TW201005749A - Address multiplexing in pseudo-dual port memory - Google Patents

Address multiplexing in pseudo-dual port memory Download PDF

Info

Publication number
TW201005749A
TW201005749A TW098107770A TW98107770A TW201005749A TW 201005749 A TW201005749 A TW 201005749A TW 098107770 A TW098107770 A TW 098107770A TW 98107770 A TW98107770 A TW 98107770A TW 201005749 A TW201005749 A TW 201005749A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
address
write
read
memory
virtual
Prior art date
Application number
TW098107770A
Other languages
English (en)
Inventor
Changho Jung
Cheng Zhong
Original Assignee
Qualcomm Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qualcomm Inc filed Critical Qualcomm Inc
Publication of TW201005749A publication Critical patent/TW201005749A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/16Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1078Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

201005749 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本揭示案大體係關於記憶體電路。更具體言之,本揭示 案係關於對虛擬雙槔記憶體之位址控制。 【先前技術】 雙琿記憶體通常具有兩個埠及一陣列記憶體單元。可自 兩個埠同時存取該記憶體陣列,其限制條件為正自—埠存 取之δ己憶體單元並非正自另一埠存取的同一記憶體單元。 • 在此等雙埠記憶體令使用的普通類型之記憶體單元包含八 個場效電晶體(FET)。 在一單一埠記憶體中之記憶體單元通常僅包括六個電晶 體。當六電晶體記憶體單元及八電晶體單元使用相同製程 製造時,六電晶體記憶體單元通常僅消耗八電晶體單元之 約一半的積體電路面積。然而,許多應用需要雙埠記憶體 (亦即,能夠在一單一時脈循環内處理讀取操作及寫入操 • 作兩者之記憶體)之功能性。 為了利用六電晶體記憶體單元之較小尺寸,同時仍滿足 需要,雙蟑記憶體功能性之彼等應用,常常使用稱為虛擬雙 埠Α憶體之記憶體裝置。在一實例中,虛擬雙埠記憶體具 有單一記憶體陣列,其中該陣列之每一記憶體單元為可選 擇性地耦接至一單一對位元線(例如,位元線B及位元線條 BN)之六電晶體記憶體單元。 。己ft體陣列作為單一埠記憶體操作,其中一次僅執行一 s己憶體存取。然而,虛擬雙埠記憶體模仿雙珲記憶體,其 138805.doc 201005749 中其具有兩個痒。在—實例令,益擬雙谭記憶體具有有時 稱為時間延遲多工器(TDM)之電路。在虛擬雙埠記憶體處 接收單輸入%脈k號,且此單一輸入時脈信號用以鎖存 輸入讀取位址、-輸人寫人位址及―輸人資料值。輸人 時脈t號之上升邊緣用以使用該輸入讀取位址起始讀取操 作70成讀取操作。其後,輸入時脈信號之下降邊緣出 現。TDM使用輸人時脈信號之下降邊緣起始寫人操作。輸 入寫入位址用以在寫入操作期間定址記憶體陣列,且寫入 至,憶體陣列的資料為輸入資料值。儘管在輸入時脈信號 之單一循環中執行兩個記憶體操作,但實際上 操作-個接-個地執行。然而,自虛擬雙璋記憶體外部, 虛擬雙琿記憶體顯得允許記憶體陣列之同時或大體上同時 (亦即,在單一時脈循環内)的兩次存取。 執行第一讀取記憶體操作所需t時間量可不等於執行第 二寫入記憶體操作所需之時間量。使用習知⑸财法使热 ,記憶體存取時間變慢,因為可用於兩個操作的相對時間 量由當出現時脈循環之上升邊緣的時間及當出現時脈循環 之下降邊緣的時間判I舉例^ ’若時脈信號在時脈循 %中低的時間與其高的時間一樣長(亦即,時脈信號具有 50/50工作循環),則必須允許相同時間量用於執行較㈣ 取操作及贿冑人操作❺者。結㈣在 $ pa ρ,,. 凡成δ賈取操作後 開始且在犄脈信號之下降邊緣時結束的浪費時間 【發明内容】 根據本揭示案之一實施例 一種虛擬雙埠 記憶體位址多 138805.doc 201005749 =::=r:r、-寫入埠™、 應"部時脈信二鎖:器可操作㈣ 存可操作以回應於該外部時 二=址:: 控制電路基於—第 口持寫入位址。该 記憶體存取。該多工器;、<皿控而控制讀取/寫入 號在-經固持之,取Γ 自該控制電路之-切換信 換。 4取位址與一經固持之寫入位址之間切
