JP7033779B2 - 放射線画像生成装置 - Google Patents

放射線画像生成装置 Download PDF

Info

Publication number
JP7033779B2
JP7033779B2 JP2017230354A JP2017230354A JP7033779B2 JP 7033779 B2 JP7033779 B2 JP 7033779B2 JP 2017230354 A JP2017230354 A JP 2017230354A JP 2017230354 A JP2017230354 A JP 2017230354A JP 7033779 B2 JP7033779 B2 JP 7033779B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
image
sample
intensity distribution
pixel value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2017230354A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019100800A (ja
Inventor
敦 百生
将史 影山
雅弘 野々口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tohoku University NUC
Original Assignee
Tohoku University NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku University NUC filed Critical Tohoku University NUC
Priority to JP2017230354A priority Critical patent/JP7033779B2/ja
Priority to DE102018220042.4A priority patent/DE102018220042A1/de
Publication of JP2019100800A publication Critical patent/JP2019100800A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7033779B2 publication Critical patent/JP7033779B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/06Diaphragms
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/484Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/401Imaging image processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40Imaging
    • G01N2223/405Imaging mapping of a material property

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

本発明は、試料(被写体)を透過した放射線、例えばX線における波としての性質を利用して試料の内部構造を高感度で観察するための技術に関するものである。
透過力が高い放射線、例えばX線は、物体内部を透視するためのプローブとして、医用画像診断、非破壊検査、セキュリティチェックなどにおいて、広く利用されている。X線透視画像のコントラストは、X線減衰率の違いによっており、X線を強く吸収する物体はX線の影として描出される。X線吸収能は、原子番号が大きい元素を多く含むほど強くなる。逆に原子番号が小さい元素から成る物質についてはコントラストがつきにくいことも指摘でき、これが従来のX線透視画像の原理的欠点でもある。したがって、生体軟部組織や有機材料などに対しては、十分な感度を得ることができない。
一方、X線における波としての性質を利用すれば、一般的な従来のX線透視画像に比べて最高で約3桁の高感度化を実現できる。以降、これをX線位相コントラスト法と称する。この技術を、X線をあまり吸収しない軽元素からなる物質(生体軟部組織や有機材料など)の観察に適用すれば、従来法では難しかった検査が可能となるため、その実用化が期待される。
X線位相コントラスト法を利用した高感度撮像法を実現するアプローチとして、透過格子を用いる方法が知られている(下記特許文献1及び2参照)。これは、X線が照射されている透過格子がX線検出器上で形成する強度パターンが、同じX線で照射されている被写体における僅かなX線の屈折や散乱によって変化する現象を通じ、被写体の構造を表すコントラストを得る方法である。この方法では、従来の透視画像に対応する吸収画像と、被写体によるX線の屈折の大小を示す屈折画像と、被写体による散乱の大小を示す散乱画像とを一般的に生成することができる。使用する透過格子の格子周期が微細な場合は、格子による干渉効果(言い換えれば回折効果)による分数Talbot効果を考慮して、上記強度パターンが強く現れる位置に検出器が配置される。また、上記強度パターンが直接検出器で解像できないほど細かくなる場合は、その位置にもう一枚の透過格子を配置し、モアレを生成させることにより強度パターンの変化を可視化できる。なお、以降、最初の透過格子をG1、第二の透過格子をG2と称する。G1とG2からなる構成はTalbot干渉計と呼ばれる。
