JPH10276081A - 入力回路および出力回路ならびに入出力回路 - Google Patents

入力回路および出力回路ならびに入出力回路

Info

Publication number
JPH10276081A
JPH10276081A JP9079385A JP7938597A JPH10276081A JP H10276081 A JPH10276081 A JP H10276081A JP 9079385 A JP9079385 A JP 9079385A JP 7938597 A JP7938597 A JP 7938597A JP H10276081 A JPH10276081 A JP H10276081A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
node
electrode
electrode connected
power supply
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9079385A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3544819B2 (ja
Inventor
Harumi Kono
治美 河野
Akihiro Sushihara
昭博 須志原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd, Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP07938597A priority Critical patent/JP3544819B2/ja
Priority to KR10-1998-0010478A priority patent/KR100374247B1/ko
Priority to US09/049,146 priority patent/US6057717A/en
Priority to EP02004689A priority patent/EP1239591B1/en
Priority to DE69819582T priority patent/DE69819582T2/de
Priority to DE69832827T priority patent/DE69832827T2/de
Priority to EP98105843A priority patent/EP0869616B1/en
Priority to DE69834756T priority patent/DE69834756T2/de
Priority to DE69832828T priority patent/DE69832828T2/de
Priority to EP02004673A priority patent/EP1229648B1/en
Priority to TW087104794A priority patent/TW401657B/zh
Priority to EP02004690A priority patent/EP1229650B1/en
Priority to EP02004674A priority patent/EP1229649B1/en
Priority to DE69834755T priority patent/DE69834755T2/de
Publication of JPH10276081A publication Critical patent/JPH10276081A/ja
Priority to US09/541,430 priority patent/US6307421B1/en
Priority to US09/794,052 priority patent/US6400191B2/en
Priority to US10/125,405 priority patent/US6525576B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3544819B2 publication Critical patent/JP3544819B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00315Modifications for increasing the reliability for protection in field-effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0175Coupling arrangements; Interface arrangements
    • H03K19/0185Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
    • H03K19/018507Interface arrangements
    • H03K19/018521Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 低消費電力化、動作の高速化、およびVIH
マージンの向上を図る。 【解決手段】 内部電源VDDは外部電源VCCよりも
低い。入出力端子YPADに電圧VCCが入力された場
合には、YPADが電圧VCCに上昇するまでは、PM
OSトランジスタP7がONしており、YPADがVD
Dより高くなると、P7がOFFする。従って出力端子
OUTは内部電源レベルとなる。またYPADから”
H”レベルの電圧を出力する場合には、YPADが電圧
VDDに上昇するまでは、PMOSトランジスタP2が
ONし、YPADがVDDより高くなるとP2がOFF
する。従って、YPADはVDDまでは高速に上昇し、
その後、プルアップ抵抗R1により外部電源レベルまで
上昇する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路装
置に用いられる入力回路、出力回路、入出力回路に関す
るものであり、特に、内部電源電圧よりも高い信号電圧
が入力される場合に有効な入力回路および入出力回路、
信号出力端子の電圧が電源電圧よりも高くなる場合に有
効な出力回路および入出力回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図24は半導体集積回路装置(LSIチ
ップ)に用いられる従来の入力回路を示す回路図であ
る。また図25は図24に示す従来の入力回路における
動作タイミング図である。図24に示す入力回路は、耐
圧の弱いプロセスによるLSIに用いられ、外部からの
0〜5[V]振幅の入力信号を、常時ONとなっている
NMOSトランジスタΝ100により0〜(VDD−N
MOSしきい値電圧)までの振幅にして、同一チップの
内部回路に与えるものであった。そして、内部回路のし
きい値を低めに設定していた。
【0003】また、図26はLSIチップに用いられる
従来の出力回路を示す回路図である。また図27は図2
6に示す従来の出力回路における動作タイミング図であ
る。図26に示す出力回路は、耐圧の弱いプロセスによ
りLSIに用いられ、常時ONしているNMOSトラン
ジスタN101を設けたオープンドレイン回路を、外部
に設けられた、5[V]へのプルアップ抵抗R1に接続
したものであった。NMOSトランジスタN101によ
り、N102のドレイン、ソース電極間には5[V]の
電位差は生じない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図24に示した従来の
入力回路では、内部電源電圧VDDを3[V]とする
と、5[V]の電圧が入力されたときに、ノードYの電
位はVDD−NMOS閾値となるので、約2.3[V]
となる。そのため、入力回路のVIH規格に対して厳し
くなるという問題があった。VIH規格とは、入力回路
からの”H”レベル電圧に、内部回路のしきい値に対し
て充分なマージンを持たせることができているか否かを
示す規格である。
【0005】また図26に示した従来の出力回路では、
出力波形の立ち上がりはプルアップ抵抗R1の値により
決定され、高速に動作させるためにはR1の抵抗値を小
さくする必要がある。しかし抵抗値を小さくすることに
より電流を多く消費することになる。逆に消費電流を小
さくするために抵抗値を大きくすると、出力波形の立ち
上がりが遅くなり高速性を損なうという問題点があっ
た。
【0006】本発明はこのような従来の問題を解決する
ものであり、充分なVIHマージンを充分に確保するこ
とができ、耐圧の弱いプロセスに対応でき、高速動作が
可能であり、かつ消費電流が小さい入力回路、出力回
路、および入出力回路を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の請求項1記載の出力回路は、ゲート電極が
第1のノードに接続され、第1電極が第1の電源に接続
され、第2電極が第2のノードに接続された第1のMO
Sトランジスタと、ゲート電極が第3のノードに接続さ
れ、第1電極が前記第2のノードに接続され、第2電極
が第4のノードに接続され、基板がフローティング状態
である第5のノードに接続された第2のMOSトランジ
スタと、ゲート電極が第6のノードに接続され、第1電
極が前記第3のノードに接続され、第2電極が前記第4
のノードに接続され、基板が前記第5のノードに接続さ
れた第3のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第
6のノードに接続され、第1電極が前記第3のノードに
接続され、第2電極が第2の電源に接続された第4のM
OSトランジスタと、入力端子が前記第4のノードに接
続され、出力端子が前記第6のノードに接続されたイン
バータとを有することを特徴とする。
【0008】本発明の請求項6記載の出力回路は、ゲー
ト電極が第1のノードに接続され、第1電極が第1の電
源に接続され、第2電極が第2のノードに接続された第
1のMOSトランジスタと、ゲート電極が第3のノード
に接続され、第1電極が前記第2のノードに接続され、
第2電極が第4のノードに接続され、基板がフローティ
ング状態である第5のノードに接続された第2のMOS
トランジスタと、ゲート電極が第6のノードに接続さ
れ、第1電極が前記第3のノードに接続され、第2電極
が前記第4のノードに接続され、基板が前記第5のノー
ドに接続された第3のMOSトランジスタと、ゲート電
極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前記第4の
ノードに接続され、第2電極が第7のノードに接続され
た第4のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第3
のノードに接続され、第1電極が前記第7のノードに接
続され、第2電極が前記第4のノードに接続され、基板
が前記第5のノードに接続された第5のMOSトランジ
スタと、入力端子が前記第7のノードに接続され、出力
端子が第8のノードに接続されたインバータと、ゲート
電極が前記第8のノードに接続され、第1電極が第2の
電源に接続され、第2電極が前記第6のノードに接続さ
れた第6のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第
1の電源に接続され、第1電極が前記第6のノードに接
続され、第2電極が前記第3のノードに接続された第7
のMOSトランジスタとを有することを特徴とする。
【0009】本発明の請求項11記載の出力回路は、ゲ
ート電極が第1のノードに接続され、第1電極が第1の
電源に接続され、第2電極が第2のノードに接続された
第1のMOSトランジスタと、ゲート電極が第3のノー
ドに接続され、第1電極が前記第2のノードに接続さ
れ、第2電極が第4のノードに接続され、基板がフロー
ティング状態である第5のノードに接続された第2のM
OSトランジスタと、ゲート電極が第6のノードに接続
され、第1電極が前記第3のノードに接続され、第2電
極が前記第4のノードに接続され、基板が前記第5のノ
ードに接続された第3のMOSトランジスタと、ゲート
電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前記第4
のノードに接続され、第2電極が第7のノードに接続さ
れた第4のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第
3のノードに接続され、第1電極が前記第7のノードに
接続され、第2電極が前記第4のノードに接続され、基
板が前記第5のノードに接続された第5のMOSトラン
ジスタと、第1入力端子が前記第7のノードに接続さ
れ、第2入力端子が第8のノードに接続され、出力端子
が第9のノードに接続されたNORゲートと、ゲート電
極が前記第9のノードに接続され、第1電極が第2の電
源に接続され、第2電極が第10のノードに接続された
第6のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第1の
電源に接続され、第1電極が前記第10のノードに接続
され、第2電極が前記第3のノードに接続された第7の
MOSトランジスタと、ゲート電極が前記第1の電源に
接続され、第1電極が前記第3のノードに接続され、第
2電極が第11のノードに接続された第8のMOSトラ
ンジスタと、ゲート電極が前記第8のノードに接続さ
れ、第1電極が前記第11のノードに接続され、第2電
極が前記第1のノードに接続された第9のMOSトラン
ジスタと、ゲート電極が第12のノードに接続され、第
1電極が前記第10のノードに接続され、第2電極が前
記第6のノードに接続された第10のMOSトランジス
タと、ゲート電極が前記第12のノードに接続され、第
1電極が前記第1の電源に接続され、第2電極が前記第
6のノードに接続された第11のMOSトランジスタと
を有することを特徴とする。
【0010】また、本発明の請求項16記載の入力回路
は、ゲート電極および第1電極が第1の電源に接続さ
れ、第2電極が第1のノードに接続された第1のMOS
トランジスタと、ゲート電極が第2のノードに接続さ
れ、第1電極が前記第1のノードに接続され、第2電極
が第3のノードに接続され、基板がフローティング状態
である第4のノードに接続された第2のMOSトランジ
スタと、ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1
電極が前記第2のノードに接続され、第2電極が前記第
3のノードに接続され、基板が前記第4のノードに接続
された第3のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記
第1の電源に接続され、第1電極が前記第3のノードに
接続され、第2電極が第5のノードに接続された第4の
MOSトランジスタと、ゲート電極が前記第2のノード
に接続され、第1電極が前記第5のノードに接続され、
第2電極が前記第3のノードに接続され、基板が前記第
4のノードに接続された第5のMOSトランジスタと、
入力端子が前記第5のノードに接続され、出力端子が第
6のノードに接続されたインバータと、ゲート電極が前
記第6のノードに接続され、第1電極が第2の電源に接
続され、第2電極が第7のノードに接続された第6のM
OSトランジスタと、ゲート電極が前記第1の電源に接
続され、第1電極が前記第7のノードに接続され、第2
電極が前記第2のノードに接続された第7のMOSトラ
ンジスタとを有することを特徴とする。
【0011】本発明の請求項26記載の入力回路は、第
1のノードに接続する入力端子と、ゲート電極が前記第
1のノードに接続され、第1電極が第1の電源に接続さ
れ、第2電極および基板がフローティング状態である第
2のノードに接続された第1のMOSトランジスタと、
ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
記第1のノードに接続され、第2電極が第3のノードに
接続され、基板が前記第2のノードに接続された第2の
MOSトランジスタと、第1端子が前記第3のノードに
接続され、第2端子が第2の電源に接続された負荷回路
と、ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極
が前記第3のノードに接続され、第2電極が第4のノー
ドに接続された第3のMOSトランジスタと、入力端子
が前記第4のノードに接続され、出力端子が第5のノー
ドに接続されたコンパレータ回路と、前記第5のノード
に接続された出力端子とを有することを特徴とする。
【0012】本発明の請求項27記載の入力回路は、第
1のノードに接続する入力端子と、ゲート電極が前記第
1のノードに接続され、第1電極が第1の電源に接続さ
れ、第2電極および基板がフローティング状態である第
2のノードに接続された第1のMOSトランジスタと、
ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
記第1のノードに接続され、第2電極が第3のノードに
接続され、基板が前記第2のノードに接続された第2の
MOSトランジスタと、第1端子が前記第3のノードに
接続され、第2端子が第2の電源に接続された負荷回路
と、ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極
が前記第3のノードに接続され、第2電極が第4のノー
ドに接続された第3のMOSトランジスタと、ゲート電
極が前記第4のノードに接続され、第1電極が第5のノ
ードに接続され、第2電極が前記第2の電源に接続され
た第4のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第4
のノードに接続され、第1電極および基板が第6のノー
ドに接続され、第2電極が前記第5のノードに接続され
た第5のMOSトランジスタと、入力電極が前記第5の
ノードに接続され、出力電極が第7のノードに接続され
たインバータと、ゲート電極が前記第7のノードに接続
され、第1電極が前記第1の電源に接続され、第2電極
が前記第6のノードに接続された第6のMOSトランジ
スタと、ゲート電極が前記第7のノードに接続され、第
1電極が前記第6のノードに接続され、第2電極が前記
第1の電源に接続された第7のMOSトランジスタと、
前記第7のノードに接続された出力端子とを有すること
を特徴とする。
【0013】また本発明の請求項29記載の入出力回路
は、ゲート電極が第1のノードに接続され、第1電極が
第1の電源に接続され、第2電極が第2のノードに接続
された第1のMOSトランジスタと、ゲート電極が第3
のノードに接続され、第1電極が前記第2のノードに接
続され、第2電極が第4のノードに接続され、基板がフ
ローティング状態である第5のノードに接続された第2
のMOSトランジスタと、ゲート電極が前記第1の電源
に接続され、第1電極が前記第3のノードに接続され、
第2電極が前記第4のノードに接続され、基板が前記第
5のノードに接続された第3のMOSトランジスタと、
ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
記第4のノードに接続され、第2電極が第6のノードに
接続された第4のMOSトランジスタと、ゲート電極が
前記第3のノードに接続され、第1電極が前記第6のノ
ードに接続され、第2電極が前記第4のノードに接続さ
れ、基板が前記第5のノードに接続された第5のMOS
トランジスタと、入力端子が前記第6のノードに接続さ
れ、出力端子が第7のノードに接続されたインバータ
と、ゲート電極が前記第7のノードに接続され、第1電
極が第2の電源に接続され、第2電極が第8のノードに
接続された第6のMOSトランジスタと、ゲート電極が
第9のノードに接続され、第1電極が前記第8のノード
に接続され、第2電極が第10のノードに接続された第
7のMOSトランジスタと、ゲート電極が第11のノー
ドに接続され、第1電極が前記第10のノードに接続さ
れ、第2電極が前記第1のノードに接続された第8のM
OSトランジスタと、ゲート電極が前記第1の電源に接
続され、第1電極が前記第10のノードに接続され、第
2電極が前記第3のノードに接続された第9のMOSト
ランジスタとを有することを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】
第1の実施形態 図1は本発明の第1の実施形態の入出力回路を示す回路
図である。図1に示す入出力回路は、LSIチップに内
蔵されており、入力端子INと、イネーブル入力端子E
Bと、出力端子OUTと、入出力端子YPADと、2入
力のNANDゲート1と、2入力のNORゲート2と、
PMOSトランジスタP1〜P7と、NMOSトランジ
スタN1〜N5、N7、N9と、インバータINV1〜
INV3とを有する。このLSIチップの内部電源VD
Dは、ここでは3[V]とする。入出力端子YPADに
は、このLSIチップの外部に設けられた外部回路(図
示しない)が接続されているものとする。入出力端子Y
PADは、外部回路が図1の入出力回路に信号電圧を入
力し、また図1の入出力回路が外部回路に信号電圧を出
力するするための端子である。外部電源VCCは、ここ
では5[V]とする。また外部回路が入出力端子YPA
Dに入力する信号電圧の”H”レベルは、外部電源VC
Cレベル(5[V])であるものとする。
【0015】NANDゲート1は、その第1入力端子が
入力端子INに接続され、その第2入力端子がイネーブ
ル入力端子EBに接続され、その出力端子が内部ノード
PGに接続されている。NORゲート2はその第1入力
端子が入力端子INに接続され、その第2入力端子がイ
ンバータINV1を介してイネーブル入力端子EBに接
続され、その出力端子が内部ノードNGに接続されてい
る。
【0016】NMOSトランジスタN1は、そのゲート
電極がノードNGに接続され、そのソース電極が接地電
源GNDに接続されている。NMOSトランジスタN2
は、そのゲート電極が内部電源VDDに接続され、その
