JP2003079611A - Ｘ線コンピュータ断層診断装置 - Google Patents

Ｘ線コンピュータ断層診断装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 適切な撮影条件を決定しこれに従ってスキャ
ンを実行することで、被検体の被曝線量を低減させ、作
業効率及び画質を向上させるＸ線ＣＴ装置を提供するこ
と。 【解決手段】 被検体Ｐに対して所定方向から得たスキ
ャノ像データに基づいて、当該被検体に関するＸ線吸収
率マップを作成し、当該吸収率マップに基づいて、撮影
条件を決定する。断層像撮影前においては、当該撮影条
件に従ってスキャンを実行する場合の被曝量を示す指標
が計算され、撮影条件とともに表示される。また、撮影
条件が更新された場合には、更新の度に被曝量を示す指
標が計算され、表示される。断層像撮影は、最終的に決
定された撮影条件に従って実行される。これにより、被
検体の被曝を低減させ、良好な画質の断層像を得ること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、スキャンの開始に
先立って実施するスキャノ撮影によって得られるスキャ
ノ像データに基づき、スキャン中の撮影条件をダイナミ
ックに変更するようにしたＸ線コンピュータ断層撮影装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線コンピュータ断層撮影装置（以下、
「Ｘ線ＣＴ装置」）は、発明されて以来めざましい進歩
を遂げている。近年では、被検体を体軸方向へ移動させ
ながらＸ線管を螺旋状に連続回転することによって、被
検体に対して螺旋状にＸ線を曝射するヘリカルスキャ
ン、また、複数の検出列により、同時に複数スライスの
断層撮影を実行可能とするマルチスライススキャンとい
った撮影方式を可能とするＸ線ＣＴ装置が実用化されて
いる。このようなＸ線ＣＴ装置の進歩は、画質改善、撮
影時間および画像再構成時間の短縮、Ｘ線被曝線量の低
減等に対する飽くなき挑戦の賜物と言っても過言ではな
い。
【０００３】例えば、第３世代と称される通常のＸ線Ｃ
Ｔ装置では、次の様な手順によって断層画像が撮影され
る。まず、被検体を間にして、Ｘ線管と多チャンネルの
Ｘ線検出器とを対向配置する。このＸ線管とＸ線検出器
とを、被検体の周りに３６０°に亘って回転させなが
ら、Ｘ線管からＸ線ビームを被検体へ曝射し、被検体を
透過したＸ線をＸ線検出器で検出する。このとき、Ｘ線
管から曝射されるＸ線強度は一定（すなわち、Ｘ線管の
管電圧、管電流が一定）としている。なお、Ｘ線管の焦
点から放射されるＸ線は、扇形のＸ線ビームにコリメー
トされる。また、Ｘ線ビームの広がり幅は、スライス厚
などに応じて決定される。
【０００４】被検体の体軸を中心とした或る回転角度に
おいて、Ｘ線検出器で検出された投影データの集合はビ
ュー（view）と称される。また、Ｘ線管とＸ線検出器と
を、被検体の体軸周りに回転させながら、複数のビュー
方向での透過Ｘ線量の測定は、スキャン（scan）と称さ
れる。このスキャンによって得られた複数ビューの投影
データを、高速演算装置などを用いて再構成処理をする
ことにより、被検体の断層像を取得することができる。
【０００５】ところで、人体の胸部から腰部にかけての
断面は、図１に示すように、ほぼ楕円形と見なすことが
できる。従って、Ｘ線ＣＴ装置で人体を撮影する場合、
検出されるＸ線透過量は、曝射角度によって異なる。な
ぜなら、当該被検体Ｐに対して角度位置θ１（楕円の長
軸方向）からＸ線を曝射したときと、角度位置θ２（楕
円の短軸方向）から曝射したときとでは、被検体に吸収
されるＸ線量に差があるからである。特に、人体の骨盤
部等の平面側と側面側とでは、検出されるＸ線透過量の
差は顕著である。
【０００６】図２は、従来のＸ線ＣＴ装置によって人体
