JP6580039B2 - 弾性波装置及びその製造方法 - Google Patents

弾性波装置及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6580039B2
JP6580039B2 JP2016529630A JP2016529630A JP6580039B2 JP 6580039 B2 JP6580039 B2 JP 6580039B2 JP 2016529630 A JP2016529630 A JP 2016529630A JP 2016529630 A JP2016529630 A JP 2016529630A JP 6580039 B2 JP6580039 B2 JP 6580039B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cover member
support layer
main surface
wave device
recess
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2016529630A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2015199132A1 (ja
Inventor
拓 菊知
拓 菊知
誠二 甲斐
誠二 甲斐
基嗣 津田
基嗣 津田
比良 光善
光善 比良
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Publication of JPWO2015199132A1 publication Critical patent/JPWO2015199132A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6580039B2 publication Critical patent/JP6580039B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02984Protection measures against damaging
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/08Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
    • H03H9/02637Details concerning reflective or coupling arrays
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/058Holders; Supports for surface acoustic wave devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/058Holders; Supports for surface acoustic wave devices
    • H03H9/059Holders; Supports for surface acoustic wave devices consisting of mounting pads or bumps
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/05Holders; Supports
    • H03H9/10Mounting in enclosures
    • H03H9/1064Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices
    • H03H9/1071Mounting in enclosures for surface acoustic wave [SAW] devices the enclosure being defined by a frame built on a substrate and a cap, the frame having no mechanical contact with the SAW device
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/46Filters
    • H03H9/64Filters using surface acoustic waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Description

