TW490728B - Multi-zone resistive heater - Google Patents

Multi-zone resistive heater Download PDF

Info

Publication number
TW490728B
TW490728B TW089109674A TW89109674A TW490728B TW 490728 B TW490728 B TW 490728B TW 089109674 A TW089109674 A TW 089109674A TW 89109674 A TW89109674 A TW 89109674A TW 490728 B TW490728 B TW 490728B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
heating element
platform
patent application
scope
temperature
Prior art date
Application number
TW089109674A
Other languages
English (en)
Inventor
Ai-Hua Chen
Henry Ho
Michael X Yang
Bruce W Peuse
Karl Littau
Original Assignee
Applied Materials Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=23221699&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=TW490728(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Applied Materials Inc filed Critical Applied Materials Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW490728B publication Critical patent/TW490728B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67103Apparatus for thermal treatment mainly by conduction

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Control Of Resistance Heating (AREA)
  • Resistance Heating (AREA)

Description

490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(1 ) 發明領域 本發明係關於-種料製程腔室中之加熱機構,特 遠加熱機構係用於化學蒸鏡腔室中。 μ 習知技術說明 化學蒸鍍(CVD)係為-種廣泛應用的製程,係用於沉 種型式的薄膜於基材,並廣為應用於半導體積體電路的製 造’如:半導體晶ΒΙ製造積體電路之製程。於典型的⑽ 製程之中,晶圓係置於沉積或反應爐中,而反應氣體係被 導入該腔室之中,並在-加熱表面上分解、反應以形成薄 膜於該晶圓的表面。 一般而言,現今所使用的包括單晶圓以及多晶圓之CM 反應爐,多晶圓反應爐一般類似於直立熔爐可固持25片的 晶圓或更多。在低壓之CVD(LPCVD),如〇·25至2 〇托,為 分解氮化矽(Si3N4)或多晶矽,一般多晶圓腔室之分解時間 多達數小時。如氮化矽,係形成於7〇〇至8〇〇t:之間,分解 的時間約為4至5小時,取決於在多晶圓腔室中膜厚。 CVD反應爐心第二種典型係為單晶圓腔室,其中晶圓係 被支撐在腔室中的平台或支撐器之上。在反應過程中該支 撐器可以轉動,在LPCVD氮化矽的分解時,其在溫度7〇〇至 800°C合適膜厚約可在二分鐘内形成。 通常,CVD系統包含二種型式的加熱方式:電阻加熱法 以及輻射加熱法。電阻加熱法係利用電阻加熱元件置於晶 圓處加熱,而輻射加熱法則係利用輻射加熱元件如一個或 -4 - 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) ------------------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------
490728 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(2 ) 數個加熱燈管置於該反應腔之外部。電阻加熱法應用於單 -晶圓腔室中通常係無法將電阻加熱元件直接置於腔室中 支撐晶圓之平台或支撐器之上。 、 牙叩<上因疋,在反應分解時會集 中於晶圓之一特定部份。 在單晶圓電阻加熱法中,係利用支撐晶圓的平台或支撐 器中加熱元件,該加熱元件係一般為薄型導體材料,諸如 ,(M〇)薄形迴路覆層(約2公厘厚)形成於該支撐器本體的 單一平面。此種设汁係為“單一區域電, 域,,係敛述在支撐器或平台本體單_平面之加熱元件所U 位置。該CVD反應中該電阻加熱器通常之溫度係接近55〇 C。在較咼溫度時,溫度的一致性則變得有問題,其中的原 因之一係在電阻加熱元件的熱損耗在高溫時增加,特別係 在於遠平台或支接器之邊緣。單一區域電阻加熱器一般不 具有補償通過該平台或支撐器之熱損耗差值的能力。在腔 室中的壓力則將可同時調整單一區域電阻加熱器之溫度穩 定性。 除了提供所需之溫度外’該電阻加熱元件必須同時可適 應於該反應爐中高溫及化學特性的化學環境。習知技術對 環境適應性的解決方法之一係對單一區域電阻加熱器中係 設置氮化铭(A1N)的支撑器,而該加熱元件則裝置於該支撐 器之中。 輻射加熱法一般係將加熱燈管置於反應爐中隔熱防護玻 璃或石英之後,由於整個爐内腔室均為加熱燈管加熱,因 是,該C VD反應係發生於整個腔室之中。 -5 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 乙 |_ I n n βϋ ϋ n · ϋ I n flu n n 、0 ϋ m 1 n in l_i (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
五、發明說明(3 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 輻射或燈管加熱法在產生腔室内高溫以及控制溫度方面 均優於電阻加熱法。然而,輻射加熱法所利用之加熱元件 如·加熱燈管係置於該反應壚外部,當該爐内腔壁係鍍上 化予或其他物質或是在反應爐内的反應產物時,在控制腔 一 1:内的溫度則較顯困難。因是,當反應爐内物質係沉積於 该腔罜玻璃或石英時,加熱的效果則會打折,而製程的效 果亦會受到影響。 有鑑於此,輻射加熱法的反應爐必須時常加以清理。一 般之清潔劑係氟化氮(NF3)。在叫队的CVD反應中,Si3N4 反應產物係形成於爐内壁面以及其他在爐内的元件上如石 英窗上。S^N4難以自反應爐以清潔劑NF3加以清除之。 清除時的溫度通常必須較高以利分解該NF3並提供足夠的 熱能以清除ShN4。若清除溫度高時,NF3將同時侵蝕腔室 内的兀件,如支撐器。一遙控綠石英源係用以激化NF3以 降低該清除溫度,但卻活化NF3(特別激化過)將會侵蝕石英 兀件H ’目前並無有效的清潔方法可用於㈣加熱的 反應爐。因為該反應爐的壁面係不易以NF3加以清潔, s 13 N 4則累積並縮短反應爐的壽命。 在LPCVD反應中,溫度的一致性係十分重要,cvd製程 中的表面反應一般可以熱激化現象的模型解釋,其中製程 速率R之方程式如下: R = R〇e[-Ea/kT] 其中R。係頻率因數,活化能量之電壓伏特數(^,而 T則係以凱氏溫度值_依據此一方程式,溫度上升則表面反 -6 -
-!lrl —------ (請先閱讀背面之注意事項再清寫本頁) 訂------ 線
490728 修正 補充 第旅號專利案外斗 五、發明說明(4
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 應速之上升。叫CVD製程中,諸如SiA反解,其 舌化此量(Ea)通常相當咼,電壓伏特數為onj eV。因 疋為在日日圓上得一致的厚度,晶圓上的溫度一致性必須 嚴密地加以控制,通常係75(TC正負2.5t。 “口技術中單-晶圓輕射加熱法提供可接受的溫度一致 性甚至在較高的溫度(如750。〇當爐内係為清潔時。然而, 當物質沉積於腔室的壁面時,較難得到溫度一致性。 以早一區域電阻加熱器亦得難在晶圓上得到一致性的高 溫(尊7501) ’亦如前所述,纟高溫下支撐器表面的熱損耗 並非一致。一單一區域加熱器無法補償,如在支撐器之邊 緣的熱損耗即大於支撐器中央之熱損耗。因是溫度的一致 性係一問題。 。單一區域電阻加熱器之第二個問題係如上所述溫度在75〇 C會產生局部加熱情形。在高溫時,單一區域加熱器係集 中區域性加熱,配合加熱元件之高功率而於一區域内加 熱。結果,影響溫度之-致性。單一區域電阻加熱器的第 三個問題係在#加熱元件製造時的變化性會造成加熱元件 性能變化進而影響導致溫度的非_致性。該單_區域加熱 器則無法對上述製造變化特性進行補償。甚者,在高溫操 作時,會因高功率密度施加於功率終端器以及加熱元件而 造成單一區域加熱器的工作壽命縮短。 更其者,習知之電阻加熱器以及腔室係提供有限動態溫 度!測。一般而言,僅有的動態溫度量測(亦即即時溫度量 測)係以熱偶置於支撐器之中央略低於該支撐器表面之位 本紙張尺度適用中關家標準(CNS)A4 (21() χ 297公^ -------^---------典 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728 A7 _B7_ 五、發明說明(5 ) 置。該溫度量測(稱之為熱偶)可提供在支撐器中央位置之精 確溫度,惟,無法提供支撐器邊緣的溫度。熱相機可自腔 室外上風位置觀察腔室内之溫度,但僅能提供腔室内靜態 溫度資訊。調整CVD製程配方所相應之腔室内壓力則係可 控制腔室内反應的溫度。因是,單一區域電阻加熱法係通 常限制於在特定溫度壓力下操作。腔室溫度亦或壓力之改 變均對溫度一致性有負面的影響。因是,該等單一區域加 熱法在高溫CVD製程中顯有不足。 所需的是反應爐以及反應爐内加熱方法可適用於高溫操 作,如在700°C以上,其係對於元件以及在反應區域達成高 溫一致性在化學上的一個限度。 發明總論 在此揭露一種加熱裝置。於實施例之一,該加熱裝置包 含一平台或支撐器、一連接於該平台之軸以及第一及第二 加熱元件,其中該平台或支撐器具有本體以及一區域用以 支撐晶圓。該第一加熱元件係置於該平台本體之第一平 面。該第二加熱元件係置於該平台之本體的第二平面,並 與該第一加熱元件所在之平面間隔較長之距離。此實施例 中,係揭露由第一及第二加熱元件所定義之一多區域加熱 裝置。因此,本發明可以個別控制平台上二不同之加熱區 域,相較於習知技術單一區域加熱裝置,可以增加對溫度 之控制以及平台的溫度一致性。 一方面,該加熱裝置係電阻加熱器係控制高溫並提供較 單一區電阻加熱器更良好之溫度一致性。各個加熱元件可 -8- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ill·丨丨------Ψ------- I . 11 — I . (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728 A7 _ B7_ 五、發明說明(6 ) 以分別地加以控制以維持該平台表面上總體溫度一致性。 例如,在平台特定區域的熱損耗較大時,加熱區及上述區 域則將提供較多的電阻熱以維持操作溫度,達成方法之一 係變化平台區域加熱元件之電阻值,其中,在軸部的熱損 耗係大於平台上其他區域,在軸部上相對之加熱元件電阻 就要增加。同樣地,其他熱損耗較其他區域大的平台邊緣 部份,其上之加熱元件電阻亦需增加。 上述揭露之反應爐包括一腔室及一雷阻加熱器,該電阻 加熱器包含一平台,該平台係置於該腔室之中,平台上設 有一表面具有一區域用以支撐晶圓,以及本體、連接平台 之轴邵、在平台本體第一平面上的第一加熱元件,以及在 平台本體第二平面上的第二加熱元件。另一方面,在該平 台區域中之第一部份,該第一加熱元件之功率密度係大於 第二加熱元件。同時,在該平台區域中之第二部份,該第 一加熱元件之功率密度係小於第二加熱元件。 如上所述,本發明之反應爐係提供一種多區域之電阻加 熱器,如一單一晶圓加熱器,包含至少二電阻加熱元件係 置於平台或支撐器分立之平面。該分離之加熱元件係可使 平台上分隔區域分別藉由變化在不同區域各加熱元件的功 率密度以保持定溫。在實施例中,藉設置該第一加熱元件 於較該第二加熱元件更靠近平台表面位置處,當減少與該 較功率密度所產生之潛在區域“熱點”時,較大的功率密度 係提供至第二加熱元件以成為平台邊緣區域較大部份的熱 損耗。相較於習知技術中反應器在支撐器中央僅一個單一 -9- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 1---·------------------訂---- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
490728 A7 B7 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 五、發明說明(7 ) 熱偶,實施例反應爐中多個溫度感應器係提供均句控制電 阻加熱器更多機會以達成控制溫度一致性。 化學蒸鍍裝置之電阻加熱系統係進一步加以揭示。一實 施例中,該加熱系統包含一電阻加熱器,該電阻加熱器二 括-平台、本禮、連接於平台之轴部、第一加熱元件以及 置於平台本體不同平面之第二加熱元件,該平台則包含一 表面具有-區域用以支撑晶圓。本發明之加熱系統提供一 多區域加熱器’具有至少二分離之加熱元件以控制加熱器 的溫度並用以改善在高溫CVD製程中之均溫性,包括溫度 條件超過700。(3之製程(亦即LPCVD)。 反應爐中控制溫度的方法亦一併揭露。實施例中,該方 法包括供應電力至置於電阻加熱器平台本體第一平面上第 一電阻加熱元件,以及置於電阻加熱器平台本體第二平面 上第二電阻加熱元件。該方法同時包括至少改變第一電阻 加熱兀件或第二電阻加熱元件之一在平台上至少二區域 中0 其他本發明之裝置、反應爐、加熱系統以及方法之實施 例,以及本發明之其他特徵或優點將分別述明於後續之圖 式、詳細說明以及申請專利範圍之中。 圖式說明 圖1係化學蒸鍍系統之剖視圖,其中所示係本發明實施 例中在“晶圓製程”中加熱器置於反應腔室中。 圖2係圖i之另一剖視圖,其中所示係本發明實施例中 在一“晶圓分離”結構中加熱器置於反應腔室中。 10 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2〗0 X 297公釐) ----·------------------訂-------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
