碳烷、十六碳烷等,不飽和烴類 如十二碳烯、十四碳烯等,二甲苯、菜、庚醇、二戊 烯、d_葶晞、四氫呋喃甲醇、礦油精、2-辛醇、斯陶大 (Stoddard)溶劑、Isopar H™、二乙基草酸酯、二戊基醚、 四氫哌喃-2-甲醇、乳酸丁基酯、異辛基醇、丙二醇、二丙 二醇、單曱基醚、二乙二醇二乙醚、二甲基亞砜、2,5_己二 酮、2-丁氧基乙醇醋酸酯、二乙二醇單甲基醚、丨_辛醇、 乙二醇、Isopar L™、二丙二醇單甲基醚醋酸酯、二乙二醇 單乙基醚、N-甲基吡咯烷酮、乙二醇二丁基醚、”丁内 酉曰、1,3-丁一醇、二乙二醇單甲基醚醋酸自旨、三亞甲基甘 醇、三乙二醇二甲基醚、二乙二醇單乙基醚醋酸酯、萜 品醇、正己基醚、煤油、2-(2-正丁氧基乙氧基)乙醇、二 丁基草酸酯、碳酸伸丙基酯、丙二醇單苯基醚、二乙二 醇、兒茶盼、二乙二醇單丁基醚醋酸醋、乙二醇單苯芙 醚、二乙二醇二丁基醚、二苯基醚、乙二醇單苯曱基醚、 氫醌、sulfolane及三乙二醇。以烴溶劑爲特佳。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 上述製程(即主要塗覆siH樹脂塗層溶液)可在抑制溶劑在 與驗性觸媒及水接觸之前蒸發的環境中完成。例如,旋轉 塗覆可在密閉環境中完成,因此接下來的步驟(即與驗性觸 媒和水接觸)可在溶劑完全蒸發之前發生。 然後含有至少約5體積%溶劑之SiH樹脂塗層與鹼性觸媒 -13 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) 524773 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 -—_ B7______ 五、發明說明(11 ) 及水接觸。鹼性觸媒之實例包括氨、氫氧化銨以及胺。在 此可使用之胺可包括一級胺(RNH2)、二級胺(R2NH)&/或三 級(R3N),其中R係獨立地飽和或不飽和脂族,如甲基、乙 基、丙基、乙烯基、烯丙基、乙炔基等;脂環如環己基甲 基;芳族如苯基;經取代雜原子如氧、氮、硫等或氮原子 屬雜環中之一員的化合物如喳啉、吡咯啶或吡錠。而且, 任何上列胺化合物可被其他烴及/或含有雜原子之基團所取 代以形成如二胺、醯胺等化合物。最後,也預期在所用反 應條件下可被轉化成胺的化合物可以相同方式運作。例 如,化合物如解離時可產生胺的銨鹽將可提供所需的催化 效果。 在此可使用之胺的實例包括甲基胺、乙基胺、丁基胺、 烯丙基胺、環己基胺、苯胺、二甲基胺、二乙基醯胺、二 辛基胺、二丁基胺、曱基乙基胺、糖精、六氫吡啶、三甲 基胺、二乙基胺、吡錠、二乙基t〇luidene乙基曱基丙基 胺、咪唑、膽鹼醋酸酯、三苯基ph〇sphene苯胺、三甲基矽 烷基咪唑、伸乙基二胺、二乙基羥基胺、三伸乙基二胺、 正甲基pyrolidone等。 一般可使用任何足以催化Si-H鍵水解之濃度的鹼性觸 媒。一般而言,鹼性觸媒的濃度可從約i ppm至約1〇〇重量 % ’以樹脂的重量爲基準,視鹼性觸媒而定。 所用的水可爲存在於周遭環境下的水(如〉約25%相對澄 度),周遭環境可以額外的水蒸汽補充之(如相對溼度高達 約100%),可使用液態形式的水或使用在反應條件下可產 -14 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再本頁) . -線· 524773 A7 五、發明說明(12 ) 生水的化合物。
SiH樹脂塗層與鹼性觸媒及水的接觸可藉任何實際戈相要 :方式達成。例如,SiH樹脂塗層可與驗觸媒的蒸汽及:蒸 /飞接觸二或者’ SiH樹脂塗層可與呈液態之驗性觸媒及水接 觸’如藉浸潰該塗層於氫氧化銨溶液中。
SiH樹脂塗層—般被曝露在含有呈蒸汽態之驗性觸媒及 ^較普遍的是氨與水蒸汽的環境中。例如,可將經_樹 月曰堂覆(基材置於一容器中並將適當環境導入其中,或將 驗性觸媒及水流導向SiH樹脂塗層。 用於產生驗性觸媒及水之環境的方法—般在本具體實例 中並不重要。如將鹼性觸媒(如氨氣)泡吹過水或氫氧化銨 落液(以控制所存在的水蒸汽量)、加熱驗性觸媒及水,或 加熱水並導入驗性觸媒氣體(如氣氣)等方法皆可在此發揮 作用。也預期可同時產生驗性觸媒蒸汽的方法,如將水加 入胺鹽中或將水加人梦氨燒如六甲基二碎㈣中也有效。 所用的鹼性觸媒可爲任何想要的濃度。例如,該可 從約1 ppm高達飽和氣壓。 又 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 可暴路在k 1 /皿至同達約3〇〇 c之任何所需溫度中。代表 性的是從約2(TC至約2G(TC範圍内之溫度,以從約2(rc至約 100 C之範圍更具代表性。
SiH樹脂塗層應曝露在鹼性觸媒及水的環境中一段必要時 間以水解Si- Η基形成矽烷醇(Si- 〇H)並使該矽烷醇至少部份 縮合形成Si-〇-Si鍵。一般而t,典型的曝露時間爲高達約 20分鐘,其中以至少約丨秒至高達約5分鐘之曝露時間更具 -15- 524773 五、發明說明(13 ) 代表性。若此塗層被用於作爲介電層,其—般具有較短的 曝露時間,因較長的曝露時間易增加塗層的介電常數。 當塗層曝露在液態的驗性觸媒及水中時,曝露通常係藉 將經'至覆I基材浸潰在溶液中的方式來進行。可使用其他 類似,式,如以鹼性觸媒及水溶液沖洗塗層。而且,ς可 使用眞空滲透以增加鹼性觸媒及水對塗層的滲透度。 在此具體實例中所用的驗性觸媒溶液可爲任何又想要的濃 度。一般而言,使用氫氧化铵時,一般使用介於約28與約 30%〈間的濃水溶液’因爲曝露時間可因此縮短。使 落液時,稀釋劑一般爲水。 在此具體實例中,曝露於鹼性觸媒及水溶液中可在任何 希望的溫度及壓力下進行。從約室溫⑼贼)至高達約驗 性觸媒溶液之滞點的溫度及從低至高於一大氣壓的壓力皆 企圖被使用於此。從實際的立場來看,—般曝露係發生在 約罜溫及在約大氣壓力下。 在此具體實例中’樹脂塗層被曝露在鹼性觸媒溶液中一 段必要的時間以水解Si_H基形成石夕垸醇(si,並使財烷 =少部份縮合形仏㈣鍵。—般而言,典型的曝露時 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再一^本頁) -丨線· ::阿達約2小時,其中以至少W秒至高達約⑽鐘之曝 路時間更具代表性。 /者’該塗層可曝露在液態驗性觸媒及水的環境中(如氯 乳化叙)和氣態驗性觸媒及水蒸汽環境中(氨氣及水致汽)。 此曝露依序或同時進行,而 條件下進行。 而且Μ在與上述這些相同的 -16- 524773 A7 B7 五、發明說明(14 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如树爿曰置於上述環境之—後,然後 除。此可藉任何相4 μ仗塗層中去 」 式完成,包括但不限於加熱塗層 H具全。當溶劑以加熱塗層的方式去除時,可&幫助 剩餘的矽烷醇進行縮合。 "'“助 藉此方法所產生的塗層可用於作爲本發明的起始 :性網狀塗層”)。未經熱力方式硬化之多孔性網狀塗層具 有比已硬化薄膜更低之熱預算或熱歷史的優點。 … 或者’若希望’多孔性網狀塗層可以熱力方式硬化之。 