ドレイン電極が端子YPADに接続され、そのソース電
極がNMOSトランジスタN1のドレイン電極に接続さ
れている。
【0017】NMOSトランジスタN3は、そのゲート
電極がインバータINV2を介して出力端子OUTに接
続され、そのソース電極が接地電源GNDに接続されて
いる。NMOSトランジスタN4は、そのゲート電極が
インバータINV3を介してノードNGに接続され、そ
のドレイン電極が内部ノードG2に接続され、そのソー
ス電極がNMOSトランジスタN3のドレイン電極に接
続されている。NMOSトランジスタN5は、そのゲー
ト電極がイネーブル端子EBに接続され、そのドレイン
電極がノードPGに接続され、そのソース電極がノード
G2に接続されている。NMOSトランジスタN9は、
そのゲート電極が内部電源VDDに接続され、そのドレ
イン電極がノードG2に接続され、そのソース電極がノ
ードG1に接続されている。
【0018】PMOSトランジスタP1は、そのゲート
電極がノードPGに接続され、そのソース電極が内部電
源VDDに接続され、そのドレイン電極は内部ノードS
に接続されている。PMOSトランジスタP2は、その
ゲート電極がノードG1に接続され、そのドレイン電極
が入出力端子YPADに接続され、そのソース電極がノ
ードSに接続されている。PMOSトランジスタP3
は、そのゲート電極がノードG1に接続され、そのソー
ス電極がノードSに接続されている。PMOSトランジ
スタP4は、そのゲート電極が内部電源VDDに接続さ
れ、ドレイン電極がノードG1に接続され、そのソース
電極が入出力端子YDADに接続されている。PMOS
トランジスタP5は、そのゲート電極が内部電源VDD
に接続され、そのソース電極が入出力端子YDADに接
続されている。
【0019】NMOSトランジスタN7は、そのゲート
電極が内部電源VDDに接続され、その第1電極(ドレ
イン電極またはソース電極)が入出力端子YPADに接
続され、その第2電極(ソース電極またはドレイン電
極)が出力端子OUTに接続されている。PMOSトラ
ンジスタP7は、そのゲート電極がノードG1に接続さ
れ、その第1電極(ドレイン電極またはソース電極)が
出力端子OUTに接続され、その第2電極(ソース電極
またはドレイン電極)が入出力端子YPADに接続され
ている。PMOSトランジスタP6は、そのゲート電極
およびソース電極が内部電源VDDに接続され、ドレイ
ン電極が出力端子OUTに接続されている。
【0020】PMOSトランジスタP2、P3、P4、
P5、P7は共通のバルク(基板)Bに形成されてい
る。このフローティングバルクBは、内部電源VDDお
よび接地電源GNDのいずれにも接続されていないNウ
エルである。PMOSトランジスタP3およびP5のド
レイン電極はフローティングバルクBに接続されてい
る。PMOSトランジスタP1およびP6のバルクは内
部電源VDDに接続されており、NMOSトランジスタ
N1〜N5、N7、N9のバルクは接地電源GNDに接
続されている。
【0021】入出力端子YPADには、PMOSトラン
ジスタP2のドレイン電極と、P4、P5の各ソース電
極と、P7の第2電極と、NMOSトランジスタN2の
ドレイン電極と、N7の第1電極とが接続されている。
ノードPGには、NANDゲート1の出力端子と、PM
OSトランジスタP1のゲート電極と、NMOSトラン
ジスタN5のドレイン電極とが接続されている。ノード
NGには、NORゲート2の出力端子と、インバータI
NV3の入力端子と、NMOSトランジスタN1のゲー
ト電極とが接続されている。ノードG1には、PMOS
トランジスタP2、P3、P7の各ゲート電極と、PM
OSトランジスタP4のドレイン電極と、NMOSトラ
ンジスタN9のソース電極とが接続されている。ノード
G2には、NMOSトランジスタN5のソース電極と、
N4、N9の各ドレイン電極とが接続されている。ノー
ドSには、PMOSトランジスタP1のドレイン電極
と、P2、P3の各ソース電極とが接続されている。出
力端子OUTには、インバータINV2の入力端子と、
PMOSトランジスタP6のドレイン電極と、P7の第
1電極と、NMOSトランジスタN7の第2電極とが接
続されている。
【0022】次に、図1に示す入出力回路の動作を説明
する。図2は図1に示す入出力回路が入力回路として動
作したときの動作タイミング図であり、(a)および
(b)は各部の電圧波形、(c)は消費電流波形を示
す。図1の入出力回路は、イネーブル入力端子EBが”
L”レベルのとき、図示しない外部回路から入出力端子
YPADに入力された信号を出力端子OUTから出力す
る入力回路として動作し、またイネーブル入力端子EB
が”H”レベルのとき、入力端子INに入力された信号
を入出力端子YPADから出力する出力回路として動作
する。
【0023】まず、イネーブル入力端子EBが”L”レ
ベル(0[V])に設定されているときの動作を説明す
る。NANDゲート1の出力すなわちノードPGは”
H”レベル(3[V])となるので、PMOSトランジ
スタP1はOFFしている。インバータINV1の出力
は”H”レベルとなり、NORゲート2の出力すなわち
ノードNGは”L”レベルとなるので、NMOSトラン
ジスタN1はOFFしている。またイネーブル入力端子
EBが”L”レベルなので、NMOSトランジスタN5
はOFFしている。ノードNGが”L”レベルなので、
インバータINV3の出力は”H”レベルとなり、これ
によりNMOSトランジスタN4はONしている。
【0024】このようにイネーブル入力端子EBが”
L”レベルのとき、PMOSトランジスタP1、NMO
SトランジスタN1はともにOFFしており、入力端子
INのレベルにかかわらず、入出力端子YPADのイン
ピーダンス(入出力端子YPADから入出力回路側を見
たインピーダンス)は高インピーダンスとなる。すなわ
ち、イネーブル入力端子EBが”L”レベルに設定され
て入力回路として動作するとき、出力端子YPADは高
インピーダンスとなる。
【0025】入出力端子YPADが”L”レベル(0
[V])のとき、NMOSトランジスタN7はONして
おり、出力端子OUTは”L”レベルとなる。出力端子
OUTが”L”レベルなので、インバータINV2の出
力は”Η”レベルとなり、これによりNMOSトランジ
スタN3はONしており、またN4もONしている。N
MOSトランジスタN3およびN4がONしているの
で、ノードG2は”L”レベルとなっている。ノードG
2が”L”レベルなので、NMOSトランジスタN9が
ONしており、これによりノードG1は”L”レベルと
なっている。
【0026】次に入出力端子YPADが”L”レベルか
ら外部電源VCCレベル(5[V])に変化すると、出
力端子OUTは内部電源VDDレベルに変化する。ここ
で、説明の簡単化のため、PMOSトランジスタのしき
い値電圧の絶対値と、NMOSトランジスタのしきい値
とは等しいものとし、これをVthとする。
【0027】入出力端子YPADがVthまで上昇する
と、ノードG1が”L”レベルなので、PMOSトラン
ジスタP7がターンONする。またNMOSトランジス
タN7は、入出力端子YPADの電位が3[V]−Vt
h以下であるときONしており、3[V]−Vtn以上
となるとターンOFFする。従って、入出力端子YPA
Dが3[V]まで上昇したとき、PMOSトランジスタ
P7およびNMOSトランジスタN7により、出力端子
OUTは3[V]−Vthではなく3[V]まで上昇す
る。
【0028】また入出力端子YPADがVthまで上昇
すると、ノードG1が”L”レベルなので、PMOSト
ランジスタP2がターンONする。PMOSトランジス
タP2のターンONにより、ノードSは入出力端子YP
ADと同じ電位に上昇し、これによりPMOSトランジ
スタP3もターンONする。PMOSトランジスタP2
およびP3のターンONにより、フローティングバルク
Bは入出力端子YPADと同じ電位となる。
【0029】入出力端子YPADおよび出力端子OUT
が3[V]に上昇すると、インバータINV2の出力
が”H”レベルから”L”レベルに変化し、これにより
NMOSトランジスタN3がターンOFFする。しか
し、ノードG1は”L”レベルのままである。
【0030】さらに入出力端子YPADの電位が3
[V]+Vthに上昇すると、PMOSトランジスタP
4およびP5がターンONする。PMOSトランジスタ
P4のターンONにより、ノードG1は”L”レベルか
ら入出力端子YPADおよびノードSと同じ電位に変化
する。ノードG1と入出力端子YPADとが同じ電位に
なることにより、PMOSトランジスタP7がターンO
FFする。ノードG1と出力端子YPADとが同じ電位
になることにより、PMOSトランジスタP2およびP
3がターンOFFする。またPMOSトランジスタP5
のターンONにより、フローティングバルクBの電位は
入出力端子YPADと同じ電位となる。
【0031】そして、入出力端子YPADが最終的に外
部電源電圧VCCレベル(5[V])となったとき、フ
ローティングバルクB、ノードG1およびフローティン
グバルクBも5[V]となる。もしも、PMOSトラン
ジスタP7がターンOFFする前に、出力端子OUTの
電位が3[V]+Vthよりも高くなったときには、P
MOSトランジスタP6がターンONし、このP6によ
る順方向ダイオードにより、出力端子OUTの電位を3
[V]+Vthにクランプする。
【0032】上記のように、イネーブル入力端子EB
=”L”レベルであり、入出力端子YPADが5[V]
であるとき、PMOSトランジスタP2およびP3がO
FFしていることにより、PMOSトランジスタP1の
ドレイン電極(ノードS)はハイインピーダンスとなっ
ており、ノードSおよびPMOSトランジスタP1のバ
ルクを通して、入出力端子YPADから内部電源VDD
にリーク電流が流れてしまうことはない。またフローテ
ィングバルクBは内部電源VDDには接続していないの
で、PMOSトランジスタP2のドレイン電極、および
P4、P5の各ソース電極を介してフローティングバル
クBから内部電源VDDにリーク電流が流れてしまうこ
ともない。またインバータINV2の入力端子は、イン
バータINV2内部の図示しないMOSトランジスタの
ゲート電極に接続されており、ハイインピーダンスとな
っている。またNMOSトランシスタN1のドレインと
バルクとは逆バイアスされており、N1のドレイン電極
もハイインピーダンスとなっている。従って、出力端子
OUTから接地電源GNDにリーク電流が流れてしまう
こともない。
【0033】次に、イネーブル入力端子EBが”H”レ
ベル(3[V])に設定されているときの動作を説明す
る。このとき、図1の入出力回路は出力回路として動作
し、入力端子INに入力された信号を入出力端子YPA
Dから出力する。
【0034】入力端子INが”L”レベル(0[V])
のときは、NANDゲート1の出力すなわちノードPG
は”H”レベルとなるので、PMOSトランジスタP1
はOFFしている。またNORゲート2の出力すなわち
ノードNGは”H”レベルとなるので、NMOSトラン
ジスタN1はONしている。従って入出力端子YPAD
は”L”レベル(0[V])となっている。
【0035】入出力端子YPADが”L”レベルなの
で、NMOSトランジスタN7はONしており、これに
より出力端子OUTは”L”レベルとなっている。イン
バータINV2の出力すなわちノードOUTNは”Η”
レベル(3[V])となるので、NMOSトランジスタ
N3はONしている。またノードNGが”H”レベルな
ので、インバータINV3の出力は”L”レベルであ
り、従ってNMOSトランジスタN4はOFFしてい
る。またイネーブル入力端子EBが”H”レベルなの
で、NMOSトランジスタN5のソース電極すなわちノ
ードG2の電位は3[V]−Vthとなり、またNMO
SトランジスタN9のソース電極すなわちノードG1の
電位は3[V]−Vthとなっている。ノードG1およ
び内部電源VDDの電位が入出力端子YPADの電位よ
りも高いので、PMOSトランジスタP2、P4、P
5、P7はOFFしている。ノードSの電位は3[V]
−Vth以下となっており、PMOSトランジスタP3
もOFFしている。
【0036】次に入力端子INを”L”レベルから”
Η”レベルに変化させると、NANDゲート1の出力す
なわちはノードPGは”H”レベルから”L”レベルに
変化しするので、PMOSトランジスタP1はターンO
Nし、NMOSトランジスタN5もターンONする。ま
たNORゲート2の出力は”H”から”L”に変化し、
ノードNGは”L”レベルとなり、NMOSトランジス
タN1はターンOFFする。またノードNGが”L”レ
ベルとなると、インバータINV3の出力が、”L”レ
ベルから”H”レベルに変化し、これによりNMOSト
ランジスタN4がターンONする。MOSトランジスタ
N4、N5のターンONにより、ノードG2は”L”レ
ベルとなり、これによりNMOSトランジスタN9がタ
ーンONし、ノードG1も”L”レベルとなる。
【0037】またPMOSトランジスタP1のターンO
Nにより、ノードSが内部電源VDDレベル(3
[V])となる。ノードG1は”L”レベルなので、P
MOSトランジスタP2およびP3はターンONする。
PMOSトランジスタP2のターンONにより、入出力
端子YPADは”L”レベルから内部電源VDDレベル
(3[V])に上昇する。またPMOSトランジスタP
3のターンONにより、フローティングバルクBの電位
は内部電源VDDレベル(3[V])に上昇する。PM
OSトランジスタP3は、フローティングバルクBの電
位を3[V]まで確実に上昇させ、PMOSトランジス
タP2の動作をより安定させるために設けられたもので
ある。
【0038】入出力端子YPADがVthに上昇する
と、PMOSトランジスタP7がターンONし、入出力
端子YPADが内部電源VDDレベル(3[V])に上
昇すると、出力端子OUTも内部電源VDDレベル(3
[V])に上昇し、これによりNMOSトランジスタN
7はターンOFFする。またインバータINV2の出力
すなわちノードOUTNは”L”レベルに変化するの
で、NMOSトランジスタN3はターンOFFする。し
かし、ノードG1は”L”レベルのままである。
【0039】このように第1の実施形態によれば、入出
力端子YPADに5[V]が入力されたとき、NMOS
トランジスタN7だけでは内部電源VDDレベル(3
[V」)まで上昇せず、出力端子OUTに接続される内
部回路におけるVIHマージンが不足するという問題
を、フローティングバルクBに形成したPMOSトラン
ジスタP7により、出力端子OUTを内部電源VDDま
で上昇させることができ、内部入力回路のVIHマージ
ンを充分に満たすことができる。また、入出力端子YP
ADに内部電源VDD以上の電圧が入力されても、PM
OSトランジスタP7がOFFするので、出力端子OU
Tは内部電源VDDレベルとなる。また、図2(c)に
示すように、入出力波形(入出力端子YPAD)の立ち
上がり時以外においては、入出力端子YPADから内部
電源VDDへの電流の流れ込みは発生しない。
【0040】尚、電源電圧=3Vに対して、外部入力=
5Vで説明したが、他の条件でも構わない。内部電源電
圧よりも外部電源電圧が高い条件に対して有効である。
【0041】第2の実施形態 図3は本発明の第2の実施形態の出力回路を示す回路図
である。図3に示す出力回路は、LSIチップに内蔵さ
れており、入力端子INと、イネーブル入力端子EB
と、出力端子OUTと、2入力のNANDゲート1と、
2入力のNORゲート2と、PMOSトランジスタP1
〜P5と、NMOSトランジスタN1およびN3と、イ
ンバータINV1およびINV2とを有する。このLS
Iチップの内部電源VDDは例えば3[V]である。出
力端子OUTは、このLSIチップの外部に信号電圧を
出力するための端子である。この出力端子OUTには、
LSIチップの外部に設けられたプルアップ抵抗R1の
一端が接続されている。このプルアップ抵抗R1は、そ
の他端が例えば5[V]の外部電源VCCに接続されお
り、出力端子OUTを例えば5[V]にプルアップする
ための抵抗である。
【0042】NANDゲート1は、その第1入力端子が
入力端子INに接続され、その第2入力端子がイネーブ
ル入力端子EBに接続され、その出力端子が内部ノード
PGに接続されている。NORゲート2は、その第1入
力端子が入力端子INに接続され、その第2入力端子が
インバータINV1を介してイネーブル入力端子EBに
接続され、その出力端子が内部ノードNGに接続されて
いる。インバータINV2は、その入力端子が出力端子
OUTに接続され、その出力端子が内部ノードOUTN
に接続されている。
【0043】NMOSトランジスタN1は、そのゲート
電極がノードNGに接続され、そのドレイン電極が出力
端子OUTに接続され、そのソース電極が接地電源GN
Dに接続されている。NMOSトランジスタN3は、そ
のゲート電極がノードOUTNに接続され、そのドレイ
ン電極が内部ノードGに接続され、そのソース電極が接
地電源GNDに接続されている。
【0044】PMOSトランジスタP1は、そのゲート
電極がノードPGに接続され、そのソース電極が内部電
源VDDに接続され、そのドレイン電極は内部ノードS
に接続されている。PMOSトランジスタP2は、その
ゲート電極がノードGに接続され、そのドレイン電極が
出力端子OUTに接続され、そのソース電極がノードS
に接続されている。PMOSトランジスタP3は、その
ゲート電極がノードGに接続され、そのソース電極がノ
ードSに接続されている。PMOSトランジスタP4
は、そのゲート電極がノードOUTNに接続され、その
ドレイン電極がノードGに接続され、そのソース電極が
出力端子OUTに接続されている。PMOSトランジス
タP5は、そのゲート電極が内部電源VDDに接続さ
れ、そのソース電極が出力端子OUTに接続されてい
る。
【0045】PMOSトランジスタP2、P3、P4、
P5は共通のバルク(基板)Bに形成されている。この
フローティングバルクBは、内部電源VDDおよび接地
電源GNDのいずれにも接続されていないNウエルであ
る。PMOSトランジスタP3およびP5のドレイン電
極はフローティングバルクBに接続されている。PMO
SトランジスタP1のバルクは内部電源VDDに接続さ
れており、NMOSトランジスタN1およびN3のバル
クは接地電源GNDに接続されている。
【0046】出力端子OUTには、PMOSトランジス
タP2のドレイン電極と、P4、P5の各ソース電極
と、NMOSトランジスタN1のドレイン電極と、イン
バータINV2の入力端子とが接続されている。ノード
Gには、PMOSトランジスタP2、P3の各ゲート電
極と、P4のドレイン電極と、NMOSトランジスタN
3のドレイン電極とが接続されている。ノードSには、
PMOSトランジスタP1のドレイン電極と、P2、P
3の各ソース電極とが接続されている。ノードOUTN
には、インバータINV2の出力端子と、PMOSトラ
ンジスタP4、NMOSトランジスタN3の各ゲート電
極とが接続されている。
【0047】次に、図3に示した出力回路の動作を説明
する。図4は図3に示す出力回路の動作タイミング図で
あり、(a)は各部の電圧波形、(b)は消費電流波形
を示す。まず、イネーブル入力端子EBが”L”レベル
(0[V])に設定されているときの動作を説明する。
NANDゲート1の出力すなわちノードPGは”H”レ
ベル(3[V])となるので、PMOSトランジスタP
1はOFFしている。またインバータINV1の出力
は”H”レベルとなり、NORゲート2の出力すなわち
ノードNGは”L”レベルとなるので、NMOSトラン
ジスタN1はOFFしている。このようにイネーブル入
力端子EBが”L”レベルのときは、PMOSトランジ
スタP1、NMOSトランジスタN1はともにOFFし
ており、入力端子INのレベルにかかわらず、出力端子
OUTは高インピーダンスとなる。このとき、出力端子
OUTは、外部のプルアップ抵抗R1により、外部電源
VCCレベル(5[V])となる。
【0048】出力端子OUTが5[V]なので、インバ
ータINV2の出力すなわちノードOUTNは”L”レ
ベルとなっており、NMOSトランジスタN3はOFF
している。ノードOUTNは”L”レベルであり、出力
端子OUTが5[V]なので、PMOSトランジスタP
4はONしており、ノードGの電位は出力端子OUTと
同じ5[V]になっている。また出力端子OUTが5
[V]なので、そのゲート電極が内部電源VDD(3
[V])に接続されているPMOSトランジスタP5は
ONしており、これによりフローティングバルクBの電
位は出力端子OUTと同じ5[V]になっている。
【0049】出力端子OUTおよびノードGの電位がと
もに5[V]なので、PMOSトランジスタP2はOF
Fしている。また出力端子OUTおよびフローティング
バルクBの電位がともに5[V]なので、PMOSトラ
ンジスタP3もOFFしている。
【0050】PMOSトランジスタP2およびP3がO
FFしていることにより、PMOSトランジスタP1の
ドレイン電極(ノードS)はハイインピーダンスとなっ
ており、ノードSおよびPMOSトランジスタP1のバ
ルクを通して、出力端子OUTから内部電源VDDにリ
ーク電流が流れてしまうことはない。またフローティン
グバルクBは内部電源VDDには接続していないので、
PMOSトランジスタP2のドレイン、およびP4、P
5のソースを介してフローティングバルクBから内部電
源VDDにリーク電流が流れてしまうこともない。また
インバータINV2の入力端子は、インバータINV2
内部の図示しないMOSトランジスタのゲート電極に接
続されており、ハイインピーダンスとなっている。また
NMOSトランシスタN1のドレインとバルクとは逆バ
イアスされており、N1のドレイン電極もハイインピー
ダンスとなっている。従って、出力端子OUTから接地
電源GNDにリーク電流が流れてしまうこともない。
