JP4782830B2 - 非dramインジケータ及びdramアレイに格納されていないデータにアクセスする方法 - Google Patents

非dramインジケータ及びdramアレイに格納されていないデータにアクセスする方法 Download PDF

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Description

本発明は、一般的には、メモリ分野に関するものである。本発明は、より具体的には、DRAMアレイに格納されていないデータをSDRAMから読み出す効率的な方法に関するものである。
携帯型電子デバイスは、現代生活においてあまねく存在する手回り品になっている。携帯型電子デバイスに関する絶え間のない2つの厳しい要求は、機能の向上及びよりいっそうの小型化である。機能向上は、より高い演算能力とより多くのメモリを要求する。小型の電池ほど格納できる電力及び提供できる電力が少ないため、携帯型電子デバイスの小型化は、電力消費量が重要である。従って、携帯型電子デバイスにとっては、性能を向上させてさらに電力消費量を低減させる進歩が有利である。
ほとんどの携帯型電子デバイスは、プロセッサ又はその他のコントローラに関する命令及びデータを格納するためのダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)を含む。DRAMは、利用可能なソリッドステートメモリ技術の中で対費用効果が最も高い技術である。ビット当たりの価格は、ディスクドライブ等の大量記憶技術のほうが低い一方で、大量記憶装置は、アクセスレーテンシーが高く、電力消費量が多く、衝撃又は振動による影響度が高いため、携帯型電子デバイスの多くの用途においては用いられない。
同期DRAM(SDRAM)は、すべての制御信号及びデータ転送サイクルをクロックエッジに整合させることによって、従来のDRAMよりも向上された性能及び単純化されたインタフェース設計の両方を提供する。ダブルデータレート(DDR)SDRAMは、クロックの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの両方におけるデータ転送を可能にし、それでもより高い性能を提供する。
ほとんどのSDRAMモジュールは、CASレーテンシー、バースト長等の構成可能なパラメータを格納するためのモードレジスタを含む。SDRAM技術の複雑さが増して構成可能性が向上するのに応じて、多くのSDRAMモジュールは、遅延ロックループ(DLL)イネーブル、駆動強度等の追加の構成可能なパラメータを格納するための拡張モードレジスタを追加した。モードレジスタ及び拡張モードレジスタは両方とも書き込み専用である。すなわち、コントローラがこれらのレジスタの内容を読み出すための装備はない。モードレジスタ及び拡張モードレジスタの導入に伴い、DRAMモジュールは、DRAMアレイに書き込まれた又はDRAMアレイから読み出されたデータ以外の情報を初めて格納した。その結果、新たなデータ転送動作が要求された。
多くのSDRAMモジュールは、希望されるパラメータをレジスタにローディングするためのモードレジスタセット(MRS)動作及び拡張モードレジスタセット(EMRS)動作を含む。これらの動作は、CS、RAS、CAS、及びWE制御信号を同時に駆動してロー状態にし、バンクアドレスビットを有するMRSとEMRSとの間で選択し、選択されたレジスタに書き込むべき情報をアドレスラインA0乃至A11で提供することによって共通して実装される。ほとんどの実装においては、MRS又はEMRSコマンド時においてはすべてのDRAMバンクが非アクティブでなければならず、例えば6クロックサイクル等の指定された最短継続期間中はどのような追加動作もSDRAMモジュールに向けられない。モードレジスタ及び拡張モードレジスタの性質に起因して、これらのレジスタは初期設定時に書き込まれて絶対に変更されないため、これらの制約はSDRAMの性能に対して悪影響を与えない。
第三世代グラフィックスダブルデータレート産業仕様(GDDR3)では、DRAMアレイに格納されたデータ以外の情報をSDRAMモジュールから読み出す能力を提供する。一オプションとして、EMRS動作中に、SDRAMは、ベンダーコード及びバージョン番号をデータバスで出力することができる(EMRS書き込み情報はアドレスバスで送信される)。ERMS動作の全制約(全バンクがアイドル状態であり、さらに6クロックサイクル等の最小限の非アクティブ継続期間が後続する)を遵守しなければならない。情報(ベンダーID及びバージョン番号)は静的な性質を有することに起因して、例えば初期設定中に1回読み出すだけでよく、EMRS動作に関する制限は性能に対して有意な影響を与えない。
DRAM動作の基本的な側面は、データ状態を保存するために各ビット位置においてデータを格納する容量性電荷を定期的に更新しなければならないことである。DRAMアレイは、ロー別にリフレッシュされ、一部のSDRAMモジュールは、複数のDRAMバンクにおける同じローを同時にリフレッシュすることができる。DRAMアレイ内の各ローは、指定されたリフレッシュ期間内にリフレッシュしなければならない。DRAMローは、1つのリフレッシュ期間ごとに1回順次リフレッシュすることができ、バーストリフレッシュと呼ばれる。しかしながら、この方法は、全ローを通じてサイクルするために必要な時間だけDRAMアレイにアクセスするのを妨げ、有意な性能劣化をもたらす。代替として、各ローに向けられたリフレッシュサイクルは、リフレッシュ期間全体に均一に分散させ、読み出し及び書き込みデータ転送とともに散在させることができる。このリフレッシュは、分散リフレッシュと呼ばれる。分散リフレッシュは、性能上の犠牲がより少ないため、より一般的に実装されている。
分散リフレッシュ動作において要求される総リフレッシュ期間、従ってリフレッシュサイクルの間隔は、DRAMアレイダイの温度に依存する。一般的な経験則では、DRAMアレイダイ温度が10℃上昇するごとにリフレッシュ速度を2倍にしなければならない。SDRAMモジュールに関して指定されたリフレッシュ期間は、典型的には、DRAMが予想される最高動作温度であるときにDRAMによって要求されるリフレッシュ期間である。従って、DRAMアレイダイがそれよりも低い温度になるたびに、最長リフレッシュ期間がより長くなり、分散リフレッシュサイクルの間隔を広げることができ、それによってDRAM読み出しアクセス及び書き込みアクセスへの影響を低減させることができる。このことは、不要なリフレッシュ活動を排除することによってプロセッサの性能を向上させさらに電力消費量を低減させることになる。