Talbot干渉計を動作させるには、G1に照射する放射線の空間的可干渉距離が、G1周期と同等かそれ以上であることが望ましい。これは、放射線の波が揃っていることを要求するものであり、たとえばX線では、シンクロトロン放射光やマイクロフォーカスX線源を使うことによりこの条件を満たすことができる。特に、マイクロフォーカスX線源は実験室で使用できる線源であるので、実用性を考える際には特筆される点である。しかし、一般的にマイクロフォーカスX線源の出力は限られているので、通常数分から数十分の露光時間が必要となる。一般的に使われているX線源はマイクロフォーカスX線源よりハイパワーであるが、そもそもX線Talbot干渉計を動作させるために必要な空間的可干渉性が望めない。
そこで、第3の格子(以降、G0)を一般的なX線源の近傍に配置するTalbot-Lau干渉計が知られている。G0はマルチスリットとして働く。G0における一つのスリットに注目する。ここを通るX線は、下流のTalbot干渉計(G1とG2)を機能させる。すなわち、G0は、仮想的にマイクロフォーカスX線源の配列を作成するものであると解釈できる。G0において、上で注目したスリットの隣のスリットを通るX線に注目する。これもやはり下流のTalbot干渉計を動作させるが、G1による強度パターンがG2位置で、ちょうど1周期(厳密には1周期の整数倍)だけずれるようにG0の周期を調整できる。こうしてやれば、干渉性は殆どないが高出力の一般的なX線源を使いつつ、Talbot干渉計によりモアレ画像を生成できるので、位相コントラスト撮影における露光時間を短縮できる。したがって、Talbot-Lau干渉計は、複数のTalbot干渉計の重ね合わせと把握することができ、G0は、線源の一部と把握することができる。また、G0とG1のみを線源近くに配置し、G2は省略し、拡大された上記強度パターンを直接検出器で撮影する方式も可能であり、これをLau干渉計と呼んでいる(下記特許文献3参照)。
いずれの構成の場合であっても、記録される強度パターンあるいはモアレ画像を直接利用することは稀であり、記録された画像をコンピュータにより所定の手順で処理し、吸収画像、屈折画像、および、散乱画像などの放射線画像を生成し、利用することができる。従来の技術では、被写体が視野内で静止していることを前提に、縞走査法を放射線画像生成のために使用している。縞走査法とは、いずれかの格子をその周期方向に並進させ、複数の強度パターンあるいはモアレ画像を撮影し、画像演算を行う方法である。より具体的には、いずれかの格子をその周期dの1/Mだけ並進させて撮影し、これをM回繰り返して得られたM枚の画像を用いて画像演算を行う。Mは3以上の整数である。
また、下記特許文献4には、ベルトコンベア上を移動する被写体について上記と同様の撮影を可能とするための、本発明者らによる技術が示されている。この技術では、格子自体の歪やわずかな傾斜によるモアレ縞を生じた撮影視野内を移動する被写体の動画像を撮影することによって、格子並進を行わずに、縞走査法に必要なデータを取得できる。
国際公開WO2004/058070号公報 米国特許第5812629号公報 特開2012-016370号公報 特開2017-044603号公報
ところで、特許文献4の技術について本発明者らがさらに研究を進めた結果、次の知見を得た。すなわち、放射状(つまりコーンビーム状)に放射されるコーンビーム放射線の中を被写体が並進する場合、立体形状の(つまり厚みのある)被写体の撮影においては、被写体のうちで線源に近い部位と線源から遠い部位では、撮影倍率が異なる。したがって、被写体が厚いほど、この倍率の相違(誤差)による不鮮明さを生じることになる。言い換えれば、撮影できる被写体の厚さには、この誤差に起因する制限が発生する。この点に鑑みると、放射方向での深さ位置(試料を横切る平面の深さ位置)に対応する撮影倍率が判れば、その深さ位置での鮮明な画像を得ることができる。
本発明は、前記した知見に基づいてなされたものである。本発明は、相対的に視野内を移動する被写体の構造を、奥行方向において分離して観察するための技術を提供することを目的としている。
本発明は、以下の項目に記載の発明として表現することができる。
(項目1)
コーンビームの放射線の経路上に配置された立体形状の試料と格子群とを透過した前記放射線についての強度分布画像を用いて、前記試料についての放射線画像を生成するための装置であって、
画素値演算部と、画像演算部とを備えており、
前記画素値演算部は、前記経路に交差する方向に移動する前記試料についての複数の強度分布画像を用いて、前記試料内での注目点に対応する各強度分布画像上の点(p,q)での画素値を足し合わせることによって、前記強度分布画像上の各領域(Ak)における合計画素値(Jk)を求める構成となっており、
ここで、前記点(p,q)の位置は、前記放射線の放射方向における前記注目点の深さ情報又は前記強度分布画像上での前記試料の倍率情報と、前記試料の真の移動速度情報とに基づいて設定されており、
またここで、前記点(p,q)は、前記複数の強度分布画像の時系列に沿って、前記領域(Ak)内を移動するようになっており、
前記画像演算部は、前記領域(Ak)における合計画素値(Jk)を用いて、必要な放射線画像を生成する構成となっている
ことを特徴とする放射線画像生成装置。
(項目2)
前記点(p,q)の位置は、前記強度分布画像上での前記点(p,q)の並進速度(v)に基づいて決定されており、前記並進速度(v)は、前記注目点の深さ情報又は前記試料の倍率情報と、前記試料の真の移動速度情報とに基づいて決定されている
