KR960002498B1 - 반전형 IC의 제조방법 및 그것을 사용한 IC모듈(module) - Google Patents

반전형 IC의 제조방법 및 그것을 사용한 IC모듈(module) Download PDF

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히로시 세끼
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미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤
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Abstract

내용 없음.

Description

반전형 IC의 제조방법 및 그것을 사용한 IC모듈(module)
제1도는 이 발명의 제1실시예에 관련된 IC모듈을 표시하는 단면도.
제2도는 제1실시예에 사용된 표준형 IC를 표시하는 투시평면도.
제3도는 제2도의 A-A선 화살로 본 단면도.
제4도는 제1실시예에 사용된 반전형 IC를 표시하는 투시평면도.
제5도는 제4도의 B-B선 화살로 본 단면도.
제6도는 이 발명의 제2실시예에 관련된 IC모듈을 표시하는 단면도.
제7도는 제2실시예에 사용된 표준형 IC를 표시하는 투시평면도.
제8도는 제7도의 C-C선 화살로 본 단면도.
제9도는 제2실시예에 사용된 반전형 IC를 표시하는 투시평면도.
제10도는 제9도의 D-D선 화살로 본 단면도.
제11도는 이 발명의 제3실시예에 사용된 표준형 IC를 표시하는 투시평면도.
제12도는 제11도의 E-E선 화살로 본 단면도.
제13도는 제3실시예에 사용된 반전형 IC를 표시하는 투시평면도.
재14도는 제13도의 F-F선 화살로 본 단면도.
제15도는 제1실시예의 변형예에 사용된 반전형 IC를 표시하는 투시평면도.
제16도는 제15도의 G-G선 화살로 본 단면도.
제17도는 이 발명의 제4실시예에 관련된 IC모듈을 표시하는 단면도.
제18도는 종래의 IC를 표시하는 단면도.
제19도는 종래의 IC모듈을 표시하는 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
20 : 표준형 IC 21 : 반도체칩
22a : 제1의 전극패드군 22b : 제2의 전극패드군
23 : 와이어 24a : 제1의 리드군
24b : 제2의 리드군 25 : 아우터 리드부
28 : 실장기판 29 : 스루홀
30 : 반전형 IC 33 : 와이어
34a : 제1의 리드군 34b : 제2의 리드군
35 : 아우터 리드부 38 : 실장기판
40 : 표준형 IC 41 : 반도체칩
42a : 제1의 전극패드군 42b : 제2의 전극패드군
43 : 와이어 44a : 제1의 리드군
44b : 제2의 리드군 45 : 아우터 리드부
50 : 반전형 IC 53 : 와이어
60 : 표준형 IC 61 : 반도체칩
62a : 제1의 전극패드군 62b : 제2의 전극패드군
63 : 와이어 64a : 제1의 리드군
64b : 제2의 리드군 65 : 아우터 리드부
70 : 반전형 IC 73 : 와이어
74a : 제1의 리드군 74b : 제2의 리드군
75 : 아우터 리드부 80 : 반전형 IC
83 : 와이어 84a : 제1의 리드군
84b : 제2의 리드군 85 : 아우터 리드부
이 발명은 고밀도 실장용의 반전형 IC를 제조방법 및 그 반전형 IC를 실장한 IC모듈에 관한다.
종래의 수지봉지형 IC(8)의 구조를 제18도에 표시한다.
다이패드(die pad)(11)의 위에 반도체칩(1)이 탑재되어, 반도체칩(1)의 표면(1a)상에 형성된 전극패드(2)와 이것에 대응하는 리드(4)의 이너리드(inner lead)부와를 와이어(3)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
리드(4)의 아우터 리드부(6)가 노출하도록 반도체칩(1) 와이어(3) 리드(4)의 이너리드부 및 다이패드(11)가 수지에서 되는 패키지 본체(5)에 의하여 봉지되어 있다.
각 리드(4)의 아우터 리드부(6)는 이 IC를 실장하기 위하여 통상 반도체칩(1)의 리면(1b)방향으로 구부려 가공되어 있다.
