JP2022066392A5 - - Google Patents
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Claims (15)
- リソグラフィ工程における使用に適したマスクアセンブリであって、
パターニングデバイスと、
(a)ペリクルを支持するように構成されマウントを用いて前記パターニングデバイスに搭載されたペリクルフレームであって、(b)前記マウントは、前記ペリクルフレームと前記パターニングデバイスとの間に間隙が存在するように前記ペリクルフレームを前記パターニングデバイスに対して懸架するように構成されている、ペリクルフレームと、を備え、
前記マウントは、前記パターニングデバイスと前記ペリクルフレームとの間の取り外し可能に係合可能な取り付けを提供し、
前記マウントは、複数のサブマウントを備え、
各サブマウントは、前記パターニングデバイス又は前記ペリクルフレームのうち一方に取り付けられた突起と、前記パターニングデバイス又は前記ペリクルフレームのうち他方に取り付けられた係合機構と、を備え、前記係合機構は、前記突起を収容するとともに前記突起と係合するように構成されている、マスクアセンブリ。 - 前記マウントは、前記ペリクルフレームと前記パターニングデバイスとの間に運動学的連結を提供する、請求項1のマスクアセンブリ。
- 各サブマウントは、運動学的サブマウントである、請求項1又は2のマスクアセンブリ。
- 各サブマウントは、そのサブマウントにおける前記パターニングデバイスに対する前記ペリクルフレームの一区画の移動を可能にするように構成された弾性の構成要素を含む、請求項1から3の何れか一項のマスクアセンブリ。
- 各サブマウントは、そのサブマウントにおける少なくとも1つの方向の移動が防止されるように、そのサブマウントにおける前記パターニングデバイスに対する前記ペリクルフレームの移動を限られた数の自由度に抑制するように構成されている、請求項4のマスクアセンブリ。
- 前記係合機構は、前記突起に対する前記係合機構のいくらかの移動を可能にするように構成された1つ以上の弾性部材を備える、請求項1から5の何れか一項のマスクアセンブリ。
- 前記係合機構は、前記ペリクルフレームが前記パターニングデバイスに接触するのを防止する移動制限構成要素をさらに備える、請求項1から6の何れか一項のマスクアセンブリ。
- 前記係合機構は、前記ペリクルフレームと前記パターニングデバイスとの間の前記間隙を維持する移動制限構成要素をさらに備える、請求項1から7の何れか一項のマスクアセンブリ。
- 前記移動制限構成要素は、前記突起の前記遠位面と係合するように構成されたキャップを備える、請求項8のマスクアセンブリ。
- 前記マウントは、3つ以上のサブマウントを備える、請求項1から9の何れか一項のマスクアセンブリ。
- 前記マウントは、4つのサブマウントを備える、請求項10のマスクアセンブリ。
- 前記マスクアセンブリの一側部に2つのサブマウントが設けられ、
前記マスクアセンブリの反対の側部に2つのサブマウントが設けられる、請求項11のマスクアセンブリ。 - 前記ペリクルフレームの各側部は、第1の方向の移動を可能にするサブマウントと、前記第1の方向に略垂直である第2の方向の移動を可能にするサブマウントと、を備える、請求項1から12の何れか一項のマスクアセンブリ。
- 前記サブマウントは、前記ペリクルフレームの対向する側部の等価な位置に、相補対として設けられる、請求項13のマスクアセンブリ。
- 放射ビームを調整するように構成された照明システムと、
請求項1から14の何れか一項によるマスクアセンブリであってパターニングされた放射ビームを形成するべく前記放射ビームの断面にパターンを付与するように構成されたマスクアセンブリを支持する支持構造と、
基板を保持するように構築された基板テーブルと、
前記パターニングされた放射ビームを前記基板上に投影するように構成された投影システムと、
を備える、リソグラフィ装置。
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Families Citing this family (57)
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CA3008474A1 (en) | 2015-12-14 | 2017-06-22 | Asml Netherlands B.V. | A membrane for euv lithography |
EP3391140A1 (en) * | 2015-12-14 | 2018-10-24 | ASML Netherlands B.V. | A membrane assembly |
KR102186010B1 (ko) * | 2016-01-26 | 2020-12-04 | 한양대학교 산학협력단 | Euv 펠리클 구조체, 및 그 제조 방법 |
KR20230023066A (ko) * | 2016-04-25 | 2023-02-16 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | Euv 리소그래피를 위한 멤브레인 |
CN109416503B (zh) * | 2016-07-05 | 2023-06-09 | 三井化学株式会社 | 防护膜、防护膜组件框体、防护膜组件、其制造方法、曝光原版、曝光装置、半导体装置的制造方法 |
JP7097872B2 (ja) * | 2016-07-29 | 2022-07-08 | エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. | ステージ装置 |
JP6607574B2 (ja) * | 2016-08-24 | 2019-11-20 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム及びペリクル |
KR101848153B1 (ko) * | 2016-09-12 | 2018-05-29 | 한양대학교 산학협력단 | 마스크 보호 모듈, 이를 포함하는 펠리클, 및 이를 포함하는 리소그래피 장치 |
KR102237878B1 (ko) * | 2017-02-17 | 2021-04-07 | 미쯔이가가꾸가부시끼가이샤 | 펠리클, 노광 원판, 노광 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 |
