JP2009146512A - 磁気ヘッド及び磁気記録装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】高記録密度磁気記録再生に好適な高分解能・高出力の蓄積素子を提供する。
【解決手段】スピン注入部10,11を複数備えることで、トータルのスピン電子の量を増加させる。スピン蓄積素子は、非磁性導電体1、第一の磁性導電体3、第二の磁性導電体8、及び第三の磁性導電体6で構成されており、それぞれが、トンネル接合によって、非磁性導電体に接している。スピン蓄積効果による出力電圧は、非磁性導電体1と第三の磁性導電体6の電位差として検出される。第一のスピン注入部10の第一の磁性導電体3は第一の反強磁性導電体4によって、第二のスピン注入部11の第二の磁性導電体8は第二の反強磁性導電体4によって、互いの磁化の方向が反平行になるように固定する。
【選択図】図1

Description

本発明は、磁気抵抗効果素子を備える磁気ヘッド及びそれを用いた磁気記録装置に関する。
磁気記録再生装置の記録密度は、年率40−60%で増大しており、近い将来Tbit/in2に到達すると推測される。それに伴い磁気記録再生ヘッドは、更に高出力化・高分解能化する必要がある。現在、磁気再生ヘッドとしては、センス電流を積層面に垂直に流すCPP−GMR(Current Perpendicular to Plane Giant Magneto Resistance)ヘッドやTMR(Tunneling Magneto Resistance)ヘッドが提案されている。しかし、これらのヘッドは、素子の膜の厚さの要請から、シールド間のギャップ長Gwを30nm以下にすることが困難であり、分解能の点で1Tbit/in2以上の媒体には適用が困難であると考えられている。例えば、1Tbit/in2の媒体に対する再生ヘッドのギャップ長はGw=25nmとなり、CPP−GMRやTMR等の従来技術では対応できない。
そのため、高分解能再生ヘッドとして、スピン蓄積効果(非特許文献1)を利用した再生ヘッドが提案されている(特許文献1)。スピン蓄積効果とは、強磁性体から非磁性金属に電流を流した際に、スピン拡散長λの範囲内で、非磁性金属中にスピン偏極した電子が蓄積される現象である。スピン拡散長λは、スピンの情報が消失する(スピンが反転する)距離を表しており、物質固有の値である。
ここで、非磁性体として非磁性金属細線を用い、この非磁性細線上に2つの磁性体を積層した基本素子(スピン蓄積素子)構造に関して説明する。2つの磁性体の内、片方の第一の磁性体から非磁性体へと電流を流すことでスピン注入源として用いる。もう片方の第二の磁性体をスピン蓄積効果による出力電圧の検出部分とする。強磁性体が一般にフェルミ準位において異なるスピン密度(アップスピン電子とダウンスピン電子の数が異なる)をもつため、第一の磁性体から非磁性体へと電流を流すことで、非磁性細線中では、スピン密度の差が誘起される。この蓄積されたスピン偏極した電子のため、非磁性体は、スピン拡散長の範囲内で、強磁性的な振る舞いをすることが知られている(非特許文献1,2)。この効果を用いると、第一の磁性体と第二の磁性体の磁化の向きに依存して、電圧差ΔVが生じる。この電圧差のことをスピン蓄積素子の出力電圧ΔVと呼んでいる。なお、出力電圧の測定方法として、電圧検出部分には電流が流れない非局所電圧測定が一般的に用いられている(非特許文献1)。ΔVの増大のためには、スピン拡散長λを長くすることや2つの電極間距離d1を減少させることが有効である(特許文献2)。
F. J. Jedema et al., "Spin injection and spin accumulation in all-metal mesoscopic spin valves", Phys. Rev. B, vol.67, (2003), pp.85319-85319(16). S. Takahashi and S. Maekawa, "Spin injection and detection in magnetic nanostructures", Phys. Rev. B, vol.67, (2003), pp.52409(1) -52409(4). 特開2004−342241号公報 特開2004−186274号公報
この基本素子を利用した再生ヘッドは、固定層と自由層を完全に分離できるため、シールド間のギャップ長を狭小化できるという特徴がある。しかし、従来のスピン蓄積素子は出力の点で不十分であり、更なる高出力化を図る必要がある。スピン蓄積効果を利用する再生ヘッドの出力電圧を増大させる方法の一つとして、スピン蓄積素子を構成する2つの磁性体間隔d1を狭小化する方法が考えられる。しかし、現在の微細加工の技術では、磁性体間隔が最狭で30nmほどであり、無限に狭小化することは不可能である。また、磁性体間隔距離を近づけすぎると、2つの磁性体の間に磁気的な相互作用が働き、かえって磁気特性を落とす要因にもなる。そのため、磁性体間隔を狭めることなく、スピン電子の減衰を低減する新たな方法が求められている。
本発明のスピン蓄積素子は、複数のスピン注入部を備える。従来は、単一のスピン注入部を用いてスピン注入を行っていたが、本発明ではスピン注入部を複数備えることで、トータルのスピン電子の量を増加させる。
本発明では、非磁性導電体上に、第一のスピン注入部として磁化が一方向に固定された第一の磁性導電体を形成する。また、非磁性導電体を挟んで構成膜の垂直方向に対して第一のスピン注入部と反対方向に、あるいは、非磁性導電体に対して第一のスピン注入部と同じ側に第一のスピン注入部と離間して、第二のスピン注入部を形成する。第二のスピン注入部は、第二の磁性導電体を備え、その磁化の向きは第一のスピン注入部の第一の磁性導電体の磁化と反平行とする。また、出力電圧の検出部として、スピン注入部からスピン拡散長の範囲内で、非磁性導電体上に第三の磁性導電体を形成する。センス電流を第一のスピン注入部から、非磁性導電体、第二のスピン注入部と流した場合、非磁性導電体中には、第一及び第二のスピン注入部から、スピン偏極した電子が注入される。これにより、非磁性導電体中のスピン電子密度が増大し、スピン蓄積効果による出力電圧が増大する。
また、第二のスピン注入部に非磁性導電体を備え、第二のスピン注入部に電流を流したとき逆スピンホール効果によって生じるスピン偏極電子を注入するようにしてもよい。
本発明によると、従来のスピン蓄積素子と比較し、非磁性体中に蓄積されるスピン電子の量を増加させることができる。一例では、スピン蓄積効果による出力信号が、単一のスピン注入部を用いたスピン蓄積素子と比較し100%以上増大する。これには、複数のスピン注入部を備えたことによる効果と非磁性導電体中でのスピン電子の鏡面反射が関与している。その結果、高分解能・高出力の磁気再生ヘッドを提供できる。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