이와 같은 구조의 복수의 IC를 하나의 실장기판상에 실장하여 예컨데 대용량의 기억장치 등을 구성하는 경우, 복수의 IC의 동일기능을 가지는 리드 즉 동일의 핀번호의 리드끼리를 서로 접속할 필요가 있다.
이때 예컨데 복수의 IC를 실장기판의 양면에 실장하는 경우에는 실장기판의 표면에 실장된 IC의 핀배열과 리면에 실장된 IC의 핀배열 등이 서로 겹치지 않으므로 동일기능을 가진 리드끼리가 떨어져 버린다.
또, 복수의 IC를 실장기판의 하나의 면상에 실장하는 경우에 있어서도 서로 인접하는 IC에 있어서 동일 기능을 가진 리드는 서로 떨어진 위치로 되어 버린다.
따라서 동일기능의 리드끼리를 접속하기 위하여 실장기판상의 배선이 복잡하게 된다고 하는 문제가 있었다.
이 문제를 해결하는 수단이라 하여 제19도에 표시함과 같은 방법이 실개소 62-16865호 공보에 제안되어 있다.
이 방법에는 IC(8)과 같이 아우터 리드부(6)가 반도체칩(1)의 리면(1b)측에 접어 구부린 표준형의 IC에 대하여 IC(9)와 같이 아우터 리드부(6)를 반도체칩(1)의 표면(1a)측에 접어 구부리는 것에 의하여 핀접속이 반전된 IC가 작성된다.
그리하여 실장기판(7)의 표면(7a)상에 표준형의 IC(8)가 리면(7b)상에 반전형의 IC(9)가 각각 탑재된다.
이와 같이 하는 것에 의하여 쌍방의 IC(8) 및 (9)의 동일핀번호의 리드가 실장기판(7)을 끼어서 서로 겹치는 위치로 오기때문에 실장기판(7)에 스루홀(10)을 마련하는 것만으로 서로 대응하는 리드를 용이하게 접속할 수 있다.
그렇지만 패키지 두께가 1㎜ 정도의 TSOP(Thin Small Outline Package) 등의 초박형 패키지를 제19도와 같이 실장하면 다음과 같은 문제가 생긴다.
즉, 패키지 두께가 얇기 때문에 본체(5)에서 외부에 노출하고 있는 아우터 리드부(6)와 실장기판(7)과의 땜납 접합부가 단사이클로 파괴하여 버렸다.
이때문에 열스트레스를 흡수되도록 예컨데 IC(8)의 리드도출면을 높게하여 이 리드도출면에서 도출부터가 실장기판(7)까지의 길이 L1을 길게하는 것도 생각되지만 이 경우 반전형의 IC(9)에는 역으로 리드도출면에서 기판(7)까지의 길이 L2가 짧게되어 성능이 보다 악화하여 버린다.
더욱더 IC(8)과 IC(9)과는 리드 접어 구부린 형상이 다르므로 표준형과 반전형의 IC를 제조하기 위하여는 구부림 가공용의 금형이 2종 필요로 되어 생산성이 열화한다는 문제도 있다.
이 발명은 이와 같은 문제점을 해소하기 위하여 된 것으로 간단한 배선으로 고밀도실장이 가능하고 또한 신뢰성의 우수한 반전형 IC가 얻어지는 반전형 IC의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
또, 이 발명은 이와 같은 반전형 IC를 사용한 고신뢰성의 IC모듈을 제공하는 것도 또 목적으로 하고 있다.
청구항 1에 기재의 반전형 IC의 제조방법은 반도체칩의 표준상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군은 각각 와이어에 의해 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와 동일의 반도체칩을 사용하여 핀접속이 반전된 반전형의 IC를 제조하는 방법에 있어서, 반도체칩의 제1의 전극패드군과 제2의 리드군과를 와이어에 의하여 접속하고 반도체칩의 제2의 전극패드군과 제1의 리드군과를 와이어에 의하여 접속하여 각 리드의 아우터 리드부가 노출하도록 반도체칩, 제1및 제2의 리드군 및 와이어를 수지봉지하고 각 리드의 아우터 리드부를 반도체칩의 리면방향에 접어 구부리는 방법이다.