在本發明之另—皆A 一 中,一種方法控制一位址信號至 / 施加。該方法包㈣測讀取請求及寫入請求。 無:寫人請求之情況下回應於—讀取請求,該方法包括 見一讀取位址供應至—記憶體組件。在無-讀取請求之情 况下回應於-寫人請求,該方法包括將—寫人位址供應至 該記憶體組件。 回應於待在―單-時脈循環期間執行的-讀取請求及一 寫入喷求,该方法包括將該讀取位址供應至該記憶體組 :。基於一讀取操作之監控,該方法進一步包括判定在該 單時脈循核内一將該寫入位址供應至該記憶體組件之時 間及方法亦包括在該讀取位址與該寫入位址之間切換以 在該經判定之命間處將該寫入位址供應至該記憶體組件。 所揭不之實施例的一優勢在於,在不影響讀取存取時間 的情況下在虛擬雙埠記憶體中提供位址多工。此外,以最 小面積及效能損失來執行多工。 則述内容已相當廣泛地概述特徵及技術優勢以便可更好 138805.doc 201005749 地理解下文的[實施方式]。下文將描述形成申請專利範圍 之主體的額外特徵及優勢。熟習此項技術者應瞭解,所揭 示之概念及具體實施例可易於用作修改或設計用於執行本 發明之同樣目的之其他結構之基礎。熟習此項技術者亦應 認識到,此等均等構造並不脫離如隨附申請專利範圍所闡 明之本發明之精神及範疇。當結合附圖考慮時,自以下描 述將更好地理解咸信為本發明所特有之新穎特徵(關於其 組織及操作方法兩者)以及其他目的及優勢。然而應明禮 理解,僅為說明及描述之目的而提供各圖,且並不意欲作 為本發明之限制的定義。 【實施方式】 .為了更几整理解本揭示案,現結合隨附圖式參看以下描 固1马根據一實施例 久又,干%,丨思菔一起使用及 或用作虛擬雙琿記憶體之部分的位址多工系統10之一“ =2。儘管外部地提供兩料,但纽料記憶體内告 個4°因此,當在-輸人時脈循環(亦即 間執==統時脈循環的在系統外部之時脈循賴 菸明 ¥乍及寫入操作兩者時,需要-位址切換。4 針對以最小效能及面積損失為雙 片及/或在錢料設計中提供位址h。 又蟑。, 根據本發明之實施例, — 當請求時,首先執行h U㈣操作,且 間。當待在單-時= ,從而引起快速讀取存取時 寺脈循環期間執行讀取操作及寫入操作兩 138805.doc 201005749 者時在讀取操作完成(或大體上完成)後立即使用内部儲 存=鎖存之寫入位址執行窝入操作。儘管讀取操作之完成 常书由有效外部讀取輸出界^,但本揭示案不需要此條 「 i而Q 虛5又位元線之成熟為可指示讀取操作之 「完成」的一可能事件。 . 在位址多工系統10中,將讀取位址儲存於鎖存器101 中,而將寫入位址儲存於鎖存器1〇2中。在一實施例中, φ 5己憶體為靜態隨機存取記憶體(SRAM)。 多工器104操作以„性地將一讀取位址及/或一寫入位 址提供至-預解碼器1〇6。多工器1〇4之操作係回應於任一 先前讀取操作。在控制單元1〇3内,例如,自我時間追縱 電路105可用以偵測讀取完成以使多工器1〇4切換且將寫入 位址供應至預解碼器106。若需要讀取操作及寫入操作兩 者,則大體上緊接在讀取操作之完成後執行寫入操作。使 用熟知方法(諸如,追蹤虛設位元線)使監㈣取操作發生 • 以判定讀取操作完成(或大體上完成)之時間。 /卜部系統時脈CLK作用邊緣(上升/下降)可用以經由控制 單元103觸發内部時脈信號ICLK之起始。再者,回應於外 .冑系統時脈CLK作用邊緣’控制單元1〇3產生讀取鎖存信 號ACLK及寫入鎖存信號BCLK兩者以大體上同時鎖存各: 讀取位址及寫入位址(在當待在同一外部時脈循環期間執 打讀取操作及寫入操作兩者時之彼等狀況下)。將寫入位 址切換信號WCLK维持於一第一(例如,低)狀態中’,使多 工器104將讀取位址提供至位址匯流排(例如,預解碼器 138805.doc 201005749 =成::解碼器、字線等),在該時間期間,記憶體開始 且70成内部讀取循環。 體上完Μ轉料,由自我時間追縱電路 重設内部時脈信號ICLK,以便釋放讀取痒位址鎖 子。β而使讀取埠位址鎖存器101能夠接收新的讀取 址’同時由寫入埠位址鎖存器102保持鎖存先前接收之 :入㈣。再者,在已判定讀取操作完成(或大體上完幻 :,位址切換信號WCLK切換狀態(例如,轉至高),且儲 存於寫入蟑位址鎖存器102中之寫入位址由多工器刚切換 至預解碼器106中以等待下一寫入操作之開始。 由控制單元1〇3再:欠確立内部時脈信⑽LK,此時開始 寫入操作。此等兩個内部時脈信號虹⑽衝之間的間隔 由自^時間延遲電路110產生以確保不僅寫入操作將不影 響先前讀取操作’且經由預解石馬器106供應之寫入位址將 到達預解广器10 6之輸出端且將在出現第二内部時脈信號 ICLK循環之上升邊緣前被提供至鎖存器(例如, ,輸入端。若至閘極1〇8之輸入信號改變或尚未穩 疋則而要使寫入位址在第二内部時脈循環前在鎖存器 1〇8之輸入端處可用以避免在位址鎖存器(例如,NAND 108)之輸出端處產生錯誤的可能性。 在實鉍例中,自我時間延遲電路11 〇由布局後模擬設 疋。在判定讀取操作完成(或大體上完成)後,提供足夠的 延遲以防止讀取與寫入位址衝突。延遲亦應足夠使位元線 月b夠在寫入操作前被等化。延遲為可由金屬遮罩程式化的 138805.doc 201005749 靜態延遲。 信=κ(=上完成)寫人操作後,再次重設内部時脈 J 放寫人埠位址鎖存器1〇2以接收任何新的 寫入位址。亦重設寫入位址切換信號WCLK(例如,設定至 低邏輯位準,諸如「〇 、油β 叹又至 復至預設讀取模式,黧拄 〜、u 飞等待下一個外部系統時脈循環。 自我時間追蹤電路1 〇 S w Μ以—已知方式(例如,虛設位元線追
蹤)判定寫入操作完成。 & 在特定外。[5時脈循環期間,多工器⑽之操作進 適應唯讀及唯寫記憶體操作/存取。在唯讀操作之狀況 下僅讀取鎖存仏號ACLK且非寫入鎖存信號Μα操作, 後者維持某一間置條件(例如,低或零狀態)。在唯寫操作 之狀況下(例如,當在—特定外部時脈循環期間不執行讀 :操:時),在初始電路操作期間將寫入位址切換信號設 门位準j吏得一有機會即將寫入位址提供至預解碼器 106。 在操作中且參看圖丨,將讀取埠位址輸入施加至讀取埠 位址鎖存器U)卜同樣地’將寫人埠位址輸人施加至寫入 埠位址鎖存器102。控制.單元103將各別控制信號(亦即, 賣取鎖存彳。號ACLK及寫入鎖存信號BCLK)分別提供至讀 取埠位址鎖存器101及寫入璋位址鎖存器1〇2以使鎖存器 〇1 1 〇2接收且固持各別埠位址輸入。控制單元1 進一 步產生一内部時脈信號ICLK且將其提供至一閘極(諸如, NAND裝置108)。位址切換由多工器1〇4執行,多工器1〇4 138805.doc 201005749 自續取埠位址鎖存器101及寫入埠位址鎖存器1〇2接收經鎖 存之4取及寫人埠位址,且回應於來自控制單元⑽之寫 入位址切換信號wCLK,選擇性地將一者或另一者提供至 預解碼器106。自我時間追蹤電路1〇5可提供於控制單元
