JP2011249718A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011249718A5 JP2011249718A5 JP2010124013A JP2010124013A JP2011249718A5 JP 2011249718 A5 JP2011249718 A5 JP 2011249718A5 JP 2010124013 A JP2010124013 A JP 2010124013A JP 2010124013 A JP2010124013 A JP 2010124013A JP 2011249718 A5 JP2011249718 A5 JP 2011249718A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor substrate
- electrode
- back surface
- insulating portion
- groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Description
上記目的を達成するために、本発明は以下のように構成する。
本発明の半導体装置は、半導体基板の表面に形成された電子デバイスと、前記電子デバイスと導通されたパッド電極と、前記半導体基板を厚さ方向に貫通する貫通電極と、前記半導体基板の裏面に形成されて前記貫通電極同士を接続する配線層と、前記配線層又は前記貫通電極に接続される導電端子とを備える半導体装置であって、前記半導体基板の裏面において、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように形成された絶縁部形成用溝部を備え、前記絶縁部形成用溝部の底部が、前記半導体基板の表面から裏面にかけての厚さ方向の中間部に位置している、ことを特徴とする。
また、本発明の半導体装置の製造方法は、電子デバイスとパッド電極とが表面側に配置された半導体基板の裏面側から前記半導体基板を厚さ方向に貫通して前記半導体基板の表面の前記パッド電極に導通する貫通電極を形成し、前記貫通電極と導通しかつ前記半導体基板の裏面に配置される配線層を形成する半導体装置の製造方法において、前記半導体基板の裏面側から前記半導体基板の前記厚さ方向に延びる貫通電極用のビアホールを形成するビアホール形成工程と、前記ビアホールにおける絶縁部の形成前に、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように絶縁部形成用溝部を形成する溝部形成工程を有し、前記溝部形成工程の後に、前記絶縁部形成用溝部内に導電性層を形成する工程と、前記絶縁部形成用溝部の底部の前記導電性層を除去すると共に絶縁材料を挿入して絶縁部を形成する工程と、を備える、ことを特徴とする。
本発明の半導体装置は、半導体基板の表面に形成された電子デバイスと、前記電子デバイスと導通されたパッド電極と、前記半導体基板を厚さ方向に貫通する貫通電極と、前記半導体基板の裏面に形成されて前記貫通電極同士を接続する配線層と、前記配線層又は前記貫通電極に接続される導電端子とを備える半導体装置であって、前記半導体基板の裏面において、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように形成された絶縁部形成用溝部を備え、前記絶縁部形成用溝部の底部が、前記半導体基板の表面から裏面にかけての厚さ方向の中間部に位置している、ことを特徴とする。
また、本発明の半導体装置の製造方法は、電子デバイスとパッド電極とが表面側に配置された半導体基板の裏面側から前記半導体基板を厚さ方向に貫通して前記半導体基板の表面の前記パッド電極に導通する貫通電極を形成し、前記貫通電極と導通しかつ前記半導体基板の裏面に配置される配線層を形成する半導体装置の製造方法において、前記半導体基板の裏面側から前記半導体基板の前記厚さ方向に延びる貫通電極用のビアホールを形成するビアホール形成工程と、前記ビアホールにおける絶縁部の形成前に、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように絶縁部形成用溝部を形成する溝部形成工程を有し、前記溝部形成工程の後に、前記絶縁部形成用溝部内に導電性層を形成する工程と、前記絶縁部形成用溝部の底部の前記導電性層を除去すると共に絶縁材料を挿入して絶縁部を形成する工程と、を備える、ことを特徴とする。
Claims (6)
- 半導体基板の表面に形成された電子デバイスと、前記電子デバイスと導通されたパッド電極と、前記半導体基板を厚さ方向に貫通する貫通電極と、前記半導体基板の裏面に形成されて前記貫通電極同士を接続する配線層と、前記配線層又は前記貫通電極に接続される導電端子とを備える半導体装置であって、
前記半導体基板の裏面において、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように形成された絶縁部形成用溝部を備え、
前記絶縁部形成用溝部の底部が、前記半導体基板の表面から裏面にかけての厚さ方向の中間部に位置している、半導体装置。 - 前記絶縁部形成用溝部は、前記貫通電極を形成するビアホールの前記半導体基板の裏面での開口の貫通穴径φ 1 と、前記絶縁部形成用溝部の前記半導体基板の裏面での開口の幅L 2 との間に
0<L 2 <φ 1 /2
の関係式を満足する、
請求項1に記載の半導体装置。 - 半導体基板の表面に形成された電子デバイスと、前記電子デバイスと導通されたパッド電極と、前記半導体基板を厚さ方向に貫通する貫通電極と、前記半導体基板の裏面に形成されて前記貫通電極同士を接続する配線層と、前記配線層又は前記貫通電極に接続される導電端子とを備える半導体装置であって、
前記半導体基板の裏面において、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように形成された絶縁部形成用溝部を備え、
前記絶縁部形成用溝部の底部では、前記絶縁部形成用溝部内に配置される絶縁層の絶縁材料と前記半導体基板の構成材料とが直接接触している、