若希望得到已硬化的塗層,層可以熱力方式在溶劑去 除心前、期間或之後藉加熱至足以將該塗層轉化成陶资之 溫度而硬化之。一無品; ,> >tr> . 叙而3 ’眾、恤度係高於室溫,在從約5〇 〇C^^ 1000°C||® ^ C以約200 C至約500 C之範圍t具代表性並以約35〇。〇至 約450。。之範圍爲代表。較高的溫度通常造成較快且更完全 也轉化成陶瓷’但這些溫度可能對各種對溫度敏感的基材 有損害性影響。該塗層通常被置於這些溫度下一段足以陶 瓷化此塗層之時間,_般高達約6小時,以介於約5分鐘與 約6小時(間的範圍爲代表,且以介於約分鐘與約2小時 之間的範圍最具代表性。 加熱可在從眞空至超大氣壓之任何有效的大氣壓力下及 任何有效的氣態環境中,如惰性氣體(A等)進行。一般係 在氮氣氛圍中加熱。 任何加熱方法,如對流烘箱或輻射或微波熱的使用一般 可在此發揮作用。加熱速率並無標準,但最實際及代表性 -17- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 X 297公复 n 1 - (請先閱讀背面之注意事項再^本頁) m. 訂· 線· 524773 A7 五、發明說明(15 ) 是儘可能迅速加熱。 樹脂塗層可同時曝料驗性觸媒及水的環境(液態或氣 中^於足以將其轉化成陶資之溫度下。曝露以及陶資化 所而的時間及溫度一般爲這些上述溫度及時間。 在典型製造經熱力方式硬化之多孔性網狀塗層的製程 中,以含Si_H樹脂及溶劑以確保至少約5體積%溶劑殘留在 塗層中的方式塗覆基材。然後將此塗層曝露在驗性觸媒及 ^中並蒸掉溶劑。將經塗覆的基材^充滿惰性氣體如氮 乳的對流烘箱中。然後將烘箱中的溫度提高至所需溫度(如 、·’勺450 C )並在惰性氛圍中維持一段户斤需時間(如約5分鐘至 約2小時)。 如上述般所形成經熱力方式硬化的薄膜包含從約2 〇至約 6〇%之殘留S-Η鍵密度且其介電常數係介於約〗丨盥約35之 間。當介電常數爲約2.0時,其具有介於約2與約3⑽之間 的彈性模數。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 另一種製造此多孔性網狀塗層之方法係揭示於^的年Η 月13日入檔發給211〇11§標題爲從烷基氫化矽氧烷樹脂製造極 微多孔性聚矽氧樹脂之方法的美國序號〇9/458,739中。該方 法包括含有氫化矽樹脂與含有約8至約28個碳原子之卜烷烯 在含有銘基金屬之氫矽烷化(hydr〇snati〇n)觸媒的存在下接 觸,,成至少約5%矽原子被至少一個氫原子取代之烷基氫 化矽氧烷樹脂並在足以執行硬化及熱分解烷基與矽原子的 μ度下加熱所製得的烷基氫化矽氧烷,因此形成極微多孔 性聚矽氧樹脂。 -18- 524773 A7 B7 五、發明說明(π ) 雖然具有低介電常數之多孔性網狀塗層是想要的,但較 佳係獲得具有較高彈性模樹脂塗層。 爲了提高經熱力方式硬化之多孔性網狀塗層的彈性模 數,其被施予電漿處理。電漿處理可藉無線電頻率(RF)、 謗導偶合、RF電容偶合、螺旋形resinator、微波下游及微波 電子迴旋加速機共振(ECR)電漿完成。 在典型電漿製程中,以快迅溫度上升步調將晶片迅速地 加熱至目標溫度並以電漿處理此晶片。 正確的電漿處理條件係視欲採用的電漿處理形態而定。 供200釐米晶片用之典型微波電漿處理條件的實例係表示於 下0 1000 瓦-2000 瓦 80〇C-350〇C 1.0 torr - 6.0 torr >15秒 H2/N2/CF4/〇2 0-4000 seem 0-400 seem >0-4000 seem -丨線· (請先閱讀背面之注意事項再本頁) 微波電漿功率: 晶片溫度: 製程壓力: 電漿處理時間: 電漿氣體: 02流率: CF4流率: h2/n2氣體混合物流率 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本發明經熱力方式硬化電漿處理過之多孔性網狀塗層具 有較佳化學安定性及較佳尺寸安定性。藉較佳化學安定 性,我們意指該塗層對化學品如清理溶液及化學拋光溶 液,及光阻灰化及乾蝕刻製程過程中之電漿損害的抵抗力 較佳。 或者,未經熱力方式硬化之多孔性網狀塗層可藉在介於 約200至約225°C之間的溫度下加熱少於約5分鐘進行電漿硬 19- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 A7 -----___ B7 五、發明說明(17 ) 化。一般而言,該塗層可藉加熱約2分鐘以電漿硬化之。 仁疋’電衆處理或電漿硬化可在薄膜中產生顯著量的極 性物種。 右希’經熱力方式硬化電聚處理過或經電漿硬化的塗 層可利用任何形式施予熱而退火之以降低介電常數。例 如’可將經熱力方式硬化電漿處理過或經電漿硬化的塗層 置於對泥烘箱中直到極性物種被去除,如在45(TC 30分鐘。 另一種可使用的方法包括在快速熱製程(RTP)室中退火經熱 力方式硬化電漿處理過或經電漿硬化的塗層以降低介電常 數。使此經電漿處理過或經電漿硬化的塗層在一般溫度下 退火足夠時間,然後冷卻至約1 〇〇°C。 典型的RTP製程的操作條件係表示於下。 上升速率: 1 5 0 °C /秒
晶片溫度: 350-450°C 退火時間: <180秒 與經電漿處理過或經電漿硬化之多孔性網狀塗層相比, 已退火經電漿處理過或經電漿硬化之塗層的介電常數降 低。已退火經熱力方式硬化電漿處理過或經電漿硬化之塗 層的介電常數一般是在從約U至約3·5範圍内,較普遍的是 在從約2至約2.5範圍内。 與、纟 ^為力方式硬化之多孔性網狀塗層相比,已退火經熱 力方式硬化電漿處理過之塗層的彈性模數係提高。此在彈 性模數上的增加量一般係大於約5〇%,更普遍的是大於約 100%。此已退火經電漿硬化之塗層的彈性模數可與經電漿 硬化之塗層相提並論。一般而言,已退火經熱力方式硬化 -20 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 頁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 524773 A7 ____ B7 五、發明說明(18) 電漿處理過或經電漿硬化之塗層的彈性模數係大於約 4 GPa,較普遍的是介於約4 GPa與約10 GPa之間。 W以熱力方式利用RTP加熱硬化之已退火經電裝處理過的 塗層提供一項優於這些藉其他加熱方式熱力硬化之塗層的 優點,即RTP熱硬化製程降低硬化溫度並提供較短的硬化時 間。 爲了使本發明更容易被了解,參考下列欲用於説明本發 明,但不限制其範圍的實例。 實例1 藉Collins等人在美國專利標號3,615,272中所揭示的方法 製備兩種氫silsesquioxane樹脂溶液。溶液1包含12·7重量% 樹脂、9.7重量%十四碳烷(ChH%)及77.6重量%甲基丙基酮 (MPK,CH3COC3H7)。溶液2包含21.7重量。/〇樹脂、i 6.6重量% 十四碳烷及61.7重量%甲基異丁基酮(MIBK)。 