内且可&參加關於何時切換寫入位址切換信號WCLK 之决策。儘管將預解碼器1〇6描繪為接收位址信號之典型 己隐體定址組件’但可利用諸如位址緩衝器、位址解碼器 等之其他及/或替代组件。 在本實施例中’供應至預解碼器i Q6的二進位編碼位址 佗號引起特定輸出線之啟動,該信號被供應至相關聯的 yND閘極108。NAND閘極1〇8接收用於開控來自預解碼 器106之輸出之内部時脈信號ICLK以藉此將經反相之輸出 供應至緩衝器1〇9。接著將緩衝器潜之輸出傳輸至列/行 解碼器(未圖示)及/或其他記憶體組件。 ^ 圖為讀取操作及寫入操作兩者經請求且待在一單—外 4 ,系統時脈循環期間執行的第一情形(狀況叫之時序圖。 圖3描繪僅待執行讀取操作的第二情形中之信號時序,而 圖4描繪待在—外部系統時脈循環期間執行唯寫操作。 參看圖2 ’下-外部系統時脈循環之開始由外 脈信號似在時間Tl4的上升邊緣信號表示。回應於外^ 系統時脈㈣CLK轉至高,—内料脈信由控 元1〇3產生且在時間T2處轉至高⑺後之傳播延遲; 者’回應於外部系統時脈信號clk轉至高,讀 ACLK及寫人鎖存信《cLK在日節2處轉至高,藉此= 138805.doc 201005749 且固持輸入讀取位址及寫入位址。 讀取操作由自我時間追蹤電路105監控以判定其完成(或 大體上完成)之時間。在讀取操作完成(或大體上完成)後, 在時間T4,内部時脈信號ICLK轉至低以起始至寫入模式 之轉變。注意,此轉變獨立於外部系統時脈信號ClK。内 部時脈信號ICLK轉至低之時間由監控讀取操作之自我時 間追蹤電路105判定。在一實施例中,監控整個記憶體位 φ 元線及子線傳播時間。舉例而言,如此項技術中所熟知 的’可利用虛設位元線追縱讀取操作。 回應於内部時脈信號ICLK在時間丁3處轉至低,讀取鎖 存信號ACLK在T4處轉至低,使得讀取埠位址鎖存器丨“釋 放且可回應新讀取埠位址輸入之施加。在時間乃且回應於 讀取鎖存信號ACLK轉至低,寫人位址切換信號ία轉 至高。高WCLK信號指示寫入位址備妥,且使多工器1〇4 切換且藉此將储存於寫入蜂位址鎖存i 〇 2器中之寫入位址 • ㈣性地傳輸至預解碼器1〇6(而非先前傳輸之讀取位址)。 自我時序延遲開始於時間T3。自我時序延遲由自我時間 L遲電路11G提供。儘f該描述論述回應於内部時脈信號 .ICLK在時間T3處轉至低而開始自我時間延遲但在替代 f施例中,自我時間延遲在讀取鎖存信號A·在時間T4 處轉至低時開始。 在自我時序延遲後,内 一 仗鬥蛉脈信號ICLK在時間T6處轉 至高,以藉此以内部寫入循 _ L 爾衣之形式起始下一記憶體存 取。當内部寫入循環紝击蛀 ^ 束時’内部時脈信號ICLK在時間 138805.doc 201005749 T7處返回至低位準。如上文指出,自我時間追蹤電路】 使用熟知技術(諸如,虑讯你—成> 叹位7C線之監控)監控寫入操作, 以判疋已完成寫入操作之時間。 完成了寫人操作後且回應於内部時脈信號ICLK轉至 低,在時㈣處,寫入鎖存信號BCLK轉至低,藉此釋放 寫入琿位址鎖存㈣2,且使其能夠接收待在下-外部系 統時脈循環期間使用的任一新寫入位址。再者,回應於内 部時脈信號1CLK轉至低,寫入位址切換信號WCLK轉至低 Φ 以將多工益1〇4重設至初始條件,藉以將讀取璋位址鎖存 器ιοί之輸出傳輸至預解碼器1()6,以便備妥任—下一讀取 凊求。在時間T9處,外部系统時脈信號clk轉至高,盆指 示下-記憶體系統存取循環之開始,使得内部時脈信號 、讀取鎖存信號ACLK及寫人鎖存信號bclk在時間 T10處轉至高,重複先前詳述之程序(至少至讀取及寫入存 ^操作兩者皆經請求且待在彼下一外部系統時脈週期期間 執行的程度)。 ❹ «為僅#執仃·_讀取操作(亦即’無寫入操作被請求或 {在-特定外部系統時脈循環期間執行)之第二情形之時 序圖上已知藉由監控晶片選擇接針已請求一讀取操作,而 、:胃求寫人操作。提供—晶片選擇接針用於讀取操作, 同時提供一第二晶片選擇接針用於寫入操作。 接雀不供應任何寫入位址(亦即,未選擇適當的晶片選擇 Λ 清况下,可使寫入鎖存信號BCLK保持低,以便備 文接收可到達之任一經施加之信號(但本發明之實施例亦 138805.doc -12- 201005749 二Γ括-如^在圖2中展示不抑制信號bclk之轉變的實施 ^^ .、,、冩入印求之情況下,亦將寫入位址切 ' WCLK維持為低(亦即,在讀取狀態中),以便使多 1 4將由4取埠位址㈣器⑻鎖存及㈣之讀取淳位 址輸入信號連續地傳輸至預解碼器⑽。否則,如上參看 ^所解釋,在時間T1與T4之間執行實施讀取操作所需之 "ίσ。可因不必要而省政參 ’略貫施如圖2中所示包括時間Τ5至 Τ8之記憶體寫入支援操作所必要之信號。 圖4為僅執订一寫入操作(亦即,無讀取操作被請求或待 在一特定外料、統時脈循環期間執行(未選擇讀 片選擇主接針))之第三情形之時序圖。㈣供餘-讀取位 址之!·月況下’可使讀取鎖存信號aclk^持為低,以便備 妥接收可到達之任—經施加之信號。注意本發明之實施例 亦可包括如切在圖2中展示不抑制讀取鎖存信號Auk 轉變的實施例。在無讀取請求之情況下,可回應於寫入鎖 存號BCLK上升而將寫人位址切換信號wcL〖設定至高 ㈣(在時間T5),以便使多工器1〇4將由寫入淳位址鎖:
