RU2519663C2 - Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений - Google Patents

Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений Download PDF

Info

Publication number
RU2519663C2
RU2519663C2 RU2012137875/28A RU2012137875A RU2519663C2 RU 2519663 C2 RU2519663 C2 RU 2519663C2 RU 2012137875/28 A RU2012137875/28 A RU 2012137875/28A RU 2012137875 A RU2012137875 A RU 2012137875A RU 2519663 C2 RU2519663 C2 RU 2519663C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
phase
moire
grating
intensity
detector
Prior art date
Application number
RU2012137875/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2012137875A (ru
Inventor
Тидане ОУТИ
Хиденосуке ИТОХ
Кентаро НАГАИ
Тору ДЕН
Original Assignee
Кэнон Кабусики Кайся
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Кэнон Кабусики Кайся filed Critical Кэнон Кабусики Кайся
Publication of RU2012137875A publication Critical patent/RU2012137875A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2519663C2 publication Critical patent/RU2519663C2/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20075Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4291Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/484Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/401Imaging image processing
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/067Construction details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

Использование: для формирования рентгеновских изображений. Сущность изобретения заключается в том, что устройство формирования рентгеновских изображений согласно настоящему изобретению включает фазовую решетку 130, поглощательную решетку 150, детектор 170 и арифметический блок 180. Арифметический блок 180 выполняет этап преобразования Фурье выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности Муара, полученного детектором, и получения спектра пространственных частот. Также арифметический блок 180 выполняет этап восстановления фазы отделения спектра, соответствующего несущей частоте, от спектра пространственных частот, полученного на этапе преобразования Фурье, выполнения обратного преобразования Фурье для отделенного спектра, и получения дифференциального фазового изображения. Технический результат: обеспечение возможности получения дифференциального фазового изображения или фазового изображения объекта посредством по меньшей мере одной операции формирования изображений. 11 з.п. ф-лы, 9 ил.