US11183410B2 (en) | 2017-04-24 | 2021-11-23 | Photronics, Inc. | Pellicle removal tool |
KR102670392B1 (ko) | 2017-06-15 | 2024-05-30 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 펠리클 및 펠리클 조립체 |
US11143952B2 (en) | 2017-09-28 | 2021-10-12 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Pellicle removal method |
KR20200071080A (ko) * | 2017-10-27 | 2020-06-18 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 펠리클 프레임 및 펠리클 조립체 |
US11106127B2 (en) | 2017-11-08 | 2021-08-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Structure of pellicle-mask structure with vent structure |
WO2019101517A1 (en) * | 2017-11-21 | 2019-05-31 | Asml Netherlands B.V. | Porous graphitic pellicle |
JP6921412B2 (ja) * | 2018-01-25 | 2021-08-18 | 株式会社ブイ・テクノロジー | ペリクルフレーム把持装置及びペリクルフレーム把持方法 |
EP3530511B1 (de) * | 2018-02-27 | 2020-05-27 | Joseph Vögele AG | Verfahren zum rekonfigurieren einer bedienanordnung für eine baumaschine |
JP6968259B2 (ja) * | 2018-03-05 | 2021-11-17 | 三井化学株式会社 | ペリクル、露光原版、露光装置、及び半導体装置の製造方法 |
JP7019472B2 (ja) * | 2018-03-22 | 2022-02-15 | 三井化学株式会社 | カーボンナノチューブ自立膜の製造方法、およびペリクルの製造方法 |
JP7061494B2 (ja) * | 2018-03-28 | 2022-04-28 | 三井化学株式会社 | 検査方法、ペリクルの製造方法、および検査装置 |
US20210271159A1 (en) | 2018-07-04 | 2021-09-02 | Asml Netherland B.V. | Apparatus for positioning and clamped curing |
CN108950475B (zh) * | 2018-07-25 | 2020-11-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | 张网结构、张网装置及张网方法 |
WO2020064217A1 (en) | 2018-09-28 | 2020-04-02 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic system and method |
KR20210090189A (ko) | 2018-11-16 | 2021-07-19 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | Euv 리소그래피를 위한 펠리클 |
KR102243367B1 (ko) * | 2018-11-30 | 2021-04-23 | 한양대학교 산학협력단 | 펠리클 홀더, 펠리클 검사 장치, 및 펠리클 검사 방법 |
US11137693B2 (en) * | 2018-11-30 | 2021-10-05 | Iucf-Hyu (Industry-University Cooperation Foundation Hanyang University) | Pellicle holder, pellicle inspection apparatus, and pellicle inspection method |
WO2020123038A1 (en) * | 2018-12-10 | 2020-06-18 | Applied Materials, Inc. | Attachment feature removal from photomask in extreme ultraviolet lithography application |
KR102172722B1 (ko) | 2018-12-26 | 2020-11-02 | 주식회사 에프에스티 | 초극자외선 리소그라피용 펠리클의 검사에 사용되는 캡슐 |
KR20200088528A (ko) | 2019-01-14 | 2020-07-23 | 주식회사 에프에스티 | 펠리클 장착 시스템, 스터드 부착 장치, 펠리클 부착 장치 및 펠리클 부착 방법 |
KR20200088529A (ko) | 2019-01-14 | 2020-07-23 | 주식회사 에프에스티 | 초극자외선 리소그라피용 펠리클 검사 시스템 |
NL2024985B1 (en) * | 2019-02-28 | 2020-11-23 | Asml Netherlands Bv | Apparatus for assembly of a reticle assembly |
NL2025186B1 (en) | 2019-04-12 | 2021-02-23 | Asml Netherlands Bv | Pellicle for euv lithography |
KR102242356B1 (ko) * | 2019-08-05 | 2021-04-20 | 주식회사 에프에스티 | 일체화된 프레임과 멤브레인을 포함하는 펠리클, 그 제조방법, 펠리클을 포함하는 노광장치 및 펠리클의 제조장치 |
KR102273266B1 (ko) * | 2019-10-23 | 2021-07-06 | 주식회사 에프에스티 | 일체화된 프레임과 멤브레인을 포함하는 펠리클의 제조방법 |