本発明は、弾性波装置及びその製造方法に関する。
従来、弾性波装置が広く用いられている。
たとえば、下記の特許文献1に記載の弾性表面波デバイスには、圧電基板上に設けられた支持層及び支持層上に設けられたカバー部材を貫通するようにビア電極が設けられている。ビア電極は、第1のビア電極部と第1のビア電極部に連ねられた第2のビア電極部とを有する。第1のビア電極部は支持層を貫通している。第2のビア電極部はカバー部材を貫通している。特許文献1では、第1のビア電極部の径よりも第2のビア電極部の径が大きい。
特開2008−124785号公報
従来、耐熱衝撃性などを高めるために、下記の特許文献1に記載のように、ビア電極と外部電極との接触面積を大きくする必要があった。しかしながら、特許文献1においては、外部電極と接続される、径の大きな第2のビア電極部の下端は支持層上に至っている。すなわち、第2のビア電極部の、下端部における横断面積が大きいため、その下の支持層の幅方向における寸法も、大きくする必要があった。他方、弾性表面波デバイスは、圧電基板、支持層及びカバー部材により形成される中空部を有する。IDT電極やIDT電極を含むフィルタ回路などを収納するために、上記中空部の平面積を充分な大きさとする必要がある。ところが、特許文献1では、支持層の幅方向の寸法を大きくしなければならないため、弾性表面波デバイスの小型化を図ることは困難であった。
本発明の目的は、より一層の小型化を図ることができる、弾性波装置を提供することにある。
本発明に係る弾性波装置は、圧電基板と、上記圧電基板上に設けられている機能電極と、上記機能電極を囲むように上記圧電基板上に設けられている支持層と、上記支持層の開口部を封止するように上記支持層上に設けられており、上記支持層側の主面である第1の主面と、上記第1の主面とは反対側の第2の主面とを有するカバー部材とを備える。上記カバー部材には、上記第2の主面に開口している凹部が形成されている。上記支持層を貫通し、さらに上記カバー部材の上記凹部の底面に至り、該底面に開口している開口部を有するようにビアホールが形成されている。上記ビアホールの上記開口部の面積が、上記カバー部材の上記凹部の底面の面積以下とされている。上記ビアホールに設けられている第1のビア導体部及び上記カバー部材の上記凹部に設けられている第2のビア導体部がさらに備えられている。
本発明に係る弾性波装置のある特定の局面では、上記支持層と上記カバー部材とが同じ材料により一体に形成されている。
本発明に係る弾性波装置の他の特定の局面では、上記第2のビア導体部の上記第1のビア導体部側とは反対側の端部にバンプが接合されている。
本発明に係る弾性波装置のさらに他の特定の局面では、上記カバー部材が第1,第2のカバー部材を有する。上記支持層上に上記第1のカバー部材が設けられている。上記第1のカバー部材上に上記第2のカバー部材が設けられている。
本発明に係る弾性波装置の別の特定の局面では、上記第1のカバー部材に至らないように上記カバー部材の上記凹部が上記第2のカバー部材に形成されている。
本発明に係る弾性波装置の製造方法は、圧電基板上に設けられている機能電極と、上記圧電基板上に上記機能電極を囲むように設けられている支持層と、上記支持層の開口部を封止するように上記支持層上に設けられており、上記支持層側の主面である第1の主面と、上記第1の主面とは反対側の第2の主面とを有するカバー部材とを有し、上記カバー部材の上記第2の主面に開口している凹部が形成されており、上記支持層を貫通し、さらに上記カバー部材の上記凹部の底面に至るようにビアホールが形成されている弾性波素子を用意する工程と、上記ビアホール及び上記カバー部材の上記凹部に導体を充填し、上記ビアホールに第1のビア導体部を形成し、上記カバー部材の上記凹部に第2のビア導体部を形成する工程とを備える。上記ビアホールを形成する工程において、上記カバー部材の凹部に臨む上記ビアホールの開口部の面積が、上記凹部の底面の面積以下となるように上記ビアホールを形成する。
本発明に係る弾性波装置の製造方法のある特定の局面では、上記第2のビア導体部の上記第1のビア導体部側とは反対側の端部にバンプを接合する工程がさらに備えられている。
本発明に係る弾性波装置の製造方法の他の特定の局面では、上記カバー部材が第1,第2のカバー部材を有する。上記弾性波素子を用意する工程において、上記第1のカバー部材が上記カバー部材の上記第1の主面側になるように上記支持層上に上記カバー部材を設ける。