DRAMアレイに格納されていないデータにSDRAMモジュールからアクセスするための同期読み出しサイクルは、「通常の」SDRAMデータ、すなわち、SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されたデータ、にアクセスするための読み出し及び書き込みサイクルと継ぎ目なしに一体化することができる。DRAMアレイに格納されていないデータにアクセスするために同期読み出しサイクルを用いることで、SDRAMモジュールの温度センサーの出力を、SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されたデータへのシステムアクセスに対して最小限の影響を与えるだけで読み出すことができる。例えば、GDDS3プロトコルを通じて拡張モードレジスタデータにアクセスする際の場合のように、全バンクを閉じる必要がなく、読み出しサイクル後にSDRAMアクセスに対して待機期間が強いられない。
DRAMアレイに格納されていないデータにアクセスするための同期読み取りサイクルは、タイミング及びシーケンスの点で、DRAMアレイに格納されているデータにアクセスするための同期読み出しサイクルと実質的に類似するため、DRAMアレイに格納されていない戻されたデータの識別及び抽出には問題がある。SDRAMコントローラは、パイプライン化された形でしばしば機能し、データバースト要求を出し、のちに(すなわち、モードレジスタのCASレーテンシーフィールドによって決定された遅延後に)データを受け取る。さらに、多くのSDRAMコントローラは、FIFO又はその他のバッファ内の複数の読み出しサイクルからのデータをバッファリングし、データがコントローラによってSDRAMモジュールから取得されたときからのさらなる遅延後に要求中のデバイスがデータを利用可能にすることによってメモリ読み出し動作をさらにパイプライン化する。
ほとんどの場合は、DRAMアレイに格納されていないデータに向けられた読み出し動作は、システムモジュール(例えば、バス又はクロスバーインターコネクト内のマスターデバイス)によって要求されず、従ってSDRAMコントローラによって転送されない。むしろ、DRAMアレイに格納されていないデータは、SDRAMコントローラ自体による使用のために、すなわち、リフレッシュ速度を調整するための温度読み取り値を入手する、SDRAMモジュール識別を入手してタイミングパラメータを調整する、モードレジスタ又は拡張モードレジスタを読んでこれらのレジスタが適切に設定されていることを検証する等のために、SDRAMコントローラによってしばしば読み出される。従って、DRAMアレイに格納されていない読み出しデータは、識別し、DRAMアレイに格納されていて要求中のマスターデバイスに転送される読み出しデータストリームから抽出しなければならない。
DRAMアレイに格納されていない読み出しデータを識別及び抽出する1つの手法は、SDRAMメモリモジュールからコントローラへの転送時点で直ちにデータを「トラップ」することである。しかしながら、この手法の場合は、数多くのメモリコントローラの重層パイプライン化されたアーキテクチャに起因して、コントローラは、DRAMアレイに格納されていないデータに向けられたメモリアクセスサイクルを発行した時点で、前記データが戻されるまで「通常の」SDRAM活動を停止させる必要があるため、性能に対して悪影響を与えることになる。最高の性能を確保するために、DRAMアレイに格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルが同期的な性質を有することは、これらの読み出しサイクルを通常の読み出しアクセスと継ぎ目なしに混合させることによって完全に利用すべきである。この利用は、例えばメモリコントローラが要求中のマスターデバイスに送るために読み出しデータをバッファから抽出するときに、DRAMアレイに格納されていないデータをパイプラインのさらに奥深くまで識別して抽出するためのメカニズムを要求する。
発明の概要
1つ以上の実施形態により、SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されていないデータ、例えば温度センサーの出力、は、前記DRAMアレイ内のデータに向けられたSDRAM読み出し及び書き込みサイクルとともに継ぎ目なしに分散されている同期読み出しサイクルにおいて前記SDRAMから読み出される。制御情報は、DRAMアレイに格納されていないデータの場合は非DRAMインジケータを含み、全読み出しサイクルに関して維持される。DRAMアレイに格納されている戻されたデータ及びDRAMアレイに格納されていないデータがまとめてバッファリングされる。読み出しデータをバッファから抽出時には、DRAMアレイに格納されていないデータは、前記非DRAMインジケータによって識別され、コントローラ内の回路に送られる。前記DRAMアレイに格納されていないデータがSDRAMダイの温度を示すときには、前記コントローラは、前記温度に応じてリフレッシュ速度を調整することができる。
一実施形態は、1つ以上のSDRAMモジュールを制御する方法に関するものである。SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されていないデータにアクセスするために前記SDRAMモジュールに向けられた1つ以上のメモリアクセスサイクルが実行される。DRAMアレイに格納されていない前記データに関する各メモリアクセスサイクルは、非DRAMデータ識別子と関連づけられる。DRAMアレイに格納されていない前記データがSDRAMモジュールから受け取られた後に、前記非DRAMデータ識別子に応じてDRAMアレイに格納されていない前記データが抽出される。
他の実施形態は、メモリモジュールに同期読み出しサイクルを発行するために動作可能なメモリコントローラであって、前記同期読み出しサイクルは、DRAMアレイに格納されているデータ及びDRAMアレイに格納されていないデータに向けられたメモリコントローラ、に関するものである。前記コントローラは、DRAMアレイに格納されている受け取られたデータ及びDRAMアレイに格納されていないデータをバッファリングするために動作可能な読み出しデータバッファを含む。前記コントローラは、各同期読み出しサイクルと関連づけられた制御情報であって、DRAMアレイに格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルの場合は非DRAMインジケータを含む情報、をバッファリングするために動作可能な読み出し制御バッファをさらに含む。さらに、前記コントローラは、前記読み出しデータバッファを制御し、さらに前記非DRAMインジケータに応じてDRAMアレイに格納されていないデータを識別して前記読み出しデータバッファから抽出するために動作可能な読み出し応答論理を含む。