【0051】次に、イネーブル入力端子EBが”Η”レ
ベル(3[V])に設定されているとき動作を説明す
る。入力端子INが”L”レベル(0[V])のとき、
NANDゲート1の出力すなわちノードPGは”H”レ
ベル(3[V])となり、PMOSトランジスタP1は
OFFしている。NORゲート2の出力すなわちノード
NGは”H”レベルとなり、NMOSトランジスタN1
はONしている。従って、出力端子OUTは”L”レベ
ル(0[V])となっている。
【0052】インバータINV2の出力すなわちノード
OUTNは”Η”レベル(3[V])である。ノードO
UTNが”Η”レベルなので、NMOSトランジスタN
3はONしており、またPMOSトランジスタP4はO
FFしている。従ってノードGは”L”レベルとなって
いる。出力端子OUTとノードGとがともに”L”レベ
ルなので、PMOSトランジスタP2はOFFしてい
る。ノードSの電位はVth以下になっており、PMO
SトランジスタP3はOFFしている(出力端子OUT
が”L”レベルとなったとき、ノードSの電位がVth
より高い場合には、PMOSトランジスタP2、P3が
ONしてノードSの電位をVthまで降下させ、そのあ
とP2、P3がターンOFFする)。また出力端子OU
Tが”L”レベルなので、PMOSトランジスタP5も
OFFしている。
【0053】次に入力端子INを”L”レベルから”
Η”レベルヘ変化させると、NANDゲート1の出力す
なわちノードPGは”H”レベルから”L”レベルに変
化し、PMOSトランジスタP1はターンONする。ま
たNORゲート2の出力すなわちノードNGは”H”か
ら”L”に変化し、NMOSトランジスタN1はターン
OFFする。
【0054】PMOSトランジスタP1がターンONす
ると、ノードSが内部電源VDDレベル(3[V])と
なる。ノードGは”L”レベルなので、PMOSトラン
ジスタP2およびP3はターンONする。PMOSトラ
ンジスタP2のターンONにより、出力端子OUTは”
L”レベルから内部電源VDDレベル(3[V])に上
昇する。またPMOSトランジスタP3のターンONに
より、フローティングバルクBの電位は内部電源VDD
レベル(3[V])に上昇する。PMOSトランジスタ
P3は、フローティングバルクBの電位を3[V]まで
確実に上昇させ、PMOSトランジスタP2の動作をよ
り安定させるために設けられたものである。
【0055】出力端子OUTが内部電源VDDレベル
(3[V])に上昇すると、インバータINV2の出力
すなわちノードOUTNは”L”レベルに変化し、これ
によりNMOSトランジスタN3がターンOFFし、ま
たPMOSトランジスタP4がターンONする。PMO
SトランジスタP4のターンONにより、ノードGの電
位は、”L”レベルから出力端子OUTと同じ電位に上
昇する。ノ一ドGと出力端子OUTとが同じ電位になっ
たことにより、PMOSトランジスタΡ2およびP3は
ターンOFFする。
【0056】このあと、プルアップ抵抗R1により、出
力端子OUTは外部電源VCCレベル(5[V])まで
上昇する。出力端子OUTが5[V]となると、ノード
Gも5[V]となる。またPMOSトランジスタΡ5が
ターンONし、これによりフローティングバルクBも5
[V]となる。
【0057】イネーブル入力端子EB=”H”レベルで
あり、入力端子IN=”H”であるときには、上記イネ
ーブル入力端子EB=”L”レベルのときと同様に、P
MOSトランジスタP2およびP3がOFFしているこ
とにより、PMOSトランジスタP1のドレイン電極
(ノードS)はハイインピーダンスとなっており、ノー
ドSおよびPMOSトランジスタP1のバルクを通し
て、出力端子OUTから内部電源VDDにリーク電流が
流れてしまうことはない。またフローティングバルクB
は内部電源VDDには接続していないので、PMOSト
ランジスタP2のドレイン、およびP4、P5のソース
を介してフローティングバルクBから内部電源VDDに
リーク電流が流れてしまうこともない。またインバータ
INV2の入力端子は、インバータINV2内部の図示
しないMOSトランジスタのゲート電極に接続されてお
り、ハイインピーダンスとなっている。またNMOSト
ランシスタN1のドレインとバルクとは逆バイアスされ
ており、N1のドレイン電極もハイインピーダンスとな
っている。従って、出力端子OUTから接地電源GND
にリーク電流が流れてしまうこともない。
【0058】このように第2の実施形態によれば、出力
波形立ち上がり時において、内部電源電圧VDDレベル
までは外部のプルアップ抵抗R1に依存せずに、高速動
作が可能となる。その後、抵抗R1を介して外部電源V
CCレベル(5[V])となるが出力波形の立ち上がり
時以外においては、内部電源電圧VDDへの電流の流れ
込みは発生しない。そのため、5[V]で動作する外部
回路にインターフェースするとき、外部回路のしきい値
電圧VTH(2.5[V])までは高速に動作でき、外
部回路におけるVIΗ(3.5[V])も保証できるよ
うになる。また、プルアップ抵抗R1の値が大きい場合
でも、上記のVTHまでは高速動作することができるた
め、低消費電力化が可能となる。
【0059】尚、電源電圧=3Vに対して、外部入力=
5Vで説明したが、他の条件でも構わない。内部電源電
圧よりも外部電源電圧が高い条件に対して有効である。
【0060】第3の実施形態 図5は本発明の第3の実施形態の出力回路を示す回路図
である。図5に示す出力回路は、LSIチップに内蔵さ
れており、入力端子INと、イネーブル入力端子EB
と、出力端子OUTと、2入力のNANDゲート1と、
2入力のNORゲート2と、PMOSトランジスタP1
〜P5と、NMOSトランジスタN1およびN3と、イ
ンバータINV1およびINV2と、遅延回路DL1と
を有する。出力端子OUTにはプルアップ抵抗R1が接
続されている。図5において、図3と共通する部分につ
いては同一符号を付してある。
【0061】図5に示す出力回路は、図3の出力回路に
おいて、ノードOUTNとPMOSトランジスタP4の
ゲート電極との間に、遅延回路DL1を設けたものであ
る。PMOSトランジスタP4のゲート電極はノードO
UTNには接続していない。P4のゲート電極に接続す
るノードをOUTNDとする。
【0062】遅延回路DL1は、その入力端子がノード
OUTNに接続され、その出力端子がノードOUTND
に接続されており、ノードOUTNが”H”レベルか
ら”L”レベルに変化したときに、設定された遅延時間
が経過してからノードOUTNDを”H”レベルから”
L”レベルに変化させる。
【0063】次に図5に示した出力回路の動作を説明す
る。図6は図5に示す出力回路の動作タイミング図であ
り、(a)は各部の電圧波形、(b)は消費電流波形を
示す。図5に示す出力回路の動作は、図3に示した第2
の実施形態の出力回路の動作とほぼ同じである。ただ
し、以下に説明する動作、すなわちイネーブル入力端子
EBが”Η”レベルに設定されており、入力端子IN
が”L”レベルから”H”レベルに変化するときの動作
が図3の出力回路とは異なる。
【0064】入力端子INが”L”レベルから”H”レ
ベルに変化し、出力端子OUTが内部電源VDDレベル
(3[V])に上昇すると、インバータINV2の出力
すなわちノードOUTNは”H”レベルから”L”レベ
ルに変化し、NMOSトランジスタN3はターンOFF
する。
【0065】遅延回路DL1は、ノードOUTNが”
L”レベルに変化してから、所定時間を経過してから、
ノードOUTNDを”H”レベルから”L”レベルに変
化させる。従って、PMOSトランジスタP4は、NM
OSトランジスタN3のターンOFFと同時にターンO
Nせず、ノードOUTNの”L”レベルへの変化から、
所定時間を経過してからターンONする。すなわち、上
記第2の実施形態よりも、PMOSトランジスタP4が
ターンONするタイミングが遅くなり、従ってPMOS
トランジスタP2、P3がターンOFFするタイミング
を遅くなる。
【0066】このように第3の実施形態によれば、第2
の実施形態の効果に加え、ノードOUTNとPMOSト
ランジスタP4のゲート電極との間に遅延回路DL1を
設けることにより、出力波形立ち上がり時において、P
MOSトランジスタP4がOFFしている時間を確実に
長くすることができ、調節も容易になる。これによりP
MOSトランジスタP2がONしている時間を長くする
ことができるので、内部電源VDDまでの高速動作が可
能となる。
【0067】第4の実施形態 図7は本発明の第4の実施形態の出力回路を示す回路図
である。図7に示す出力回路は、LSIチップに内蔵さ
れており、入力端子INと、イネーブル入力端子EB
と、出力端子OUTと、2入力のNANDゲート1と、
2入力のNORゲート2と、PMOSトランジスタP1
〜P7と、NMOSトランジスタN1〜N4、N7と、
インバータINV1およびINV2とを有する。出力端
子OUTにはプルアップ抵抗R1が接続されている。図
7において、図3と共通する部分については同一符号を
付してある。
【0068】図7に示す出力回路は、図3の出力回路に
おいて、NMOSトランジスタN2、N4、N7と、P
MOSトランジスタP6、P7とを設け、PMOSトラ
ンジスタP4のゲートを、ノードOUTNではなく、N
MOSトランジスタN3のドレイン電極に接続したもの
である。NMOSトランジスタN3のドレイン電極とP
MOSトランジスタP4のゲート電極とに接続するノー
ドをSP4とする。
【0069】NMOSトランジスタN2は、そのゲート
電極が内部電源VDDに接続され、そのドレイン電極が
出力端子OUTに接続され、そのソース電極がNMOS
トランジスタN1のドレイン電極に接続されている。N
MOSトランジスタN1のドレイン電極は出力端子OU
Tには接続されていない。NMOSトランジスタN4
は、そのゲート電極が内部電源VDDに接続され、その
ドレイン電極がノードGに接続され、そのソース電極が
ノードSP4に接続されている。NMOSトランジスタ
N3のドレイン電極はノードGには接続されていない。
【0070】NMOSトランジスタN7およびPMOS
トランジスタP7は、ともに出力端子OUTとインバー
タINV2の入力端子との間に設けられている。インバ
ータINV2の入力端子は、出力端子OUTには接続さ
れていない。INV2の入力端子に接続するノードをY
とする。PMOSトランジスタP6は、そのゲート電極
およびソース電極が内部電源VDDに接続され、ドレイ
ン電極がノードYに接続されている。このダイオード接
続されたPMOSトランジスタP6は、ノードYが内部
電源VDDより低電位である限りOFFしたままであ
る。
【0071】NMOSトランジスタN7は、そのゲート
電極が内部電源VDDに接続され、その第1電極(ドレ
イン電極またはソース電極)が出力端子OUTに接続さ
れ、その第2電極(ソース電極またはドレイン電極)が
ノードYに接続されている。PMOSトランジスタP7
は、そのゲート電極がノードGに接続され、その第1電
極(ドレイン電極またはソース電極)がノードYに接続
され、その第2電極(ソース電極またはドレイン電極)
が出力端子OUTに接続されている。
【0072】出力端子OUTには、PMOSトランジス
タP2のドレイン電極と、P4、P5の各ソース電極
と、P7の第2電極と、NMOSトランジスタN2のド
レイン電極と、N7の第1電極とが接続されている。ノ
ードGには、PMOSトランジスタP2、P3、P7の
各ゲート電極と、P4のドレイン電極と、NMOSトラ
ンジスタN4のドレイン電極とが接続されている。ノー
ドOUTNには、インバータINV2の出力端子と、N
MOSトランジスタN3のゲート電極とが接続されてい
る。
【0073】次に、図7に示す出力回路の動作を説明す
る。図8は図7に示す出力回路の動作タイミング図であ
り、(a)は各部の電圧波形、(b)は消費電流波形を
示す。まず、イネーブル入力端子EBが”L”レベル
(0[V])に設定されているときの動作を説明する。
NANDゲート1の出力すなわちノードPGは”H”レ
ベル(3[V])となるので、PMOSトランジスタP
1はOFFしている。またNORゲート2の出力すなわ
ちノードNGは”L”レベルとなるので、NMOSトラ
ンジスタN1はOFFしている。このようにイネーブル
入力端子EBが”L”レベルのとき、PMOSトランジ
スタP1、NMOSトランジスタN1はともにOFFし
ており、入力端子INのレベルにかかわらず、入出力端
子YPADは高インピーダンスとなる。このとき、出力
端子OUTは、外部のプルアップ抵抗R1により、外部
電源VCCレベル(5[V])となる。出力端子OUT
が5[V]であり、ノードSP4の電位はVDD−Vt
hより高くなることはないので、PMOSトランジスタ
P4はONしており、ノードGの電位は出力端子OUT
と同じ5[V]になっている。また出力端子OUTが5
[V]なので、PMOSトランジスタP5はONしてお
り、これによりフローティングバルクBの電位は出力端
子OUTと同じ5[V]になっている。出力端子OUT
およびノードGの電位がともに5[V]なので、PMO
SトランジスタP2はOFFしている。また出力端子O
UTおよびフローティングバルクBの電位がともに5
[V]なので、PMOSトランジスタP3もOFFして
いる。
【0074】出力端子OUTおよびノードGが5[V]
なので、PMOSトランジスタP7およびNMOSトラ
ンジスタN7はともにOFFしている。出力端子OUT
が5[V]に上昇するとき、PMOSトランジスタP7
はノードYを3[V]まで上昇させてからOFFするの
で、ノードYは3[V]である。従ってインバータIN
V2の出力すなわちノードOUTNは”L”レベルとな
っており、NMOSトランジスタN3はOFFしてい
る。ノードGの電位が5[V]なので、NMOSトラン
ジスタN4のソース電極すなわちノードSP4の電位は
5[V]−2Vthとなっている。
【0075】上記のように、イネーブル入力端子EB
が”L”レベルに設定されているとき、PMOSトラン
ジスタP2およびP3がOFFしていることにより、P
MOSトランジスタP1のドレイン電極(ノードS)は
ハイインピーダンスとなっており、ノードSおよびPM
OSトランジスタP1のバルクを通して、入出力端子Y
PADから内部電源VDDにリーク電流が流れてしまう
ことはない。またフローティングバルクBは内部電源V
DDには接続していないので、PMOSトランジスタP
2のドレイン電極、およびP4、P5の各ソース電極を
介してフローティングバルクBから内部電源VDDにリ
ーク電流が流れてしまうこともない。またインバータI
NV2の入力端子は、インバータINV2内部の図示し
ないMOSトランジスタのゲート電極に接続されてお
り、ハイインピーダンスとなっている。またNMOSト
ランシスタN1のドレインとバルクとは逆バイアスされ
ており、N1のドレイン電極もハイインピーダンスとな
っている。従って、出力端子OUTから接地電源GND
にリーク電流が流れてしまうこともない。
【0076】次に、イネーブル入力端子EBが”H”レ
ベル(3[V])に設定されているときの動作を説明す
る。入力端子INが”L”レベル(0[V])のとき
は、NANDゲート1の出力すなわちノードPGは”
H”レベルとなるので、PMOSトランジスタP1はO
FFしている。またNORゲート2の出力すなわちノー
ドNGは”H”レベルとなるので、NMOSトランジス
タN1はONしている。従って出力端子OUTは”L”
レベル(0[V])となっている。
【0077】出力端子OUTが”L”レベルなので、N
MOSトランジスタN7はONしており、これによりノ
ードYは”L”レベルとなっている。インバータINV
2の出力すなわちノードOUTNは”Η”レベル(3
[V])となるので、NMOSトランジスタN3はON
しており、またN4もONしている。NMOSトランジ
スタN3およびN4がONしているので、ノードGおよ
びノードSP4はともに”L”レベルとなっている。ノ
ードGと出力端子OUTがともに”L”レベル(0
[V])なので、PMOSトランジスタP2、P4、P
5、P7はOFFしている。またノードSの電位はVt
h以下となっており、PMOSトランジスタP3もOF
Fしている。
【0078】次に入力端子INを”L”レベルから”
Η”レベルに変化させると、NANDゲート1の出力す
なわちノードPGは”H”レベルから”L”レベルに変
化しするので、PMOSトランジスタP1はターンON
する。またNORゲート2の出力は”H”から”L”に
変化し、ノードNGは”L”レベルとなり、NMOSト
ランジスタN1はターンOFFする。
【0079】PMOSトランジスタP1のターンONに
より、ノードSが内部電源VDDレベル(3[V])と
なる。ノードGは”L”レベルなので、PMOSトラン
ジスタP2およびP3はターンONする。PMOSトラ
ンジスタP2のターンONにより、出力端子OUTは”
L”レベルから内部電源VDDレベル(3[V])に上
昇する。またPMOSトランジスタP3のターンONに
より、フローティングバルクBの電位は内部電源VDD
レベル(3[V])に上昇する。
【0080】出力端子OUTがVthに上昇すると、P
MOSトランジスタP4、P7がターンONし、ノード
Yの電位は、出力端子OUTと同じになる。ノードGは
NMOSトランジスタN3がOFFするまで”L”レベ
ルにクランプされる。さらに出力端子OUTおよびノー
ドGが内部電源レベル(3[V])に上昇すると、イン
バータINV2の出力すなわちノードOUTNが”L”
レベルに変化するので、NMOSトランジスタN3はタ
ーンOFFする。NMOSトランジスタN3のターンO
FFにより、ノードGの電位は出力端子OUTと同じ3
[V]となり、これにより、PMOSトランジスタP7
がターンOFFする。また出力端子ノードSP4の電位
は3[V]−Vthとなる。ノードGとノードSの電位
が同じになるので、PMOSトランジスタP2、P3が
ターンOFFする。
【0081】このあと、プルアップ抵抗R1により、出
力端子OUTは外部電源VCCレベル(5[V])まで
上昇する。PMOSトランジスタΡ4はONしたままで
ある。出力端子OUTが3[V]+Vthに上昇する
と、PMOSトランジスタP5がターンONする。PM
OSトランジスタP5のターンONにより、フローティ
ングバルクBの電位は出力端子OUTと同じ電位とな
る。そして、出力端子OUTが最終的に外部電源電圧V
CCレベル(5[V])となったとき、ノードGおよび
フローティングバルクBも5[V]となる。もしも、P
MOSトランジスタP7がターンOFFする前に、出力
端子OUTの電位が3[V]+Vthよりも高くなった
ときには、PMOSトランジスタP6がターンONし
て、出力端子OUTの電位を3[V]+Vthにクラン
プする。
【0082】このように、イネーブル入力端子EBが”
H”レベルであり、入力端子INが”H”であるときに
も、上記のイネーブル入力端子EBが”L”レベルのと
きと同様に、PMOSトランジスタP2およびP3がO
FFしていることにより、ノードSおよびPMOSトラ
ンジスタP1のバルクを通して内部電源VDDにリーク
電流が流れてしまうことはない。またフローティングバ
ルクBは内部電源VDDには接続していないので、フロ
ーティングバルクBから内部電源VDDにリーク電流が
流れてしまうこともない。またインバータINV2の入
力端子およびNMOSトランシスタN1のドレインから
接地電源GNDにリーク電流が流れてしまうこともな
い。
【0083】このように第4の実施形態によれば、上記
第2の実施形態の効果に加え、PMOSトランジスタP
4、P7、NMOSトランジスタN2、N4、N7によ
り、1つのMOSトランジスタのソース/ドレイン間、
ゲート/ソース間、およびゲート/ドレイン間に5
[V]がかかることがないので、耐圧の弱いプロセスに
も対応することができる。
【0084】第5の実施形態 図9は本発明の第5の実施形態の出力回路を示す回路図
である。図9に示す出力回路は、LSIチップに内蔵さ
れており、入力端子INと、イネーブル入力端子EB
と、セレクト入力端子SELと、出力端子OUTと、2
入力のNANDゲート1と、2入力のNORゲート2お
よび3と、PMOSトランジスタP1〜P8と、NMO
SトランジスタN1〜N8と、インバータINV1およ
びINV4とを有する。図9に示す出力回路は、出力端
子OUTにプルアップ抵抗R1が接続されている場合
と、そうでない場合のいずれにも対応することができ
る。図9において、図5と共通する部分については同一
符号を付してある。
【0085】図9に示す出力回路は、図5の出力回路に
おいて、NMOSトランジスタN5、N6、N8と、P
MOSトランジスタP8と、NANDゲート2と、イン
バータINV4とを設け、インバータINV2を取り外
したものである。インバータINV4は、その入力端子
がセレクト入力端子SELに接続され、その出力端子が
内部ノードISに接続されている。NORゲート3は、
その第1入力端子がノードISに接続され、その第2入
力端子がノードYに接続され、その出力端子がノードO
UTNに接続されている。
【0086】NMOSトランジスタN5は、そのゲート
電極がノードISに接続され、そのドレイン電極がノー
ドPGに接続されている。NMOSトランジスタN6
は、そのゲート電極が内部電源VDDに接続され、その
ドレイン電極がNMOSトランジスタN5のソース電極
に接続され、そのソース電極がノードGに接続されてい
る。
【0087】NMOSトランジスタN8は、そのゲート
電極がセレクト入力端子SELに接続され、その第1電
極(ドレイン電極またはソース電極)がノードSP4に
接続され、その第2電極(ソース電極またはドレイン電
極)は内部ノードSNに接続されている。NMOSトラ
ンジスタN3のドレイン電極およびNMOSトランジス
タN4のソース電極は、ノードSP4に接続せずに、ノ
ードSNに接続されている。PMOSトランジスタP8
は、そのゲート電極がセレクト入力端子SELに接続さ