本発明に係る弾性波装置の製造方法のさらに他の局面では、上記弾性波素子を用意する工程において、上記第1のカバー部材に至らないように上記カバー部材の上記凹部を上記第2のカバー部材に形成する。
本発明に係る弾性波装置の製造方法の別の局面では、上記弾性波素子を用意する工程において、上記カバー部材の上記第2の主面上にフォトリソグラフィー法によりレジストパターンを形成し、エッチングにより上記カバー部材の第2の主面上に開口するように上記凹部を形成する。
本発明によれば、弾性波装置のより一層の小型化を図ることができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の略図的正面断面図である。 図2は、図1のA−A線に沿う平面断面図である。 図3は、第1の実施形態に係る弾性波装置の第1の変形例の略図的正面断面図である。 図4は、第1の実施形態に係る弾性波装置の第2の変形例の略図的正面断面図である。 図5は、第1の実施形態に係る弾性波装置の第3の変形例の略図的正面断面図である。 図6は、第1の実施形態に係る弾性波装置の第4の変形例の略図的正面断面図である。 図7は、第1の実施形態に係る弾性波装置の第5の変形例の略図的正面断面図である。 図8(a)〜図8(c)は、フォトリソグラフィー法を用いてカバー部材に凹部を形成する方法を説明するための部分切り欠き正面断面図である。 図9(a)は、レーザー照射によりカバー部材に凹部を形成する方法を説明するための部分切り欠き正面断面図である。図9(b)は、レーザー照射によりビアホールを形成する方法を説明するための部分切り欠き正面断面図である。 図10は、第1の実施形態に係る弾性波装置の第6の変形例の略図的正面断面図である。
以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の略図的正面断面図である。図2は、図1のA−A線に沿う平面断面図である。
弾性波装置1は圧電基板2を有する。圧電基板2はLiNbOまたはLiTaOなどの圧電単結晶からなる。なお、圧電基板2は、圧電セラミックスからなっていてもよい。
圧電基板2上には機能電極3が設けられている。機能電極3は、Al、Cu、Pt、Au、Ni、Mo、W、Ti、Cr、Ag、Mgなどの適宜の金属または合金からなる。また、これらの金属が積層されていてもよい。本実施形態では、機能電極3はIDT電極である。IDT電極に交流電圧が印加されると、圧電効果により弾性表面波が励振される。
なお、機能電極3は、IDT電極の弾性波伝搬方向両側に、反射器を有していてもよい。あるいは、機能電極3は、複数のIDT電極からなるフィルタ回路を有していてもよい。
圧電基板2上には、機能電極3と電気的に接続されている第1の配線層4aが設けられている。さらに、圧電基板2上には、第2の配線層4bが設けられている。第2の配線層4bは、第1の配線層4a上にも至っており、第2の配線層4bは、第1の配線層4aと電気的に接続されている。第1,第2の配線層4a,4bはそれぞれ適宜の金属または合金からなる。第2の配線層4bは後述するビア導体と電気的に接続されており、それによって、機能電極3は外部と電気的に接続される。
圧電基板2上には、機能電極3を囲むように支持層5が設けられている。支持層5は、第2の配線層4b上にも至っている。支持層5は枠状の形状を有する。支持層5は、適宜の樹脂材料からなる。なお、支持層5は、機能電極3の周囲において、すべて閉じられている必要はなく、一部が開いていてもよい。
支持層5の開口部を封止するように、支持層5上にカバー部材6が設けられている。圧電基板2、支持層5及びカバー部材6により中空部Bが形成されている。機能電極3は中空部Bに収納されている。
カバー部材6は第1の主面6Aと、第1の主面6Aとは反対側の第2の主面6Bとを有する。第1の主面6Aが支持層5側に位置している。本実施形態では、カバー部材6は第1,第2のカバー部材6a,6bを有する。第1のカバー部材6aは支持層5上に設けられている。第2のカバー部材6bは第1のカバー部材6a上に積層されている。第1,第2のカバー部材6a,6bはそれぞれ支持層5側に位置する第1の主面6aA,6bAを有する。また、第1,第2のカバー部材6a,6bはそれぞれ第1の主面6aA,6bAとは反対側の第2の主面6aB,6bBを有する。第1のカバー部材6aの第1の主面6aAはカバー部材6の第1の主面6Aであり、第2のカバー部材6bの第2の主面6bBはカバー部材6の第2の主面6Bである。
第2のカバー部材6bには、第2の主面6bBに開口している凹部6cが形成されている。本実施形態では、凹部6cは第1のカバー部材6aには至っていない。なお、凹部6cは、第1のカバー部材6aに至っていてもよい。