図1に、本発明を適用した第一のスピン蓄積素子を示す。第一のスピン蓄積素子は、非磁性導電体1と、非磁性導電体1上に積層された第一の磁性導電体3とが、非磁性導電体1上に形成した第一のトンネル接合2において接している。ここで、非磁性導電体1として、非磁性細線を用いているが、その形状は、この限りではない。第一の磁性導電体3は、第一の反強磁性体4により磁化方向が磁気的に固定されている。この磁性導電体3を第一のスピン注入部10とする。ただし、磁性導電体の磁化の固定方法としては、この限りではなく、積層フェリ構造などを用いても磁気的に固定可能である。また、第三の磁性導電体6は、第三のトンネル接合5を介して、非磁性導電体1に接している。第三の磁性導電体6の磁化は、外部磁場の影響を受けて自由に回転する。一方、第二の磁性導電体8は、第二のトンネル接合7を介して非磁性導電体1に接合されており、第二の反強磁性体9によって、磁化方向が磁気的に一方向に固着されている。第二の磁性導電体8は、非磁性導電体1の膜厚方向に対して、第一の磁性導電体3に対して反対側に接合されており、第二のスピン注入部11とする。ここで、第一のスピン蓄積素子は、第一の磁性導電体3と第二の磁性導電体8の磁化方向が互いに反平行であるのが特徴である。
非磁性導電体1としては、Cu,Ag,Al,Yb,Ru,Ir,Rhからなる非磁性導電性金属や、GaAs,Si,TiN,TiO,ReO3を主成分とする伝導性の化合物を用いることができる。第一の磁性導電体3と第三の磁性導電体6の距離d1は、磁気再生ヘッドとしての十分な出力を得るためには、それぞれの物質固有のスピン拡散長λよりも短いこと(d1<λ)が望ましいが、d1>λの条件でも効果は観測可能である。障壁層2としては、MgO,Al23,AlN,SiO2,HfO2,Zr23,Cr23,TiO2,SrTiO3の少なくとも一種類を含む材料からなる単膜あるいは積層膜を用いることができる。磁性導電体3としては、Co,Ni,Fe,Mn、あるいは、これらの元素の少なくとも一種類を主成分として含有している合金あるいは化合物からなる材料を用いることができる。さらに、ハーフメタルFe34に代表されるAB24(AはFe,Co,Znの少なくとも一つ、BはFe,Co,Ni,Mn,Znの一つ)なる構造を持つ酸化物、CrO2,CrAs,CrSbあるいはZnOに遷移金属であるFe,Co,Ni,Cr,Mnを少なくとも一成分以上添加した化合物、GaNにMnを添加した化合物、あるいはCo2MnGe,Co2MnSb,Co2Cr0.6Fe0.4Alなどに代表されるC2D×E1×F(CはCo,CuあるいはNiの少なくとも一種類、DとEはそれぞれMn,Fe,Crの一種、FはAl、Sb,Ge,Si,Ga,Snの少なくとも一成分)型のホイスラー合金を、これら磁性層が含有している場合も本発明に含まれる。反強磁性導電体4としては、MnIr,MnPt,MnRh等を用いることができる。
第一のスピン蓄積素子において、電流Icを第一のスピン注入部10から、非磁性導電体1へと流した場合、アップにスピン偏極した電子(スピン電子Is1 )が、第一のスピン注入部から、非磁性導電体1中へと注入される。この注入されたスピン電子Is1 の偏極方向は、第二の磁性導電体8の磁化方向と逆のため、第二のスピン注入部11との界面で反射し、非磁性導電体1中に効率良く注入される。一方、非磁性導電体1から第二の磁性導電体8へと流れる電流のために、非磁性導電体1中のダウンのスピン電子Is2 が、第二のスピン注入部11へと透過し、結果として非磁性導電体1中には、Is2 が蓄積される。言い換えるならば、第二のスピン注入部11によって、Is1 とは独立にIs2 が非磁性導電体1中に注入されると言える。また、前記の通り、注入されたスピン電子Is2 も、第一のスピン注入部10との界面で反射する。こうして、Is1 とIs2 の合成されたスピン電子が非磁性導電体1中に蓄積され、第三の磁性導電体6の磁化の方向に依存した出力電圧が、第三の磁性導電体6と非磁性導電体1の間に発生する。
図2は、第一のスピン蓄積素子との比較のために示した第二のスピン蓄積素子の構成図である。素子構造は図1と同様であるが、第一の磁性導電体3と第二の磁性導電体8の磁化の方向が互いに平行な点が第一のスピン蓄積素子と異なっている。電流Icを第一のスピン注入部10から、非磁性導電体1、第二のスピン注入部11へと流す。図1の素子と同様に、第一のスピン注入部10からは、アップに偏極したスピン電子Is1 が、非磁性導電体1へと注入される。この時、非磁性導電体1中に注入されたアップスピン電子Is1 は、第二の磁性導電体8の磁化方向と平行のため、第二の磁性導電体8へと容易に透過する。一方、第二のスピン注入部11と非磁性導電体1の界面では、第二の磁性導電体8の磁化方向と反平行なダウンに偏極したスピン電子Is2 が蓄積される。このため、スピン電子Is1 とスピン電子Is2 が互いに打ち消しあい、非磁性導電体1中には、一方向に偏極したスピン電子は蓄積されにくくなる。つまり、図2に示した第二のスピン蓄積素子では、十分な発明の効果が得られない。これらのことより、本発明による効果を得るためには、第一の磁性導電体1と第二の磁性導電体8の磁化の向きは反平行にする必要がある。
図3に、本発明による第三のスピン蓄積素子の構成例を示す。このスピン蓄積素子は、第一のスピン蓄積素子を構成している第一及び第二のスピン注入部10,11に加えて、第一及び第二の注入部を挟んで第三の磁性導電体6と反対側の同一直線上に、第三及び第四のスピン注入部10’,11’を増設した構造を有する。新たに増設した第三及び第四のスピン注入部10’,11’の構造及び材料は、図1で示した第一及び第二のスピン注入部と同じとし、第三のスピン注入部10’と第三の磁性導電体6との距離をd1’とする。また、第三のスピン注入部10’から、第四のスピン注入部11’へと電流Ic’を印加する。この構造により、図1での説明の通り、非磁性導電体1中にはスピン電子Is1,Is2,I’s1,I’s2が蓄積され、トータルの出力電圧は、図1の構造と比べて更に向上する。なお、図3に示した例は、図1の第一及び第二のスピン注入部10,11をそれぞれ1つ増やした構造であるが、2つ以上増やしてもよい。
図4(a)に、本発明の第四のスピン蓄積素子を示す。第四のスピン蓄積素子は、第一のスピン蓄積素子と異なり、第二のスピン注入部を第一のスピン注入部と同一平面上に形成したことを特徴とする。なお、第一の磁性導電体3と第二の磁性導電体8の磁化方向は、互いに反平行とする。今、第一のスピン注入部10から、第二のスピン注入部11へと電流Icを流す。第一のスピン注入部10では、アップに偏極したスピン電子Is1 が非磁性導電体1へと注入され、スピン拡散長の範囲内で、非磁性導電体1に蓄積される。一方、第二のスピン注入部11では、アップに偏極したスピン電子Is2 が、スピン拡散長の範囲内で同様に非磁性導電体1に蓄積される。出力電圧は、Is1 とIs2 の合計で規定されるため、単一のスピン注入部を備えたスピン蓄積素子と比較して、この第四のスピン蓄積素子の出力電圧は増大する。図4(b)は、第二のスピン注入部11が、第一のスピン注入部10と第三の磁性導電体6の間に配置された構造を示す。この構造では、第二のスピン注入部11を第一のスピン注入部10と第三の磁性導電体6の間に形成する必要があるために、その磁性体間距離d1を狭小化することが困難となる。その結果、出力電圧は減少してしまう。これらのことから、第二のスピン注入部を第一のスピン注入部と同一直線上に配置する場合は、図4(a)の構造の方が好ましい。また、第三のスピン注入部11’を新たに増設した構造を図4(c)に示す。本構造によって、新たにスピン電子Is3 が非磁性導電体1中に蓄積されるため、図4(a)で説明した効果に加え、蓄積されたスピン電子Is3 の効果の分だけ、出力は増大する。この様に、本発明は、図3の第二のスピン注入部11を複数備えてもよい。