A7 B7 五、發明說明(8 圖3係圖丨之又一剖视 在―“晶圓承載,,結構中加示係本發明實施例亏 圖4係本發明實施例化、學 圖。 々、鍍系統加熱器部份之半剖损 圖5係本發明實施 B 6 ,, · 子…鍍系統加熱器之底視圖。 闯6係沿圖4剖圖線α·α Μ 統加熱器之y Κ τ本發明實施㈣學蒸鍍系 奋<支‘备或平台之頂視圖。 统力圖“圖4剖圖線Β_Β所示本發明實施例化學墓鍍手 、,死加熱器之支撐器或平台之頂視圖。 予-鍍系 圖8係本發明實施例化學墓辦 台之頂視圖,其中顯示二個區;、:…f支撑器或平 係本發明實施例中加熱器功率比對加熱器平台或支 才牙洛半從之折線圖。 圖係刀解剖視圖’其顯示本發明實施例中該化學蒸艘 系統中之部份二焰溫量計係連接於該腔室壁面之頂部。…、 ,圖11係本發明實施例中該化學蒸鍍系統中腔室内位於相 對加熱區域之上二焰溫量計之頂視圖。 圖1 2本發明貫施例在化學蒸鍍腔室内處理晶圓方法之流 程圖。 圖1 3係本發明系統實施例之方塊圖,其具有一控制器用 以控制供應加熱器之加熱元件之電力。 發明詳細說明 本發明係關於一種具有用於化學蒸鍍裝置之加熱裝置、 反應器、加熱系統之實施例,以及控制該反應器内溫度# 11 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) . --------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 社 印 製 _曰另方面,本發明利用一加熱裝置適合用以支撐一 早一晶圓(亦即一半導體晶圓)於反應爐中之平台或支撐器 並巧加漣衣置含至少二加熱元件係用以維持該支撐器(及 其上之晶圓)表面的反應溫度。在一實施例中,各加熱元件 係置該加熱器平台之分離平面。於一實施中,各加熱元件 係=於電源,而平台±之各加熱元件之電阻係可變化。 支&备或θ日圓上表面不同區域之溫度係可加以量測而該加 ”'、元件則係可以控制’藉由分別控制加熱裝置中之加熱元 件,諸如反應斋内熱損耗以及壓力改變等因素可加以調 和,而改善之均溫性在溫度高於7〇(rc仍可達成。因是, 加熱裝置具有多個加熱元件(亦即多區域加熱器)則提供一在 化學蒸鍍反應器或I统中相當有用的加熱元件,而高溫之 低壓化學蒸鐘製程則可適用Ml3N4以及多晶碎之沉積。 圖1、圖2及圖3係本發明實施例反應器中系統部份剖視 圖。孩系統用於化學蒸鍍製程中包括—Si3N4或多晶石夕沉 積於晶圓或基質之LPCVD製程。 圖1說明腔室本體1〇〇内部在“晶圓製程,,位置。圖2係 相同視圖說明腔室本體在“晶圓分離,,位置。最後,圖3係 以相同視圖說明腔在“晶圓承載,,位置。 圖1、圖2及圖3顥示腔室本體1〇〇係定義反應腔室 145,其中氣體或多種氣體以及該晶圓之反應在此發:,亦 即化學蒸鍍反應。腔室本體100係以鋁所製成,其具有一 通道1 0 2係供晶圓推至冷腔室本體丨〇 〇 (亦即_ “冷壁,,反應 腔室)。電阻加熱器150係置於腔室145之中,包含t為轴^ -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱)
490728 A7 B7 五、發明說明(1〇 ) 158所支撐之支撐器155。實施例中,支撐器155具有一 表面區域係足以支撐一半導體晶圓。柱形支撐器之支徑係 約為9.33英吋並為一軸部所支撐,其長度約為1〇英吋適 合支撐一八英吋晶圓。 處理氣體係通過腔室本體100之上蓋17〇頂部的開口 1 7 5進入該密閉之腔室丨4 5之中。該處理氣體係經由在電 阻加熱器150上方的有孔面板18〇進入腔室145之中,該 有孔面板並連接於該内腔室145之上蓋170。· 晶圓係經由腔室本體i 〇〇侧邊之進入口 1〇5而置於腔室 145中之支撐器155之上。為供應製程中之晶圓,加熱器 150係降低以使該支撐器15 5低於該進入口 1〇5,如圖3 所示。通常係以機械手臂機構以一轉置板伸入腔室145中 支撐器155的表面之上以裝置晶圓。裝置完成後,進入口 1 〇 5係加以密封,而加熱器丨5 〇則以升降器組合1 6 〇,如 步進馬達,朝向面板180之方向上升。在該晶圓係停止於 距面板1 8 0 —短距離處(400-700 mils)。在此一位置,氣體面 板控制處理氣體經由體分流口 175通過有孔面板180而流 入該腔室中,反應並在晶圓沉積形成薄膜。在壓力控制系 統中’腔室145的壓力係產生並以壓力調節器或連接於腔 室145之壓力調整器維持。實施例中,該壓力係產生並由 連接於腔室本體1 0 〇習知baratome壓力調節器控制。 處理完成之後,殘留的處理氣體係經由一泵浦板1 8 5自 腔室145泵入一收集槽中。腔室145則以惰性氣體如氮氣 加以淨空,在處理及淨空之後,加熱器1 5 0則由升降器組 -13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -« 11 1 1 tMmm n ϋ« 一I —a— n
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
石1 6 0降下至圖2所示位置。當加熱器1 5 0移動,升降銷 195具有一端延伸通過支撐器155表面之開口或通孔,而 其第二端係以懸臂方式延伸自該支撐器1 5 5之較低表面, 接觸位於腔室145基座之升降板190。如圖2所示,實施 例在此時升降板190亦如加熱器150,並未自晶圓承載位 置移向晶圓分離位置。相反地,升降板1 9 〇係停留於一參 考高度,如圖2軸部158所示Hi。加熱器15〇經由升降 器組合1 6 0之作用,持續向下移動,升降銷1 9 5係保持靜 止並超過該支撐器1 5 5的頂部表面,以將處理過之晶圓自 该支撐器155表面分離。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 一旦完成處理之晶圓自該支撐器155表面上分離後,一 機械手臂之轉置板係插入開口 1 〇 5至腔室1 4 5内之“取出,, 位置。該“取出,,位置係低於該處理完成之晶圓。其次升降 备組合1 6 0向低處移動升降板1 9 0至第二參考高度,如圖 3軸部1 5 8所示Η 2。藉由向下移動該升降板1 9 〇,升降銷 1 9 5係同時向低處移動,直至該處理過之晶圓底部接觸該 轉置板。該處理過之晶圓係自該進入口 1 〇 5以機械手臂機 構移出’並將晶圓移往下一個製程。第二塊晶圓則可裝入 該腔室中1 4 5。當晶圓裝入處理位置時,如上所述之各向 步驟在重複執行一次。美國專利第5,772,773號中對上述升降 器組合160有詳細之描述,該專利係讓予美國位於加州聖 塔克拉拉市的應用材料公司。 在高溫操作中,諸如Si]N4或多晶矽之LPCVD製程中, 腔室1 4 5内的反應溫度係高於7 5 0 °C。因是,置於腔室 -14 - 五、發明說明(12 ) 145中〈兀件必需可配合該高溫操作。如是之材料同時必需 可配合該處理氣體,以及其他會加入腔室145中如清潔2 之化學物質等。實施例中,加熱器15〇外露表面係以氮化 铭(A1N)所製成。例如,支撐# 155及㈣158係以相類 似之氮化铭材料製成。最佳結構係該支撐器155之表面以 高導熱氮仙材料製成(95%純度,鮮絲^ 14〇 w献 至2〇0界就),而轴部158則以低導熱氮化銘材料製成(熱 導係數為6〇W/mK至100W/mK)。加熱器之支撐器 15 5般係以擴散連接或銲接而連接於軸部丨5 8,而如是之 連接部份係相似可抵抗腔室145内之環境。 在處理過程中,升降銷195同樣出現於腔室145之中。 因是’升降銷亦必需酉己合腔室145内部之操作條件。適用 於升降銷195之材料包含,但不限於下財料,青石或氮 化鋁。另外會曝露於腔室145之中的元件係升降板19〇。 因是,在實施例中升_ 19Q,包含升降板19Q軸部的部 份,均係以氮化鋁製成(熱導係數為14〇 w/mK至2〇〇 W/mK) 〇 經濟部.智慧財產局員工消費合作社印製 圖1同時係表示加熱器150之部份剖視圖,包含支撐器 155本體之剖視圖,以及軸部158之剖视圖。圖ι中該支 撐器155本體設有二加熱元件,第一加熱元件25〇及第二 加元件260。第一加熱元件25〇及第二加熱元件26〇係分 互於支撐器155本體二平面。支撐器的厚度約為〇 68英吋 (或1.728公分),第一加熱元件25〇係置於距支撐器表面 約5-8公釐處。該第一加熱元件25〇相對於支撐器丨55表 -15- 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(13 ) 面位置的重要性將討論於後。 各個加熱元件(亦即加熱元件2 5 0及2 6 0)係以熱膨脹特 性相似於支撐器材質製成。其中之一種材料係包含益目 (Μ 〇 )’其熱膨脹係數係相似於氮化銘,實施例中,各個加 熱元件包含一迴圈狀之鉬薄層(如2 mils)。 圖1中,第二加熱元件260係設置於支撐器155本體下 方平面,並低於(相對於該支撐器155之表面)第一加熱元 件25 0。實施例中,因為支撐器之厚度約為丨728 cm,第二 加熱元件260係置於距第一加熱元件250平面約5公复 處。 在此一實施例中,第一加熱元件25 0及第二加熱元件 2 6 0係分別接於電力端子。該電力端子係為導電並以較低方 向延伸,並縱長延伸通過軸部1 5 8之延伸孔而至電源,以 提供加熱支撐器155表面所需之能量。 請一併參照圖1所示加熱器1 5 0之剖視圖,其中所出現 之熱偶2 1 0。熱偶2 1 0係延伸通過該軸部1 5 8縱向延伸 孔,而至低於支撐器1 5 5頂表面之處。實施例中,支撐器 155係為圓柱形,熱偶210則延伸至相對該圓柱形本體之 中央處。 如上所述反應器1 4 5内的環境對許多物質而係極為嚴 苛。藉由置入熱偶210以及連接於電源之導電端子,係置 於相容於反應器之支撐器及軸部一開口内,對於腔室145 内環下所曝露的元件會有退化或反解的考量則可減輕。 圖4係加熱器150包含支撐器155及軸部15 8之半剖視 -16 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) I Hi m n _1· —a·— I— n 11 n n «Bn 0 —i Bin in n HI i all ϋ·* n >ϋ n I · (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁} 490728 、發明說明(14 ) 圖。圖4係表示該轴部158具有—縱向延伸開口,其長度 可配合加熱器150内不同的元件。該等元件包含連接於第 =加熱元件250之導電端子215a及2m,以及連接至第 —加熱元件26〇之導電端子22〇a及22〇b。導電端子 a 215b、220a及220b係一端連接於一或多個電源, 以提供各個加熱元件所需之能源,以供應在特定製程中所 需之溫度。 .如圖4所示,該導電端子係延伸進入加熱器15〇支撐器 155本體内。導電端子及2 Mb自軸部1S8上方延伸 進入支撐器155本體而到達接近線a_a之附近處,對應於 支撐器155本體中第一加熱元件25〇所在之位置。導電端 子220a及220b自軸部158上方延伸進入支撐器155本體 :到達離該導電端子215a及2 15b距離支撐器155表面較 返處。導電端子220a及220b延伸進入支撐器155本體而 到達接近線B-B之附近處,對應於支撐器155本體中第二 加熱元件2 6 0所在之位置。 圖4同時顯示支撐器1 5 5之放大視圖,在此一視角,支 撐器155之表面係具有晶圓袋156,且約為0.03英吋深。 晶圓係承載於支撐器155之表面,並座落於該晶圓袋156 之中’該晶圓袋1 5 6係用以使晶圓陷於該支撐器丨5 5之表 面上或特別是在晶圓承載過程中防止晶圓支撐器1 5 5表 /面嗲ϋ實施例之中,晶圓表具有角度α約為60度至80 yr^·' .. (1 ΪΑ 度削爲芝邊緣。 圖4同時顯示用以支撐升降銷丨9 5之開口 1 9 8放大视 (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁) 訂--- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 17- 490728 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
490728
145内之加熱器15〇(上或下)以及升降板19〇之步進馬達 大小可依腔室中的真空環境條件加以選擇。因是,本發明 加熱器結構優點之一即在於元件均被保護於加熱器丨5 〇之 内,而隔絕於腔室内環境,如是可使元件以巢形安置而集 中使軸部158之直徑不致於過大,而軸部158内的體積亦 不會過大’而必需對馬達有不合理的要求才能使加熱器 150在腔室145内上下地移動。置加熱元件(如第一加熱元 件250及第二加熱元件2 60)於支撐器155本體上不同平 面可造成上述巢形安置。該巢形安置同時可以減少系統中 經由軸部1 5 8内開口或導管所產生之熱損耗。 圖5所示係由軸部1 5 8底部所見之本發明加熱器實施 例。由此所見,第一加熱器2 5 0之導電端子2 1 5 a及 2 15b,以及第二加熱元件260之導電端子220a及220b 係集合於該支撐器1 5 5之中央。熱偶2 1 〇亦同時與該導電 端子215a、2 15b、220a及220b巢形安置於一處。如圖 所示,加熱器1 5 0之軸部1 5 8之直徑係縮小,此例中約為 支撐器155的三分之一。圖5同時顯示在支撐器155本體 的四個開孔或通孔1 9 8。開口或通孔1 9 8支撐升降銷 195,用以升起或降下晶圓至支撐器155之上表面。 圖6係圖4中A-A線所示之支撐器155剖視圖。圖中, 第一加熱元件2 5 0係圖4中所示A - A線。第一加熱元件 2 50係包括二相對之迴圈部份23 0a及23 0b,並呈鏡像配 置。 第一加熱元件250之迴圈部份230a及230b係形成於支 -19 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規烙(210 x 297公釐) {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
丨訂丨V------· 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728
绿止、丨補充I A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(17 裕器155之本體上,即圖4中線A_A所定義平面。第一加 熱元件250之迴圈部份230a及23〇b係連接於端子216a 及216b ’以相對經由導電端子215a及215b連接至電 源。迴圈部份23 0a及23 0b之材質係可配合電源電流的要 求及加熱為之溫度限制。迴圈部份23〇a及230b之材質亦 可選用熱膨脹係數相似於氮化鋁者。如上所述,鉬材料的 厚度係大約2 mils,並形成於氮化鋁的平台或支撐器之上, 係可產生之溫度超過7 5 0 °C (當連接至適當的電源)。實施 例中,相對之迴圈部份23 0a及23 0b係分隔在端子216a及 216b約3-5 mm處。介於迴圈部份間之距離可以減少,以減 少其間的“冷區域’’。 圖7所示係沿圖4線B - B所示之支撐器1 5 5之頂剖視 圖。圖7係說明第二加熱元件2 6 0之平面。在此實施例 中,第二加熱元件2 6 0係設置於支撐器1 5 5之本體中,其 位置係較第一加熱元件2 50距離該支撐器155表面更遠處 (亦即線A-A所定義之平面較線B-B所定義者更為靠近支 撐器1 5 5之表面)。類似於圖6,第二加熱器2 6 0包括相對 之迴圈部份23 2a及232b,材質為鉬並以鏡像方式設置於 線B - B定義平面附近。第一加熱元件2 3 2之迴圈部份 232a及232b係連接於端子221a及221b,分別經由導電 端子220a及220b連接於電源。實施例中,相對之迴圈部 份232a及232b係分隔在端子221a及221b約3-5 m m。該距離可以減少,以減少其間的“冷區域,,。 在圖6及圖7之說明中,圖7中第二加熱元件26〇之迴 -20- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐 --------^--------- (請先閲讀背面5意事項再填5頁) 490728 1丨會· I卜i f〆 ί( Π、V ,丨 ,V 一·,.·、