Description

ОБЛАСТЬ ТЕХНИКИ, К КОТОРОЙ ОТНОСИТСЯ ИЗОБРЕТЕНИЕ
Настоящее изобретение относится к устройству формирования рентгеновских изображений и способу формирования рентгеновских изображений.
УРОВЕНЬ ТЕХНИКИ
Так как рентгеновские лучи имеют высокую проницаемость в веществах и могут выполнять формирование изображений с высоким пространственным разрешением, например, рентгеновские лучи используются для неразрушающего обследования объектов в промышленном использовании и для радиографии в медицинском использовании. В этих случаях контрастное изображение формируется посредством использования разности коэффициента поглощения рентгеновских лучей для веществ или живых организмов, когда рентгеновские лучи пропускаются через вещества или живые организмы в зависимости от составных элементов или из-за разности в плотностях веществ или живых организмов. Такой способ формирования изображений называется способом контраста поглощения рентгеновских лучей. Однако легкий элемент поглощает рентгеновские лучи в очень малом количестве. Сложно получить изображение живых мягких тканей, состоящих из углерода, водорода, кислорода и так далее, которые являются составными элементами живого организма или мягких материалов, способом контраста поглощения рентгеновских лучей. В противоположность этому в качестве способа для формирования четких изображений даже тканей, состоящих из легких элементов, с тысяча девятьсот девяностых годов исследовались способы фазового контраста рентгеновских лучей, использующие разность фаз рентгеновских лучей.
Было разработано большое количество способов фазового контраста рентгеновских лучей. Один из таких способов может быть способом фазового контраста рентгеновских лучей, использующим интерференцию Талбота в качестве способа, способного использовать традиционную рентгеновскую трубку (патентная литература 1).
Способ, использующий интерференцию Талбота, описываемый в патентной литературе 1, включает рентгеновскую трубку, которая формирует рентгеновские лучи, фазовую решетку, которая модулирует фазу рентгеновских лучей и формирует распределение интенсивности интерференции, поглощательную решетку, которая преобразует распределение интенсивности интерференции в распределение интенсивности Муара, и рентгеновский детектор, который детектирует распределение интенсивности интерференции.
В способе, описываемом в патентной литературе 1, формирование изображений выполняется посредством сканирования поглощательной решетки вдоль направления периода решетки. После этого сканирования муар, который должен быть обнаружен, сдвигается. Когда длина сканирования достигает одного периода поглощательной решетки, изображение муара возвращается в первоначальное состояние. Арифметическая обработка выполняется, используя по меньшей мере три изображения данных изображений во время сканирования, и таким образом получается дифференциальное фазовое изображение.
Перечень цитированных источников
Патентная литература
Патентная литература 1: Патент США № 7180979
РАСКРЫТИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
ТЕХНИЧЕСКАЯ ПРОБЛЕМА
Способ, описываемый в патентной литературе 1, получает дифференциальное фазовое изображение посредством выполнения формирования изображений для по меньшей мере трех изображений и рассчитывает фазовое изображение из дифференциального фазового изображения.
Так как способ, описываемый в патентной литературе 1, должен выполнять формирование изображений для по меньшей мере трех изображений, если объект сдвигается во время формирования изображения, качество изображения может ухудшиться.
Также, если период времени для формирования изображения увеличивается, увеличивается доза рентгеновских лучей для объекта. Это не желательно для медицинского использования. Соответственно цель настоящего изобретения - обеспечить устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений, который может получать дифференциальное фазовое изображение или фазовое изображение объекта посредством по меньшей мере одной операции формирования изображений.
РЕШЕНИЕ ПРОБЛЕМЫ
Устройство формирования рентгеновских изображений согласно настоящему изобретению включает рентгеновский источник; фазовую решетку, которая пропускает рентгеновские лучи из рентгеновского источника и формирует распределение интенсивности интерференции посредством эффекта Талбота; поглощательную решетку, которая частично заслоняет распределение интенсивности интерференции, сформированное фазовой решеткой, и формирует муар; детектор, который детектирует распределение интенсивности муара, сформированного поглощательной решеткой; и арифметический блок, который получает изображение информации объекта из распределения интенсивности муара, детектированного детектором, и выводит информацию. Арифметический блок выполняет процесс, включающий этап преобразования Фурье выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, полученного детектором, и получения спектра пространственных частот, и этап восстановления фазы отделения спектра, соответствующего несущей частоте, от спектра пространственных частот, полученного на этапе преобразования Фурье, выполнения обратного преобразования Фурье для отделенного спектра, и получения дифференциального фазового изображения.
ПОЛЕЗНЫЕ ЭФФЕКТЫ ИЗОБРЕТЕНИЯ
С помощью настоящего изобретения может быть предоставлено устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений, которые могут получать дифференциальное фазовое изображение или фазовое изображение объекта посредством по меньшей мере одной операции формирования изображений.
КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ЧЕРТЕЖЕЙ
Фиг. 1 - пояснительное изображение устройства формирования рентгеновских изображений согласно первому варианту осуществления настоящего изобретения.
Фиг. 2 представляет пояснительные изображения двумерных фазовых решеток согласно второму и третьему вариантам осуществления настоящего изобретения.
Фиг. 3 представляет пояснительные изображения двумерных фазовых решеток согласно первому и второму вариантам осуществления настоящего изобретения.
Фиг. 4 иллюстрирует картину спектра распределения интенсивности интерференции.
Фиг. 5 иллюстрирует распределения интенсивности муара и картины спектра, когда используется двумерная фазовая решетка.
Фиг. 6 - пояснительное изображение блок-схемы последовательности операций способа анализа, выполняемого арифметическим блоком согласно настоящему изобретению.
Фиг. 7 представляет пояснительные изображения распределения интенсивности муара и спектра пространственных частот согласно второму варианту осуществления настоящего изобретения.
Фиг. 8 представляет пояснительные изображения распределения интенсивности муара и спектра пространственных частот согласно третьему варианту осуществления настоящего изобретения.
Фиг. 9 - пояснительное изображение механизма изменения масштаба согласно четвертому варианту осуществления настоящего изобретения.
ОСУЩЕСТВЛЕНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
(Первый вариант осуществления)
Фиг.1 иллюстрирует примерную конфигурацию устройства формирования рентгеновских изображений, используя интерференцию Талбота. Процесс получения фазового изображения посредством использования устройства формирования рентгеновских изображений будет описан подробно.
(Рентгеновский источник)
Рентгеновские лучи 111, формируемые рентгеновским источником 110, пропускаются через объект 120. Когда рентгеновские лучи 111 пропускаются через объект 120, фаза рентгеновских лучей 111 изменяется, и рентгеновские лучи 111 поглощаются в зависимости от состава, формы и так далее объекта 120.
Рентгеновские лучи могут быть непрерывными рентгеновскими лучами или характеристическими рентгеновскими лучами. Длина волны рентгеновских лучей выбирается в диапазоне от около 0,1 до 5. Фильтр выбора длины волны и/или решетка для источника могут быть предоставлены дальше по ходу по отношению к рентгеновскому источнику 110.
(Фазовая решетка)
Рентгеновские лучи 111, пропускаемые через объект 120, пропускаются через фазовую решетку 130. Затем рентгеновские лучи 111 формируют распределение интенсивности интерференции 140 посредством эффекта Талбота.
Фазовая решетка 130 организована ближе по ходу или дальше по ходу по отношению к объекту 120.
Фазовая решетка 130 включает участки 131 опережения по фазе и участки 132 отставания по фазе, которые формируются посредством периодического изменения толщины члена рентгеновской проницаемости. Участки 131 опережения по фазе и участки 132 отставания по фазе могут быть сформированы таким образом, что фаза рентгеновских лучей, пропущенных через участки 131 опережения по фазе, отличается от фазы рентгеновских лучей, пропущенных через участки 132 отставания по фазе. Например, фаза рентгеновских лучей, пропущенных через участки 131 опережения по фазе, сдвигается вперед на π относительно фазы рентгеновских лучей, пропущенных через участки 132 отставания по фазе. Величина изменения в толщине определяется длиной волны рентгеновских лучей, которая должна использоваться, и членом.
Фазовая решетка 130 типично модулирует фазу рентгеновских лучей, пропущенных через участки 131 опережения по фазе, на π или π/2 относительно фазы рентгеновских лучей, пропущенных через участки 132 отставания по фазе. Первая решетка может быть названа π фазовой решеткой, а вторая решетка может быть названа π/2 фазовой решеткой. Требуется лишь, чтобы величина модуляции фазы была периодической. Например, модуляция может быть π/3 модуляцией.
Фазовая решетка 130 может иметь одномерную линейную форму. В качестве альтернативы фазовая решетка 130 может иметь двумерную структуру в форме шахматной доски, как показано на фиг. 2(A). В качестве другой альтернативы фазовая решетка 130 может иметь структуру в форме решетки, как показано на фиг. 2(B). Со ссылкой на фиг. 2, ссылочный знак d обозначает период, 201 обозначает двумерную фазовую решетку, 210 обозначает участки опережения по фазе, а 220 обозначает участки отставания по фазе.
Форма каждого участка 210 опережения по фазе или каждого участка 220 отставания по фазе является квадратом на фиг. 2(A) и 2(B), однако их внешняя граница может быть деформирована в округлую форму в процессе производства. Даже когда форма деформируется в округлую форму, деформированный участок может быть использован в качестве фазовой решетки.
Если фазовая решетка 130 имеет одномерный период, получается информация градиента фазы только в одномерном направлении объекта 120. Напротив, если фазовая решетка 130 имеет двумерный период, может быть получена информация градиента фазы в двумерных направлениях, что является преимуществом.
Материал фазовой решетки 130 - желательно вещество, которое пропускает рентгеновские лучи. Например, материал может быть кремнием.
Распределение интенсивности интерференции, формируемое после того, как рентгеновские лучи пропускаются через фазовую решетку 130, наиболее четко проявляется в положении, в котором Z0 является расстоянием от рентгеновского источника до фазовой решетки 130, а Z1 является расстоянием от фазовой решетки 130 до поглощательной решетки 150, и расстояние Z1 удовлетворяет нижеследующему выражению (1). В материалах настоящей заявки "распределение интенсивности интерференции" является периодическим распределением интенсивности, в котором отражается период решетки фазовой решетки 130.
В выражении (1) λ - длина волны рентгеновских лучей, а d - период решетки фазовой решетки 130,
1 Z 0 + 1 Z 1 = 1 N λ d 2
Figure 00000001
Figure 00000002
(1)
Значение N изменяется в зависимости от формы фазовой решетки и является действительным числом, которое может быть выражено следующим образом. Отметим, что значение n - натуральное число.
π фазовая решетка в одномерной периодической структуре: N = n/4-1/8
π/2 фазовая решетка в одномерной периодической структуре: N = n/4-1/2
π фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски в двумерной периодической структуре: N = n/4-1/8
π/2 фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски в двух измерениях: N = n/2-1/4
(Поглощательная решетка)
Период распределения интенсивности интерференции типично меньше, чем размер пикселя рентгеновского детектора 170. Следовательно, распределение интенсивности интерференции не может быть детектировано в этом состоянии. Поэтому поглощательная решетка 150 используется, чтобы формировать муар с периодом, большим, чем размер пикселя рентгеновского детектора 170, так что рентгеновский детектор 170 детектирует распределение интенсивности муара. Поглощательная решетка 150 желательно предусмотрена в положении, отделенном от фазовой решетки 130 на расстояние Z1.
