JP2009505386A5 - - Google Patents
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本発明の別の実施態様では、互いに重ねて配置された複数の部分層の形成は、無機質の材料を有する1つの無機質の部分層(無機層)の形成を含んでいる。無機質の材料は有利には酸化珪素を含んでいる。
本発明の別の実施態様では、密閉用の保護層の形成は、充填剤を有する1つの密閉用の保護層の形成を含んでいる。充填剤は有利には酸化珪素若しくは炭素を含んでいる。
本発明の別の実施態様では複数の部分層の1つは、無機質の材料を含む1つの無機質の層(無機層)である。無機質の材料は有利には酸化珪素を含んでいる。本発明の別の実施態様では複数の部分層の1つは、有機改質されたセラミックを含む層である。
本発明の別の実施態様では密閉用の保護層は充填剤を含有しており、この場合に充填剤は有利には酸化珪素若しくは炭素を含んでいる。
Claims (30)
- パッケージの製造方法であって、次の工程を含んでおり、つまり、
基板(1)を準備する工程を含み、前記基板(1)の上側の表面(2)に1つ若しくは複数の構成要素(3)を配置してあり、
前記基板(1)の上側の表面(2)上並びに前記構成要素(3)上に密閉用の保護層(4)を形成する工程を含み、密閉用の保護層(4)の形成は、互いに重ねて配置された複数の部分層(5)の形成を含んでおり、前記保護層(4)は、電気絶縁性のプラスチック材料から成る成形されたシートである第1の部分層(5−1)と、金属を有する金属性の部分層である第2の部分層(5−2)と、有機質の材料を有する有機質の層である第3の部分層(5−3)と、成形材料層である第4の部分層(5−4)とを有し、
さらに次の工程を含んでおり、つまり、密閉用の保護層(4)に窓(9)を形成することにより、基板(1)の上側の表面(2)内並びに1つ若しくは複数の構成要素(3)の表面内の1つ若しくは複数の接触面(8)を露出させ、かつ露出された該接触面(8)と導電性の材料から成る接点層(10)とを面接触させる形式のものにおいて、
互いに異なる導電性材料から成っていて互いに重ねて配置された複数の個別層(11)によって形成された接点層(10)を用いることを特徴とする、パッケージの製造方法。 - シートにポリイミド、ポリアミド、ポリエチレン、ポリフェノール、ポリエーテルエーテルケトン及び/又はエポキシドをベースにしたプラスチック材料を用いる請求項1に記載の製造方法。
- 前記金属層の金属を、アルミニウム、銅、チタン及びニッケルのグループから選んである請求項1又は2に記載の製造方法。
- 互いに重ねて配置された複数の部分層(5)の形成は、無機質の材料を有する無機質の層の形成を含んでいる請求項1から3のいずれか1項に記載の製造方法。
- 無機質の材料は酸化珪素を含んでいる請求項4に記載の製造方法。
- 有機質の材料はパリレンを含んでいる請求項1から5のいずれか1項に記載の製造方法。
- 互いに重ねて配置された複数の部分層(5)の形成は、有機的に改質されたセラミックを有する層の形成を含んでいる請求項1から6のいずれか1項に記載の製造方法。
- 密閉用の保護層(4)の形成は、充填剤を有する密閉用の保護層(4)の形成を含んでいる請求項1から7のいずれか1項に記載の製造方法。
- 充填剤は酸化珪素若しくは炭素を含んでいる請求項8に記載の製造方法。
- 基板の準備は絶縁性の層(7)、該絶縁性の層(7)の下側の表面(101)に施された第1の金属層(6)、及び前記絶縁性の層(7)の下側の表面(101)と逆の側の表面(102)に施されかつパターン形成された第2の金属層(12)から成る基板の準備を含んでいる請求項1から9のいずれか1項に記載の製造方法。
- 密閉用の保護層(4)の形成は、物理的な層形成手段を含んでいる請求項1から10のいずれか1項に記載の製造方法。
- 物理的な層形成手段は、スパッター法若しくは蒸着法を含んでいる請求項11に記載の製造方法。
- 密閉用の保護層(4)の形成は、スプレー法を含んでいる請求項1から12のいずれか1項に記載の製造方法。
- 密閉用の保護層(4)の形成は、注入法を含んでいる請求項1から13のいずれか1項に記載の製造方法。
- 密閉用の保護層(4)の形成は、化学的析出法を含んでいる請求項1から14のいずれか1項に記載の製造方法。
- 化学的析出法はCVD法若しくはLPCVD法を含んでいる請求項15に記載の製造方法。
- 窓(9)の形成は、フォトリソグラフィ法を含んでいる請求項1から16のいずれか1項に記載の製造方法。
- 窓(9)の形成は、レーザーアブレーションを含んでいる請求項1から17のいずれか1項に記載の製造方法。
- 窓(9)の形成は、エッチング法を含んでいる請求項1から18のいずれか1項に記載の製造方法。
- 窓(9)の形成は、機械的方法を含んでいる請求項1から19のいずれか1項に記載の製造方法。
- パッケージであって、基板(1)を含んでおり、該基板(1)の表面(2)上に、1つ若しくは複数の構成要素(3)を装着してあり、該構成要素(3)上並びに前記基板(1)の表面(2)上に密閉用の保護層(4)を形成してあり、密閉用の保護層(4)は、互いに重ねて配置された複数の部分層(5)を含んでいて、前記保護層(4)は、電気絶縁性のプラスチック材料から成る成形されたシートである第1の部分層(5−1)と、金属を有する金属性の部分層である第2の部分層(5−2)と、有機質の材料を有する有機質の層である第3の部分層(5−3)と、成形材料層である第4の部分層(5−4)とを有し、
