JP7174954B2 - スピン軌道トルク生成効率の制御方法 - Google Patents

スピン軌道トルク生成効率の制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7174954B2
JP7174954B2 JP2019141973A JP2019141973A JP7174954B2 JP 7174954 B2 JP7174954 B2 JP 7174954B2 JP 2019141973 A JP2019141973 A JP 2019141973A JP 2019141973 A JP2019141973 A JP 2019141973A JP 7174954 B2 JP7174954 B2 JP 7174954B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spin
orbit torque
torque generation
generation efficiency
orbit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019141973A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2021027088A (ja
Inventor
要司 国橋
祐輔 田中
治樹 眞田
秀樹 後藤
哲臣 寒川
修太郎 軽部
大地 菅原
誠 好田
淳作 新田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tohoku University NUC
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Tohoku University NUC
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku University NUC, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Tohoku University NUC
Priority to JP2019141973A priority Critical patent/JP7174954B2/ja
Publication of JP2021027088A publication Critical patent/JP2021027088A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7174954B2 publication Critical patent/JP7174954B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

特許法第30条第2項適用 [公開の事実1] 1.発行日:2019年2月25日 2.刊行物:2019年 第66回 応用物理学会春季学術講演会[講演予稿集] CS9 100000000-098 [11p-M101-3](発行:公益社団法人応用物理学会) 3.公開者:軽部 修太郎、菅原 大地、好田 誠、新田 淳作
本発明は、ピン軌道トルク生成効率の制御方法に関する。
近年の急速な技術発展に伴い、莫大な情報量を処理する必要が生じ、サーバーなどの需要は急激に増加した。この背景で、情報処理を行う、磁気ストレージやロジック素子などの磁気デバイスは、これまでの演算能力を維持、若しくは向上させた上で、さらに低消費電力で稼働させることが望まれる。
磁気メモリデバイスなどの「1」か「0」かの情報の書き換えは、これまでは電流を流すことで生じる磁場によって磁化反転を行うことでなされてきた。素子の都合上、大電流が必要であり、さらに磁場印加の関係で高密度化が困難であった。
このような背景から、スピン軌道相互作用が大きい材料(スピン軌道材料)中で生成される「スピン軌道トルク」が、情報の書き換えの新たな技術として誕生した「スピン軌道トルク」を、スピン軌道材料から隣接する強磁性層に作用させることで、低消費電力かつ高密度化可能なデバイス作製が可能であると期待されている。これまで、酸化によりスピン軌道トルクが増大することが、スピン軌道の相互作用が強いとされる銅(Cu)や白金(Pt)で確認されている(非特許文献1,非特許文献2参照)。
H. An et al., "Spin-torque generator engineered by natural oxidation of Cu", Nature Communications 7, Article number: 13069, 2016. H. An, et al., "Current-induced magnetization switching using an electrically insulating spin-torque generator", Science Advances, vol. 4, no. 2, eaar2250, 2018.
しかしながら、上述した材料では、酸化に伴い抵抗率が何桁も増大するため、スピン軌道トルクを用いた磁化反転のための消費電力が増大するとともに熱擾乱が生じる。一般的に、磁化反転時のパワー効率は「スピン軌道トルク効率の2乗」を「抵抗率」で割った形で得られるので、効率的なパフォーマンスを発揮することは困難であった。
前述したように、スピン軌道トルクを用いた磁化反転は、基礎・応用の両面において非常に重要視されている技術であり、特に、スピン軌道トルクの生成効率が大きく、抵抗率が低い材料の発見が、スピントロニクスにおいて急務である。基本的にスピン軌道トルクは、スピン軌道相互作用が強いと大きくなることから、重金属であるPt、タンタル(Ta)、およびタングステン(W)などの材料において技術開発が成されてきた。これらの材料においても、十分磁化反転が可能である事が実証されているが、低消費電力稼働といったアプリケーション的な観点も含め、より高効率で、機能的なスピン軌道材料が望まれている。