在可從商業取得之塗佈機上,將溶液1旋轉塗覆在8英付 單晶S i晶片上’其中該塗佈機係由東京電子股份有限公司 (TEL)製造的,具有視情況選用之今電老化槽(DAC)的 Clean Track ACT8™(ACT8)。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 將該溶液旋轉塗覆至晶片上後,將該晶片放入dac中, 使其曝露於溼氨氛圍中室溫下45至50秒。塗覆後,將該晶 片置於被預設在15(TC的加熱板上一分鐘以除去剩餘溶劑。 然後將晶片從塗佈機中移出並將該晶片置於石英管爐(qTF) 中以熱力方式進行處理。硬化過程中,以惰性氣體(N2,具 有超低〇2含量,< 10 ppm)沖洗此爐。硬化溫度範圍爲從4〇〇 -21 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 A7 ""~ ---~___ 五、發明說明(19) 至45(TC,在該溫度下的時間爲齡鐘。由溶…所得到的 塗層厚度平均爲5000埃。 在可從商業取得之DNS 8〇A旋轉塗佈機上,將溶液2旋轉 塗覆在^英叶單晶si晶片上。將該溶液旋轉塗覆在晶片上 後二將孩晶片放入介電老化槽(製於機内),使其曝露於澄 氨氛圍中室溫下90秒。塗覆後,將該晶片置於被預設在15〇 勺力元、板上刀姜里以除去剩餘溶劑。然後將晶片從塗佈 機中移出並將該晶片置於石英管爐(QTF)中以熱力方式進行 處理。硬化過程中,以惰性氣體(N2,具有超低〇2含量, <1〇?1^)沖洗此爐。硬化溫度範圍爲從4〇〇至45〇。(:,在該 溫度下的時間爲60分鐘。由溶液2所得到的塗層厚度平均 10,000埃。 ’、 在各種時間、溫度、微波功率、氣體種類及氣體流率等 條件下以微波電漿處理經熱力方式硬化之塗層,其中該塗 層具有40- 55%Si-H,介電常數爲約2 p (5〇〇〇埃塗層)及約 2·2(10,〇〇〇埃塗層),彈性模數爲約3 〇GPa。 曰' 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 該處理係在Axcelis Fusi0nGemini^w^波下游電漿灰化機 中冗成。孩系統係利用可有效地偶合微波能量與電漿之2 C GHz源,製造高濃度活性基團並減少可能對低介電常數物 質造成傷害之活躍的離子。該系統也使用快速上升輻射 熱,使其可加熱至多個溫度程序步驟之寬廣的製程溫度範 圍。此系統係描述於美國專利編號5,961,85 1。 -22- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 524773 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明 電! 微 晶 製 電 電 0 C F( 此^ 表1 · ? 5000J 說明(2〇 ) 艮處理所用的製程條件係表示於 波電漿功率·· 、卜· 片严产· 1500瓦-1800瓦 程壓力: 80〇C-280〇C 漿處理時間: l.Otom.Oton: 聚氣體: 15秒―120秒 2 流率: h2/n2/cf4/〇2 f4 流率: 〇-2510sccm ^ 0-400 seem J(5%H2/95%n2)流率: 0_3500 sccrn 叫試結果係表示於表1 _ 5中。 令450 C下經熱力方式硬化之具有4〇% Si-H且厚度爲 矣的薄膜 電漿處理 運轉 時間 (秒) 溫度 (°C) 功率 (瓦) 〇2 (seem) cf4 (seem) 壓力 (torr) FG (seem) R.I@ 633毫微米 Si-H (%) 模數 Γ Ο P Cl Λ 1 30 120 1800 0 15 1.2 3485 1.241 〇 1 0 π 2 30 200 1800 0 15 1.2 3485 1.235 0 I Z . U 12 6 3 30 280 1800 0 15 1.2 3485 1.232 0 1 ^ . o 1 3 o 4 30 120 1800 0 150 1.2 3350 1.250 0 1 λ 1 5 30 200 1800 0 150 1.2 3350 1.241 0 1 0 Q 6 30 280 1800 0 150 1.2 3350 1.237 0 15 1 7 30 120 1800 200 150 1.2 3150 1.222 0 13.8 8 30 200 1800 200 150 1.2 3 150 1.222 0 A 9 30 280 1800 200 150 1.2 3150 1.224 0 i J .H 10.6 10 30 120 1800 200 15 1.2 3285 1.227 0 11.0 11 30 200 1800 200 15 1.2 3285 1.230 0 ,10.8 10.1 12 30 280 1800 200 15 1.2 3285 1.229 0 R.I.是折射率 -23- 頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 χ 297公爱) 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 再 524773 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 A7 B7 - ---—____ 五、發明說明(21 ) 表2·於450°C下經熱力方式硬化之具有55% Si-H且厚度爲 5000埃的薄膜 電漿處理 運轉 時間 (秒) 溫度 (°C) 功率 (瓦) 〇2 (seem) cf4 (seem) 壓力 (torr) FG (seem) R.I@ 633毫微米 Si-H (%) 模數 1 30 120 1800 0 150 1.2 3350 1.265 \ /u / 〇 V u r d; 13 0 2 30 120 1800 0 150 1.2 3350 1.266 〇 14.7 3 30 120 1800 0 150 1.2 3350 1.268 〇 13.8 4 30 80 1800 0 150 1.2 3350 1.267 0 14.5 5 30 160 1800 0 150 1.2 33 50 1.272 0 15.5 6 15 120 1800 0 150 1.2 3350 1.262 0 13.6 7 30 270 1800 0 150 1.2 3350 1.276 0 15.4 R · I.是折射率 表3·於450 °C下經熱力方式硬化之具有55 % Si-Η且厚度J 5000埃的薄膜 電漿處理 運轉 時間 (秒) 溫度 (°C) 功率 (瓦) 〇2 (seem) cf4 (seem) 壓力 (torr) FG (seem) R.I@ 633毫微米 Si-H (%) 模數 (GPa) 1 30 120 1500 0 150 2.1 3350 1.264 0 15.9 2 30 120 1500 0 150 2.1 3350 1.267 0 14.1 R.I·是折射率 表4·於45 0°C下經熱力方式硬化之具有40% Si-Η且厚度| 10,000埃的薄膜 電漿處理 運轉 時間 (秒) 溫度 (°C) 功率 (瓦) 〇2 (seem) cf4 (seem) 壓力 (torr) FG (seem) R.I@ 633毫微米 Si-H (%) 模數 (GPa) 1 60 270 1800 0 0 1.0 2000 1.264 12 6.3 5 20 200 1800 2510 5 1.5 240 1.267 0 6.6 R.I·是折射率 -24- 本 頁 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 524773 A7