五、發明說明(18 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圈邵份2 3 2 a及2 3 2 b係沿軸2 1 7而相對,而圖7中第一加 熱元件2 5 0之迴圈2 3 0 a及2 3 0 b亦沿一相似軸而相對。比 對圖式’該迴圈部份232a及232b係相對於另一迴圈部份 2 30a及230b旋轉180度。藉此一方式,相對迴圈部份間 之區域係第一加熱元件250或第二加熱元件26〇可互為補 償。如是加熱元件迴圈之結構無需如所述平移18〇度。取 而代之,該加熱元件迴圈係可直接疊置之(亦即無需償),或 以一變化的角度重疊以補償介於該相對迴圈部份之區域。 圖8顯示支撐器1 5 5之頂部圖。支撐器丨5 5之表面係至 少分為三部份,如圖8所示,區域245係為半徑為Rl所定 我,區域2 4 5係支撐器1 5 5與軸部1 5 8連接之區域。區域 254中以定義區域減去Ri定義區域245。區域255係 支撐器155邊緣區域,係以半徑h所定義之區域減去區域 2 5 4半徑R2所定義的區域以及區域2 4 5半徑R}所定義之 區域。 在實施例中,第一加熱元件2 5 0及第二加熱元件2 6 〇具 有獨立之分熱器,並可各別加以控制之。藉此,第一加熱 元件2 5 0相較於第二加熱元件2 6 0在一特定位置可以接收 或多或少的電力於特定位置。可以了解此點,額外增加之 加熱元件可以加入支撐器丨55之本體之中,以在電阻加熱 器中开;^成額外之加熱區域。實施多加熱元件考慮的條件包 含支撐器155平面上的位置,以及額外導電端子之巢形配 置。 第一加熱元件2 5 0與第二加熱元件2 6 0分開控制的方法 -21 - ;紙張尺度適用中國國家鮮(CNS)A4規格(210 X 297公餐Γ --- 厂 * ϋ I ϋ u ϋ 1- ϋ n H -ϋ n ϋ ϋ n ·ϋ ϋ ϋ H ^ t · ί I n n I ·ϋ ϋ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) A7 B7 五、發明說明(19 ) 《-係當保持該加熱元件的厚度為較值時,藉由改變各 加熱元件橫過該支撐器155區域間之寬度。如—般所知 者’對電阻加熱器而,電力提供至該加熱元件,而加熱元 件則釋放熱量,其係直接與加熱^件之電时關。為使 一電阻加熱兀件具有一固定之厚度,該加熱元件一較寬之 部份(較大體積)會有較低之電阻值,可以較低之功率使電流 通,,相較於卿之部份(較小體積)所能提供的熱也較少。 因疋,在特足位置縮減加熱元件的寬度(亦即減少加熱元件 之體積),相較於其他位置使電力供應增加以使相同的電流 通過。在縮減位置所產生之溫度相較於其他未縮減之位置 係略為提高。而功率密度,係定義為電流通過加熱元件一 &長度所需 < 電力,在加熱元件縮減部份亦將高於其他部 份。 如圖ό所示,第一加熱元件25〇係為鉬材質,其厚度約 為2 rmls。在此實施例中,該第一加熱元件25〇之寬度係依 據在區域245 (見圖8)内不同位置而加以變化。區域245在 本貫施例中係足義包圍軸部丨5 8上方部位之區域。實施例 中,軸部158之開口係可配合熱偶21〇以及連接端子 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 III·---------------- C請先閱讀背面之注意事項再Λ'寫本頁) f. 2 15a、215b、220a及220b,在此區域支撐器155區域的 熱抽耗會大於支撐器155連接軸部158,標註為245之 處。因是,加熱元件250在區域245之功率密度會大於加 熱元件250在區域255之功率密度。 請復參照圖ό及圖8,在實施例中,區域2 4 5中第一加 熱元件25〇之寬度Wi (如圖8所示)係小於加熱器150之支 -22- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(20 ) 撐器155區域25 5中相對之寬度W2 (如圖8所示)。電流流 經第一加熱元件250較窄寬度部份Wi,相較於電流流經加 熱元件250其他部份(亦即寬度w〇會產生較大之電阻,因 是加熱元件250在此區域所釋放的熱量會大於區域245所 釋放者。就2 mils厚鉬材質之加熱元件而言,寬度w丨舉例 而言可為寬度W2的十分之一或更少,以相對區域255增加 區域2 4 5之功率密度。在鉬材質之實施例中,第一加熱元 件25 0之電阻係變化於2歐姆(亦即寬度…^與4歐姆(亦 即寬度W i )之間。 參照圖7及圖8,在此實施例中區域2 5 5係包圍支撐器 155邊緣之區域。支撐器155表面區域的熱損耗會大於其 邊緣,該區域並註記為25 5。因是,在加熱元件26〇之區 域255之功率密度會大於支撐器丨55其他區域。 參照圖7及圖8,第二加熱元件260係為鉬材質厚度約 為2 mils。第二加熱元件260的寬度係可變化,使第二加 熱元件260的功率密度因應區域25 5内各位置不同而改變 (如圖8所示)。因是第二加熱元件26〇在相對於區域255 I區域寬度W4 (如圖8所示)係小於相對於加熱器丨5 〇支撐 器155之其他區域的寬度W3。電流流經加熱元件26〇二 窄寬度部份W4,相較於電流流經加熱元件26〇其他部份 (亦即寬度W3)會產生較大之電阻,因是加熱元件%。在此 區域所釋放的熱量會大於區域25 5所釋放者。就2 miis厚鉬 材質之加熱元件而言,寬度W4舉例而言可為寬度w3的十 分义一或更少,以相對區域245增加區域25 5之功率密 --:------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -23- A7 B7 五、 發明說明(21 度。在鉬材質之實施例中,_ 一 化於7 @』 、 罘加為兀件2 5 0之電阻係變 n ^姆(亦即寬度^)與4歐姆(亦即寬度w4)之間。 圖”以圖式說明加熱器150支撐器15 件又控制情形。圖9所示係供 …兀 埶 手、至罘一加熱元件及第二加 第:牛:功率比對支撐器155半徑。本實施例之功率比係 _,’’、兀件25G《功率比第二加熱元件26G之功率。如 ;第—加熱元件25G之功率比例在區域⑷係大於 t 5之其他區域,係因為第一加熱元件250有外加 :力才目似地’功率比例在區域255因為第二加熱元件 外加之電力,使該區域之功率比例大於支撐器Η 其他區域。 、=4 S 8所示之多區域電阻加熱系統,可使加熱器 、牙器上各區域分別加熱之,藉此相較於單一區域加教 器在支撐器表面提供更佳的均溫性。如圖㈡戶斤示之雙區 域私阻加熱器可使一第一區域(區域24”獨立於支撐器⑴ 其㈣域加熱之。因是,軸冑158產生熱損耗而不會犧牲 ,器155表面的均溫性。相似地,一第二區域(區域255) 獨乂於支‘斋155其他區域加熱之。因是,支撐器m邊 緣產生之熱損耗(在溫度為75(rc或更高)而不會犧牲支撐器 1 55表面的均溫性。故,在高溫應用時(7或更高),可 各別區域的熱損耗’如與軸部158連接之區域以及支 松备155 <邊緣,係可以增加第一區域245及第二區域 25 5之功率分佈而補償。支撐器155表面之溫度係因是可 、’隹持在足^溫,略高於習知單一區域電阻加熱器。 . ----------------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -24- 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 五、發明說明(22 於中,第—加熱元件25(^二加熱元件26〇係位 '牙斋1 5 5上相同之區域。此種結構優點之一係在於各 一加熱兀件失效時,另一加熱元件仍可加熱支撐器全 4表面。另各個加熱器係不需佔據支撐器Μ 5上相似之區 域,仍可設置於單一特定區域,諸如區域245及。 —圖仁8中,第-加熱元件250係設置於,相較第二加熱 兀件260所在平面(圖4巾所示),更接近支撐器155 頂表面之平面中(圖” A-A所示)。實施例中第一加熱元 件250位於自該支撐器155表面處約5-8 _處。藉此方 式自該表面上分離第_加熱元件25G以提供較佳之溫度分 佈以及漸減之區域加熱特性。 又,各加熱元件係依據製程條件以及製程之目的而改變 其各自的位移。將第二加熱元件26〇置於該支撐器155本 體平面,且低於該第一加熱元件25〇平面的理由之一係在 於供應至第二加熱元件26G的電力會大於供應至第一加熱 兀件250者。此種情況發生係在於該支撐器155表面邊緣 的熱損耗係大於支撐器155表面中央的熱損耗。因是,提 供至支撐器155邊緣所增加之電力(亦較高之功率密度)與 供應至支撐器1 5 5中央之電力相較,又與加熱元件在平面 上位置較接近支撐器155表面相較,當該第二加熱元件 2 6 0之位置以及遠支撐器丨5 5表面距離較大時熱分佈會較 佳較佳之熱分佈可減少熱區域集中或“熱點,,,並可提供 支撐器155表面熱均勾分佈特性。藉由更為均勻地分佈熱 於第二加熱元件260位置,支撐器155表面溫度控制在 ---^------------------訂--------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -25- 490728 A7
五、發明說明(23 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 75(TC或以上溫度之正負3ΐ範圍内。更佳之熱分佈可減少 支撐器碎裂或損壞。 圖10及11係說明監控或指示支撐器155表面溫度之實 施例,圖10所示係腔室本體頂表面之部份,係腔室蓋17〇 刀以及有孔面板1 8 0部份。延仲通過該腔室蓋1 7 〇之開 口係二焰溫計,第一焰溫計2 0 0以及第二焰溫計2 〇 5。圖 11所示係該腔室蓋170頂視圖具有第一焰溫計2〇〇以及第 —·焰溫計2 0 5,係可購自Sekidenko Inc.位於華盛頓州溫哥華 市。各焰溫計係提供支撐器155表面之溫度(或支撐器155 上晶圓表面溫度)。在實施例中,各焰溫計之溫度量測範圍 為3 3 5 C至1 2 0 0之間。各焰溫計量測其所在位置相對支 每器1 5 5區域的溫度。如圖1 1所示之實施例中,第一焰溫 計200量測支撐器155上區域245的溫度,而第二焰溫計 2 0 5則量測支撐器1 5 5上區域2 5 4的溫度。熱偶2 1 0量測 相對於支撐器155中心23 5附近的支撐器155表面溫度。 在此熱偶及焰溫計係舉例說明用,本發明其他實施例亦可 以其他裝置加以取代。 因為第一焰溫計2 0 0及第二焰溫計2 0 5對溫度之量測係 基於量測該焰溫計所曝露之輻射能及光,各焰溫計必需接 近腔室1 4 5的内部加以量測。第一焰溫計2 0 0及第二焰溫 計205靠近腔室内部係由其各自基部之窗口 290及295, 以及分別其該腔室蓋170之開口 270及275,以及面板 180上各自之開口 280及285所達成。在特定的一些實施 例中,諸如化學蒸鍍製程,有可能會在窗口 290及295形 -26- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) (請先閱讀背面之注意事項δ寫本頁) 寫士 1111111 $
^ I 五、發明說明(24 j缝層’會破壞第一焰溫計2 0 0及第二焰溫計2 0 5可能曝 =到的輻射能及光,而造成焰溫計量測失效。因是,在實 、】中’特別係開口 2 8 〇及2 8 5之長度及寬度以及開口 & 275之長度及寬度盡可能縮小鍍層形成於窗口 29〇 2 9 5之可能性。實施例中,該開口的比例係與面板1 8 0 之厚度相關。開口與面板厚度間合適比例為1至3。 在只施例中’多溫度量測係用以調整並控制支撐器1 5 5 ^面的溫度。如在沉積SisN4的LPCVD製程中,在加熱器 。15〇支撐器表面上之反應溫度為75〇〇c保持在正負25 C又間。本發明之系統係可以量測支撐器I5 5中點235之 献度,做為控制之參考溫度,進而調整控制加熱器15〇之 μ度(在實施例中係以熱偶2丨〇加以量測)。支撐器1 $ $上 的均溫性則由量測第一焰溫計2〇〇與第二焰溫計2〇5之溫 f差AT而得。由量測ΔΤ,系統可調整該第一加熱元件與 第二加熱元件之功率比,以控制該Δτ於特定範圍内,諸如 LPCVD之⑽製程溫度75〇。。正負2 5。。範圍内。利用溫 度差UT)之優點至少有二,第…介於晶圓間之輕射熱改 變會影響各焰溫計所量得溫度之絕對值,但不會影響AT之 相對值¥ —,全程腔室内溫度條件的改變不會影響相對 溫度量測,惟,會影響絕對溫度之量測。 圖12係說明本發明實施例反應器結構之一種晶圓製程方 法。圖I2說明之;^純用以控制在CVD製訂—種雙區 域單-晶圓電阻加熱器中之溫度。第一步驟(步驟3 CVD反應器腔室145中之加熱器15〇係處於—晶圓承載位 -27. 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格do X 297公爱 頁 訂 % 發明說明(25 ) 置(請配合圖3及其相對之文字)。第二步驟(步驟3叫中, —晶圓係以一機械轉置機構置於支撐器155之上。第二+ 驟(步驟320),係加熱器15〇定位以使該晶圓靠近 面板刚,如圖i所示。該反應器則係加熱至製程溫度(步 驟3 3 0)。在Sl3N4沉積之LpcvD製程中,溫度係加敎至 750C。孩溫度係以熱偶21〇及第一焰溫計2〇〇及/或第二 焰溫計2G5量測之,以協調加熱器15()支撐器155表面: 的溫度(步騾340)。調整對第一加熱元件25〇以及第二加 熱元件260之電力供應,用以控制上述之溫度(步驟 3 5 0)° -旦反應完成後,並形成薄膜厚度後,處理氣體則終斷 供應至孩腔罜,並以氮氣清潔之(步騾3 7〇)。其次,該加熱 器平台係移至該晶圓承載位置(如圖所示及其相對位置),而 該處理後之晶圓則被移開並重新置入另一晶圓(步驟3 8㈠。 上述關於加熱器150支撐器155表面溫度之控制,以及 藉控制並調整支撐器155不同區域溫度以控制支撐器155 表面上的晶圓表面反應溫度:其上控制及調整係如習知可 以手動完成或借助於系統的控制器。在前述之例子中,操 作人員可記錄不同溫度指示器(如第一焰溫計2〇〇、第二焰 溫計205以及熱偶210)所量測之溫度,並且手動調整供應 至第一加熱兀件2 5 0或第二加熱元件2 6 〇的電力供應。或 者,控制器可設足用以記錄由溫度指示器所量測之溫度, 並以決定相對溫度差之運算法控制供應至加熱元件2電 力,同時據此調整加熱元件。 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(26 ) 圖1 3係說明以第一及第二焰溫計2 〇 〇及2 0 5以及熱偶 2 1 0 :測溫度提供至控制器2 2 5中,用以控制第一加熱元 件2 5 0及第二加熱元件2 6 0之系統。實施例中,控制器 2 2 5具有一合適之運算法,其係用以比較至少二溫度指示器 所測之溫度,並控制電源215以使加熱器150溫度均佈在 溫度指示器所可接受之範圍内。如加熱器1 5 〇支撐器1 5 5 之表面所欲達成之溫度為750°C正負2.5°C範圍内,控制器 2 2 5將基於至少二指示器所供應之量測值,控制電源2 i 5 以達成該結果。 控制器2 2 5係提供軟體指令架構,其係以電腦程式存於 電腦可请取之媒體内,如控制器2 2 5内之記憶體。該記憶 體舉例而言可以是硬碟的一部份。控制器2 2 5可同時連接 於一使用者介面,可以操作人員輸入反應器之參數,諸如 所欲之反應溫度以及允許指示器溫度差之誤差範圍(如正負 3°C)。