本発明は、以上のような問題点を解消するためになされたものであり、より高効率で、機能的なスピン軌道材料の提供を目的とする。
ピン材料は、レニウムの酸化物から構成されてスピン軌道トルクを生成する。
発明に係るスピン軌道トルク生成効率の制御方法は、レニウムの酸化物から構成されたスピン材料のスピン軌道トルク生成効率の制御方法であり、スピン材料の酸化の状態を制御することで、スピン材料のスピン軌道トルク生成効率を制御する。
以上説明したことにより、本発明によれば、より高効率で、機能的なスピン軌道材料が提供できる。
図1Aは、実施の形態に係るスピン材料を用いて作製したサンプル膜および参照サンプル膜をX線回折により測定した結果を示す特性図である。 図1Bは、実施の形態に係るスピン材料を用いて作製したサンプル膜および参照サンプル膜の、スピン軌道トルク効率ζSTの周波数依存性を示す特性図である。 図2Aは、実施の形態に係るスピン材料のX線光電子分光法により同定した結果を示す特性図である。 図2Bは、実施の形態に係るスピン材料の深さ方向の組成比の変化を示す特性図である。 図3は、反応性スパッタリングによるレニウム酸化物の成膜時の、基板加熱温度条件を変えた場合の、レニウム酸化物のスピン軌道トルク生成効率を示す特性図である。 図4は、本発明の実施の形態に係るスピン材料を用いた素子の構成を示す斜視図である。
以下、本発明の実施の形態に係るスピン材料について説明する。このスピン材料は、レニウムの酸化物(酸化レニウム)から構成されてスピン軌道トルクを生成する。このスピン材料は、酸化の状態を制御することで、スピン材料のスピン軌道トルク生成効率を制御することができる。例えば、スピン材料の成膜時の温度により、スピン材料の酸化の状態を制御することができる。また、スピン材料の成膜時の成膜レートにより、スピン材料の酸化の状態を制御することができる。このスピン材料のスピン軌道トルク生成効率の制御方法におけるスピン材料の成膜は、例えば、酸素を用いた反応性スパッタ法により実施することができる。
以下より詳細に説明する。スピン軌道トルクを用いた磁化反転は、基礎・応用の両面において非常に重要視されている技術であり、特に、スピン軌道トルクの生成効率が大きく、抵抗率が低い材料の発見が、スピントロニクスにおいて急務である。基本的に、スピン軌道トルクは、スピン軌道相互作用が強いと大きくなることから、重金属である白金, タンタルやタングステンなどの材料において技術開発が成されてきた。これらの材料においても十分磁化反転が可能であることが実証されているが、低消費電力稼働といったアプリケーション的な観点も含め、より高効率で、機能的なスピン軌道材料が望まれる。
上述したことに鑑み、発明者らは、金属ではなく、電気伝導性を有した酸化物、特に高電気伝導度のレニウム酸化物に着目し、スピン軌道トルク生成効率を調べた。
まず、RFマグネトロンスパッタリング法により、金属レニウムをターゲットとし、また、成膜室に酸素を導入し、反応性スパッタリングにより、レニウムの酸化物を堆積し、スピン材料のサンプル膜を作製(成膜)した。また、RFマグネトロンスパッタリング法により、金属レニウムをターゲットとし、金属レニウムを堆積し、参照サンプル膜を作製した。サンプル膜および参照サンプル膜は、いずれも厚さ10nmとした。
作製したサンプル膜および参照サンプル膜をX線回折により測定した。測定した結果を図1Aに示す。金属レニウム(Re)では、六方晶系に準拠したRe(0002)および(0004)のピークが41度、88度付近に見られる。一方で、レニウム酸化物(ReOx)のスピン材料については、金属レニウム由来のピークが完全に消失していることが分かり、レニウムが酸化したことを示唆する結果を得た。
次に、サンプルおよび参照サンプルについて、電気伝導測定を行った。電気伝導測定では、まず、サンプルおよび参照サンプルの各々について素子を作製した。まず、サンプルの膜および参照サンプルの膜について、電子線描画によるリソグラフィとイオンミリングとによるリフトオフ法で、所定の形状のサンプル素子および参照サンプル素子を作製した。また、各素子には、さらに、NiFe合金を堆積して合金膜(強磁性層)を形成している。測定では、GHz帯の高周波電流を、素子に印加しながら強磁性共鳴を誘起し、DC電圧の観測を行った。測定結果から得られるスピン軌道トルク効率ζSTの周波数依存性を図1Bに示す。
レニウム金属(pure Re)のスピン軌道トルク効率は、以下の式(1)で示され、全くトルクを生成していないことが分かる。一方、レニウム酸化物のスピン軌道トルク効率は、以下の式(2)で示されるものとなり、有限の値となることが明らかとなった。
Figure 0007174954000001
上述のことは、従来のスピン軌道材料として有名なPtの約5%(参考文献1:L. Liu et al. "Spin-Torque Ferromagnetic Resonance Induced by the Spin Hall Effect", Physical Review Letters, vol. 106, no. 3, 036601, 2011.)に匹敵する値であり、隣接する強磁性層の磁化を反転させるのに十分な大きさであり、磁気メモリデバイスを動作可能とするものである。
さらに上述した結果が、レニウム酸化物中の、「酸素不純物」によってもたらされたのか、「酸素との結合」によってもたらされたのかどうかをX線光電子分光法(X-ray Photoemission Spectroscopy;XPS)により同定した。この測定の結果を図2Aに示す。Reの4f軌道に着目し、波形分離をすることで、どの構造を取っているかを判断した。一般的に安定だと言われているReO3やRe27といった構造はとっていないが、自然酸化的な結合をしていることが判明した。