図5は、本発明による第一のスピン蓄積素子の出力信号の磁性電極間距離依存性を示す。実線は本発明による第一のスピン蓄積素子の出力電圧、破線は単一のスピン注入部を有する素子の出力電圧である。ただし、第一のスピン蓄積素子において、非磁性導電体1の線幅をwN、膜厚をtN、第一のスピン注入部10と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPi1、第三の磁性導電体6と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPd、非磁性導電体1のスピン拡散長をλN、非磁性導電体1の抵抗率をρN、第一の磁性導電体3と第三の磁性導電体6の距離をd1とする。スピン蓄積現象の理論によれば、単一のスピン注入部をもつ基本素子の出力電圧は、次式で表される(非特許文献2)。
Figure 2009146512
実施例1に関しては、2つのスピン注入源がそれぞれ、第三の磁性導電体6と距離d1の場所に配置された構造のため、前記の通り、複数のスピン注入部を備えた素子の出力電圧は、全てのスピン電子の総和で規定されるために、
ΔV=(Pi1+Pi2)P(λ/wNN)ρNi1d exp(−λN/d1)×Ic (2)
で表せる。ただし、第二のスピン注入部11と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPi2とした。更に、n個のスピン注入部を備えた場合の出力電圧は、次式で表される。
Figure 2009146512
ただし、n番目のスピン注入部と第三の磁性導電体6との距離をdn、スピン注入部に流れる電流値をIcnとした。このことにより、複数のスピン注入部を備えた場合、単一のスピン注入を備える従来のスピン蓄積素子と比べ、出力電圧は増加する。
図6は、図4(a)に示した本発明による第四のスピン蓄積素子の出力信号の磁性電極間距離d1依存性を示す。実線は本発明による第四のスピン蓄積素子の出力電圧、破線は単一のスピン注入部を有するスピン蓄積素子の出力電圧である。ただし、第四のスピン蓄積素子において、非磁性導電体1の線幅をwN、膜厚をtN、第一のスピン注入部10と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPi1、第二のスピン注入部11と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPi2、第三の磁性導電体6と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPd、非磁性導電体1のスピン拡散長をλN、非磁性導電体1の抵抗率をρN、第一の磁性導電体3と第三の磁性導電体6の距離をd1、第二の磁性導電体8と第三の磁性導電体8の距離をd2とする。ここで、トータルの出力電圧は、式(3)で、書き表されるため、実施例2の出力電圧は、
ΔV=PdN/wNNN[Pi1exp(−λN/d1)+Pi2exp(−λN/d2)]×Ic (4)
となる。このため、実施例2では、d1及びd2を狭小化した場合に、本発明の効果が十分得られるといえる。
図7に、本発明の第一のスピン蓄積素子を備えた再生ヘッドを示す。図7(a)は、再生ヘッドの斜視図であり、BB’、CC’及びDD’断面を図7(b)、図7(c)及び図7(d)に表す。図7(c)に示した再生ヘッドのスピン注入部に関して、電流端子15、バッファー層14、第二のスピン注入部11、非磁性導電体1、第一のスピン注入部10、バッファー層14、上部シールド17の順番に積層された構造である。バッファー層14は反強磁性体を形成する上で必要な層であり、CuやPt、Ruなどを用いることが一般的である。なお、電流Icは、上部シールド17より、電流端子15に常に通電している。また、漏洩磁場の検出部分を図7(d)に示すが、下部シールド18、コンタクト13、非磁性導電体1、第三のトンネル接合5、第三の磁性導電体6、電圧端子16、上部シールド17の順に積層された構造である。コンタクト13は、非磁性導電体1の電位を下部シールド18で検出可能にするためのものである。なお、電圧端子16は、上部シールド17と電気的に絶縁されており、電圧端子16と下部シールド18との間で、出力電圧を検出する構造である。
続いて、第二のスピン注入部に非磁性導電体を用いたスピン蓄積素子について説明する。非磁性導電体を用いたスピン注入の方式として、逆スピンホール効果を用いる。逆スピンホール効果とは、スピン軌道相互作用の大きい非磁性導電体中に電流を流した場合、電流のホール方向にスピン電子が偏極し、スピン電子の流れ(スピン流)が誘起される現象である(T. Kimura, Y. Otani, T. Sato, S. Takahashi, and S. Maekawa, “Room-Temperature Reversible Spin Hall Effect”, Phys. Rev. Lett., vol.98, (2007), pp.156601-1)。
図8(a)に、スピン軌道相互作用の大きな非磁性細線12(例えば、PtやAuなど)に電流Icを印加した場合の模式図を表す。電流Icを細線方向に流した場合、強いスピン軌道相互作用のため、非磁性導電体中のアップスピン電子とダウンスピン電子が、それぞれ、非磁性細線12の端面に偏極する。このため、非磁性細線中12では、電流Icが流れる向きのホール方向にケミカルポテンシャルの差が生まれ、スピン電子が流れる現象が起こる。次に、このスピン軌道相互作用の大きな非磁性導電体12を、材料の異なる非磁性導電体1の上に積層した構造を図8(b)に示す。この場合、非磁性細線12の細線方向に電流を印加すると、逆スピンホール効果によって、非磁性細線12と非磁性導電体1との界面から非磁性導電体1にスピン電子Is が注入されることになる。注入されたスピン電子Is は、非磁性導電体1中に蓄積される。この効果を用いることで、新たなスピン注入部として機能させることが可能である。なお、電流を反転させると、注入されるスピン電子の極性が反転するため、第一のスピン注入部から注入されるスピンの向きと非磁性細線12に流す電流の方向は、一意的に決める必要がある。
図9に、逆スピンホール効果を用いた本発明の第五のスピン蓄積素子を示す。第五のスピン蓄積素子は、非磁性導電体1上に第一のスピン注入部10として、トンネル接合2、第一の磁性導電体3、反強磁性導電体4が順に積層された構造を持つ。また、出力電圧の検出部分として、非磁性導電体1上にトンネル接合5、磁性導電体6を備え、非磁性導電体1と磁性導電体6との電位差を検出可能になっている。第五のスピン蓄積素子の特徴として、第二のスピン注入部にスピン軌道相互作用の大きな非磁性導電体12を備える。第二のスピン注入部12の材料としては、Pt,Au,PdやSr2RuO4などのd,f金属原子又は金属間化合物であるスピン軌道相互作用の大きな非磁性導電体を用いる。