在LPCVD反應中,控制器225可進一步連接於一 壓力指示器,用以量測腔室丨4 5及一真空源以調整腔室 145内之壓力。 一般而言,加熱二件控制係由電壓或電流調整造成之。 該加熱元件之功率輸出係等於: 功率=電壓2/電阻值 在圖1 3之中,一所需之操作溫度係提供至控制器 2 2 5 (該溫度係為設定溫度2 〇丨)。控制器2 2 5控制電源2 1 5 以提供第一加熱元件致動器2丨6及第二加熱元件致動器 2 1 7所需之電壓。該加熱元件致動器係輪流控制供應於第一 -29- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 297公釐) 1 ϋ ϋ n n ϋ n· n n ϋ n ϋ n n n ϋ ϋ ·ϋ n n · n I n An «I >ϋ I · (請先閱讀背面之注意事項再填冩本頁) 490728 A7 ^------- 五、發明說明(27 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 力口熱兀件250及第二加熱元件26G之電壓。控制器225係 控制加熱器150之加熱速度或加熱器15〇之功率比(加熱速 度/ PID控制203以及電壓比率2〇2)。 、 後續將說明如圖13所示之系統以控制多區加熱器之實施 例。當介於孩内邵區域(區域245)與外部區域(區域254或 25 5)之間溫度關係校正後,多區域加熱器溫度係以一個位 在内部區域(如區域245)之溫度計所控制。溫度控制則有二 種方法,當該加熱器溫度係接近其設定溫度時,其係在比 ,加乘前置差分積分(PIDF)伺服寬帶中,該piDF控制運 算法係用以調整該加熱器溫度至該設定溫度。另一方面, 备在加溫或降溫模式中,溫度係不在上述溫度範圍内,兮 加溫運算法係用以控制該加熱器溫度,以設定之速率對Z 熱器加熱或降溫以延長加熱器之壽命。雙區域加熱器均溫 性,係由介於内部區域及外部區域之電壓或功率比所控 =。該比率不是固定數值,但當加熱器溫度增加時該支撐 器内/外區域所k成熱損耗差值不同時,則該比率可隨著溫 度而改變。該比率之設定同時係取決於腔室内的條件,= 腔室内的壓力以及氣流。 該加熱器控制模式可分為迴圈加熱控制以及PIDF控制 兩種,而迴圈加熱控制可由不同的電壓及功率所產生之溫 度範圍區分為‘‘低溫迴圈,,以及“高溫迴圈,,。該“低溫迴圈,, 係適用於固定電壓比’而該“高溫迴圈,,係適用於可變電至 或功率比並以下列公式計算之。 I.控制條件 -30- --------訂-------- rtf先閱讀背面之注音?事項δ、寫本頁} π再填寫本
S
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4 ϋ72ι〇 χ 297么H 490728 A7 B7 五、發明說明(28 該腔1:操作條件可以分為二模式:“腔室離線/上線,,以及 ‘製作”作業。該操作順如下所述: A .室離線/上_ 當該加熱開始加熱時,設定溫度之控制步驟為: 1·低溫迴圈,當該加熱器溫度係低於預訂之溫度。 2 ·高溫迴圈,當該加熱器溫度係高過預設之溫度。 3· PIDF伺服作業,當該加熱器溫度到達所需溫度之預 設伺服帶寬中。 當加熱器係開始降溫時,該控制步驟係反向進行: A ·高溫迴圈,當該加熱器溫度係高過預設之溫度。 B ·低溫迴圈,當該加熱器溫度係低於預訂之溫度。 C.PIDF伺服作業,當該加熱器溫度到達所需溫度之預 設伺服帶寬中。 該迴圈速率以及其他PID因素則依㈣統定值。 B.製作作業 在製作作業中,該加熱器控制包括溫控 設定、電壓比率以及迴圈速率(若溫 .溫度 反係不同於前述 騾) 之步 ---------1----------------ί (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 對清潔作業而言,其控制順序係如下· 3 3 ·在處理溫度之p ]; 〇 F伺服操作。 3 4 .降溫至清潔溫度。 35·在清潔溫度之PIDF伺服操件。 3 6 ·加溫至處理溫度。 3 7·在處理溫度之PIdf伺服操作。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公^7" A7 B7 、發明說明(29 比率係表列於操作手冊之 力口熱比率亦表列於操作手 於“腔室離線/上線,,模式下 在PID F伺服操作時,電壓 中。而在升溫或降溫時,該迴圈 冊之中,而電壓比率係配合該用 之數值。 11.熟控制 ,圈加熱控制之運算㈣以下料式表示之,甚係依加 尤、/皿度(迴圈加熱速率之比例控制。 加熱器迴圈電壓: 内部區域加熱器迴圈電壓=先前之内部區域加熱器迴圈電 盛+α迴圈p增盈]*[目標迴圈加熱速率_實際迴圈加敎速率]) 外部區域加熱器迴圈電壓=電壓比率*内部區域加熱器迴 當外部區域加熱器迴圈電壓>1〇〇%(如· ι〇ν),使 外部區域加熱器迴圈電壓=1〇〇%(如:ι〇ν),以及 内部區域加熱器迴圈電壓=外部區域加熱器迴圈電壓/電 /目標迴圈加熱速率係加熱器於線上/離線狀態時之迴圈加 熱速率,而目標迴圈加熱速率可以在“清潔,,作業中以“迴圈 加熱速率”加以複窝之,表丨係說在上述等式中的各項參 數,以及在LPCVD製程腔室中所建議之各項參數值。
490728 A7 B7 五、發明說明(30
轉換PID控制溫度誤差值 說明··溫度帶寬,係用以將迴圈控制轉換為PID控制等等 建議值:l〇QC 溫度迴圈比例增益(迴圈P增益) 說明:比例增益係用以計算在迴圈控制時之加熱器電壓 建議值:8 腔室X加熱器溫度迴圈加熱速率 加熱器溫度迴圈加熱速率(目標迴圈加熱速率) 說明:此速率可使溫度上升或下降 建議值:〇.15°C/Sec 請 先 閱 讀 背 之 注 意 事 項 電壓比 參數: 說明:介於外部區域與内部區域控制溫度之電壓比率。該參數係應不同溫 度而變化。參見“電壓比”之詳細說明
頁 I 熱偶失效檢測超時 說明:時間對訊號,為對實際迴圈加熱速率係低於目標值之70%時之警 報 建議值:300秒 訂 對迴圈加熱控制而言,電壓比係取決於該加熱器溫度範 圍 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A. 若當前溫度fC)<[TL]: 則電壓比= [Rl] 註:R L二低溫加熱迴圈之電墨比 T L二低溫加熱迴圈之溫度限制(°c ) B. 若[TL]〈當前溫度(°〇<設定溫度(°C)-[轉換PID控制溫 度誤差值] 則電壓比=[1^] + ([1^]-[反1^)*(當前溫度-[1^])/([1^] _[TL]) 註:R L =低溫加熱迴圈之電壓比 R Η =高溫加熱迴圈之電壓比 -33- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) A7 -------- B7____ 五、發明說明(31 ) τ —二、 向溫加熱迴圈之溫度限制(。〇) 低溫加熱迴圈之溫度限制(。〇
Rl、RH係為二區域之最大電壓比所限制(Rm) C.在製程中(處理及清潔): 邊電签比係取決於所需之加熱器溫度範圍。 在處理溫度時: 電壓比=在製程中處理溫度時之電壓比 當加熱器溫度係下降或上升至在製程中所要求之溫度 (C )-[轉換pID控制溫度誤差值] 則電壓比=[^^] + ([1^]-[趴])*(當前溫度-[tl])/([Th] "[Tl]) a · rl叫氐溫加熱迴圈之電壓比 rh=高溫加熱迴圈之電壓比 T 高溫加熱迴圈之溫度限制(。〇)
Tl =低溫加熱迴圈之溫度限制(。〇) 、Rh係為二區域之最大電壓比所限制(Rm) 在每1 0。(3變化時即重行計算該電壓比。 m.PIDF括倒 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ---·----------%裝---- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) PID F控制係泫加熱器溫度在系統所設定之溫度帶寬内時 所使用,在PIDF控制溫度帶寬中,最多將以五個不同的參 數計算加熱器之電壓,該五個參數係分別為前饋值、預設 μ度、P、I及D。孩前饋值係提供維持溫度於設定溫度所 而之私壓,當典負載時,其將係唯一之數值用以決定該加 熱焱電壓。加入孩前饋值之目的之一係對不同電阻變化之 -34- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 490728 A7 B7 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 5區域加熱器奮 *外邯區域加熱器電壓>!〇〇%〇 0V),則徒σ二 外邵區域加熱器電壓=丨〇 〇 % (丨〇 V)
五、發明說明(32 ) 不同加熱器控制其穩定性。該預設溫度可得時,當大負載 出現於加熱為在氣體引入或加壓加熱時,在處理過中用供 P寺笔壓’文化至遠加熱器。該p值係由該溫度誤差與增益 之乘積所決定,該I值係由該全溫度誤差與增益之乘所決 足,該D值則係由該溫度誤差斜率與增益之乘積所決定。 該I值係僅在於接近穩態條件下,當該溫度係接近於該設定 點。當溫度預設係用於製程之中時,則該〗值並非用於全電 壓之計算。 内部區域加熱器電壓在PIDF控制時係由表2中之等式 决足之,凌D值係自該全電壓中減去,而其他之值則加 入。各別數值之等式係表示於一些範例計算之中。該丨值與 溫度設定值兩者係互斥,該丨值僅在溫度設定值為零時,對 全電壓具有貢獻。若該設定溫度不^零,貝4 j值則不會在此 運算。 外部區域加熱器電壓在PIDF控制時,係由内部區域 PID控制鈿出與泫電壓比(功率關係)之乘積決定,該電壓比 (功率關係)可以基於實際之處理條件、不同製造商之加熱 器、以及熱閑置條件校準表列之。 表2 D值 _ ^ --------^------I-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 35- 490728 Α7 Β7 五、發明說明(33 ) ,f =溫度誤差值*([P增益—I* [每度 3取大瓦特數}+ [外邵最大瓦特數]*電壓比Λ 2、、 气度誤差值*([1增益]* [每度誤 jLf大瓦特數} +丨外部最大瓦特數]*電壓比Λ2)) 誤差值斜率*([D增益] ϋΖΙΙΑ邵最大瓦特數} +[外部最大瓦特數1*電愚比λ?λ、 f度預設值=[預設溫度]/([内部最大瓦特襄 特數]*電壓比^2) j L丨I取又凡 經濟部智慧財產局員Η消費合作社印製
範例: (内)加熱器 PID 電壓=(49.1% + 3.4% + 3.0% + 0〇/〇)-2.0% = 53.5% = >l〇7VAC 前饋值= 750*(0.655/(2000 + 2000*2λ2) = >49.1%* Ρ 值= 0.8 *( 142.7* 3 0/(2000 + 2000 *2八2) = >3.4% (外)加熱器電壓=1 . 15* 107 = >123 VAC 功率比=1 . 5 *症·計算式中之箭頭所指係計算值以1 〇 x進制度。 ____ 表 3_ 加熱器參數說明-PID控制 最大内部類比輸出之腔室X功率瓦數(内部最大瓦數) 說明:用做為增益係數於前饋值、p值、I值、D值以及溫度 設定值之計_ 卜部出之腔室X功率瓦數(外部最大瓦@ 說明:用做為增益係數於前饋值、ρ值、I值、〇值以及溫度 設定值之計^^ 器伺服' " 說明:設定點附近之溫度帶寬,供積分控制之用,每當溫度 係離開遠溫度帶寬時該積分控制則重置。 建議值:15°C -36- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21() χ 29?) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -L. · ,ψ 訂----
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 對於PIDF控制,該電壓比係取決於該加熱器溫度範 490728
「i X词服乘當~:前斜率百分{:[^^(〇增益) '~" 每度之 ⑼f時)前饋值應 製程中之調整設定 ϊίίίίί零特別係在沉積步驟時M值被運用;該溫度 ίΐϊ至fSSi之每5°mw則增加w 圍 A.若設定溫度(°c)係低於[TL]: 電壓比= [Rl] 註:rl =低溫加熱迴圈之電壓比 37 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) A7 B7 五、發明說明(35
T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 :低溫加熱迴圈之溫度限制(°c) β.若設定溫度fc)係介於[TL]與[TH]間: % 壓比= [Rl] + ([Rh]-[Rl])*(設定溫度 _[Tl])/([Th]
is值當j 下,該加熱器係維持於此-溫度 腔室X低溫加熱迴圈之電壓比(R ^ ) 一 ----- 域之電壓比,低於[低溫加熱迴 腔室X兩溫加圈之電—壓比(R η ) · — - 比,等於或大於[高溫 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) --------訂----- 38 490728 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(36 加熱迴圈之溫度限制(°C) (τΗ)]之溫度_ 二區域之最大電壓比(Rm)
說明:最大之電壓比值。包含Rh、Rl以及製程中之R 許可值範圍:0至2.2_ 設定溫度(°G) (Ts) 說明:加熱器之目標操作溫度。當加熱器到達此溫度時,二 區域之電壓比等於基本電壓比_ 設定溫度之電比 說明:當溫度到達設定溫度在[腔室X電阻加熱器伺服帶寬] 之内,控制器以此電壓比進行PIDF控制。_ 表5說明腔室清潔過程之加熱器參數 表5 加熱器參數說明-清潔製程 > 加熱器參數說明-(製程中之參數) 一 處理溫度(°C ) 參數:製程中調整設定 說明:當該腔室在處理條件時,該加熱器則提供此一溫度。 建議值:依處理過程決定 處理溫度之電壓比 參數:製程中調整設定 說明:在處理溫度之内外部份區域電壓比在該[伺服帶寬之間] 限制值:rm__ 迴圈加熱速率(升溫或降溫)(°c /分)(覆寫該_目標迴圈加熱速 率) 參數:製程中調整設定 說明:溫度設定係不同於前述之步騾。加熱器溫度之迴圈加 熱速率係需要由軟體控制並設定。 限制值:....°c/分 上述之說明主要係用以說明在CVD系統中運用多區域、 單晶圓加熱器。本發明係舉例說明一雙區域加熱器裝置, 而其他加熱元件及溫度指示器與該加熱元件相關者均為人 所熟知,且均不脫本發明之精神。而本發明同樣亦非僅限 39 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Φ-------- 訂---- 490728 A7 B7 五、發明說明(37 ) 用於CVD反應器、系統或方法中,且可以有各種 用以確保溫度精確地控制。 前述之實施例中均係用以說明本發明,與其相關之各 改良或改變均不脫本發明之精神及後述之申請專利範圍種 說明書内容及其圖式僅係用以說明而非限本發明之範圍 不同的應 C請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁} -l· · ,ψ-------- 訂---- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -40- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)