酸素が不純物として混入している場合は、レニウム金属ピークから若干シフトする(参考文献2:R. Ducros and J. Fusy, "CORE LEVEL BINDING ENERGY SHIFTS OF RHENIUM SURFACE ATOMS FOR A CLEAN AND OXYGENATED SURFACE", Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, vol. 42, pp. 305-312, 1987.)。前述した結果においては、上述した酸素が不純物として混入している振る舞いは観測出来ず、酸化状態にあることが明らかとなった。また、図2Bには、サンプル膜の深さ方向に対する組成比を示している。Re:O=4:1程度の酸化状態にあり、弱く酸化していることが分かった。
これまでのスピン軌道トルク(スピン流)生成の取り組みは、前述したように重金属を中心に行われてきた。一方で、最近になって本発明と類似した酸化物を用いた技術開発なども行われているが、これらの技術では、酸素不純物添加によって生じる抵抗率増加に伴った外因性由来のトルク生成、あるいは絶縁化によって発現する界面特性(ラシュバ効果)由来のトルク生成(参考文献3:T. Gao et al., "Intrinsic Spin-Orbit Torque Arising from the Berry Curvature in a Metallic-Magnet/Cu-Oxide Interface", Physical Review Letters, vol. 123, no. 1, 017202, 2018.)を起源としている。
本発明は、それらのどれにも属さない全く新しいものであり、レニウム金属が酸素と結合したこと(レニウム酸化物)で得られた新技術である。これは、イオン結合性材料も、先行技術の重金属同様にスピン軌道材料として機能することを意味しており、今後の材料探索の幅を広げ、指針を与える技術となる。
本発明の特徴は、第1に、酸化した金属を用いることで、大きなスピン軌道トルク生成効率を持つスピン材料とすることにある。第2に、スピン材料の酸化の状態を制御し、レニウムと酸素との結合(イオン結合)によるスピン軌道トルク生成効率を制御することにある。
従来の技術では、各重金属の場合のスピン軌道トルク生成が調べられてきた。この生成効率は、各物質のバンド構造、抵抗率に起因しており、基本的には物質固有の値であるため、制御不能であった。一方、本発明に係るレニウム酸化物によるスピン材料は、成膜条件などにより、レニウムと酸素との結合状態を変えることで、スピン軌道トルク生成効率を変化させることが可能である。
図3に、前述した反応性スパッタリングによるレニウム酸化物の成膜時の、基板加熱温度条件を変えた場合の、レニウム酸化物のスピン軌道トルク生成効率を示す。図1Bで示したレニウム酸化物の結果は、基板加熱温度400℃の結果である。これに対し、基板加熱温度条件を600℃にしてレニウム酸化物成膜すると、スピン軌道トルク生成効率に減少が確認された。
レニウム酸化物には、いくつもの安定な組成比が存在することが知られており、酸素との結合を成膜時の温度や成膜レートを変えることで、生成効率を制御できる。このような材料は、これまで調べられてきた重金属とは大きく異なり、我々が材料のスピン物性をデザインできることを強く示唆する成果である。
次に、本発明の実施の形態に係るスピン材料を用いた素子について、図4を参照して説明する。この素子は、スピン軌道トルク誘起磁化反転を利用したSOT-MRAM(Spin-Orbit Torque Magnetoresistive Random Access Memory)である。
この素子は、実施の形態に係るスピン材料から構成されたスピン材料層101と、スピン材料層101の上に形成された強磁性体層102と、強磁性体層102の上に形成された絶縁層103と、絶縁層103の上に形成された強磁性体層104とを備える。強磁性体層102は、フリー層と呼ばれ、強磁性体層104は、ピン層と呼ばれている。第1端子111、第2端子112、第3端子113に対する電流の印加により、情報の書き換え、読み取りが可能である。
まず、第2端子112と第3端子113とのに電流を流すことにより、スピン材料層101でスピン軌道トルクを生成し、強磁性体層102の磁化を反転させ、情報の書き換えを行う。次に、第1端子111と第2端子112との間の抵抗を測定することで、情報の読み取りが可能である。ここで、強磁性体層102の磁化反転に必要な電流密度は、スピン材料層101のトルク生成効率の逆数に比例するため、スピン材料層101におけるスピン軌道トルク生成の効率が大きければ大きい程、省電力化に繋がる。
前述したように、スピン材料(酸化レニウム)の成膜条件を最適化することで、トルク生成効率を増やすことができ、情報の書き換えに必要な電流密度を低減することが可能であることが本発明の大きな特徴である。
以上に説明したように、本発明によれば、スピン軌道トルクを生成するスピン材料を、レニウムの酸化物から構成したので、より高効率で、機能的なスピン軌道材料が提供できる。
本発明では、従来の酸化物の抵抗率増加や、界面特性に着目したトルク生成ではなく、酸素イオン結合性の電気伝導性酸化物を用いてスピン軌道トルク生成を実証した。トルク生成源として有名な白金と同等の効率を有していることが分かり、さらには、成膜条件でその効率を制御できることを明らかにした。本発明により、酸化状態がトルク生成に重要であることが明らかとなったので、今後はレニウム酸化物に留まらず、様々な電気伝導性酸化物においてスピン軌道トルクが生成できることが示唆される。またイオン結合性を有しているので、光学フォノンのような金属にはない電子散乱が存在するので、この現象がトルク生成に与える影響なども視野に入れた技術展開が成されることが予想され、スピン軌道トルク生成機構がより詳細に議論できるものと思われる。さらに、図4を用いて説明したSOT-MRAMのようなデバイスへの応用も十分可能である。
なお、本発明は以上に説明した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で、当分野において通常の知識を有する者により、多くの変形および組み合わせが実施可能であることは明白である。
101…スピン材料層、102…強磁性体層、103…絶縁層、104…強磁性体層、111…第1端子、112…第2端子、113…第3端子。