を撮影した場合の、Ｘ線管の角度位置に対する透過Ｘ線
量の関係を示したグラフである。横軸は被検体Ｐに対す
るＸ線の曝射角度（すなわち、Ｘ線管の角度位置）、縦
軸は透過Ｘ線量を表している。図２から明らかなよう
に、楕円の長軸方向θ１での透過Ｘ線量は少なく、楕円
の短軸方向θ２での透過Ｘ線量は多い。また、楕円形と
見做される被検体Ｐの全周についてみれば、透過Ｘ線量
は周期的に変化している。
【０００７】このＸ線曝射角度に対するＸ線透過量のば
らつきは、当該曝射角度によるＳ／Ｎ比のばらつきを発
生させる。すなわち、透過Ｘ線量の多い部分でのＳ／Ｎ
比は高く、透過Ｘ線量の少ない部分のＳ／Ｎ比は低くな
る。従って、当該スキャンによって得られたビューによ
って断層像を生成する場合、断層像全体としてのＳ／Ｎ
比は低下することになる。
【０００８】この問題を解決するために、例えば次の二
つの手法が考えられている。
【０００９】一つは、全体的に透過Ｘ線量を増加させる
ことで、画像全体のＳ／Ｎ比を高くする手法である。こ
のためには、曝射するＸ線強度を増加させる必要があ
る。しかし、この場合には、元々Ｓ／Ｎ比の高い部分に
は必要以上に過剰なＸ線が曝射されることになる。従っ
て、被曝線量の増大を招くこととなり、好ましくない。
【００１０】もう一つは、Ｘ線管の回転角度（Ｘ線曝射
角度）に応じて、Ｘ線管の管電圧あるいは管電流を制御
することで、画像全体のＳ／Ｎ比を高くする手法であ
る。これにより、被検体Ｐの一断層面での透過Ｘ線量が
一定になるようにスキャンすることができる。この手法
は、一断面の断層像を得る場合に効果的である。しかし
ながら、近年のように、ヘリカルスキャンにより連続的
に多数の断層撮影を実施する場合には、被曝線量を十分
に低減することはできない。なぜなら、図３に示すよう
に、被検体Ｐは体軸方向に不均一な厚みを有し、被検体
Ｐの体軸方向の位置によっても、透過Ｘ線量の多い部分
と少ない部分とが混在するためである。
【００１１】上記後者の手法については、近年さらなる
改良が加えられている。例えば、螺旋状スキャンを行う
型のＸ線ＣＴ装置において、被検体周りの角度方向およ
び体軸方向の位置毎の透過Ｘ線量をほぼ一定にする技術
が、田中によって提案されている（特許第２７６８９３
２号公報）。この技術では、ヘリカルスキャンによる断
層撮影に先立って、回転角度の異なる２方向（例えば平
面方向と側面方向）についてスキャノ像撮影を実施し、
このスキャノ撮影から適切なＸ線発生量のパターンを推
定する。そして、ヘリカルスキャン等を実行する場合、
被検体に対するＸ線管の回転角度と体軸方向の位置に応
じて、Ｘ線管から発生するＸ線量が上記推定したパター
ンに等しくなるようにＸ線管の管電流を制御するもので
ある。なお、スキャノ像撮影とは、Ｘ線管を被検体に対
して所定角度位置に固定した状態で、Ｘ線を曝射しなが
ら被検体の体軸方向に水平に相対的に移動し、Ｘ線検出
器で透過Ｘ線量を検出する撮影法である。
【００１２】しかしながら、上記改良技術においては、
螺旋状スキャン時の適正なＸ線発生量のパターンを求め
るために、スキャノ撮影を２度実施する必要がある。従
って、被検体の被曝線量を増加させることとなる。ま
た、スキャノ撮影を２度実施する必要があることから、
作業効率は低下してしまう。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記事情を
鑑みてなされたもので、適切な撮影条件を決定しこれに
従ってスキャンを実行することで、被検体の被曝線量を
低減させ、作業効率及び画質を向上させるＸ線ＣＴ装置
を提供することを目的としている。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、以下の手段を講じている。
【００１５】本発明の第１の側面は、Ｘ線を曝射するＸ