五、發明說明(22 ) 表5·於400°c下經熱力方式硬化之具有4〇% si_Ha厚度爲 10,〇〇〇埃的薄膜
(請先閱讀背面之注意事項再本頁) Κ·Ι·是折射率 表1 5中所示之測试結果證明經微波電漿處理過之塗層可 完全轉化成多孔性氧化矽或si_H鍵數與初si_H鍵數相比明 顯下降。該塗層的彈性模數在變化寬廣的製程條件下獲得 極大改善(超過100%)。 實例2 在可從商業取得之塗佈機上,將溶液丨(實例丨中所描述) 旋轉塗覆在8英吋單晶Si晶片上,其中該塗佈機係由東京電 子股份有限公司(TEL)製造的,具有視情況選用之介電老化 槽(DAC)的 Clean Track CT8TM (ACT8) 〇 將該溶液旋轉塗覆至晶片上後,將該晶片放入dac中, 使其曝露於溼氨氛圍中室溫下約45至5〇秒。塗覆後,將該 晶片置於被預設在15(TC的加熱板上一分鐘以除去剩餘溶 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 劑。 在各種時間、溫度、微波功率、氣體種類及氣體流率等 條件下以微波電漿硬化這些未經熱力方式硬化之塗層。使 用上述Axcelis FusionGeminfES微波下游電漿灰化機以電漿 硬化這些未經熱力方式硬化之塗層。電漿硬化的製程條件 -25 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 五、發明說明(23 ) 係與這些經熱力方式硬化電漿處理過之塗層所用的相同 測試結果係表示於表6中。 表6經熱力硬化) 爿条 TWT ]
R · I ·疋折射率 請 先 閱 讀 背 面 之 注 意 事 項 再 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 這些塗層係烷全轉化成多孔性氧化秒, ,。他們在電聚硬化後具有比經熱力方二== rj的彈性模數。但是,單獨電漿硬化之熱預算(無熱硬化) ,低於具有熱力硬化製程者。因此,電漿硬化塗層而不以 扁力方式硬化之可提供比經熱力方式硬化電漿處理過之塗 層更好的彈性模數及極低的熱預算。 實例3 由實例1取得具有40_55% Si-H及模數爲3.〇 GPa之經熱力 万式硬化的塗層和取自實例2之未經熱力方式硬化的塗層在 下列所示各種條件下進行微波電漿處理後以RTP退火之。 預沖洗時間: > 3 0秒 上升速率 晶片溫度 退火時間 結果係表示於表7-丨i中 15 0〇C/秒 350-450。。 <180 秒 頁 -26 - _尺度適格⑽χϋ 524773
524773 A7 B7 五、發明說明(25 ) R.I.^AV.i ♦DK^今鰣 Νϋέφ^>Μ4ί :^^益»^薄金2:, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 一 s f〇 o r〇 〇 1500 1 1500 1 o o to 3350 3350 | o o 1.267 ! 1.264 | 4.28 | P 13.2 18.2 350/2 350/2 1.235 ! 1 1.238 | 2.35 J 2.35 1 】1.1 11.0 K ΌΟ >—k. H-k 〇 〇 UJ μ 一 運轉 g o LO UJk g V^) 時問 (秒) g g 〇 t〇 o g g 〇0 〇 g g g § 〇\ o § g 丨溫度 1 CC) 1500 ! 1500 | 1800 1 1800 | 1S0Q 1 | 1500 I | L200 I | 1200 1 | 1500 1 | 1500 1 | 1200 1 | 1200 I [1500 | 1 12C0 1 1 1500 1 1 15G0 1 1 1500 1 ί !. . 丨功率 |丨!⑷· L_ 〇 o 〇 o 〇 〇 o o o o o o o o Ο ο 〇2 (sccro) 〇 w—* s ! 200 I U1 o g 〇 o o ►—A 一 o g σ 1 200 1 δ D; Ο Ο cf4 (seem) to ls> LO l·3 VO UJ bJ ►—i M ro •to K> — i: ι~α I—< 蜃力 (ton) 1 j \ [3350 1 3350 | 1 3350 1 | 3350 | i 3350 ! t 3350 3 | 3350 1 | 3350 1 I 3350 1 | 3350 | | 3350 | | 3350 | [3350 1 | 3350 1 1 3350 1 1 3350 1 1 3350 1 「FG (seem) ο o o o o o 〇 o 〇 〇 ◦ 〇 o C? ο Ο Ο Si-H (%) 1 1.26 ).254 『 1.262〕 1.24J | 1.265 1 丨 1.285 | | 1.284 1 1 1.272 1 L266 ’ | 1.263 | S3 Ch | 059 1 | 1267 1 | 1268 1 1 1.271 j 1 1.267 1 K) Os 4tw R.I@ 633 毫微米 3.59 3.23 | 3.28 1 > | 4.17 1 | 3.89 | | Z9R | 1 -^--1 1 3,77--1 1」見_1 1 6.04 1 DK@ IMhz § ND ! § § § § 1——」 § § § | ND丨 § 1-13.2 J § § Lnd」 L.1S.2— 1 棋數; (GPa) 1 1 450/2 450/2 1 1 450/2 1 450/2 | 450/2 1 ί概2 1 | 450/2 | | 450/2 1 | 450/2 I | 450/2 1 | 450/2 | | 450/2 1 i 450/2 | 1 450/2 1 1 450/2 1 1 450/2 1 | 450/2 | | ... 溫度ccy 時間(分钹)/ N2 1 1.271 j 1.266 to a\ ,1.238 | 1.227 1 1 1.223 1 | 1.233 | | 1.200 | | 1.247 | | 1.202 | | 1.210 1 | 1.238 | | 1.205 1 :1.232 1 1.233 1 δ ! R-I® /633 ,i μ毫微未 1 2.34 i 2.34 1 2.34 「2.38 1—237— 1 I」」?」 In 1 L_^37j | 2.39 ί 1 ^311 | 2.35 1 1」_.34」 | 2.35 | 1 2.39 | 1 2.38 1 1 2.22 1 L235J 1 DK@ 1MHz I_ [13.5 13.0 1 13.2 13.5 ί 13.4 丨 丨似.1 M4·6」 1】3.[_」 [12^ 丨 ί 13.8」 L_ 12.7 J M3._6」 1 nl 丨U.9」 17.6 | 模數 (GPa) ! 沐?°柄 450oTM^b和斜 55% Si-H JL^i^鉍 5000 邾 S 鹌舞 ΓΊΙΓ~~,·~^ _ 「RT? 請 先 閱, 讀 背 © 之 注 意 事 項 再