Claims (4)

  1. レニウムの酸化物から構成されたスピン材料のスピン軌道トルク生成効率の制御方法であって、
    前記スピン材料の酸化の状態を制御することで、前記スピン材料のスピン軌道トルク生成効率を制御するスピン軌道トルク生成効率の制御方法。
  2. 請求項記載のスピン軌道トルク生成効率の制御方法において、
    前記スピン材料の成膜時の温度により、前記スピン材料の酸化の状態を制御することを特徴とするスピン軌道トルク生成効率の制御方法。
  3. 請求項または記載のスピン軌道トルク生成効率の制御方法において、
    前記スピン材料の成膜時の成膜レートにより、前記スピン材料の酸化の状態を制御することを特徴とするスピン軌道トルク生成効率の制御方法。
  4. 請求項のいずれか1項に記載のスピン軌道トルク生成効率の制御方法において、
    酸素を用いた反応性スパッタ法により、前記スピン材料を成膜することを特徴とするスピン軌道トルク生成効率の制御方法。
JP2019141973A 2019-08-01 2019-08-01 スピン軌道トルク生成効率の制御方法 Active JP7174954B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019141973A JP7174954B2 (ja) 2019-08-01 2019-08-01 スピン軌道トルク生成効率の制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019141973A JP7174954B2 (ja) 2019-08-01 2019-08-01 スピン軌道トルク生成効率の制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021027088A JP2021027088A (ja) 2021-02-22
JP7174954B2 true JP7174954B2 (ja) 2022-11-18