基板(1)の表面並びに1つ若しくは複数の構成要素(3)の表面に接触面(8)を設けてあり、密閉用の保護層(4)は前記接触面(8)に対して窓(9)を有しており、該窓によって前記接触面(8)は露出されて、導電性の材料から成る接点層(10)と面接触されている形式のものにおいて、
接点層(10)は、互いに異なる導電性材料から成っていて互いに重ねて配置された複数の個別層(11)を含んでいることを特徴とするパッケージ。 - シートはポリイミド、ポリアミド、ポリエチレン、ポリフェノール、ポリエーテルエーテルケトン及び/又はエポキシドをベースにしたプラスチック材料から形成されている請求項21に記載のパッケージ。
- 金属はアルミニウム、銅、チタン及びニッケルのグループから選ばれている請求項21又は22に記載のパッケージ。
- 複数の部分層(5)の1つは、無機質の材料を有する無機層である請求項21から23のいずれか1項に記載のパッケージ。
- 無機質の材料は酸化珪素を含んでいる請求項24に記載のパッケージ。
- 有機質の材料はパリレンを含んでいる請求項21から25のいずれか1項に記載のパッケージ。
- 複数の部分層(5)の1つは、有機的に改質されたセラミックを有する層である請求項21から26のいずれか1項に記載のパッケージ。
- 密閉用の保護層(4)は充填剤を有している請求項21から27のいずれか1項に記載のパッケージ。
- 充填剤は酸化珪素若しくは炭素を含んでいる請求項28に記載のパッケージ。
- 基板は絶縁性の層(7)、該絶縁性の層(7)の下側の表面(101)に施された第1の金属層(6)、及び前記絶縁性の層(7)の下側の表面(101)と逆の側の表面(102)に施されかつパターン形成された第2の金属層(12)から成っている請求項21から29のいずれか1項に記載のパッケージ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005037869A DE102005037869B4 (de) | 2005-08-10 | 2005-08-10 | Anordnung zur hermetischen Abdichtung von Bauelementen und Verfahren zu deren Herstellung |
DE102005037869.2 | 2005-08-10 | ||
PCT/EP2006/064787 WO2007017404A2 (de) | 2005-08-10 | 2006-07-28 | Anordnung zur hermetischen abdichtung von bauelementen und verfahren zu deren herstellung |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009505386A JP2009505386A (ja) | 2009-02-05 |
JP2009505386A5 true JP2009505386A5 (ja) | 2012-11-15 |
JP5174664B2 JP5174664B2 (ja) | 2013-04-03 |
Family
ID=37681045
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008525534A Expired - Fee Related JP5174664B2 (ja) | 2005-08-10 | 2006-07-28 | 密閉用のパッケージ及びパッケージの製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7897881B2 (ja) |
JP (1) | JP5174664B2 (ja) |
DE (1) | DE102005037869B4 (ja) |
WO (1) | WO2007017404A2 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007036045A1 (de) * | 2007-08-01 | 2009-02-05 | Siemens Ag | Elektronischer Baustein mit zumindest einem Bauelement, insbesondere einem Halbleiterbauelement, und Verfahren zu dessen Herstellung |
US20090091005A1 (en) * | 2007-10-09 | 2009-04-09 | Huang Chung-Er | Shielding structure for semiconductors and manufacturing method therefor |
DE102008031231B4 (de) * | 2008-07-02 | 2012-12-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Herstellungsverfahren für planare elektronsche Leistungselektronik-Module für Hochtemperatur-Anwendungen und entsprechendes Leistungselektronik-Modul |
EP2161974A1 (de) * | 2008-09-09 | 2010-03-10 | Hegutechnik v. Gutwald KG | Bifunktionale EMV Beschichtung |