청구항 2기재의 IC모듈은 실장기판과 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군과가 각각 와이어에 의하여 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와 상기 표준형의 IC와 동일 기능을 가지는 리드끼리가 상기 실장기판을 끼어서 겹치도록 상기 실장기판의 리면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제2 및 제1의 리드군과가 각각 와이어에 의해 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향으로 접어 구부러진 반전형의 IC와 상기 실장기판에 마련됨과 같이 상기 표준형의 IC와 상기 반전형의 IC의 동일기능을 가지는 리드끼리를 전기적으로 접속하는 복수의 접속부재와를 구비한 것이다.
또, 청구항 3에 기재한 IC모듈은 실장기판과 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반조체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군과가 각각 와이어에 의하여 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와 상기 표준형의 IC와 동일기능을 가지는 리드끼리가 인접하여 전기적으로 접속되도록 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제2 및 제1의 리드군과가 각각 와이어에 의하여 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향으로 접어 구부러진 반전형의 IC와를 구비하는 것이 있다.
청구항 1에 기재한 반전형 IC의 제조방법에 있어서는 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군이 표준형의 IC와는 역으로 각각 제2 및 제1의 리드군에 와이어에 의하여 접속되어 각 리드의 아우터 리드부는 표준형 IC와 같이 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진다.
청구항 2에기재의 IC모듈에 있어서는 표준형의 IC가 실장기판의 표면사이에 탑재되는 한편, 청구항 1의 방법에 의해 제조된 반전형의 IC가 실장기판의 표면상에 탑재되어 표준형의 IC와 반전형의 IC의 동일기능을 가지는 리드끼리가 실장기판을 끼어서 겹치도록 배치되어 서로 접속부재에 의하여 전기적으로 접속된다.
청구항 3에 기재의 IC모듈에 있어서는 표준형의 IC와 청구항 1의 방법에 의하여 제조된 반전형의 IC 등이 같이 실장기판의 표면상에 탑재되어 표준형의 IC와 반전형의 IC의 동일기능을 가지는 리드끼리가 인접하여 전기적으로 접속된다.
[실시예]
이하 이 발명의 실시예를 첨부도면에 의거하여 설명한다.
제1도는 이 발명의 제1실시예에 관련되는 IC모듈을 표시하는 단면도이다.
실장기판(28)의 표면상에 표준형의 IC(20)가, 리면상에 반전형의 IC(30)가 각각 탑재되어 있다.
표준형의 IC(20)는 제2도 및 제3도에 표시됨과 같이 다이패드(26)를 소유하고 다이패드(26)의 위에 반도체칩(21)이 탑재되어 있다.
반도체칩(21)의 표면(21a)상에는 반도체칩(21)의 1쌍의 긴쪽의 변에 따라서 각각 제1 및 제2의 전극패드군(22a) 및 (22b)가 형성되어 반도체칩(21)의 1쌍의 긴쪽변의 근방에는 제1번째~제13번째의 리드에서되는 제1의 리드군(24a)와 제14번째~제26번째의 리드에서 되는 제2의 리드군(24b) 등이 각각 배열되어 있다.
반도체칩(21)의 제1의 전극패드군(22a)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(24a)의 리드의 이너리드부 등이 와이어(23)에 의해 전기적으로 접속되어 같이 제2의 전극패드군(22b)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(24b)의 리드의 이너리드부 등이 와이어(23)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
그리고 제1 및 제2의 리드군(24a) 및 (24b)의 각 리드의 아우터 리드부(25)가 노출하도록 반도체칩(21), 와이어(23) 각 리드의 이너리드부 및 다이패드(26)가 수지에서 되는 패키지 본체(27)에 의하여 봉지되어 있다.
각 리드의 아우터 리드부(25)는 반도체칩(21)의 리면(21b)의 방향으로 접어 구부러져 있다.
한편 반전형의 IC(30)는 제4도 및 제5도에 표시됨과 같이 다이패드(36)를 소유하고 다이패드(36)의 위에 표준형 IC(20)로 사용된 것과 같은 반도체칩(21)이 탑재되어 있다.
반도체칩(21)의 상방에는 제1번째~제13번째의 리드에서 되는 제1의 리드군(34a)과 제14번째~제26번째의 리드에서 되는 제2의 리드군(34b)과의 서로 배열되어 있다.
그리하여 표준형 IC(20)와는 역으로 반도체칩(21)의 제1의 전극패드군(22a)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(34b)의 리드의 이너리드부와의 와이어(33)에 의하여 전기적으로 접속되어 제2의 전극패드군(22b)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(34a)의 리드의 이너리드부와가 와이어(33)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
제1 및 제2의 리드군(34a) 및 (34b)의 각 리드의 아우터 리드부(35)가 노출하도록 반도체칩(21) 와이어(33), 각 리드의 이너리드부 및 다이패드(36)가 수지에서 되는 패키지 본체(27)에 의하여 봉지되어 있다.
각 리드의 아우터 리드부(35)는 표준형 IC(20)와 같이 반도체칩(21)의 리면(21b)의 방향으로 접어 구부러져 있다.
아직 IC(20) 및 (30)은 각각 4M 다이내믹(dynamic) RAM을 예시한 것이 있어, 제2도 및 제4도에 있어서 각 리드의 근방에 둥근표를 붙이어 기록된 숫자는 그 리드의 리드번호를 표시하고 있다.
또, 반도체칩(21)의 각 전극패드의 근방에 기록된 기호는 각각 그 전극패드의 기능을 표시한 것으로 예를 들면 D는 데이터(data)입력, Q는 데이터출력, W바(bar)는 라이트(Write) 제어입력, A0~A10은 어드레스(address)입력, Vcc는 전원 5V, Vss는 기준전압 0V를 나타내고 있다.
이상과 같이 표준형 IC(20)와 반전형 IC(30)와로는 반도체칩(21)의 제1 및 제2의 전극패드군(22a) 및 (22b)가 접속되는 리드군이 역으로 되어 있다.
즉 표준형 IC(20)에는 제1 및 제2의 전극패드군(22a) 및 (22b)가 각각 제1 및 제2의 리드군(24a) 및 (24b)에 접속되어 반전형 IC(30)에는 제1 및 제2의 전극패드군(22a) 및 (22b)가 각각 제2 및 제1의 리드군(34b) 및 (34a)에 접속되어 있다.
이때문에 예컨데 표준형 IC(20)의 제1번째의 리드에는 데이터 입력용 전극패드가 제26번째의 리드에는 기준전압 0V용의 전극패드가 각각 접속되어 한편 반전형 IC(30)의 제1번째의 리드에는 기준전압 0V용의 전극패드가 제26번째의 리드에는 데이터 입력용의 전극패드가 각각 접속되어 있다.
따라서 이들의 IC(20) 및 (30)을 제1도와 같이 실장기판(28)의 양면에 배치하면 쌍방의 IC(20) 및 (30)의 동일기능을 가진 리드끼리가 실장기판(28)을 끼고 서로 겹치는 위치에 오는 것이 된다.
서로 대응하는 이들의 리드의 아우터 리드부(25) 및 (35)는 실장기판(28)에 마련된 스루홀(28)을 통하여 서로 전기적으로 접속되어 있다.
이 스루홀(28)이 접속부재를 형성하고 있다.
상술한 반전형의 IC(30)는 다음과 같이 하여 제조하는 것이 된다.
우선 반도체칩(21)을 다이패드(36)상에 탑재하고 제1의 전극패드군(22a)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(34b)의 리드와를 와이어(33)에 의해 접속함과 같이 제2의 전극패드군(22b)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(34a)의 리드와를 와이어(33)에 의하여 접속한다.
다음 각 리드의 아우터 리드부(35)가 노출하도록 반도체칩(21), 와이어(33) 각 리드의 이너리드부 및 다이패드(36)를 수지에서 되는 패키지 본체(27)에 의해 봉지한다.
그 후 리드 구부림용의 금형을 사용하여 각 리드의 아우터 리드부(35)를 표준형 IC(20)와 같게 반도체칩(21)의 리드(21b)방향에 접어 구부림 가공한다.
또, 제1도에 표시된과 같이 IC(20) 및 (30)의 각 리드는 패키지 본체(27)의 높이방향 중앙부보다 반도체칩(21)의 표면(21a)이 임하는 방향으로 치우친 위치에서 외부에 도출되어 반도체칩(21)의 리면(21b)측에 접어 구부러져 있으므로 패키지 본체(27)의 외부에 노출하고 있는 리드의 길이를 크게 잡을 수가 있다.
이때문에 실장후의 열스트레스에 대한 신뢰성이 개선된다.
더욱더 바넌형 IC(30)의 각 리드의 아우터리드(35)는 표준형 IC(20)의 아우터 리드(5)와 같이 반도체칩(21)의 리면(21b)방향에 접어 구부림 가공한다.
또, 제1도에 표시됨과 같이 IC(20) 및 (30)의 각 리드는 패키지 본체(27)의 높이방향 중앙부보다 반도체칩(21)의 리면(21b)방향으로 구부러지므로 구부림 가공용의 금형은 표준형 IC(20)과 반전형 IC(30)과로 공통인 것을 사용하는 것이 되고 작업성 및 생산성이 개선된다.
제6도에 이 발명의 제2실시예에 관련되는 IC모듈을 표시한다.
실장기판(28)의 표면상에 표준형의 IC(40)가 리면상에 반전형의 IC(50)가 각각 탑재되어 있다.
표준형의 IC(40)를 제7도 및 제8도에 반전형의 IC(50)를 제9도 및 제10도에 각각 표시한다.
이들의 IC(40) 및 (50)은 같이 동일의 반도체칩(41), 제1 및 제2의 리드군(44a) 및 (44b), 다이패드(46) 및 패키지 본체(47)를 소유하고 있다.
반도체칩(41)의 표면(41a)상에는 그 긴쪽방향 중심선상에 따라서 제1 및 제2의 전극패드군(42a) 및 (42b)가 번갈아 또한 일직선상으로 형성되어 있어, 이들의 패드군(42a) 및 (42b)의 양측에 각각 제1 및 제2의 리드군(44a) 및 (44b)의 이너리드부가 배열되어 있다.
그리고 제7도에 표시됨과 같이 표준형 IC(40)에 있어서는 반도체칩(41)의 제1의 전극패드군(42a)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(44a)의 리드의 이너리드부는 와이어(43)에 의하여 전기적으로 접속되면 같이 제2의 전극패드군(42b)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(44b)의 리드의 이너리드부는 와이어(43)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
한편 제9도에 표시됨과 같이 반전형 IC(50)에 있어서는 반도체칩(41)의 제1의 전극패드군(42a)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(44b)의 리드의 이너리드부는 와이어(53)에 의하여 전기적으로 접속되면 같이 제2의 전극패드군(42b)의 각 전극패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(44a)의 리드의 이너리드부는 와이어(53)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
쌍방의 IC(40) 및 (50)에 있어서 각 리드의 아우터 리드부(45)는 반도체칩(41)의 리면(41b)의 방향으로 접어 구부러져 있다.
이와 같이 중심선상에 전극패드를 소유한 반도체칩을 사용하는 경우에는 와이어(43) 및 (53)의 접속을 변하는 것만으로 용이하게 반전형의 IC(50)을 얻을 수가 있다.
제3실시예에 사용되는 표준형 IC(60)을 제11도 및 제12도에 표시한다.
이 IC(60)에는 패키지 본체(67)의 4변에서 각각 리드가 도출되어 있다.
다이패드(66)상에 반도체칩(61)이 탑재되어, 반도체칩(61)의 상방에 리드번호 1~6, 15 및 16의 각 리드에서 되는 제1의 리드군(64a)와 리드번호 7~14의 각 리드에서되는 제2의 리드군(64b)는 배치되어 있다.
반도체칩(61)의 표면(61a)상에는 제1의 전극패드군(62a)와 제2의 전극패드군(62b)는 서로 평행으로 배열되어 있어 제1의 전극패드군(62a)의 각 패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(64a)의 리드의 이너리드부는 와이어(63)에 의하여 전기적으로 접속됨과 같이 제2의 전극패드군(62b)의 각 패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(64b)의 리드의 이너리드부는 와이어(63)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
또, 각 리드의 아우터 리드부(65)는 반도체칩(61)의 리면(61b)의 방향으로 접어 구부러져 있다.
이것에 대하여 반전형의 IC(70)에는 제13도 및 제14도에 표시됨과 같이 반도체칩(61)의 제1의 전극패드군(62a)의 각 패드와 이것에 대응하는 제2의 리드군(74b)의 리드의 이너리드부는 와이어(73)에 의하여 전기적으로 접속되어 제2의 전극패드군(62b)의 각 패드와 이것에 대응하는 제1의 리드군(74a)의 리드의 이너리드부는 와이어(73)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.
각 리드의 아우터 리드부(75)는 표준형 IC(60)와 같이 반도체칩(61)의 리면(61b)의 방향으로 접어 구부러져 있다.
상기의 표준형 IC(60) 및 반전형 IC(70)을 편성하는 것에 의하여 제1실시예 및 제2실시예와 같이 간단한 배선으로 신뢰성이 높은 IC모듈을 얻는 것이 된다.
아직 제1실시예로 사용된 반전형의 IC(30)에는 제4도 및 제5도에 표시됨과 같이 반도체칩(21)의 표면(21a)의 상방에 제1 및 제2의 리드군(34a) 및 (34b)를 배치하였지만 이것에 한하는 것은 아니다.
예컨데 제15도 및 제16도에 표시되는 반전형 IC(80)과 같이 반도체칩(21)의 리면(21b)를 가로지름과 같이 제1 및 제2의 리드군(84a) 및 (84b)를 배치하여도 좋다.
이 경우 반도체칩(21)의 리면(21b)을 지지하는 전용의 다이패드를 마련하는 것이 할 수 없으므로 반도체칩(21)의 리면(21b)에 절연필름(film)(88)을 접합하여 이 절연필름(88)을 통하여 반도체칩(21)을 제1 및 제2의 리드군(84a) 및 (84b)상에 탑재한다.
그리고 반도체칩(21)의 제1의 전극패드군(22a)의 각 패드와 제2의 리드군(84b)의 각 리드는 와이어(83)에 의하여 접속함과 같이 제2의 전극패드군(22b)의 각 패드와 제1의 리드군(84a)의 각 리드를 와이어(83)에 의해 접속하고 각 리드의 아우터 리드부(85)가 노출하도록 이것을 패키지 본체(87)에서 수지봉지한다.
또 제1실시예에는 실장기판(28)의 양면에 각각 표준형 IC(20)과 반전형 IC(30)과를 실장하였지만 이것에 한하는 것은 아니고 제17도에 표시됨과 같이 실장기판(38)의 표면상에 표준형 IC(20)가 반전형 IC(30)과를 인접하여 탑재하여도 좋다.
쌍방의 IC(20) 및 (30)의 동일기능을 소유하는 리드끼리 예컨데 표준형 IC(20)의 제2의 리드군(24b)의 각 리드와 반전형 IC(30)의 제1의 리드군(34a)의 각 리드는 서로 인접하고 전기적으로 접속되어 있다.
이 경우에는 실장기판(38)에 스루홀을 마련할 필요는 없어진다.
