JP2010219513A5 - - Google Patents

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上記課題を解決するため、本発明は配線基板に係り、第1スルーホールと前記第1スルーホール内に形成された第1貫通導体部とを備え、ウェハから形成された第1シリコン基板と、前記第1シリコン基板の上に接着樹脂層を介して積層され、第2スルーホールと、前記第2スルーホール内に前記第1貫通導体部と位置合わせされて形成された第2貫通導体部とを備え、ウェハから形成された第2シリコン基板と、前記第1シリコン基板の両面と、前記第1スルーホールの内面とに形成された第1絶縁層と、前記第2シリコン基板の両面と、前記第2スルーホールの内面とに形成された第2絶縁層とを有し、前記接着樹脂層は、第1シリコン基板上の前記第1貫通導体部を除く領域から前記第2スルーホールの内面と前記第2貫通導体部との間に形成されており、前記第1貫通導体部と前記第2貫通導体部とにより貫通電極が一体的に形成されていることを特徴とする。

Claims (7)

  1. 第1スルーホールと前記第1スルーホール内に形成された第1貫通導体部とを備え、ウェハから形成された第1シリコン基板と、
    前記第1シリコン基板の上に接着樹脂層を介して積層され、第2スルーホールと、前記第2スルーホール内に前記第1貫通導体部と位置合わせされて形成された第2貫通導体部とを備え、ウェハから形成された第2シリコン基板と、
    前記第1シリコン基板の両面と、前記第1スルーホールの内面とに形成された第1絶縁層と、
    前記第2シリコン基板の両面と、前記第2スルーホールの内面とに形成された第2絶縁層とを有し、
    前記接着樹脂層は、第1シリコン基板上の前記第1貫通導体部を除く領域から前記第2スルーホールの内面と前記第2貫通導体部との間に形成されており、
    前記第1貫通導体部と前記第2貫通導体部とにより貫通電極が一体的に形成されていることを特徴とする配線基板。
  2. 第1スルーホールと前記第1スルーホール内に形成された第1貫通導体部とを備え、ウェハから形成された第1シリコン基板と、
    前記第1シリコン基板の上に接着樹脂層を介して積層され、第2スルーホールと、前記第2スルーホール内に前記第1貫通導体部と位置合わせされて形成された第2貫通導体部とを備え、ウェハから形成された第2シリコン基板と、
    前記第1シリコン基板の両面と、前記第1スルーホールの内面とに形成された第1絶縁層と、
    前記第2シリコン基板の両面と、前記第2スルーホールの内面とに形成された第2絶縁層とを有し、
    前記接着樹脂層は、前記第1シリコン基板上の前記第1貫通導体部を除く領域に形成されており、
    前記第2貫通導体部は、前記第2スルーホール内で前記第2絶縁層と接触し、かつ前記第2スルーホールの下端部で前記接着樹脂層に接触しており、
    前記第1貫通導体部と前記第2貫通導体部とにより貫通電極が一体的に形成されていることを特徴とする配線基板。
  3. 前記第2シリコンウェハの上面に、前記第2貫通導体部の上に配線層を介してバンプ電極が形成されており、
    前記第1シリコンウェハの下面に、前記第1貫通導体部の上に配線層を介して外部接続端子が形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の配線基板。
  4. 第1シリコンウェハに、厚み方向に貫通する第1スルーホールを形成する工程と、
    前記第1シリコンウェハの両面と、前記第1スルーホールの内面とに第1絶縁層を形成する工程と、
    電解めっきにより前記第1スルーホールに第1貫通導体部を形成する工程と、
    電解めっきにより前記第1貫通導体部の上に金属ポストを形成する工程と、
    前記第1シリコンウェハ上の前記第1貫通導体部を除く領域に接着樹脂層を形成する工程と、
    前記金属ポストに対応する第2スルーホールと、両面及び前記第2スルーホールの内面に形成された第2絶縁層とを備えた第2シリコンウェハを用意し、前記第2スルーホール内に前記金属ポストを挿入した状態で、前記第2シリコンウェハを前記第1シリコンウェハの上に前記接着樹脂層によって接着する工程とを有し、
    前記第2スルーホールの内面と前記金属ポストとの隙間に前記接着樹脂層が流動して充填されることを特徴とする配線基板の製造方法。
  5. 第1シリコンウェハに、厚み方向に貫通する第1スルーホールを形成する工程と、
    電解めっきにより前記第1スルーホールに第1貫通導体部を形成する工程と、
    前記第1シリコンウェハ上の前記第1貫通導体部を除く領域に接着樹脂層を形成する工程と、
    第2スルーホールと、両面及び前記第2スルーホールの内面に形成された第2絶縁層とを備えた第2シリコンウェハを用意し、前記第2スルーホールを前記第1貫通導体部の上に配置した状態で前記第2シリコンウェハを前記第1シリコンウェハの上に前記接着樹脂層によって接着する工程と、
    前記第2シリコンウェハの第2スルーホール内に、電解めっきにより前記第1貫通導体部に接続される第2貫通導体部を形成して、貫通電極を得る工程とを有することを特徴とする配線基板の製造方法。
  6. 前記第2シリコンウェハを前記第1シリコンウェハの上に前記接着樹脂層によって接着する工程の後に、
    前記第2シリコンウェハの上面に、前記第2貫通導体部の上に配線層を介してバンプ電極を形成する工程と、
    前記第2シリコンウェハの下面に、前記第1貫通導体部の上に配線層を介して外部接続端子を形成する工程とを有することを特徴とする請求項4に記載の配線基板の製造方法。
  7. 前記貫通電極を得る工程の後に、
    前記第2シリコンウェハの上面に、前記第2貫通導体部の上に配線層を介してバンプ電極を形成する工程と、
    前記第2シリコンウェハの下面に、前記第1貫通導体部の上に配線層を介して外部接続端子を形成する工程とを有することを特徴とする請求項5に記載の配線基板の製造方法。
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