KR20210116770A (ko) * | 2020-03-13 | 2021-09-28 | 삼성전자주식회사 | 펠리클 전사 장치 및 펠리클 전사 방법 |
WO2021213777A1 (en) * | 2020-04-23 | 2021-10-28 | Asml Netherlands B.V. | Pellicle frame for euv lithography |
TWI760062B (zh) * | 2020-05-14 | 2022-04-01 | 家登精密工業股份有限公司 | 提供有保持銷組件之光罩盒及固持光罩的方法 |
US11822230B2 (en) * | 2020-07-24 | 2023-11-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | EUV pellicle and mounting method thereof on photo mask |
KR20220043268A (ko) | 2020-09-29 | 2022-04-05 | 삼성전자주식회사 | 온도/압력이 독립으로 제어되는 스터드 부착 장치 및 스터드 부착 방법 |
KR102668456B1 (ko) | 2020-12-07 | 2024-05-23 | 주식회사 에프에스티 | 극자외선 리소그라피용 펠리클 프레임 |
KR102512243B1 (ko) | 2020-12-16 | 2023-03-21 | 주식회사 에프에스티 | 극자외선 리소그라피용 다공성 펠리클 프레임 |
JP2024501082A (ja) * | 2020-12-17 | 2024-01-10 | エムイー2-ファクトリー・ゲーエムベーハー | 少なくとも1つの結合要素を伴うイオン注入システムのためのエネルギーフィルタ組立体 |
KR102581084B1 (ko) | 2021-02-04 | 2023-09-21 | 주식회사 에프에스티 | 극자외선 리소그라피용 펠리클 프레임 |
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KR102581086B1 (ko) | 2021-03-16 | 2023-09-21 | 주식회사 에프에스티 | 극자외선 리소그라피용 펠리클 막 |
KR20220148472A (ko) * | 2021-04-29 | 2022-11-07 | 주식회사 에프에스티 | 펠리클 조립체 |
KR102624936B1 (ko) | 2021-05-21 | 2024-01-15 | 주식회사 에프에스티 | 극자외선 리소그라피용 펠리클 프레임 및 극자외선 리소그라피용 펠리클 프레임용 실링재 |
KR102662985B1 (ko) * | 2021-06-30 | 2024-05-03 | 주식회사 에프에스티 | 펠리클 조립체 |
WO2023027159A1 (ja) | 2021-08-26 | 2023-03-02 | 三井化学株式会社 | ペリクル膜、ペリクル、露光原版、露光装置、及びペリクル膜の製造方法 |
KR20230039294A (ko) | 2021-09-14 | 2023-03-21 | 주식회사 에프에스티 | 극자외선 리소그라피용 펠리클 프레임 및 그 제조방법 |
WO2023110313A1 (en) | 2021-12-17 | 2023-06-22 | Asml Netherlands B.V. | Method and system for preventing degradation of a material of an optical component for euv-lithography |
WO2023182186A1 (ja) * | 2022-03-23 | 2023-09-28 | 三井化学株式会社 | 粘着層付きペリクル枠の製造方法、保護フィルム付きペリクル枠、粘着層付きペリクル枠、ペリクル及びペリクル付きフォトマスク |
WO2023193995A1 (en) | 2022-04-05 | 2023-10-12 | Asml Netherlands B.V. | Pellicle for euv lithography |
EP4273626A1 (en) | 2022-05-04 | 2023-11-08 | ASML Netherlands B.V. | Device and method for measuring contamination and lithographic apparatus provided with said device |
EP4336258A1 (en) * | 2022-09-12 | 2024-03-13 | ASML Netherlands B.V. | Pellicle and methods for forming pellicle for use in a lithographic apparatus |
WO2024056548A1 (en) * | 2022-09-12 | 2024-03-21 | Asml Netherlands B.V. | Pellicle and methods for forming pellicle for use in a lithographic apparatus |
Family Cites Families (107)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52136390A (en) | 1976-05-11 | 1977-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Resistance compound |
JPS61245163A (ja) | 1985-04-23 | 1986-10-31 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | マスク保護装置 |
US4833051A (en) | 1984-08-20 | 1989-05-23 | Nippon Kogaku K.K. | Protective device for photographic masks |
JPS6344824Y2 (ja) | 1985-02-28 | 1988-11-21 | ||
