RU2012137875A - Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений - Google Patents

Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений Download PDF

Info

Publication number
RU2012137875A
RU2012137875A RU2012137875/28A RU2012137875A RU2012137875A RU 2012137875 A RU2012137875 A RU 2012137875A RU 2012137875/28 A RU2012137875/28 A RU 2012137875/28A RU 2012137875 A RU2012137875 A RU 2012137875A RU 2012137875 A RU2012137875 A RU 2012137875A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
phase
moire
detector
intensity
grating
Prior art date
Application number
RU2012137875/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2519663C2 (ru
Inventor
Тидане ОУТИ
Хиденосуке ИТОХ
Кентаро НАГАИ
Тору ДЕН
Original Assignee
Кэнон Кабусики Кайся
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Кэнон Кабусики Кайся filed Critical Кэнон Кабусики Кайся
Publication of RU2012137875A publication Critical patent/RU2012137875A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2519663C2 publication Critical patent/RU2519663C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20075Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4291Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/484Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/401Imaging image processing
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/067Construction details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

1. Устройство формирования рентгеновских изображений для формирования изображения объекта, содержащее:фазовую решетку, которая пропускает рентгеновские лучи из источника рентгеновского излучения для формирования распределения интенсивности интерференции посредством эффекта Талбота;поглощательную решетку, которая частично заслоняет распределение интенсивности интерференции, сформированное фазовой решеткой, для формирования муара;детектор, который обнаруживает распределение интенсивности муара, сформированного поглощательной решеткой; иарифметический блок, который вычисляет дифференциальное фазовое изображение объекта путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, обнаруженного детектором.2. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1,в котором фазовая решетка включает в себя участки опережения по фазе и участки отставания по фазе,в котором участки опережения по фазе и участки отставания по фазе расположены двумерно,в котором поглощательная решетка включает в себя пропускающие участки и заслоняющие участки,в котором пропускающие участки и заслоняющие участки расположены двумерно,в котором детектор обнаруживает муар, имеющий периоды в двух направлениях, ив котором арифметический блок вычисляет дифференциальное фазовое изображение в двух направлениях путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара.3. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором арифметический блок вычисляет дифференциальное фазовое изображение в двух направлениях путем выполнения преобразования Фурье для распределения и

Claims (12)