機能ユニット間でのデータ転送は、あらゆるコンピュータシステムの基本動作である。ほとんどのコンピュータシステムは、1つ以上のマスターデバイス、例えば、プロセッサ、コプロセッサ、ダイレクトメモリアクセス(DMA)エンジン、バスブリッジ、グラフィックスエンジン等を含む。マスターデバイスは、スレーブデバイスへの及び/又はスレーブデバイスからのデータ転送のためにシステムバス又はインターコネクトにおけるデータ転送動作を開始させることができるデバイスである。スレーブデバイスは、例えばメモリと、ディスクドライブと、入力/出力(I/O)回路と、グラフィックスコントローラと、リアルタイムクロックと、その他の数多くの回路及びデバイスと、を含むことができ、書き込みデータを受け入れる及び/又は読み出しデータを提供することによってシステムバス上でのデータ転送動作に応じる。スレーブデバイスは、バスデータ転送動作は開始させない。
図1は、高性能データ転送システムであり、一般的には数字10によって示される。スイッチマトリクス12は、クロスバースイッチとも呼ばれ、複数のマスターデバイス14を複数のスレーブデバイス16に相互接続し、最も一般的な場合は、あらゆるデバイスへのアクセスを有するあらゆるマスターデバイスが存在する。例えば、図2は、スレーブ1にアクセスするマスター1、及び同時に、スレーブ0にアクセスするマスター2を描く。幾つかの実装においては、スレーブデバイス16のうちの1つ以上は、2つ以上のマスターデバイス14による同時アクセスを可能にする2つ以上のアドレスバスを含むことができる。
図2に描かれた1つの型のスレーブデバイス16は、メモリサブシステムである。メモリスレーブデバイス16は、コントローラ50と、1つ以上のメモリモジュール100と、を含む。コントローラ50は、プロセッサと、デジタル信号プロセッサと、マイクロコントローラと、ステートマシン等と、を具備することができる。典型的実施形態においては、メモリモジュール100は、SDRAMモジュール100を具備することができる。コントローラ50は、当業においてよく知られる制御信号クロック(CLK)、クロックイネーブル(CKE)、チップセレクト(CS)、ローアドレスストローブ(RAS)、カラムアドレスストローブ(CAS)、ライトイネーブル(WE)、及びデータ修飾子(DQM)によってSDRAMモジュール100に動作を向ける。コントローラ50は、SDRAMモジュール100への複数のアドレスラインを提供し、双方向データバスがこれらの2つを接続する。SDRAMモジュールは、DRAMアレイ104を含み、DRAMアレイ104は、複数のバンク106に分割することができる。DRAMアレイは、命令及びデータを格納し、コントローラ50の指示の下で、SDRAM制御回路108から読み出される、SDRAM制御回路108に書き込まれる、及びSDRAM制御回路108によってリフレッシュされる。
SDRAMモジュール100は、モードレジスタ110と、拡張モードレジスタ112と、をさらに含む。SDRAMモジュール100は、ベンダーID、バージョン番号、製造日、ダイ情報等の識別情報114をさらに含むことができる。識別情報114は、レジスタに格納することができ、代替として、ダイ内にハードワイヤ接続することができる。
SDRAMモジュール100は、DRAMアレイ104の近くに配置されてDRAMアレイダイの温度を検知するために動作可能なサーミスタ118等の1つ以上の温度センサーを含む温度検知回路116をさらに含む。モードレジスタ110及び拡張モードレジスタ112の内容、SDRAMモジュール識別114及び温度センサー116の出力はすべて、SDRAMモジュール100から読み出し可能であるがDRAMアレイ104には格納されていないデータの例である。
図3は、スレーブメモリデバイス16の他の図であり、典型的実施形態におけるコントローラ50の機能ブロック図を示す。コントローラ50は、システムインターコネクト12に実装されたアービトレーションによる決定に従い、マスターデバイス14からの読み出しデータ及び書き込みデータ転送要求に応じる。コントローラ50は、ステートマシン52の制御下で、読み出し及び書き込みメモリアクセスサイクルをメモリモジュール100に向ける。ステートマシン52は、CS、RAS、CAS、WE、DQM等の制御信号の適切なタイミング及びシーケンスを生成するようにI/Oモジュール54に指示する。I/Oブロック54は、アドレスバスにおけるメモリアドレス、及びバンク選択信号をさらに出力する。同期読み出しサイクルは、DRAMアレイ104内のメモリモジュール110に格納されているデータ、又はDRAMアレイ104に格納されていないデータ(例えば、SDRAMモジュール100におけるレジスタ110、112、識別情報114、温度センサー116、又はその他の非DRAMアレイ104データソース)に向けることができる。さらに、メモリスレーブデバイス16の性能を最高にするために、DRAMアレイ104に格納されているデータ及びDRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた同期読み出しサイクルを継ぎ目なしに混合することができる。
メモリモジュール100から戻された読み出しデータは、I/Oブロック56において、DQSストローブを用いてデータバス上で取得される。次に、読み出しデータは、FIFO58等のデータ格納バッファにおいてバッファリングされる。要求中のマスターデバイスに読み出しデータを適切にディスパッチするために、コントローラ50は、読み出し制御FIFO60等のバッファ内において制御情報を維持する。制御情報は、読み出しサイクルのバースト長と、DRAMアレイ104に格納されたデータに向けられた読み出しサイクルの場合における要求中のマスターデバイス14の識別と、DRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルの場合における非DRAMインジケータと、オプションとしての非DRAMアドレスと、を含むことができる。読み出し制御FIFO60内における制御情報の各インスタンスは、読み出しデータFIFO58内の読み出しデータと一意で関連づけられる。