図9(a)、図9(b)及び図9(c)は、それぞれ第五のスピン蓄積素子の断面図、スピン注入部から見た側面図、上部から見た平面図である。第一のスピン注入部10は、非磁性導電体1の膜厚方向に積層され、第二のスピン注入部12は、非磁性導電体1に線幅方向に電気的に接合されている。また、電圧検出用の磁性導電体6は、トンネル接合5を介して、非磁性導電体1に接合されている。本素子は、第一のスピン注入部10、及び、第二のスピン注入部12流端子を共通とした構造であり、第一及び第二のスピン注入部には、電流Ic1、Ic2が、それぞれ独立に流れる構造となっている。前記の通り、第一のスピン注入部10では、アップに偏極したスピン電子Is1 が非磁性導電体1へと注入される。一方、第二のピン注入部12と非磁性導電体1の界面では、図9(b)に示すように、電流Ic2が上から下へ流れるため、アップに偏極したスピン電子Is4 が誘起され、電流Ic2を流し続けることで、非磁性導電体1中にはスピン電子Is4 が蓄積される。そのため、トータルで、Is1 とIs4 のアップに偏極したスピン電子が蓄積され、Is4 の寄与分だけ、出力信号は増大する。なお、図9(a)に示すように、電流Ic1及びIc2が上から下へと流れる構造では、第一の磁性導電体3の磁化の方向を図に示したように左向きに固着させた場合に本発明による効果が十分に得られる。更に、電流Ic1と電流Ic2の電流端子を共通化することで、逆スピンホール効果を用いた場合でも、従来のスピン蓄積再生ヘッドと電極数は変わらない。
図10に、本発明による第五のスピン蓄積素子の出力信号の磁性電極間距離依存性を示す。実線は本発明による第五のスピン蓄積素子の出力電圧、破線は単一のスピン注入部を有するスピン蓄積素子の出力電圧である。第五のスピン蓄積素子において、非磁性導電体1の線幅をwN、膜厚をtN、第二のスピン注入部における非磁性導体1の細線方向に垂直な方向の線幅をwSH、第一のスピン注入部10と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPi、検出部の磁性導電体6と非磁性導電体1の界面におけるスピン分極率をPd、非磁性導電体1のスピン拡散長をλN、非磁性導電体1の抵抗率をρN、第二のスピン注入部における抵抗率をρSH、第二のスピン注入部におけるスピンホール係数をαSH、第一の磁性導電体3と磁性導電体6の距離をd1とすると、逆スピンホール効果において、スピン蓄積効果による出力電圧は、
ΔVSH=αSH(Pd/wSH)ρSHexp(−d1/λN)×Ic2 (5)
の形で表され(非特許文献3)、第二のスピン注入部を構成する非磁性導電体の線幅の減少に伴い、出力は増大することが予想される。
図11に、第五のスピン蓄積素子を備えた再生ヘッドの模式図を示す。図11(a)は、再生ヘッドの斜視図であり、そのBB’、CC’及びDD’断面を、図11(b)、図11(c)及び図11(d)に示す。
図11(c)に示すように、再生ヘッドのスピン注入部は、電流端子15、コンタクト13、非磁性導電体1、第一のスピン注入部10、バッファー層14、上部シールド17の順番に積層され、更に、第二のスピン注入部12が非磁性導電体1に電気的に接合されている。なお、第一のスピン注入部10及び第二のスピン注入部に流れる電流をIc1及びIc2とし、電流端子は、上部電極18と電流端子15とを共通とする。第二のスピン注入部12を構成する非磁性導電体は、電極端子15及び上部シールド17と、それぞれコンタクト13によって接続されている。また、漏洩磁場の検出部分を図11(d)に示すが、下部シールド18、コンタクト13、非磁性導電体1、トンネル接合5、磁性導電体6、電圧端子16、上部シールド17の順に積層された構造である。なお、電圧端子16は、上部シールド17と電気的に絶縁されており、電圧端子16と下部シールド18との間で、出力電圧を検出する。
図12は、本発明による複数のスピン注入部を備えたスピン蓄積素子を再生ヘッド41として用い、積層型記録ヘッド42と組み合わせた磁気ヘッド40の模式図である。図示したスピン蓄積素子は、本発明の第一のスピン蓄積素子であるが、他の構造を有する本発明のスピン蓄積素子を用いてもよい。
図13は、本発明による磁気記録装置の模式図である。この磁気記録装置は、磁気記録層を有する磁気記録媒体52、磁気記録媒体を駆動する駆動部54、磁気記録媒体に対して記録・再生動作を行う本発明による磁気ヘッド40、磁気ヘッドを磁気記録媒体上の所定の位置へ移動させるアクチュエータ50及びスライダ51、磁気ヘッドからの出力信号を処理する手段を有する。磁気記録媒体としては、長手記録連続媒体、垂直記録連続媒体、ディスクリート媒体、パターン媒体といった媒体を用いることができる。
図1及び図7に示した本発明の第一のスピン注入素子の効果を検証するために、2種類のスピン蓄積素子を製作した。第一のスピン蓄積素子は、非磁性導電体1の材料にAlを採用した。実施例1で採用したAl細線は、線幅wN=100nm、膜厚tN=10nm、長さLN=3μmのサイズであり、その電気抵抗率ρNは、ρN=2.5μΩcmである。第一のトンネル接合2、第二のトンネル接合7、及び、第三のトンネル接合5として、Al−Ox障壁層を用いた。Al−Ox障壁は、Al細線の表面を自然酸化することによって形成した。第一の磁性導電体3、第二の磁性導電体8、及び、第三の磁性導電体6として、膜厚が10nmのCoを用いた。第一の磁性導電体Co1及び第二の磁性導電体Co2の線幅は、wCo1,wCo2=200nmとし、第三の磁性導電体Co3の線幅はwCo3=100nmとした。Co1とCo2の磁化は、膜厚10nmの反強磁性導電体MnIrによって一方向に固定し、互いの磁化の方向を反平行の状態にし、Co1とCo3の距離d1を30nm≦d1≦1000nmで変化させた素子を作製した。なお、本素子に関して、Co1,Co2及びCo3とAlの界面での分極率はPi1,Pi2,Pd=0.4、Alのスピン拡散長はλN=350nmである。なお、比較のために、従来の単一のスピン注入部を備えたスピン蓄積素子も作製した。従来のスピン蓄積素子は、第一のスピン蓄積素子の第二のスピン注入部11を備えない構造となっている。
本発明の第一のスピン蓄積素子と従来のスピン蓄積素子に電流Ic=1mAを流し、第三の磁性導電体6に非磁性導電体1の細線方向と平行に磁場を印加して、非局所電圧測定を行ったところ、Co1とCo3の相対的な磁化の向きに依存した電位差が得られた。この電位差ΔVを出力電圧とよび、図5に出力電圧ΔVのd1依存性を示す。白丸が本発明の素子に対する測定値、黒丸が従来構造の素子に対する測定値である。従来のスピン蓄積素子と本発明による第一のスピン蓄積素子は、いずれもd1の増大と共に、ΔVがexponentialの形で減少していく結果が得られた。これは、非磁性導電体中のスピン電子がexponentialの形で蓄積されていることを反映している。
単一のスピン注入部を備えた従来のスピン蓄積は、破線で示したように、理論式と定量的に良い一致を示した。一方、本発明による第一のスピン蓄積素子の出力電圧ΔVは、従来比で100%強の増大が観測された。これは、スピン注入部を複数にしたことで、非磁性導電体中のトータルのスピン電子が増大した効果である。また、前記の通り、第一の磁性導電体と第二の磁性導電体の磁化方向が反平行なので、非磁性導電体中でのスピン電子の鏡面反射効果も寄与していると考えられる。
実施例2として、図4(a)に示した本発明の第四のスピン蓄積素子を作製した。素子の材料及びサイズは、実施例1と同じであるが、第二のスピン注入部12は、図4(a)に示すように、非磁性導電体1に対して第一のスピン注入部11と同じ側に離間して設けた。第一のスピン注入部10と第二のスピン注入部11の離間距離をΔd(=d2-d1)とし、Δd=100,300,500nmの3種類を用意し、30nm≦d1≦1000nmの範囲で、非局所測定を行った。なお、非磁性導電体1の細線方向と平行方向に、磁場を印加している。