Поглощательная решетка 150 включает проницаемые участки 151 и заслоняющие свет участки 152, которые периодически располагаются и расставляются, чтобы частично заслонять яркие участки распределения 140 интенсивности интерференции, формируемые фазовой решеткой 130. Каждый пропускающий участок 151 не обязательно должен иметь отверстие, проникающее через поглощательную решетку 150, так как пропускающий (проницаемый) участок 151 может частично пропускать рентгеновские лучи. Материал поглощательной решетки 150 особо не ограничивается до тех пор, пока материал имеет высокую поглощательную способность для рентгеновских лучей. Материал может быть, например, золотом.
Период поглощательной решетки 150 эквивалентен или незначительно отличается от периода распределения интенсивности интерференции.
Если используется поглощательная решетка с периодом, эквивалентным периоду распределения интенсивности интерференции, муар формируется посредством вращения в плоскости поглощательной решетки. Когда период распределения интенсивности интерференции представлен D, а угол, определенный между ориентациями яркого и темного участков в распределении интенсивности интерференции и ориентацией поглощательной решетки, представлен θ (здесь, θ<<1), период Dm муара равен D/θ.
Напротив, если используется поглощательная решетка с периодом, незначительно отличающимся от периода распределения интенсивности интерференции, муар формируется без вращения в плоскости поглощательной решетки. Когда период поглощательной решетки выражается как Da=D+δ (здесь δ<<D), период Dm муара равен D2/δ.
В поглощательной решетке 150 пропускаемые участки 151 могут быть расположены одно- или двумерно.
Например, если используется π фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски, показанная на фиг. 2(A), используется поглощательная решетка 300 со структурой в форме решетки, в которой проницаемые участки 351 и заслоняющие свет участки 352 расположены двумерно, как показано на фиг. 3(A). Если используется π/2 фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски, показанная на фиг. 2(A), используется поглощательная решетка 300 со структурой в форме шахматной доски, в которой проницаемые участки 351 и заслоняющие свет участки 352 расположены двумерно, как показано на фиг. 3(B).
Вышеупомянутая комбинация фазовой решетки и поглощательной решетки - просто пример, и могут быть созданы различные комбинации.
(Детектор)
Информация распределения интенсивности интерференции для рентгеновских лучей, пропускаемых через поглощательную решетку 140, детектируется как распределение интенсивности муара рентгеновским детектором 170. Рентгеновский детектор 170 является элементом, который может детектировать информацию распределения интенсивности интерференции для рентгеновских лучей. Например, может быть использован плоскопанельный детектор (FPD), способный к преобразованию в цифровые сигналы.
(Арифметический блок)
Информация о распределении интенсивности муара, детектируемого рентгеновским детектором 170, анализируется арифметическим блоком 180 через метод анализа, который будет описан позже, так, чтобы получить изображение дифференциального фазового изображения или фазового изображения. Полученное дифференциальное фазовое изображение или фазовое изображение является выходным изображением, которое должно отображаться на блоке 190 отображения. Арифметический блок 180 включает, например, центральный процессор (CPU).
Метод анализа для получения фазового изображения из информации о распределении интенсивности муара, получаемого детектором, будет описан ниже. Затем будет описан этап обработки, выполняемый арифметическим блоком.
(Метод анализа)
Когда формируется распределение интенсивности интерференции, многие лучи дифрагированного света накладываются и интерферируют друг с другом. Следовательно, распределение интенсивности интерференции содержит основную частоту (в дальнейшем в материалах настоящей заявки указываемую ссылкой как несущая частота) и большое количество гармонических компонентов несущей частоты. Муар имеет форму, в которой компонент несущей частоты в распределении интенсивности интерференции пространственно расширен. Когда используется одномерная фазовая решетка с линейкой, ортогональной оси x, муар может быть выражен выражением (2)
g ( x , y ) = a ( x , y ) + b ( x , y ) cos ( 2 π f 0 x + φ ( x , y ) )
Figure 00000003
Figure 00000002
(2)
Напротив, когда используется двумерная фазовая решетка, компонент несущей частоты в направлении у накладывается на результат выражения (2).
В выражении (2) муар выражается суммой фонового первого члена и периодического второго члена. В материалах настоящей заявки a(x, y) обозначает фон, а b(x, y) обозначает амплитуду компонента несущей частоты. Также, значение f0 обозначает несущую частоту интерференционной полосы, а ϕ(х, у) обозначает фазу компонента несущей частоты.
Когда π/2 фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски используется в качестве фазовой решетки 130, компонент несущей частоты формируется из-за интерференции между дифрагированным светом нулевого порядка и дифрагированным светом плюс первого порядка, и интерференции между дифрагированным светом нулевого порядка и дифрагированным светом минус первого порядка. Когда π фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски используется в качестве фазовой решетки 130, компонент несущей частоты формируется из-за интерференции между дифрагированным светом плюс первого порядка и дифрагированным светом минус первого порядка.
Для дифрагированного света нулевого порядка и дифрагированного света первого порядка лучи, отделяемые друг от друга расстоянием Nd, накладываются друг на друга на фазовой решетке 130. Для дифрагированного света плюс первого порядка и дифрагированного света минус первого порядка лучи, отделяемые друг от друга расстоянием 2Nd, накладываются друг на друга на фазовой решетке 130. То есть такая интерференция сдвигает интерференцию на величину сдвига s, соответствующую Nd, в случае π/2 фазовой решетки или сдвигает интерференцию на величину сдвига s, соответствующую 2Nd.
Когда фазовое изображение объекта 120 в положении фазовой решетки 130 равно W(x, y), фаза ϕ(х, у) и фазовое изображение W(x, y) имеют следующую взаимосвязь:
ϕ(х, у)=W(x+s, у)-W(x, y)
Значение s типично очень мало. Таким образом, получается следующее:
φ ( x , y ) s x W ( x , y )          (3)
Figure 00000004
Что касается выражения (3), обнаружено, что фаза ϕ(x, y) является информацией, получаемой дифференцированием фазового изображения W(x, y)объекта 120. Поэтому фазовое изображение W(x, y) объекта 120 может быть получено интегрированием ϕ(x, y). Тем временем, фаза ϕ(x, y) может быть получена из выражения (2) посредством преобразования Фурье. То есть выражение (2) может быть выражено следующим образом:
g ( x , y ) = a ( x , y ) + c ( x , y ) exp ( 2 π i f 0 x ) + c * ( x , y ) exp ( 2 π i f 0 x )
Figure 00000005
Figure 00000006
(4)
В материалах настоящей заявки получается следующее:
c ( x , y ) = 1 2 b ( x , y ) exp [ i φ ( x , y ) ]
Figure 00000007
Figure 00000006
(5)
Поэтому информация фазы ϕ(x, y) может быть получена извлечением компонента c(x, y) или компонента с*(х, у) из интерференционной полосы.
В материалах настоящей заявки после преобразования Фурье выражение (4) будет выглядеть следующим образом:
G ( f x , f y ) = A ( f x , f y ) + C ( f x f 0 f y ) + C * ( f x + f 0 f y )
Figure 00000008
Figure 00000006
(6)
В материалах настоящей заявки G(fx, fy), A(fx, fy), и C(fx, fy) являются двумерными преобразованиями Фурье для g(x, y), a(x, y), и c(x,y).
Фиг. 4 - картина спектра распределения интенсивности интерференции, когда используется одномерная решетка. Типично формируются три пика, как показано на фиг. 4. Центральный пик - пик, главным образом полученный из A(fx, fy). Напротив, пики на обеих сторонах - пики несущих частот, полученные из C(fx, fy) и C*(fx, fy). Эти пики формируются в положениях ±f0.
Затем извлекается область, содержащая пик, полученный из C(fx, fy) или C*(fx, fy). Например, посредством извлечения периферии пика, полученного из A(fx, fy) и периферии пика, полученного из C(fx, fy) или C*(fx, fy), отделяется пик, полученный из C(fx, fy) или C*(fx, fy).
Затем отделенный пик, полученный из C(fx, fy) или C*(fx, fy), сдвигается к началу координат в пространстве частот, и выполняется обратное преобразование Фурье. Посредством обратного преобразования Фурье получается информация комплексных чисел. С информацией комплексных чисел получается фаза ϕ(х, у), то есть дифференциальная фазовая информация.
Фиг. 5(A) является примером распределения интенсивности муара, когда используется π/2 фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 2(A)) и поглощательная решетка со структурой в форме решетки (фиг. 3(A)) или поглощательная решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 3(B)). Ссылочный знак 510 обозначает яркие участки муара, а 520 обозначает темные участки муара. Следует отметить, что распределение интенсивности муара формируется в наклонном направлении, даже когда используется π фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 2(A)) и поглощательная решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 3(B)).
Фиг. 5(B) является примером распределения интенсивности муара, когда используется π фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 2(A)) и поглощательная решетка со структурой в форме решетки (фиг. 3(A)). Ссылочный знак 530 обозначает яркие участки муара, а 540 обозначает темные участки муара. В этом случае распределение интенсивности муара формируется в вертикальном и горизонтальном направлениях.
Следует отметить, что распределение интенсивности муара формируется, даже когда используется фазовая решетка со структурой в форме решетки (фиг. 2(B)).
Фиг. 5(C) и 5(D) иллюстрируют спектры пространственных частот, получаемых посредством выполнения обработки для распределений интенсивности муара, показанного на фиг. 5(A) и 5(B) посредством быстрого преобразования Фурье (БПФ), которое является типом преобразования Фурье. Максимальная пространственная частота, которая может быть рассчитана посредством БПФ, равна 1/(2P), где P является периодом пикселя рентгеновского детектора 170.
Периферии двух пиков 570 и 571 и пиков 580 и 581 соответственно, в положениях, ортогональных друг к другу, извлекаются схожим образом с одномерной конфигурацией и сдвигаются к началу координат, чтобы выполнить обратное преобразование Фурье. Извлеченные области обозначаются пунктирными линиями. Посредством обратного преобразования Фурье получается информация комплексных чисел. С помощью информации комплексных чисел получается дифференциальная фазовая информация в двух ортогональных друг другу направлениях.
В материалах настоящей заявки на фиг. 5(C) дифференциальная фазовая информация получается в направлениях при ±45 градусах. На фиг. 5(D) дифференциальная фазовая информация получается в направлениях X и Y.
Во многих случаях дифференциальная фазовая информация, получаемая таким образом, складывается в (сворачивается в) область 2π. В частности, когда истинная фаза в любой точке на экране равна ϕ(х, у), а свернутая фаза равна ϕwrap(х, y), устанавливается следующая взаимосвязь:
φ wrap ( x , y ) = φ ( x , y ) + 2 π n ( x , y )
Figure 00000009
Figure 00000006
(7),
где n - целое число, которое определяется таким образом, что ϕwrap(х, y) находится в области с шириной 2π, например, области от 0 до 2π или области от -π до +π.
С помощью такой информации развертывание фазы выполняется для ϕ(х, y)wrap, чтобы восстановить первоначальное ϕ(х, y).
Фазовое изображение W(x, y) объекта может быть получено интегрированием восстановленного ϕ(х, y) выражением (8)
W(x ,y) = 1 s φ ( x , y ) d x
Figure 00000010
Figure 00000006
(8)
Когда используется одномерная решетка, направление интегрирования может являться только направлением, ортогональным к направлению линейки решетки. Поэтому чтобы правильно измерить фазовое изображение W(x, y), сторона рентгеновского детектора 170, параллельная направлению линейки, облучается рентгеновскими лучами, которые не пропускаются через объект 120, таким образом, что обнаруженный участок в фазовом изображении W(x, y) получается заранее. Когда используется двумерная решетка, интегрирование может быть выполнено в двух направлениях. Фазовое изображение W(x, y) может быть правильно измерено, даже если рентгеновский детектор 170 полностью облучается рентгеновскими лучами, пропускаемыми через объект 120.