半導体装置。 - 電子デバイスとパッド電極とが表面側に配置された半導体基板の裏面側から前記半導体基板を厚さ方向に貫通して前記半導体基板の表面の前記パッド電極に導通する貫通電極を形成し、前記貫通電極と導通しかつ前記半導体基板の裏面に配置される配線層を形成する半導体装置の製造方法において、
前記半導体基板の裏面側から前記半導体基板の前記厚さ方向に延びる貫通電極用のビアホールを形成するビアホール形成工程と、
前記ビアホールにおける絶縁部の形成前に、前記貫通電極及び前記配線層を囲むように絶縁部形成用溝部を形成する溝部形成工程を有し、
前記溝部形成工程の後に、前記絶縁部形成用溝部内に導電性層を形成する工程と、前記絶縁部形成用溝部の底部の前記導電性層を除去すると共に絶縁材料を挿入して絶縁部を形成する工程と、を備える、
半導体装置の製造方法。 - 前記ビアホール形成工程と前記溝部形成工程とを同時に行う、
請求項4に記載の半導体装置の製造方法。 - 前記溝部形成工程において、前記絶縁部形成用溝部は、前記貫通電極用のビアホールの前記半導体基板の裏面での開口の貫通穴径φ 1 と、前記絶縁部形成用溝部の開口の幅L 2 との間に
0<L 2 <φ 1 /2
の関係式を満足するように、前記絶縁部形成用溝部が形成されている、
請求項4又は5に記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010124013A JP5352534B2 (ja) | 2010-05-31 | 2010-05-31 | 半導体装置及びその製造方法 |
PCT/JP2011/001825 WO2011151961A1 (ja) | 2010-05-31 | 2011-03-28 | 半導体装置及びその製造方法 |
US13/387,204 US20120119384A1 (en) | 2010-05-31 | 2011-03-28 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
CN2011800030798A CN102473640A (zh) | 2010-05-31 | 2011-03-28 | 半导体装置及其制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010124013A JP5352534B2 (ja) | 2010-05-31 | 2010-05-31 | 半導体装置及びその製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011249718A JP2011249718A (ja) | 2011-12-08 |
JP2011249718A5 true JP2011249718A5 (ja) | 2012-12-27 |
JP5352534B2 JP5352534B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=45066355
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010124013A Expired - Fee Related JP5352534B2 (ja) | 2010-05-31 | 2010-05-31 | 半導体装置及びその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120119384A1 (ja) |
JP (1) | JP5352534B2 (ja) |
CN (1) | CN102473640A (ja) |
WO (1) | WO2011151961A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9559001B2 (en) * | 2010-02-09 | 2017-01-31 | Xintec Inc. | Chip package and method for forming the same |
US9437783B2 (en) * | 2012-05-08 | 2016-09-06 | Cree, Inc. | Light emitting diode (LED) contact structures and process for fabricating the same |
CN103367139B (zh) * | 2013-07-11 | 2016-08-24 | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 | 一种tsv孔底部介质层刻蚀方法 |
MA36343B1 (fr) * | 2013-10-14 | 2016-04-29 | Nemotek Technologies | Procédé de métallisation en cuivre destiné à la fabrication d'un circuit intégré en utilisant la technologie wafer level packaging 3d |
JP2016174101A (ja) | 2015-03-17 | 2016-09-29 | 株式会社東芝 | 半導体装置およびその製造方法 |
US20180122749A1 (en) * | 2016-11-01 | 2018-05-03 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Semiconductor wafer, semiconductor package and method for manufacturing the same |
KR102493464B1 (ko) | 2018-07-19 | 2023-01-30 | 삼성전자 주식회사 | 집적회로 장치 및 이의 제조 방법 |
JP7067448B2 (ja) * | 2018-12-10 | 2022-05-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法、半導体装置 |
JP2020098849A (ja) * | 2018-12-18 | 2020-06-25 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 半導体装置 |