れ、そのドレイン電極がノードSP4に接続され、その
ソース電極は内部電源VDDに接続されている。
【0088】図10はLSI40(3[V]の内部電源
VDD)に内蔵された第5の実施形態の出力回路42
(図9参照)と、外部電源VCCで動作する外部回路4
3との接続例を示す図であり、(a)は外部電源VCC
が3[V]のときの接続例を示し、(b)は外部電源V
CCが5[V]のときの接続例を示す。図10(b)に
おいては、出力回路42の出力端子OUTに、一端が外
部電源VCCに接続されたプルアップ抵抗R1の他端を
接続する。
【0089】次に、図9に示す出力回路の動作を説明す
る。図11は図9に示す出力回路の動作タイミング図で
あり、(a)はセレクト入力端子SELが”L”レベル
に設定されているときの各部の電圧波形、(b)はセレ
クト入力端子SELが”H”レベルに設定されていると
きの各部の電圧波形を示す。イネーブル入力端子EB
は”H”レベル(3[V])に設定されているものとす
る。
【0090】まず、セレクト入力端子SELが”L”レ
ベルに設定されているときの動作を説明する。このとき
図9に示す出力回路(図10における出力回路42)
は、図10(a)のように接続される。入力端子IN
が”L”レベルのとき、NANDゲート1の出力すなわ
ちノードPGは”H”レベルとなるので、PMOSトラ
ンジスタP1はOFFしている。またNORゲート2の
出力すなわちノードNGは”H”レベルとなるので、N
MOSトランジスタN1はONしている。従って出力端
子OUTは”L”レベル(0[V])となっている。
【0091】出力端子OUTが”L”レベルなので、N
MOSトランジスタN7はONしており、これによりノ
ードYは”L”レベルとなっている。しかし、ノードI
Sは”Η”レベルであるため、NOR3の出力すなわち
ノードOUTNは、ノードYのレベルにかかわらず”
L”レベルとなり、NMOSトランジスタN3はOFF
している。またノードISが”Η”レベルなので、NM
OSトランジスタN5もONしている。NMOSトラン
ジスタN4およびN6がONしており、ノードPGが”
H”レベルなので、ノードGの電位はVDD−Vthと
なっている。セレクト入力端子SELが”L”レベルな
ので、NMOSトランジスタN8はOFFしており、ま
たPMOSトランジスタP8はONしている。従ってノ
ードSP4は内部電源VDDレベル(3[V])となっ
ている。ノードGがVDD−Vthであり、出力端子O
UTが”L”レベル(0[V])であり、ノードSP4
が3[V]なので、PMOSトランジスタP2、P4、
P5、P7はOFFしている。
【0092】次に入力端子INを”L”レベルから”
Η”レベルに変化させると、NANDゲート1の出力す
なわちノードPGは”H”レベルから”L”レベルに変
化するので、PMOSトランジスタP1はターンONす
る。またNORゲート2の出力すなわちノードNGは”
H”から”L”に変化するので、NMOSトランジスタ
N1はターンOFFする。
【0093】PMOSトランジスタP1のターンONに
より、ノードSが内部電源VDDレベル(3[V])と
なる。ノードPGが”L”レベルとなるので、ノードG
はVDD−Vthから”L”レベル(0[V])に変化
する。従ってPMOSトランジスタP2およびP3はタ
ーンONする。PMOSトランジスタP2のターンON
により、出力端子OUTは”L”レベルから内部電源V
DDレベル(3[V])に上昇する。またPMOSトラ
ンジスタP3のターンONにより、フローティングバル
クBの電位は内部電源VDDレベル(3[V])に上昇
する。
【0094】出力端子OUTがVthに上昇したとき、
PMOSトランジスタP7がターンONし、ノードYの
電位は、出力端子OUTと同じになる。PMOSトラン
ジスタP4はOFFのままである。
【0095】次に、セレクト入力端子SELが”Η”レ
ベルに設定されているときの動作を説明する。このとき
図9に示す出力回路(図10における出力回路42)
は、図10(b)のように接続される。入力端子IN
が”L”レベル(0[V])のときは、NANDゲート
1の出力すなわちノードPGは”H”レベルとなるの
で、PMOSトランジスタP1はOFFしている。また
NORゲート2の出力すなわちノードNGは”H”レベ
ルとなるので、NMOSトランジスタN1はONしてい
る。従って出力端子OUTは”L”レベル(0[V])
となっている。
【0096】出力端子OUTが”L”レベルなので、N
MOSトランジスタN7はONしており、これによりノ
ードYは”L”レベルとなっている。ノードISが”
L”レベルとなるので、NOR3の出力すなわちノード
OUTNは”Η”レベルとなり、NMOSトランジスタ
N3はONしている。またノードISが”L”レベルな
ので、NMOSトランジスタN5は常にOFFしてい
る。従ってノードGの電位は”L”レベルとなってい
る。セレクト入力端子SELが”H”レベルなので、N
MOSトランジスタN8はONしており、またPMOS
トランジスタP8はOFFしている。従ってノードSP
4は”L”レベルとなっている。ノードG、ノードSP
4、および出力端子OUTがともに”L”レベル(0
[V])なので、PMOSトランジスタP2、P4、P
5、P7はOFFしている。
【0097】次に入力端子INを”L”レベルから”
Η”レベルに変化させると、NANDゲート1の出力す
なわちはノードPGは”H”レベルから”L”レベルに
変化しするので、PMOSトランジスタP1はターンO
Nする。またNORゲート2の出力は”H”から”L”
に変化し、ノードNGは”L”レベルとなり、NMOS
トランジスタN1はターンOFFする。
【0098】PMOSトランジスタP1のターンONに
より、ノードSが内部電源VDDレベル(3[V])と
なる。ノードGは”L”レベルなので、PMOSトラン
ジスタP2およびP3はターンONする。PMOSトラ
ンジスタP2のターンONにより、出力端子OUTは”
L”レベルから内部電源VDDレベル(3[V])に上
昇する。またPMOSトランジスタP3のターンONに
より、フローティングバルクBの電位は内部電源VDD
レベル(3[V])に上昇する。
【0099】出力端子OUTがVthに上昇したとき、
PMOSトランジスタP4、P7がターンONし、これ
によりノードGおよびノードYの電位は出力端子OUT
と同じになる。出力端子OUTおよびノードGが内部電
源レベル(3[V])に上昇しても、PMOSトランジ
スタP4はONしたままである。ノードGの電位が出力
端子OUTと同じになると、PMOSトランジスタP7
がターンOFFする。またノードGが内部電源レベル
(3[V])に上昇すると、ノードGとノードSの電位
が同じになるので、PMOSトランジスタP2、P3が
ターンOFFする。
【0100】このあと、プルアップ抵抗R1により、出
力端子OUTは外部電源VCCレベル(5[V])まで
上昇する。PMOSトランジスタΡ4はONしたままで
ある。出力端子OUTが3[V]+Vthに上昇する
と、PMOSトランジスタP5がターンONする。PM
OSトランジスタP5のターンONにより、フローティ
ングバルクBの電位は出力端子OUTと同じ電位とな
る。そして、出力端子OUTが最終的に外部電源電圧V
CCレベル(5[V])となったとき、ノードGおよび
フローティングバルクBも5[V]となる。
【0101】このように第5の実施形態によれば、セレ
クト入力端子SELにより、外部電源VCC(5
[V])までの出力振幅が可能となり、また外部に設け
たプルアップ抵抗R1に頼らず内部電源電圧VDDレベ
ル(3[V])までの出力振幅が可能となる。すなわ
ち、図10に示すように3[V]動作の外部回路と5
[V]動作の外部回路のいずれにも同じLSIチップで
インターフェースすることができる。
【0102】尚、セレクト入力端子SELの電圧レベル
設定は、LSΙ外部からSEL信号を入力するようにし
ても良く、またLSI内部でSEL信号を生成するよう
にしても良い。
【0103】第6の実施形態 図12は本発明の第6の実施形態の入力回路を示す回路
図である。図12に示す入力回路は、LSIチップに内
蔵されており、入力端子INと、出力端子OUTと、P
MOSトランジスタP31、P32と、NMOSトラン
ジスタN31〜N37と、インバータINV31、IN
V32と、抵抗R31とを有する。このLSIチップの
内部電源VDDは、ここでは3[V]であるとする。図
12に示す入力回路は、同一LSIに内蔵された、上記
第5の実施形態の出力回路等の、出力回路に用いられる
セレクト信号SELを生成する回路である。入力端子I
Nは、図示しない外部回路あるいは外部回路の電源VC
Cに接続され、外部回路の”H”レベルが内部電源VD
Dと同じであるか、内部電源VDDより高いレベル(例
えば5[V])であるかを検出するための端子である。
【0104】NMOSトランジスタN31は、そのゲー
ト電極が内部電源VDDに接続され、そのドレイン電極
が入力端子INに接続されている。NMOSトランジス
タN32は、そのゲート電極およびソース電極が接地電
源GNDに接続され、そのドレイン電極がNMOSトラ
ンジスタN31のソース電極に接続されている。抵抗R
31は、その一端が入力端子INに接続され、他端がノ
ードIN1に接続されている。PMOSトランジスタP
31は、そのゲート電極がノードIN1に接続され、そ
のソース電極が内部電源VDDに接続され、そのドレイ
ン電極とバルクとが共通接続されている。PMOSトラ
ンジスタP32は、そのゲート電極が内部電源VDDに
接続され、そのドレイン電極がノードIN2に接続さ
れ、そのソース電極がノードN1に接続され、そのバル
クがPMOSトランジスタP31のドレインおよびバル
クに接続されている。PMOSトランジスタP31およ
び32のバルクは内部電源VDDには接続されおらず、
これにより入力端子INから内部電源VDDに電流が流
れ込むのを防止する。
【0105】NMOSトランジスタN33〜N36は、
直列接続されており、それぞれのゲート電極が内部電源
VDDに共通接続されている。この直列回路の一端にあ
るNMOSトランジスタN33のドレイン電極はノード
IN2に接続されており、また他端にあるMOSトラン
ジスタN36のソース電極は接地電源GNDに接続され
ている。NMOSトランジスタN37は、その第1電極
がノードIN2に接続され、その第2電極がノードIN
3に接続されている。インバータINV31は、その入
力端子がノードIN3に接続され、その出力端子がノー
ドIN4に接続されている。インバータINV32は、
その入力端子がノードIN4に接続され、その出力端子
が出力端子OUTに接続されている。
【0106】図13は同一のLSI40(3[V]の内
部電源VDD)に内蔵された第6の実施形態の入力回路
(図12参照)および上記第5の実施形態の出力回路4
2(図9参照)と、外部電源VCCで動作する外部回路
43との接続例を示す図であり、(a)は外部電源VC
Cが5[V]のときの接続例を示し、(b)は外部電源
VCCが3[V]のときの接続例を示す。図13(a)
においては、出力回路42の出力端子OUTに、一端が
外部電源VCCに接続されたプルアップ抵抗R1の他端
を接続する。図13(a)、(b)において出力回路4
2の出力端子OUTは外部回路43に接続されており、
入力回路41の入力端子INは外部電源VCCに接続さ
れている。また入力回路41の出力端子OUTは出力回
路42のセレクト入力端子SELに接続されている。
【0107】図14は第6の実施形態の入力回路におけ
る入力端子INへの入力電圧に対する各部のDC特性図
である。図14には、入力端子IN、出力端子OUT、
ノードIN2、およびノードIN3の電圧特性を示して
ある。
【0108】次に、図12に示す入力回路(図13にお
ける入力回路41)の動作を説明する。まず、図13
(a)のように接続されたときの動作、すなわちLSI
チップが5[V]動作の外部回路に接続されたときの動
作を説明する。入力端子INが5[V]であり、ノード
IN1が内部電源VDDレベル(3[V])以上となる
ので、PMOSトランジスタP31はOFFし、PMO
SトランジスタP32はONしている。これによりノー
ドIN2は内部電源VDDレベル(3[V])以上とな
り、NMOSトランジスタN37によりノードIN3の
電位はVDD−Vthとなる。従ってインバータINV
31の出力すなわちノードIN4は”L”レベル(0
[V])となり、インバータINV32の出力すなわち
出力端子OUTは”Η”レベル(3[V])となる。こ
の出力電圧が図13における出力回路42のセレクト入
力端子SELに入力される。
【0109】次に、図13(b)のように接続されたと
きの動作、すなわちLSIチップが3[V]動作の外部
回路に接続されたときの動作を説明する。入力端子IN
が3[V]なので、PMOSトランジスタP1およびP
2はともにOFFしており、NMOSトランジスタN3
3〜N36の直列回路によりノードIN2は”L”レベ
ルとなる。ノードIN2が”L”レベルなので、NMO
SトランジスタN37がONしており、ノードIN3
は”L”レベルとなる。従ってノードIN4は”H”レ
ベル(3[V])となり、出力端子OUTは”L”レベ
ル(0[V])となる。
【0110】このように第6の実施形態によれば、入力
端子INを外部回路の電源VCCに接続し、出力端子O
UTを例えば上記第5の実施形態の出力回路のセレクト
入力端子SELに接続することにより、外部電源VCC
が5[V]のときは上記出力回路のセレクト入力端子S
ELを”Η”レベルとすることにより、5[V]動作の
外部回路と上記出力回路とのインターフェースを実現さ
せ、また外部電源VCCが3[V]のときはセレクト入
力端子SELを”L”レベルとすることにより3[V]
動作の外部回路と上記出力回路とのインターフェースを
実現させることができる。すなわち、特に操作を要する
ことなく、5[V]動作の外部回路と3[V]動作の外
部回路のいずれにも、出力回路をインターフェイスさせ
ることができる。また外部回路の動作電圧が変更されて
も、同じLSIチップおよびプリント基板を用いること
ができる。
【0111】尚、図12に示す入力回路は、上記の出力
回路と同じLSIに内蔵されてなくても良い。また電源
電圧=3Vに対して、外部入力=5Vで説明したが、他
の条件でも構わない。内部電源電圧よりも外部電源電圧
が高い条件に対して有効である。
【0112】第7の実施形態 図15は本発明の第7の実施形態の入力回路を示す回路
図である。図15に示す入力回路は、入力端子INと、
出力端子OUTと、PMOSトランジスタP31、P3
2、P38、P39と、NMOSトランジスタN31〜
N39と、インバータINV32と、抵抗R31とを有
する。図15に示す入力回路は、図12の入力回路にお
いて、PMOSトランジスタP38、P39と、NMO
SトランジスタN38、N39とを設け、インバータI
NV31を取り外したものである。出力回路および外部
回路との接続は、上記第6の実施形態と同じとする(図
13参照)。
【0113】NMOSトランジスタN38は、そのゲー
トがノードIN3に接続され、そのドレイン電極がノー
ドIN4に接続され、そのソース電極が接地電源GND
に接続されている。PMOSトランジスタP38は、そ
のゲート電極がノードIN3に接続され、そのドレイン
電極がノードIN4に接続され、そのソース電極および
バルクがノードSPNに接続されている。PMOSトラ
ンジスタP38のバルクは内部電源VDDには接続され
ていない。PMOSトランジスタP39は、そのゲート
が出力端子OUTに接続され、そのドレイン電極がノー
ドSPNに接続され、そのソース電極が内部電源VDD
に接続されている。NMOSトランジスタN39は、そ
のゲート電極が出力端子OUTに接続され、そのドレイ
ン電極が内部電源VDDに接続され、そのソース電極が
ノードSPNに接続されている。
【0114】図16は第7の実施形態の入力回路におけ
る入力端子INへの入力電圧に対する各部のDC特性図
であり、(a)は入力端子IN、出力端子OUT、ノー
ドIN3、およびノードSPNの電圧特性、(b)は電
源電流特性(内部電源VDDに対する消費電流特性)を
示す。
【0115】次に、図15に示す入力回路の動作は、図
12に示した入力回路の動作とほぼ同じである。ただし
以下に説明する点が異なる。
【0116】入力端子INが5[V]の外部電源VCC
に接続されたとき、ノードIN3の電位はVDD−Vt
hとなるので、NMOSトランジスタN38はONし、
出力端子OUTは”Η”レベル(3[V])となる。出
力端子OUTが”Η”レベルなので、PMOSトランジ
スタP39はOFFしており、NMOSトランジスタN
39はONしており、ノ一ドSPNの電位はVDD−V
thとなる。従ってノードIN3とノードSPNの電位
がともにVDD−Vthとなり、PMOSトランジスタ
P38を確実にOFFさせることができるので、内部電
源電位VDDからPMOSトランジスタP38およびN
MOSトランジスタN38を経由して接地電源GNDに
電流が流れ込むことを防止することができる。また入力
端子INが3[V]の外部電源VCCに接続されたとき
は、NMOSトランジスタN38、N39はOFFし、
PMOSトランジスタP38、P39はONしている。
【0117】このように第7の実施形態によれば、入力
端子INを外部回路の電源VCCに接続し、出力端子O
UTを例えば第5の実施形態の出力回路のセレクト入力
端子SELに接続することにより、外部電源VCCが5
[V]のときは上記出力回路のセレクト入力端子SEL
を”Η”レベルとすることにより、5[V]動作の外部
回路と上記出力回路とのインターフェースを実現させ、
また外部電源VCCが3[V]のときはセレクト入力端
子SELを”L”レベルとすることにより3[V]動作
の外部回路と上記出力回路とのインターフェースを実現
させることができる。すなわち、特に操作を要すること
なく、5[V]動作の外部回路と3[V]動作の外部回
路のいずれにも、出力回路をインターフェイスさせるこ
とができる。また外部回路の動作電圧が変更されても、
同じLSIチップおよびプリント基板を用いることがで
きる。また内部電源VDDから接地電源GNDへの電流
の流れ込みを防止することができる。
【0118】尚、図15に示す入力回路は、上記の出力
回路と同じLSIに内蔵されてなくても良い。
【0119】第8の実施形態 図17は本発明の第8の実施形態の入力回路を示す回路
図である。図17に示す入力回路は、LSIチップに内
蔵されており、入力端子INと、出力端子OUTと、P
MOSトランジスタP1〜P7と、NMOSトランジス
タN1〜N4、N7と、インバータINV2とを有す
る。このLSIチップの内部電源VDDは、ここでは3
[V]であるとする。入力端子INは、外部から信号電
圧が入力される端子である。この入力信号の”H”レベ
ルは、ここでは5[V]であるとする。また出力端子O
UTはこのLSIチップに内蔵された他の回路に接続さ
れている。インバータINV2は、その入力端子が出力
端子OUTに接続され、その出力端子が内部ノードOU
TNに接続されている。
【0120】NMOSトランジスタN1は、そのゲート
電極およびソース電極が接地電源GNDに接続されてい
る。NMOSトランジスタN2は、そのゲート電極が内
部電源VDDに接続され、そのドレイン電極が入力端子
INに接続され、そのソース電極がNMOSトランジス
タN1のドレイン電極に接続されている。NMOSトラ
ンジスタN3は、そのゲート電極がノードOUTNに接
続され、そのソース電極が接地電源GNDに接続されて
いる。NMOSトランジスタN4は、そのゲート電極が
内部電源VDDに接続され、そのドレイン電極が内部ノ
ードGに接続され、そのソース電極がNMOSトランジ
スタN3のドレイン電極に接続されている。
【0121】PMOSトランジスタP1は、そのゲート
電極およびソース電極が内部電源VDDに接続され、そ
のドレイン電極が内部ノードSに接続されている。PM
OSトランジスタP2は、そのゲート電極がノードGに
接続され、そのドレイン電極が入力端子INに接続さ
れ、そのソース電極がノードSに接続されている。PM
OSトランジスタP3は、そのゲート電極がノードGに
接続され、そのソース電極がノードSに接続されてい
る。PMOSトランジスタP4は、そのゲート電極が内
部電源VDDに接続され、そのドレイン電極がノードG
に接続され、そのソース電極が入力端子INに接続され
ている。PMOSトランジスタP5は、そのゲート電極
が内部電源VDDに接続され、そのソース電極が入力端
子INに接続されている。
【0122】NMOSトランジスタN7は、そのゲート
電極が内部電源VDDに接続され、その第1電極(ドレ
イン電極またはソース電極)が入力端子INに接続さ
れ、その第2電極(ソース電極またはドレイン電極)が
出力端子OUTに接続されている。PMOSトランジス
タP7は、そのゲート電極がノードGに接続され、その
第1電極(ドレイン電極またはソース電極)が出力端子
OUTに接続され、その第2電極(ソース電極またはド
レイン電極)が入力端子INに接続されている。PMO
SトランジスタP6は、そのゲート電極およびソース電
極が内部電源VDDに接続され、ドレイン電極が出力端
子OUTに接続されている。
【0123】PMOSトランジスタP2、P3、P4、
P5、P7は共通のバルク(基板)Bに形成されてい
る。このフローティングバルクBは、内部電源VDDお
よび接地電源GNDのいずれにも接続されていないNウ
エルである。PMOSトランジスタP3、P5のドレイ
ン電極はフローティングバルクBに接続されている。P
MOSトランジスタP1、P6、P21のバルクは内部
電源VDDに接続されており、NMOSトランジスタN
1〜N4、N7のバルクは接地電源GNDに接続されて
いる。
【0124】入力端子INには、PMOSトランジスタ
P2のドレイン電極と、P4、P5の各ソース電極と、
P7の第2電極と、NMOSトランジスタN2のドレイ