(Этап обработки арифметическим блоком)
Относительно вышеприведенного описания на фиг. 6 будет проиллюстрирован пример последовательности операций обработки, выполняемой арифметическим блоком 180.
Сначала информация о распределении интенсивности муара получается из рентгеновского детектора 170 (S610).
Затем выполняется (S620) этап преобразования Фурье таким образом, что преобразование Фурье выполняется для информации о распределении интенсивности муара, получаемой на S610, и получается спектр пространственных частот.
Затем выполняется (S631) этап отделения вершин таким образом, что спектр, соответствующий несущей частоте (спектр, имеющий фазовую информацию) извлекается из пространства частот, полученного на S620. Сложно извлечь спектр, соответствующий несущей частоте, извлекается информация о периферийной области спектра.
Затем спектр, извлеченный на S631, сдвигается к началу координат в пространстве частот, и выполняется (S632) обратное преобразование Фурье. Соответственно может быть получена информация комплексных чисел, имеющая фазовую информацию.
Затем фаза ϕ(х, у), как дифференциальня фазовая информация, получается из информации комплексных чисел, полученной на S632 (S633). Следует отметить, что этапы S631, S632, и S633 могут вместе быть названы этапом (S630) восстановления фазы.
Затем, когда ϕ(х, у) сворачивается, выполняется развертывание, и получается (S640) истинная ϕ(х, у). Этап может быть назван этапом развертывания фазы. Если ϕ(х, у) не свернута, этап S640 может быть пропущен. В материалах настоящей заявки ϕ(х, у) является дифференциальной фазовой информацией (дифференциальным фазовым изображением).
Затем посредством интегрирования ϕ(х, у) получается (S650) фазовое изображение W(x, y).
С помощью вышеприведенной конфигурации может быть предоставлено устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений, которые могут получать фазовое изображение объекта посредством по меньшей мере одной операции формирования изображений. Дополнительно может быть предоставлена программа, которая побуждает компьютер выполнять вышеприведенные этапы.
(Второй вариант осуществления)
Устройство получения рентгеновских изображений согласно второму варианту осуществления настоящего изобретения будет описано со ссылкой на фиг. 7. В этом варианте осуществления увеличивается пространственное разрешение вместо спектра пространственных частот, описанного в первом варианте осуществления и показанного на фиг. 5(C).
Фиг. 7(B) иллюстрирует спектр пространственных частот, который описывается в этом варианте осуществления. Чтобы получить такой пространственный спектр, основной период двумерного муара, получаемого из распределения интенсивности интерференции и поглощательной решетки, определяется относительно периода пикселя рентгеновского детектора, чтобы достичь следующего отношения:
2 2
Figure 00000011
раз
Также ориентация муара настраивается, чтобы иметь наклон 45 градусов к решетке пикселей.
Фиг. 7(A) иллюстрирует распределение интенсивности муара на рентгеновском детекторе в этом состоянии. Ссылочный знак 710 обозначает принимающую свет поверхность рентгеновского детектора, 720 обозначает яркие участки муара, d обозначает период муара, а P обозначает период пикселя рентгеновского детектора. В этом варианте осуществления используются π/2 фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 2(A)) и поглощательная решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 3(B)). Однако может использоваться другая фазовая решетка и другая поглощательная решетка, пока распределение интенсивности муара, который должен быть сформирован, является эквивалентным.
Фиг. 7(B) - спектр пространственных частот, получаемый выполнением БПФ для распределения интенсивности муара, показанного на фиг. 7(A). Когда количество пикселей в решетке равно n для каждой из вертикальной и горизонтальной сторон, пространство спектра, получаемое посредством БПФ, является дискретными данными n×n. Максимальная частота, которая может быть выражена, равна 1/(2P), где P является периодом пикселя рентгеновского детектора 170.
В этом варианте осуществления основной период муара равен следующему:
2 2
Figure 00000012
Р
Таким образом, абсолютное значение несущей частоты с этой частотой равно следующему:
1/( 2 2
Figure 00000012
Р)
Также, так как ориентация муара имеет наклон в 45 градусов, пик 711 несущей формируется в следующем положении:
К о о р д и н а т ы  частот  ( f x , f y ) = ( ± 1 4 P , ± 1 4 P )
Figure 00000013
Пик 711 несущей - это пик, соответствующий несущей частоте распределения интенсивности муара.
Два соседних пика, включаемые в четыре пика 711 несущей, извлекаются в форме квадратной области, имеющей наклон в 45 градусов, каждая квадратная область, имеющая сторону, выраженную следующим образом:
1/( 2 2
Figure 00000012
Р)
После того как квадратная область извлечена, выполняется обработка, описанная в первом варианте осуществления. Соответственно фазовое изображение объекта может быть восстановлено. Если область спектра извлекается большой поверхностью, как возможно, пространственное разрешение может быть увеличено. Однако вдобавок к пику несущей частоты в пространстве спектра присутствует ненужный пик 721. Ненужный пик 721 - пик высокочастотного компонента и компонента DC, и расположен в положении, соответствующем сумме или разности координат пиков компонентов несущей частоты.
Если область извлечения слишком большая, может быть включена область вокруг ненужного пика 721. Правильное фазовое изображение больше не предоставляется из-за эффекта ненужного пика 721. Соответственно область спектра, которая должна быть извлечена, является областью 731 извлечения, расположенной на внутренней стороне по отношению к промежуточной линии между пиком несущей частоты и ненужным пиком 721.
Пространственная частота фазового изображения, которое должно быть восстановлено в этом варианте осуществления, равна 1/2 размера области 731 извлечения. Таким образом, как обнаружено на фиг. 7(B), максимальная частота в направлении решетки пикселей равна 1/(4P), а максимальная частота в направлении в 45 градусов определяется следующим образом:
1/( 4 2
Figure 00000014
Р)
Чтобы выразить минимальный период на основе пикселей, который может быть восстановлен с этим значением в качестве разрешения, минимальный период является обратным максимальной частоты. Таким образом, минимальный период в направлении решетки пикселей равен 4 пикселям, а минимальный период в направлении 45 градусов равен следующему:
4 2
Figure 00000014
пикселей ≈ 5,7 пикселей
По сравнению с областью извлечения на фиг. 5(C), область извлечения на фиг. 7(B) больше, чем область извлечения на фиг. 5(C), и, следовательно, пространственная частота, которая может быть восстановлена, больше. Таким образом, с помощью данного варианта осуществления пространственная частота может быть увеличена по сравнению с вышеприведенным вариантом осуществления.
(Третий вариант осуществления)
Устройство формирования рентгеновских изображений согласно третьему варианту осуществления настоящего изобретения будет описано со ссылкой на фиг. 8. В этом варианте осуществления увеличивается пространственное разрешение вместо спектра пространственных частот, описанного в первом варианте осуществления и показанного на фиг. 5(D). Фиг. 8(B) иллюстрирует спектр пространственных частот, который описывается в этом варианте осуществления. Чтобы получить такой пространственный спектр, основной период двумерного муара, получаемого из распределения интенсивности интерференции и поглощательной решетки, определяется как в три раза больший, чем период пикселя рентгеновского детектора, а ориентация муара выравнивается с решеткой пикселей.
Фиг. 8(A) иллюстрирует распределение интенсивности муара на рентгеновском детекторе в этом состоянии. Ссылочный знак 810 обозначает принимающую свет поверхность рентгеновского детектора, 82 обозначает яркие участки муара, d обозначает период муара, а P обозначает период пикселя рентгеновского детектора. В этом варианте осуществления используются π фазовая решетка со структурой в форме шахматной доски (фиг. 2(A)) и поглощательная решетка со структурой в форме решетки (фиг. 3(A)). Однако может использоваться другая фазовая решетка и другая поглощательная решетка, пока распределение интенсивности муара, который должен быть сформирован, является эквивалентным.
Фиг. 8(A) - спектр пространственных частот, получаемый выполнением БПФ для распределения интенсивности муара, показанного на фиг. 8(B). Так как основной период муара равен 3P в этом варианте осуществления, абсолютное значение несущей частоты равно 1/(3P). Таким образом, пик 811 несущей формируется в следующем положении:
К о о р д и н а т ы  частот  ( f x , f y ) = ( ± 1 3 P ,0 )  или  ( 0, ± 1 3 P )
Figure 00000015
Пик 811 несущей - это пик, соответствующий несущей частоте распределения интенсивности муара. Подобно второму варианту осуществления возникающие квадратные области, каждая имеющая сторону 1/(3P), извлекаются для двух соседних пиков, включаемых в четыре пика 811 несущей. После того как квадратные области извлечены, выполняется обработка, описанная в первом варианте осуществления. Соответственно фазовое изображение объекта может быть восстановлено.
Однако в данном варианте осуществления вдобавок к пику несущей частоты в пространстве спектра присутствует ненужный пик 821. Ненужный пик 821 - пик высокочастотного компонента и компонента DC и расположен в положении, соответствующем сумме или разности координат пиков компонентов несущей частоты. Соответственно область спектра, которая должна быть извлечена, является областью 831 извлечения, расположенной на внутренней стороне по отношению к промежуточной линии между пиком несущей частоты и ненужным пиком 821.
Пространственная частота фазового изображения, которое должно быть восстановлено в этом варианте осуществления, равна 1/2 размера области 831 извлечения. Таким образом, ссылаясь на фиг. 8(B), максимальная частота в направлении решетки пикселей равна 1/(6P), а максимальная частота в направлении в 45 градусов определяется следующим образом:
1/( 3 2
Figure 00000016
Р)
Чтобы выразить минимальный период на основе пикселей, восстановленный с вышеприведенным значением в качестве разрешения, минимальный период является обратным максимальной частоты. Таким образом, минимальный период в направлении решетки пикселей равен 6 пикселям, а минимальный период в направлении 45 градусов равен следующему:
3 2
Figure 00000016
пикселей ≈ 4,2 пикселей
Поэтому пространственное разрешение в направлении 45 градусов по отношению к решетке пикселей в этом варианте осуществления лучше, чем во втором варианте осуществления.
(Четвертый вариант осуществления)
Устройство формирования рентгеновских изображений согласно третьему варианту осуществления настоящего изобретения будет описано со ссылкой на фиг. 9. Устройство формирования рентгеновских изображений этого варианта осуществления - это устройство формирования рентгеновских изображений согласно любому из с первого по третий вариант осуществления, включающее устройство 900 перемещения объекта. Устройство 900 перемещения объекта может передвигать объект 920 вдоль оптической оси рентгеновских лучей.
Рентгеновский детектор имеет увеличение формирования изображений для объекта 920 L1/L2, где L1 - расстояние от рентгеновского источника 910 до поглощательной решетки 940, а L2 - расстояние от рентгеновского источника 910 до поглощательной решетки 940.
Таким образом, по мере того как объект 920 передвигается ближе к фазовой решетке 930, L2 становится больше, и получение изображений может быть выполнено с низким увеличением. Напротив, по мере того как объект 920 передвигается ближе к рентгеновскому источнику 910, L2 становится меньше, и получение изображений может быть выполнено с высоким увеличением.
Перечень условных обозначений
110 рентгеновский источник
111 рентгеновские лучи
120 объект
130 фазовая решетка
150 поглощательная решетка
151 пропускающий участок
152 заслоняющий свет участок
170 рентгеновский детектор
180 арифметический блок