本実施形態では、第2のカバー部材6bの凹部6cには、第2の主面6bBに開口している部分に連なる傾斜面部が形成されている。なお、凹部6cに傾斜面部は形成されていなくてもよい。
本実施形態では、第1のカバー部材6aは粘接着性を有する樹脂からなる接着層である。第2のカバー部材6bは耐薬液性を有する樹脂からなる保護層である。なお、第1及び第2のカバー部材6a及び6bは、粘接着性及び耐薬液性を有していない適宜の樹脂からなっていてもよい。また、図3に示す第1の変形例である弾性波装置11のように、カバー部材16は単一の樹脂層からなっていてもよい。
図1に戻り、弾性波装置1の支持層5を貫通するように、ビアホール7が形成されている。ビアホール7の下端は第2の配線層4bの上面に至っている。また、ビアホール7は第1,第2のカバー部材6a,6bを貫通しており、ビアホール7の上端は第2のカバー部材6bの凹部6cの底面に至っている。ビアホール7は、凹部6cの底面に開口している開口部7aを有する。ビアホール7の開口部7aの面積は、第2のカバー部材6bの凹部6cの底面の面積以下とされている。なお、本明細書では、カバー部材の第2の主面に開口している凹部の底面の面積は、凹部を平面視したときの面積である。
本実施形態では、ビアホール7には、ビアホール7の両端部を接続している傾斜面部が設けられている。それによって、ビアホール7の第2の配線層4b側端部の径が、ビアホール7の第2のカバー部材6bの凹部6c側端部の径よりも小さい。よって、ビアホール7の横断面積は、開口部7aにおいて最大となる。なお、ビアホール7には傾斜面部は設けられていなくてもよい。
ビアホール7及び第2のカバー部材6bの凹部6cには、ビア導体8が設けられている。ビア導体8はビアホール7に設けられている第1のビア導体部8a及び第2のカバー部材6bの凹部6cに設けられている第2のビア導体部8bを有する。第1のビア導体部8aは第2の配線層4bと電気的及び物理的に接続されている。なお、第2の配線層4bが設けられておらず、第1の配線層4aと第1のビア導体部8aとが電気的及び物理的に接続されていてもよい。ビア導体8はCu、Ag、Au、Sn、Pd、Niなどの適宜の金属または合金からなる。
ビア導体8の第2のビア導体部8b上にバンプ9が接合されている。バンプ9はビア導体8と電気的に接続されている。弾性波装置1はバンプ9を利用して回路基板などに実装される。バンプ9ははんだなどの適宜のろう材用金属からなる。
なお、バンプ9は必須ではなく、バンプ9を用いずに回路基板などに接合してもよい。
本実施形態の特徴は、第2のカバー部材6bの第2の主面6bBに凹部6cが設けられていること及びビア導体8において第2のビア導体部8bの横断面積よりも第1のビア導体部8aの横断面積が小さいことにある。それによって、弾性波装置を小型とすることができる。以下において、より詳細に説明する。
弾性波装置1では、機能電極3を囲むために、中空部Bの平面面積を充分な大きさとする必要がある。よって、弾性波装置1を小型とするためには、中空部B以外の部分の寸法を小さくする必要がある。本実施形態では、ビア導体8の第2のビア導体部8bは第2のカバー部材6bの凹部6cに設けられている。そのため、図1における積層方向と垂直な方向を幅方向とすると、支持層5の幅方向の寸法は第2のビア導体部8bの面積には依存しない。また、第2のビア導体部8bの横断面積よりも第1のビア導体部8aの横断面積は小さい。そのため、支持層5の幅方向の寸法を小さくすることができる。従って、弾性波装置を小型とすることができる。
また、上述のように、支持層5の幅方向の寸法は第2のビア導体8bの面積には依存しない。そのため、弾性波装置1の平面面積を大きくすることなく、第2のビア導体部8bの横断面積を充分に大きくすることができる。それによって、第2のビア導体部8bとバンプ9との接合面積を充分に大きくすることができる。従って、弾性波装置の耐熱衝撃性を効果的に高めることができる。
なお、図4に示す第2の変形例の弾性波装置51のように、第2のカバー部材6bの凹部56cの底面の面積において、傾斜面部が設けられていない部分の面積が、ビアホール7の開口部7aの面積とが等しくてもよい。この場合においても、第2のビア導体部58bがバンプに接する部分の面積よりも第1のビア導体部8aの横断面積が小さい。よって、第1の実施形態と同様に、弾性波装置を小型にすることができる。