I -28- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773A7________ B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(26 H.I.^-^^-^DIC^今鰣
U> i L 5轉 g S SI hO 270 ’溫度 re) 1800 I 1800 功率 (瓦) o o 〇z (seem) A o o CF, (seem) o 蜃力 (tori) | 2000 2000 | FG I (seem)' o 5 Si-H 1 (%) [1.224 丨 1.256 R.I© 633 毫微米 1 3.74 5.27 j DK@ lMhz § ON 棋數 (GPa) | 450/2 i 450/2 |溫度(*cy 時問(分妗y 1 N2 1 2.27 3.92 DK@ lMI-Iz Lh § ]棋數 (GPa) RTP
R.I.^^:^令 ^种鈦^^#:室兩>1Q,私 4001QT 障渰乂蚧1^涔1^-^ 和旖 40% Si-H iul.^> 10000 蔣 S 撫蘇 Π~ 舜痒钚為 I
U) 一 龙- g g S f t〇 Μ Ο •溫度 CC) ;1500 ΙδΟΟ .功率 、(瓦) ο ο *〇 〇2 (seem) ►-a ο CP CF「] (seem) 1 ι—Λ •ο Η-* 壓力 (torr) 2000 ! 1 2000 1 FG (seem) ο ο Si-II I (%) 1 , 1247 1 Ί264 RJ@ 1 633 毫微米 丨 3.41 1 Li^U DK@ \Mhz § lyy '1 (GPa) 1 450/2 1 450/2 溫度〇cy .時《(分嫂yi ,N2 1 2.30 1 2.75 1 DK® 1 1MHz σ> OQ ND 模數 (GPa) RTP >9.私 450οτίιί^Λ ^>w^ib紗和斜 40% Si-H>^^> 10000 蔣S骒豨 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -lu°J. ;線· 29 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 A7 B7 五、發明說明(27 RH^#4f^ DK^今鰣^>婵sepsis 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 U) K-4 in 1 to 〇 5 § 溫度 CC) 1 1800 1800 1800 丨功率 ;:(瓦) 〇 o o 〇3 (seem) ! § o o H-* N> t〇 壓力 (torr) 3350 3350 1 3350 1 FG (seem) ! Ο o o Si-H (%) 1286 1 1^89 I 1.288 KI@ 633 毫微米 ;3.48 | 7.65 丨4·—65」 DK @ IMhz i 163 1 16.1 i 14.7 棋數1 (GPa) ! 1 450/2 450/2 450/2 溫度fey 時問(分鐘)/ m 1 1,237 1.219 | 1.213 RI@ "633 毫微米 1 2.S8 2.82 2.68 I DK@ 1MHz 1 ND | l§ 棋敦 〔GPa) 1 L_ 1- 1 R-d. 诹1L和斜55% Si-H il^^鉍5000蔣S與蔣(涂渰涔成CV) * I i _______
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ^4773 A7
氧::、: 經電漿處理過的塗層係完全轉化成多孔性 :化碎或氧切類似物質。藉此電聚處理可改善彈性模 t Ή iji數會提商。接下來的RTP退火可降低介電常 同時4持與原塗層之初模數相比,獲明顯改善之彈性 雖'4在-些實例中’此彈性模數多少由經電漿處理 :〈塗層的彈性模數下滑,但其保持明顯高於初彈性模 數,仍顯7F出高於1〇〇%之改善度。 實例4 . 微波電漿功率 晶片溫度: 製程壓力: 電漿處理時間 電漿氣體: 在下列條件下以電漿處理具有40_55% si_H且模數爲約 3.0 GPa之經熱力方式硬化的塗層。 400瓦 室溫 1.2torr 120秒 空氣 此測試係在Branson/IPC電漿系統^!^ S4000系列型)中完 成。該系統係利用無線電頻率(RF)源以可有效地將叩能量 偶合入電漿之13.65 MHz產生高濃度活性基團。 此測試結果係表示於表12中。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 電漿處理 運轉 時間 (秒) 溫度 (°C) 功率 (瓦) 空氣 (單位) cf4 (seem) 壓力 (torr) FG (seem) Si-H (%) R.I@ 633毫微米 模數 f G Pal 1 120 室溫 400 50 0 1.2 0 0 1.236 V vj r ay 7.4 R.I.是折射率 表12·藉由Branson/IPC以無線電頻率(rF)電漿處理在45〇。〇 下經^力方式硬化之具有55% Si-H且厚度爲5000埃的薄膜 -31 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 A7 B7 五、發明說明(29 ) 實例5 在旋轉塗覆之前,使藉由發給Zhong之美國序號 09/458739之方法所製得含有16.3重量%樹脂及83.7重量%異 丁基異 丁酸酯且樹脂組成爲{ HSi03/2} 33.5{ RSi03/2} 21.5{ Si〇4/2} 45 之烷基氫化矽氧烷樹脂溶液連續經2.0微米過濾器過濾40分 鐘,其中R係等於正十八碳基。薄膜係被旋轉塗覆在8英吋 單晶Si晶片上。旋轉塗覆係在Karl Suss RC8旋轉塗佈機上 完成。旋轉後,將經塗覆之晶片置於太英管爐中以進行熱 硬化。在上升溫度之前,先以氮氣沖洗該爐以達到氧含量 低於10 ppm。將該爐溫度以25°C /分鐘的速度提高至45〇。〇 並固疋在4 5 0 C小時。將樣品移出該爐之前,使其在氮氣流 下冷卻至低於l〇〇°C。電漿處理前的塗層具有約1.9之介電常 數及約1.8 GPa之彈性模數。 電漿處理係在上述Axcelis FusionGemini®ES微波下游電裝 灰化機中完成。電漿處理所應用的製程條件係表示於下· 1800 瓦