Claims (12)

1. Устройство формирования рентгеновских изображений для формирования изображения объекта, содержащее:
фазовую решетку, которая пропускает рентгеновские лучи из источника рентгеновского излучения для формирования распределения интенсивности интерференции посредством эффекта Талбота;
поглощательную решетку, которая частично заслоняет распределение интенсивности интерференции, сформированное фазовой решеткой, для формирования муара;
детектор, который обнаруживает распределение интенсивности муара, сформированного поглощательной решеткой; и
арифметический блок, который вычисляет дифференциальное фазовое изображение объекта путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, обнаруженного детектором,
причем объект расположен между источником рентгеновского излучения и фазовой решеткой или фазовой решеткой и поглощательной решеткой.
2. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1,
в котором фазовая решетка включает в себя участки опережения по фазе и участки отставания по фазе,
в котором участки опережения по фазе и участки отставания по фазе расположены двумерно,
в котором поглощательная решетка включает в себя пропускающие участки и заслоняющие участки,
в котором пропускающие участки и заслоняющие участки расположены двумерно,
в котором детектор обнаруживает муар, имеющий периоды в двух направлениях, и
в котором арифметический блок вычисляет дифференциальное фазовое изображение в двух направлениях путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара.
3. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором арифметический блок вычисляет дифференциальное фазовое изображение в двух направлениях путем выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, полученного в результате одного обнаружения детектором.
4. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1, в котором арифметический блок интегрирует дифференциальное фазовое изображение и получает фазовое изображение.
5. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1, в котором арифметический блок развертывает дифференциальное фазовое изображение.
6. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором участки опережения по фазе и участки отставания по фазе организованы в структуру в форме шахматной доски.
7. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2, в котором фазовая решетка конфигурирована таким образом, что разность между фазой рентгеновских лучей, пропущенных через участки опережения по фазе, и фазой рентгеновских лучей, пропущенных через участки отставания по фазе, равна π/2 или π.
8. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2,
в котором фазовая решетка, поглощательная решетка и детектор настроены таким образом, что в пространстве частот муара, полученного посредством выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, пик формируется в положении, выраженном следующим образом:
К о о р д и н а т ы  частот  ( f x , f y ) = ( ± 1 4 P , ± 1 4 P )
Figure 00000017