Claims (1)

  1. 第济/喻岸號專利案?/年丄月修正
    經 濟 部 智 慧 財 產 局 消 費 合 社 印 製 • ~種加熱裝置,包括: 一平台包括一表面具有一區域係用以支撐晶圓,以及 一本體; 一軸部係連接於該平台; —第一加熱元件係置於該平台本體之一第一平面内; 以及 一第二加熱元件係置於該平台本體之一第二平面内, 該第二平面距離該平台之表面較第一平面之距離為大。 2 ’如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置,其中該第一加 熱元件係為一電阻加熱元件,其包括一第一部份具有一 第一電阻以及一第二部份具有一第二電阻不同於該第一 電阻。 3 ·如申請專利範圍第2項所述之加熱裝置,其中該第一加 熱元件之第二部份係置於平台之一區域,該區域之中點 之距離大於該第一加熱元件之第一部份。 4·如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置,其中該第二加 熱件係一電阻加熱元件包括一第一部份具有一第一電阻 以及一第二部份具有一不同於該第一電阻之第二電阻。 5.如_請專利範圍第4項所述之加熱裝置,其中該第二加 熱元件之第二部份係置於該平台之一區域,該區域之中 點之距離大於該第二加熱元件之第一部份。 6 ·如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置,其中該第一加 熱元件佔據該平台之區域實質上係相同於該第二加熱元 件所佔據該平台之區域。 -41 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X 297公釐)
    .........t: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂· S A8 B8 C8 D8
    、申請專利範圍 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 士申明專利範圍第1項所述之加熱裝置, 其中該平台包括一第一平面係用以支撐一晶圓以及一 第二平面,而該軸部具有一部份並定義一内孔貫穿該軸 部之長度, 其中該軸部係連接於該平台之第二表面,在此點實質 係為中點,而電源端子係置於該開口中並連接於該第一 加熱元件及第二加熱元件。 8·如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置,其該平台本體 係實質為圓柱形,其中點相應之軸線係正交於表面,而 該平台區域之第一部份係以一第一半徑所界定,而該平 台區域之第二部份係以一第二半徑所界定,且該第二半 徑係大於該第一半徑。 9·如申凊專利範圍第8項所述之加熱裝置, 其中該第一加熱元件係一電阻加熱元件包括一第一電 阻設置於相對於該平台區域第一部份之相對區域内,以 及一第二電阻設置於相對於該平台區第二部份之相對區 域内,以及 其中該第二加熱元件係一電阻加熱元件包待一第一電 阻設置於相對於該平台區域第一部份之相對區域内,以 及一第二電阻設置於相對於該平台區第二部扮之相對區 域内。 10.如申請專利範圍第9項所述之加熱裝置,其該第一加熱 元件之第一電阻係小於該第一加熱元件之第二電阻,而 該第二加熱元件之第一電阻係大於該第二加熱元件之第 -42- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) ............…變.........、玎.........ΜΨ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728 A8 B8 C8 __ D8 六、申請專利範圍 —電阻。 1 1.如申請專利範圍第8項所述之加熱裝置,其中在相對於 平台區域之第一部份及第二部份之區域該第一加熱元件 之功率密度係大於該第二加熱元件之功率密度。 1 2 ·如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置, 其中,該第一加熱元件係以一對迴圈置於該第一部 份,而該第一部份係為一第一軸所分隔之二區段所定 義,一第一迴圈係置於該第一部份之第一區段,而一第 二迴圈係置於該第一部份之一第二區段。該第一迴圈係 通過該第一軸而連接於該第二迴圈; 其中,該第二加熱元件係以一對迴圈置於該第二部 份,而該第二部份係為一第二軸所分隔之二區段所定 義,一第一迴圈係置於該第二部份之第一區段,而一第 二迴圈係置於該第二部份之一第二區段。該第一迴圈係 通過該第二軸而連接於該第二迴圈,且該第一軸與第二 軸在該表面上一平面交叉形成一角度介於〇度至180 度。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項所述之加熱裝置, 其中該平台本體係實質為圓柱形,.其中點一對應於正 交該表面軸線,該平台區域包括一第一部份係以該轴線 為中心以一第一半徑加以定義而成,該區域一第二部份 則係以該軸線為中心以一第二半徑加以定義而成; 其中,在該平台區域之第一部份相對之區域,該第一 加熱元件之功率密度係大於該第二加熱元件之功率密 -43- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) .............餐.........,玎.........S (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ^0728 A8 B8 C8 D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 度,且大於該平台區域第二部份相對區域内第二加熱元 件之功率密度。 14·如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置,該平台之材質 在溫度超過7 5 0。(:時具有彈性3 15·如申請專利範圍第14項所述之加熱裝置,其中該平台 及該軸部係以氮化鋁製成。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項所述之加熱裝置,其中該平台 係包括氮化鋁且熱導性係在140 W/mK與200 W/mK 之間,而該軸部係為氮化鋁且熱導性係在60 W/mK與 100 W/mK 之間。 1 7 .如申請專利範圍第1項所述之加熱裝置,其中該區域係 用以支撐一晶圓包括一晶圓凹口係大致以60度至80度 角壓製於該平台之表面。 18·—種反應器,包括: 一腔室;以及 一電阻加熱器包括一平台,該平台係置於該腔室中並 包括一表面具有一區域係用以支撐晶圓,以及一本體, 一軸部係連接於該平台,一第一加熱元件係置於該平台 本體之一第一平面内,以及一第二加熱元件係置於該平 台本體之一第二平面内,該第二平面距離該平台之表面 較第一平面之距離為大, 其中在相對於平台區域之一第一部份區域該第一加熱 元件之功率密度係大於該第二加熱元件之功率密度,而 在相對於平台區域之第二部份區域該第一加熱元件之功 -44- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐) ..............費.........、可......... (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 t、申請專利範圍 率密度係小於該第二加熱元件之功率密度。 1 9 .如申請專利範圍第1 8項所述之反應器,其中該平台本 體係實質為圓柱形,其中點一對應於正交該表面軸線, 該第二平台區域距離該中點係大於該第一平台區域所距 離者。 20.如申請專利範圍第18項所述之反應器, 其中,該第一加熱元件係以一對迴圈置於該第一部 份,而該第一部份係為一第一軸所分隔之二區段所定 義,一第一迴圈係置於該第一部份之第一區段,而一第 二迴圈係置於該第一部份之一第二區段。該第一迴圈係 通過該第一軸而連接於該第二迴圈; 其中,該第二加熱元件係以一對迴圈置於該第二部 份’而該第二邵份係為一第二軸所分隔之二區段所定 義,一第一迴圈係置於該第二部份之第一區段,而一第 二迴圈係置於該第二部份之一第二區段。該第一迴圈係 通過該第二軸而連接於該第二迴圈,且該第一軸與第二 軸在該表面上一平面交叉形成一角度介於0度至180 度。 2 1 .如申請專利範圍第1 8項所述之反應器,進一步包括: 一第一溫度計係置於該軸部以量測一該平台之第一溫 度;以及 一第二溫度計係置於該平台第一部份或第二部份處用 以量測相對之第二溫度。 2 2 .如申請專利範圍第21項所述之反應器,其中該第一溫 -45- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ---·.-----------------訂---------1 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) I A8 B8 C8 ^ -----— 六 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 申請專利範圍 度計係為一熱偶。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 23. 如申請專利範圍第21項所述之反應器,其中該第二溫 度計係為一焰溫計。 24. 如申請專利範圍第23項所述之反應器,其中腔室包括 一頂表面,而該焰溫計係置於腔室頂面之一窗内。 •如申ΰ目專利範圍弟2 8項所遂之反應器’其中該轴部且 有一部份係設有一内開口通過該軸部,該反應器進_步 包括一電源通過該軸内之開口連接於該第一加熱元件以 #亥第二加熱元件。 2 6.如申請專利範圍第25項所述之反應器,進一步包括一 控制器係連接於該電源以控制該第一加熱元件及第二加 熱元件之溫度。 2 7 .如申請專利範圍第2 6項所述之反應器,其中該控制器 係fe制該第一加熱元件及第二加熱元件在正負3 °C範圍. 内。 28·如申請專利範圍第27項所述之反應器,其中該控制器 係至少連接於該第一溫度計與該第二溫度計。 2 9 ·如申請專利範圍第1 8項所述之反應器,該平台之材質 在溫度超過7 5 0 °C時具有彈性。 3 0 .如申請專利範圍第2 9項所述之反應器,其中該平台材 質係氮化銘,且熱導係數介於1 4 〇 W / m K與2 0 0 W / m K 之間。 3 1.如申請專利範圍第丨8項所述之反應器,其中該加熱器 之本體具有一底表面以及一部份為設有一開口貫通該本 -46- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21〇 x 297公釐) A8 B8 C8
    、申請專利範圍 體並實質正交於該表面,該反應器進一步包括: 一升降銷,其具有一第一端及第二端,該第一端係置 於孩貫通於加熱器本體之開口,而該第二端係在該加熱 器本體之底表面之下延仲; 一升降器組合連接於該軸部用以移動該加熱器於在反 應器内一第一位置與一第二位置之間;以及 升降板係連接於該升降器組合並具有一邵份係置於 遠腔室中,該置於腔室中之部份包含一表面沿垂直該軸 部之方向延伸,並實質平行於該平台本體之頂表面,藉 此’當該加熱器在第一位置時,該升降銷可接觸該升降 板。 3 2 ·如申請專利範圍第31項所述之反應器,其中該升降銷 材質在溫度超過7 5 0 °C時具有彈性。 33·如申請專利範圍第32項所述之反應器,其中該升降銷材 質係氮化鋁,且熱導係數介於14〇 W/mK與200 W/mK 之間。 3 4.如申請專利範圍第31項所述之反應器,其中’該升降銷 材貝係青石或氮化名吕。 35·如申請專利範圍第34項所述之反應器,其中貫通該本 體之開口具有一第一部份半徑為第一直徑用以支撐該升 降銷之頭部,以及一第二部份半徑為第二直徑係小於該 第一直徑。 36.如申請專利範圍第18項所述之反應器,其中用以支撐 晶圓之區域包括一晶圓凹口係大致以6 0度至8 〇度角壓 -47- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) % 訂---- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 t、申請專利範圍 製於該平台之表面。 3 7 . —種化學蒸鍍裝置中之加熱系統,包括: 一電阻加熱器包括一平台,該平台係置於該腔室中並 包括一表面具有一區域係用以支撐晶圓,以及一本體, 一軸部係連接於該平台,一第一加熱元件係置於該平台 本體之一第一平面内,以及一第二加熱元件係置於該平 台本體之一第二平面内,該第二平面距離該平台之表面 較第一平面之距離為大, 一第一溫度計係置於該軸部以量測一該平台之第一溫 度;以及 一電源連接於該第一加熱元件及該第二加熱元件。 3 8 .如申請專利範圍第3 7項所述之系統, 其中在相對於平台區域之第一部份區域該第一加熱元 件之功率密度係大於該第二加熱元件之功率密度,在相 對於平台區域之第二部份區域該第一加熱元件之功率密 度係小於該第二加熱元件之功率密度, 其中該平台本體係實質為圓柱形,其中點一對應於正 交該表面軸線,該平台區域包括一第一邵份係以該轴線 為中心以一第一半徑加以定義而成,該區域一第二部份 則係以該軸線為中心以一第二半徑加以定義而成。 3 9 ·如申請專利範圍第3 8項所述之系統, 其中,該第一加熱元件係以一對迴圈置於該第一邵 份,而該第一部份係為一第一軸所分隔之二區段所定 義,一第一迴圈係置於該第一部份之第一區段,而一第 -48- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Φ II---------## 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728 §___ 六、申請專利範圍 二迴圈係置於該第一部份之一第二區段。該第一迴圈係 通過該第一軸而連接於該第二迴圈; 其中,該第二加熱元件係以一對迴圈置於該第二部 份,而該第二部份係為一第二軸所分隔之二區段所定 義,一第一迴圈係置於該第二部份之第一區段,而一第 二迴圈係置於該第二部份之一第二區段。該第一迴圈係 通過該第二軸而連接於該第二迴圈,且該第一軸與第二 轴在遠表面上一平面交叉形成一角度介於0度至18〇 度。 40·如申請專利範圍第39項所述之系統,該第一軸與第二 軸在該表面上一平面交叉形成一角度至少為90度。 41. 如申請專利範圍第38項所述之系統,進一步包括一第 二溫度計係用以量測該平台第一部份或第二部份處相對 之第二溫度,而第三溫度計係用以量測該平台表面第一 部份及第二部份之其他區域之第三溫度。 42. 如申請專利範圍第38項所述之系統,其中該軸部具有 一部份係設有一内開口通過該軸部,該系統進—步包括 一電源通過該軸内之開口連接於該第一加熱元件以該第 二加熱元件。 43. 如申請專利範圍第38項所述之系統,進—步包括一控 制器係連接於該電源以控制該第—加熱元件及第二加^ 元件之溫度。 … 44. 如申請專利範圍第43項所述之系統,其中該控制器係 控制該第一加熱元件及第二加熱元件在正負25它範圍 -49- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) IΓ —Ϊ—丨——丨 -----^---------. (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 t、申請專利範圍 内。 4 5 .如申請專利範圍第4 4項所述之系統,其中該控制器係 至少連接於該第一溫度計、第二溫度計及第三溫度計中 之二者。 46. 如申請專利範圍第45項所述之系統,其中該第一溫度 計係為一熱偶,而該第二溫度計及第三溫度計係為一焰 溫計。 47. 如申請專利範圍第41項所述之系統,其中該第二溫度 計係置於該化學蒸鍍腔室中外表面的第一窗内,而該第 三溫度計係置該腔室中外表面的第二窗内。 48·如申請專利範圍第47項所述之系統,進一步包括一歧 管係連接於該腔室之内表面以使處理氣體分流至該腔室 中,該歧管置於該平台表面之上方,且其厚度約為該第 一窗或第二窗之一者寬度的三倍。 49 .如申請專利範圍第3 7項所述之系統,其中該加熱器之 本體具有一底表面以及一部份為設有一開口貫通該本體 並實質正交於該表面,該反應器進一步包括: 一升降銷,其具有一第一端及第二端,該第一端係置 於該貫通於加熱器本體之開口,而該第二端係在該加熱 器本體之底表面之下延伸; 一升降器組合連接於該軸部用以移動該加熱器於在反 應器内一第一位置與一第二位置之間;以及 一升降板係連接於該升降器組合並具有一部份係置於 該腔室中,該置於腔室中之部份包含一表面沿垂直該軸 -50- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) Γ!---------警------- —訂-------- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 490728 A8 B8 C8 --------—_- D! 六、申請專利範圍 部之方向延伸’並實質平行於該平台本體之頂表面,藉 此’當該加熱器在第-位置時,該升降銷可接觸該升降 板。 5〇·如申請專利範圍第49項所述之系統,其中貫通該本體 之開口具有一第一部份半徑為第一直徑用以支撐該升降 銷之頭部,以及n份半徑為第二直徑係小於該第 一直徑。 51 . —種控制溫度之方法,包括: 提供電源至一第一電阻加熱元件,其係置於一電阻加 熱器平台本體之第一平面中,以及至一第二電阻加熱元 件,其係置於該平台本體之第二平面中;以及 在平台上至少二區域内,改變至少第一電阻加熱元件 以及弟一電阻加熱元件之一之電阻值。 5 2·如申請專利範圍第51項所述之方法,其中在改變電阻 值之步驟中包括提供該電阻加熱元件,其具有至少一第 一電阻以及一第二電阻。 ^ 3·如申請專利範圍第51項所述之方法,其中在改變電阻 值之步驟中包括在平台上至少二區域内改變該第一加熱 元件之電阻以及弟二加熱元件之電阻。 5 4 ·如申凊專利範圍第51項所述之方法,其中該電阻加熱 器包括一平台,該平台包含一本體以及一表面具有一區 域用以支撐一晶圓,該第一加熱元件係設置於該平台本 體足一第一平面中,以及一第二加熱元件設置於該平台 本體之一第二平面中,該第二平面距離該表面係大於該 -51 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公爱) ..........f : (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) .訂- S 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 490728 A8 B8 C8 D8
    經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 第-加熱元件所距離者,改變電阻步驟進一步包括: 配合該第-加熱元件’提供—較大的功率密度於平台 之-區域’該區域係自-中點以第一半徑加以定義,而 -第二區域係以-較第—半徑為大之第二半徑自中點加 以定義,該第二區域之功率密度係小^該第-區域之功率密度,以及 配合該第二加熱元件,提供至第二區域之功率密度係 大於提供至第一區域之功率密度。 申請專利範圍第51項所述之方法,其中該電阻加熱 态包括一平台’該平台包含—表面具有一區域用以支撐 一晶圓,該方法進一步包括: 以調整提供至該電阻加熱元件之電力控制該平台表 之溫度。 56.如申請專利範圍第55項所述之方法,進一步包括: 至少以二溫度計量測溫度,第一溫度計係置於軸部 中自平台之底部延伸之,該第一溫度計係用以量測平 之一第一溫度值,而第二溫度計係置於平台之第一區 以及第二區域,該第一區域係以一中點及一第一半徑所 定義,而第二區域係以中點及一第二半徑所定義,用 量測第二溫度值;以及 比較第一溫度計及第二溫度計所量得溫度。 57·如申請專利範圍第項所述之方法,其中控制溫度 括控制該比較溫度在750t正負2.5°C範圍内。 58· 一種控制反應器内溫度之方法,包括: 面 之 台 域 以 包 -52-
    本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) .............费.........、訂.........毒 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 490728 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 t、申請專利範圍 提供一電阻加熱器於反應器之腔室之中,該電阻加熱器 包括一置於腔室中之平台,該平台具有一表面及平台, 該表面上具有一支撐晶圓之區域,以及一第一加熱元件 具有第一及第二功率密度,該第一加熱元件係設置於該 平台本體之第一平面,以及一第二加熱元件具第一及第 二功率密度,該第二加熱元件係設置於該平台本體之第 二平面,該第二平面距離該表面係大於該第一加熱元件 所距離者;以及 提供電力至該第一加熱元件及第二加熱元件。 5 9 .如申請專利範圍第5 8項所述之方法, 配合該第一加熱元件,提供一較大的功率密度於平台之 一區域,該區域係自一中點以第一半徑加以定義,而一 第二區域係以一較第一半徑為大之第二半徑自中點加以 定義,該第二區域之功率密度係小於該第一區域之功率 密度,以及 配合該第二加熱元件,提供至第二區域之功率密度係 大於提供至第一區域之功率密度。 60 .如申請專利範圍第5 8項所述之方法,進一步包括: 以調整提供至該電阻加熱元件之電力控制該平台表面之 溫度。 6 1 .如申請專利範圍第60項所述之方法,進一步包括: 至少以二溫度計量測溫度,第一溫度計係置於軸部之中 自平台之底部延伸之,該第一溫度計係用以量測平台之 一第一溫度值,而第二溫度計係置於平台之第一區域以 -53 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ·ϋ ϋ« n 1 n n ϋ I ϋ n n · n ·ϋ ·ϋ ϋ βϋ n 1 .『,J電 aw mm Mm I mm tw I I (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 490728 A8B8C8D8 t、申請專利範圍 及第二區域,該第一區域係以一中點及一第一半徑所定 義,而第二區域係以中點及一第二半徑所定義,用以量 測第二溫度值。 62·如申請專利範圍第60項所述之方法,控制溫度步騾進一 步包括控制平台的溫度,諸如第二溫度量測值與第三溫 度量測值在750°C正負3°C範圍以内。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) Φ 訂---- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -54- 本紙張泛度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
TW089109674A 1999-05-19 2000-05-19 Multi-zone resistive heater TW490728B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/314,845 US6423949B1 (en) 1999-05-19 1999-05-19 Multi-zone resistive heater