コントローラ50は、読み出しデータ及び関連する制御情報を抽出し、読み出しデータをディスパッチする読み出し応答論理62を含む。描かれている実施形態においては、読み出し応答論理62は、読み出しデータFIFO58及び読み出し制御FIFO60を同時にポッピングする。読み出し応答論理62は、読み出しデータFIFO58からポッピングされた読み出しデータを、読み出し制御FIFO60からポッピングされた関連する制御情報に基づいてディスパッチする。DRAMアレイ104に格納された読み出しデータの場合は、読み出しデータは、システムインターコネクト12を介して、要求中のマスターデバイス14に戻される。
非DRAMインジケータの存在によって示されるように、DRAMアレイ104に格納されていないデータの場合は、読み出し応答論理は、コントローラ50内の行先に読み出しデータを向かわせる。一実施形態においては、DRAMアレイ104に格納されていない読み出しデータの1つのみのソースが存在し、本明細書においてはSDRAM状態レジスタと呼ばれる。SDRAM状態レジスタは、記憶素子を具備する実際のレジスタである必要がない。むしろ、SDRAM温度検知回路116の出力は、SDRAM状態レジスタに直接アクセスすることによって読み出すことができる。一実施形態においては、同期読み出しサイクルがSDRAM状態レジスタに向けられた結果として温度及びSDRAM識別情報114の両方がコントローラ50に戻される。その他の実施形態においては、追加データを連結させてSDRAM状態レジスタの一部として読み出すことができる。SDRAM状態レジスタの読み出しに含まれるデータにかかわらず、読み出し応答論理62は、非DRAMインジケータに応じて、SDRAM状態レジスタデータを、DRAMアレイ104に格納されていないデータとして識別する。この識別に基づき、データは、要求中のマスターデバイス14には向けられず、コントローラ50内の該当回路にルーティングされる。
SDRAM温度データは、リフレッシュカウンタ及び論理回路に向けられ、DRAMアレイ104ダイの現在の実際の温度に基づく最適なリフレッシュ速度を計算することができる。リフレッシュカウンタ及び論理回路64は、リフレッシュによって要求される信号を最適な速度でステートマシン52に送信する。この送信は、SDRAMモジュール100のデータ状態を保存するためにリフレッシュサイクルが可能な限り少ない回数で起こるように間隔をあけることによってコントローラが性能を最高にして電力消費量を最低にするのを可能にする。現在の温度データを入手するため及びリフレッシュ速度の変化が保証されているかどうかを決定するためにSDRAM状態レジスタが読み取られる間隔は、プログラミング可能なDRAM温度サンプルタイマー66によって決定される。代替として、SDRAM状態レジスタの読み取りは、ソフトウェアコマンドによって開始させることができる。
SDRAM識別情報は、デバイスID68に向けられる。コントローラ50は、デバイスIDレジスタ68において反映されているのに従い、SDRAMデバイスIDに応じて様々なインタフェースパラメータ(タイミング、初期設定手順等)を変更することができる。
上述される実施形態においては、単一のSDRAM状態レジスタは、DRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルの唯一のターゲットを具備し、読まれたSDRAM状態レジスタは、温度及びSDRAM ID情報の両方を戻す。他の実施形態においては、同期読み出しサイクルは、DRAMアレイ104に格納されていないデータに関する複数のアドレスに向けることができる。例えば、モードレジスタ100及び拡張モードレジスタ112を読むことができる。この実施形態においては、温度検知回路116は、SDRAM識別情報114とは別個に読むことができる。この実施形態においては、DRAMアレイ104に格納されていない異なる型のデータを区別するために、非DRAMアドレスは、非DRAMインジケータとともに制御情報内、例えば読み出し制御FIFO60内、に格納することができる。読み出し応答論理62は、DRAMアレイ104に格納されていないデータを識別してコントローラ50内の該当回路に向けさせる際に非DRAMアドレスを考慮する。
上記の実施形態においては、非DRAMインジケータは、制御情報における単一のビットを具備することができる。一実施形態においては、スレーブデバイス16内の単一のコントローラ50は、複数のSDRAMモジュール100を制御することができる。この場合は、各SDRAMモジュール100の温度は、各SDRAMモジュール100に関するリフレッシュ速度を独立して最適化するために別々にモニタリングすることができる。この実施形態においては、非DRAMインジケータは、複数のビットを具備することができる。さらに、これらのビットの符号化は、DRAMアレイ104に格納されていないデータがSDRAMモジュール100のうちのいずれから読み出されたかを示すことができる。この実施形態においては、リフレッシュカウンタ及び論理64、デバイスIDレジスタ68、及びその他の回路は、要求又は希望に応じて複製することができ、又は各SDRAMモジュール100に関して別々の値を維持するように設計することができる。
1つ以上のSDRAMモジュールを制御する方法が図4において描かれ、一般的には数字150によって示される。コントローラ50は、DRAMアレイ104に格納されたデータに向けられた同期の読み出し及び書き込み動作を実行する(ブロック152)。この実行は、当然のことであるが、通常のSDRAMコントローラ動作であり、単一のブロック又は方法ステップとして描かれているが、実際には継続中の活動である。ステートマシン52、又はコントローラ50内のその他の回路は、DRAMアレイ104に格納されていないデータを読み出すための信号を受信する(ブロック154)。この受信は、DRAM温度サンプルタイマー66からの「DRAM温度読み出し」信号を具備することができる。代替として、ソフトウェアコマンドであることができる。コントローラ50は、例えば(温度情報を含む可能性がある)SDRAM状態レジスタを読むために、又はDRAMアレイ104に格納されていないデータの1つ以上の個々のソースを直接読むために、DRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた同期読み出し動作を実行する(ブロック156)。ステートマシン52は、非DRAMインジケータを含む制御情報を生成し、該制御情報を、DRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルと関連づける(ブロック158)。