120°C - 280°C 2.1 torr 30秒 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 微波電漿功率 晶片溫度: 製程壓力: 電漿處理時間: 電漿氣體: .〇2流率: / cf4流率: FG (5%H2/95%N2)流率: 此測試結果係表示於表13中 h2/n2/cf4/o2 0 seem 150 seem 33 50 seem -32- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) 524773 五、發明說明(3〇 ) 表13^1110°C下經熱1方式硬化之厚度爲7000埃的薄膜 電漿處理
R.i·是折射率 此結果顯示經微波電經處理過之塗層係燒全轉化成多孔 性氧化矽。該塗層的彈性模數在變化寬廣的製程條件下明 顯獲得改善。 實例6 在各種條件下進行微波電漿處理後以RTP退火由實例5所 獲得經熱力方式硬化之塗層。以氮(超低〇2)清洗樣品3〇秒 並將溫度提高至所需溫度。 RTP所應用的製程條件係在下列範圍内: 預沖洗時間: >30秒 上升速率: 150°C/秒 晶片溫度: 350 - 450°C 退火時間: <180秒 結果係表示於表14中。 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 再
填赢, 頁I 訂 線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -33- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 A7 _B7 五、發明說明(31 ) R_I·^^:^^ DK^今鰣_婵 ND棘鈦>翌菇 Μ >—* 一運轉 ί 1 5 t 電漿處理 280 200 | 溫度 CC) 丨 1U0G | 0 | mo i 功率 (瓦) 〇 〇 ο 〇2 (seem) _1 1~1 1~1 1~1 cf4 (seem) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
Μ r° 壓力1 i (torr) 3350 1 3350 1 3350 ;FG (seem) ο o o Si-H (%) 1.187 1.159 1.339 IU@ 633 毫微米 | 6.25 I 2.87 DK@ IMhz Lr\ 棋敦 (GPa〕 450/2 | 450/2 | 450/2 s 度 ccy 時問(分娩y Ή2 2.34 2.07 2.04 ! DK@ 1MHz § § ND 棋敦 (GPa) 方TT 34 >14.私 450dM腾渰 Λ^Α涔^&和斜 40% Si-H JL^i^^ 5000」抑S取蒎 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線k1 -i^i If an an —Η- —ϋ ·ϋ _ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(32 實例7 從氫silse/quioxane樹脂藉旋轉塗覆在矽晶片上並而nh3處 理之接著在15〇 C的加熱板上進行丨分鐘熱處理以製得多 孔、·周狀塗層。私漿轉化係在Axcelis Fusi〇nGemini®ES電漿 灰化機中完成。電浆轉化後,可獲得具有低介電常數及高 模數的多孔性氧化矽薄膜。該結果係表示於表15中。 。壓力方面的電漿條件是2_4torr。溫度係被控制在195_23〇 C t間。形成氣體爲π#。電漿功率及氣體流率的數 據係列於表1 5中。 結果指示電漿硬化後,介電常數係在2〇至2·8範圍。在 210 C下的%漿條件總是產生低介電常數,低於2·4之薄膜。 在195、225及230°C下加工過的薄膜顯示介電常數高於厶*。 經電漿硬化之薄膜的模數係從6至9 Gpa。電漿硬化製程拿 掉近10%薄膜厚度。但是,經電漿硬化之薄膜的均勻度一 般係在2%内。FTIRs譜提出Si-H键在孓3 t〇rr的壓力下所進 行電漿硬化過程中被完全從薄膜中除去,暗示多孔性氧化 矽薄膜係由電漿硬化製程製得。一般而言,介電常數爲 2.0-2.3的薄膜包含低於1% si〇H。
524773 A7 __ B7 五、發明說明(33) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 C: u> KJ 二 - VO 〇〇 -0 CTn 4λ UJ - 3* 〇 o § § i w S i § § i :§s 〇 N t-Λ U> O to t〇 o LP 〇 to Ln l〇 o Lh 4x 〇 -Ck 〇 l/l u« b y> o N> b 〇 N) 〇 Ln VO Ln l〇 Is) Ui u 卜o hO 〇 K> 5 N) 〇 l〇 o c〇 o N> 3‘SI 1 当 S g s g 8 s 莕 容 S §—i. »〇 i-h b JO Lh M t>3 o r° Ln nj b K) b 〇 •o b KJ o a ^ κ> Ο to o NO Co Vi K g to UJ o to o NJ 〇 JO o to o ro o ΝΪ 〇 3 ^ 碎: § g o s o g σ g CC o 〇〇 〇 M g 00 o oo 〇 〇 oo o o OQ 〇 oo g j: 5 g Ο g o N? g 〇 g o 〇 o s> o o i g 〇 IO g o o K> g g o o II 8 o o O 〇 o O o g g o o σ § o P NJ S i° K) d to t ts> to bo oo to g N) to N> os to {〇 ΙΟ hi S> U1 1° o C\ Ch σ\ \a o Λ〇ο S 5; po <N Lr* Os 5 〇〇 io d Θ» to r, O t〇 cr> k> \ to 匚 S i〇 Q〇 k> i〇 s DO v〇 〇\ t〇 s L^j Ov UJ OW UJ N Os έ g t 1 N) UJ a\ r〇 JU S w CA CN UJ 3 -Cx «•Λ έ S $ 1 ¾¾:烊s'渰 ^ 0.^s$ -36- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I 填寫士
訂 ·---線U 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773
五、發明說明(34 ) 實例8 乂氫silsesquioxane樹脂藉旋轉塗覆在矽晶片上並以nh3處 理 <,接著在1 50°C的加熱板上進行丨分鐘熱處理而製得多 孔性網狀塗層。NH3老化時間是TEL旋轉工具及DNS旋轉工 具中所列標準處方的1/2至2/3。電漿轉化係在Axcens FusionGemini@ES電漿灰化機中完成。電漿轉化後,可獲得 具有低介電常數及向模數的多孔性氧化矽薄膜。該結果係 表示於表16中。 壓力方面的電漿條件是2-4 torr。溫度係被控制在21〇。〇。形成氣體爲N/H/CF4。電漿功率及氣體流率的數據係列於 表16中。 電漿硬化也可將初薄膜轉化成多孔性氧化矽薄膜,即使 初薄膜曰在座NH3下老化一段短時間。以低於標準老化時間 進行電漿硬化之薄膜顯示介電常數低於2·3。模數値係從5·7 至9 GPa。再次,從FTIR光譜可知Si-H鍵在電漿硬化過程中 被除去,因此獲得多孔性氧化矽薄膜。這些薄膜的si〇H量 一般小於1%。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -用 |適 度 尺 張 紙 本 37 ¥ 29 X 10 2 /1\ 格 規 A4 \1/ S N (C 準 標 家 國 國