図5に示す第3の変形例の弾性波装置61のように、第2のカバー部材6bの凹部66cの底面66c1は曲面を有していてもよい。この場合においても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
また、図6に示す第4の変形例である弾性波装置21のように、ビア導体28の第2のビア導体部28bの上面は凸型形状を有していてもよい。それによって、ビア導体28とバンプ29との接合面積をより一層大きくすることができる。従って、弾性波装置の耐熱衝撃性をより一層効果的に高めることができる。
第2のビア導体部28bの上面の高さは、好ましくは第2のカバー部材6bの厚み方向における中央部6bC付近に位置することが望ましい。なお、第2のビア導体部28bの少なくとも一部は、厚み方向において、第2のカバー部材6bの第2の主面6bBよりも上方に位置していてもよい。
第1の実施形態では、第1のカバー部材6aは接着層であり、第2のカバー部材6bは保護層である。第2のカバー部材6bは第1のカバー部材6aを介して支持層5上に設けられている。そのため、支持層5とカバー部材6との接着強度を高めることができており、かつ第2のカバー部材6bにより外部からの衝撃に対する耐久性を高めることができる。さらに、第2のカバー部材6bの凹部6cは第1のカバー部材6aには至っていない。そのため、第1のカバー部材6aの第2の主面6aBの全面が第2のカバー部材6bにより覆われている。それによって、弾性波装置の耐久性を効果的に高めることができる。また、ビア導体が、保護層である第2のカバー部材6bの凹部6cの底面を覆うように設けられるので、耐薬液性をより高めることができる。
なお、本実施形態では、支持層5とカバー部材6が別体とされていたが、これに限定されるものではない。図7に示す第5の変形例である弾性波装置31のように、支持層とカバー部材とは同じ材料により一体に形成されていてもよい。すなわち、支持層部分35aとカバー部材部分35bとは一体に構成されていてもよい。
上記実施形態に係る弾性波装置の製造方法を以下において説明する。
まず、圧電基板2上に機能電極3を形成する。次に、機能電極3と電気的に接続される第1の配線層4aを形成する。なお、機能電極3及び第1の配線層4aを同時に形成してもよい。次に、圧電基板2上に、第1の配線層4a上に至るように第2の配線層4bを形成する。機能電極3及び第1,第2の配線層4a,4bは、例えば、スパッタリング法やCVD法、真空蒸着法などにより形成することができる。
なお、圧電基板2はマザー基板である。複数の弾性波装置を圧電基板2上に同時に構成することができる。
次に、機能電極3を囲むように圧電基板2上に、第2の配線層4b上に至るように支持層5を形成する。支持層5を設ける際は、支持層5が枠状の形状を有するように設ける。支持層5は、例えば、フォトリソグラフィー法などにより形成することができる。
次に、支持層5の開口部を封止するように、カバー部材6を設ける。本実施形態では、カバー部材6は第1,第2のカバー部材6a,6bを有する。上述のように、第1のカバー部材6aは接着層であり、第2のカバー部材6bは保護層である。接着層である第1のカバー部材6aをカバー部材6の第1の主面6A側になるようにして、カバー部材6を支持層5に接合する。
支持層5上に第1のカバー部材6aを設けた後に第1のカバー部材6a上に第2のカバー部材6bを積層してもよい。また、第1,第2のカバー部材6a,6bを積層してカバー部材6を得た後に、カバー部材6を支持層5に接合してもよい。
次に第2のカバー部材6bに凹部6cを形成する。これを、図8(a)〜図8(c)を用いて説明する。
図8(a)〜図8(c)は、フォトリソグラフィー法を用いてカバー部材に凹部を形成する方法を説明するための部分切り欠き正面断面図である。
図8(a)に示すように、カバー部材6の第2の主面6Bにフォトリソグラフィー法によりレジストパターン10を形成する。次に、図8(b)に示すように、エッチングにより第2のカバー部材6bの第2の主面6bBに開口するように凹部6cを形成する。第1のカバー部材6aに至らないように凹部6cを形成する。また、凹部6cに傾斜面部を形成する。しかる後、図8(c)に示すように、上記レジストパターンを剥離する。なお、凹部6cを形成する際に上記傾斜面部を形成してもよく、別工程で上記傾斜面部を形成してもよい。また、凹部6cは、第1のカバー部材6aに至っていてもよい。