JPH0123137Y2 (ja) * | 1985-04-05 | 1989-07-17 | ||
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JPH0324547A (ja) * | 1989-06-22 | 1991-02-01 | Oki Electric Ind Co Ltd | マスク保護用ペリクル |
JPH0342153U (ja) | 1989-08-31 | 1991-04-22 | ||
US5576125A (en) * | 1995-07-27 | 1996-11-19 | Micro Lithography, Inc. | Method for making an optical pellicle |
JPH09204039A (ja) * | 1996-01-25 | 1997-08-05 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクル枠保持具 |
KR19990051659A (ko) * | 1997-12-19 | 1999-07-05 | 정몽규 | 타이어 변형 경고 장치 |
JPH11194481A (ja) * | 1997-12-26 | 1999-07-21 | Oki Electric Ind Co Ltd | ペリクル装着構造 |
JP4006659B2 (ja) | 1998-01-14 | 2007-11-14 | 沖電気工業株式会社 | ペリクルの取付構造 |
JPH11258779A (ja) * | 1998-03-13 | 1999-09-24 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルライナー貼り合わせ装置及び方法 |
US5976307A (en) * | 1998-03-13 | 1999-11-02 | Dupont Photomasks, Inc. | Method and apparatus for removing a pellicle frame from a photomask plate |
JPH11295880A (ja) * | 1998-04-07 | 1999-10-29 | Seiko Epson Corp | ペリクルフレーム |
DE19936308A1 (de) * | 1998-09-09 | 2000-03-16 | Alkor Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von zwei- oder mehrfarbigen Folien, Schalttafelfolien, Armaturenbrettfolien |
US6197454B1 (en) | 1998-12-29 | 2001-03-06 | Intel Corporation | Clean-enclosure window to protect photolithographic mask |
JP3601996B2 (ja) | 1999-03-05 | 2004-12-15 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル粘着層保護用ライナーおよびこれを具備するペリクル |
US6192100B1 (en) | 1999-06-18 | 2001-02-20 | International Business Machines Corporation | X-ray mask pellicles and their attachment in semiconductor manufacturing |
JP2001117213A (ja) | 1999-08-10 | 2001-04-27 | Nikon Corp | フォトマスク、該フォトマスクの製造方法、該フォトマスクを扱う投影露光装置、及び投影露光方法 |
US6492067B1 (en) * | 1999-12-03 | 2002-12-10 | Euv Llc | Removable pellicle for lithographic mask protection and handling |
JP2002182373A (ja) | 2000-12-18 | 2002-06-26 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクル及びその製造方法及びフォトマスク |
US6524754B2 (en) | 2001-01-22 | 2003-02-25 | Photronics, Inc. | Fused silica pellicle |
US6911283B1 (en) * | 2001-02-07 | 2005-06-28 | Dupont Photomasks, Inc. | Method and apparatus for coupling a pellicle to a photomask using a non-distorting mechanism |
US6894766B1 (en) * | 2001-03-27 | 2005-05-17 | Dupont Photomasks, Inc. | Method for constructing a photomask assembly using an encoded mark |
US6566018B2 (en) | 2001-04-23 | 2003-05-20 | Intel Corporation | Dual-member pellicle assemblies and methods of use |
US6734445B2 (en) | 2001-04-23 | 2004-05-11 | Intel Corporation | Mechanized retractable pellicles and methods of use |
US6573980B2 (en) | 2001-07-26 | 2003-06-03 | Micro Lithography, Inc. | Removable optical pellicle |
JP2003059801A (ja) | 2001-08-14 | 2003-02-28 | Canon Inc | 露光装置及び露光方法 |
US6646720B2 (en) | 2001-09-21 | 2003-11-11 | Intel Corporation | Euv reticle carrier with removable pellicle |
