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Claims (11)
- 機能素子を有する基板と、
前記基板とともに前記機能素子を収納する空洞を形成し、複数の貫通孔を有する絶縁性の第1の膜と、
前記複数の貫通孔の上面を塞いで前記第1の膜上に形成され、前記第1の膜よりガス透過率の大きい絶縁性の第2の膜と、
少なくとも前記第2の膜上に形成され、前記第2の膜よりガス透過率の小さい絶縁性の第3の膜と、
前記第3の膜上に形成され、前記第3の膜より伸縮性の大きい絶縁性の第4の膜と、
を具備することを特徴とする電気部品。 - 前記第2の膜の側面が、前記第2の膜よりガス透過率の小さい絶縁性の第5の膜で覆われていることを特徴とする請求項1記載の電気部品。
- 前記第5の膜は、前記第3の膜と同一の膜により形成されていることを特徴とする請求項2記載の電気部品。
- 一端部が前記機能素子に接続されるとともに、前記基板に沿って前記第2の膜の外側に延伸した配線と、
前記第2の膜と離間して前記配線の他端側を覆うとともに、前記配線の他端部に開口を有する有機膜と、
前記開口の周りの前記有機膜にオーバラップして、前記配線の他端部に接続されたバンプと、
を具備することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の電気部品。 - 前記第1の膜は無機膜であり、前記第2の膜は有機膜であり、前記第3の膜は無機膜であり、前記第4の膜は有機膜であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の電気部品。
- 前記第1の膜がSi―O結合を主成分とするシリコン化合物であり、
前記第2の膜が炭素を主成分とする熱硬化型樹脂、紫外線硬化型樹脂および電子ビーム硬化型樹脂のいずれかであり、
前記第3の膜がSi−N結合を主成分とするシリコン化合物であり、
前記第4の膜がエポキシ系樹脂、又はポリイミド系樹脂であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の電気部品。 - 前記第2の膜の外側に、前記機能素子を外部に電気的に接続するための電極が形成されていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の電気部品。
- 前記貫通孔の径は、前記第1の膜の前記第2の膜側から前記空洞側に向かって小さくされていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載の電気部品。
- 前記貫通孔は、前記機能素子の上方に位置する第1の膜に形成されていることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の電気部品。
- 基板上に機能素子を形成し、
前記基板と複数の貫通孔を有する絶縁性の第1の膜とにより前記機能素子を収納する空洞を形成し、
前記複数の貫通孔の上面を塞ぐため、前記第1の膜上に前記第1の膜よりガス透過率の大きい絶縁性の第2の膜を形成し、
少なくとも前記第2の膜上に前記第2の膜よりガス透過率の小さい絶縁性の第3の膜を形成し、
前記第3の膜上に前記第3の膜より伸縮性の大きい絶縁性の第4の膜を形成したことを特徴とする電気部品の製造方法。 - 前記空洞の形成前に、レジスト膜をマスクとして前記機能素子を覆い前記空洞を形成するための犠牲膜を形成し、
前記犠牲膜上に、複数の貫通孔を有する絶縁性の第1の膜を形成し、
前記複数の貫通孔を介して前記犠牲膜を除去し、前記空洞を形成することを特徴とする請求項10記載の電気部品の製造方法。
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