益102鎖存及固持之寫人蟑位址輸人信號傳輸至預解碼器 106。 D -般而言,省略僅讀取所必要之信號,可使執行寫入操 作所必要之彼等信號提前,亦即,在外部系統時脈信號 CLK之循環期間比#請求且待執行讀取操作及寫入操作兩 者時較早地起始。同樣地,如在唯讀操作之第二情形卜 在此第三情形中内部時脈信號ICLK僅需要包括單—循 138805.doc -13- 201005749 環,在此期間執行寫入操作。因此,在時㈣,内部時脈 信號ICLK轉至高,如同寫入鎖存信號bclk。因為寫入操 作通常需要比進行讀取操作多的時間來完成,所以延長内 部時脈信號ICLK之脈衝寬度以保持高直至時間”。回應 於内部時脈信號1⑽之下降邊緣,寫入鎖存信號BCLK及 寫入位址切換信號WCLK兩者返回至低位準以使電路備妥 接受新的寫入位址。 隹乂已闡月具體電路’但熟習此項技術者應瞭解,並不 需要所揭示之電路中之全部來實踐本發明。此外,未描述 某些熟知電路以維持聚焦於本發明。類似地,儘管該描述 在某些位置中提及邏輯「〇」及邏輯「!」,但熟習此項技 術者應瞭解,在不影響本發明之操作的情況下,可切換邏 輯值,相應地調整電路之其餘部分。 儘管出於指導之目的在上文描述某些具體實施例,但本 發明並不限於此。虛擬雙埠記憶體之控制電路可用於第一 Γ體存取操作為寫人操作且第:記㈣存取操作為讀取 知作、第-記憶體存取操作為寫人操作且第二記憶體存取 操作為寫人#作’及第—記憶體存取操作為讀取操作且第 二記憶體存取操作為讀取操作之實施财。因此,可在不 、離如申„月專利範圍令所闡明之本發明之範嘴之情況下實 1 菱所描述之具體實施例之各種修改、改編及各種特徵之组 合。 ’ 【圖式簡單說明】 圖1為用於與虛擬譬埴0卜甚诚 旱3己’U體一起使用及/或用作虛擬雙 1388〇5.doc 201005749 璋記憶體之部分的位址多工系統之高階方塊圖。 圖2為說明I之位址多工系統之操作之第—情 #1)的時序圖。 J 4 圖3為說明之位址多工系統之操作之第二情形(狀況 #2)的時序圖。 圖4為說明圖1之位址多工丰絲蚀 糸統之刼作之第三情形(狀況 #3)的時序圖。 ❹ ❿ 【主要元件符號說明】 101 讀取埠位址鎖存II 102 寫入埠位址鎖存器 103 控制單元 104 多工器 105 自我時間追蹤電路 106 預解碼器 108 N AND/閘極/鎖存器 109 緩衝器 110 自我時間延遲電路 ACLK 讀取鎖存信號 BCLK 寫入鎖存信號 CLK 外部系統時脈 ICLK 内部時脈信號 T1 時間 T2 時間 T3 時間 138805.doc -15- 201005749
Τ4 Τ5 Τ6 Τ7 Τ8 T9 Τ10 WCLK 時間 時間 時間 時間 時間 時間 時間 寫入位址切換信號/位址切換信號 138805.doc -16-

Claims (1)

  1. 201005749 七、申請專利範圍: 1. 一種虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其包含 一讀取埠位址鎖存器, 信號而固持一讀取位址; 一寫入埠位址鎖存器, 信號而固持一寫入位址; 其可操作以 回應於一外部時脈 其可操作以回應於該外部時脈 s己憶體操作之監控而控制 役制電路,其基於 璜取/寫入記憶體存取;及
    -多工器,其回應於來自該控制電路之—切換信號而 -經固持之讀取位址與一經固持之寫入位址之間切 換0 2·如請求们之虛擬雙蟑記憶體位址多工系、統,其中該第 一圮憶體操作為一記憶體讀取操作。 3·如請求項2之虛擬雙蟑記憶體位址多工系統,其中該讀 取埠位址鎖存器在該讀取操作後釋放。 ❿4. 清求項3之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其中該寫 入位址鎖存器在該讀取操作後保持鎖存。 5. 如請求項4之虛擬雙琿記憶體位址多卫系統,其中該寫 .入埠位址在一寫入操作後釋放。 6. 如請求们之虛擬雙琿記憶體位址多工系統,其中該控 制電路包3產生-自我時序延遲之一自我時間延遲電 路’該㈣電路在該自我時序延㈣確立内料脈信號 以開始一第二記憶體操作。 7·如請求項2之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其中該控 138805.doc 201005749 制電路包含一自我時間追蹤電路,其回應於偵測到之該 5賣取操作之完成而起始該切換信號之產生。 8. 如请求項7之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其中該偵 測到之完成係基於一虛設位元線之監控。 9. 如請求項丨之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其中該控 制電路操作以識別讀取/寫入操作模式、唯讀操作模式及 唯寫操作模式。 10. 如請求項2之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其中該控 制電路回應於一讀取請求之一不存在而使一寫入操作之 一時序提前。 11. 如請求項丨之虛擬雙埠記憶體位址多工系統其中該第 δ己憶體操作為一寫入操作。 12. 如請求項2之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其中該多 器可操作以維持一預設條件,藉以該讀取位址經傳輸 至該記憶體位址單元。 13·如請求項2之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其進一步 包含一預解碼器,該預解碼器在該讀取操作至少大體上 完成後接收該經固持之寫入位址。 14_如請求項13之虛擬雙埠記憶體位址多工系統,其進一步 包合一閘極,該閘極在接收一内部時脈信號之一第二確 立前自該騎碼器接收該寫人位址,該内料脈信號之 一第一確立係回應於該外部時脈信號。 15· -種控制-位址信號至一記憶體之一施加之方法,其包 含: 138805.doc 201005749 偵測讀取請求及寫入請求; 將一讀 將一寫 在無一寫入請求之情況下回應於一讀取請求 取位址供應至一記憶體組件; 在無一讀取請求之情況下回應於一寫入請求 入位址供應至該記憶體組件;及 回應於待在一 一寫入請求兩者 翠一時脈循環期間執行之-讀取請求及