1. Устройство формирования рентгеновских изображений для формирования изображения объекта, содержащее:
фазовую решетку, которая пропускает рентгеновские лучи из источника рентгеновского излучения для формирования распределения интенсивности интерференции посредством эффекта Талбота;
поглощательную решетку, которая частично заслоняет распределение интенсивности интерференции, сформированное фазовой решеткой, для формирования муара;
детектор, который обнаруживает распределение интенсивности муара, сформированного поглощательной решеткой; и
арифметический блок, который вычисляет дифференциальное фазовое изображение объекта путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, обнаруженного детектором.
2. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1,
в котором фазовая решетка включает в себя участки опережения по фазе и участки отставания по фазе,
в котором участки опережения по фазе и участки отставания по фазе расположены двумерно,
в котором поглощательная решетка включает в себя пропускающие участки и заслоняющие участки,
в котором пропускающие участки и заслоняющие участки расположены двумерно,
в котором детектор обнаруживает муар, имеющий периоды в двух направлениях, и
в котором арифметический блок вычисляет дифференциальное фазовое изображение в двух направлениях путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара.
3. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором арифметический блок вычисляет дифференциальное фазовое изображение в двух направлениях путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, полученного в результате одного обнаружения детектором.
4. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1, в котором арифметический блок интегрирует дифференциальное фазовое изображение и получает фазовое изображение.
5. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1, в котором арифметический блок развертывает дифференциальное фазовое изображение.
6. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором участки опережения по фазе и участки отставания по фазе организованы в структуру в форме шахматной доски.
7. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором фазовая решетка конфигурирована таким образом, что разность между фазой рентгеновских лучей, пропущенных через участки опережения по фазе, и фазой рентгеновских лучей, пропущенных через участки отставания по фазе, равна π/2 или π.
8. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2,
в котором фазовая решетка, поглощательная решетка и детектор настроены таким образом, что в пространстве частот муара, полученного посредством выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, пик формируется в положении, выраженном следующим образом:
Координаты частот ( f x , f y ) = ( ± 1 4 P ,   ± 1 4 P ) ,
Figure 00000001
где P - период пикселя детектора.
9. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.8,
в котором поглощательная решетка обеспечивает период муара, выраженный следующим образом:
2 2
Figure 00000002
P,
при этом направление периода муара установлено под 45° к решетке пикселей детектора, и
в котором арифметический блок осуществляет этап выполнения преобразования Фурье для результата обнаружения, извлечения двух квадратных областей из пространства частот полученного муара для отделения пика от спектра пространственных частот распределения интенсивности муара и использования двух квадратных областей таким образом, что получается дифференциальное фазовое изображение объекта, причем каждая из квадратных областей имеет сторону, выраженную следующим образом:
1/( 2 2
Figure 00000002
P),
причем квадратные области имеют наклон в 45° к направлению решетки пикселей детектора.
10. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2,
в котором фазовая решетка, поглощательная решетка и детектор настроены таким образом, что в пространстве частот муара, полученного посредством выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, пик формируется в положении, выраженном следующим образом:
Координаты частот ( f x , f y ) = ( ± 1 3 P ,   0 )
Figure 00000003
или ( 0, ± 1 3 P )
Figure 00000004
,
где P - период пикселя детектора.
11. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.10,
в котором поглощательная решетка выполнена таким образом, что период муара равен 3P, а направление периода муара выровнено с решеткой пикселей детектора, и
в котором арифметический блок осуществляет этап выполнения преобразования Фурье для результата обнаружения, извлечения двух квадратных областей из пространства частот полученного муара для отделения пика от спектра пространственных частот распределения интенсивности муара и использования двух квадратных областей таким образом, что получается дифференциальное фазовое изображение объекта, причем каждая из квадратных областей возникает по отношению к направлению решетки пикселей детектора и имеет сторону 1/(3P).
12. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1, дополнительно содержащее устройство перемещения объекта, которое может перемещать объект в направлении оптической оси рентгеновских лучей.
RU2012137875/28A 2008-10-29 2012-09-05 Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений RU2519663C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-278425 2008-10-29
JP2008278425 2008-10-29

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011121670A Division RU2472137C1 (ru) 2008-10-29 2009-10-27 Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012137875A true RU2012137875A (ru) 2014-03-27
RU2519663C2 RU2519663C2 (ru) 2014-06-20

Family

ID=41664696

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012137875/28A RU2519663C2 (ru) 2008-10-29 2012-09-05 Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений

Country Status (8)

Country Link
US (5) US8520799B2 (ru)
EP (2) EP2343537B1 (ru)
JP (4) JP5174180B2 (ru)
KR (1) KR101258927B1 (ru)
CN (3) CN102197303A (ru)
DE (1) DE112009002606B4 (ru)
RU (1) RU2519663C2 (ru)
WO (2) WO2010050483A1 (ru)