KR20030041811A (ko) * | 2001-11-21 | 2003-05-27 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 페리클의 포토마스크에 대한 장착구조 |
JP2003156836A (ja) | 2001-11-21 | 2003-05-30 | Sony Corp | フォトマスク構造体、露光方法及び露光装置 |
TWI319123B (en) | 2002-02-22 | 2010-01-01 | Asml Holding Nv | System and method for using a two part cover for protecting a reticle |
JP2003307832A (ja) * | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Asahi Glass Co Ltd | ペリクル及びペリクル装着フォトマスク |
JP2004012597A (ja) | 2002-06-04 | 2004-01-15 | Asahi Glass Co Ltd | ペリクル |
KR20040005355A (ko) * | 2002-07-10 | 2004-01-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 펠리클 분리형 프레임구조 |
JP2006504996A (ja) | 2002-10-29 | 2006-02-09 | トッパン、フォウタマスクス、インク | フォトマスク・アセンブリ、およびリソグラフィ工程中に生成される汚染物からそれを保護する方法 |
JP2004153122A (ja) | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP4027214B2 (ja) | 2002-11-28 | 2007-12-26 | キヤノン株式会社 | 搬送装置、デバイス製造装置、搬送方法およびデバイス製造方法 |
US6912043B2 (en) * | 2003-01-09 | 2005-06-28 | Asml Holding, N.V. | Removable reticle window and support frame using magnetic force |
JP2004240221A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | フォトマスク、ペリクル装脱着装置及び基板処理装置 |
CA3002927C (en) * | 2003-03-28 | 2021-05-04 | Inguran, Llc | Apparatus, methods and processes for sorting particles and for providing sex-sorted animal sperm |
JP4330377B2 (ja) * | 2003-05-15 | 2009-09-16 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 大型ペリクルの組立方法及び大型ペリクルの組立装置 |
KR20050003293A (ko) * | 2003-06-30 | 2005-01-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자 제조용 포토 마스크 |
JP2005070191A (ja) * | 2003-08-21 | 2005-03-17 | Asahi Glass Co Ltd | フレームとペリクル板の貼り合せ装置 |
US7264853B2 (en) * | 2003-08-26 | 2007-09-04 | Intel Corporation | Attaching a pellicle frame to a reticle |
US7316869B2 (en) * | 2003-08-26 | 2008-01-08 | Intel Corporation | Mounting a pellicle to a frame |
JP2007510937A (ja) * | 2003-10-06 | 2007-04-26 | トッパン、フォウタマスクス、インク | フォトマスク上にペリクル・アセンブリを自動的に装着するシステムおよび方法。 |
JP2005195992A (ja) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Asahi Glass Co Ltd | ペリクル装着治具、ペリクル装着方法及びペリクル装着構造並びにペリクル |
JP2005308901A (ja) | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | ペリクルフレーム及びそれを用いたフォトリソグラフィー用ペリクル |
US7110195B2 (en) | 2004-04-28 | 2006-09-19 | International Business Machines Corporation | Monolithic hard pellicle |
JP2006003620A (ja) * | 2004-06-17 | 2006-01-05 | Asahi Glass Co Ltd | ペリクル |
US8721952B2 (en) | 2004-11-16 | 2014-05-13 | International Business Machines Corporation | Pneumatic method and apparatus for nano imprint lithography having a conforming mask |
WO2006113859A2 (en) | 2005-04-20 | 2006-10-26 | Yazaki Corporation | Photomask assembly incorporating a metal/scavenger pellicle frame |
JP4880941B2 (ja) | 2005-08-02 | 2012-02-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 真空搬送装置およびこれを備えた荷電粒子線検査装置 |