項目1に記載の放射線画像生成装置。
(項目3)
前記注目点の深さ情報又は前記試料の倍率情報は、前記試料内での複数の深さ位置に対応してそれぞれ設定されており、これにより、前記画像演算部は、前記試料内での異なる深さ位置に対応した複数の放射線画像を生成する構成となっている
項目1又は2に記載の放射線画像生成装置。
(項目4)
医療用途に用いられている
項目1~3のいずれか1項に記載の放射線画像生成装置。
(項目5)
食品、工業部品、又は工業製品の検査用途に用いられている
項目1~3のいずれか1項に記載の放射線画像生成装置。
(項目6)
項目1~3のいずれか1項に記載の放射線画像生成装置と、線源部と、前記格子群と、検出部とを備えており、
前記線源部は、前記コーンビームの放射線を前記検出部に向けて放射する構成とされており、
前記検出部は、前記線源部から前記検出部までの経路上に配置された前記試料と前記格子群とを透過した前記コーンビームの放射線についての前記強度分布画像を取得する構成となっており、
前記格子群は、少なくとも枚の格子を備えている
放射線検査装置。
(項目7)
医療用途に用いられている
項目6に記載の放射線検査装置。
(項目8)
食品、工業部品、又は工業製品の検査用途に用いられている
項目6に記載の放射線検査装置。
(項目9)
コーンビームの放射線の経路上に配置された立体形状の試料と格子群とを透過した前記放射線についての強度分布画像を用いて、前記試料についての放射線画像を生成するための方法であって、
前記経路に交差する方向に移動する前記試料についての複数の強度分布画像を用いて、前記試料内での注目点に対応する各強度分布画像上の点(p,q)での画素値を足し合わせることによって、前記強度分布画像上の各領域(Ak)における合計画素値(Jk)を求めるステップと、
前記領域(Ak)における合計画素値(Jk)を用いて、必要な放射線画像を生成するステップとを備えており、
ここで、前記点(p,q)の位置は、前記放射線の放射方向における前記注目点の深さ情報又は前記強度分布画像上での前記試料の倍率情報と、前記試料の真の移動速度情報とに基づいて設定されており、
またここで、前記点(p,q)は、前記複数の強度分布画像の時系列に沿って、前記領域(Ak)内を移動するようになっている、
ことを特徴とする放射線画像生成方法。
(項目10)
医療用途に用いられている
項目9に記載の放射線画像生成方法。
(項目11)
食品、工業部品、又は工業製品の検査用途に用いられている
項目9に記載の放射線画像生成方法。
(項目12)
項目9に記載の各ステップをコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラム。
このコンピュータプログラムは、適宜な記録媒体(例えば電子的、光学的、磁気的、あるいは光磁気的記録媒体)に格納することができる。このコンピュータプログラムは、インターネットなどの通信回線を介して伝送されることができる。
本発明によれば、相対的に視野内を移動する被写体の構造を、奥行方向において分離して観察することが可能になる。
本発明の一実施形態に係る放射線画像生成装置を用いた放射線検査装置の概略的な構成を示す説明図である。 図1を側面から見た状態での、一部を省略した説明図である。 図1の装置に用いる画像生成部を説明するためのブロック図である。 図1の装置に用いる領域特定部を説明するためのブロック図である。 図1の装置を用いた画像生成方法の概略を示すフローチャートである。 図1の装置を用いた画像生成方法の概略を示すフローチャートである。
以下、本発明に係る放射線画像生成装置を用いた放射線検査装置の例を説明する。
(本実施形態における放射線検査装置)
以下、図面を参照しながら、本実施形態に係る放射線検査装置の構成を説明する。この放射線検査装置は、試料10として、立体形状を有する生体、又は、生体以外の物体のいずれかを対象とするものである。また、この装置は、医療用又は非医療用の用途において用いることができるものである。非医療用の用途としては、例えば、食品、工業部品、あるいは工業製品の検査用途、あるいは、保安目的の荷物検査を例示することができるが、これらに制約されるものではない。また、この明細書において、立体形状とは、放射線の放射方向(いわゆるz方向)において奥行きを持つことをいう。
(放射線検査装置の全体的構成)
本実施形態の放射線検査装置(図1参照)は、線源部1と、格子群2と、検出部3と、搬送部4と、画像生成部5とを備えている。さらにこの装置は、制御部6と、出力部7とを追加的に備えている。
(線源部)
線源部1は、試料10に対する透過性を有するコーンビームの放射線11を、格子群2に向けて放射する構成となっている。具体的には、本実施形態では、放射線源1として、X線を発生するX線源が用いられている。放射線源1としては、例えば、ターゲットに電子線を照射することによって、所定の頂角で広がるX線(すなわちコーンビーム状の放射線)を発生するX線源を用いることができる。放射線源1の具体的構成は、既存のX線源と同様とすることができるので、これについてのこれ以上詳しい説明は省略する。
(格子群)
格子群2は、この格子群2に向けて照射された放射線が透過可能な複数枚の格子を備えている。格子群2は、タルボ干渉計(タルボ・ロー干渉計、ロー干渉計である場合を含む)を構成するために必要な機械的構造及び幾何学的配置についての条件を満たしている。ただし、本実施形態においては、タルボ干渉計を構成する条件は、必要な検査を可能にするために十分な程度に満たされていればよく、数学的に厳密な意味で条件を満足する必要はない。