図6に、本発明の第四のスピン蓄積素子における、Δd=100,300,500nmの場合の、出力電圧ΔVの電極間距離d1依存性を示す。なお、比較のために、従来の単一スピン注入部を備えたスピン蓄積素子の結果も示している。本発明による第四のスピン蓄積素子の出力電圧ΔVは、実施例1と同様に、d1に対しexponentialの形で減少していく結果が得られた。また、出力電圧の大きさは、Δd=100nmの場合、従来比で約80%増大する結果が得られた。この増加には、第二のスピン注入部によるスピン電子の寄与と非磁性導電体中でのスピン電子の鏡面反射効果が関与している。また、第一のスピン注入部10と第二のスピン注入部11の離間距離Δdが、大きくなると、出力信号ΔVの増加率は低減していき、例えば、Δd=500nmでは従来比で20%程度の増加しか観測されず、本発明による効果は、それほど顕著にはならなかった。
実施例3として、図9及び図11に示した本発明の第五のスピン注入素子を製作した。実施例3で採用した非磁性導電体1は、線幅wN=100nm、膜厚tN=10nm、長さLN=3μmのサイズのAl細線であり、その電気抵抗率ρNは、ρN=2.5μΩcmである。図9に示したトンネル接合2,5として、Alの表面を自然酸化させて作製したAl−Ox障壁層を用いた。第一の磁性導電体3、及び、第三の磁性導電体6として、膜厚が10nmのCoを用いた。第一の磁性導電体Co1の線幅は、wCo1=200nmとし、第三の磁性導電体Co3の線幅はwCo3=100nmとした。Co1の磁化は、膜厚10nmの反強磁性導電体MnIrによって一方向に固定し、Co1とCo3の距離は、最小でd1=30nmまで狭小化した。一方、第二のスピン注入部12として、スピン軌道相互作用の大きな非磁性導電体であるPtを用いた。Ptのサイズは、線幅wSH=30nm、長さLSH=200nm、膜厚tSH=10nmであり、Al細線の側面で金属的に接合されている。なお、本素子に関して、Co1及びCo3とAlの界面での分極率はPi,Pd=0.4、Alのスピン拡散長はλN=350nm、Ptのスピン拡散長はλN=100nm、Ptの電気抵抗率はρSH=10μΩcmであり、スピンホール係数はαSH=0.37である。そこで、第五のスピン蓄積素子に関して、非局所測定による出力電圧ΔVの測定を行った。第一のスピン注入部に流れる電流Ic1と第四のスピン注入部に流れる電流Ic1は、上部電極から下部電極へ流し、その大きさは、共に1mAとなるようした。なお、非磁性導電体1の細線方向と平行方向に、磁場を印加している。
図10に、本発明の第五のスピン蓄積素子における出力電圧ΔVの電極間距離d1依存性を示す。なお、比較のために、従来の単一スピン注入部を備えたスピン蓄積素子の結果も示している。本発明の第五のスピン蓄積素子の出力電圧ΔVは、d1の増大と共に、exponentialの形で減少していくが、従来のスピン蓄積素子と比較し、約20%の増加が観測された。この増加分は、逆スピンホール効果によるスピン注入の効果であり、本実施例による効果も式(5)によって説明することができる。ここでは、第二のスピン注入部12であるPtの線幅が30nmの結果を示したが、Ptの線幅を狭小化することで、更なる出力の増大も期待される。また、第二のスピン注入部の材料を変えることで、スピンホール係数αSHを大きくすると、出力信号も増大する。
以上、複数のスピン注入部を備えることで、単一のスピン注入部を備えるスピン蓄積素子と比べて、出力信号の増大が確認された。本発明によるスピン蓄積素子の適用により、高分解能・高出力を特徴とする再生ヘッドが得られる。
第一のスピン蓄積素子の断面図。 第二のスピン蓄積素子の断面図。 第三のスピン蓄積素子の断面図。 第四のスピン蓄積素子の断面図。 第一のスピン蓄積素子の出力電圧の磁性電極間距離依存性を示す図。 第四のスピン蓄積素子の出力電圧の磁性電極間距離依存性を示す図。 第一のスピン蓄積素子を用いた再生ヘッドの概略図。 逆スピンホール効果の説明図。 第五のスピン蓄積素子の断面図。 第五のスピン蓄積素子の出力電圧の磁性電極間距離依存性を示す図。 第五のスピン蓄積素子を用いた再生ヘッドの概略図。 本発明による再生ヘッドと記録ヘッドを備えた磁気ヘッドの概略図。 本発明による磁気ヘッドを備えた磁気記録装置の概略図。
符号の説明
1…非磁性導電体、2…第一のトンネル接合、3…第一の磁性導電体、4…第一の反強磁性導電体、5…第三のトンネル接合、6…第三の磁性導電体、7…第二のトンネル接合、8…第二の磁性導電体、9…第二の反強磁性導電体、10…第一のスピン注入部、11…第二のスピン注入部、12…第二のスピン注入部、13…コンタクト、14…バッファー層、15…電流端子、16…電圧端子、17…上部磁気シールド、18…下部磁気シールド

Claims (9)

  1. 第一の非磁性導電体と、
    前記第一の非磁性導電体の上に積層され、外部磁場により磁化方向が変化する第一の磁性導電体と、
    第二の磁性導電体を備え、前記第二の磁性導電体から前記第一の非磁性導電体に電流を印加して、前記第一の非磁性導電体中にスピン電子を蓄積させる第一のスピン注入部と、
    前記第一のスピン注入部とは別個に設けられ、前記第一の非磁性導電体中にスピン電子を蓄積させる第二のスピン注入部と、
    前記第一の磁性導電体と前記第一の非磁性導電体の間の電圧を検出する端子と
    を有することを特徴とする磁気ヘッド。
  2. 請求項1記載の磁気ヘッドにおいて、前記第二のスピン注入部は、第三の磁性導電体を有し、前記第一の非磁性導電体から前記第三の磁性導電体に電流が印加され、前記第二の磁性導電体と前記第三の磁性導電体の磁化が互いに反平行であることを特徴とする磁気ヘッド。
  3. 請求項2記載の磁気ヘッドにおいて、前記第二の磁性導電体と前記第三の磁性導電体は前記第一の非磁性導電体を挟んで膜厚方向に積層され、前記第一の磁性導電体と前記第二の磁性導電体の間隔は前記第一の非磁性導電体のスピン拡散長よりも短いことを特徴とする磁気ヘッド。
  4. 請求項2記載の磁気ヘッドにおいて、前記第一、第二及び第三の磁性導電体は前記第一の非磁性導電体上に離間して積層され、前記第一の磁性導電体と前記第二の磁性導電体の間隔は前記第一の非磁性導電体固有のスピン拡散長よりも短く、前記第三の磁性導電体は前記第二の磁性導電体を挟んで前記第一の磁性導電体と反対側に配置されていることを特徴とする磁気ヘッド。
  5. 請求項2記載の磁気ヘッドにおいて、第一のシールドと第二のシールドを有し、前記第二の磁性導電体の磁化は第一の反強磁性体で固定され、前記第三の磁性導電体の磁化は第二の反強磁性体で固定され、前記第一、第二及び第三の磁性導電体は、第一、第二及び第三のトンネル接合によって前記第一の非磁性導電体と接し、前記第二の磁性導電体から前記第一の非磁性導電体を介して前記第三の磁性導電体へと電流が印加されることを特徴とする磁気ヘッド。
  6. 請求項1記載の磁気ヘッドにおいて、前記第二のスピン注入部は、前記第一の非磁性導電体に接する第二の非磁性導電体と、前記第二の非磁性導電体に電流を印加する手段とを有することを特徴とする磁気ヘッド。