次に、第2のカバー部材6bの凹部6cの底面にレーザーを照射することにより、図1に示すビアホール7を形成する。ビアホール7がカバー部材6及び支持層5を貫通し、第2の配線層4bの上面に至るようにビアホール7を形成する。第2のカバー部材6bの凹部6cの底面の面積よりもビアホール7の開口部7aの面積が小さくなるようにビアホール7を形成する。また、ビアホール7の第2の配線層4b側端部の径が、ビアホール7の凹部6c側端部の径よりも小さくなるように、ビアホール7の両端部に連なる傾斜面部を形成する。ビアホール7は、例えば、レーザー照射などにより形成することができる。なお、ビアホール7を形成する際に上記傾斜面部を形成してもよく、別工程で上記傾斜面部を形成してもよい。以上のようにして、弾性波素子を用意することができる。
なお、凹部6cは、フォトリソグラフィー法以外の方法により形成することもできる。例えば、レーザー照射によっても、凹部6cを形成することができる。この方法は、図3に示した第1の変形例のように、カバー部材16が単一の樹脂層からなるときなどに、特に好適に用いることができる。図9(a)及び図9(b)を用いて、第1の変形例において、レーザー照射により凹部6c及びビアホール7を形成する方法を説明する。
図9(a)は、レーザー照射によりカバー部材に凹部を形成する方法を説明するための部分切り欠き正面断面図である。図9(b)は、レーザー照射によりビアホールを形成する方法を説明するための部分切り欠き正面断面図である。
図9(a)に示すように、カバー部材16にレーザーを照射することにより、凹部6cを形成する。次に、図9(b)に示すように、凹部6cの底面にレーザーを照射することにより、ビアホール7を形成する。このとき、ビアホール7を形成するレーザーの径を、凹部6cを形成するレーザーの径よりも小さくする。それによって、凹部6cの径よりもビアホール7の径を小さくすることができる。
あるいは、凹部6cを形成するに際し、レーザーをスキャンすることにより、凹部6cの径を大きくしてもよい。この場合には、凹部6cを形成する際とビアホール7を形成する際とにおいて、同じ径のレーザーを用いることもできる。
第1の実施形態の弾性波装置1の製造方法の説明に戻る。次に、図1に示すビアホール7及び第2のカバー部材6bの凹部6cに導体を充填し、ビア導体8を形成する。それによって、ビアホール7に第1のビア導体部8aを形成し、第2のカバー部材6bの凹部6cに第2のビア導体部8bを形成する。ビア導体8は、特に限定されないが、例えば、めっき法により形成することができる。本実施形態では第2のカバー部材6bの凹部6c及びビアホール7に傾斜面部が形成されているため、第1,第2のビア導体部8a,8bを容易に形成することができる。
次に、第2のビア導体部8a上にバンプ9を設ける。第1のカバー部材6aの第2の主面6aBは、耐薬液性を有する保護層である第2のカバー部材6bにより覆われている。それによって、バンプ9を設ける際に、バンプ9の材料から流出する有機成分が圧電基板2、支持層5及びカバー部材6からなる中空部Bに流入し難い。従って、弾性波装置の不良品率を低減することができる。
次に、圧電基板2を切断することにより、個々の弾性波装置1を得る。
また、図10に示す第6の変形例である弾性波装置41のように、カバー部材46の凹部46cの中心軸Cの位置をビアホール7の中心軸Dの位置よりも幅方向において内側に位置させてもよい。バンプ49はカバー部材46の凹部46c上に位置しているため、バンプ49も幅方向において内側に位置している。それによって、圧電基板2を切断する前において隣り合っている弾性波装置41のバンプ49同士の距離を大きくすることができる。よって、より一層容易に圧電基板2を切断することができる。従って、弾性波装置の不良品率を低減することができる。さらに、必要面積が小さくなるため、弾性波装置41を小型にすることができる。また、設計自由度を高めることもできる。
1…弾性波装置
2…圧電基板
3…機能電極
4a,4b…第1,第2の配線層
5…支持層
6…カバー部材
6A,6B…第1,第2の主面
6a,6b…第1,第2のカバー部材
6aA,6bA…第1の主面
6aB,6bB…第2の主面
6c…凹部
7…ビアホール
7a…開口部
8…ビア導体
8a,8b…第1,第2のビア導体部
9…バンプ
10…レジストパターン
11…弾性波装置
16…カバー部材
21…弾性波装置
28…ビア導体
28b…第2のビア導体部
29…バンプ
31…弾性波装置
35a…支持層部分
35b…カバー部材部分
41…弾性波装置
46…カバー部材
46c…凹部
49…バンプ
51…弾性波装置
56c…凹部
58b…第2のビア導体部
61…弾性波装置
66c…凹部
66c1…底面