コントローラ50は、SDRAMモジュール100によって戻された読み出しデータを受け取ってバッファリングする(ブロック160)。このことは、「ループ」矢印によって示されるように、継続中の活動であり、メモリインタフェースパイプライン内の初期にコントローラ50によって発行された読み出しサイクルに応じて発生する。バッファリングされたデータが処理のために現れるのに従い、読み出し応答論理62は、制御情報(例えば、読み出し制御FIFO60においてバッファリングされた制御情報)を検査して非DRAMインジケータの有無を確認する(ブロック62)。読み出し応答論理62は、非DRAMインジケータを用いて、その制御情報と関連づけられた読み出しデータをDRAMアレイ104に格納されていないデータとして識別する。この識別に基づき、読み出し応答論理62は、DRAMアレイ104に格納されていた読み出しデータを(例えば制御情報内のマスターデバイスIDによって識別された)要求中のマスターデバイス14にディスパッチする。読み出し応答論理62は、DRAMアレイ104に格納されていなかった読み出しデータを、コントローラ50内の該当回路、例えば、温度データに関するリフレッシュカウンタ及び制御論理64に向かわせる(ブロック164)。コントローラは、DRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた同期の読み出し及び書き込み動作を実行する継続中の活動を続ける(ブロック152)。
各読み出しサイクルに関して非DRAMインジケータを生成して維持されている制御情報内に格納することは、DRAMアレイ104に格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルをDRAMアレイ104からのデータに向けられた読み出しサイクルとともに散在させることを可能にする。DRAMアレイ14に格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルを実行するために、DRAMアレイ104に格納されたデータに向けられた全メモリアクセスサイクルを停止させる必要がないため、上記の可能にすることは、メモリスレーブデバイス16の性能を最高にする。
「モジュール」という用語は、本明細書においては、DRAMアレイ104及び制御回路108を含む機能上のSDRAMユニットを表すことを目的として一般的な意味で用いられる。特に、「モジュール」という用語は、シングルインラインメモリモジュール(SIMM)又はデュアルインラインメモリモジュール(DIMM)等の、前記用語を含む産業基準識別子に制限されない。
本発明は、本明細書においては、本発明の特定の特長、側面及び実施形態に関して説明されているが、本発明の広範な適用範囲内において数多くの変形、修正、及びその他の実施形態が可能であり、従って、あらゆる変形、修正及び実施形態が本発明の適用範囲内にあるとみなされるべきであることが明確になるであろう。従って、本明細書の実施形態は、あらゆる側面において例示するものであって制限するものではないと解釈すべきであり、添付された請求項の意味又は同等の意味の範囲内にある全変更は、本明細書に包含されることが意図されている。
システムインターコネクトの機能ブロック図である。 SDRAMモジュールの機能ブロックを描いた、コントローラ及びSDRAMメモリモジュールを具備するスレーブデバイスの機能ブロック図である。 コントローラの機能ブロックを描いた、コントローラ及びSDRAMメモリモジュールを具備するスレーブデバイスの機能ブロック図である。 1つ以上のSDRAMモジュールを制御する方法を描いた流れ図である。

Claims (23)

  1. 1つ以上のSDRAMモジュールを制御する方法であって、
    SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されていないデータにアクセスするために前記SDRAMモジュールに対して1つ以上の同期読み出しサイクルを実行することと、
    読み出しデータバッファによって、前記DRAMアレイに格納されていないデータをバッファリングすることと、
    読み出し制御バッファによって、各同期読み出しサイクルと関連づけられた制御情報をバッファリングすることであって、前記制御情報は非DRAMインジケータを含むことと、
    DRAMアレイに格納されていない前記データがSDRAMモジュールから受け取られた後に、前記非DRAMインジケータに応じてDRAMアレイに格納されていない前記データを識別することと、を具備する、方法。
  2. SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されたデータにアクセスするために前記SDRAMモジュールに対して1つ以上の読み出しサイクルを実行することをさらに具備する請求項1に記載の方法。
  3. DRAMアレイに格納されていない前記受け取られたデータをDRAMアレイに格納された前記受け取られたデータとともにバッファリングすることをさらに具備する請求項2に記載の方法。
  4. DRAMアレイに格納されていない前記データを抽出することは、DRAMアレイに格納されていない前記データを、DRAMアレイに格納されたデータ及びDRAMアレイに格納されていないデータの両方を含むバッファから抽出することを具備する請求項3に記載の方法。
  5. DRAMアレイに格納されたデータを要求中のマスターデバイスに転送することと、DRAMアレイに格納されていないデータをマスターデバイスに転送しないこと、とをさらに具備する請求項4に記載の方法。
  6. DRAMメモリに格納されていない前記データに応じて前記SDRAMモジュールのうちの1つ以上がリフレッシュされる速度を変更することをさらに具備する請求項5に記載の方法。
  7. 前記制御情報は、読み出しバースト長を含む請求項3に記載の方法。
  8. DRAMアレイに格納されたデータに向けられた読み出しサイクルと関連づけられた前記制御情報は、要求中のマスターデバイスの識別情報を含む請求項3に記載の方法。
  9. DRAMアレイに格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルと関連づけられた前記制御情報は、前記非DRAMインジケータを含む請求項3に記載の方法。
  10. SDRAMメモリモジュールから読み出されたデータ及び前記制御情報は、FIFOにおいて各々バッファリングされる請求項9記載の方法。
  11. 読み出しデータFIFO及び制御情報FIFOを同時にポッピングすることをさらに具備する請求項10に記載の方法。
  12. 前記非DRAMインジケータに応じてDRAMアレイに格納されていない前記データを識別することは、対応するポッピングされた制御情報が非DRAMインジケータを含む場合はポッピングされた読み出しデータをDRAMアレイに格納されていないデータとして識別することを具備する請求項11に記載の方法。