線源と、被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素
子を有するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づ
いて、被検体の第１の方向に関するスキャノ像を生成す
るスキャノ像生成セクションと、前記スキャノ像をマト
リクス状に分割し、当該マトリクス単位のＸ線吸収率又
はＸ線吸収量を計算することで、前記被検体の当該第１
の方向に関するＸ線吸収率又はＸ線吸収量の分布情報を
生成する分布情報生成セクションと、前記分布情報に基
づいて、撮影条件を決定する撮影条件決定セクション
と、前記撮影条件に基づいて、前記被検体のコンピュー
タ断層撮影に関する制御を行うコントローラと、を具備
することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影装置で
ある。
【００１６】本発明の他の側面は、Ｘ線を曝射するＸ線
源と、被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子
を有するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づい
て、前記被検体に関する少なくとも一つのスキャノ像を
生成するスキャノ像生成セクションと、前記少なくとも
一つのスキャノ像に基づいて、前記被検体のサイズを判
別するサイズ判別セクションと、判別された前記被検体
のサイズに応じて、第１のＸ線量を曝射する第１の撮影
モードと、当該第１のＸ線量より低線量である第２のＸ
線量を曝射する第２の撮影モードとを選択する撮影モー
ド選択セクションと、選択された前記撮影モードに基づ
いて、前記被検体のコンピュータ断層撮影に関する制御
を行うコントローラと、を具備することを特徴とするＸ
線コンピュータ断層撮影装置である。
【００１７】本発明の他の側面は、Ｘ線を曝射するＸ線
源と、被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子
を有するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づい
て、前記被検体に関する少なくとも一つのスキャノ像を
生成するスキャノ像生成セクションと、推奨する撮影条
件を被検体のサイズ毎に記憶するメモリと、前記少なく
とも一つのスキャノ像に基づいて、前記被検体のサイズ
を判別するサイズ判別セクションと、判別された前記被
検体のサイズに対応する撮影条件を選択する選択セクシ
ョンと、選択された撮影条件を設定するように促す情報
を表示する表示装置と、を具備することを特徴とするＸ
線コンピュータ断層撮影装置である。
【００１８】本発明の他の側面は、Ｘ線を曝射するＸ線
源と、被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子
を有するＸ線検出器と、前記Ｘ線検出器の出力に基づい
て、前記被検体のスキャノ像を生成するスキャノ像生成
セクションと、前記被検体の第１の方向に関するスキャ
ノ像に基づいて、前記被検体のコンピュータ断層撮影に
関する撮影条件を決定する撮影条件決定セクションと、
前記撮影条件に基づいて、前記被検体の被曝線量又は前
記Ｘ線源から曝射される総Ｘ線量を計算するＸ線量計算
セクションと、計算された前記被曝線量又は前記総Ｘ線
量を、前記コンピュータ断層撮影前に表示する表示装置
と、を具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層
撮影装置である。
【００１９】このような構成によれば、適切な撮影条件
を決定しこれに従ってスキャンを実行することで、被検
体の被曝線量を低減させ、作業効率及び画質を向上させ
るＸ線ＣＴ装置を実現することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第１実施形態及び