где Р период пикселя детектора.
9. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.8,
в котором поглощательная решетка обеспечивает период муара, выраженный следующим образом:
Figure 00000018

при этом направление периода муара установлено под 45 градусов к решетке пикселей детектора, и
в котором арифметический блок осуществляет этап выполнения преобразования Фурье для результата обнаружения, извлечения двух квадратных областей из пространства частот полученного муара для отделения пика от спектра пространственных частот распределения интенсивности муара, и использования двух квадратных областей таким образом, что получается дифференциальное фазовое изображение объекта, причем каждая из квадратных областей имеет сторону, выраженную следующим образом:
Figure 00000019

причем квадратные области имеют наклон в 45 градусов к направлению решетки пикселей детектора.
10. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.2,
в котором фазовая решетка, поглощательная решетка и детектор настроены таким образом, что в пространстве частот муара, полученного посредством выполнения преобразования Фурье для распределения интенсивности муара, пик формируется в положении, выраженном следующим образом:
К о о р д и н а т ы  частот  ( f x , f y ) = ( ± 1 3 P ,0 )  или  ( 0, ± 1 3 P ) ,
Figure 00000020

где Р период пикселя детектора.
11. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.10,
в котором поглощательная решетка выполнена таким образом, что период муара равен 3Р, а направление периода муара выровнено с решеткой пикселей детектора, и
в котором арифметический блок осуществляет этап выполнения преобразования Фурье для результата обнаружения, извлечения двух квадратных областей из пространства частот полученного муара для отделения пика от спектра пространственных частот распределения интенсивности муара и использования двух квадратных областей таким образом, что получается дифференциальное фазовое изображение объекта, причем каждая из квадратных областей возникает по отношению к направлению решетки пикселей детектора и имеет сторону 1/(3Р).
12. Устройство формирования рентгеновских изображений по п.1, дополнительно содержащее устройство перемещения объекта, которое может перемещать объект в направлении оптической оси рентгеновских лучей.
RU2012137875/28A 2008-10-29 2012-09-05 Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений RU2519663C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-278425 2008-10-29
JP2008278425 2008-10-29

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011121670A Division RU2472137C1 (ru) 2008-10-29 2009-10-27 Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012137875A RU2012137875A (ru) 2014-03-27
RU2519663C2 true RU2519663C2 (ru) 2014-06-20

Family

ID=41664696

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012137875/28A RU2519663C2 (ru) 2008-10-29 2012-09-05 Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений

Country Status (8)

Country Link
US (5) US8520799B2 (ru)
EP (2) EP2343537B1 (ru)
JP (4) JP5174180B2 (ru)
KR (1) KR101258927B1 (ru)
CN (3) CN102197303A (ru)
DE (1) DE112009002606B4 (ru)
RU (1) RU2519663C2 (ru)
WO (2) WO2010050483A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2708816C2 (ru) * 2014-11-24 2019-12-11 Конинклейке Филипс Н.В. Детектор и система визуализации для рентгеновской фазово-контрастной визуализации томосинтеза