    1)將該讀取位址供應至該記憶體組件, ii)基於-讀取操作之m定在料_時脈循環 内—將該寫入位址供應至該記憶體組件之時間,及 _m)在該讀取位址與該寫人位址之間切換以藉此在該 經判定之時間處將該寫入位址供應至該記憶體組件。 16.如請求項15之方法’其中該判定包括感測—虛設位元線 之一條件。
    如請求項15之方法 凡攻〇 其中該判定包括偵測一讀取操作之 18. 19. 如請求項15之方法,其中回應於待在該單—時脈循環期 間執行之該讀取請求及該寫入請求兩者,在一第一週期 期間,該寫人位址及該讀取位址儲存於各別讀取淳位址 :存器及寫入埠位址鎖存器中’且在—緊接的隨後週期 « ’僅將該寫人位址儲存於該寫人蜂位址鎖存器令, 且釋放該讀取埠位址鎖存器。 如請求項15之方法,其進—步包含取決於在—初始時間 週期期間存在該讀取請求及該寫入請求兩者還是在該初 138805.doc 201005749 始時間週期期職存在該料請求及該寫人 者而產生具有一頻率之—由 '月求中之一 20. 如請求項15之方法C號。 時間週期期間僅存在一寫一二否在:初始 内部時脈信號。 〜求而產生具有-週期之- 138805.doc e
    *4.
TW098107770A 2008-03-13 2009-03-10 Address multiplexing in pseudo-dual port memory TW201005749A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/047,593 US7760562B2 (en) 2008-03-13 2008-03-13 Address multiplexing in pseudo-dual port memory

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201005749A true TW201005749A (en) 2010-02-01

Family

ID=40577669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW098107770A TW201005749A (en) 2008-03-13 2009-03-10 Address multiplexing in pseudo-dual port memory

Country Status (12)

Country Link
US (2) US7760562B2 (zh)
EP (1) EP2263235B1 (zh)
JP (1) JP2011515002A (zh)
KR (1) KR101153109B1 (zh)
CN (1) CN101971263A (zh)
BR (1) BRPI0909624A2 (zh)
CA (1) CA2717842C (zh)
ES (1) ES2540058T3 (zh)
MX (1) MX2010009991A (zh)
RU (1) RU2490731C2 (zh)
TW (1) TW201005749A (zh)
WO (1) WO2009114288A1 (zh)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7760562B2 (en) * 2008-03-13 2010-07-20 Qualcomm Incorporated Address multiplexing in pseudo-dual port memory
CN101908366A (zh) * 2010-05-26 2010-12-08 秉亮科技(苏州)有限公司 用单端口存储单元实现多端口存储器的自定时控制方法
KR101332514B1 (ko) 2010-12-27 2013-11-22 엘지디스플레이 주식회사 표시장치의 감마 설정 방법
CN103065670A (zh) * 2011-10-24 2013-04-24 迈实电子(上海)有限公司 双端口存储器及其制造方法
US8699277B2 (en) 2011-11-16 2014-04-15 Qualcomm Incorporated Memory configured to provide simultaneous read/write access to multiple banks
US9911470B2 (en) 2011-12-15 2018-03-06 Nvidia Corporation Fast-bypass memory circuit
US8811109B2 (en) 2012-02-27 2014-08-19 Qualcomm Incorporated Memory pre-decoder circuits employing pulse latch(es) for reducing memory access times, and related systems and methods
CN103594110B (zh) * 2012-08-15 2017-09-15 上海华虹集成电路有限责任公司 替代双端口静态存储器的存储器结构
CN103632712A (zh) 2012-08-27 2014-03-12 辉达公司 存储单元和存储器
US9685207B2 (en) 2012-12-04 2017-06-20 Nvidia Corporation Sequential access memory with master-slave latch pairs and method of operating