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW490728B true TW490728B (en) 2002-06-11

Family

ID=23221699

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW089109674A TW490728B (en) 1999-05-19 2000-05-19 Multi-zone resistive heater

Country Status (6)

Country Link
US (2) US6423949B1 (zh)
EP (1) EP1186005A1 (zh)
JP (2) JP3319593B1 (zh)
CN (1) CN101807515B (zh)
TW (1) TW490728B (zh)
WO (1) WO2000070658A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI579674B (zh) * 2011-05-20 2017-04-21 應用材料股份有限公司 用於控制在處理腔室中之多個區域加熱器之溫度之方法及裝置
TWI654712B (zh) 2012-04-27 2019-03-21 美商應用材料股份有限公司 用於具有多區加熱之基材支撐件的方法及設備

Families Citing this family (376)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6174377B1 (en) * 1997-03-03 2001-01-16 Genus, Inc. Processing chamber for atomic layer deposition processes
US20040099061A1 (en) * 1997-12-22 2004-05-27 Mks Instruments Pressure sensor for detecting small pressure differences and low pressures
US6423949B1 (en) * 1999-05-19 2002-07-23 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
US6617553B2 (en) * 1999-05-19 2003-09-09 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
US6500266B1 (en) * 2000-01-18 2002-12-31 Applied Materials, Inc. Heater temperature uniformity qualification tool
JP3567855B2 (ja) * 2000-01-20 2004-09-22 住友電気工業株式会社 半導体製造装置用ウェハ保持体
JP2001210596A (ja) * 2000-01-28 2001-08-03 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置の温度制御方法、半導体製造装置、および半導体デバイスの製造方法
US6582522B2 (en) * 2000-07-21 2003-06-24 Applied Materials, Inc. Emissivity-change-free pumping plate kit in a single wafer chamber
US6802906B2 (en) * 2000-07-21 2004-10-12 Applied Materials, Inc. Emissivity-change-free pumping plate kit in a single wafer chamber
US6666920B1 (en) * 2000-08-09 2003-12-23 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Gas collector for providing an even flow of gasses through a reaction chamber of an epitaxial reactor
US6716289B1 (en) * 2000-08-09 2004-04-06 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Rigid gas collector for providing an even flow of gasses
US6325855B1 (en) * 2000-08-09 2001-12-04 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Gas collector for epitaxial reactors
US6772640B1 (en) * 2000-10-10 2004-08-10 Mks Instruments, Inc. Multi-temperature heater for use with pressure transducers
KR100847367B1 (ko) * 2000-11-16 2008-07-21 맛선 테크놀러지, 인코포레이티드 열 프로세싱 시스템을 저항적으로 가열하는 장치 및 방법
CN101638765A (zh) * 2000-11-29 2010-02-03 萨莫希雷梅克斯公司 电阻加热器及其应用
FR2818676B1 (fr) * 2000-12-27 2003-03-07 Freyssinet Int Stup Procede de demontage d'un cable de precontrainte et dispositif pour la mise en oeuvre
US6997993B2 (en) * 2001-02-09 2006-02-14 Ngk Insulators, Ltd. Susceptor supporting construction
US6864466B2 (en) 2001-03-08 2005-03-08 Aviza Technology, Inc. System and method to control radial delta temperature
WO2002073660A2 (en) * 2001-03-08 2002-09-19 Asml Us, Inc. System and method to control radial delta temperature
US6942973B2 (en) * 2001-03-12 2005-09-13 Novozymes Biotech, Inc. Methods for isolating genes from microorganisms
US6902622B2 (en) * 2001-04-12 2005-06-07 Mattson Technology, Inc. Systems and methods for epitaxially depositing films on a semiconductor substrate
JP3856293B2 (ja) * 2001-10-17 2006-12-13 日本碍子株式会社 加熱装置
JP3798674B2 (ja) * 2001-10-29 2006-07-19 大日本スクリーン製造株式会社 熱処理装置および熱処理方法
JP3925702B2 (ja) * 2002-03-18 2007-06-06 日本碍子株式会社 セラミックヒーター
US20040016745A1 (en) * 2002-07-29 2004-01-29 Applied Materials, Inc. Method for achieving process uniformity by modifying thermal coupling between heater and substrate
US6906537B2 (en) * 2002-08-19 2005-06-14 Hamilton Sundstrand System for controlling the temperature of an aircraft airfoil component
KR100429296B1 (ko) * 2002-09-09 2004-04-29 한국전자통신연구원 반도체 소자 제조 장치 및 이를 이용한 반도체 소자 제조방법
US7704327B2 (en) * 2002-09-30 2010-04-27 Applied Materials, Inc. High temperature anneal with improved substrate support
US20040065656A1 (en) * 2002-10-04 2004-04-08 Makoto Inagawa Heated substrate support
US6891134B2 (en) * 2003-02-10 2005-05-10 Asml Netherlands B.V. Integrally formed bake plate unit for use in wafer fabrication system
JP2004296254A (ja) * 2003-03-27 2004-10-21 Sumitomo Electric Ind Ltd セラミックスヒータおよびそれを搭載した半導体あるいは液晶製造装置
US6993973B2 (en) * 2003-05-16 2006-02-07 Mks Instruments, Inc. Contaminant deposition control baffle for a capacitive pressure transducer
US20040250774A1 (en) * 2003-06-16 2004-12-16 Brent Elliot Wafer heater with protected heater element
DE10343280B4 (de) * 2003-09-18 2005-09-22 Atlas Material Testing Technology Gmbh Kontaktlose Messung der Oberflächentemperatur von natürlich oder künstlich bewitterten Proben
US20050194374A1 (en) * 2004-03-02 2005-09-08 Applied Materials, Inc. Heated ceramic substrate support with protective coating
US7132628B2 (en) * 2004-03-10 2006-11-07 Watlow Electric Manufacturing Company Variable watt density layered heater
JP2005285355A (ja) * 2004-03-26 2005-10-13 Ngk Insulators Ltd 加熱装置
US7697260B2 (en) * 2004-03-31 2010-04-13 Applied Materials, Inc. Detachable electrostatic chuck
US20050274324A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-15 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus and mounting unit thereof
JP2006005095A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Ngk Insulators Ltd 基板加熱装置とその製造方法
WO2006004045A1 (ja) 2004-07-05 2006-01-12 Tokyo Electron Limited 処理装置及びヒーターユニット
US7137301B2 (en) * 2004-10-07 2006-11-21 Mks Instruments, Inc. Method and apparatus for forming a reference pressure within a chamber of a capacitance sensor
JP2006140367A (ja) * 2004-11-15 2006-06-01 Sumitomo Electric Ind Ltd 半導体製造装置用加熱体およびこれを搭載した加熱装置
US7217670B2 (en) * 2004-11-22 2007-05-15 Asm International N.V. Dummy substrate for thermal reactor
US8858071B2 (en) * 2004-12-16 2014-10-14 C-Therm Technologies Ltd. Method and apparatus for monitoring materials
CN100576127C (zh) * 2004-12-27 2009-12-30 株式会社日立国际电气 温度调整方法、热处理设备以及半导体器件的制造方法
US7126092B2 (en) * 2005-01-13 2006-10-24 Watlow Electric Manufacturing Company Heater for wafer processing and methods of operating and manufacturing the same
US7275861B2 (en) * 2005-01-31 2007-10-02 Veeco Instruments Inc. Calibration wafer and method of calibrating in situ temperatures
US20080314320A1 (en) * 2005-02-04 2008-12-25 Component Re-Engineering Company, Inc. Chamber Mount for High Temperature Application of AIN Heaters
JP4845389B2 (ja) * 2005-02-25 2011-12-28 京セラ株式会社 ヒータ及びウェハ加熱装置
WO2006098443A1 (ja) * 2005-03-17 2006-09-21 Hamamatsu Photonics K.K. 顕微鏡画像撮像装置
JP4786925B2 (ja) * 2005-04-04 2011-10-05 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法および基板処理装置
DE102005036763B4 (de) * 2005-08-04 2007-07-26 Inheco Industrial Heating And Cooling Gmbh System aus mehreren Inkubatoren
US9892941B2 (en) * 2005-12-01 2018-02-13 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
US20070125762A1 (en) * 2005-12-01 2007-06-07 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
US20070169703A1 (en) * 2006-01-23 2007-07-26 Brent Elliot Advanced ceramic heater for substrate processing
US20090047216A1 (en) * 2006-01-26 2009-02-19 George Coukos Tumor vasculature markers and methods of use thereof
TWI354320B (en) 2006-02-21 2011-12-11 Nuflare Technology Inc Vopor phase deposition apparatus and support table
US20080063798A1 (en) * 2006-08-30 2008-03-13 Kher Shreyas S Precursors and hardware for cvd and ald
US7569815B2 (en) * 2006-10-23 2009-08-04 Agilent Technologies, Inc. GC mass spectrometry interface and method
US8168926B2 (en) * 2007-03-26 2012-05-01 Ngk Insulators, Ltd. Heating device
US8294069B2 (en) * 2007-03-28 2012-10-23 Ngk Insulators, Ltd. Heating device for heating a wafer
US8198567B2 (en) 2008-01-15 2012-06-12 Applied Materials, Inc. High temperature vacuum chuck assembly
US8193473B2 (en) * 2008-02-08 2012-06-05 Ngk Insulators, Ltd. Uniform temperature heater
US20090314208A1 (en) * 2008-06-24 2009-12-24 Applied Materials, Inc. Pedestal heater for low temperature pecvd application
JP5280964B2 (ja) * 2008-09-04 2013-09-04 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、基板処理装置、成膜方法及び記憶媒体
US8425977B2 (en) * 2008-09-29 2013-04-23 Applied Materials, Inc. Substrate processing chamber with off-center gas delivery funnel
US20100177454A1 (en) * 2009-01-09 2010-07-15 Component Re-Engineering Company, Inc. Electrostatic chuck with dielectric inserts
US20100227059A1 (en) * 2009-03-04 2010-09-09 Tokyo Electron Limited Film deposition apparatus, film deposition method, and computer readable storage medium
US20100240224A1 (en) * 2009-03-20 2010-09-23 Taiwan Semiconductor Manufactruing Co., Ltd. Multi-zone semiconductor furnace
US8536491B2 (en) * 2009-03-24 2013-09-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Rotatable and tunable heaters for semiconductor furnace
US9394608B2 (en) 2009-04-06 2016-07-19 Asm America, Inc. Semiconductor processing reactor and components thereof
US8802201B2 (en) 2009-08-14 2014-08-12 Asm America, Inc. Systems and methods for thin-film deposition of metal oxides using excited nitrogen-oxygen species
US20110185969A1 (en) * 2009-08-21 2011-08-04 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Dual heating for precise wafer temperature control
US20110073039A1 (en) * 2009-09-28 2011-03-31 Ron Colvin Semiconductor deposition system and method
US10138551B2 (en) 2010-07-29 2018-11-27 GES Associates LLC Substrate processing apparatuses and systems
JP5309370B2 (ja) * 2011-02-21 2013-10-09 シー・サーム テクノロジーズ リミテッド 材料をモニタする方法及び装置
US9312155B2 (en) 2011-06-06 2016-04-12 Asm Japan K.K. High-throughput semiconductor-processing apparatus equipped with multiple dual-chamber modules
US10854498B2 (en) 2011-07-15 2020-12-01 Asm Ip Holding B.V. Wafer-supporting device and method for producing same
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US9017481B1 (en) 2011-10-28 2015-04-28 Asm America, Inc. Process feed management for semiconductor substrate processing
CN103858214B (zh) 2011-11-03 2017-02-22 应用材料公司 快速热处理腔室
EP2609821A1 (en) * 2011-12-30 2013-07-03 Philip Morris Products S.A. Method and apparatus for cleaning a heating element of aerosol-generating device
JP5973731B2 (ja) * 2012-01-13 2016-08-23 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置及びヒータの温度制御方法
JP5807032B2 (ja) * 2012-03-21 2015-11-10 日本碍子株式会社 加熱装置及び半導体製造装置
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
US10177014B2 (en) * 2012-12-14 2019-01-08 Applied Materials, Inc. Thermal radiation barrier for substrate processing chamber components
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
CN104131268B (zh) * 2013-05-03 2017-02-08 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 分区域加热方法、装置和半导体设备
US20150060527A1 (en) * 2013-08-29 2015-03-05 Weihua Tang Non-uniform heater for reduced temperature gradient during thermal compression bonding
CN104617008A (zh) * 2013-11-01 2015-05-13 沈阳芯源微电子设备有限公司 晶圆加热装置
US10683571B2 (en) 2014-02-25 2020-06-16 Asm Ip Holding B.V. Gas supply manifold and method of supplying gases to chamber using same
US10167557B2 (en) 2014-03-18 2019-01-01 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system, reactor including the system, and methods of using the same
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US9698041B2 (en) 2014-06-09 2017-07-04 Applied Materials, Inc. Substrate temperature control apparatus including optical fiber heating, substrate temperature control systems, electronic device processing systems, and methods
CN106471609B (zh) 2014-07-02 2019-10-15 应用材料公司 用于使用嵌入光纤光学器件及环氧树脂光学散射器的基板温度控制的装置、系统与方法
US10858737B2 (en) 2014-07-28 2020-12-08 Asm Ip Holding B.V. Showerhead assembly and components thereof
US9890456B2 (en) 2014-08-21 2018-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method and system for in situ formation of gas-phase compounds
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10266414B2 (en) * 2015-06-16 2019-04-23 Hemlock Semiconductor Operations Llc Susceptor arrangement for a reactor and method of heating a process gas for a reactor
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10600673B2 (en) 2015-07-07 2020-03-24 Asm Ip Holding B.V. Magnetic susceptor to baseplate seal
HK1212853A2 (zh) * 2015-08-10 2016-06-17 Shirhao Ltd 回收液體物質的裝置和方法
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US20170140956A1 (en) * 2015-11-13 2017-05-18 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Single Piece Ceramic Platen
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
CN108432342B (zh) * 2015-12-31 2022-09-16 应用材料公司 用于处理腔室的高温加热器
US20170211185A1 (en) * 2016-01-22 2017-07-27 Applied Materials, Inc. Ceramic showerhead with embedded conductive layers
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
JP2017188262A (ja) * 2016-04-04 2017-10-12 日本特殊陶業株式会社 セラミックスヒータ
US10973088B2 (en) 2016-04-18 2021-04-06 Applied Materials, Inc. Optically heated substrate support assembly with removable optical fibers
US10865475B2 (en) 2016-04-21 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides and silicides
US10190213B2 (en) 2016-04-21 2019-01-29 Asm Ip Holding B.V. Deposition of metal borides
US10032628B2 (en) 2016-05-02 2018-07-24 Asm Ip Holding B.V. Source/drain performance through conformal solid state doping
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
JP6611666B2 (ja) * 2016-05-16 2019-11-27 東京エレクトロン株式会社 載置台システム、基板処理装置及び温度制御方法
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10714385B2 (en) 2016-07-19 2020-07-14 Asm Ip Holding B.V. Selective deposition of tungsten
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
CN108028220B (zh) * 2016-08-10 2022-02-25 日本碍子株式会社 陶瓷加热器
JP6767833B2 (ja) * 2016-09-29 2020-10-14 日本特殊陶業株式会社 加熱装置
KR102613805B1 (ko) * 2016-10-12 2023-12-15 주성엔지니어링(주) 기판 처리장치에 구비되는 기판안착부
US10643826B2 (en) 2016-10-26 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for thermally calibrating reaction chambers
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10229833B2 (en) 2016-11-01 2019-03-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
US10643904B2 (en) 2016-11-01 2020-05-05 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a semiconductor device and related semiconductor device structures
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR20180068582A (ko) 2016-12-14 2018-06-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
KR20180070971A (ko) 2016-12-19 2018-06-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US10867788B2 (en) 2016-12-28 2020-12-15 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US11979965B2 (en) * 2017-01-10 2024-05-07 King Abdullah University Of Science And Technology Susceptors for induction heating with thermal uniformity
US10655221B2 (en) 2017-02-09 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing oxide film by thermal ALD and PEALD
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10763141B2 (en) * 2017-03-17 2020-09-01 Applied Materials, Inc. Non-contact temperature calibration tool for a substrate support and method of using the same
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
KR102457289B1 (ko) 2017-04-25 2022-10-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
US10892156B2 (en) 2017-05-08 2021-01-12 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
JP2020520129A (ja) 2017-05-10 2020-07-02 マクマホン, シェーン トマスMCMAHON, Shane Thomas 薄膜結晶化プロセス