TWI457723B (zh) * | 2006-09-08 | 2014-10-21 | 尼康股份有限公司 | A mask, an exposure device, and an element manufacturing method |
US7799486B2 (en) * | 2006-11-21 | 2010-09-21 | Infineon Technologies Ag | Lithography masks and methods of manufacture thereof |
TWI454839B (zh) * | 2007-03-01 | 2014-10-01 | 尼康股份有限公司 | A film frame apparatus, a mask, an exposure method, and an exposure apparatus, and a method of manufacturing the element |
JP2008242346A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Omron Corp | レーザ転写装置の転写ヘッド |
US8139199B2 (en) * | 2007-04-02 | 2012-03-20 | Nikon Corporation | Exposure method, exposure apparatus, light converging pattern formation member, mask, and device manufacturing method |
US8018578B2 (en) | 2007-04-19 | 2011-09-13 | Asml Netherlands B.V. | Pellicle, lithographic apparatus and device manufacturing method |
CN102681334B (zh) * | 2007-07-06 | 2015-09-30 | 旭化成电子材料株式会社 | 从容纳容器取出大型表膜构件的取出方法 |
US7829248B2 (en) | 2007-07-24 | 2010-11-09 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Pellicle stress relief |
KR101357305B1 (ko) * | 2007-08-29 | 2014-01-28 | 삼성전자주식회사 | 펠리클 부착 장치 및 이를 이용한 펠리클 부착 방법 |
CN101241319B (zh) * | 2008-03-06 | 2010-08-25 | 上海微电子装备有限公司 | 具有对准标记体系的机器视觉对准系统及其对准方法 |
KR20090101671A (ko) * | 2008-03-24 | 2009-09-29 | 삼성전자주식회사 | 반도체 공정 마스크의 유지보수 방법 |
JP5382412B2 (ja) | 2008-10-24 | 2014-01-08 | 株式会社ブイ・テクノロジー | 露光装置及びフォトマスク |
JP5489499B2 (ja) | 2009-03-18 | 2014-05-14 | オリンパス株式会社 | 薄膜の貼り付け方法、およびそれにより製造されたペリクル光学素子 |
JP2010261987A (ja) | 2009-04-30 | 2010-11-18 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | フォトマスク |
US8349525B2 (en) | 2009-06-18 | 2013-01-08 | Nikon Corporation | Protective apparatus, mask, mask fabricating method and conveying apparatus, and exposure apparatus |
JP5600921B2 (ja) * | 2009-10-19 | 2014-10-08 | 凸版印刷株式会社 | ペリクル貼付装置 |
JP5610380B2 (ja) | 2009-12-28 | 2014-10-22 | レーザーテック株式会社 | ペリクル装着装置、ペリクル装着方法、及びパターン基板の製造方法 |
KR20110077976A (ko) * | 2009-12-30 | 2011-07-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 포토마스크와 펠리클 부착장치 및 이를 이용한 부착방법 |
KR101143628B1 (ko) | 2010-01-07 | 2012-06-28 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 펠리클, 펠리클을 포함하는 포토마스크, 포토마스크의 제조방법 |
JP2011158585A (ja) | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Shin-Etsu Chemical Co Ltd | ペリクルおよびペリクルの製造方法 |
JP2011192991A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置および方法 |
JP5189614B2 (ja) * | 2010-03-29 | 2013-04-24 | 信越化学工業株式会社 | ペリクル及びその取り付け方法、並びにペリクル付マスク及びマスク |
NL2006556A (en) * | 2010-05-13 | 2011-11-15 | Asml Holding Nv | Optical system, inspection system and manufacturing method. |
KR101846336B1 (ko) | 2010-06-25 | 2018-04-06 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 리소그래피 장치 및 방법 |
JP5668346B2 (ja) | 2010-07-14 | 2015-02-12 | 凸版印刷株式会社 | ペリクルのフォトマスクへの取り付け構造 |