  7. 請求項6記載の磁気ヘッドにおいて、前記第一及び第二の磁性導電体は第一及び第二のトンネル接合によって前記第一の非磁性導電体に接しており、前記第一の磁性導電体と前記第二の磁性導電体の間隔は前記第一の非磁性導電体のスピン拡散長よりも短く、前記第二の磁性導電体の磁化は反強磁性体によって一方向に偏極したスピン電子が注入される方向に固定されており、前記第二の非磁性導電体には前記第二の磁性導電体によって注入されるスピン電子の偏極方向と同極のスピン電子が注入される方向の電流が流され、前記第二の非磁性導電体は印加される電流の方向と垂直方向に前記第一の非磁性導電体と接していることを特徴とする磁気ヘッド。
  8. 請求項6記載の磁気ヘッドにおいて、第一のシールドと第二のシールドを有し、前記第一のスピン注入部と前記第二のスピン注入部にそれぞれ独立した電流が流され、前記第二の磁性導電体と前記第二の非磁性導電体の電流端子が共通であることを特徴とする磁気ヘッド。
  9. 磁気記録媒体と、前記磁気記録媒体を駆動する駆動部と、前記磁気記録媒体に対して記録再生動作を行う磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体上の所定の位置へ移動させるアクチュエータと、前記磁気ヘッドからの出力信号を処理する手段とを備え、
    前記磁気ヘッドは、非磁性導電体と、前記非磁性導電体の上に積層され、外部磁場により磁化方向が変化する第一の磁性導電体と、第二の磁性導電体を備え前記第二の磁性導電体から前記非磁性導電体に電流を印加して前記非磁性導電体中にスピン電子を蓄積させる第一のスピン注入部と、前記第一のスピン注入部とは別に設けられ、前記非磁性導電体中にスピン電子を蓄積させる第二のスピン注入部と、前記第一の磁性導電体と前記非磁性導電体の間の電圧を検出する端子とを有することを特徴とする磁気記録装置。
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Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009301625A (ja) * 2008-06-11 2009-12-24 Tdk Corp 磁気センサー
JP2010113752A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Tdk Corp 磁気センサー
JP2010287629A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Tdk Corp 半導体スピンデバイス
JP2011187577A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Tdk Corp スピン伝導素子
JP2011222546A (ja) * 2010-04-02 2011-11-04 Tdk Corp スピン伝導素子
JP2012049403A (ja) * 2010-08-27 2012-03-08 Institute Of Physical & Chemical Research 電流−スピン流変換素子
JP2012069218A (ja) * 2010-09-24 2012-04-05 Tdk Corp 磁気センサ及び磁気ヘッド
JP2013069755A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Toshiba Corp スピントルク発振素子
JP2013207233A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Tdk Corp スピン伝導素子、及びスピン伝導を用いた磁気センサ及び磁気ヘッド
US8637170B2 (en) 2008-06-25 2014-01-28 Tdk Corporation Magnetic sensor including a free magnetization layer and a fixed magnetization layer on a nonmagnetic conductor
US8665568B2 (en) 2008-07-09 2014-03-04 Tdk Corporation Magnetic sensor
JP2014154207A (ja) * 2013-02-11 2014-08-25 Hgst Netherlands B V スピンホール効果を利用する磁気読み取りセンサー
US9117465B2 (en) 2013-07-26 2015-08-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-local spin valve element with three terminals, hard disk head, and magnetic recording and reproducing apparatus
US9196273B2 (en) 2013-07-26 2015-11-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetoresistive element with three terminals, magnetic head, and magnetic recording and reproducing apparatus
JP5860105B1 (ja) * 2014-08-01 2016-02-16 株式会社東芝 スピンバルブ素子、ハードディスクヘッド、ハードディスクヘッドアセンブリ、および磁気記録再生装置
JP2016071921A (ja) * 2014-10-01 2016-05-09 株式会社東芝 磁気ヘッド、磁気記録再生装置、および磁気ヘッドの製造方法
JP2016071922A (ja) * 2014-10-01 2016-05-09 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置
JP2016119132A (ja) * 2014-12-18 2016-06-30 株式会社東芝 高周波アシスト磁気記録ヘッドおよびこの磁気記録ヘッドを備えた磁気記録装置
JP2017191626A (ja) * 2016-04-14 2017-10-19 Tdk株式会社 磁気センサ、磁気ヘッド及び磁気記録装置
JP2017216037A (ja) * 2017-09-04 2017-12-07 株式会社東芝 磁気センサー装置、ハードディスクヘッド、および磁気記録再生装置
JP2021027088A (ja) * 2019-08-01 2021-02-22 日本電信電話株式会社 スピン材料およびスピン軌道トルク生成効率の制御方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100982660B1 (ko) * 2008-08-01 2010-09-17 한국과학기술연구원 스핀 홀 효과를 이용한 자기메모리셀 판독 방법 및자기메모리 장치
US8619393B2 (en) 2011-08-16 2013-12-31 Seagate Technology Llc Devices and methods using recessed electron spin analyzers
WO2014036510A1 (en) * 2012-09-01 2014-03-06 Purdue Research Foundation Non-volatile spin switch