Claims (5)

  1. 圧電基板と、
    前記圧電基板上に設けられている機能電極と、
    前記機能電極を囲むように前記圧電基板上に設けられている支持層と、
    前記支持層の開口部を封止するように前記支持層上に設けられており、前記支持層側の主面である第1の主面と、前記第1の主面とは反対側の第2の主面とを有するカバー部材とを備え、
    前記カバー部材には、前記第2の主面に開口している凹部が形成されており、前記支持層を貫通し、さらに前記カバー部材の前記凹部の底面に至り、該底面に開口している開口部を有するようにビアホールが形成されており、
    前記ビアホールの前記開口部の面積が、前記カバー部材の前記凹部の底面の面積より小さくされており、
    前記ビアホールに設けられている第1のビア導体部及び前記カバー部材の前記凹部に設けられている第2のビア導体部をさらに備え、前記第2のビア導体部の上面が凸型形状を有し、
    前記カバー部材が、第1のカバー部材と第2のカバー部材とを有し、
    前記第1のカバー部材は、前記第1の主面を有する部材であり、
    前記第2のカバー部材は、前記第2の主面を有する部材であり、
    前記第2のカバー部材は、前記第1のカバー部材上に積層されており、
    前記カバー部材の前記凹部は、前記第1のカバー部材に至らないように前記第2のカバー部材に形成されており、
    前記第1のカバー部材は、前記第2のカバー部材と前記支持層とを接着する樹脂層であり、
    前記第2のカバー部材は、前記第1のカバー部材を保護する樹脂層である、
    弾性波装置。
  2. 前記第2のカバー部材は、耐薬液性を有する樹脂である、請求項1に記載の弾性波装置。
  3. 前記第1のカバー部材は、粘接着性を有する樹脂である、請求項1または2に記載の弾性波装置。
  4. 前記第2のビア導体部の前記第1のビア導体部側とは反対側の端部にバンプが接合されている、請求項1〜のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  5. 圧電基板上に設けられている機能電極と、前記圧電基板上に前記機能電極を囲むように設けられている支持層と、前記支持層の開口部を封止するように前記支持層上に設けられており、前記支持層側の主面である第1の主面と、前記第1の主面とは反対側の第2の主面とを有するカバー部材とを有し、前記カバー部材の前記第2の主面に開口している凹部が形成されており、前記支持層を貫通し、さらに前記カバー部材の前記凹部の底面に至るようにビアホールが形成されており、
    前記カバー部材が、第1のカバー部材と第2のカバー部材とを有し、
    前記第1のカバー部材は、前記第1の主面を有する部材であり、
    前記第2のカバー部材は、前記第2の主面を有する部材であり、
    前記第2のカバー部材は、前記第1のカバー部材上に積層されており、
    前記カバー部材の前記凹部は、前記第1のカバー部材に至らないように前記第2のカバー部材に形成されており、
    前記第1のカバー部材は、前記第2のカバー部材と前記支持層とを接着する樹脂層であり、
    前記第2のカバー部材は、前記第1のカバー部材を保護する樹脂層であ
    前記カバー部材の凹部に臨む前記ビアホールの開口部の面積が、前記凹部の底面の面積よりも小さい、弾性波素子を用意する工程と、
    前記ビアホール及び前記カバー部材の前記凹部に導体を充填し、前記ビアホールに第1のビア導体部を形成し、上面が凸型形状を有するように、前記カバー部材の前記凹部に第2のビア導体部を形成する工程とを備える
    弾性波装置の製造方法。
JP2016529630A 2014-06-27 2015-06-24 弾性波装置及びその製造方法 Active JP6580039B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014132402 2014-06-27
JP2014132402 2014-06-27
PCT/JP2015/068206 WO2015199132A1 (ja) 2014-06-27 2015-06-24 弾性波装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015199132A1 JPWO2015199132A1 (ja) 2017-04-20
JP6580039B2 true JP6580039B2 (ja) 2019-09-25

