JP2016501630A5 - - Google Patents
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Claims (5)
- デジタル放射線撮影（ＤＲ）位相コントラスト撮像（ＰＣＩ）システムであって、
放射線撮像用のＸ線源と、
線源格子Ｇ０を備えるビーム成形アセンブリと、
位相格子Ｇ１および、
分析器格子Ｇ２を備える、Ｘ線格子干渉計と、を備え、
前記ビーム成形アセンブリ、前記Ｘ線格子干渉計、および前記検出器の位置の単一配置が、異なる相対ビームエネルギーで取得された少なくとも２つの画像を提供するように構成される、システム。 - 前記少なくとも２つの画像が、エネルギー分解検出器および単一のＸ線露光を用いて取得され、対象物に対する前記システムの単一パスによって生成された画像データセットが、吸収コントラスト画像、微分位相コントラスト画像、位相シフトコントラスト画像、および暗視野画像のうちの少なくとも１つを含む、前記対象物の複数の画像を構築するために使用される、請求項１に記載のシステム。
- 方法であって、
放射線撮像用のＸ線生成器を提供することと、
ビーム制限装置および線源格子Ｇ０を備えるビーム成形アセンブリを提供することと、
位相格子Ｇ１および分析器格子Ｇ２を備えるＸ線格子干渉計を提供することと、
前記位相格子Ｇ１から所定の距離で前記位相格子Ｇ１によって生成された干渉パターンのピッチに対して、前記分析器格子Ｇ２のピッチを相殺することと、
前記Ｘ線格子干渉計およびエネルギー分解検出器を１回走査することにより、異なる相対ビームエネルギーで取得された少なくとも２つの画像を生成することと、を含み、前記ビーム成形アセンブリ、前記Ｘ線格子干渉計、および前記検出器の位置の配置が前記走査中に変化しない、方法。 - デジタル放射線撮影（ＤＲ）位相コントラスト撮像（ＰＣＩ）システムであって、
放射線撮像用のＸ線源と、
線源格子Ｇ０を備えるビーム成形アセンブリと、
Ｘ線格子干渉計であって、
位相格子Ｇ１、および
分析器格子Ｇ２を備える、Ｘ線格子干渉計と、
領域Ｘ線検出器と、を備え、前記ビーム成形アセンブリおよびＸ線格子干渉計が、前記Ｘ線源の異なる平均エネルギーのために調整可能である、システム。 - 単一のＧ０格子および単一のＧ２格子が、複数の選択可能なＧ１格子と共に使用され、前記複数のＧ１格子が、同じ材料の単一の均一な厚さの構成要素内に実装され、前記複数のＧ１格子が、前記Ｘ線源の前記異なる平均エネルギーに対応する異なるそれぞれの高さを有する選択可能な部分を含み、前記線源格子Ｇ０と選択された位相格子Ｇ１との間のＬ距離、または前記選択された位相Ｇ１格子と前記分析器Ｇ２格子との間のｄ距離が、前記Ｇ１格子の各々について変化する、請求項４に記載のシステム。
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