具体的には、本実施形態の格子群2は、格子G0と、格子G1と、格子G2という3枚の格子によって構成されている。格子G0は、タルボ干渉計の一種であるタルボ・ロー干渉計を構成するための格子であって、吸収型格子が用いられる。格子G0により、タルボ・ロー干渉計の構成要素である微小光源アレイ(アレイ中の一つの光源に着目すればタルボ干渉計)が実現される。格子G1としては、通常は位相型格子が用いられるが、吸収型格子とすることも可能である。格子G2としては、吸収型格子が用いられる。なお、G2の配置を省略する構成も可能である(ロー干渉計。前記特許文献3参照)。
本例の格子群2では、いずれかの格子において、何らかの歪を有していてもよい。ここで歪とは、歪に起因するなんらかのモアレ縞(例えば特許文献4の図5参照)を生じるような、理想状態からの格子の「ずれ」、「ばらつき」あるいは「傾き」をいうものとする。このような歪の存在は、通常の格子製造方法では避けられない。
本実施形態の格子G0~G2は、線源部1の近傍を通りかつ試料10の移動方向とほぼ平行となる位置に軸線方向が配置された円筒状に形成されている(図2参照)。また、各格子G0~G2におけるスリット(周期構造)の延長方向は、試料10の移動方向と平行とされている。なお、図2の紙面に平行な面において、放射線11が放射される範囲が狭い角度範囲に限られるときは、格子G0~G2は平板状に形成されていてもよい。
上記以外の点における格子G0~G2の構成は、従来のタルボ干渉計(タルボ・ロー干渉計及びロー干渉計の場合を含む)と同様でよいので、これ以上詳しい説明は省略する。
(検出部)
本実施形態の検出部3は、線源部1から検出部3までの経路上に配置された試料10と格子群2とを透過した放射線11についての強度分布画像を取得できる構成となっている。
より詳しくは、検出部3は縦横二次元的に画素を並べた構成を持ち、複数の格子G0~G2を通過して到達する放射線を画素ごとに検出する構成となっている。
また、検出部3は、所定のフレームレートでの動画像(すなわち時間的に離散して取得された静止画像)を取得できるものである。
(搬送部)
搬送部4は、試料10を、格子群2に対して、放射線の放射方向に交差する方向(図1の例では図中右方向)に移動させる構成となっている。具体的には、本実施形態の搬送部4は、試料10を横方向に移動させるベルトコンベアによって構成されている。また、搬送部4は、この実施形態では、格子G1と格子G2の間の空間であって、放射線11が通過する部分を、試料10が通過できるように、この試料10を搬送するものである。なお、搬送部4は、格子G0とG1との間に試料10を通過させるものであってもよい。なお、ロー干渉計の構成(前記特許文献4参照)とする場合は、格子G1と検出部3の間において試料10を通過させる。
搬送部4としてのベルトコンベアに使用されるベルトとしては、使用される放射線の透過率が高いものでかつ、内部に放射線を散乱させるような細かい構造を持たないものを選ぶことが好ましい。なお、搬送部4としては、ベルトコンベアに限らず、所望の方向に試料10を搬送できるものであれば、適宜の構成とすることができる。また、試料10を固定とし、放射線源、格子群、及び検出部の全体を試料10に対して相対移動させる構成も可能である。つまり、本明細書における試料の移動とは、試料に対して格子等の装置側が移動する場合を含む。
(画像生成部)
画像生成部5(図3参照)は、画素値演算部51と、画像演算部52とを備えている。さらに、本実施形態の画像生成部5は、領域特定部53を追加的に備えている。
画素値演算部51は、線源部1から検出部3への放射線経路に交差する方向(図1の例では図中右方向)に移動する試料10についての複数の強度分布画像を用いて、試料10内での注目点に対応する各強度分布画像上の点(p,q)での画素値を足し合わせることによって、強度分布画像上の各領域(Ak)における合計画素値(Jk)を求めるものである。
画像演算部52は、領域Akに対応する合計画素値Jkを用いて、必要な放射線画像を生成する構成となっている。
領域特定部53(図4参照)は、初期画像演算部531と、初期画像判定部532と、範囲算出部533と、画素数算出部534とを備えている。
初期画像演算部531は、試料10がない状態で、線源部1と格子群2と検出部3との位置関係を少なくとも部分的に変化させながら取得された複数の強度分布画像を用いて、ラップされた微分位相像(φ)を少なくとも算出する構成となっている。ラップされた微分位相像とは、逆正接の演算によって値域が-πから+πとなっている画像である。すなわち、たとえば、本来の値が1.5πである画素値が-0.5πで表示される。
初期画像判定部532は、ラップされた微分位相像の画素値が、試料10の移動方向において、-πから+πの値域で連続的に分布しているかどうかを判定する構成となっている。
範囲算出部533は、ラップされた微分位相像の画素値が特定の範囲内となる画素の集合である領域(Ak)を決める構成となっている。
画素数算出部534は、各領域(Ak)に属する画素数を算出する構成となっている。
画像生成部5におけるより詳しい構成は、動作方法の説明として追って記載する。
(制御部)
制御部6は、搬送部4に駆動信号を送り、かつ、画像生成部5に試料10の移動速度情報(命令値又は検出値)を送る構成となっている。
(出力部)
出力部7は、画像生成部5で生成された画像を出力できる構成となっている。出力部7としては、ユーザに画像を呈示できるディスプレイ、画像を一時的又は永続的に保存できるメモリ手段、その他の適宜な装置を用いることができる。出力部7は、ネットワークを介して画像データを他の装置に伝送する構成であってもよい。