JP5843307B2 (ja) * | 2010-10-28 | 2016-01-13 | 信越化学工業株式会社 | 帯電防止性粘着剤 |
US8681310B2 (en) * | 2010-12-02 | 2014-03-25 | Globalfoundries Inc. | Mechanical fixture of pellicle to lithographic photomask |
EP2490073B1 (en) * | 2011-02-18 | 2015-09-23 | ASML Netherlands BV | Substrate holder, lithographic apparatus, and method of manufacturing a substrate holder |
JP5663376B2 (ja) | 2011-04-04 | 2015-02-04 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム、その製造方法、及びペリクル |
NL2008695A (en) | 2011-05-25 | 2012-11-27 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus comprising substrate table. |
WO2012172642A1 (ja) | 2011-06-14 | 2012-12-20 | 松下精機株式会社 | ペリクル貼付装置 |
WO2013013849A1 (en) * | 2011-07-22 | 2013-01-31 | Asml Holding N.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
US8586267B2 (en) | 2011-09-12 | 2013-11-19 | Samsung Austin Semiconductor, L.P. | Removable transparent membrane for a pellicle |
NL2009284A (en) * | 2011-09-22 | 2013-10-31 | Asml Netherlands Bv | A cleaning substrate for a lithography apparatus, a cleaning method for a lithography apparatus and a lithography apparatus. |
JP2013109126A (ja) * | 2011-11-21 | 2013-06-06 | Toshiba Corp | ペリクルの製造方法、フォトマスクの製造方法及び半導体装置の製造方法 |
US9360772B2 (en) * | 2011-12-29 | 2016-06-07 | Nikon Corporation | Carrier method, exposure method, carrier system and exposure apparatus, and device manufacturing method |
US20130250260A1 (en) * | 2012-03-23 | 2013-09-26 | Globalfoundries Inc. | Pellicles for use during euv photolithography processes |
KR101317206B1 (ko) | 2012-07-24 | 2013-10-10 | 민경준 | 페리클 자동 접착 장치 |
CN202794840U (zh) * | 2012-10-11 | 2013-03-13 | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 | 用于光掩膜版的防尘保护装置 |
JP5854511B2 (ja) | 2012-10-16 | 2016-02-09 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルおよびペリクルの貼付け方法 |
US8968971B2 (en) * | 2013-03-08 | 2015-03-03 | Micro Lithography, Inc. | Pellicles with reduced particulates |
NL2012362A (en) * | 2013-03-27 | 2014-09-30 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus. |
JP6008784B2 (ja) * | 2013-04-15 | 2016-10-19 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルフレーム及びその製作方法とペリクル |
JP5984187B2 (ja) * | 2013-04-22 | 2016-09-06 | 信越化学工業株式会社 | ペリクルとフォトマスクのアセンブリ |
JP6303286B2 (ja) | 2013-04-30 | 2018-04-04 | 凸版印刷株式会社 | ペリクル付きフォトマスクの検査方法及びペリクル粘着耐久性検査装置 |
CN103246157A (zh) * | 2013-05-21 | 2013-08-14 | 上海和辉光电有限公司 | 防尘薄膜框架、光学掩膜版及其安装方法 |
CN203422554U (zh) * | 2013-08-01 | 2014-02-05 | 上海凸版光掩模有限公司 | 一种光掩模板贴膜装置 |
CN203650297U (zh) * | 2013-10-25 | 2014-06-18 | 常州市佳和工具有限公司 | 轴承夹具 |
JP2015138128A (ja) | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 凸版印刷株式会社 | ペリクルフレーム除去方法及びペリクルフレーム除去装置 |
WO2015182483A1 (ja) | 2014-05-27 | 2015-12-03 | 三井化学株式会社 | ペリクル製造装置 |
US10558129B2 (en) | 2014-11-17 | 2020-02-11 | Asml Netherlands B.V. | Mask assembly |
-
2015
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