Families Citing this family (99)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5339975B2 (ja) * 2008-03-13 2013-11-13 キヤノン株式会社 X線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたx線位相コントラスト像の撮像装置、x線コンピューター断層撮影システム
CN102197303A (zh) * 2008-10-29 2011-09-21 佳能株式会社 X射线成像装置和x射线成像方法
CN101943668B (zh) * 2009-07-07 2013-03-27 清华大学 X射线暗场成像系统和方法
JP5586899B2 (ja) * 2009-08-26 2014-09-10 キヤノン株式会社 X線用位相格子及びその製造方法
US8532252B2 (en) * 2010-01-27 2013-09-10 Canon Kabushiki Kaisha X-ray shield grating, manufacturing method therefor, and X-ray imaging apparatus
JP5631013B2 (ja) * 2010-01-28 2014-11-26 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP5725870B2 (ja) * 2010-02-22 2015-05-27 キヤノン株式会社 X線撮像装置およびx線撮像方法
JP5796976B2 (ja) * 2010-05-27 2015-10-21 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP5731214B2 (ja) 2010-08-19 2015-06-10 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム及びその画像処理方法
WO2012029048A1 (en) * 2010-09-03 2012-03-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Regularized phase retrieval in differential phase-contrast imaging
WO2012038857A1 (en) * 2010-09-20 2012-03-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Phase gradient unwrapping in differential phase contrast imaging
JP5935693B2 (ja) * 2010-09-29 2016-06-15 コニカミノルタ株式会社 医用画像表示方法
JP2012103237A (ja) * 2010-10-14 2012-05-31 Canon Inc 撮像装置
CN103189739B (zh) * 2010-10-19 2015-12-02 皇家飞利浦电子股份有限公司 微分相位对比成像
EP2630476B1 (en) * 2010-10-19 2017-12-13 Koninklijke Philips N.V. Differential phase-contrast imaging
JP5875280B2 (ja) * 2010-10-20 2016-03-02 キヤノン株式会社 トールボット干渉を用いた撮像装置および撮像装置の調整方法
WO2012056724A1 (ja) * 2010-10-29 2012-05-03 富士フイルム株式会社 放射線位相画像撮影装置
JP2012095865A (ja) * 2010-11-02 2012-05-24 Fujifilm Corp 放射線撮影装置、放射線撮影システム
JP2012143553A (ja) * 2010-12-24 2012-08-02 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器
JP5777360B2 (ja) * 2011-03-14 2015-09-09 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP5915645B2 (ja) * 2011-03-23 2016-05-11 コニカミノルタ株式会社 医用画像表示システム
JP2012200567A (ja) * 2011-03-28 2012-10-22 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
JP2014113168A (ja) * 2011-03-29 2014-06-26 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
WO2012144317A1 (ja) 2011-04-20 2012-10-26 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び画像処理方法
JP2014132913A (ja) * 2011-04-25 2014-07-24 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
JP2012236005A (ja) * 2011-04-26 2012-12-06 Fujifilm Corp 放射線撮影装置
JP5787597B2 (ja) * 2011-04-26 2015-09-30 キヤノン株式会社 撮像装置
JP2014155508A (ja) * 2011-06-08 2014-08-28 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP2014155509A (ja) * 2011-06-10 2014-08-28 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP5885405B2 (ja) * 2011-06-13 2016-03-15 キヤノン株式会社 撮像装置、干渉縞解析プログラム及び干渉縞解析方法
JP2013024731A (ja) 2011-07-21 2013-02-04 Canon Inc 放射線検出装置
JP2013050441A (ja) 2011-08-03 2013-03-14 Canon Inc 波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにx線撮像装置
JP2014217397A (ja) * 2011-08-22 2014-11-20 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及びアンラップ処理方法
