JP2012507690A - 解析方法、該解析方法を用いた放射線撮像装置、該解析方法を実行する解析プログラム - Google Patents
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 44
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract description 66
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 30
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 15
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 3
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 abstract 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 48
- LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H lead(2+);trioxido(oxo)-$l^{5}-arsane Chemical compound [Pb+2].[Pb+2].[Pb+2].[O-][As]([O-])([O-])=O.[O-][As]([O-])([O-])=O LFEUVBZXUFMACD-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 230000006837 decompression Effects 0.000 description 2
- 101000878457 Macrocallista nimbosa FMRFamide Proteins 0.000 description 1
- 230000005260 alpha ray Effects 0.000 description 1
- 230000005250 beta ray Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/041—Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
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- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4291—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
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- A—HUMAN NECESSITIES
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- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
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- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/401—Imaging image processing
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K2201/00—Arrangements for handling radiation or particles
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Abstract
【解決手段】 被検知物を透過した放射線の干渉縞の強度情報を利用した放射線撮像装置に用いる解析方法であって、
前記干渉縞の強度情報から、2πの領域間にラップされた前記被検知物の第1の位相情報を生成する工程と、
前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を生成する工程と、
前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を生成する工程と、
前記重み付け関数を用いて、前記第1の位相情報をアンラップすることにより第2の位相情報を生成する工程と、
を有することを特徴とする解析方法。
【選択図】 図1
Description
(i):ラップされた位相情報を取得する。
(ii):仮の真の位相の値を決め、その値をもとに重み付け関数を設定する。
(iii):(ii)で設定した重み付け関数を用いて、最小二乗法により真の位相の最適値(第1の値)を計算する。すなわち、残差の二乗和が最小になるときの真の位相の値を求める。
(iv):(iii)で求めた真の位相の最適値(第1の値)から重み付け関数を再設定する。
(v):(iv)で設定した重み付け関数を用いて最小二乗法により真の位相の最適値(第2の値)を計算する。
(vi):以上のような計算を残差の二乗和が一定の値に収束するまで繰り返し行うことで、より正確な重み付け関数を求め、より正確な真の位相の値を算出する。
Dennis C. Ghiglia and Louis A.Romero,J.Opt.Soc.Am.A,Vol.13,No.10(1996)
前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を生成する工程と、前記重み付け関数を用いて、前記第1の位相情報をアンラップすることにより第2の位相情報を生成する工程と、を有することを特徴とする解析方法である。
前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を生成する工程と、前記重み付け関数を用いて、前記第1の位相情報をアンラップすることにより第2の位相情報を生成する工程とを含む演算を行うこと、を特徴とする放射線撮像装置である。
本発明によれば、非特許文献1に比べて、正確な重み付け関数を高速かつ簡便に生成できるので、アンラップを高速かつ簡便に行うことができる。
本発明に係る放射線の干渉縞の強度情報を利用した放射線撮像装置に用いる解析方法の実施形態の一例について説明する。
本発明に係る放射線撮像装置の実施形態について、タルボ干渉計を用いたX線位相イメージング装置を例にして説明する。
本発明に係る解析プログラムの実施形態の一例について説明する。
Claims (11)
- 被検知物を透過した放射線の干渉縞の強度情報を利用した放射線撮像装置に用いる解析方法であって、
前記干渉縞の強度情報から、2πの領域間にラップされた前記被検知物の第1の位相情報を生成する工程と、
前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を生成する工程と、
前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を生成する工程と、
前記重み付け関数を用いて、前記第1の位相情報をアンラップすることにより第2の位相情報を生成する工程と、
を有することを特徴とする解析方法。 - 前記第2の位相情報を生成する工程は、最小二乗法を実行する工程を含むこと、
を特徴とする請求項1に記載の解析方法。 - 前記第1の位相情報を生成する工程は、
前記干渉縞の強度情報をフーリエ変換することでフーリエ像を取得し、前記フーリエ像から位相に関する情報を切り取る工程を含み、
かつ、
前記吸収強度勾配に関する情報を生成する工程は、
前記フーリエ像から吸収に関する情報を切り取る工程を含むこと、
を特徴とする請求項1または2に記載の解析方法。 - 前記位相に関する情報及び前記吸収に関する情報は、
前記フーリエ像のうち同一のキャリア周波数に対応するピークから取得すること、
を特徴とする請求項3に記載の解析方法。 - 前記吸収強度勾配に関する情報は、吸収強度勾配の分布であること、
を特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の解析方法。 - 前記重み付け関数は、前記吸収強度勾配の分布を複数のピクセルに分割し、
吸収強度勾配の絶対値が所定値より大きい領域を有する第1のピクセルと、
所定値より小さい領域からなる第2のピクセルに、
異なる重み付けを付与する関数であること、
を特徴とする請求項5に記載の解析方法。 - 前記重み付け関数は、前記第1のピクセルには0を、
前記第2のピクセルには1を付与する関数であること、
を特徴とする請求項6に記載の解析方法。 - 前記放射線はX線であること、
を特徴とする請求項1乃至7のいずれか一項に記載の解析方法。 - 放射線発生部と、
前記放射線発生部により発生した放射線の位相をシフトさせる位相格子と、
前記位相格子及び被検知物を透過することにより形成される自己像を強調するための吸収格子と、
前記吸収格子を透過した放射線の干渉縞の強度情報を検出する検出部と、
前記検出部によって検出された前記干渉縞の強度情報から前記被検知物の像を得るための演算を行う演算部と、
を有する放射線撮像装置であって、
前記演算部は、