CN103106918B (zh) * 2012-12-24 2015-12-02 西安华芯半导体有限公司 一种使用单端口存储单元的两端口静态随机存储器
US9208841B2 (en) * 2013-03-15 2015-12-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Tracking circuit
US10141930B2 (en) 2013-06-04 2018-11-27 Nvidia Corporation Three state latch
US9418730B2 (en) * 2013-06-04 2016-08-16 Nvidia Corporation Handshaking sense amplifier
US9418714B2 (en) 2013-07-12 2016-08-16 Nvidia Corporation Sense amplifier with transistor threshold compensation
US9076553B2 (en) * 2013-11-13 2015-07-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited SPSRAM wrapper
TWI602196B (zh) * 2014-04-02 2017-10-11 補丁科技股份有限公司 記憶體元件的控制方法、記憶體元件以及記憶體系統
US9324416B2 (en) * 2014-08-20 2016-04-26 Qualcomm Incorporated Pseudo dual port memory with dual latch flip-flop
US9520165B1 (en) * 2015-06-19 2016-12-13 Qualcomm Incorporated High-speed pseudo-dual-port memory with separate precharge controls
US10061542B2 (en) * 2015-09-15 2018-08-28 Qualcomm Incorporated Pseudo dual port memory
GB201603589D0 (en) 2016-03-01 2016-04-13 Surecore Ltd Memory unit
US9978444B2 (en) 2016-03-22 2018-05-22 Qualcomm Incorporated Sense amplifier enabling scheme
US10298348B2 (en) * 2016-04-01 2019-05-21 Ipg Photonics Corporation Transparent clocking in a cross connect system
JP6682367B2 (ja) 2016-06-08 2020-04-15 ルネサスエレクトロニクス株式会社 マルチポートメモリ、メモリマクロおよび半導体装置
US10032506B2 (en) 2016-12-12 2018-07-24 Stmicroelectronics International N.V. Configurable pseudo dual port architecture for use with single port SRAM
US11164614B1 (en) * 2020-07-10 2021-11-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Memory architecture
US11398274B2 (en) * 2020-08-25 2022-07-26 Qualcomm Incorporated Pseudo-triple-port SRAM
US11955169B2 (en) * 2021-03-23 2024-04-09 Qualcomm Incorporated High-speed multi-port memory supporting collision
CN114550770B (zh) * 2022-02-28 2024-05-03 上海华力微电子有限公司 一种双端口sram控制电路及其控制方法
CN118538263A (zh) * 2024-07-25 2024-08-23 中科亿海微电子科技(苏州)有限公司 一种对fpga bram读写冲突的时序控制方法及电路

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1569904A1 (ru) * 1988-07-15 1990-06-07 Харьковский политехнический институт им.В.И.Ленина Устройство дл контрол блоков пам ти
RU1817134C (ru) 1990-03-05 1993-05-23 Научно-производственное объединение "Интеграл" Устройство разрешени конфликтной ситуаций в двухпортовом запоминающем устройстве
SU1718270A1 (ru) 1990-03-29 1992-03-07 Институт Точной Механики И Вычислительной Техники Им.С.А.Лебедева Многопортовое запоминающее устройство