US8717715B1 (en) 2012-12-13 2014-05-06 HGST Netherlands B.V. Spin accumulation magnetic read sensor
US20150287426A1 (en) * 2014-04-07 2015-10-08 HGST Netherlands B.V. Magnetic read head having spin hall effect layer
US9293160B1 (en) * 2015-02-06 2016-03-22 HGST Netherlands B.V. Magnetic stabilization and scissor design for anomalous hall effect magnetic read sensor
US9478240B1 (en) 2015-05-21 2016-10-25 Seagate Technology Llc Spin-signal enhancement in a lateral spin valve reader
US9685178B1 (en) 2015-06-15 2017-06-20 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader with large-area tunneling spin-injector
US9633678B2 (en) * 2015-09-29 2017-04-25 Seagate Technology Llc Data reader with spin filter
US9704515B2 (en) 2015-09-29 2017-07-11 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader with in-plane detector
US10573363B2 (en) 2015-12-02 2020-02-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for performing self-referenced read in a magnetoresistive random access memory
US9934798B1 (en) 2016-09-28 2018-04-03 Seagate Technology Llc Lateral spin valve reader with vertically-integrated two-dimensional semiconducting channel
US9947347B1 (en) * 2016-12-20 2018-04-17 Western Digital Technologies, Inc. Magnetic sensor using inverse spin hall effect
JP6450058B1 (ja) * 2017-02-27 2019-01-09 Tdk株式会社 スピン流磁化回転素子、磁気抵抗効果素子及び磁気メモリ
KR20200054389A (ko) * 2018-11-09 2020-05-20 삼성전자주식회사 자기 기억 소자
US10714136B1 (en) * 2019-09-06 2020-07-14 Headway Technologies, Inc. Alternative designs for magnetic recording assisted by two spin hall effect (SHE) layers in the write gap
US10748562B1 (en) 2019-11-12 2020-08-18 Headway Technologies, Inc. Third alternative design for magnetic recording assisted by one or two spin hall effect (SHE) layers in the write gap
US11282538B1 (en) 2021-01-11 2022-03-22 Seagate Technology Llc Non-local spin valve sensor for high linear density

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005135462A (ja) * 2003-10-28 2005-05-26 Hitachi Ltd 磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP2007110011A (ja) * 2005-10-17 2007-04-26 Tdk Corp 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、薄膜磁気ヘッドのウエハ、ヘッドジンバルアセンブリ、ハードディスク装置、磁気メモリ素子、および磁気センサアセンブリ

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10158795B4 (de) * 2001-11-30 2005-12-22 Infineon Technologies Ag Magnetoresistive Speicherzelle mit dynamischer Referenzschicht
JP4714918B2 (ja) * 2002-11-29 2011-07-06 独立行政法人科学技術振興機構 スピン注入素子及びスピン注入素子を用いた磁気装置
JP4029772B2 (ja) * 2003-05-16 2008-01-09 株式会社日立製作所 磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気記録再生装置
US7450348B2 (en) * 2003-06-25 2008-11-11 Panasonic Corporation Electronic device, magnetoresistance effect element; magnetic head, recording/reproducing apparatus, memory element and manufacturing method for electronic device
US6982916B2 (en) * 2004-02-12 2006-01-03 Applied Spintronics Technology, Inc. Method and system for providing temperature dependent programming for magnetic memories
JP2007273504A (ja) * 2006-03-30 2007-10-18 Fujitsu Ltd 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録装置、磁気ランダムアクセスメモリ
JP4758812B2 (ja) * 2006-04-26 2011-08-31 株式会社日立製作所 スピン流狭窄層を備えたスピン蓄積素子及びその作製方法
FR2914482B1 (fr) * 2007-03-29 2009-05-29 Commissariat Energie Atomique Memoire magnetique a jonction tunnel magnetique