(本実施形態の放射線検査装置の動作)
以下、本実施形態の放射線検査装置を用いた画像生成方法を説明する。この方法は、大きく分けて、領域特定段階(図5)と、画像生成段階(図6)とから構成される。まず、図5の領域特定段階について説明する。なお、この領域特定の手法は、基本的には、前記した特許文献4と同様なので、以下においては概略のみ説明する。
(領域特定段階)
(図5のステップSA-1)
まず、搬送部4を停止させ、試料10を用いない状態(試料なしの状態)とする。この状態で、従来の縞走査法を行う。すなわち、いずれかの格子における格子周期をTとする。距離T×1/M(Mは3以上の自然数)ずつ、当該格子を順次並進させつつ、X線による撮像を行う。これにより、検出部3で、複数の強度分布画像を取得することができる。この画像は、「線源部1と格子群2と検出部3との位置関係を少なくとも部分的に変化させながら取得された複数の強度分布画像」の一例に相当する。
(図5のステップSA-2)
ついで、領域特定部53の初期画像演算部531は、取得された複数の強度分布画像を用いて、初期画像として、ラップされた微分位相像φ(x,y)を少なくとも算出する。ここで、(x,y)は、検出部3での視野上あるいは画像取込み範囲上の座標を示す。本例の初期画像演算部531は、さらに、強度像A(x,y)と、ビジビリティ像V(x,y)とを算出する。
(図5のステップSA-3)
ついで、領域特定部53の初期画像判定部532は、座標(x,y)の各yにおいて、ラップされた微分位相像φ(x,y)の値が、試料10の移動方向(図1の例では図中右方向)において、(-π~+π)の値域で連続的に分布しているかどうかを判定する。つまり、-π~+πにわたる連続的な位相変化があるかどうかを判定する。この段階では、試料10は実際には使用されていないので、前記移動方向とは、試料10が移動すべき方向という意味である。
もし、このステップにおける判定がNoであれば、後述のステップSA-4に進み、Yesであれば後述のステップSA-5に進む。
(図5のステップSA-4)
座標(x,y)の各yにおいて、ラップされた微分位相像φ(x,y)の値が、試料10の移動方向において、-π~+πの値域で連続的に分布していない場合は、格子のアライメントを行う。ここで、格子のアライメントとは、格子における何らかの相対的配置状態の変更を意味し、例えば、格子の傾き、格子間の距離、格子の湾曲などが含まれる。アライメントの作業自体については、作業者が手動で行うこともできるし、何らかの自動化手段により自動的に行うこともできる。その後、前記したステップSA-1に戻り、以降のステップを繰り返す。
(図5のステップSA-5)
ステップSA-4での判断がYesであったとき、範囲算出部533は、ラップされた微分位相像φ(x,y)の値に基づいて領域(Ak)を決める。
より具体的には、視野領域をn個(ただしnは3以上の整数)に分割するとすると、領域Akは以下の規則により定義できる。なお、k=1,2,…,nである。
Figure 0007033779000001
このようにして分割された領域の例は特許文献4の図7に示されている。一つの領域Akとは、この例では、離散的に存在する各領域を併せた部分を意味する。また、視野領域の全ては領域Akにより重なりなく覆われることになる。
以上の処理により、強度分布画像を分割すべき領域Akを特定することができる。
(図5のステップSA-6)
ついで、画素数算出部534は、各領域(Ak)における、視野上の座標における点(p,q)の軌跡(つまり、試料の移動に伴って各領域を横切る軌跡)に属する画素数をそれぞれ算出する。点(p,q)の軌跡は、試料内に含まれるいずれかの点が、視野を横切るときの軌跡ということができる。
より具体的には、本例における画素数算出部534は、各yにおいて、x軸方向に沿って数えられる領域Akに属する画素数Nkのテーブルg(y)
g(y) = (N1(y) , N2(y) , …, Nn(y) )
を作る。
前記の手順については、特許文献4と同様なので、これ以上詳しい説明は省略する。
(実際の画像生成段階)
次に、図6に示す画像生成段階について説明する。
(図6のステップSB-1)
まず、検出部3における視野を横切るように、搬送部4により、速度vで試料10を移動させる。ここで、速度vは、ワールド座標系における試料10の真の移動速度である。
(図6のステップSB-2)
ついで、移動中の試料10を撮影する。すなわち、検出部3が、線源部1から検出部3までの経路を横切る方向に移動する試料10について、複数の強度分布画像(すなわち、時間的に離散して撮影された静止画からなる動画像)を取得する。
強度分布画像については、以降の説明においてI(x,y,t)で表すことがある。ここでx,yは視野内の座標、tは当該フレームの取得時刻である。したがってI(x,y,t)のうちのtの変化により動画像を表現することができる。ここで符号xは試料の移動方向に沿った座標を示す。
すると、試料内での注目点(注目面上の点)に対応する強度分布画像上の点(p,q)は、以下のように表される。
p = x + vt,
q = y
ここでvは、画像平面上又は検出面上における、試料10のx軸方向での並進速度である。
ここまでの手順は、特許文献4の技術と基本的に同様なので、これ以上詳しい説明は省略する。
(図6のステップSB-3)