US20110270028A1 (en) * | 2010-04-30 | 2011-11-03 | Allergan, Inc. | Biocompatible and biostable implantable medical device |
US20120188727A1 (en) * | 2011-01-24 | 2012-07-26 | ADL Engineering Inc. | EMI Shielding in a Package Module |
US9064883B2 (en) * | 2011-08-25 | 2015-06-23 | Intel Mobile Communications GmbH | Chip with encapsulated sides and exposed surface |
DE102011112476A1 (de) * | 2011-09-05 | 2013-03-07 | Epcos Ag | Bauelement und Verfahren zum Herstellen eines Bauelements |
CN102548239A (zh) | 2012-01-09 | 2012-07-04 | 华为终端有限公司 | 一种电路板的制作方法、电路板和电子设备 |
AU2013208273B2 (en) | 2012-01-10 | 2015-11-26 | Hzo, Inc. | Methods, apparatuses and systems for monitoring for exposure of electronic devices to moisture and reacting to exposure of electronic devices to moisture |
US9146207B2 (en) | 2012-01-10 | 2015-09-29 | Hzo, Inc. | Methods, apparatuses and systems for sensing exposure of electronic devices to moisture |
KR102253463B1 (ko) | 2013-01-08 | 2021-05-18 | 에이치제트오 인코포레이티드 | 보호 코팅의 적용을 위한 기판 마스킹 |
US9894776B2 (en) | 2013-01-08 | 2018-02-13 | Hzo, Inc. | System for refurbishing or remanufacturing an electronic device |
US10449568B2 (en) | 2013-01-08 | 2019-10-22 | Hzo, Inc. | Masking substrates for application of protective coatings |
CN103594434B (zh) * | 2013-10-23 | 2017-12-29 | 广东明路电力电子有限公司 | 带复合散热层的功率部件 |
ES2909452T3 (es) * | 2014-10-14 | 2022-05-06 | Carel Ind Spa | Dispositivo de control para sistemas de refrigeración y acondicionamiento |
DE102014115565B3 (de) * | 2014-10-27 | 2015-10-22 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung einer Schalteinrichtung mit einer feuchtigkeitsdichten und elektrisch isolierenden Abdeckung und zur Herstellung einer Anordnung hiermit |
JP2019012722A (ja) * | 2017-06-29 | 2019-01-24 | 株式会社ケーヒン | 制御回路装置 |
US11034068B2 (en) * | 2018-04-30 | 2021-06-15 | Raytheon Company | Encapsulating electronics in high-performance thermoplastics |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2005
- 2005-08-10 DE DE102005037869A patent/DE102005037869B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-07-28 WO PCT/EP2006/064787 patent/WO2007017404A2/de active Application Filing
- 2006-07-28 US US11/990,263 patent/US7897881B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-07-28 JP JP2008525534A patent/JP5174664B2/ja not_active Expired - Fee Related
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