ン電極と、N7の第1電極と、インバータINV2の入
力端子とが接続されている。
【0125】ノードGには、PMOSトランジスタP
2、P3、P7の各ゲート電極と、P4のソース電極
と、NMOSトランジスタN3のドレイン電極とが接続
されている。ノードSには、PMOSトランジスタP1
のドレイン電極と、P2、P3の各ソース電極とが接続
されている。出力端子OUTには、PMOSトランジス
タP6のドレイン電極と、P7の第1電極と、NMOS
トランジスタN7の第2電極と、インバータINV2の
入力端子とが接続されている。
【0126】次に、図17に示す入力回路の動作を説明
する。入力端子INが”L”レベル(0[V])のと
き、NMOSトランジスタN7はONしており、出力端
子OUTは”L”レベルとなる。出力端子OUTが”
L”レベルなので、インバータINV2の出力は”Η”
レベルとなり、これによりNMOSトランジスタN3は
ONしており、従ってN4もONしている。NMOSト
ランジスタN3およびN4がONしているので、ノード
Gは”L”レベルとなっている。ノードGと入力端子I
Nがともに”L”レベル(0[V])なので、PMOS
トランジスタP2、P4、P5、P7はOFFしてい
る。またノードSの電位はVth以下となっており、P
MOSトランジスタP3もOFFしている。
【0127】次に入力端子INが”L”レベル(0
[V])から5[V]に変化すると、出力端子OUTは
内部電源VDDレベルに変化する。入力端子INがVt
h(NMOSトランジスタのしきい値であり、かつPM
OSトランジスタのしきい値の絶対値)まで上昇する
と、ノードGが”L”レベルなので、PMOSトランジ
スタP7がターンONする。またNMOSトランジスタ
N7は、入出力端子YPADの電位が3[V]−Vth
以下であるときONしており、3[V]−Vtn以上と
なるとターンOFFする。従って、入力端子INが3
[V]まで上昇したとき、PMOSトランジスタP7お
よびNMOSトランジスタN7により、出力端子OUT
は3[V]−Vthではなく3V[V]まで上昇する。
【0128】また入力端子INがVthまで上昇したと
き、ノードGが”L”レベルなので、PMOSトランジ
スタP2がターンONする。PMOSトランジスタP2
のターンONにより、ノードSは入力端子INと同じ電
位に上昇し、これによりPMOSトランジスタP3もタ
ーンONする。またPMOSトランジスタP2およびP
3のターンONにより、フローティングバルクBは入力
端子INと同じ電位となる。PMOSトランジスタP3
は、フローティングバルクBの電位を3[V]まで確実
に上昇させ、PMOSトランジスタP2の動作をより安
定させるために設けられたものである。
【0129】入力端子INおよび出力端子OUTが3
[V]に上昇すると、インバータINV2の出力が”
H”レベルから”L”レベルに変化し、これによりNM
OSトランジスタN3がターンOFFする。しかし、ノ
ードGは”L”レベルのままである。
【0130】このあと、プルアップ抵抗R1により、入
出力端子YPADは外部電源VCCレベル(5[V])
まで上昇する。入出力端子YPADが3[V]+Vth
に上昇すると、PMOSトランジスタΡ4、P5がター
ンONする。PMOSトランジスタP4のターンONに
より、ノードGは”L”レベルから入力端子INと同じ
電位に変化する。ノードGと入力端子INとが同じ電位
になることにより、PMOSトランジスタP7がターン
OFFする。またノードGとノードSとが同じ電位にな
ることにより、PMOSトランジスタP2およびP3が
ターンOFFする。またPMOSトランジスタP5のタ
ーンONにより、フローティングバルクBの電位は入力
端子INと同じ電位となる。
【0131】そして、入力端子INが最終的に5[V]
となったとき、ノードGおよびフローティングバルクB
も5[V]となる。もしも、PMOSトランジスタP7
がターンOFFする前に、出力端子OUTの電位が3
[V]+Vthよりも高くなったときには、PMOSト
ランジスタP6がターンONして、出力端子OUTの電
位を3[V]+Vthにクランプする。またもしも、入
力端子INの電位が、−Vthよりも低くなったときに
は、NMOSトランジスタN1がターンONして、入力
端子INの電位を−Vthにクランプする。またもし
も、入力端子INおよびノードSの電位が、3[V]+
Vthよりも高くなったときには、PMOSトランジス
タP1がターンONして、入力端子INの電位を3
[V]+Vthにクランプする。また、NMOSトラン
ジスタN2、N4は、入力端子INおよびノードGが5
[V]となったときに、この5[V]がNMOSトラン
ジスタN1、N4のソース/ドレイン間にかからないよ
うにするために設けられたものであり、このNMOSト
ランジスタN2、N4により、耐圧の弱いプロセスにも
対応することができる。
【0132】また、入力端子INが5[V]に保持され
ているときに、PMOSトランジスタP2およびP3が
OFFしていることにより、PMOSトランジスタP1
のドレイン電極(ノードS)はハイインピーダンスとな
っており、ノードSおよびPMOSトランジスタP1の
バルクを通して、入力端子INから内部電源VDDにリ
ーク電流が流れてしまうことはない。またフローティン
グバルクBは内部電源VDDには接続していないので、
フローティングバルクBから内部電源VDDにリーク電
流が流れてしまうこともない。
【0133】このように第8の実施形態によれば、入力
端子INに5[V]の電位が入力されても、PMOSト
ランジスタP7およびNMOSトランジスタN7により
電流の流れ込みは発生しない。
【0134】尚、電源電圧=3Vに対して、外部入力=
5Vで説明したが、他の条件でも構わない。内部電源電
圧よりも外部電源電圧が高い条件に対して有効である。
【0135】第9の実施形態 図18は本発明の第9の実施形態の入力回路を示す回路
図である。図18に示す入力回路は、入力端子INと、
出力端子OUTと、PMOSトランジスタP1〜P7、
P21と、NMOSトランジスタN1〜N4、N7と、
インバータINV2とを有する。図18において、図1
7と共通する部分については同一符号を付してある。
【0136】図18に示す入力回路は、図17の入力回
路において、PMOSトランジスタP21を設けたもの
である。PMOSトランジスタP21は、そのゲート電
極が接地電源GNDに接続され、そのドレイン電極が出
力端子OUTに接続され、そのソース電極が内部電源V
DDに接続されている。PMOSトランジスタP21
は、入力端子INが高インピーダンス(開放)となった
ときに、出力端子OUTをプルアップし、出力端子OU
Tのレベルを内部電源VDDレベル(3[V])に確定
するために設けられたものである。
【0137】次に、図18に示す出力回路の動作は、図
17に示した第8の実施形態の入力回路の動作とほぼ同
じである。ただし、以下に説明する動作、すなわち入力
端子INが高インピーダンスになったときの動作が図1
7の入力回路とは異なる。
【0138】PMOSトランジスタP8は、常時ONし
ているが、その相互コンダクタンスは小さく、プルアッ
プ抵抗と同じ動作をする。入力端子INが高インピーダ
ンスになったとき、出力端子OUTは、フローティング
とはならずに、PMOSトランジスタP8により内部電
源VDDレベルにプルアップされる。また入力端子IN
の電位が5[V]に保持されたときには、PMOSトラ
ンジスタP7およびNMOSトランジスタN7がOFF
することにより、PMOSトランジスタP8を介して入
力端子INから内部電源VDDに電流が流れ込むことは
ない。
【0139】このように第9の実施形態によれば、入力
端子INが高インピーダンスになった場合に、出力端子
OUTを内部電源VDDレベルとすることができるた
め、内部回路への入力信号レベルを確定できる。また、
入力端子INに5[V]の電位が入力されても、PMO
SトランジスタP7、NMOSトランジスタN7によ
り、PMOSトランジスタP21を経由しての電流の流
れ込みは発生しない。
【0140】第10の実施形態 図19は本発明の第10の実施形態の入力回路を示す回
路図である。図19に示す入力回路は、入力端子IN
と、出力端子OUTと、PMOSトランジスタP1〜P
7と、NMOSトランジスタN1〜N4、N7、N21
と、インバータINV2とを有する。図19において、
図17と共通する部分については同一符号を付してあ
る。
【0141】図19に示す入力回路は、図17の入力回
路において、NMOSトランジスタN21を設けたもの
である。NMOSトランジスタN21は、そのゲート電
極が内部電源VDDに接続され、そのドレイン電極が出
力端子OUTに接続され、そのソース電極が接地電源G
NDに接続されている。NMOSトランジスタN21
は、入力端子INが高インピーダンス(開放)となった
ときに、出力端子OUTをプルダウンし、出力端子OU
Tのレベルを接地電源GNDレベル(0[V])に確定
するための設けられたものである。
【0142】次に、図19に示す入力回路の動作は、図
17に示した第8の実施形態の入力回路の動作とほぼ同
じである。ただし、以下に説明する動作、すなわち入力
端子INが高インピーダンスになったときの動作が図1
7の入力回路とは異なる。
【0143】NMOSトランジスタN22は、常時ON
しているが、その相互コンダクタンスは小さく、プルダ
ウン抵抗と同じ動作をする。入力端子INが高インピー
ダンスになったとき、出力端子OUTは、フローティン
グとはならずに、NMOSトランジスタN21により接
地電源GNDレベル(0[V])に確定される。
【0144】このように第10の実施形態によれば、入
力端子INが高インピーダンスになったとき、NMOS
トランジスタN21により出力端子OUTを接地電源レ
ベルGNDとすることができるため、内部回路への入力
信号レベル確定できる。また、入力端子INに5[V]
の電位が入力されても、PMOSトランジスタP6、P
7、NMOSトランジスタN7により、出力端子OUT
は内部電源VDDレベルとなり、NMOSトランジスタ
N21のドレイン電極、ゲート電極、ソース電極間に対
して5[V]の電位差は生じないため、耐圧の弱いプロ
セスに有効である。
【0145】第11の実施形態 図20は本発明の第11の実施形態の入力回路を示す回
路図である。図20に示す入力回路は、入力端子IN
と、出力端子OUTと、PMOSトランジスタP1〜P
7、P22と、NMOSトランジスタN1〜N4、N
7、N22と、インバータINV2とを有する。図20
において、図17と共通する部分については同一符号を
付してある。
【0146】図20に示す入力回路は、図17の入力回
路において、PMOSトランジスタP22と、NMOS
トランジスタN22とを設けたものである。NMOSト
ランジスタN22は、そのゲート電極が内部電源VDD
に接続され、そのドレイン電極がノードA1に接続さ
れ、そのソース電極が入力端子INに接続され、そのバ
ルクは接地電源GNDに接続されている。PMOSトラ
ンジスタP22は、そのゲート電極がノードA1に接続
され、そのドレイン電極が入力端子INに接続され、そ
のソース電極が内部電源VDDに接続されている。この
PMOSトランジスタP22のバルクはフローティング
バルクBである。
【0147】次に、図20に示す入力回路の動作は、図
17に示した第8の実施形態の入力回路の動作とほぼ同
じである。ただし、以下に説明する動作、すなわち入力
端子INが高インピーダンスになったときの動作が図1
7の入力回路とは異なる。
【0148】図21は図20に示す入力回路において入
力端子INが0[V]または5[V]から高インピーダ
ンスに変化したときの入力端子INとノードA1の動作
タイミング図(電圧波形図)であり、(a)は入力端子
INが0[V]から高インピーダンスに変化したときの
電圧波形図、(b)は入力端子INが5[V]から高イ
ンピーダンスに変化したときの電圧波形図である。図2
1を用いて入力端子INが高インピーダンスになったと
きの動作を説明する。まず、入力端子INが”L”レベ
ル(0[V])から高インピーダンスとなったときの動
作を説明する。入力端子INが”L”レベル(0
[V])のとき、NMOSトランジスタN22はONし
ており、ノ一ドΑ1は”L”レベル(0[V])となっ
ている。またPMOSトランジスタP22は、ONして
いるがプルアップ抵抗のように動作し、P22のソース
/ドレイン間には、電圧VDDがかかっている。
【0149】そして入力端子INが0[V]から高イン
ビーダンスとなると、PMOSトランジスタP22によ
り入力端子INは内部電源VDDレベル(3[V])に
変化し、出力端子OUTも3[V]に変化する。またノ
ードΑ1の電位はNMOSトランジスタN22によりV
DD−Vthとなる。
【0150】次に、入力端子INが5[V]から高イン
ピーダンスとなったときの動作を説明する。入力端子I
Nが5[V]のとき、ノードΑ1はVDD−Vthとな
っている。PMOSトランジスタP22は、ONしてい
るがプルダウン抵抗のように動作し、P22のドレイン
/ソース間には電圧5[V]−VDDがかかっている。
また出力端子OUTは内部電源VDDレベル(3
[V])となっている。
【0151】そして入力端子INが5[V]から高イン
ビーダンスとなると、PMOSトランジスタP22によ
り入力端子INは内部電源VDDレベル(3[V])に
変化する。
【0152】また、入力端子INが5[V]に保持され
ているときには、PMOSトランジスタP22を、PM
OSトランジスタP2〜P5、P7と共通のフローティ
ングバルクBに形成しているので、PMOSトランジス
タP22のバルクを介して入力端子INから内部電源V
DDに電流が流れ込むことはない。
【0153】このように第11の実施形態によれば、入
力端子INが高インピーダンスになった場合に、入力端
子IN(外部信号)と出力端子OUT(内部信号)のど
ちらとも内部電源VDDレベルとなる。また、入力端子
INに5[V]が入力された場合でも、PMOSトラン
ジスタΡ22のバルクはPMOSトランジスタP2〜P
5、P7と共通のフローティングバルクBであるため、
バルクへの電流の流れ込みは発生せず、ドレイン電極
(5[V])とゲート電極(VDD−Vth)間にも5
[V]の電位差は生じない。従って電位差に対する耐圧
の弱いプロセスに有効である。
【0154】第12の実施形態 図22は本発明の第12の実施形態の入力回路を示す回
路図である。図22に示す入力回路は、LSIチップに
内蔵されており、入力端子INと、出力端子OUTと、
PMOSトランジスタP1〜P7と、NMOSトランジ
スタN1〜N4、N7、N23、N24と、インバータ
INV2とを有する。図22において、図17と共通す
る部分については同一符号を付してある。
【0155】図22に示す入力回路は、図17の入力回
路において、NMOSトランジスタN23とN24とを
設けたものである。
【0156】NMOSトランジスタN23は、そのゲー
ト電極が内部電源VDDに接続され、そのドレイン電極
がノードA2に接続され、そのソース電極が接地電源G
NDに接続されている。NMOSトランジスタN24
は、そのゲート電極が内部電源VDDにに接続され、そ
のドレイン電極が入力端子INに接続され、そのソース
電極がノードA2に接続されている。すなわち入力端子
INと接地電源GNDの間に、NMOSトランジスタN
23、N24が直列に設けられている。
【0157】次に、図22に示す入力回路の動作は、図
17に示した第8の実施形態の入力回路の動作とほぼ同
じである。ただし、以下に説明する動作、すなわち入力
端子INが高インピーダンスになったときの動作が図1
7の入力回路とは異なる。
【0158】NMOSトランジスタN23およびN24
は、常時ONしているが、その相互コンダクタンスは小
さく、プルダウン抵抗と同じ動作をする。入力端子IN
が高インピーダンスになったとき、入力端子INは、フ
ローティングとはならずに、NMOSトランジスタN2
3、N24により接地電源GNDレベル(0[V])に
確定され、またこれにより出力端子OUTも0[V]に
確定される。
【0159】このように第12の実施形態によれば、入
力端子INが高インピーダンスになった場合に、入力端
子IN(外部信号)と出力端子OUT(内部信号)のど
ちらとも接地電源GNDレベルとなる。また、入力端子
INに5[V]が入力された場合でも、NMOSトラン
ジスタN23とN24とで分圧してノ一ドA2の電位を
決定することにより、NMOSトランジスタNN23の
ソース/ドレイン間において5[V]の電位差は生じな
いので、電位差に対する耐圧の弱いプロセスに有効であ
る。
【0160】第13の実施形態 図23は本発明の第13の実施形態の入力回路を示す回
路図である。図23に示す入力回路は、入力端子IN
と、出力端子OUTと、PMOSトランジスタP1〜P
7と、NMOSトランジスタN1〜N4、N7、N2
3、N24と、インバータINV2とを有する。図23
において、図17と共通する部分については同一符号を
付してある。
【0161】図23に示す入力回路は、図17の入力回
路において、NMOSトランジスタN1に並列に、NM
OSトランジスタN23を設けたものである。NMOS
トランジスタN23は、そのゲート電極が内部電源VD
Dに接続され、そのドレイン電極がノードA2に接続さ
れ、そのソース電極が接地電源GNDに接続されてい
る。NMOSトランジスタN1のドレイン電極、および
NMOSトランジスタN2のソース電極は、ノードA2
に接続されている。
【0162】次に、図23に示す入力回路の動作は、図
17に示した第8の実施形態の入力回路の動作とほぼ同
じである。ただし、以下に説明する動作、すなわち入力
端子INが高インピーダンスになったときの動作が図1
7の入力回路とは異なる。
【0163】NMOSトランジスタN1およびN23
は、常時ONしているが、N23の相互コンダクタンス
は小さい。N1およびN23の直列回路は、プルダウン
抵抗と同じ動作をする。入力端子INが高インピーダン
スになったとき、入力端子INは、フローティングとは
ならずに、NMOSトランジスタN1、N23により接
地電源GNDレベル(0[V])に確定され、またこれ
により出力端子OUTも0[V]に確定される。
【0164】このように第13の実施形態によれば、入
力端子INが高インピーダンスになった場合に、入力端
子IN(外部信号)と出力端子OUT(内部信号)のど
ちらとも接地電源GNDレベルとなる。また、入力端子
INに5[V]が入力された場合でも、NMOSトラン
ジスタΝ2とN23で分圧してノ一ドA2の電位を決定
することにより、NMOSトランジスタΝ23のソース
/ドレイン間において5[V]の電位差は生じないた
め、電位差に対する耐圧の弱いプロセスに有効である。
また、上記第12の実施形態よりも少ないトランジスタ
で同等の機能を実現できる。
【0165】
【発明の効果】以上説明したように本発明の出力回路、
入力回路、および入出力回路によれば、内部電源電圧ま
で高速に動作させることができるという効果がある。ま
た内部電源への電流の流れ込みを防止して低消費電力化
を実現できるという効果がある。また耐圧の弱いプロセ
スに対応することができるという効果がある。またイン
ターフェイスする内部回路または外部回路に対して充分
なVIHマージンを確保することができるという効果が
ある。さらに内部電源よりも高い外部電源と、内部電源
と同じレベルの外部電源のいずれにもインターフェース
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の入出力回路を示す回
路図である。
【図2】本発明の第1の実施形態の入出力回路における
動作タイミング図である。
【図3】本発明の第2の実施形態の出力回路を示す回路
図である。
【図4】本発明の第2の実施形態の出力回路における動
作タイミング図である。
【図5】本発明の第3の実施形態の出力回路を示す回路
図である。
【図6】本発明の第3の実施形態の出力回路における動
作タイミング図である。
【図7】本発明の第4の実施形態の出力回路を示す回路
図である。
【図8】本発明の第4の実施形態の出力回路における動
作タイミング図である。
【図9】本発明の第5の実施形態の出力回路を示す回路
図である。
【図10】本発明の第5の実施形態の出力回路の外部と
の接続例を示す図である。
【図11】本発明の第5の実施形態の出力回路における
動作タイミング図である。
【図12】本発明の第6の実施形態の入力回路を示す回
路図である。
【図13】本発明の第6の実施形態の入力回路の外部と
の接続例を示す図である。
【図14】本発明の第6の実施形態の入力回路のDC特
性を示す図である。
【図15】本発明の第7の実施形態の入力回路を示す回
路図である。
【図16】本発明の第7の実施形態の入力回路のDC特
性を示す図である。
【図17】本発明の第8の実施形態の入力回路を示す回
路図である。
【図18】本発明の第9の実施形態の入力回路を示す回
路図である。
【図19】本発明の第10の実施形態の入力回路を示す
回路図である。
【図20】本発明の第11の実施形態の入力回路を示す
回路図である。
【図21】本発明の第11の実施形態の入力回路におけ
る動作タイミング図である。
【図22】本発明の第12の実施形態の入力回路を示す
回路図である。
【図23】本発明の第13の実施形態の入力回路を示す
回路図である。
【図24】従来の入力回路を示す回路図である。
【図25】従来の入力回路における動作タイミング図で
ある。
【図26】従来の出力回路を示す回路図である。
【図27】従来の出力回路における動作タイミング図で
ある。
【符号の説明】
P1〜P9,P31,P32,P38,P39 PMO
Sトランジスタ、 N1〜N8,N31〜N39 NM
OSトランジスタ、 DL1 遅延回路、 INV1〜
INV4,INV31,INV32 インバータ、 1
NANDゲート、 2,3 NORゲート