Family

ID=74664026

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019141973A Active JP7174954B2 (ja) 2019-08-01 2019-08-01 スピン軌道トルク生成効率の制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7174954B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009146512A (ja) 2007-12-14 2009-07-02 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁気ヘッド及び磁気記録装置
WO2012026168A1 (ja) 2010-08-27 2012-03-01 独立行政法人理化学研究所 電流-スピン流変換素子
US20150380630A1 (en) 2014-06-26 2015-12-31 Nec Corporation Thermoelectric Conversion Structure and Method for Making the Same

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009146512A (ja) 2007-12-14 2009-07-02 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv 磁気ヘッド及び磁気記録装置
WO2012026168A1 (ja) 2010-08-27 2012-03-01 独立行政法人理化学研究所 電流-スピン流変換素子
JP2012049403A (ja) 2010-08-27 2012-03-08 Institute Of Physical & Chemical Research 電流−スピン流変換素子
US20130154633A1 (en) 2010-08-27 2013-06-20 Riken Electric current-spin current conversion device
US20150380630A1 (en) 2014-06-26 2015-12-31 Nec Corporation Thermoelectric Conversion Structure and Method for Making the Same
JP2016009838A (ja) 2014-06-26 2016-01-18 日本電気株式会社 熱電変換構造およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021027088A (ja) 2021-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110753963B (zh) 自旋轨道矩磁阻随机存取存储器
CN108292703B (zh) 自旋流磁化反转元件、磁阻效应元件及磁存储器
JP6805419B2 (ja) 下部固定sot−mramビット構造及び製造の方法
Chang et al. Oxide double‐layer nanocrossbar for ultrahigh‐density bipolar resistive memory
CN105609628B (zh) 一种制备小尺寸高质量mram元件的方法
JP7371256B2 (ja) トポロジカルインシュレーターとして使用するためのビスマスアンチモン合金
Wu et al. Low power consumption nanofilamentary ECM and VCM cells in a single sidewall of high‐density VRRAM arrays
Odagawa et al. Electroforming and resistance-switching mechanism in a magnetite thin film
US9178153B2 (en) Memristor structure with a dopant source
Li et al. Coexistence of diode-like volatile and multilevel nonvolatile resistive switching in a ZrO2/TiO2 stack structure
Liu et al. Characteristics of multilevel storage and switching dynamics in resistive switching cell of Al2O3/HfO2/Al2O3 sandwich structure
Kim et al. Effect of nanopyramid bottom electrodes on bipolar resistive switching phenomena in nickel nitride films-based crossbar arrays
Ikhtiar et al. Magneto-transport and microstructure of Co2Fe (Ga0. 5Ge0. 5)/Cu lateral spin valves prepared by top-down microfabrication process
Tan et al. Impacts of Au-doping on the performance of Cu/HfO2/Pt RRAM devices
JP7081842B2 (ja) スピン起動トルクベースのスイッチング素子の製造方法
Chien et al. Disproportionation and comproportionation reactions of resistive switching in polycrystalline NiOx films
Lee et al. Understanding of the abrupt resistive transition in different types of threshold switching devices from materials perspective
JP7006696B2 (ja) 熱電変換素子
Nayak et al. Position detection and observation of a conducting filament hidden under a top electrode in a Ta2O5-based atomic switch
JP7174954B2 (ja) スピン軌道トルク生成効率の制御方法
Hong et al. Unipolar resistive switching mechanism speculated from irreversible low resistance state of Cu2O films
Shuang et al. NbTe4 Phase‐Change Material: Breaking the Phase‐Change Temperature Balance in 2D Van der Waals Transition‐Metal Binary Chalcogenide
Cao et al. A 10-nm-thick silicon oxide based high switching speed conductive bridging random access memory with ultra-low operation voltage and ultra-low LRS resistance
WO2017082266A1 (ja) 熱電変換素子用起電膜及び熱電変換素子
Kim et al. Thickness dependence of resistive switching characteristics of the sol–gel processed Y2O3 RRAM devices

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20190801

A80 Written request to apply exceptions to lack of novelty of invention

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A80

Effective date: 20190801

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210824

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220815

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220830

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220927

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20221025

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20221028

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7174954

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150