Families Citing this family (98)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5339975B2 (ja) * 2008-03-13 2013-11-13 キヤノン株式会社 X線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたx線位相コントラスト像の撮像装置、x線コンピューター断層撮影システム
CN102197303A (zh) * 2008-10-29 2011-09-21 佳能株式会社 X射线成像装置和x射线成像方法
CN101943668B (zh) * 2009-07-07 2013-03-27 清华大学 X射线暗场成像系统和方法
JP5586899B2 (ja) * 2009-08-26 2014-09-10 キヤノン株式会社 X線用位相格子及びその製造方法
US8532252B2 (en) * 2010-01-27 2013-09-10 Canon Kabushiki Kaisha X-ray shield grating, manufacturing method therefor, and X-ray imaging apparatus
JP5631013B2 (ja) * 2010-01-28 2014-11-26 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP5725870B2 (ja) * 2010-02-22 2015-05-27 キヤノン株式会社 X線撮像装置およびx線撮像方法
JP5796976B2 (ja) * 2010-05-27 2015-10-21 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP5731214B2 (ja) 2010-08-19 2015-06-10 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム及びその画像処理方法
WO2012029048A1 (en) * 2010-09-03 2012-03-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Regularized phase retrieval in differential phase-contrast imaging
WO2012038857A1 (en) * 2010-09-20 2012-03-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Phase gradient unwrapping in differential phase contrast imaging
JP5935693B2 (ja) * 2010-09-29 2016-06-15 コニカミノルタ株式会社 医用画像表示方法
JP2012103237A (ja) * 2010-10-14 2012-05-31 Canon Inc 撮像装置
CN103189739B (zh) * 2010-10-19 2015-12-02 皇家飞利浦电子股份有限公司 微分相位对比成像
EP2630476B1 (en) * 2010-10-19 2017-12-13 Koninklijke Philips N.V. Differential phase-contrast imaging
JP5875280B2 (ja) * 2010-10-20 2016-03-02 キヤノン株式会社 トールボット干渉を用いた撮像装置および撮像装置の調整方法
WO2012056724A1 (ja) * 2010-10-29 2012-05-03 富士フイルム株式会社 放射線位相画像撮影装置
JP2012095865A (ja) * 2010-11-02 2012-05-24 Fujifilm Corp 放射線撮影装置、放射線撮影システム
JP2012143553A (ja) * 2010-12-24 2012-08-02 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器
JP5777360B2 (ja) * 2011-03-14 2015-09-09 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP5915645B2 (ja) * 2011-03-23 2016-05-11 コニカミノルタ株式会社 医用画像表示システム
JP2012200567A (ja) * 2011-03-28 2012-10-22 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
JP2014113168A (ja) * 2011-03-29 2014-06-26 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
WO2012144317A1 (ja) 2011-04-20 2012-10-26 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び画像処理方法
JP2014132913A (ja) * 2011-04-25 2014-07-24 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
JP2012236005A (ja) * 2011-04-26 2012-12-06 Fujifilm Corp 放射線撮影装置
JP5787597B2 (ja) * 2011-04-26 2015-09-30 キヤノン株式会社 撮像装置
JP2014155508A (ja) * 2011-06-08 2014-08-28 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP2014155509A (ja) * 2011-06-10 2014-08-28 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP5885405B2 (ja) * 2011-06-13 2016-03-15 キヤノン株式会社 撮像装置、干渉縞解析プログラム及び干渉縞解析方法
JP2013024731A (ja) 2011-07-21 2013-02-04 Canon Inc 放射線検出装置
JP2013050441A (ja) 2011-08-03 2013-03-14 Canon Inc 波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにx線撮像装置
JP2014217397A (ja) * 2011-08-22 2014-11-20 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及びアンラップ処理方法
JP2014223091A (ja) * 2011-09-12 2014-12-04 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び画像処理方法
JP2014238265A (ja) * 2011-09-30 2014-12-18 富士フイルム株式会社 放射線画像検出器及びその製造方法、並びに放射線画像検出器を用いた放射線撮影システム
JP5475737B2 (ja) * 2011-10-04 2014-04-16 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び画像処理方法
US20130108015A1 (en) * 2011-10-28 2013-05-02 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique S.A - Recherche Et Developpement X-ray interferometer
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
JP5868132B2 (ja) * 2011-11-14 2016-02-24 キヤノン株式会社 撮像装置および画像処理方法
WO2013111050A1 (en) * 2012-01-24 2013-08-01 Koninklijke Philips N.V. Multi-directional phase contrast x-ray imaging
WO2013151342A1 (ko) * 2012-04-05 2013-10-10 단국대학교 산학협력단 방사선 위상차 영상 장치
JP2014006247A (ja) * 2012-05-28 2014-01-16 Canon Inc 被検体情報取得装置、被検体情報取得方法及びプログラム
AU2012258412A1 (en) * 2012-11-30 2014-06-19 Canon Kabushiki Kaisha Combining differential images by inverse Riesz transformation
JP6116222B2 (ja) * 2012-12-13 2017-04-19 キヤノン株式会社 演算装置、プログラム及び撮像システム
JP6079204B2 (ja) * 2012-12-18 2017-02-15 コニカミノルタ株式会社 医用画像システム
US10096098B2 (en) * 2013-12-30 2018-10-09 Carestream Health, Inc. Phase retrieval from differential phase contrast imaging
US9357975B2 (en) 2013-12-30 2016-06-07 Carestream Health, Inc. Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
US10578563B2 (en) 2012-12-21 2020-03-03 Carestream Health, Inc. Phase contrast imaging computed tomography scanner
AU2012268876A1 (en) * 2012-12-24 2014-07-10 Canon Kabushiki Kaisha Non-linear solution for 2D phase shifting
US9364191B2 (en) * 2013-02-11 2016-06-14 University Of Rochester Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
JP2014171799A (ja) * 2013-03-12 2014-09-22 Canon Inc X線撮像装置及びx線撮像システム
KR20140111818A (ko) 2013-03-12 2014-09-22 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
JP2014178130A (ja) * 2013-03-13 2014-09-25 Canon Inc X線撮像装置及びx線撮像システム
JP6260615B2 (ja) 2013-04-08 2018-01-17 コニカミノルタ株式会社 診断提供用医用画像システム及び一般撮影用の診断提供用医用画像システムにタルボ撮影装置系を導入する方法
EP2827339A1 (en) 2013-07-16 2015-01-21 Canon Kabushiki Kaisha Source grating, interferometer, and object information acquisition system
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
DE102013221818A1 (de) * 2013-10-28 2015-04-30 Siemens Aktiengesellschaft Bildgebendes System und Verfahren zur Bildgebung
KR101668219B1 (ko) * 2013-10-31 2016-10-20 도호쿠 다이가쿠 비파괴 검사 장치
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
JP6396472B2 (ja) 2013-12-17 2018-09-26 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 走査微分位相コントラストシステムのための位相回復
AU2013273822A1 (en) * 2013-12-23 2015-07-09 Canon Kabushiki Kaisha Modulation guided phase unwrapping
WO2015122542A1 (en) * 2014-02-14 2015-08-20 Canon Kabushiki Kaisha X-ray talbot interferometer and x-ray talbot interferometer system
JP2015166676A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 キヤノン株式会社 X線撮像システム
JP2015190776A (ja) 2014-03-27 2015-11-02 キヤノン株式会社 画像処理装置および撮像システム
JP6362914B2 (ja) * 2014-04-30 2018-07-25 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線診断装置及び画像処理装置
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
CN104111120B (zh) * 2014-07-25 2017-05-31 中国科学院上海光学精密机械研究所 基于朗奇剪切干涉仪的相位提取方法
JP2016032573A (ja) * 2014-07-31 2016-03-10 キヤノン株式会社 トールボット干渉計、トールボット干渉システム、及び縞走査法
US10117629B2 (en) 2014-12-03 2018-11-06 Board Of Supervisors Of Louisiana State University And Agricultural And Mechanical College High energy grating techniques
KR101636438B1 (ko) * 2015-03-18 2016-07-05 제이피아이헬스케어 주식회사 단일 그리드를 이용한 pci 기반의 엑스선 영상 생성 방법 및 그 장치
JP6604772B2 (ja) * 2015-08-05 2019-11-13 キヤノン株式会社 X線トールボット干渉計
JP6608246B2 (ja) * 2015-10-30 2019-11-20 キヤノン株式会社 X線回折格子及びx線トールボット干渉計
DE102015226571B4 (de) * 2015-12-22 2019-10-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Wellenfrontanalyse
JP6774188B2 (ja) 2016-02-23 2020-10-21 キヤノン株式会社 シンチレータプレート、放射線検出器及び放射線計測システム
JP6613988B2 (ja) * 2016-03-30 2019-12-04 コニカミノルタ株式会社 放射線撮影システム
DE102016206559B3 (de) * 2016-04-19 2017-06-08 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Korrektur eines Röntgenbilds auf Effekte eines Streustrahlenrasters, Röntgeneinrichtung, Computerprogramm und elektronisch lesbarer Datenträger
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
WO2018175570A1 (en) 2017-03-22 2018-09-27 Sigray, Inc. Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
CN109087348B (zh) * 2017-06-14 2022-04-29 北京航空航天大学 一种基于自适应区域投射的单像素成像方法
JP6838531B2 (ja) * 2017-09-06 2021-03-03 株式会社島津製作所 放射線位相差撮影装置
JP6835242B2 (ja) * 2017-10-11 2021-02-24 株式会社島津製作所 X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法
JP7020169B2 (ja) 2018-02-23 2022-02-16 コニカミノルタ株式会社 X線撮影システム
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
US10845491B2 (en) 2018-06-04 2020-11-24 Sigray, Inc. Energy-resolving x-ray detection system
JP7347827B2 (ja) * 2018-06-12 2023-09-20 国立大学法人 筑波大学 位相画像撮影方法とそれを利用した位相画像撮影装置
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
DE112019004433T5 (de) 2018-09-04 2021-05-20 Sigray, Inc. System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung
CN112823280A (zh) 2018-09-07 2021-05-18 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
DE102019111463A1 (de) * 2019-05-03 2020-11-05 Wipotec Gmbh Röntgenstrahlungsdetektorvorrichtung und Vorrichtung zur Röntgeninspektion von Produkten, insbesondere von Lebensmitteln
WO2021046059A1 (en) 2019-09-03 2021-03-11 Sigray, Inc. System and method for computed laminography x-ray fluorescence imaging
CN111089871B (zh) * 2019-12-12 2022-12-09 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 X射线光栅相衬图像的相位信息分离方法及系统、储存介质、设备
US11175243B1 (en) 2020-02-06 2021-11-16 Sigray, Inc. X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
JP7395775B2 (ja) 2020-05-18 2023-12-11 シグレイ、インコーポレイテッド 結晶解析装置及び複数の検出器素子を使用するx線吸収分光法のためのシステム及び方法
JP2023542674A (ja) 2020-09-17 2023-10-11 シグレイ、インコーポレイテッド X線を用いた深さ分解計測および分析のためのシステムおよび方法
WO2022126071A1 (en) 2020-12-07 2022-06-16 Sigray, Inc. High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source
US11885755B2 (en) 2022-05-02 2024-01-30 Sigray, Inc. X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer
CN117475172B (zh) * 2023-12-28 2024-03-26 湖北工业大学 一种基于深度学习的高噪声环境相位图解包裹方法和系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1673933A1 (ru) * 1988-12-28 1991-08-30 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Рентгеноинтерферометрический способ исследовани кристаллов
SU1748030A1 (ru) * 1990-06-07 1992-07-15 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Способ получени рентгеновских проекционных топограмм
JP2000088772A (ja) * 1998-09-11 2000-03-31 Hitachi Ltd X線撮像装置
WO2004058070A1 (ja) * 2002-12-26 2004-07-15 Atsushi Momose X線撮像装置および撮像方法
JP2008026098A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Hitachi Ltd X線撮像装置及び撮像方法
JP2008200360A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線撮影システム

