JP2012507690A5 - - Google Patents

Claims (12)

1. 被検知物を透過した放射線で形成される干渉縞の強度情報から、２πの領域間にラップされた前記被検知物の第１の位相情報を取得する工程と、
   前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を取得する工程と、
   前記吸収強度勾配に関する情報に応じて重み付け関数を取得する工程と、
   前記重み付け関数を用いて、前記第１の位相情報をアンラップすることにより第２の位相情報を取得する工程と、
   を有することを特徴とする被検体の位相情報を取得する方法。
2. 前記第２の位相情報を取得する工程は、最小二乗法を実行する工程を含むこと
   を特徴とする請求項１に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
3. 前記第１の位相情報を取得する工程は、
   前記干渉縞の強度情報をフーリエ変換することでフーリエ像を取得し、前記フーリエ像から位相に関する情報を切り取る工程を含み、
   かつ、
   前記吸収強度勾配に関する情報を取得する工程は、
   前記フーリエ像から吸収に関する情報を切り取る工程を含むこと
   を特徴とする請求項１または２に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
4. 前記位相に関する情報及び前記吸収に関する情報は、
   前記フーリエ像のうち同一のキャリア周波数に対応するピークから取得することを特徴とする請求項３に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
5. 前記吸収強度勾配に関する情報は、吸収強度勾配の分布であること
   を特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
6. 前記重み付け関数は、前記吸収強度勾配の分布を複数のピクセルに分割し、
   吸収強度勾配の絶対値が所定値より大きい領域を有する第１のピクセルと、
   所定値より小さい領域からなる第２のピクセルに、
   異なる重み付けを付与する関数であること
   を特徴とする請求項５に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
7. 前記重み付け関数は、前記第１のピクセルには０を、
   前記第２のピクセルには１を付与する関数であることを特徴とする請求項６に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
8. 前記放射線はＸ線であることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載の被検体の位相情報を取得する方法。
9. 放射線発生部で発生した放射線の位相をシフトさせる位相格子と、
   前記位相格子及び被検知物を透過した放射線の一部を吸収する吸収格子と、
   前記吸収格子を透過した放射線の干渉縞の強度情報を検出する検出部と、
   前記検出部によって検出された前記干渉縞の強度情報から前記被検知物の位相情報を取得する演算部と、
   を有する放射線撮像装置であって、
   前記演算部は、
   前記干渉縞の強度情報から、２πの領域間にラップされた前記被検知物の第１の位相情報を取得する工程と、
   前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を取得する工程と、
   前記吸収強度勾配に関する情報における勾配の絶対値に応じて重み付け関数を取得する工程と、
   前記重み付け関数を用いて、前記第１の位相情報をアンラップすることにより第２の位相情報を取得する工程とを含む演算を行うことを特徴とする放射線撮像装置。
10. 前記位相格子は、
    前記被検知物と前記吸収格子との間又は前記放射線発生部と前記被検知物との間に配されていることを特徴とする請求項９に記載の放射線撮像装置。
11. 被検知物を透過した放射線で形成される干渉縞の強度情報から、２πの領域間にラップされた前記被検知物の第１の位相情報を取得する工程と、
    前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を取得する工程と、
    前記吸収強度勾配に関する情報に応じて重み付け関数を取得する工程と、
    前記重み付け関数を用いて、前記第１の位相情報をアンラップすることにより第２の位相情報を取得する工程と、
    をＣＰＵに実行させることを特徴とする解析プログラム。
12. 被検知物を透過した放射線で形成される干渉縞の強度情報から、前記被検知物の第１の位相情報を取得する工程と、
    前記干渉縞の強度情報から、前記被検知物の吸収強度勾配に関する情報を取得する工程と、
    前記吸収強度勾配に関する情報に応じて重み付け関数を取得する工程と、
    前記重み付け関数と前記第１の位相情報を用いて第２の位相情報を取得する工程と、を有し、
    前記第１の位相情報の最大値と最小値との差は２πよりも小さく、
    前記第２の位相情報の最大値と最小値との差は２π以上であることを特徴とする被検体の位相情報を取得する方法。