ついで、画素値演算部51は、点(p,q)の特定に用いるための、画像平面上(検出面上)の並進速度vを決定する。試料10の真の移動速度をv、コーンビームによる試料10の倍率をMとすると、v=Mvとなる。ここで倍率Mは、試料10における注目点の深さ方向(z方向)での位置により決定されるので、vはv=z/zのように記載できる。ここで、zは検出器の深さ方向(z方向)での位置、zは注目点の深さ方向位置である。
したがって、本実施形態において、点(p,q)の位置を決める並進速度vは、放射線の放射方向における注目点の深さ情報z、又は、強度分布画像上での試料の倍率情報Mと、試料の真の移動速度情報vとに基づいて設定されていることになる。
また、前記説明から分かるように、本実施形態における点(p,q)は、複数の強度分布画像の時系列に沿って、並進速度vで領域(Ak)内を移動するものである。
(図6のステップSB-4)
ついで、画素値演算部51は、線源部1から検出部3までの経路に交差する方向に移動する試料10についての複数の強度分布画像について、試料10内の注目点に対応する点(p,q)(すなわち画像上の点)が領域(Ak)に属する場合の画素値を合計することにより合計画素値(Jk)を求めることができる。
この処理は具体的には以下のように実行可能である。すなわち、速度vで並進する点(p,q,v)がある領域Akにあるとき、スタックJk(p,q,v)にI(p-vt,y,t)/Nk(y)を加算する。これを全ての動画像フレーム(つまり各tに対応するフレーム)について行う。ここで、Nk(y)で割っているのは、画素数に応じて画素値Iの値を正規化(つまり平均化)するためである。
より具体的には、前記手順は以下のように記述できる。
Figure 0007033779000002
なお、この式においてAは、初期画像演算部531で得られた強度像のデータと同じものであり、試料10に照射される放射線の強度ムラを補正するための係数として用いられている。
スタックJkに対応する画像(すなわち、すべてのフレームを足し合わせた画像)の生成手順は、特許文献4と同様なので、これ以上詳しい説明は省略する。ただし、本実施形態では、前記の通り、スタックJkを、並進速度vの関数として求めている。
画像演算部52は、合計画素値(Jk)を用いて、必要な放射線画像を生成する。
より具体的には、本実施形態では、得られたJk (p,q,v)(k=1,2,…,n)を用いて、吸収画像Abs、屈折画像φ、および、散乱画像Visをそれぞれ
Figure 0007033779000003
として演算することができる。ただしここで、
Figure 0007033779000004
である。FOVは試料を横切る注目面であり、Vは初期画像として得られたビジビリティ像である。なお、これらはあくまで、必要に応じて生成される放射線画像の一例であり、これらをすべて生成する必要はない。また、他の種類の画像を生成することも可能である。
(図6のステップSB-5~SB-7)
ついで、画像演算部52は、ほかに注目面があれば、速度vを更新して、ステップSB-4から処理を繰り返す。速度vは注目面の深さ位置に対応する。注目面がそれ以上存在しない場合は、それまで生成した画像を記録する。これにより、本実施形態によれば、試料10内における異なる深さ位置(注目面)に対応した放射線画像を得ることができ、したがって、疑似的な三次元画像を簡便に得ることができる。なお、試料内において、注目面から離れた位置の構造は、注目面からの距離に比例して、ぼやけた像として検出される。特に、図1の紙面に平行な面において、X線が放射される角度範囲(コーンビームの頂角)が広く設定されているほど、上記のぼやけの効果は顕著となり、より良好な疑似三次元画像が得られる。
また、本実施形態では、各格子を湾曲させているので、格子を抜けられないことによる放射線の損失量を低減させることができるという利点がある。
さらに、本実施形態では、注目面からずれた位置での試料内の構造に起因するボケを、前処理としてハイパスフィルタを用いて除去することにより、注目面に対する画像の鮮明度を向上させることもできる。
前記した画像生成部の動作は、コンピュータに適宜のコンピュータソフトウエアを組み込むことにより実施することができる。
なお、前記実施形態および実施例の記載は単なる一例に過ぎず、本発明に必須の構成を示したものではない。各部の構成は、本発明の趣旨を達成できるものであれば、上記に限らない。
例えば、前記実施形態では、線源部としてX線源を用いたが、試料に対して透過性のある他の放射線、例えば中性子線源を用いることができる。もちろん、この場合、検出部としては、用いる放射線を検出できるものが用いられる。
また例えば、画像生成部及びその構成要素は、機能ブロックとして存在していればよく、独立したハードウエアとして存在しなくても良い。また、実装方法としては、ハードウエアを用いてもコンピュータソフトウエアを用いても良い。さらに、本発明における一つの機能要素が複数の機能要素の集合によって実現されても良く、本発明における複数の機能要素が一つの機能要素により実現されても良い。
また、機能要素は、物理的に離間した位置に配置されていてもよい。この場合、機能要素どうしがネットワークにより接続されていても良い。グリッドコンピューティング又はクラウドコンピューティングにより機能を実現し、あるいは機能要素を構成することも可能である。
~G 格子
1 線源部
11 放射線(X線)
2 格子群
3 検出部
4 搬送部
5 画像生成部
51 画素値演算部
52 画像演算部
53 領域特定部
531 初期画像演算部
532 位相分布算出部
533 範囲算出部
534 画素数算出部
6 制御部
7 出力部
10 試料