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005135462A (ja) * 2003-10-28 2005-05-26 Hitachi Ltd 磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP2007110011A (ja) * 2005-10-17 2007-04-26 Tdk Corp 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、薄膜磁気ヘッドのウエハ、ヘッドジンバルアセンブリ、ハードディスク装置、磁気メモリ素子、および磁気センサアセンブリ

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009301625A (ja) * 2008-06-11 2009-12-24 Tdk Corp 磁気センサー
US8637170B2 (en) 2008-06-25 2014-01-28 Tdk Corporation Magnetic sensor including a free magnetization layer and a fixed magnetization layer on a nonmagnetic conductor
US8665568B2 (en) 2008-07-09 2014-03-04 Tdk Corporation Magnetic sensor
JP2010113752A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Tdk Corp 磁気センサー
JP2010287629A (ja) * 2009-06-09 2010-12-24 Tdk Corp 半導体スピンデバイス
JP2011187577A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Tdk Corp スピン伝導素子
JP2011222546A (ja) * 2010-04-02 2011-11-04 Tdk Corp スピン伝導素子
JP2012049403A (ja) * 2010-08-27 2012-03-08 Institute Of Physical & Chemical Research 電流−スピン流変換素子
US9400316B2 (en) 2010-08-27 2016-07-26 Riken Electric current-spin current conversion device
JP2012069218A (ja) * 2010-09-24 2012-04-05 Tdk Corp 磁気センサ及び磁気ヘッド
JP2013069755A (ja) * 2011-09-21 2013-04-18 Toshiba Corp スピントルク発振素子
JP2013207233A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Tdk Corp スピン伝導素子、及びスピン伝導を用いた磁気センサ及び磁気ヘッド
JP2014154207A (ja) * 2013-02-11 2014-08-25 Hgst Netherlands B V スピンホール効果を利用する磁気読み取りセンサー
US9117465B2 (en) 2013-07-26 2015-08-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Non-local spin valve element with three terminals, hard disk head, and magnetic recording and reproducing apparatus
US9196273B2 (en) 2013-07-26 2015-11-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetoresistive element with three terminals, magnetic head, and magnetic recording and reproducing apparatus
JP5860105B1 (ja) * 2014-08-01 2016-02-16 株式会社東芝 スピンバルブ素子、ハードディスクヘッド、ハードディスクヘッドアセンブリ、および磁気記録再生装置
JP2016071922A (ja) * 2014-10-01 2016-05-09 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置
JP2016071921A (ja) * 2014-10-01 2016-05-09 株式会社東芝 磁気ヘッド、磁気記録再生装置、および磁気ヘッドの製造方法
US9437223B2 (en) 2014-10-01 2016-09-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetoresistive element, method of manufacturing magnetoresistive element, magnetic head, and magnetic recording and reading apparatus
US9653103B2 (en) 2014-10-01 2017-05-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Magnetic head including spin valve element with first to third terminals in which first current flows between the second terminal and the third terminal, and second current flows to the first terminal and is lower than the first current, magnetic recording and reproducing apparatus, and method of manufacturing magnetic head
JP2016119132A (ja) * 2014-12-18 2016-06-30 株式会社東芝 高周波アシスト磁気記録ヘッドおよびこの磁気記録ヘッドを備えた磁気記録装置
JP2017191626A (ja) * 2016-04-14 2017-10-19 Tdk株式会社 磁気センサ、磁気ヘッド及び磁気記録装置
JP2017216037A (ja) * 2017-09-04 2017-12-07 株式会社東芝 磁気センサー装置、ハードディスクヘッド、および磁気記録再生装置
JP2021027088A (ja) * 2019-08-01 2021-02-22 日本電信電話株式会社 スピン材料およびスピン軌道トルク生成効率の制御方法
JP7174954B2 (ja) 2019-08-01 2022-11-18 日本電信電話株式会社 スピン軌道トルク生成効率の制御方法

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