Claims (33)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ゲート電極が第1のノードに接続され、
    第1電極が第1の電源に接続され、第2電極が第2のノ
    ードに接続された第1のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第3のノードに接続され、第1電極が前記
    第2のノードに接続され、第2電極が第4のノードに接
    続され、基板がフローティング状態である第5のノード
    に接続された第2のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第6のノードに接続され、第1電極が前記
    第3のノードに接続され、第2電極が前記第4のノード
    に接続され、基板が前記第5のノードに接続された第3
    のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第6のノードに接続され、第1電極が
    前記第3のノードに接続され、第2電極が第2の電源に
    接続された第4のMOSトランジスタと、 入力端子が前記第4のノードに接続され、出力端子が前
    記第6のノードに接続されたインバータとを有すること
    を特徴とする出力回路。
  2. 【請求項2】 前記第3のMOSトランジスタのゲート
    電極と、前記第4のトランジスタのゲート電極の間に遅
    延回路を設けたことを特徴とする請求項1記載の出力回
    路。
  3. 【請求項3】 ゲート電極が前記第3のノードに接続さ
    れ、第1電極が前記第2のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第5のノードに接続された第5のMO
    Sトランジスタをさらに有することを特徴とする請求項
    1記載の出力回路。
  4. 【請求項4】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第4のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第5のノードに接続された第5のMO
    Sトランジスタをさらに有することを特徴とする請求項
    1記載の出力回路。
  5. 【請求項5】 前記第1のノードに接続する第1の入力
    端子と、 第7のノードに接続する第2の入力端子と、 前記第4のノードに接続する出力端子と、 ゲート電極が前記第7のノードに接続され、第1電極が
    前記第2の電源に接続され、第1電極が前記第4のノー
    ドに接続された第5のMOSトランジスタとをさらに有
    することを特徴とする請求項1記載の出力回路。
  6. 【請求項6】 ゲート電極が第1のノードに接続され、
    第1電極が第1の電源に接続され、第2電極が第2のノ
    ードに接続された第1のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第3のノードに接続され、第1電極が前記
    第2のノードに接続され、第2電極が第4のノードに接
    続され、基板がフローティング状態である第5のノード
    に接続された第2のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第6のノードに接続され、第1電極が前記
    第3のノードに接続され、第2電極が前記第4のノード
    に接続され、基板が前記第5のノードに接続された第3
    のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第4のノードに接続され、第2電極が第7のノードに
    接続された第4のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第3のノードに接続され、第1電極が
    前記第7のノードに接続され、第2電極が前記第4のノ
    ードに接続され、基板が前記第5のノードに接続された
    第5のMOSトランジスタと、 入力端子が前記第7のノードに接続され、出力端子が第
    8のノードに接続されたインバータと、 ゲート電極が前記第8のノードに接続され、第1電極が
    第2の電源に接続され、第2電極が前記第6のノードに
    接続された第6のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第6のノードに接続され、第2電極が前記第3のノー
    ドに接続された第7のMOSトランジスタとを有するこ
    とを特徴とする出力回路。
  7. 【請求項7】 ゲート電極および第1電極が前記第1の
    電源に接続され、第2電極が前記第7のノードに接続さ
    れた第8のMOSトランジスタをさらに有することを特
    徴とする請求項6記載の出力回路。
  8. 【請求項8】 ゲート電極が前記第3のノードに接続さ
    れ、第1電極が前記第2のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第5のノードに接続された第8のMO
    Sトランジスタをさらに有することを特徴とする請求項
    6記載の出力回路。
  9. 【請求項9】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第4のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第5のノードに接続された第8のMO
    Sトランジスタをさらに有することを特徴とする請求項
    6記載の出力回路。
  10. 【請求項10】 前記第1のノードに接続する第1の入
    力端子と、 第9のノードに接続する第2の入力端子と、 前記第4のノードに接続する出力端子と、 ゲート電極が前記第9のノードに接続され、第1電極が
    前記第2の電源に接続され、第2電極が第10のノード
    に接続された第8のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第10のノードに接続され、第2電極が前記第4のノ
    ードに接続された第9のMOSトランジスタとをさらに
    有することを特徴とする請求項6記載の出力回路。
  11. 【請求項11】 ゲート電極が第1のノードに接続さ
    れ、第1電極が第1の電源に接続され、第2電極が第2
    のノードに接続された第1のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第3のノードに接続され、第1電極が前記
    第2のノードに接続され、第2電極が第4のノードに接
    続され、基板がフローティング状態である第5のノード
    に接続された第2のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第6のノードに接続され、第1電極が前記
    第3のノードに接続され、第2電極が前記第4のノード
    に接続され、基板が前記第5のノードに接続された第3
    のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第4のノードに接続され、第2電極が第7のノードに
    接続された第4のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第3のノードに接続され、第1電極が
    前記第7のノードに接続され、第2電極が前記第4のノ
    ードに接続され、基板が前記第5のノードに接続された
    第5のMOSトランジスタと、 第1入力端子が前記第7のノードに接続され、第2入力
    端子が第8のノードに接続され、出力端子が第9のノー
    ドに接続されたNORゲートと、 ゲート電極が前記第9のノードに接続され、第1電極が
    第2の電源に接続され、第2電極が第10のノードに接
    続された第6のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第10のノードに接続され、第2電極が前記第3のノ
    ードに接続された第7のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第3のノードに接続され、第2電極が第11のノード
    に接続された第8のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第8のノードに接続され、第1電極が
    前記第11のノードに接続され、第2電極が前記第1の
    ノードに接続された第9のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第12のノードに接続され、第1電極が前
    記第10のノードに接続され、第2電極が前記第6のノ
    ードに接続された第10のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第12のノードに接続され、第1電極
    が前記第1の電源に接続され、第2電極が前記第6のノ
    ードに接続された第11のMOSトランジスタとを有す
    ることを特徴とする出力回路。
  12. 【請求項12】 ゲート電極および第1電極が前記第1
    の電源に接続され、第2電極が前記第7のノードに接続
    された第12のMOSトランジスタをさらに有すること
    を特徴とする請求項11記載の出力回路。
  13. 【請求項13】 ゲート電極が前記第3のノードに接続
    され、第1電極が前記第2のノードに接続され、第2電
    極および基板が前記第5のノードに接続された第12の
    MOSトランジスタをさらに有することを特徴とする請
    求項11記載の出力回路。
  14. 【請求項14】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第4のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第5のノードに接続された第12のM
    OSトランジスタをさらに有することを特徴とする請求
    項11記載の出力回路。
  15. 【請求項15】 前記第1のノードに接続する第1の入
    力端子と、 第13のノードに接続する第2の入力端子と、 前記第12のノードに接続する第3の入力端子と、 前記第8のノードに接続する第4の入力端子と、 前記第4のノードに接続する出力端子と、 ゲート電極が前記第13のノードに接続され、第1電極
    が前記第2の電源に接続され、第2電極が第14のノー
    ドに接続された第12のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第14のノードに接続され、第2電極が前記第4のノ
    ードに接続された第13のMOSトランジスタとをさら
    に有することを特徴とする請求項11記載の出力回路。
  16. 【請求項16】 ゲート電極および第1電極が第1の電
    源に接続され、第2電極が第1のノードに接続された第
    1のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第2のノードに接続され、第1電極が前記
    第1のノードに接続され、第2電極が第3のノードに接
    続され、基板がフローティング状態である第4のノード
    に接続された第2のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第2のノードに接続され、第2電極が前記第3のノー
    ドに接続され、基板が前記第4のノードに接続された第
    3のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第3のノードに接続され、第2電極が第5のノードに
    接続された第4のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第2のノードに接続され、第1電極が
    前記第5のノードに接続され、第2電極が前記第3のノ
    ードに接続され、基板が前記第4のノードに接続された
    第5のMOSトランジスタと、 入力端子が前記第5のノードに接続され、出力端子が第
    6のノードに接続されたインバータと、 ゲート電極が前記第6のノードに接続され、第1電極が
    第2の電源に接続され、第2電極が第7のノードに接続
    された第6のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第7のノードに接続され、第2電極が前記第2のノー
    ドに接続された第7のMOSトランジスタとを有するこ
    とを特徴とする入力回路。
  17. 【請求項17】 ゲート電極および第1電極が前記第1
    の電源に接続され、第2電極が前記第5のノードに接続
    された第8のMOSトランジスタをさらに有することを
    特徴とする請求項16記載の入力回路。
  18. 【請求項18】 ゲート電極が前記第2の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第1の電源に接続され、第2電極が
    前記第5のノードに接続された第8のMOSトランジス
    タをさらに有することを特徴とする請求項16記載の入
    力回路。
  19. 【請求項19】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第5のノードに接続され、第2電極
    が前記第2の電源に接続された第8のMOSトランジス
    タをさらに有することを特徴とする請求項16記載の入
    力回路。
  20. 【請求項20】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第3のノードに接続され、第2電極
    が第8のノードに接続された第8のMOSトランジスタ
    と、 ゲート電極が前記第8のノードに接続され、第1電極が
    前記第1の電源に接続され、第2電極が前記第3のノー
    ドに接続され、基板が前記第4のノードに接続された第
    9のMOSトランジスタとをさらに有することを特徴と
    する請求項16記載の入力回路。
  21. 【請求項21】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第2の電源に接続され、第1電極が
    第8のノードに接続された第8のMOSトランジスタ
    と、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第8のノードに接続され、第2電極が前記第3のノー
    ドに接続された第9のMOSトランジスタとをさらに有
    することを特徴とする請求項16記載の入力回路。
  22. 【請求項22】 ゲート電極が前記第2のノードに接続
    され、第1電極が前記第1のノードに接続され、第2電
    極および基板が前記第4のノードに接続された第8のM
    OSトランジスタをさらに有することを特徴とする請求
    項16記載の入力回路。
  23. 【請求項23】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第3のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第4のノードに接続された第8のMO
    Sトランジスタをさらに有することを特徴とする請求項
    16記載の入力回路。
  24. 【請求項24】 前記第3のノードに接続する入力端子
    と、 前記第5のノードに接続する出力端子と、 ゲート電極および第1電極が前記第2の電源に接続さ
    れ、第1電極が第8のノードに接続された第8のMOS
    トランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第8のノードに接続され、第2電極が前記第3のノー
    ドに接続された第9のMOSトランジスタとをさらに有
    することを特徴とする請求項16記載の入力回路。
  25. 【請求項25】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第8のノードに接続され、第2電極
    が前記第2の電源に接続された第10のMOSトランジ
    スタをさらに有することを特徴とする請求項24記載の
    入力回路。
  26. 【請求項26】 第1のノードに接続する入力端子と、
    ゲート電極が前記第1のノードに接続され、第1電極が
    第1の電源に接続され、第2電極および基板がフローテ
    ィング状態である第2のノードに接続された第1のMO
    Sトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第1のノードに接続され、第2電極が第3のノードに
    接続され、基板が前記第2のノードに接続された第2の
    MOSトランジスタと、 第1端子が前記第3のノードに接続され、第2端子が第
    2の電源に接続された負荷回路と、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第3のノードに接続され、第2電極が第4のノードに
    接続された第3のMOSトランジスタと、 入力端子が前記第4のノードに接続され、出力端子が第
    5のノードに接続されたコンパレータ回路と、 前記第5のノードに接続された出力端子とを有すること
    を特徴とする入力回路。
  27. 【請求項27】 第1のノードに接続する入力端子と、 ゲート電極が前記第1のノードに接続され、第1電極が
    第1の電源に接続され、第2電極および基板がフローテ
    ィング状態である第2のノードに接続された第1のMO
    Sトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第1のノードに接続され、第2電極が第3のノードに
    接続され、基板が前記第2のノードに接続された第2の
    MOSトランジスタと、 第1端子が前記第3のノードに接続され、第2端子が第
    2の電源に接続された負荷回路と、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第3のノードに接続され、第2電極が第4のノードに
    接続された第3のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第4のノードに接続され、第1電極が
    第5のノードに接続され、第2電極が前記第2の電源に
    接続された第4のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第4のノードに接続され、第1電極お
    よび基板が第6のノードに接続され、第2電極が前記第
    5のノードに接続された第5のMOSトランジスタと、 入力電極が前記第5のノードに接続され、出力電極が第
    7のノードに接続されたインバータと、 ゲート電極が前記第7のノードに接続され、第1電極が
    前記第1の電源に接続され、第2電極が前記第6のノー
    ドに接続された第6のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第7のノードに接続され、第1電極が
    前記第6のノードに接続され、第2電極が前記第1の電
    源に接続された第7のMOSトランジスタと、 前記第7のノードに接続された出力端子とを有すること
    を特徴とする入力回路。
  28. 【請求項28】 請求項12記載の出力回路と、請求項
    26または請求項27に記載の入力回路からなり、 前記出力回路の第3の入力端子と前記入力回路の出力端
    子とを接続し、前記出力回路の出力端子を外部回路に接
    続し、前記入力回路の入力端子を前記外部回路の電源に
    接続したことを特徴とする入出力回路。
  29. 【請求項29】 ゲート電極が第1のノードに接続さ
    れ、第1電極が第1の電源に接続され、第2電極が第2
    のノードに接続された第1のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第3のノードに接続され、第1電極が前記
    第2のノードに接続され、第2電極が第4のノードに接
    続され、基板がフローティング状態である第5のノード
    に接続された第2のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第3のノードに接続され、第2電極が前記第4のノー
    ドに接続され、基板が前記第5のノードに接続された第
    3のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第4のノードに接続され、第2電極が第6のノードに
    接続された第4のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第3のノードに接続され、第1電極が
    前記第6のノードに接続され、第2電極が前記第4のノ
    ードに接続され、基板が前記第5のノードに接続された
    第5のMOSトランジスタと、 入力端子が前記第6のノードに接続され、出力端子が第
    7のノードに接続されたインバータと、 ゲート電極が前記第7のノードに接続され、第1電極が
    第2の電源に接続され、第2電極が第8のノードに接続
    された第6のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第9のノードに接続され、第1電極が前記
    第8のノードに接続され、第2電極が第10のノードに
    接続された第7のMOSトランジスタと、 ゲート電極が第11のノードに接続され、第1電極が前
    記第10のノードに接続され、第2電極が前記第1のノ
    ードに接続された第8のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第10のノードに接続され、第2電極が前記第3のノ
    ードに接続された第9のMOSトランジスタとを有する
    ことを特徴とする入出力回路。
  30. 【請求項30】 ゲート電極および第1電極が前記第1
    の電源に接続され、第2電極が前記第6のノードに接続
    された第10のMOSトランジスタをさらに有すること
    を特徴とする請求項29記載の入出力回路。
  31. 【請求項31】 ゲート電極が前記第3のノードに接続
    され、第1電極が前記第2のノードに接続され、第2電
    極および基板が前記第5のノードに接続された第10の
    MOSトランジスタをさらに有することを特徴とする請
    求項29記載の入出力回路。
  32. 【請求項32】 ゲート電極が前記第1の電源に接続さ
    れ、第1電極が前記第4のノードに接続され、第2電極
    および基板が前記第5のノードに接続された第10のM
    OSトランジスタをさらに有することを特徴とする請求
    項29記載の入出力回路。
  33. 【請求項33】 前記第1のノードに接続する第1の入
    力端子と、 前記第11のノードに接続された第2の入力端子と、 前記第9のノードに接続された第3の入力端子と、 第12のノードに接続された第4の入力端子と、 前記第6のノードに接続された出力端子と、 前記第4のノードに接続された入出力端子と、 ゲート電極が前記第12のノードに接続され、第1電極
    が前記第2の電源に接続され、第2電極が第13のノー
    ドに接続された第10のMOSトランジスタと、 ゲート電極が前記第1の電源に接続され、第1電極が前
    記第13のノードに接続され、第2電極が前記第4のノ
    ードに接続された第11のMOSトランジスタとをさら
    に有することを特徴とする請求項29記載の入力回路。
JP07938597A 1997-03-31 1997-03-31 入力回路および出力回路ならびに入出力回路 Expired - Fee Related JP3544819B2 (ja)