  13. 前記非DRAMインジケータは、単一のビットを具備する請求項1に記載の方法。
  14. 前記非DRAMインジケータは、複数のビットを具備し、前記非DRAMインジケータビットの前記符号化は、DRAMアレイに格納されていない前記関連づけられたデータが複数のメモリモジュールのうちのいずれから読み出されたかを示す請求項1に記載の方法。
  15. SDRAMモジュールのDRAMアレイに格納されていないデータにアクセスするために前記SDRAMモジュールに対して1つ以上の読み出しサイクルを実行することは、前記SDRAMメモリモジュール上の温度検知回路に向けられた読み出しサイクルを定期的に実行することを具備する請求項1に記載の方法。
  16. 温度検知回路に向けられた読み出しサイクルを実行する期間は、プログラミング可能なカウンタによって決定される請求項15に記載の方法。
  17. 前記SDRAMメモリモジュール上の温度検知回路に向けられた読み出しサイクルを実行することは、ソフトウェアコマンドに応じて行われる請求項15に記載の方法。
  18. 前記メモリモジュールの前記温度に応じてリフレッシュ速度を調整することをさらに具備する請求項15に記載の方法。
  19. 同期読み出しサイクルをメモリモジュールに対して発行するために動作可能なメモリコントローラであって、前記同期読み出しサイクルは、DRAMアレイに格納されたデータ及びDRAMアレイに格納されていないデータに向けられ、
    DRAMアレイに格納された受け取られたデータ及びDRAMアレイに格納されていないデータをバッファリングするために動作可能な読み出しデータバッファと、
    各同期読み出しサイクルと関連づけられた制御情報をバッファリングするために動作可能な読み出し制御バッファであって、前記制御情報は、DRAMアレイに格納されていないデータに向けられた読み出しサイクルの場合は非DRAMインジケータを含む読み出し制御バッファと、
    前記読み出しデータバッファを制御し、さらに前記DRAMインジケータに応じてDRAMアレイに格納されていないデータを識別して前記読み出しデータバッファから抽出するために動作可能な読み出し応答論理と、を具備する、メモリコントローラ。
  20. 前記読み出しデータバッファ及び読み出し制御バッファは、FIFOである請求項19に記載のコントローラ。
  21. 前記読み出しデータFIFO及び読み出し制御FIFOは、前記読み出し応答論理によって同時にポッピングされる請求項20に記載のコントローラ。
  22. 前記非DRAMインジケータは、単一のビットを具備する請求項20に記載のコントローラ。
  23. 前記非DRAMインジケータは、複数のビットを具備し、前記非DRAMビットを前記符号化することは、DRAMアレイに格納されていない前記関連づけられたデータが複数のメモリモジュールのうちのいずれから読み出されたかを示す請求項20に記載のコントローラ。
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8122187B2 (en) * 2004-07-02 2012-02-21 Qualcomm Incorporated Refreshing dynamic volatile memory
US7620783B2 (en) * 2005-02-14 2009-11-17 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for obtaining memory status information cross-reference to related applications
US9262326B2 (en) * 2006-08-14 2016-02-16 Qualcomm Incorporated Method and apparatus to enable the cooperative signaling of a shared bus interrupt in a multi-rank memory subsystem
US7593279B2 (en) 2006-10-11 2009-09-22 Qualcomm Incorporated Concurrent status register read
JP2009116702A (ja) * 2007-11-07 2009-05-28 Toshiba Corp 半導体集積回路
KR100892723B1 (ko) * 2007-11-19 2009-04-10 주식회사 하이닉스반도체 반도체 집적회로의 디지털 온도 정보 생성 장치
CN101567767B (zh) * 2009-05-19 2011-12-28 华为技术有限公司 一种窗口采样控制方法及装置
US8180500B2 (en) * 2009-07-29 2012-05-15 Nanya Technology Corp. Temperature sensing system and related temperature sensing method
GB2491156B (en) 2011-05-25 2019-08-07 Advanced Risc Mach Ltd Processing pipeline control
US11392517B2 (en) * 2014-09-10 2022-07-19 Sony Group Corporation Access control method, bus system, and semiconductor device
US10180340B2 (en) * 2014-10-09 2019-01-15 Invensense, Inc. System and method for MEMS sensor system synchronization
US9940457B2 (en) * 2015-02-13 2018-04-10 International Business Machines Corporation Detecting a cryogenic attack on a memory device with embedded error correction
US9606851B2 (en) 2015-02-02 2017-03-28 International Business Machines Corporation Error monitoring of a memory device containing embedded error correction