JP2014223091A (ja) * 2011-09-12 2014-12-04 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び画像処理方法
JP2014238265A (ja) * 2011-09-30 2014-12-18 富士フイルム株式会社 放射線画像検出器及びその製造方法、並びに放射線画像検出器を用いた放射線撮影システム
JP5475737B2 (ja) * 2011-10-04 2014-04-16 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び画像処理方法
US20130108015A1 (en) * 2011-10-28 2013-05-02 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique S.A - Recherche Et Developpement X-ray interferometer
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
JP5868132B2 (ja) * 2011-11-14 2016-02-24 キヤノン株式会社 撮像装置および画像処理方法
WO2013111050A1 (en) * 2012-01-24 2013-08-01 Koninklijke Philips N.V. Multi-directional phase contrast x-ray imaging
WO2013151342A1 (ko) * 2012-04-05 2013-10-10 단국대학교 산학협력단 방사선 위상차 영상 장치
JP2014006247A (ja) * 2012-05-28 2014-01-16 Canon Inc 被検体情報取得装置、被検体情報取得方法及びプログラム
AU2012258412A1 (en) * 2012-11-30 2014-06-19 Canon Kabushiki Kaisha Combining differential images by inverse Riesz transformation
JP6116222B2 (ja) * 2012-12-13 2017-04-19 キヤノン株式会社 演算装置、プログラム及び撮像システム
JP6079204B2 (ja) * 2012-12-18 2017-02-15 コニカミノルタ株式会社 医用画像システム
US10096098B2 (en) * 2013-12-30 2018-10-09 Carestream Health, Inc. Phase retrieval from differential phase contrast imaging
US9357975B2 (en) 2013-12-30 2016-06-07 Carestream Health, Inc. Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
US10578563B2 (en) 2012-12-21 2020-03-03 Carestream Health, Inc. Phase contrast imaging computed tomography scanner
AU2012268876A1 (en) * 2012-12-24 2014-07-10 Canon Kabushiki Kaisha Non-linear solution for 2D phase shifting
US9364191B2 (en) * 2013-02-11 2016-06-14 University Of Rochester Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
JP2014171799A (ja) * 2013-03-12 2014-09-22 Canon Inc X線撮像装置及びx線撮像システム
KR20140111818A (ko) 2013-03-12 2014-09-22 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
JP2014178130A (ja) * 2013-03-13 2014-09-25 Canon Inc X線撮像装置及びx線撮像システム
JP6260615B2 (ja) 2013-04-08 2018-01-17 コニカミノルタ株式会社 診断提供用医用画像システム及び一般撮影用の診断提供用医用画像システムにタルボ撮影装置系を導入する方法
EP2827339A1 (en) 2013-07-16 2015-01-21 Canon Kabushiki Kaisha Source grating, interferometer, and object information acquisition system
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
DE102013221818A1 (de) * 2013-10-28 2015-04-30 Siemens Aktiengesellschaft Bildgebendes System und Verfahren zur Bildgebung
KR101668219B1 (ko) * 2013-10-31 2016-10-20 도호쿠 다이가쿠 비파괴 검사 장치
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
JP6396472B2 (ja) 2013-12-17 2018-09-26 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 走査微分位相コントラストシステムのための位相回復
AU2013273822A1 (en) * 2013-12-23 2015-07-09 Canon Kabushiki Kaisha Modulation guided phase unwrapping
WO2015122542A1 (en) * 2014-02-14 2015-08-20 Canon Kabushiki Kaisha X-ray talbot interferometer and x-ray talbot interferometer system
JP2015166676A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 キヤノン株式会社 X線撮像システム
JP2015190776A (ja) 2014-03-27 2015-11-02 キヤノン株式会社 画像処理装置および撮像システム
JP6362914B2 (ja) * 2014-04-30 2018-07-25 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線診断装置及び画像処理装置
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