第２実施形態を図面に従って説明する。なお、Ｘ線ＣＴ
装置には、Ｘ線管球と検出器システムとが１体として被
検体の周囲を回転する回転／回転(ROTATE/ROTATE) タイ
プ、リング状に多数の検出素子がアレイされ、Ｘ線管球
のみが被検体の周囲を回転する固定／回転(STATIONARY/
ROTATE) タイプ、電子ビームを偏向させることで電子的
にＸ線源の位置をターゲット上で移動するタイプ等様々
なタイプが存在する。本発明の技術的思想は、いずれの
タイプにも適用可能である。以下の各実施形態において
は、説明を具体的にするため、現在主流を占めている回
転／回転タイプのＸ線ＣＴ装置を例として説明する。
【００２１】（第１の実施形態）図４、図５は、第１実
施形態に係るＸ線ＣＴ装置の概略構成図である。図４
は、架台１を正面側から見た図、図５は、架台１を側面
側から見た図を示している。
【００２２】図４および図５に示されているように、本
実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、架台１、Ｘ線管２、補
償用検出器３、Ｘ線検出器４、高電圧発生部５、回転駆
動部６、寝台７、寝台駆動部８、データ収集部９、画像
再構成部１０、表示部１１、スキャノ像生成部１２、パ
ターン演算部１３、パターン記憶部１４、システム制御
部１５、操作部１６を具備している。
【００２３】架台１は回転リングを有し、当該回転リン
グには、Ｘ線管２、補償用検出器３、Ｘ線検出器４が設
けられている。この回転リングは、回転駆動部６によっ
て回転駆動される。
【００２４】Ｘ線管２は、Ｘ線を発生する真空管であ
り、架台１の回転リングに設けられている。当該Ｘ線管
２には、Ｘ線の曝射に必要な電力が高電圧発生部５から
スリップリング（図示せず）を介して供給される。Ｘ線
管２は、供給された高電圧により電子を加速させターゲ
ットに衝突させることで、有効視野領域ＦＯＶ内に載置
された被検体Ｐに対してＸ線を曝射する。
【００２５】補償用検出器３は、フォトマルチプライア
やＴＶカメラであり、被検体Ｐを透過する前のＸ線量を
検出する。この補償用検出器３が検出したＸ線量はパタ
ーン演算部１３に出力され、後述する吸収率マップ作成
処理に利用することができる。
【００２６】Ｘ線検出器４は、Ｘ線管２と対向して配置
されており、被検体Ｐを透過した後のＸ線量を検出する
多チャンネルＸ線検出素子（例えば８００チャンネルの
Ｘ線検出素子）を有している。このＸ線検出素子は、Ｘ
線管２から曝射されるＸ線ビームの広がりに合わせて一
列に配列されている。なお、本Ｘ線ＣＴ装置がマルチス
ライスＣＴ対応である場合には、複数のＸ線検出素子列
が、被検体Ｐの体軸方向に並列に配列されている。
【００２７】高電圧発生部５は、Ｘ線管２に高電圧を供
給する装置であり、高電圧変圧器、フィラメント加熱変
換器、整流器、高電圧切替器等から成る。この高電圧発
生部５によるＸ線管２への高電圧供給は、図示していな
いスリップリングにより行われる。
【００２８】回転駆動部６は、寝台７に搭載された被検
体の体軸方向に平行な中心軸のまわりに、Ｘ線管２とＸ
線検出器４とを回転させる等の駆動制御を行う。
【００２９】寝台駆動部８は、寝台７に搭載された被検
体Ｐを、当該被検体Ｐの体軸方向に水平に移動させる。
【００３０】データ収集部９は、複数のＤＡＳチップを
有し、Ｘ線検出器４で検出されたＭ×Ｎの全チャンネル
に関する膨大なデータを入力し、増幅処理、Ａ／Ｄ変換
処理等を行う。
【００３１】画像再構成部１０は、データ収集部９から
得られた投影データを再構成処理して、所定のスライス
分の再構成画像データを生成する。なお、当該再構成装
置１０は、一枚の断層像の再構成に必要な多方向の投影
データを収集するのに要する時間より、短時間で多方向