US10147610B1 (en) 2017-05-30 2018-12-04 Lam Research Corporation Substrate pedestal module including metallized ceramic tubes for RF and gas delivery
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
US10685834B2 (en) 2017-07-05 2020-06-16 Asm Ip Holdings B.V. Methods for forming a silicon germanium tin layer and related semiconductor device structures
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US10249524B2 (en) 2017-08-09 2019-04-02 Asm Ip Holding B.V. Cassette holder assembly for a substrate cassette and holding member for use in such assembly
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
USD900036S1 (en) 2017-08-24 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Heater electrical connector and adapter
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
KR102401446B1 (ko) 2017-08-31 2022-05-24 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR102630301B1 (ko) 2017-09-21 2024-01-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 침투성 재료의 순차 침투 합성 방법 처리 및 이를 이용하여 형성된 구조물 및 장치
US10844484B2 (en) 2017-09-22 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US10319588B2 (en) 2017-10-10 2019-06-11 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a metal chalcogenide on a substrate by cyclical deposition
US10923344B2 (en) 2017-10-30 2021-02-16 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a semiconductor structure and related semiconductor structures
KR102443047B1 (ko) 2017-11-16 2022-09-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US10910262B2 (en) 2017-11-16 2021-02-02 Asm Ip Holding B.V. Method of selectively depositing a capping layer structure on a semiconductor device structure
US11018048B2 (en) 2017-11-21 2021-05-25 Watlow Electric Manufacturing Company Ceramic pedestal having atomic protective layer
WO2019104048A1 (en) 2017-11-21 2019-05-31 Watlow Electric Manufacturing Company Multi-zone pedestal heater having a routing layer
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
JP7206265B2 (ja) 2017-11-27 2023-01-17 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. クリーン・ミニエンバイロメントを備える装置
TWI779134B (zh) 2017-11-27 2022-10-01 荷蘭商Asm智慧財產控股私人有限公司 用於儲存晶圓匣的儲存裝置及批爐總成
CN108281367B (zh) * 2018-01-11 2021-05-04 合肥微睿光电科技有限公司 提高基板温度均匀度的基座
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
CN111630203A (zh) 2018-01-19 2020-09-04 Asm Ip私人控股有限公司 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法
TWI799494B (zh) 2018-01-19 2023-04-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
USD903477S1 (en) 2018-01-24 2020-12-01 Asm Ip Holdings B.V. Metal clamp
US11018047B2 (en) * 2018-01-25 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Hybrid lift pin
USD880437S1 (en) 2018-02-01 2020-04-07 Asm Ip Holding B.V. Gas supply plate for semiconductor manufacturing apparatus
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
KR102657269B1 (ko) 2018-02-14 2024-04-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 주기적 증착 공정에 의해 기판 상에 루테늄-함유 막을 증착하는 방법
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10731249B2 (en) 2018-02-15 2020-08-04 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a transition metal containing film on a substrate by a cyclical deposition process, a method for supplying a transition metal halide compound to a reaction chamber, and related vapor deposition apparatus
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10658181B2 (en) 2018-02-20 2020-05-19 Asm Ip Holding B.V. Method of spacer-defined direct patterning in semiconductor fabrication
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) * 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
WO2019186666A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 日本たばこ産業株式会社 エアロゾル生成装置及び制御方法並びにプログラム
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102501472B1 (ko) 2018-03-30 2023-02-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
CN108682635B (zh) * 2018-05-03 2021-08-06 拓荆科技股份有限公司 具有加热机制的晶圆座及包含该晶圆座的反应腔体
KR20190128558A (ko) 2018-05-08 2019-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 산화물 막을 주기적 증착 공정에 의해 증착하기 위한 방법 및 관련 소자 구조
US12025484B2 (en) 2018-05-08 2024-07-02 Asm Ip Holding B.V. Thin film forming method
KR20190129718A (ko) 2018-05-11 2019-11-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 피도핑 금속 탄화물 막을 형성하는 방법 및 관련 반도체 소자 구조
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11270899B2 (en) 2018-06-04 2022-03-08 Asm Ip Holding B.V. Wafer handling chamber with moisture reduction
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
WO2020003000A1 (en) 2018-06-27 2020-01-02 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
TWI819010B (zh) 2018-06-27 2023-10-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於形成含金屬材料及包含含金屬材料的膜及結構之循環沉積方法
TWI751420B (zh) 2018-06-29 2022-01-01 荷蘭商Asm知識產權私人控股有限公司 薄膜沉積方法
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
JP7456951B2 (ja) * 2018-07-05 2024-03-27 ラム リサーチ コーポレーション 基板処理システムにおける基板支持体の動的温度制御
US10767789B2 (en) 2018-07-16 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Diaphragm valves, valve components, and methods for forming valve components
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US10883175B2 (en) 2018-08-09 2021-01-05 Asm Ip Holding B.V. Vertical furnace for processing substrates and a liner for use therein
US10829852B2 (en) 2018-08-16 2020-11-10 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution device for a wafer processing apparatus
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
KR20200030162A (ko) 2018-09-11 2020-03-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
US10998205B2 (en) * 2018-09-14 2021-05-04 Kokusai Electric Corporation Substrate processing apparatus and manufacturing method of semiconductor device
CN110970344A (zh) 2018-10-01 2020-04-07 Asm Ip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
US10847365B2 (en) 2018-10-11 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Method of forming conformal silicon carbide film by cyclic CVD
US10811256B2 (en) 2018-10-16 2020-10-20 Asm Ip Holding B.V. Method for etching a carbon-containing feature
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR20200051105A (ko) 2018-11-02 2020-05-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
CN111199902B (zh) 2018-11-19 2023-02-24 拓荆科技股份有限公司 热隔离之晶圆支撑装置及其制造方法
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
JP7504584B2 (ja) 2018-12-14 2024-06-24 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム
TWI819180B (zh) 2019-01-17 2023-10-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR20200091543A (ko) 2019-01-22 2020-07-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
US11482533B2 (en) 2019-02-20 2022-10-25 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and methods for plug fill deposition in 3-D NAND applications
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
JP2020136678A (ja) 2019-02-20 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための方法および装置
JP7509548B2 (ja) 2019-02-20 2024-07-02 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材表面内に形成された凹部を充填するための周期的堆積方法および装置
JP2020133004A (ja) 2019-02-22 2020-08-31 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 基材を処理するための基材処理装置および方法
KR20200108248A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108243A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
KR20210129247A (ko) * 2019-03-15 2021-10-27 램 리써치 코포레이션 멀티-존 기판 지지부들의 온도 천이들 (temperature transients) 을 조절함으로써 임계 치수 불균일의 신속 튜닝
JP2020167398A (ja) 2019-03-28 2020-10-08 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
KR20200123380A (ko) 2019-04-19 2020-10-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 층 형성 방법 및 장치
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP2020188255A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
JP2020188254A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141002A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배기 가스 분석을 포함한 기상 반응기 시스템을 사용하는 방법
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR20220031913A (ko) * 2019-07-01 2022-03-14 쿠어스 테크, 인코포레이티드 부식 방지층을 가진 다중 구역 실리콘 질화물의 웨이퍼 히터 어셈블리 및 이것의 제조 및 사용 방법
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP7499079B2 (ja) 2019-07-09 2024-06-13 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
TWI839544B (zh) 2019-07-19 2024-04-21 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成形貌受控的非晶碳聚合物膜之方法
TW202113936A (zh) 2019-07-29 2021-04-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於利用n型摻雜物及/或替代摻雜物選擇性沉積以達成高摻雜物併入之方法
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
KR20210018759A (ko) 2019-08-05 2021-02-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR20210029663A (ko) 2019-09-05 2021-03-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
KR20210042810A (ko) 2019-10-08 2021-04-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 활성 종을 이용하기 위한 가스 분배 어셈블리를 포함한 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
CN112635282A (zh) 2019-10-08 2021-04-09 Asm Ip私人控股有限公司 具有连接板的基板处理装置、基板处理方法
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
US12009241B2 (en) 2019-10-14 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly with detector to detect cassette
TWI834919B (zh) 2019-10-16 2024-03-11 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氧化矽之拓撲選擇性膜形成之方法
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
KR20210050453A (ko) 2019-10-25 2021-05-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 표면 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11450529B2 (en) 2019-11-26 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively forming a target film on a substrate comprising a first dielectric surface and a second metallic surface
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP2021090042A (ja) 2019-12-02 2021-06-10 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN112992667A (zh) 2019-12-17 2021-06-18 Asm Ip私人控股有限公司 形成氮化钒层的方法和包括氮化钒层的结构
US11527403B2 (en) 2019-12-19 2022-12-13 Asm Ip Holding B.V. Methods for filling a gap feature on a substrate surface and related semiconductor structures
TW202140135A (zh) 2020-01-06 2021-11-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 氣體供應總成以及閥板總成
US11993847B2 (en) 2020-01-08 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Injector
KR102675856B1 (ko) 2020-01-20 2024-06-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TW202130846A (zh) 2020-02-03 2021-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成包括釩或銦層的結構之方法
KR20210100010A (ko) 2020-02-04 2021-08-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 대형 물품의 투과율 측정을 위한 방법 및 장치
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
TW202146715A (zh) 2020-02-17 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於生長磷摻雜矽層之方法及其系統
TW202203344A (zh) 2020-02-28 2022-01-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 專用於零件清潔的系統
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
KR20210116249A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 록아웃 태그아웃 어셈블리 및 시스템 그리고 이의 사용 방법
CN113394086A (zh) 2020-03-12 2021-09-14 Asm Ip私人控股有限公司 用于制造具有目标拓扑轮廓的层结构的方法
DE102020107552A1 (de) 2020-03-19 2021-09-23 AIXTRON Ltd. Heizvorrichtung für einen Suszeptor eines CVD-Reaktors
KR20210124042A (ko) 2020-04-02 2021-10-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
US11996289B2 (en) 2020-04-16 2024-05-28 Asm Ip Holding B.V. Methods of forming structures including silicon germanium and silicon layers, devices formed using the methods, and systems for performing the methods
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
TW202140831A (zh) 2020-04-24 2021-11-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含氮化釩層及包含該層的結構之方法
TW202146831A (zh) 2020-04-24 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 垂直批式熔爐總成、及用於冷卻垂直批式熔爐之方法
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
TW202147383A (zh) 2020-05-19 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TW202200837A (zh) 2020-05-22 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基材上形成薄膜之反應系統
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TW202217953A (zh) 2020-06-30 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
KR20220006455A (ko) 2020-07-08 2022-01-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법
TW202219628A (zh) 2020-07-17 2022-05-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於光微影之結構與方法
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
KR20220027026A (ko) 2020-08-26 2022-03-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 금속 실리콘 산화물 및 금속 실리콘 산질화물 층을 형성하기 위한 방법 및 시스템
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
US12009224B2 (en) 2020-09-29 2024-06-11 Asm Ip Holding B.V. Apparatus and method for etching metal nitrides
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
TW202217037A (zh) 2020-10-22 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 沉積釩金屬的方法、結構、裝置及沉積總成
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202235649A (zh) 2020-11-24 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充間隙之方法與相關之系統及裝置
KR20220076343A (ko) 2020-11-30 2022-06-08 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치의 반응 챔버 내에 배열되도록 구성된 인젝터
CN112647062B (zh) * 2020-12-11 2021-07-27 无锡邑文电子科技有限公司 一种碳化硅cvd工艺腔体装置及使用方法
CN114639631A (zh) 2020-12-16 2022-06-17 Asm Ip私人控股有限公司 跳动和摆动测量固定装置
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD1023959S1 (en) 2021-05-11 2024-04-23 Asm Ip Holding B.V. Electrode for substrate processing apparatus
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2387460A (en) * 1941-02-24 1945-10-23 Proctor & Schwartz Inc Electrical cooking apparatus
US2640906A (en) * 1949-06-02 1953-06-02 Clyde H Haynes Electrical heating device
JPS55126989A (en) * 1979-03-24 1980-10-01 Kyoto Ceramic Ceramic heater
US5225663A (en) * 1988-06-15 1993-07-06 Tel Kyushu Limited Heat process device
JPH0380530A (ja) * 1989-05-26 1991-04-05 Toshiba Corp ヒータおよびそれを用いた気相成長装置
JP2794219B2 (ja) * 1990-07-19 1998-09-03 栃木電子工業株式会社 ゴルフ場芝面の地下構造
JP2939822B2 (ja) * 1990-07-20 1999-08-25 日本酸素株式会社 真空用ヒーター
JPH04324276A (ja) * 1991-04-24 1992-11-13 Kawasaki Steel Corp AlNセラミックヒータ及びその製造方法
JPH05326112A (ja) * 1992-05-21 1993-12-10 Shin Etsu Chem Co Ltd 複層セラミックスヒーター
US5476548A (en) * 1994-06-20 1995-12-19 Applied Materials, Inc. Reducing backside deposition in a substrate processing apparatus through the use of a shadow ring
TW275132B (en) * 1994-08-31 1996-05-01 Tokyo Electron Co Ltd Treatment apparatus
JP3215591B2 (ja) * 1995-02-10 2001-10-09 東京エレクトロン株式会社 ガス処理装置
TW444922U (en) * 1994-09-29 2001-07-01 Tokyo Electron Ltd Heating device and the processing device using the same
JP2901536B2 (ja) * 1996-02-28 1999-06-07 山形日本電気株式会社 サセプタ
US5844205A (en) * 1996-04-19 1998-12-01 Applied Komatsu Technology, Inc. Heated substrate support structure
JP3477062B2 (ja) * 1997-12-26 2003-12-10 京セラ株式会社 ウエハ加熱装置
JP3779057B2 (ja) * 1998-02-05 2006-05-24 株式会社小松製作所 ゾーン分割ヒータの温度制御装置
KR100404778B1 (ko) * 1998-10-29 2003-11-07 동경 엘렉트론 주식회사 진공 처리 장치
KR20010101716A (ko) * 1999-01-29 2001-11-14 히가시 데쓰로 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 방법
US6469283B1 (en) * 1999-03-04 2002-10-22 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for reducing thermal gradients within a substrate support
US6423949B1 (en) * 1999-05-19 2002-07-23 Applied Materials, Inc. Multi-zone resistive heater
JP2001102157A (ja) 1999-10-01 2001-04-13 Ngk Insulators Ltd セラミックスヒータ
JP3615694B2 (ja) * 2000-08-08 2005-02-02 京セラ株式会社 ウェハ加熱部材及びこれを用いたウェハの均熱化方法
JP4328003B2 (ja) * 2000-10-19 2009-09-09 日本碍子株式会社 セラミックヒーター