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5424743A (en) 1994-06-01 1995-06-13 U.S. Department Of Energy 2-D weighted least-squares phase unwrapping
US5812629A (en) 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
JP4015394B2 (ja) * 2001-09-19 2007-11-28 株式会社日立製作所 X線撮像法
US7268891B2 (en) * 2003-01-15 2007-09-11 Asml Holding N.V. Transmission shear grating in checkerboard configuration for EUV wavefront sensor
JP4704675B2 (ja) * 2003-11-28 2011-06-15 株式会社日立製作所 X線撮像装置及び撮像方法
JP2006263180A (ja) * 2005-03-24 2006-10-05 Fuji Photo Film Co Ltd 画像処理装置およびこれを用いた放射線撮影システム
EP1731099A1 (en) * 2005-06-06 2006-12-13 Paul Scherrer Institut Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source
DE102006063048B3 (de) * 2006-02-01 2018-03-29 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
DE102006037257B4 (de) 2006-02-01 2017-06-01 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren und Messanordnung zur zerstörungsfreien Analyse eines Untersuchungsobjektes mit Röntgenstrahlung
CN101011256A (zh) * 2006-02-01 2007-08-08 西门子公司 通过x射线无破坏地分析检查对象的方法和测量装置
JP2008197593A (ja) * 2007-02-16 2008-08-28 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線用透過型回折格子、x線タルボ干渉計およびx線撮像装置
US20100080436A1 (en) * 2007-02-21 2010-04-01 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Radiographic imaging device and radiographic imaging system
JP2008200359A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線撮影システム
JP5339975B2 (ja) * 2008-03-13 2013-11-13 キヤノン株式会社 X線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたx線位相コントラスト像の撮像装置、x線コンピューター断層撮影システム
CN102197303A (zh) * 2008-10-29 2011-09-21 佳能株式会社 X射线成像装置和x射线成像方法
JP2010253157A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線干渉計撮影装置及びx線干渉計撮影方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1673933A1 (ru) * 1988-12-28 1991-08-30 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Рентгеноинтерферометрический способ исследовани кристаллов
SU1748030A1 (ru) * 1990-06-07 1992-07-15 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Способ получени рентгеновских проекционных топограмм
JP2000088772A (ja) * 1998-09-11 2000-03-31 Hitachi Ltd X線撮像装置
WO2004058070A1 (ja) * 2002-12-26 2004-07-15 Atsushi Momose X線撮像装置および撮像方法
JP2008026098A (ja) * 2006-07-20 2008-02-07 Hitachi Ltd X線撮像装置及び撮像方法
JP2008200360A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Konica Minolta Medical & Graphic Inc X線撮影システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2708816C2 (ru) * 2014-11-24 2019-12-11 Конинклейке Филипс Н.В. Детектор и система визуализации для рентгеновской фазово-контрастной визуализации томосинтеза

Also Published As

Publication number Publication date
DE112009002606T5 (de) 2012-08-02
EP2343537B1 (en) 2019-04-10
US8340243B2 (en) 2012-12-25
KR101258927B1 (ko) 2013-04-29
JP2013106962A (ja) 2013-06-06
EP2343537A4 (en) 2012-05-02
CN103876761A (zh) 2014-06-25
US20130301795A1 (en) 2013-11-14
EP2343537A1 (en) 2011-07-13
JP5595473B2 (ja) 2014-09-24
WO2010050483A1 (ja) 2010-05-06
JP5456032B2 (ja) 2014-03-26
US20130070893A1 (en) 2013-03-21
WO2010050611A1 (en) 2010-05-06
CN102197303A (zh) 2011-09-21
US8681934B2 (en) 2014-03-25
US20110158493A1 (en) 2011-06-30
US8009797B2 (en) 2011-08-30
CN102197302B (zh) 2013-06-26
KR20110079742A (ko) 2011-07-07
US8520799B2 (en) 2013-08-27
RU2012137875A (ru) 2014-03-27
JP2012507690A (ja) 2012-03-29
US20110280368A1 (en) 2011-11-17
US20100290590A1 (en) 2010-11-18
JP5174180B2 (ja) 2013-04-03
DE112009002606B4 (de) 2024-02-01
CN102197302A (zh) 2011-09-21
EP2342551A1 (en) 2011-07-13
CN103876761B (zh) 2016-04-27
JP2014205079A (ja) 2014-10-30
US8537966B2 (en) 2013-09-17
JPWO2010050483A1 (ja) 2012-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2519663C2 (ru) Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений
US10058300B2 (en) Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
EP2509503B1 (en) Apparatus for phase-contrast imaging comprising a displaceable x-ray detector element and method
JP5777360B2 (ja) X線撮像装置
JP5631013B2 (ja) X線撮像装置
JP2015519091A (ja) 医療用放射線撮像のためのハイブリッドpciシステム
CN107850680A (zh) 用于相位对比和/或暗场成像的x射线探测器
JP2012005820A (ja) X線撮像装置
Tahir et al. Mesh-based phase contrast Fourier transform imaging
US20160161427A1 (en) High energy grating techniques
EP3344979B1 (en) Dual phase grating interferometer for x-ray phase contrast imaging
JP6688795B2 (ja) X線位相コントラストトモシンセシス撮像に対する検出器及び撮像システム
RU2472137C1 (ru) Устройство формирования рентгеновских изображений и способ формирования рентгеновских изображений
JP2012187288A (ja) X線撮像装置
JP2013042983A (ja) トモシンセシス撮像装置及びトモシンセシス画像の撮像方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20161028