US10223311B2 (en) 2015-03-30 2019-03-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device for sharing inter-memory command and information, memory system including the same and method of operating the memory system
KR102347179B1 (ko) 2015-05-22 2022-01-04 삼성전자주식회사 비휘발성 저장 장치의 온도 제어 방법
KR102373544B1 (ko) 2015-11-06 2022-03-11 삼성전자주식회사 요청 기반의 리프레쉬를 수행하는 메모리 장치, 메모리 시스템 및 메모리 장치의 동작방법
US10503435B2 (en) * 2016-12-01 2019-12-10 Qualcomm Incorporated Providing extended dynamic random access memory (DRAM) burst lengths in processor-based systems
US11017834B2 (en) * 2018-11-30 2021-05-25 Micron Technology, Inc. Refresh command management
WO2020131528A1 (en) * 2018-12-21 2020-06-25 Rambus Inc. Signal skew in source-synchronous system
US11416250B2 (en) * 2019-05-17 2022-08-16 Micron Technology, Inc. Method and apparatus in memory for input and output parameters optimization in a memory system during operation

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04195890A (ja) * 1990-11-28 1992-07-15 Hitachi Ltd メモリシステム、メモリ素子およびリフレッシュ方式
JPH06176185A (ja) * 1992-12-03 1994-06-24 Alps Electric Co Ltd バーコードスキャナの感度調整回路
JPH08124380A (ja) * 1994-10-20 1996-05-17 Hitachi Ltd 半導体メモリ及び半導体メモリアクセス方法
JPH08315569A (ja) * 1995-05-16 1996-11-29 Hitachi Ltd 半導体記憶装置、及びデータ処理装置
JPH1011351A (ja) * 1996-06-20 1998-01-16 Nec Niigata Ltd コンピュータシステム
JPH11296414A (ja) * 1998-04-10 1999-10-29 Mitsubishi Materials Corp データ保存装置及び記録媒体
JP2000030464A (ja) * 1998-07-15 2000-01-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2000227895A (ja) * 1999-02-05 2000-08-15 Nec Niigata Ltd 画像データ転送装置および画像データ転送方法
JP2002343079A (ja) * 2001-05-18 2002-11-29 Melco Inc Dram装置およびdram装置のリフレッシュ方法
JP2005032428A (ja) * 2003-07-12 2005-02-03 Samsung Electronics Co Ltd メモリのリフレッシュ周期を制御するメモリコントローラおよびリフレッシュ周期制御方法
JP2008505429A (ja) * 2004-07-02 2008-02-21 クゥアルコム・インコーポレイテッド 温度測定によって半導体メモリ装置内のダイナミックリフレッシュを改善するための装置と方法
JP2008530721A (ja) * 2005-02-14 2008-08-07 クゥアルコム・インコーポレイテッド 揮発性メモリのレジスタの読み出し

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3351953B2 (ja) 1996-03-19 2002-12-03 富士通株式会社 モードレジスタ制御回路およびこれを有する半導体装置
US5787255A (en) * 1996-04-12 1998-07-28 Cisco Systems, Inc. Internetworking device with enhanced protocol translation circuit
US5784328A (en) 1996-12-23 1998-07-21 Lsi Logic Corporation Memory system including an on-chip temperature sensor for regulating the refresh rate of a DRAM array
US6021076A (en) * 1998-07-16 2000-02-01 Rambus Inc Apparatus and method for thermal regulation in memory subsystems
US5999474A (en) * 1998-10-01 1999-12-07 Monolithic System Tech Inc Method and apparatus for complete hiding of the refresh of a semiconductor memory
US6453218B1 (en) * 1999-03-29 2002-09-17 Intel Corporation Integrated RAM thermal sensor
US6401213B1 (en) 1999-07-09 2002-06-04 Micron Technology, Inc. Timing circuit for high speed memory
JP2002025288A (ja) 2000-06-30 2002-01-25 Hitachi Ltd 半導体集積回路