JP4018159B2 (ja) * 1993-06-28 2007-12-05 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路
JP3304577B2 (ja) * 1993-12-24 2002-07-22 三菱電機株式会社 半導体記憶装置とその動作方法
CA2146472C (en) 1994-04-22 2007-10-09 Kevin Elliott Bridgewater Packet video signal inverse transport processor with memory address circuitry
KR0142968B1 (ko) * 1995-06-30 1998-08-17 김광호 반도체 메모리 장치의 클럭 발생 장치
US5612923A (en) * 1996-05-09 1997-03-18 Northern Telecom Limited Multi-port random access memory
US5781480A (en) * 1997-07-29 1998-07-14 Motorola, Inc. Pipelined dual port integrated circuit memory
US5956286A (en) * 1997-10-28 1999-09-21 International Business Machines Corporation Data processing system and method for implementing a multi-port memory cell
US5907508A (en) * 1997-10-28 1999-05-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for single clocked, non-overlapping access in a multi-port memory cell
JP3871813B2 (ja) * 1998-08-10 2007-01-24 株式会社ルネサステクノロジ マルチポートメモリ、データプロセッサ及びデータ処理システム
JP2000173270A (ja) * 1998-12-04 2000-06-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体メモリ
US6252814B1 (en) * 1999-04-29 2001-06-26 International Business Machines Corp. Dummy wordline circuitry
KR100415192B1 (ko) * 2001-04-18 2004-01-16 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치에서 읽기와 쓰기 방법 및 장치
RU20972U1 (ru) * 2001-06-04 2001-12-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Рубин" Управляющий аппаратно-программный комплекс для обработки радиолокационной информации
US6882562B2 (en) * 2001-11-01 2005-04-19 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for providing pseudo 2-port RAM functionality using a 1-port memory cell
RU2273879C2 (ru) 2002-05-28 2006-04-10 Владимир Владимирович Насыпный Способ синтеза самообучающейся системы извлечения знаний из текстовых документов для поисковых систем
JP4405215B2 (ja) * 2002-09-12 2010-01-27 パナソニック株式会社 メモリ装置
JP2004259318A (ja) * 2003-02-24 2004-09-16 Renesas Technology Corp 同期型半導体記憶装置
US6809983B2 (en) * 2003-03-25 2004-10-26 Lsi Logic Corporation Clock generator for pseudo dual port memory
JP2005044334A (ja) * 2003-07-09 2005-02-17 Hitachi Ltd 非同期制御回路と半導体集積回路装置
JP4568522B2 (ja) * 2004-04-14 2010-10-27 株式会社リコー 半導体記憶装置
RU50018U1 (ru) * 2005-08-24 2005-12-10 Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Рубин" (ОАО "НПП "Рубин") Мультиплексор передачи данных
US7319632B2 (en) * 2005-11-17 2008-01-15 Qualcomm Incorporated Pseudo-dual port memory having a clock for each port