Family

ID=54938210

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016529630A Active JP6580039B2 (ja) 2014-06-27 2015-06-24 弾性波装置及びその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10707830B2 (ja)
JP (1) JP6580039B2 (ja)
CN (1) CN106464232B (ja)
WO (1) WO2015199132A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105474539B (zh) * 2013-08-20 2017-12-01 株式会社村田制作所 声表面波设备及其制造方法
WO2017187747A1 (ja) 2016-04-28 2017-11-02 株式会社村田製作所 弾性波装置
JP2018078419A (ja) * 2016-11-08 2018-05-17 株式会社村田製作所 弾性波装置、高周波フロントエンド回路及び通信装置
US10483248B2 (en) * 2017-03-23 2019-11-19 Skyworks Solutions, Inc. Wafer level chip scale filter packaging using semiconductor wafers with through wafer vias
WO2018186240A1 (ja) * 2017-04-07 2018-10-11 株式会社村田製作所 弾性波装置
JP6801783B2 (ja) * 2017-05-26 2020-12-16 株式会社村田製作所 電子部品およびそれを備えるモジュール
WO2019044178A1 (ja) * 2017-08-31 2019-03-07 株式会社村田製作所 弾性波装置およびそれを備えた弾性波モジュール
JP6994102B2 (ja) * 2018-03-02 2022-01-14 京セラ株式会社 複合基板、および圧電素子
JP7057690B2 (ja) * 2018-03-19 2022-04-20 株式会社村田製作所 弾性波装置
JP2021197402A (ja) * 2020-06-10 2021-12-27 株式会社村田製作所 高周波モジュールおよび通信装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000101239A (ja) * 1998-09-24 2000-04-07 Dainippon Printing Co Ltd 転写方法および転写用部材
WO2007083432A1 (ja) * 2006-01-18 2007-07-26 Murata Manufacturing Co., Ltd. 弾性表面波装置及び弾性境界波装置
JP2008124785A (ja) 2006-11-13 2008-05-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 弾性表面波デバイス
WO2009057699A1 (ja) * 2007-10-30 2009-05-07 Kyocera Corporation 弾性波装置
JP5256701B2 (ja) * 2007-11-14 2013-08-07 パナソニック株式会社 弾性表面波デバイス
WO2010029657A1 (ja) * 2008-09-09 2010-03-18 株式会社村田製作所 弾性波装置
US8810111B2 (en) * 2008-11-28 2014-08-19 Kyocera Corporation Acoustic wave device and method for manufacturing same
JP5682201B2 (ja) * 2010-09-28 2015-03-11 株式会社村田製作所 圧電デバイスの製造方法
JP5510613B2 (ja) * 2011-07-08 2014-06-04 株式会社村田製作所 回路モジュール
WO2014050307A1 (ja) * 2012-09-25 2014-04-03 株式会社村田製作所 弾性波装置及びその製造方法
WO2014077239A1 (ja) * 2012-11-13 2014-05-22 株式会社村田製作所 弾性波装置
DE112014006080B4 (de) * 2013-12-27 2022-05-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. Vorrichtung für elastische Wellen
JP6715672B2 (ja) * 2016-04-25 2020-07-01 株式会社村田製作所 回路モジュール
JP2018078419A (ja) * 2016-11-08 2018-05-17 株式会社村田製作所 弾性波装置、高周波フロントエンド回路及び通信装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20170093366A1 (en) 2017-03-30
JPWO2015199132A1 (ja) 2017-04-20
CN106464232A (zh) 2017-02-22
US10707830B2 (en) 2020-07-07
CN106464232B (zh) 2019-09-27
WO2015199132A1 (ja) 2015-12-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6580039B2 (ja) 弾性波装置及びその製造方法
JP6409785B2 (ja) 弾性波装置及びその製造方法
US11398809B2 (en) Elastic wave device
JP6361738B2 (ja) 弾性波装置及びその製造方法
JP6296154B2 (ja) 弾性波デバイス及びその製造方法
WO2016088681A1 (ja) 電子部品及びその製造方法
WO2017179300A1 (ja) 弾性波装置及びその製造方法
US9509276B2 (en) Acoustic wave device and method of fabricating the same
JP5203454B2 (ja) Mems部品及び製造方法
JP6311836B2 (ja) 電子部品
US11533038B2 (en) Elastic wave device
JP2009278422A (ja) 弾性表面波デバイス及びその製造方法
JP4760884B2 (ja) 水晶振動子パッケージ、電子部品の実装構造体、及び電子部品の製造方法
JP4655796B2 (ja) 弾性境界波装置の製造方法及び弾性境界波装置
JPWO2012050016A1 (ja) 弾性表面波装置
JP2021016035A (ja) 弾性波装置
JP6996467B2 (ja) 弾性波装置
KR20220002537A (ko) 배선 전극
JP4461972B2 (ja) 薄膜圧電フィルタおよびその製造方法
JP6352844B2 (ja) 多数個取り回路配線基板および弾性表面波装置
JP2016005162A (ja) 電子部品装置
JP2014011487A (ja) 弾性波デバイス及びその製造方法
JP5206842B2 (ja) 水晶振動子パッケージ
WO2016039038A1 (ja) 圧電デバイス、圧電デバイス製造方法、及び電子部品
JP2011205428A (ja) 電子部品

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161018

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171121

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180327

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180517

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180529

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180824

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20180904

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20181026

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190712

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190827

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6580039

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150