の投影データから断層像を再構成する、所謂リアルタイ
ム再構成を行う。
【００３２】表示部１１は、スキャノ像、再構成された
ＣＴ画像、各種撮影条件、Ｘ線による被検体の被曝線量
又は被曝量の指数等を表示する。各種撮影条件、Ｘ線に
よる被検体の被曝線量又は又は被曝量の指数等の表示形
態については、後述する。
【００３３】スキャノ像生成部１２は、スキャノ撮影に
よって収集した透過データをデータ収集部９から得て、
スキャノ像を生成する。
【００３４】パターン演算部１３は、スキャノ像生成部
１２によって生成されたスキャノ像データ、あるいはデ
ータ収集部９からの投影データを基に、適正なＸ線発生
量パターンを演算して作成する。具体的には、パターン
演算部１３は、被検体Ｐに略等価な仮想ファントムの径
を概算することにより、Ｘ線管２の被検体Ｐの体軸方向
の位置及び体軸に対する角度に応じた管電流の制御パタ
ーンを作成する。
【００３５】パターン記憶部１４は、パターン演算部１
３によって作成されたＸ線発生量パターンを記憶する。
【００３６】システム制御部１５は、中枢的な機能を果
たすコンピユータやメモリ等を有し、本Ｘ線ＣＴ装置を
構成する各構成ユニットを有機的に制御する。
【００３７】操作部１６は、システム制御部１５に対し
て操作者が、各種設定値や指示事項などを入力するため
のキーボードや各種スイッチ、マウス等である。
【００３８】被曝線量算出部１７は、パターン演算部１
３によって作成されたＸ線発生量パターンに基づいて、
断層像撮影を行った場合の被曝線量又は被曝線量の指数
を算出する。被曝線量の指数としては、ＣＴＤＩｗ ｖ
ａｌｕｅ（Weighted Computed Tomography Dosis Inde
x、以下、単にＣＴＤＩと称する）、ＤＬＰ（Dose Leng
th Product）、ｍＡｓ（mA second）等がある。
【００３９】ＣＴＤＩとは、回転リングによってＸ線管
及びＸ線検出器を１回転させた場合における基準スライ
ス厚（例えば１０ｍｍ）当りの被曝線量の指標である。
従って、当該ＣＴＤＩは、どのようなスライス幅（例え
ば０．５ｍｍ×８スライス、０．５ｍｍ×４スライス、
１０ｍｍ×２スライス）によって断層像を撮影しても、
上記基準スライス厚（例えば１０ｍｍ）での被曝線量に
換算される。このＣＴＤＩの基準データは、システム制
御部１５の図示しないメモリに、テーブルとして記憶さ
れるのが望ましい。テーブルは、管電圧、撮影領域の大
きさ（ＦＯＶ）、ウェッジと、ＣＴＤＩの基準データと
を対応付けるものが好ましい。例えば、コンベンショナ
ルスキャン１回転分、１００ｍＡｓあたりでのＣＴＤＩ
測定値（ｍＧｙ／１００ｍＡｓ）を、Ｘ線ＣＴ装置の機
種毎の標準スライス厚での管電圧、ＦＯＶ及びウェッジ
種毎にテーブルとして登録する。
【００４０】また、他のテーブルの例としては、スライ
ス幅係数を決定するための標準的な管電圧、ＦＯＶ、ウ
ェッジにおける各スライス幅（スライス厚×スライス
数）でのＣＴＤＩを事前に測定し、スライス幅の比率を
係数として登録するものが挙げられる。この場合、スラ
イス幅係数は管電圧、ウェッジによらず共通の係数とす
る。例えば、標準スライス幅（０．５ｍｍ×４スライ
ス）を基準（例えば１．００）にして、検査計画におい
て他のスライス幅（５ｍｍ×４スライス）が選択された
場合には、係数（例えば２．００）を積算する。
【００４１】ＤＬＰとは、スキャン範囲におけるトータ
ルの被曝線量を示す指標であり、ＣＴＤＩを基に計算さ
れる。
【００４２】ｍＡｓとは、スキャン時間の総管電流値を
示す指標であり、検査計画で設定された管電流と実曝射
時間により計算される。
【００４３】計算されたこれらの指標は、所定の形態
（図９参照）にて表示部１１に表示される。各指標は、
検査画面で設定したパラメータと対応が取れる形で表示
される。また、ヘリカルスキャン、コンベンショナルス