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B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
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524773 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___B7_____ 五、發明說明(36 ) 實例9 從氫silsesquioxane樹脂藉旋轉塗覆在矽晶片上並以過量 NH3處理之,接著在1 50°C的加熱板上進行1分鐘熱處理而製 得多孔性網狀塗層。NH3老化時間是TEL旋轉工具及DNS旋 轉工具中所列標準般長的2倍。電漿轉化係在Axcelis FusionGeminfES電漿灰化機中完成。該結果係表示於表 17A及 17B 中。 壓力方面的電漿條件是2.5-3 torr。溫度係被控制在210 °C。形成氣體爲N^I^/CF4。電漿功率及氣體流率的數據係 列於表17A及17B中。 在長時間NH3老化之後,經電漿硬化過之多孔性薄膜的介 電常數爲2·5或更高’而且模數係近7- 8 GPa。由FTIR光譜所 算得之SiOH含量一般爲約1.5-2 5%。SiH键完全被去除。 在貫例7- 9中’冒以熱力方式利用RTp加熱退火之已退火 經電漿硬化塗層的紅外線光譜事實上與這些藉其他加熱方 法I熱力方式退火的塗層相同。光譜上的特徵指示此經電 漿硬化之薄膜本質上爲氧化矽。經RTp退火之塗層的折射率 (RI) ( 1.20至1.22)係由藉其他加熱方法進行熱退火之塗層的 RI値所構成的。曾以熱力方式藉RTp退火之經電漿硬化塗層 的彈性模數可爲初彈性模數的二或三倍高(如7_ 8 〇1^般 高)。這些塗層的介電常數範圍係從21至2 3。 i^i 1^ mMMmm ^^1 ·ϋ ϋ·1 n·· 1 n «1 ϋ Iυ·-·Λ.Γ>ν I m i^i —Bi I in 1·-"·*I I ie I— i··— n in i I I— _ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -39-
524773 A7 _-______ B7 五、發明說明(37 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 w 5® § g 3專 ^ 3 . N) Ια L>J ( o' ^ * i ^ ' Ν> 〇 NO 〇 3普 §5 ---i j〇 Ui W •丨; x-s ^ 1 IS ; to ο o 3客 § ο g o 戈 5 8 ο to 8 o P 8 0 J〇 Lft UJ N> Ln 私 oc pa 3丨 VO Ό 〇 έ § pr pd 31 s涞 聲命 Ln X 扒 σ 時⑺ m H ^ )b S "^S ;~ίδ ! ro .室 -40- to - S« ip § § S3 ^ Ls ——( i ^ s κ> 匕 Ο π抑 Q ^ ο ο §5 , a ^ W ο Μ Ο r«i n 0〇 ο οα Ο .i S ΙΟ § ο Μ 1 嘗X ο ο if to Ln g o 〇〇 ΪΌ 00 ο a钵 ίο -U S t 'sC § >17A.^^jyfs2x 私 DisB 和 ts^^B 令冱(衅宣 9) 溫時痒才资 丨减薄^!^漆丰 --------訂---------線d(請先閱讀背面之注意事項再^^本頁)
Ik:填寫太 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 524773
五、發明說明(38 ) 精上述万法,含有Si〇2之薄(小於5微米)塗層被形成於基 材上。孩塗層具有較佳彈性模數。而且,藉由退火步驟, 該塗層可具有較佳彈性模數及低介電常數。—' 一及塗層可使各種基材之不規則表面變平滑並具有極佳黏 著力而且4塗層可被其他塗層如其他仙2塗層、$ 改良陶純化物層、切塗層、含碳塗層及/或類 塗層所覆蓋。 ' 這些塗層具有低介電常數並可用於電子元件中作爲,例 如多層元件中的介電層。 當特定代表性具體實例及細節已表示出説明本發明之目 的,這些熟諳此技者將了解可進行各種在此所揭示之組合 物及方法上的改又,而揲超出隨附申請專利範定 之本發明範圍。 丁 ^疋我 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -41 -

Claims (1)

  1. 524773 第〇901〇6483號專利申請案 中文申請專利範圍修正本(91年1〇月) A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 公告本 一種製造具有較佳性質之經電漿處理過之塗層的方法 包括: 、提供一種由含有至少2個Si_H基之樹脂所製得經熱力 方式硬化之多孔性網狀塗層,其中該多孔性網狀塗層具 有初介電常數及初彈性模數;及 電漿處理該多孔性網狀塗層以降低Si_H鍵數並提供具 有第二介電常數及第二彈性模數之經電漿處理過的塗 層,其中該第二介電常數係大於初介電常數且第二彈性 模數係大於初彈性模數。 2·根據申請專利範圍第丨項之方法,另外包括退火該經電 漿處理過塗層以提供一種具有第三介電常數及第三彈性 模數之已退火、經電漿處理過的塗層,其中該第三介電 常數係小於第二介電常數’但第三彈性模數係大於初彈 性模數。 3·根據申请專利範圍第2項之方法,其中該經電漿處理過 之塗層係在低於475°C的溫度下退火。 4·根據申凊專利範圍第2項之方法,其中該經電漿處理過 之塗層係在範圍從350°C至450°C的溫度下退火。 5·根據申請專利範圍第2項之方法,其中退火該經電漿處 理過之塗層不超過180秒。 6·根據申請專利範圍第1項之方法,其中該經電漿處理過 之塗層的第二彈性模數係大於初彈性模數至少5〇0/〇。 7·根據申請專利範圍第1項之方法,其中該經電聚處理過 之塗層的第二彈性模數係大於初彈性模數至少1〇〇%。 A8 B8 C8 D8