CN112185984B (zh) * | 2020-09-17 | 2022-07-12 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种阵列基板及显示面板 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5829624B2 (ja) * | 1978-09-11 | 1983-06-23 | 富士通株式会社 | 架橋配線方法 |
JP2003198122A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-07-11 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 配線板の製造方法 |
JP4145301B2 (ja) * | 2003-01-15 | 2008-09-03 | 富士通株式会社 | 半導体装置及び三次元実装半導体装置 |
JP4331033B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2009-09-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体光検出素子及びその製造方法 |
JP4966487B2 (ja) * | 2004-09-29 | 2012-07-04 | オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド | 半導体装置及びその製造方法 |
JP5036127B2 (ja) * | 2004-10-26 | 2012-09-26 | オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド | 半導体装置の製造方法 |
TWI303864B (en) * | 2004-10-26 | 2008-12-01 | Sanyo Electric Co | Semiconductor device and method for making the same |
US7633167B2 (en) * | 2005-09-29 | 2009-12-15 | Nec Electronics Corporation | Semiconductor device and method for manufacturing same |
JP5021992B2 (ja) * | 2005-09-29 | 2012-09-12 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP4799543B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2011-10-26 | 株式会社東芝 | 半導体パッケージ及びカメラモジュール |
JP5596919B2 (ja) * | 2008-11-26 | 2014-09-24 | キヤノン株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
-
2010
- 2010-05-31 JP JP2010124013A patent/JP5352534B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-03-28 US US13/387,204 patent/US20120119384A1/en not_active Abandoned
- 2011-03-28 CN CN2011800030798A patent/CN102473640A/zh active Pending
- 2011-03-28 WO PCT/JP2011/001825 patent/WO2011151961A1/ja active Application Filing
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2011249718A5 (ja) | ||
JP2009164481A5 (ja) | ||
JP2010147281A5 (ja) | 半導体装置 | |
JP2009033145A5 (ja) | ||
JP2009194322A5 (ja) | ||
WO2012074783A3 (en) | Low-profile microelectronic package, method of manufacturing same, and electronic assembly containing same | |
JP2008160160A5 (ja) | ||
JP2013004881A5 (ja) | ||
JP2012084865A5 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP2008270759A5 (ja) | ||
TW200629444A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
JP2012068627A5 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
EP2408035A3 (en) | Two terminal resistive switching device structure and method of fabricating | |
JP2009105311A5 (ja) | ||
JP2012028771A5 (ja) | ||
JP2012109350A5 (ja) | ||
JP2012069761A5 (ja) | ||
JP2012114148A5 (ja) | ||
JP2013520844A5 (ja) | ||
JP2014013810A5 (ja) | ||
JP2007158301A5 (ja) | ||
JP2008270758A5 (ja) | ||
JP2014204005A5 (ja) | ||
JP2009278072A5 (ja) | ||
JP2011086941A5 (ja) |