CN104111120B (zh) * 2014-07-25 2017-05-31 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于朗奇剪切干涉仪的相位提取方法
JP2016032573A (ja) * 2014-07-31 2016-03-10 キヤノン株式会社 トールボット干渉計、トールボット干渉システム、及び縞走査法
CN106999137B (zh) * 2014-11-24 2021-03-05 皇家飞利浦有限公司 用于x射线相衬断层合成成像的探测器和成像系统
US10117629B2 (en) 2014-12-03 2018-11-06 Board Of Supervisors Of Louisiana State University And Agricultural And Mechanical College High energy grating techniques
KR101636438B1 (ko) * 2015-03-18 2016-07-05 제이피아이헬스케어 주식회사 단일 그리드를 이용한 pci 기반의 엑스선 영상 생성 방법 및 그 장치
JP6604772B2 (ja) * 2015-08-05 2019-11-13 キヤノン株式会社 X線トールボット干渉計
JP6608246B2 (ja) * 2015-10-30 2019-11-20 キヤノン株式会社 X線回折格子及びx線トールボット干渉計
DE102015226571B4 (de) * 2015-12-22 2019-10-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Wellenfrontanalyse
JP6774188B2 (ja) 2016-02-23 2020-10-21 キヤノン株式会社 シンチレータプレート、放射線検出器及び放射線計測システム
JP6613988B2 (ja) * 2016-03-30 2019-12-04 コニカミノルタ株式会社 放射線撮影システム
DE102016206559B3 (de) * 2016-04-19 2017-06-08 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Korrektur eines Röntgenbilds auf Effekte eines Streustrahlenrasters, Röntgeneinrichtung, Computerprogramm und elektronisch lesbarer Datenträger
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
WO2018175570A1 (en) 2017-03-22 2018-09-27 Sigray, Inc. Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
CN109087348B (zh) * 2017-06-14 2022-04-29 北京航空航天大学 一种基于自适应区域投射的单像素成像方法
JP6838531B2 (ja) * 2017-09-06 2021-03-03 株式会社島津製作所 放射線位相差撮影装置
JP6835242B2 (ja) * 2017-10-11 2021-02-24 株式会社島津製作所 X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法
JP7020169B2 (ja) 2018-02-23 2022-02-16 コニカミノルタ株式会社 X線撮影システム
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
US10845491B2 (en) 2018-06-04 2020-11-24 Sigray, Inc. Energy-resolving x-ray detection system
JP7347827B2 (ja) * 2018-06-12 2023-09-20 国立大学法人 筑波大学 位相画像撮影方法とそれを利用した位相画像撮影装置
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
DE112019004433T5 (de) 2018-09-04 2021-05-20 Sigray, Inc. System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung
CN112823280A (zh) 2018-09-07 2021-05-18 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
DE102019111463A1 (de) * 2019-05-03 2020-11-05 Wipotec Gmbh Röntgenstrahlungsdetektorvorrichtung und Vorrichtung zur Röntgeninspektion von Produkten, insbesondere von Lebensmitteln
WO2021046059A1 (en) 2019-09-03 2021-03-11 Sigray, Inc. System and method for computed laminography x-ray fluorescence imaging
CN111089871B (zh) * 2019-12-12 2022-12-09 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 X射线光栅相衬图像的相位信息分离方法及系统、储存介质、设备
US11175243B1 (en) 2020-02-06 2021-11-16 Sigray, Inc. X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
JP7395775B2 (ja) 2020-05-18 2023-12-11 シグレイ、インコーポレイテッド 結晶解析装置及び複数の検出器素子を使用するx線吸収分光法のためのシステム及び方法
JP2023542674A (ja) 2020-09-17 2023-10-11 シグレイ、インコーポレイテッド X線を用いた深さ分解計測および分析のためのシステムおよび方法
WO2022126071A1 (en) 2020-12-07 2022-06-16 Sigray, Inc. High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source
US11885755B2 (en) 2022-05-02 2024-01-30 Sigray, Inc. X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer
CN117475172B (zh) * 2023-12-28 2024-03-26 湖北工业大学 一种基于深度学习的高噪声环境相位图解包裹方法和系统

