JP2016501630A5 - - Google Patents
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Claims (5)
- デジタル放射線撮影(DR)位相コントラスト撮像(PCI)システムであって、
放射線撮像用のX線源と、
線源格子G0を備えるビーム成形アセンブリと、
位相格子G1および、
分析器格子G2を備える、X線格子干渉計と、を備え、
前記ビーム成形アセンブリ、前記X線格子干渉計、および前記検出器の位置の単一配置が、異なる相対ビームエネルギーで取得された少なくとも2つの画像を提供するように構成される、システム。 - 前記少なくとも2つの画像が、エネルギー分解検出器および単一のX線露光を用いて取得され、対象物に対する前記システムの単一パスによって生成された画像データセットが、吸収コントラスト画像、微分位相コントラスト画像、位相シフトコントラスト画像、および暗視野画像のうちの少なくとも1つを含む、前記対象物の複数の画像を構築するために使用される、請求項1に記載のシステム。
- 方法であって、
放射線撮像用のX線生成器を提供することと、
ビーム制限装置および線源格子G0を備えるビーム成形アセンブリを提供することと、
位相格子G1および分析器格子G2を備えるX線格子干渉計を提供することと、
前記位相格子G1から所定の距離で前記位相格子G1によって生成された干渉パターンのピッチに対して、前記分析器格子G2のピッチを相殺することと、
前記X線格子干渉計およびエネルギー分解検出器を1回走査することにより、異なる相対ビームエネルギーで取得された少なくとも2つの画像を生成することと、を含み、前記ビーム成形アセンブリ、前記X線格子干渉計、および前記検出器の位置の配置が前記走査中に変化しない、方法。 - デジタル放射線撮影(DR)位相コントラスト撮像(PCI)システムであって、
放射線撮像用のX線源と、
線源格子G0を備えるビーム成形アセンブリと、
X線格子干渉計であって、
位相格子G1、および
分析器格子G2を備える、X線格子干渉計と、
領域X線検出器と、を備え、前記ビーム成形アセンブリおよびX線格子干渉計が、前記X線源の異なる平均エネルギーのために調整可能である、システム。 - 単一のG0格子および単一のG2格子が、複数の選択可能なG1格子と共に使用され、前記複数のG1格子が、同じ材料の単一の均一な厚さの構成要素内に実装され、前記複数のG1格子が、前記X線源の前記異なる平均エネルギーに対応する異なるそれぞれの高さを有する選択可能な部分を含み、前記線源格子G0と選択された位相格子G1との間のL距離、または前記選択された位相G1格子と前記分析器G2格子との間のd距離が、前記G1格子の各々について変化する、請求項4に記載のシステム。
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