Claims (11)

  1. コーンビームの放射線の経路上に配置された立体形状の試料と格子群とを透過した前記放射線についての強度分布画像を用いて、前記試料についての放射線画像を生成するための装置であって、
    画素値演算部と、画像演算部とを備えており、
    前記画素値演算部は、前記経路に交差する方向に移動する前記試料についての複数の強度分布画像を用いて、前記試料内での注目点に対応する各強度分布画像上の点(p,q)での画素値を足し合わせることによって、前記強度分布画像上の各領域(Ak)における合計画素値(Jk)を求める構成となっており、
    ここで、前記点(p,q)の位置は、前記放射線の放射方向における前記注目点の深さ情報又は前記強度分布画像上での前記試料の倍率情報と、前記試料の真の移動速度情報(v とに基づいて決定される、前記強度分布画像上での前記点(p,q)の並進速度(v)に基づいて設定されており、
    またここで、前記点(p,q)は、前記複数の強度分布画像の時系列に沿って、前記領域(Ak)内を移動するようになっており、
    さらに、前記画素値演算部は、前記並進速度(v)を更新して、同じ前記複数の強度分布画像から、前記強度分布画像上の各領域(Ak)における更新された合計画素値(Jk)を求める構成となっており、
    前記画像演算部は、前記領域(Ak)における前記合計画素値(Jk)及び前記更新された合計画素値(Jk)を用いて、必要な複数の注目面に対応した放射線画像を生成する構成となっている
    ことを特徴とする放射線画像生成装置。
  2. 前記注目点の深さ情報又は前記試料の倍率情報は、前記試料内での複数の深さ位置に対応してそれぞれ設定されており、これにより、前記画像演算部は、前記試料内での異なる深さ位置に対応した複数の放射線画像を生成する構成となっている
    請求項1に記載の放射線画像生成装置。
  3. 医療用途に用いられている
    請求項1又は2に記載の放射線画像生成装置。
  4. 食品、工業部品、又は工業製品の検査用途に用いられている
    請求項1又は2に記載の放射線画像生成装置。
  5. 請求項1又は2に記載の放射線画像生成装置と、線源部と、前記格子群と、検出部とを備えており、
    前記線源部は、前記コーンビームの放射線を前記検出部に向けて放射する構成とされており、
    前記検出部は、前記線源部から前記検出部までの経路上に配置された前記試料と前記格子群とを透過した前記コーンビームの放射線についての前記強度分布画像を取得する構成となっており、
    前記格子群は、少なくとも2枚の格子を備えている
    放射線検査装置。
  6. 医療用途に用いられている
    請求項に記載の放射線検査装置。
  7. 食品、工業部品、又は工業製品の検査用途に用いられている
    請求項に記載の放射線検査装置。
  8. コーンビームの放射線の経路上に配置された立体形状の試料と格子群とを透過した前記放射線についての強度分布画像を用いて、前記試料についての放射線画像を生成するための方法であって、
    前記経路に交差する方向に移動する前記試料についての複数の強度分布画像を用いて、前記試料内での注目点に対応する各強度分布画像上の点(p,q)での画素値を足し合わせることによって、前記強度分布画像上の各領域(Ak)における合計画素値(Jk)を求めるステップと、
    同じ前記複数の強度分布画像から、前記強度分布画像上の各領域(Ak)における更新された合計画素値(Jk)を求めるステップと、
    前記領域(Ak)における前記合計画素値(Jk)及び前記更新された合計画素値(Jk)を用いて、必要な複数の注目面に対応した放射線画像を生成するステップとを備えており、
    ここで、前記点(p,q)の位置は、前記放射線の放射方向における前記注目点の深さ情報又は前記強度分布画像上での前記試料の倍率情報と、前記試料の真の移動速度情報(v とに基づいて決定される、前記強度分布画像上での前記点(p,q)の並進速度(v)に基づいて設定されており、
    前記更新された合計画素値(Jk)は、前記並進速度(v)を更新して、前記試料内での注目点に対応する各強度分布画像上の点(p,q)での画素値を足し合わせることによって得られるものであり、
    またここで、前記点(p,q)は、前記複数の強度分布画像の時系列に沿って、前記領域(Ak)内を移動するようになっている、
    ことを特徴とする放射線画像生成方法。
  9. 医療用途に用いられている
    請求項に記載の放射線画像生成方法。
  10. 食品、工業部品、又は工業製品の検査用途に用いられている
    請求項に記載の放射線画像生成方法。
  11. 請求項に記載の各ステップをコンピュータに実行させるためのコンピュータプログラム。
JP2017230354A 2017-11-30 2017-11-30 放射線画像生成装置 Active JP7033779B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017230354A JP7033779B2 (ja) 2017-11-30 2017-11-30 放射線画像生成装置
DE102018220042.4A DE102018220042A1 (de) 2017-11-30 2018-11-22 Vorrichtung zur Erzeugung eines Strahlungsbildes