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1673933A1 (ru) * 1988-12-28 1991-08-30 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Рентгеноинтерферометрический способ исследовани кристаллов
SU1748030A1 (ru) * 1990-06-07 1992-07-15 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Способ получени рентгеновских проекционных топограмм
US5424743A (en) 1994-06-01 1995-06-13 U.S. Department Of Energy 2-D weighted least-squares phase unwrapping
US5812629A (en) 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
JP2000088772A (ja) * 1998-09-11 2000-03-31 Hitachi Ltd X線撮像装置
JP4015394B2 (ja) * 2001-09-19 2007-11-28 株式会社日立製作所 X線撮像法
JP4445397B2 (ja) * 2002-12-26 2010-04-07 敦 百生 X線撮像装置および撮像方法
US7268891B2 (en) * 2003-01-15 2007-09-11 Asml Holding N.V. Transmission shear grating in checkerboard configuration for EUV wavefront sensor
JP4704675B2 (ja) * 2003-11-28 2011-06-15 株式会社日立製作所 X線撮像装置及び撮像方法
JP2006263180A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Fuji Photo Film Co Ltd 画像処理装置およびこれを用いた放射線撮影システム
EP1731099A1 (en) * 2005-06-06 2006-12-13 Paul Scherrer Institut Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source
DE102006063048B3 (de) * 2006-02-01 2018-03-29 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
DE102006037257B4 (de) 2006-02-01 2017-06-01 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren und Messanordnung zur zerstörungsfreien Analyse eines Untersuchungsobjektes mit Röntgenstrahlung
CN101011256A (zh) * 2006-02-01 2007-08-08 西门子公司 通过x射线无破坏地分析检查对象的方法和测量装置
JP5041750B2 (ja) * 2006-07-20 2012-10-03 株式会社日立製作所 X線撮像装置及び撮像方法
JP2008197593A (ja) * 2007-02-16 2008-08-28 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線用透過型回折格子、x線タルボ干渉計およびx線撮像装置
US20100080436A1 (en) * 2007-02-21 2010-04-01 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiographic imaging device and radiographic imaging system
JP2008200359A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線撮影システム
JP2008200360A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線撮影システム
JP5339975B2 (ja) * 2008-03-13 2013-11-13 キヤノン株式会社 X線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたx線位相コントラスト像の撮像装置、x線コンピューター断層撮影システム
CN102197303A (zh) * 2008-10-29 2011-09-21 佳能株式会社 X射线成像装置和x射线成像方法
JP2010253157A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線干渉計撮影装置及びx線干渉計撮影方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE112009002606T5 (de) 2012-08-02
EP2343537B1 (en) 2019-04-10
US8340243B2 (en) 2012-12-25
KR101258927B1 (ko) 2013-04-29
JP2013106962A (ja) 2013-06-06
EP2343537A4 (en) 2012-05-02
CN103876761A (zh) 2014-06-25
US20130301795A1 (en) 2013-11-14
EP2343537A1 (en) 2011-07-13
JP5595473B2 (ja) 2014-09-24
WO2010050483A1 (ja) 2010-05-06
JP5456032B2 (ja) 2014-03-26
US20130070893A1 (en) 2013-03-21
WO2010050611A1 (en) 2010-05-06
CN102197303A (zh) 2011-09-21
RU2519663C2 (ru) 2014-06-20
US8681934B2 (en) 2014-03-25
US20110158493A1 (en) 2011-06-30
US8009797B2 (en) 2011-08-30
CN102197302B (zh) 2013-06-26
KR20110079742A (ko) 2011-07-07
US8520799B2 (en) 2013-08-27
JP2012507690A (ja) 2012-03-29
US20110280368A1 (en) 2011-11-17
US20100290590A1 (en) 2010-11-18
JP5174180B2 (ja) 2013-04-03
DE112009002606B4 (de) 2024-02-01
CN102197302A (zh) 2011-09-21
EP2342551A1 (en) 2011-07-13
CN103876761B (zh) 2016-04-27
JP2014205079A (ja) 2014-10-30
US8537966B2 (en) 2013-09-17
JPWO2010050483A1 (ja) 2012-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2012137875A (ru) Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений
JP5796976B2 (ja) X線撮像装置
US8981310B2 (en) Radiation detecting device
US20120093297A1 (en) Imaging apparatus
CN107850680B (zh) 用于相位对比和/或暗场成像的x射线探测器
US10718659B2 (en) Interferometric vibration observation device, vibration observation program, recording medium, vibration observation method and vibration observation system
EP2633813A4 (en) PHASE CONTRAST RADIATION IMAGE DEVICE
JP5269041B2 (ja) X線撮像装置およびx線撮像方法
JP2012507690A5 (ru)
RU2014103625A (ru) Устройство формирования изображений методом фазового контраста
JP2012005820A5 (ru)
US20120281217A1 (en) X-ray imaging apparatus and wavefront measuring apparatus
JP2011215134A5 (ru)
JP2013050441A5 (ja) 波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにx線コンピュータ断層撮影装置
WO2011089528A3 (en) Methods and apparatus for multi-camera x-ray flat panel detector
WO2011102247A2 (en) X-ray imaging method and x-ray imaging apparatus
JP2011174715A (ja) X線撮像装置
EP2442724A1 (en) X-ray imaging apparatus and x-ray imaging method
WO2012053459A1 (en) Imaging apparatus using talbot interference and adjusting method for imaging apparatus
JP2013164339A (ja) X線撮像装置
JP2011010873A (ja) 放射線撮影装置
CN104406702B (zh) 一种光束准直性检测方法
JP2017032508A5 (ru)
EP3139156A1 (en) Dual phase grating interferometer for x-ray phase contrast imaging
JP2010029238A (ja) X線診断装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20161028