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI579674B (zh) * 2011-05-20 2017-04-21 應用材料股份有限公司 用於控制在處理腔室中之多個區域加熱器之溫度之方法及裝置
TWI654712B (zh) 2012-04-27 2019-03-21 美商應用材料股份有限公司 用於具有多區加熱之基材支撐件的方法及設備

Also Published As

Publication number Publication date
CN101807515A (zh) 2010-08-18
US6423949B1 (en) 2002-07-23
WO2000070658A9 (en) 2002-07-04
US6646235B2 (en) 2003-11-11
US20020125239A1 (en) 2002-09-12
JP2003059848A (ja) 2003-02-28
JP3319593B1 (ja) 2002-09-03
JP2003500827A (ja) 2003-01-07
CN101807515B (zh) 2014-04-02
WO2000070658A1 (en) 2000-11-23
EP1186005A1 (en) 2002-03-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW490728B (en) Multi-zone resistive heater
US6617553B2 (en) Multi-zone resistive heater
JP2619862B2 (ja) プラズマ増強化学蒸着のためのプラズマ装置
US7952049B2 (en) Method for multi-step temperature control of a substrate
US6949722B2 (en) Method and apparatus for active temperature control of susceptors
US7838800B2 (en) Temperature controlled substrate holder having erosion resistant insulating layer for a substrate processing system
US8207476B2 (en) Temperature controlled substrate holder with non-uniform insulation layer for a substrate processing system
US8084720B2 (en) High rate method for stable temperature control of a substrate
KR100260119B1 (ko) 반도체 처리장치
TWI415213B (zh) 高溫靜電夾盤及其使用方法
JP5100372B2 (ja) 基材を処理するための加工システムおよび方法
JPS6233774A (ja) プラズマ増強化学蒸着のためのプラズマ装置
US6329643B1 (en) Method of temperature-calibrating heat treating apparatus
TWI259527B (en) Processing system and method for treating a substrate
TWI278528B (en) Reduced maintenance chemical oxide removal (COR) processing system
JP2004119707A (ja) 半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent
MK4A Expiration of patent term of an invention patent