    524773 六、申請專利範圍 8·根據申請專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 漿處理過之塗層的第三彈性模數係大於初彈性模數至少 5 0%。 9·根據申請專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 漿處理過之塗層的第三彈性模數係大於初彈性模數至少 100% 〇 10·根據申請專利範圍第i項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層係藉加熱至足以將該多孔性網狀塗層 轉化成陶瓷之溫度以硬化之。 11·根據申请專利範圍第10項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層係藉加熱至5(TC至1〇〇(rc之溫度高達 6小時以硬化之。 12·根據申請專利範圍第丨丨項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層係藉加熱至範圍從5(^c至5〇〇°c之溫 度10分鐘至2小時以硬化之。 U·根據申請專利範圍第丨丨項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層係藉加熱至範圍從350°c至450°c之溫 度1 〇分鐘至1小時以硬化之。 14·根據申請專利範圍第1項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層係經電漿處理一段範圍從丨5至12〇秒 之時間。 5·根據申凊專利紅圍第1項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層在低於350 °C的溫度下以電漿處理 過。 -2 - 本紙張尺度通用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公爱)
    裝 訂 524773 A8 B8 C8 申請專利範圍 16.根據申請專利範圍第1項之方法,其中經熱力方式硬化 之多孔性網狀塗層在範圍從8(rc至28(rc的溫度下以電 漿處理過。 17·根據申請專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 衆處理過之塗層的第三介電常數係在從1 ·丨至3 ·5範圍 内。 18·根據申請專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 蒙處理過之塗層的第三介電常數係在從2 〇至2·5範圍 内0 19·根據申請專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 漿處理過之塗層的第三彈性模數係大於4 GPa。 20·根據申請專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 滎處理過之塗層的第三彈性模數係大於丨〇 Gpa。 21·根據申凊專利範圍第2項之方法,其中該已退火、經電 漿處理過之塗層的第三彈性模數係介於4 GPa及10 GPa 之間。 22· —種製造具有較佳性質之經電漿硬化之塗層的方法,包 括: 提供一種由含有至少2個Si-Η基之樹脂所製得之多孔 性網狀塗層; 及 電漿硬化該多孔性網狀塗層以降低Si_ Η鍵數並產具有 第一介電常數及第一彈性模數之含有Si〇2經電漿硬化的 塗層。 -3 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐) 524773 A8 B8 C8 D8 申請專利範圍 23·根據申請專利範圍第22項之方法,另外包括退火該經電 衆硬化之塗層以提供一種具有第二介電常數及第二彈性 模數之已退火、經電漿硬化的塗層,其中該第二介電常 數係小於第一介電常數,但第二彈性模數係可與第一彈 性模數相提並論。 24·根據申請專利範圍第23項之方法,其中該經電漿硬化之 塗層係在低於475°C的溫度下退火。 25·根據申請專利範圍第23項之方法,其中該經電漿硬化之 塗層係在範圍從350°C至450Ό的溫度下退火。 26·根據申請專利範圍第23項之方法,其中退火該經電漿硬 化之塗層不超過18〇秒。 27·根據申請專利範圍第22項之方法,其中該多孔性網狀塗 層係經電漿硬化一段範圍從15至120秒之時間。 28·根據申請專利範圍第22項之方法,其中該多孔性網狀塗 層在低於350°C的溫度下以電漿硬化之。 29.根據申請專利範圍第22項之方法,其中該多孔性網狀塗 層在範圍從80°C至280°C的溫度下以電漿硬化之。 3〇·根據申請專利範圍第22項之方法,其中該多孔性網狀塗 層在範圍從195°C至230°C的溫度下以電漿硬化之。 31·根據申請專利範圍第23項之方法,其中該已退火、經電 聚硬化之塗層的第二介電常數係在從1 ·丨至3 ·5範圍内。 32·根據申請專利範圍第23項之方法,其中該已退火、經電 漿硬化之塗層的第二介電常數係在從2至2 · 5範圍内。 33.根據申請專利範圍第23項之方法,其中該已退火、經電 -4- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210X297公复)
    裝 訂 77 247 5
    是硬化之塗層的第二彈性模數係大於4 Gpa。 根據申请專利範圍第23項之方法,其中該已退火、經電 水硬化之塗層的第二彈性模數係大於丨〇 GPa。 •根據申凊專利範圍第23項之方法,其中該已退火、經電 歲硬化之塗層的第二彈性模數係介於4 Gpa&10 GPa之 間。 36 •種具有2·〇至3.5之介電常數及大於4 GPa之彈性模數的 多孔性塗層。 37·根據申请專利範圍第36項之多孔性塗層,其中該彈性模 數係大於1〇 〇pa。 38·種藉根據申請專利範圍第1項之方法所製得經電漿處 理過之塗層。 39. 一種藉根據申請專利範圍第2項之方法所製得已退火、 經電漿處理過之塗層。 40· 一種藉根據申請專利範圍第22項之方法所製得經電漿硬 化之塗層。 礼一種藉根據申請專利範圍第23項之方法所製得已退火、 經電裝硬化之塗層。 42. —種含有藉根據申請專利範圍第}項之方法所製得經電 漿處理過之塗層的電子元件。 ^ 43·種σ有藉根據申請專利範圍第22項之方法所製得經電 漿硬化之塗層的電子元件。 44. -種具有藉根射請專利㈣㈣之方法所製 漿處理過之塗層的基材。 I 本紙張尺度適财S a家標準(CNS)A4規格__(21GX297公董)-------- 524773 ABCD 六、申請專利範圍 45. —種具有藉根據申請專利範圍第22項之方法所製得經電 漿硬化之塗層的基材。 46. —種多孔性含Si02經電漿處理過之塗層,其具有1.1至3.5 之介電常數及4 GPa至10 GPa之彈性模數。 47. —種多孔性含Si02經電漿處理過之塗層,其具有2.0至2.9 之介電常數及5.7 GPa至9.1 GPa之彈性模數。 48. —種多孔性含Si02經電漿硬化之塗層,其具有1.1至3.5之 介電常數及4 GPa至10 GPa之彈性模數。 49. 一種多孔性含Si02經電漿硬化之塗層,其具有2.0至2.9之 介電常數及5.7 GPa至9.1 GPa之彈性模數。 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
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