US6728798B1 (en) 2000-07-28 2004-04-27 Micron Technology, Inc. Synchronous flash memory with status burst output
US6570804B1 (en) 2000-08-29 2003-05-27 Micron Technology, Inc. Fuse read sequence for auto refresh power reduction
US20020078282A1 (en) * 2000-12-18 2002-06-20 International Business Machines Corporation Target directed completion for bus transactions
US6757857B2 (en) 2001-04-10 2004-06-29 International Business Machines Corporation Alternating current built in self test (AC BIST) with variable data receiver voltage reference for performing high-speed AC memory subsystem self-test
US6937958B2 (en) * 2002-02-19 2005-08-30 Sun Microsystems, Inc. Controller for monitoring temperature
US7664903B2 (en) 2002-02-25 2010-02-16 Solid Access Technologies LLC Control unit with PCI and SCSI buses and computing system with electronic semiconductor disk
US6957308B1 (en) * 2002-07-11 2005-10-18 Advanced Micro Devices, Inc. DRAM supporting different burst-length accesses without changing the burst length setting in the mode register
WO2004102403A2 (en) 2003-05-13 2004-11-25 Advanced Micro Devices, Inc. A system including a host connected to a plurality of memory modules via a serial memory interconnect
US7404071B2 (en) 2004-04-01 2008-07-22 Micron Technology, Inc. Memory modules having accurate operating current values stored thereon and methods for fabricating and implementing such devices
US7304905B2 (en) 2004-05-24 2007-12-04 Intel Corporation Throttling memory in response to an internal temperature of a memory device
US7620783B2 (en) 2005-02-14 2009-11-17 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for obtaining memory status information cross-reference to related applications
US7454586B2 (en) * 2005-03-30 2008-11-18 Intel Corporation Memory device commands

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04195890A (ja) * 1990-11-28 1992-07-15 Hitachi Ltd メモリシステム、メモリ素子およびリフレッシュ方式
JPH06176185A (ja) * 1992-12-03 1994-06-24 Alps Electric Co Ltd バーコードスキャナの感度調整回路
JPH08124380A (ja) * 1994-10-20 1996-05-17 Hitachi Ltd 半導体メモリ及び半導体メモリアクセス方法
JPH08315569A (ja) * 1995-05-16 1996-11-29 Hitachi Ltd 半導体記憶装置、及びデータ処理装置
JPH1011351A (ja) * 1996-06-20 1998-01-16 Nec Niigata Ltd コンピュータシステム
JPH11296414A (ja) * 1998-04-10 1999-10-29 Mitsubishi Materials Corp データ保存装置及び記録媒体
JP2000030464A (ja) * 1998-07-15 2000-01-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JP2000227895A (ja) * 1999-02-05 2000-08-15 Nec Niigata Ltd 画像データ転送装置および画像データ転送方法
JP2002343079A (ja) * 2001-05-18 2002-11-29 Melco Inc Dram装置およびdram装置のリフレッシュ方法
JP2005032428A (ja) * 2003-07-12 2005-02-03 Samsung Electronics Co Ltd メモリのリフレッシュ周期を制御するメモリコントローラおよびリフレッシュ周期制御方法
JP2008505429A (ja) * 2004-07-02 2008-02-21 クゥアルコム・インコーポレイテッド 温度測定によって半導体メモリ装置内のダイナミックリフレッシュを改善するための装置と方法
JP2008530721A (ja) * 2005-02-14 2008-08-07 クゥアルコム・インコーポレイテッド 揮発性メモリのレジスタの読み出し

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