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017230354A JP7033779B2 (ja) 2017-11-30 2017-11-30 放射線画像生成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019100800A JP2019100800A (ja) 2019-06-24
JP7033779B2 true JP7033779B2 (ja) 2022-03-11

Family

ID=66547905

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017230354A Active JP7033779B2 (ja) 2017-11-30 2017-11-30 放射線画像生成装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7033779B2 (ja)
DE (1) DE102018220042A1 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004257884A (ja) 2003-02-26 2004-09-16 Nittetsu Elex Co Ltd X線異物検査方法及び装置
US20130108015A1 (en) 2011-10-28 2013-05-02 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique S.A - Recherche Et Developpement X-ray interferometer
JP2017044603A (ja) 2015-08-27 2017-03-02 国立大学法人東北大学 放射線画像生成装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04138265U (ja) * 1991-06-17 1992-12-24 株式会社東芝 X線検査装置
US5812629A (en) 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
JP4445397B2 (ja) 2002-12-26 2010-04-07 敦 百生 X線撮像装置および撮像方法
JP5601909B2 (ja) 2010-07-06 2014-10-08 国立大学法人 東京大学 X線撮像装置及びこれを用いるx線撮像方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004257884A (ja) 2003-02-26 2004-09-16 Nittetsu Elex Co Ltd X線異物検査方法及び装置
US20130108015A1 (en) 2011-10-28 2013-05-02 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique S.A - Recherche Et Developpement X-ray interferometer
JP2017044603A (ja) 2015-08-27 2017-03-02 国立大学法人東北大学 放射線画像生成装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
S. BACHCHE et al.,Laboratory-based X-ray phase-imaging scanner using Talbot-Lau interferometer for non-destructive testing,Scientific Reports,米国,ネイチャーリサーチ社,2021年07月27日,Vol.7,Article No.6711,DOI:10.1038/s41598-017-07032-y

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019100800A (ja) 2019-06-24
DE102018220042A1 (de) 2019-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6422123B2 (ja) 放射線画像生成装置
JP5456032B2 (ja) 解析方法、該解析方法を用いた放射線撮像装置、該解析方法を実行する解析プログラム
EP3090408B1 (en) Phase retrieval from differential phase contrast imaging
JP6448649B2 (ja) 収集及び再構築技術を含む離調構成に基づく大視野位相差撮影法
US20140294147A1 (en) Systems and methods for multi-view imaging and tomography
US20130279659A1 (en) Method and a system for image integration using constrained optimization for phase contrast imaging with an arragement of gratings
IL172186A (en) Method for fast image reconstruction with compact radiation source and detector arrangement using computerized tomography
EP3134000A1 (en) Optimal energy weighting of dark field signal in differential phase contrast x-ray imaging
Thompson et al. Introduction to industrial X-ray computed tomography
JP7033779B2 (ja) 放射線画像生成装置
KR102426991B1 (ko) 방사선 화상 생성 장치
US9131910B2 (en) Method for obtaining a 3D reconstruction of an object, and X-ray device
WO2020209312A1 (ja) 検査装置及び検査方法
WO2020209313A1 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
WO2018168621A1 (ja) 放射線画像生成装置
JP6797762B2 (ja) 放射線画像生成装置及び放射線画像生成方法
Holmgren et al. Multi-view coded aperture coherent scatter tomography
Jiang et al. Light field moment imaging with the ptychographic iterative engine
Bopp et al. X-ray Phase Contrast: Research on a Future Imaging Modality
WO2023007496A1 (en) Method and system for high photon energies imaging
JP2020038153A (ja) 放射線画像生成装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20201111

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20201111

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20201111

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210707

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210907

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20211207

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220215

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220221

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7033779

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150