US7251193B2 (en) * 2005-11-17 2007-07-31 Qualcomm Incorporated Pseudo-dual port memory where ratio of first to second memory access is clock duty cycle independent
US8315693B2 (en) * 2006-02-28 2012-11-20 Physio-Control, Inc. Electrocardiogram monitoring
US7499347B2 (en) 2006-08-09 2009-03-03 Qualcomm Incorporated Self-timing circuit with programmable delay and programmable accelerator circuits
US7760562B2 (en) * 2008-03-13 2010-07-20 Qualcomm Incorporated Address multiplexing in pseudo-dual port memory

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100135804A (ko) 2010-12-27
US7760562B2 (en) 2010-07-20
EP2263235A1 (en) 2010-12-22
CA2717842C (en) 2014-08-26
CN101971263A (zh) 2011-02-09
RU2010141856A (ru) 2012-04-20
US20090231937A1 (en) 2009-09-17
CA2717842A1 (en) 2009-09-17
US20110051537A1 (en) 2011-03-03
KR101153109B1 (ko) 2012-06-04
US8570818B2 (en) 2013-10-29
WO2009114288A1 (en) 2009-09-17
RU2490731C2 (ru) 2013-08-20
MX2010009991A (es) 2010-12-21
JP2011515002A (ja) 2011-05-12
EP2263235B1 (en) 2015-03-25
ES2540058T3 (es) 2015-07-08
BRPI0909624A2 (pt) 2018-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201005749A (en) Address multiplexing in pseudo-dual port memory
KR101047000B1 (ko) 모드레지스터리드 제어회로 및 이를 이용한 반도체 메모리 장치
JP4782830B2 (ja) 非dramインジケータ及びdramアレイに格納されていないデータにアクセスする方法
TWI309040B (en) Semiconductor memories with block-dedicated programmable latency register and method of accessing data thereof
JP5063041B2 (ja) 向上されたリフレッシュメカニズムを有するダイナミック半導体メモリ
KR100816053B1 (ko) 셀프 카피 기능을 가지는 메모리 장치, 메모리 시스템 및듀얼 포트 메모리 장치
US20070058480A1 (en) NAND flash memory device with burst read latency function
JPH11149771A (ja) 同期型半導体記憶装置
JP2008226423A (ja) ライトトレーニング機能を持つ半導体メモリ装置
TWI275100B (en) Semiconductor memory devices in which the number of memory banks to be refreshed may be changed and methods of operating the same
US8131985B2 (en) Semiconductor memory device having processor reset function and reset control method thereof
JP2007115395A (ja) ダイナミックランダムアクセスメモリの指定自動リフレッシュ
JP2003346497A (ja) 半導体記憶装置
JPH11144497A (ja) 同期型半導体記憶装置
TW459380B (en) Clock synchronous system
JP4615896B2 (ja) 半導体記憶装置および該半導体記憶装置の制御方法
US7239569B2 (en) Semiconductor memory device and memory system
TW201206074A (en) Semiconductor device and method for operating the same
KR100892668B1 (ko) 뱅크 선택 제어 블록을 포함하는 반도체 집적 회로
JP7420472B2 (ja) ページサイズ認識スケジューリング方法及び非一時的なコンピュータ読取可能記録媒体
JPH0745068A (ja) 同期型半導体記憶装置
JP4731730B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2006313622A (ja) 同期型半導体記憶装置
JP2004145991A (ja) 半導体記憶装置およびデータ読み出し方法
JP2008299879A (ja) 半導体集積回路