前記干渉縞の強度情報から、2πの領域間にラップされた前記被検知物の第1の位相情報を生成する工程と、
前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を生成する工程と、
前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を生成する工程と、
前記重み付け関数を用いて、前記第1の位相情報をアンラップすることにより第2の位相情報を生成する工程とを含む演算を行うこと、
を特徴とする放射線撮像装置。 - 前記位相格子は、
前記被検知物と前記吸収格子との間に配されていること、
を特徴とする請求項9に記載の放射線撮像装置。 - 被検知物を透過した放射線の干渉縞の強度情報を利用した放射線撮像装置に用いる解析プログラムであって、
前記干渉縞の強度情報から、2πの領域間にラップされた前記被検知物の第1の位相情報を生成する工程と、
前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を生成する工程と、
前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を生成する工程と、
前記重み付け関数を用いて、前記第1の位相情報をアンラップすることにより第2の位相情報を生成する工程と、
をCPUに実行させること、
を特徴とする解析プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011514216A JP5456032B2 (ja) | 2008-10-29 | 2009-10-28 | 解析方法、該解析方法を用いた放射線撮像装置、該解析方法を実行する解析プログラム |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008278425 | 2008-10-29 | ||
JP2008278425 | 2008-10-29 | ||
JP2011514216A JP5456032B2 (ja) | 2008-10-29 | 2009-10-28 | 解析方法、該解析方法を用いた放射線撮像装置、該解析方法を実行する解析プログラム |
PCT/JP2009/068863 WO2010050611A1 (en) | 2008-10-29 | 2009-10-28 | Analysis method, radiation imaging apparatus using analysis method, and analysis program for executing analysis method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012507690A true JP2012507690A (ja) | 2012-03-29 |
JP2012507690A5 JP2012507690A5 (ja) | 2014-01-09 |
JP5456032B2 JP5456032B2 (ja) | 2014-03-26 |
Family
ID=41664696
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010535804A Active JP5174180B2 (ja) | 2008-10-29 | 2009-10-27 | X線撮像装置およびx線撮像方法 |
JP2011514216A Expired - Fee Related JP5456032B2 (ja) | 2008-10-29 | 2009-10-28 | 解析方法、該解析方法を用いた放射線撮像装置、該解析方法を実行する解析プログラム |
JP2012284424A Active JP5595473B2 (ja) | 2008-10-29 | 2012-12-27 | 被検体情報取得装置、x線撮像装置、被検体情報取得方法及びプログラム |
JP2014161638A Pending JP2014205079A (ja) | 2008-10-29 | 2014-08-07 | X線タルボ干渉計 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010535804A Active JP5174180B2 (ja) | 2008-10-29 | 2009-10-27 | X線撮像装置およびx線撮像方法 |
Family Applications After (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012284424A Active JP5595473B2 (ja) | 2008-10-29 | 2012-12-27 | 被検体情報取得装置、x線撮像装置、被検体情報取得方法及びプログラム |
JP2014161638A Pending JP2014205079A (ja) | 2008-10-29 | 2014-08-07 | X線タルボ干渉計 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (5) | US8520799B2 (ja) |
EP (2) | EP2343537B1 (ja) |
JP (4) | JP5174180B2 (ja) |
KR (1) | KR101258927B1 (ja) |
CN (3) | CN102197303A (ja) |
DE (1) | DE112009002606B4 (ja) |
RU (1) | RU2519663C2 (ja) |
WO (2) | WO2010050483A1 (ja) |
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- 2009-10-27 DE DE112009002606.0T patent/DE112009002606B4/de active Active
- 2009-10-27 EP EP09823593.0A patent/EP2343537B1/en active Active
- 2009-10-27 JP JP2010535804A patent/JP5174180B2/ja active Active
- 2009-10-27 WO PCT/JP2009/068434 patent/WO2010050483A1/ja active Application Filing
- 2009-10-27 KR KR1020117011759A patent/KR101258927B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2009-10-27 CN CN201410089754.9A patent/CN103876761B/zh active Active
- 2009-10-28 CN CN2009801423636A patent/CN102197302B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-28 JP JP2011514216A patent/JP5456032B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-28 WO PCT/JP2009/068863 patent/WO2010050611A1/en active Application Filing
- 2009-10-28 EP EP09788095A patent/EP2342551A1/en not_active Withdrawn
- 2009-10-28 US US13/060,112 patent/US8520799B2/en not_active Expired - Fee Related
-
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- 2010-07-23 US US12/842,937 patent/US8009797B2/en active Active
-
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-
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- 2012-09-05 RU RU2012137875/28A patent/RU2519663C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2012-11-20 US US13/682,445 patent/US8537966B2/en active Active
- 2012-12-27 JP JP2012284424A patent/JP5595473B2/ja active Active
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- 2013-07-17 US US13/943,932 patent/US8681934B2/en not_active Expired - Fee Related
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