Priority Applications (17)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07938597A JP3544819B2 (ja) 1997-03-31 1997-03-31 入力回路および出力回路ならびに入出力回路
KR10-1998-0010478A KR100374247B1 (ko) 1997-03-31 1998-03-26 입력회로와출력회로및입출력회로
US09/049,146 US6057717A (en) 1997-03-31 1998-03-27 Output circuit, input circuit and input/output circuit
EP02004674A EP1229649B1 (en) 1997-03-31 1998-03-31 Output circuit
DE69832827T DE69832827T2 (de) 1997-03-31 1998-03-31 Ausgangsschaltung
EP98105843A EP0869616B1 (en) 1997-03-31 1998-03-31 Output circuit, input circuit and input/output circuit
DE69834756T DE69834756T2 (de) 1997-03-31 1998-03-31 Eingangsschaltung für eine integrierte Schaltung
DE69832828T DE69832828T2 (de) 1997-03-31 1998-03-31 Ausgangsschaltung
EP02004689A EP1239591B1 (en) 1997-03-31 1998-03-31 Input circuit for an integrated circuit
TW087104794A TW401657B (en) 1997-03-31 1998-03-31 Input circuit, output circuit and input/output circuit
EP02004690A EP1229650B1 (en) 1997-03-31 1998-03-31 Output circuit, input circuit and input/output circuit
DE69819582T DE69819582T2 (de) 1997-03-31 1998-03-31 Ausgangsschaltung, Eingangsschaltung und Eingangs-Ausgangsschaltung
DE69834755T DE69834755T2 (de) 1997-03-31 1998-03-31 Ausgangsschaltung, Eingangsschaltung und Eingangs/Ausgangsschaltung
EP02004673A EP1229648B1 (en) 1997-03-31 1998-03-31 Output circuit
US09/541,430 US6307421B1 (en) 1997-03-31 2000-04-03 Output circuit, input circuit and input/output circuit
US09/794,052 US6400191B2 (en) 1997-03-31 2001-02-28 Output circuit, input circuit and input/output circuit
US10/125,405 US6525576B2 (en) 1997-03-31 2002-04-19 Output circuit, input circuit and input/output circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07938597A JP3544819B2 (ja) 1997-03-31 1997-03-31 入力回路および出力回路ならびに入出力回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10276081A true JPH10276081A (ja) 1998-10-13
JP3544819B2 JP3544819B2 (ja) 2004-07-21