이상 설명한 바와 같이 청구항 1에 기재의 반전형 IC의 제조방법은 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군과의 각각 와이어에 의해 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와 동일한 반도체칩을 사용하여 핀접속이 반전된 반전형의 IC를 제조하는 방법이 있어 반도체칩의 제1의 전극패드군과 제2의 리드군과를 와이어에 의해 접속하고 반도체칩의 제2의 전극패드군과 제1의 리드군과를 와이어에 의해 접속하여 각 리드의 아우터 리드부가 노출하도록 반도체칩, 제1 및 제2의 리드군 및 와이어를 수지봉지하고 각 리드의 아우터 리드부를 반도체칩의 리면방향에 접어 구부림으로 간단한 배선에 의하여 고밀도실장이 가능하고 또한 신뢰성 우수한 반전형 IC를 얻을 수가 있다.
청구항 2에 기재의 IC모듈은 실장기판과 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군은 각각 와이어에 의하여 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와 상기 표준형의 IC와 동일기능을 소유한 리드끼리가 상기 실장기판을 끼어서 겹치도록 상기 실장기판의 리면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제2 및 제1의 리드군과는 각각 와이어에 의해 접속됨과 같이 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향으로 접어 구부러진 반전형의 IC와 상기 실징기판에 마련됨과 같이 상기 표준형의 IC와 상기 반전형의 IC의 동일기능을 소유한 리드끼리를 전기적으로 접속하는 복수의 접속부재와를 구비하고 있으므로 배선이 간단히됨과 동시에 신뢰성이 향상한다.
또, 청구항 3에 기재의 IC모듈은 실장기판과 상기 실장기판의 표면상에 탑재된 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1및 제2의 리드군은 각각 와이어에 의해 접속됨과 동시에 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향으로 접어 구부러진 표준형의 IC와 상기 표준형의 IC와 동일기능을 소유한 리드끼리가 인접하여 전기적으로 접속되도록 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제2 및 제1의 리드군과를 각각 와이어에 의해 접속됨과 동시에 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 반전형의 IC와를 구비하고 있으므로 배선이 간단하게 됨과 동시에 신뢰성이 향상한다.

Claims (3)

  1. 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군은 각각 와이어(wire)에 의해 접속됨과 동시에 각 리드(lead)의 아우터 리드(outer lead)부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와 동일한 반도체칩을 사용하여 핀접속이 반전된 반전형의 IC를 제조하는 방법이고, 반도체칩의 제1의 전극패드군과 제2의 리드군과를 와이어에 의해 접속하고, 반도체칩의 제2의 전극패드군과 제1의 리드군과를 와이어에 의해 접속하고, 각 리드의 아우터 리드부가 노출하도록 반도체칩, 제1 및 제2의 리드군 및 와이어를 수지봉지하고, 각 리드의 아우터 리드부를 반도체칩의 리면방향에 접어 구부리는 것을 특징으로 하는 반전형 IC의 제조방법.
  2. 실장기판과 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군과의 각각 와이어에 의해 접속됨과 동시에 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와, 상기 표준형의 IC와 동일기능을 소유한 리드끼리가 상기 실장기판을 끼어서 겹치도록 상기 실장기판의 리면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드(pad)군과 제2 및 제1의 리드군은 각각 와이어에 의해 접속됨과 동시에 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 반전형의 IC와, 상기 실장기판에 마련됨과 동시에 상기 표준형의 IC와 상기 반전형의 IC의 동일기능을 소유한 리드끼리를 전기적으로 접속하는 복수의 접속부재와를 구비한 것을 특징으로 하는 IC모듈.
  3. 실장기판과 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제1 및 제2의 리드군과의 각각 와이어에 의하여 접속됨과 동시에 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 표준형의 IC와, 상기 표준형의 IC와 동일기능을 소유한 리드끼리가 인접하여 전기적으로 접속되도록 상기 실장기판의 표면상에 탑재되어 또한 반도체칩의 표면상에 형성된 제1 및 제2의 전극패드군과 제2 및 제1의 리드군과의 각각 와이어에 의하여 접속됨과 동시에 각 리드의 아우터 리드부가 각각 반도체칩의 리면방향에 접어 구부러진 반전형의 IC와를 구비한 것을 특징으로 하는 IC모듈.
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