キャンなどのその他のスキャンと組み合わせた検査を行
うる場合（すなわち、複数種のスキャンがグルーピング
される場合）には、それらの積算値を表示する。
【００４４】（吸収率マップ）本Ｘ線ＣＴ装置は、少な
くとも一つのスキャノ像を撮影し、当該少なくとも一つ
のスキャノ像に基づいて被検体毎のＸ線吸収率マップを
生成する。以下、このＸ線吸収率マップの生成について
説明する。
【００４５】まず、図５に示したスキャン範囲にわたっ
て一枚のスキャノ像撮影を実施する。ここで、Ｘ線ＣＴ
装置におけるスキャノ像撮影とは、一般に、断層撮影を
行う際の位置決めや撮影条件を決めるための画像を収集
するために、断層画像撮影前に実行される撮影である。
このスキャノ像撮影によって得られた画像は、スキャノ
像と呼ばれる。より具体的には、スキャノ像撮影は、例
えば次のようにして実行される。すなわち、Ｘ線管の位
置をある回転角度に（例えば被検体の正面を向くよう
に）固定する。この状態で、Ｘ線を曝射しながら被検体
を体軸方向に水平に移動し、スキャン範囲にわたって被
検体の平面的な透過Ｘ線量を検出することで、スキャノ
像を撮影する。なお、このスキャノ撮影時においては、
高電圧発生部５からＸ線管２に供給する管電圧、管電流
は一定としている。
【００４６】図６は、取得されたスキャノ像を模式的に
示した図である。また、図６には、当該スキャノ像の投
影データ（以下、「スキャノ像ＰＪ」と称する。）に対
応するように、被検体Ｐの体軸方向にスキャン数（ｓｃ
１〜ｓｃｍ）、及び被検体Ｐの体幅方向にＸ線検出器４
を構成する検出素子のチャンネル数（ｃｈ１〜ｃｈｎ）
が記入されている。
【００４７】データ収集部９は、チャンネル単位毎に透
過Ｘ線量のデータを収集する。収集されたデータは、ス
キャノ像生成部１２へ供給される。スキャノ像生成部１
２は、供給されたデータに基づいて、スキャノ像ＰＪを
生成する。
【００４８】パターン演算部１３には、スキャノ像生成
部１２からスキャノ像ＰＪ、又はデータ収集部９が収集
したチャンネル単位毎の透過Ｘ線量のデータが供給され
る。また、パターン演算部１３には、被検体を配置しな
い状態のスキャノ像によって得られるデータも供給され
る。このデータは、空気ファントムに関するスキャノ像
データであり、エアーキャリブレーションデータと呼ば
れる。このエアーキャリブレーションデータと、データ
収集部９から供給されたデータ又はスキャノ像ＰＪとか
ら、次のようにして吸収率マップを生成する。
【００４９】まず、パターン演算部１３は、データ収集
部９から供給されたデータ又はスキャノ像ＰＪを、マト
リクス単位に分割する。また、パターン演算部１３は、
エアーキャリブレーションデータを、マトリクス単位に
分割する。ここで、マトリクスとは、Ｘ線吸収率を計算
する基礎単位であり、少なくとも一つの検出素子から構
成されるものである。図６には、１マトリクスを１スラ
イス幅と１チャンネルとの輪郭で定義した例が示してあ
る。しかしながらが、これに限定する趣旨ではない。な
お、本実施形態においては説明を具体的にするため、１
マトリクスを１スライス幅と１チャンネルとの輪郭で定
義した例とする。
【００５０】パターン演算部１３は、エアーキャリブレ
ーションデータから得られるマトリクス毎のＸ線量に基
づいて、スキャノ像ＰＪ等の各マトリクスにおけるＸ線
吸収率を計算し、吸収率マップを生成する。例えば、エ
アーキャリブレーションデータの或るマトリクスにおけ
るＸ線量をＩｉｎ、このエアーキャリブレーションデー
タのマトリクスに対応するスキャノ像ＰＪのマトリクス
で検出されたＸ線量をＩｏｕｔ、Ｘ線吸収率（単位厚さ
の物質を通過するときに吸収されるＸ線エネルギーの割
合）をμ、被検体の厚さをｔとする。この場合、Ｉｉｎ
とＩｏｕｔとの間には、Ｉｏｕｔ＝Ｉｉｎ・ｅｘｐ［−
μｔ］が成り立つ。これをμについて解くことで、当該
マトリクスに関する吸収率を求めることができる。