Family

ID=13688410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP07938597A Expired - Fee Related JP3544819B2 (ja) 1997-03-31 1997-03-31 入力回路および出力回路ならびに入出力回路

Country Status (6)

Country Link
US (4) US6057717A (ja)
EP (5) EP0869616B1 (ja)
JP (1) JP3544819B2 (ja)
KR (1) KR100374247B1 (ja)
DE (5) DE69819582T2 (ja)
TW (1) TW401657B (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002533971A (ja) * 1998-12-18 2002-10-08 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 過電圧保護i/oバッファ
US7049847B2 (en) 2003-04-25 2006-05-23 Nec Electronics Corporation Semiconductor device
JP2007013748A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 入出力回路装置
US7388410B2 (en) 2005-02-14 2008-06-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Input circuits configured to operate using a range of supply voltages
JP2010246159A (ja) * 2010-07-13 2010-10-28 Oki Semiconductor Co Ltd 入出力回路
WO2022107416A1 (ja) * 2020-11-19 2022-05-27 日立Astemo株式会社 電子装置

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3544819B2 (ja) * 1997-03-31 2004-07-21 株式会社 沖マイクロデザイン 入力回路および出力回路ならびに入出力回路
JP2000156084A (ja) * 1998-11-19 2000-06-06 Fujitsu Ltd 半導体装置
US6184730B1 (en) * 1999-11-03 2001-02-06 Pericom Semiconductor Corp. CMOS output buffer with negative feedback dynamic-drive control and dual P,N active-termination transmission gates
JP3502330B2 (ja) * 2000-05-18 2004-03-02 Necマイクロシステム株式会社 出力回路
KR100378201B1 (ko) * 2001-06-29 2003-03-29 삼성전자주식회사 전원전압 이상의 입력신호를 용인하는 신호전송회로
US6570414B1 (en) * 2001-09-27 2003-05-27 Applied Micro Circuits Corporation Methods and apparatus for reducing the crowbar current in a driver circuit
US6784703B1 (en) * 2003-06-30 2004-08-31 International Business Machines Corporation Dynamic driver boost circuits
US7061298B2 (en) * 2003-08-22 2006-06-13 Idaho Research Foundation, Inc. High voltage to low voltage level shifter
US6985019B1 (en) * 2004-04-13 2006-01-10 Xilinx, Inc. Overvoltage clamp circuit
US7956669B2 (en) * 2005-04-15 2011-06-07 International Business Machines Corporation High-density low-power data retention power gating with double-gate devices
US20070085576A1 (en) * 2005-10-14 2007-04-19 Hector Sanchez Output driver circuit with multiple gate devices
US7642818B1 (en) * 2008-10-14 2010-01-05 Winbond Electronics Corp. High voltage tolerant input circuit capable of operating at extremely low IO supply voltage
JP2011188013A (ja) * 2010-03-04 2011-09-22 Toshiba Corp 出力バッファ
JP5842720B2 (ja) * 2012-04-19 2016-01-13 株式会社ソシオネクスト 出力回路
CN104660248B (zh) * 2013-11-19 2018-06-01 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 上拉电阻电路
CN105790753B (zh) * 2014-12-25 2018-12-21 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 输出缓冲器
WO2017019981A1 (en) * 2015-07-30 2017-02-02 Circuit Seed, Llc Reference generator and current source transistor based on complementary current field-effect transistor devices

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3909679A (en) 1974-11-07 1975-09-30 Rock Ola Mfg Corp Cabinet and heat sink for amplifier components
JPH03175727A (ja) * 1989-12-04 1991-07-30 Nec Corp 高電圧信号入力回路
US5191244A (en) * 1991-09-16 1993-03-02 Advanced Micro Devices, Inc. N-channel pull-up transistor with reduced body effect
US5378950A (en) * 1992-02-03 1995-01-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit for producing activation signals at different cycle times
JPH05242674A (ja) * 1992-02-28 1993-09-21 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
US5247800A (en) 1992-06-03 1993-09-28 General Electric Company Thermal connector with an embossed contact for a cryogenic apparatus
US5300832A (en) * 1992-11-10 1994-04-05 Sun Microsystems, Inc. Voltage interfacing buffer with isolation transistors used for overvoltage protection
US5297617A (en) 1992-12-22 1994-03-29 Edward Herbert Fan assembly with heat sink
US5387826A (en) * 1993-02-10 1995-02-07 National Semiconductor Corporation Overvoltage protection against charge leakage in an output driver
EP0702860B1 (en) * 1993-06-07 1997-12-29 National Semiconductor Corporation Overvoltage protection
JP2944373B2 (ja) * 1993-09-08 1999-09-06 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 半導体集積回路
US5381059A (en) * 1993-12-30 1995-01-10 Intel Corporation CMOS tristateable buffer
JPH0832433A (ja) * 1994-07-13 1996-02-02 Oki Micro Design Miyazaki:Kk 出力バッファ回路
US5444397A (en) * 1994-10-05 1995-08-22 Pericom Semiconductor Corp. All-CMOS high-impedance output buffer for a bus driven by multiple power-supply voltages
GB9420572D0 (en) * 1994-10-12 1994-11-30 Philips Electronics Uk Ltd A protected switch
JP3210204B2 (ja) * 1995-03-28 2001-09-17 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 出力回路
JPH08307235A (ja) * 1995-04-28 1996-11-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 出力回路
JP3340906B2 (ja) * 1996-03-13 2002-11-05 株式会社 沖マイクロデザイン 出力回路
US5892377A (en) * 1996-03-25 1999-04-06 Intel Corporation Method and apparatus for reducing leakage currents in an I/O buffer
US5930893A (en) 1996-05-29 1999-08-03 Eaton; Manford L. Thermally conductive material and method of using the same
US5838065A (en) 1996-07-01 1998-11-17 Digital Equipment Corporation Integrated thermal coupling for heat generating device
US5828262A (en) * 1996-09-30 1998-10-27 Cypress Semiconductor Corp. Ultra low power pumped n-channel output buffer with self-bootstrap
KR100216407B1 (ko) * 1996-11-09 1999-08-16 구본준 데이타 출력 버퍼회로
JP3544819B2 (ja) * 1997-03-31 2004-07-21 株式会社 沖マイクロデザイン 入力回路および出力回路ならびに入出力回路
KR100259070B1 (ko) * 1997-04-07 2000-06-15 김영환 데이터 출력 버퍼 회로
US6057601A (en) 1998-11-27 2000-05-02 Express Packaging Systems, Inc. Heat spreader with a placement recess and bottom saw-teeth for connection to ground planes on a thin two-sided single-core BGA substrate
JP3514645B2 (ja) * 1998-12-28 2004-03-31 株式会社 沖マイクロデザイン 半導体集積回路装置の入出力回路
US6326835B1 (en) * 2000-10-05 2001-12-04 Oki Electric Industry Co., Ltd. Input/output circuit for semiconductor integrated circuit device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002533971A (ja) * 1998-12-18 2002-10-08 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 過電圧保護i/oバッファ
US7049847B2 (en) 2003-04-25 2006-05-23 Nec Electronics Corporation Semiconductor device
US7388410B2 (en) 2005-02-14 2008-06-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Input circuits configured to operate using a range of supply voltages
JP2007013748A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 入出力回路装置
JP2010246159A (ja) * 2010-07-13 2010-10-28 Oki Semiconductor Co Ltd 入出力回路
WO2022107416A1 (ja) * 2020-11-19 2022-05-27 日立Astemo株式会社 電子装置

Also Published As

Publication number Publication date
US6525576B2 (en) 2003-02-25
US20010015669A1 (en) 2001-08-23
EP1239591B1 (en) 2006-05-31
EP1229650A2 (en) 2002-08-07
EP1229648B1 (en) 2005-12-14
EP0869616A3 (en) 1998-10-21
DE69832828T2 (de) 2006-08-31
US6400191B2 (en) 2002-06-04
EP1229649B1 (en) 2005-12-14
US6057717A (en) 2000-05-02
EP0869616A2 (en) 1998-10-07
EP1229648A3 (en) 2003-04-23
EP1229650A3 (en) 2003-05-02
EP1229648A2 (en) 2002-08-07
DE69819582T2 (de) 2004-09-30
DE69834756D1 (de) 2006-07-06
EP1239591A2 (en) 2002-09-11
DE69834755D1 (de) 2006-07-06
KR19980080700A (ko) 1998-11-25
DE69819582D1 (de) 2003-12-18
JP3544819B2 (ja) 2004-07-21
EP1239591A3 (en) 2003-05-02
DE69832828D1 (de) 2006-01-19
DE69834756T2 (de) 2007-04-26
EP0869616B1 (en) 2003-11-12
US6307421B1 (en) 2001-10-23
US20020113629A1 (en) 2002-08-22
DE69832827D1 (de) 2006-01-19
EP1229650B1 (en) 2006-05-31
EP1229649A3 (en) 2003-04-23
DE69834755T2 (de) 2007-05-16
EP1229649A2 (en) 2002-08-07
KR100374247B1 (ko) 2003-05-17
DE69832827T2 (de) 2006-08-31
TW401657B (en) 2000-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3544819B2 (ja) 入力回路および出力回路ならびに入出力回路
US4777389A (en) Output buffer circuits for reducing ground bounce noise
JPH04345317A (ja) ドライバ回路、低ノイズドライバ回路及び低ノイズ低電圧スイングドライバ・レシーバ回路
KR20010049227A (ko) 레벨조정회로 및 이를 포함하는 데이터 출력회로
KR930007078A (ko) 출력버퍼 구동회로
US6285209B1 (en) Interface circuit and input buffer integrated circuit including the same
JP5184326B2 (ja) 低電圧での能力を備えた高速出力回路
US20050270079A1 (en) Input buffer structure with single gate oxide
JPH0338873A (ja) 集積回路
JPH04229714A (ja) バッファを有する集積回路
JPH05136684A (ja) Cmos出力バツフア回路
JPH066205A (ja) 低電力、雑音排除ttl・cmos入力バッファ
US5894227A (en) Level restoration circuit for pass logic devices
US6426658B1 (en) Buffers with reduced voltage input/output signals
JPH0677804A (ja) 出力回路
JPH05122049A (ja) 出力バツフア回路
JPH10135818A (ja) 入力回路
US11979155B2 (en) Semiconductor integrated circuit device and level shifter circuit
JP7509569B2 (ja) 電源切り替え装置
JP3583442B2 (ja) 高速振幅制限プルアップ回路
US6559678B1 (en) Node predisposition circuit
JPH09205356A (ja) 出力回路
JP2021175132A (ja) 電源切り替え装置
KR100250684B1 (ko) 출력잡음에 의한 오동작을 배제하는 입력버퍼
JPS63275223A (ja) 出力バツフア−回路

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040325

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040406

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040406

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080416

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090416

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090416

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110416

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120416

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120416

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140416

Year of fee payment: 10

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees