CN102197302A - 分析方法、使用其的放射线成像装置和执行其的分析程序 - Google Patents

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Abstract

一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析方法包括以下步骤：从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数；和通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。

Description

分析方法、使用其的放射线成像装置和执行其的分析程序
技术领域
本发明涉及分析方法、使用分析方法的放射线成像装置和用于执行分析方法的分析程序。
背景技术
在诸如材料内部的非破坏性检查的工业的领域中、在诸如X射线照相和X射线计算断层摄影(CT)的医疗图像的领域中以及在其它的领域中，作为放射线的例子的X射线被用于成像方法中。采用X射线的成像方法的例子包括吸收衬度方法和相位衬度方法。
在吸收衬度方法中，可通过基于当X射线穿过被检物体时导致的X射线的衰减产生吸收衬度，获得被检物体的图像。
同时，在相位衬度方法中，可通过基于当X射线穿过被检物体时导致的相位变化产生相位衬度，获得被检物体的图像。该技术被称为X射线相位成像。由于X射线相位成像对于由轻元素构成的生物软组织实现了优异的敏感性，因此，期望被应用于医疗图像。
在分析的过程中，由X射线相位成像获得的关于相位变化的信息被卷绕到2π的范围中。因此，必须通过展开卷绕的相位以获得真实相位，来获取重构的相位图像。但是，由于在被检物体的边缘部分中相位大大变化，因此，关于卷绕的相位的信息包含相位跳跃，即相位不连续地改变的部分。当包含这种相位不连续地改变的部分的相位信息被展开时，会出现这样的问题，即，在相位不连续地改变的部分与相位连续地改变的部分之间出现不一致，并因此出现原先不存在的畸变。
在上述的情况下，在非专利文献1中公开了用于通过使用最小二乘法实施迭代计算来执行展开的方法。在非专利文献1中还公开了这样的方法，即，为了即使在存在相位不连续地改变的部分的情况下也使畸变最小化，通过使用加权函数执行最小二乘法。“加权函数”是用于在执行展开时对于相位不连续地改变的部分和相位连续地改变的部分给予不同权重的函数。通过使用加权函数，可以获得具有更少畸变的图像。
在非专利文献1中公开的特定的展开方法被执行如下：
(i)获得卷绕的相位信息。
(ii)确定试验性真实相位值并基于确定的真实相位值设定加权函数。
(iii)通过基于在(ii)中设定的加权函数使用最小二乘法，计算最佳真实相位值(第一值)。即，计算当使残差的平方和最小时获得的真实相位值。
(iv)基于在(iii)中计算的最佳真实相位值(第一值)将加权函数重新设定。
(v)通过基于在(iv)中设定的加权函数使用最小二乘法，计算最佳真实相位值(第二值)。
(vi)通过重复执行上述的计算直到残差的平方和收敛到某值，获得更精确的加权函数并计算更精确的真实相位值。
上述的计算方法具有这样一种问题，即，由于在交替校正加权函数和真实相位值的同时执行迭代计算，因此获得精确的真实相位值需要长的时间。
相反，当迭代计算的次数减少时，可以快速地获得加权函数，并且可由此快速地获得真实相位值。但是，难以获得精确的加权函数和精确的真实相位值。
非专利文献1
Dennis C.Ghiglia and Louis A.Romero，J.Opt.Soc.Am.A，Vol.13，No.10(1996)
发明内容
与非专利文献1相比，本发明提供用于快速和简单地产生精确的加权函数并且快速地执行展开的方法。
根据本发明的一个方面的一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析方法包括以下步骤：从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值，产生加权函数；和通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。
根据本发明的另一方面的放射线成像装置包括：放射线产生器；被配置为偏移由放射线产生器产生的放射线的相位的相位光栅；被配置为增强当放射线穿过相位光栅和被检物体时形成的自图像的吸收光栅；被配置为检测穿过吸收光栅的放射线的干涉条纹的强度信息的检测器；和被配置为执行用于从由检测器检测的干涉条纹的强度信息获得被检物体的图像的运算的运算单元。由运算单元执行的运算包含以下步骤：从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数；和通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。
根据本发明的又一方面的一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析程序使中央处理单元执行包括以下步骤的处理：从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数；和通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。
根据本发明的方面，与非专利文献1相比，由于可以快速和简单地产生精确的加权函数，因此，可以快速和简单地执行展开。
附图说明
图1示出根据本发明的实施例的分析方法的流程图的例子。
图2是傅立叶图像的概念图。
图3是用于解释被检物体的边缘部分的示图。
图4是用于解释提供加权函数的例子的示图。
图5是表示根据本发明的实施例的放射线成像装置的配置的例子的示图。
图6是根据本发明的实施例的放射线成像装置中的运算单元的功能框图的例子。
图7是在本发明的实施例中使用的被检物体的截面图。
图8是表示在本发明的实施例中使用的被检物体的吸收强度梯度分布的示图。
图9是表示在本发明的实施例中使用的被检物体的重构的相位图像的示图。
具体实施方式
将解释在采用由放射线产生的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的根据本发明的实施例的分析方法的例子。
图1是表示从获取干涉条纹的强度信息到获取重构的相位图像的过程的流程图。将依次解释图1中所示的流程图的步骤。
在步骤S101中，获得干涉条纹的强度信息。这里，“干涉条纹的强度信息”意味着描述通过使用干涉计等由放射线产生的干涉而导致的干涉条纹的诸如图案和亮度的性能的信息。另外，“放射线”意味着包括X射线、α射线、β射线、γ射线、紫外线、诸如电子射线的微粒射线和电磁波的广义的放射线。希望同时实现透射和吸收的X射线被用作放射线。另外，希望使用在一定程度上实现吸收的具有在从约
Figure BDA0000057377990000041
～约
Figure BDA0000057377990000042
的范围内的波长的X射线，而不是具有极短波长的X射线。在被检物体关于波长范围同时具有透射性能和吸收性能的情况下，可以使用诸如激光束的相干电磁波。被应用的X射线不必是完全相干的。X射线只需要具有出现干涉的相干长度。例如，在Talbot干涉计的情况下，在比使用的光栅的节距长的相干长度处出现干涉。
通过使用式(1)代表检测的干涉条纹的强度信息：
Figure BDA0000057377990000051
在式(1)中，“a(x，y)”代表与干涉条纹的图案无关的背景，并且“b(x，y)”代表干涉条纹的亮度。另外，“f0”代表干涉条纹的载波频率，并且
Figure BDA0000057377990000052
代表当放射线穿过被检物体时出现的相位变化。载波频率f0是根据当产生干涉条纹时使用的衍射光栅的光栅节距确定的参数。
式(1)可被转换成式(2)：
g(x，y)＝a(x，y)+c(x，y)exp(2πif0x)+c*(x，y)exp(-2πif0x)  (2)
在式(2)中，通过使用式(3)代表“c(x，y)”：
Figure BDA0000057377990000053
这里，式(3)仅包含与相位有关的信息。式(3)被扩展为包含关于吸收的信息的等式。即，获得其中“ψ(x，y)”代表吸收强度梯度的式(4)：
Figure BDA0000057377990000054
在式(4)中，可通过使用式(5)代表
Figure BDA0000057377990000055
和“b(x，y)”之间的关系：
b(x，y)＝b0exp(-ψ(x，y))   (5)
在式(5)中，“b0”表示常数。
在步骤S102中，对式(2)执行例如在Mitsuo Takeda et al.，J.Opt.Soc.Am.，Vol.72，No.1(1982)中描述的傅立叶变换，并且获得式(6)：
G(fx，fy)＝A(fx，fy)+C(fx-f0，fy)+C*(fx+f0，fy)  (6)
在式(6)中，“G(fx，fy)”、“A(fx，fy)”和“C(fx，fy)”分别是“g(x，y)”、“a(x，y)”和“c(x，y)”的二维傅立叶变换。另外，“fx”和“fy”分别代表空间频率的x成分和y成分。图2是式(6)的概念图。在图2中表示傅立叶图像。傅立叶图像的三个峰值的中心峰值210源自“A(fx，fy)”并且仅包含关于吸收的信息。剩余峰值220(与载波频率f0对应的峰值)中的一个源自“C(fx，fy)”，并且，剩余峰值220中的另一个源自“C＊(fx，fy)”。两个峰值220均包含关于相位的信息和关于吸收的信息。
在步骤S103中，关于与载波频率对应的峰值中的一个附近的部分的信息被提取并移动到频率空间中的原点，并且，执行逆傅立叶变换。通过步骤S103的处理，可以获取包含关于相位的信息和关于吸收的信息两者的信息。
注意，在根据本发明的方面的分析方法中，作为上述的傅立叶变换的替代，可通过使用条纹扫描等获取关于相位的信息和关于吸收的信息。
在步骤S104中，从在步骤S103中获取的信息获得第一相位信息
Figure BDA0000057377990000061
“相位信息”代表指示在放射线穿过被检物体时根据折射率的差而改变的相位的参数。
在步骤S105中，从在步骤S103中获取的信息获得关于吸收强度梯度的信息。希望获得吸收强度梯度分布作为关于吸收强度梯度的信息。但是，可以获得任何类型的信息，只要它识别表现出比预定值大的吸收强度梯度的部分(被检物体的边缘部分等)或表现出比预定值小的吸收强度梯度的部分就行。以下，将解释关于吸收强度梯度的信息是吸收强度梯度ψ(x，y)的分布的情况。
这里，可通过提取傅立叶图像的中心峰值210从在步骤S103中获取的信息产生吸收强度梯度ψ(x，y)的分布。但是，希望从与为了获取第一相位信息获得的峰值相同的峰值，产生吸收强度梯度ψ(x，y)的分布。这是由于从同一峰值获得的关于吸收的信息和关于相位的信息彼此高度地相关，并且，可通过使用将在后面描述的加权函数在展开过程中获取具有较少畸变的重构的相位图像。
并且，在步骤S105中，从获取的吸收强度梯度ψ(x，y)的分布，产生加权函数U和V。将在后面描述用于产生加权函数的具体方法。
在执行用于产生加权函数的步骤S105的处理之后，可以执行用于产生第一相位信息的步骤S104的处理。
这里，在步骤S104中获取的第一相位信息被卷绕到2π的范围中。被卷绕到2π的范围中的状态代表被卷积到2π的范围中的状态，即，例如，被卷积到0～2π的范围或-π～π的范围中的状态。因此，必须从卷绕的第一相位信息获取不卷绕的真实相位如上所述的为了将卷绕的相位信息转换成展开的相位信息所执行的计算可被称为展开(以下，称为“展开”)。
通过建立四个式(7)～(10)获得真实相位
Figure BDA0000057377990000073
(参见非专利文献1)：
Figure BDA0000057377990000074
Figure BDA0000057377990000075
Figure BDA0000057377990000076
Figure BDA0000057377990000077
Figure BDA0000057377990000078
具体地，计算当将在步骤S104中获取的值代入各个等式时使式(8)中的ε2最小化的n(x，y)。即，执行最小二乘法。然后，通过将获取的n(x，y)代入式(7)，计算作为第二相位信息的真实相位
Figure BDA00000573779900000710
这里，“n(x，y)”代表整数，“W”代表卷绕算子，“U”和“V”代表加权函数。
这里，将参照图3解释当卷绕的相位信息
Figure BDA00000573779900000711
被展开时在被检物体的边缘部分中出现的问题。图3是具有圆柱形状的被检物体的截面图。在图3中，提供不包含被检物体的区域310、被被检物体占据的区域320以及区域310和320之间的边界部分(边缘部分)330。
由于不包含被检物体的区域310中以及被被检物体占据的区域320中的相位变化是小的并且平滑的，因此，区域310和320被检测为相位连续变化的部分。但是，由于在被检物体的边缘部分330中相位大大改变，因此边缘部分330被检测为卷绕相位不连续地变化的部分。在相位不连续地变化的部分中，当执行展开时关于计算出现矛盾，并且，得到的重构的相位图像包含畸变。
同时，在相位大大改变的被检物体的边缘部分中，吸收强度梯度大。
因此，通过当执行上述展开处理时对于在吸收强度梯度分布中表现出大的吸收强度梯度的部分产生允许不连续的相位变化的加权函数U和V并提供加权函数U和V，可以获得具有较少畸变的重构的相位图像。即，对于相位不连续地改变的部分，执行展开，使得加权函数U和V被设为不导致计算上的矛盾的值。
将参照图4解释用于产生加权函数U和V的具体方法。图4示出被图3中的虚线包围的区域中的吸收强度梯度分布。参照图4，粗线410代表吸收强度梯度比预定值大并与被检物体的边缘部分对应的部分。
首先，如图4所示，吸收强度梯度分布被分割成多个像素。然后，包含吸收强度梯度的绝对值比预定值大的区域的像素由第一像素420代表，并且，吸收强度梯度的绝对值比预定值小的像素由第二像素430代表。产生加权函数，使得向第一像素420和第二像素430提供不同的值。
可根据被检物体的形状等选择1和0之间的适当的值作为加权函数的值。这里，“适当的值”代表可获得得到的具有较少畸变的重构的相位图像的值。例如，在完全允许相位的不连续性的情况下，加权函数的值可被设为“0”。同时，在相位不是不连续的情况下，加权函数的值可被设为1等。另外，可以以使得可获得得到的具有较少畸变的重构的相位图像的方式选择适当的值，作为用作用于确定加权函数的准则的预定值。并且，通过设定两个或更多个预定的值，可以以更详细的方式执行加权。另外，吸收强度梯度的绝对值和加权函数的值可被设定，使得它们具有一一对应的关系。
分割像素的数量不被限制，只要可以相互区分吸收强度梯度比预定值大的部分和吸收强度梯度比预定值小的部分就行。另外，可以以希望的方式设定分割的方向和像素的形状等。
如上所述，根据本发明的方面的用于产生加权函数的方法不需要迭代计算。因此，与在非专利文献1中描述的产生方法相比，可以快速和简单地产生加权函数。
通过将通过使用上述方法产生的加权函数代入式(8)中并执行上述展开处理，可以获得作为第二相位信息的真实相位
Figure BDA0000057377990000091
然后，可从在步骤S106中获得的第二相位信息，获得重构的相位图像(S107)。
将通过以使用Talbot干涉计的X射线相位成像装置为例解释根据本发明的实施例的放射线成像装置。
图5示出使用Talbot干涉计的X射线相位成像装置的配置的例子。将以具体的方式解释使用X射线相位成像装置的情况下的从产生X射线到获取重构的相位图像的流程。
首先，从作为放射线产生器的X射线源510产生的X射线穿过被检物体520。当穿过被检物体520时，根据被检物体520的形状等，出现相位变化和吸收。穿过了被检物体520的X射线穿过相位光栅530并且形成自图像(self-image)。这里，“自图像”代表反映相位光栅530的光栅节距的周期性强度分布。X射线当穿过布置在形成自图像的位置处的吸收光栅540时，得到增强。穿过吸收光栅540的X射线的干涉条纹的强度信息被作为检测单元的检测器550检测。检测器550是能够检测放射线干涉条纹的强度信息的元件。例如，诸如电荷耦合器件(CCD)的成像元件可被用作检测器550。
通过执行上述分析方法中的各个步骤中的运算的运算单元560分析由检测器550检测的干涉条纹的强度信息。运算单元560包含中央处理单元(CPU)561。
图6是运算单元560的功能框图的例子。强度信息获取部分610从自检测器550接收的数据获取干涉条纹的强度信息。傅立叶变换部分620执行获取的干涉条纹的强度信息的傅立叶变换以获得傅立叶图像。逆傅立叶变换部分630提取在获取的傅立叶图像中的关于与载波频率对应的峰值附近的部分的信息，将提取的信息移动到频率空间中的原点，并且执行逆傅立叶变换。第一相位信息产生器640从由逆傅立叶变换获取的信息产生第一相位信息。加权函数产生器650从由逆傅立叶变换获取的信息获取吸收强度梯度分布，并且基于吸收强度梯度分布获取加权函数。第二相位信息产生器660通过使用获取的加权函数展开第一相位信息以产生第二相位信息。重构的相位图像获取部分670从获取的第二相位信息获取重构的相位图像。
上述的运算由CPU等控制。所有的运算可由单个CPU或多个CPU控制。在同一CPU控制由第一相位信息产生器640执行的运算和由加权函数产生器650执行的运算的情况下，运算单元560可包含存储早前执行的运算的运算结果等的存储器等。另外，运算单元560可包含诸如硬盘的存储部分以及CPU和存储器等。
作为Talbot干涉计的替代，根据本发明的方面的放射线成像装置可使用晶体干涉计，作为被配置为产生放射线干涉条纹的器件。另外，当使用Talbot干涉计时，在检测器550的分辨率高的情况下，不必设置吸收光栅540。
虽然上面已解释了被检物体位于X射线源510和相位光栅530之间的情况，但是，被检物体可位于相位光栅530和吸收光栅540之间。
另外，根据本发明的方面的放射线成像装置可包含被配置为输出获得的重构的相位图像的输出单元。输出单元包含例如被配置为在屏幕上显示重构的相位图像的显示器和被配置为在纸介质或胶片等上打印重构的相位图像的打印机等。放射线成像装置还可包含记录获取的重构的相位图像的记录单元或存储重构的相位图像的存储单元。记录单元为例如被配置为在光盘(CD)等上记录图像的记录单元。存储单元为例如硬盘。
将解释根据本发明的实施例的分析程序的例子。
分析程序能够允许诸如CPU的运算单元执行上述的分析方法中的各个步骤。例如，记录分析程序的代码的记录介质被供给到计算机等，并且，计算机等的CPU或微处理单元(MPU)等读取存储于存储介质中的程序的代码以执行程序。
例子
将解释本发明的例子。在本例子中，将解释对于使用上述的Talbot干涉计的X射线相位成像装置通过使用上述的分析方法执行计算的情况。使用下面描述的参数。
使用17.7keV处的具有
Figure BDA0000057377990000111
的波长的相干硬X射线。使用具有0.256mm的直径和0.1mm的高度的圆柱形状的硅酮物体作为被检物体。图7是圆柱硅酮物体的截面图。与圆柱的中心轴(连接圆柱的两侧的两个圆的中心的轴)平行地向圆柱硅酮物体施加X射线。执行计算的范围为0.512mm的正方形的范围，并且，正方形的中心与圆柱硅酮物体的中心轴一致。使用具有8μm的节距并对于各节距产生π的相位偏移的相位光栅和吸收光栅。相位光栅和吸收光栅之间的距离被设为作为可通过该器件配置的Talbot干涉计获得第一自图像的距离的11.43cm。用于计算的图像具有512行像素以及512列像素的尺寸。
将解释用于产生加权函数的根据本例子的方法。
执行在上述的参数设置下产生的干涉条纹的强度信息的傅立叶变换，并且获得傅立叶图像。与获得的傅立叶图像中的载波频率对应的峰值C(fx，fy)(式(6))被提取并移动到频率空间中的原点，并且，执行逆傅立叶变换。从由逆傅立叶变换获得的式的偏角(argument)计算第一相位信息从由逆傅立叶变换获得的等式的绝对值获得吸收强度梯度分布，并且，倒数被归一化并且被定义为加权函数。图8示出获得的吸收强度梯度分布。通过使用获得的第一相位信息和加权函数获得真实相位，并且，获得重构的相位图像。
图9示出获得的重构的相位图像。从计算结果显见，可以获得具有较少畸变的圆柱的截面图像。
测量产生加权函数所需要的时间。计算条件与上述的条件相同。表1表示对于各像素数，在执行单个迭代计算的情况下通过使用根据本发明的方面的方法产生加权函数所需要的时间。作为比较例，还提供通过使用在非专利文献1中公开的方法产生加权函数所需要的时间。从表1显见，在所有的像素数量的情况下，通过使用根据本发明的方面的方法产生加权函数所需要的时间比通过使用在非专利文献1中公开的方法产生加权函数所需要的时间短。
表1
Figure BDA0000057377990000121
测量获得重构的相位图像所需要的时间。计算条件如上所述。表2表示在迭代计算次数被设为5、10、20和50的情况下通过使用根据本发明的方面的方法获得重构的相位图像所需要的时间。作为比较例，还提供通过使用由使用在非专利文献1中公开的方法产生的加权函数获得重构的相位图像所需要的时间。从表2显见，通过使用根据本发明的方面的方法获得重构的相位图像所需要的时间比通过使用在非专利文献1中公开的方法获得重构的相位图像所需要的时间短。
表2
Figure BDA0000057377990000122
根据以上的结果，在使用根据本发明的方面的分析方法的情况下，与使用在非专利文献1中公开的方法的情况相比，可快速和简单地产生精确的加权函数并且可快速地执行展开。本发明不限于上述的实施例。可对于本发明提出各种的变更方式。
虽然已参照示例性实施例说明了本发明，但应理解，本发明不限于公开的示例性实施例。以下权利要求的范围应被赋予最宽的解释以包含所有的变更方式以及等同的结构和功能。
本申请要求在2008年10月29日提交的日本专利申请No.2008-278425的权益，在此通过引用并入其全部内容。

Claims (11)

1.一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析方法，该分析方法包括以下步骤：
从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；
从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；
基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数；和
通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。
2.根据权利要求1的分析方法，其中，产生第二相位信息的步骤包含执行最小二乘法的步骤。
3.根据权利要求1或2的分析方法，其中，产生第一相位信息的步骤包含通过执行干涉条纹的强度信息的傅立叶变换获得傅立叶图像并从傅立叶图像提取关于相位的信息的步骤，并且，
其中，产生关于吸收强度梯度的信息的步骤包含从傅立叶图像提取关于吸收的信息的步骤。
4.根据权利要求3的分析方法，其中，从与傅立叶图像中的相同载波频率对应的峰值获得关于相位的信息和关于吸收的信息。
5.根据权利要求1～4中的任一项的分析方法，其中，关于吸收强度梯度的信息是吸收强度梯度分布。
6.根据权利要求5的分析方法，其中，加权函数是用于将吸收强度梯度分布分割成包含第一像素和第二像素的多个像素并用于给予第一像素和第二像素不同权重的函数，该第一像素包含吸收强度梯度的绝对值比预定值大的区域，在该第二像素中，吸收强度梯度的绝对值比预定值小。
7.根据权利要求6的分析方法，其中，加权函数是用于给予第一像素“0”并给予第二像素“1”的函数。
8.根据权利要求1～7中的任一项的分析方法，其中，放射线是X射线。
9.一种放射线成像装置，包括：
放射线产生器；
被配置为偏移由放射线产生器产生的放射线的相位的相位光栅；
被配置为增强当放射线穿过相位光栅和被检物体时形成的自图像的吸收光栅；
被配置为检测穿过吸收光栅的放射线的干涉条纹的强度信息的检测器；和
被配置为执行用于从由检测器检测的干涉条纹的强度信息获得被检物体的图像的运算的运算单元，
其中，由运算单元执行的运算包含以下步骤：从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数；和通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。
10.根据权利要求9的放射线成像装置，其中，相位光栅被布置在被检物体和吸收光栅之间。
11.一种在采用穿过被检物体的放射线的干涉条纹的强度信息的放射线成像装置中使用的分析程序，该分析程序使中央处理单元执行包括以下步骤的处理：
从干涉条纹的强度信息产生卷绕到2π的范围中的被检物体的第一相位信息；
从干涉条纹的强度信息产生关于被检物体的吸收强度梯度的信息；
基于关于吸收强度梯度的信息中的梯度的绝对值产生加权函数；和
通过使用加权函数展开第一相位信息，产生第二相位信息。
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