【００５１】図７は、ｓｃｎのマトリクス毎のＸ線吸収
率を示したグラフである。このように各スキャンにマト
リクス毎のＸ線吸収率を、全スキャン範囲について計算
することで、当該スキャン範囲のマトリクス単位のＸ線
吸収率分布、すなわち吸収率マップが生成される。
【００５２】なお、上記例においては、データ収集部９
から供給されたデータ又はスキャノ像ＰＪとから、吸収
率マップを生成した。しかしこれに限定されず、例えば
スキャノ像ＰＪに基づいて行った画像再構成後のスキャ
ノ像データとから吸収率マップを生成する構成であって
もよい。
【００５３】また、上記例においては、各スライスにお
いて各チャンネルのＸ線吸収率を求めることで、全マト
リクスのＸ線吸収率を演算した。これに対し、離散的に
求めたマトリクスのＸ線吸収率を利用した補間処理によ
り、全マトリクスのＸ線吸収率を演算する構成であって
もよい。また、あるスライスでの各チャンネルのＸ線吸
収率を求め、これに対する相関に基づいて全マトリクス
のＸ線吸収率を演算する構成であってもよい。
【００５４】また、吸収率マップは、異なる方向につい
ての複数のスキャノ像を利用して作成する構成であって
もよい。これにより、データ上における被検体の体軸と
Ｘ線管２の回転中心軸とのずれを是正することができ
る。
【００５５】また、エアーキャリブレーションデータの
代わりに、補償用検出器３で検出された被検体Ｐを透過
する前のＸ線量を利用してＸ線吸収率を演算する構成で
あってもよい。
【００５６】さらに、マトリクス単位による吸収率マッ
プに限らず、例えばマトリクス単位による吸収量マップ
であっても、同様の目的を達成することができる。この
場合、マトリクス単位の吸収量は、μｔにより求めるこ
とができる。
【００５７】（撮影条件の決定）次に、上記Ｘ線吸収率
マップを利用した、被検体の被曝低減させ、断層画像の
質を向上させるための撮影条件の決定について説明す
る。
【００５８】撮影条件は、被検体Ｐに略等価な仮想ファ
ントムの径を概算し、被検体の体軸方向の位置と体軸に
対する角度方向（ビュー方向）とに応じて決定される。
ここで、撮影条件とは、Ｘ線管２の管電圧、管電流、架
台１の回転リングの回転速度、検出器４の検出素子の大
きさ、ヘリカルピッチ、スキャン範囲等、操作者によっ
て設定される如何に関わらず、撮影に必要な条件の少な
くとも一つを含む。本実施形態では説明を具体的にする
ため、上記Ｘ線吸収率マップと操作者によって入力され
るＸ線管２の管電圧、ヘリカルピッチ、スキャン範囲等
に基づいて、適切なＸ線発生量のパターン（Ｘ線管２の
管電流の制御パターン）を決定する場合を例とする。
【００５９】まず、パターン演算部１３では、スキャン
毎に、各チャンネルを構成するＸ線検出素子で検出され
たＸ線吸収率から、チャンネル単位（すなわち、マトリ
クス単位）に被検体Ｐの正面側の厚みを求める。これ
は、例えば被検体Ｐに略等価な水ファントムの厚みを計
算し、この厚みを当該被検体Ｐの厚みをみなすことで得
られる。より具体的には、Ｘ線吸収率と、被検体Ｐの正
面側の厚みと同等の水の厚さとの関係から定まる補正値
に対する比例計算を行い、当該被検体Ｐの仮想的な厚み
とみなす。
【００６０】なお、この計算において、Ｘ線検出器４の
隣接する複数チャンネル（複数マトリクス）のＸ線吸収
率の和または平均値を、その位置での１単位のＸ線吸収
率としてもよい。また、チャンネル方向とスキャン方向
の隣接する複数のマトリクスのＸ線吸収率の和またはそ
の平均値を、その位置での１単位のＸ線吸収率とする構
成であってもよい。
【００６１】次に、パターン演算部１３は、スキャンｓ
ｃ１〜ｓｃｍ毎のマトリクス単位のＸ線吸収率を横方向
（チャンネル方向）に積算する。すなわち、スキャンｓ
ｃ１〜ｓｃｍ毎に全ての検出素子ｃｈ１〜ｃｈｎのＸ線
吸収率を積算する。パターン演算部１３は、この積算値
に基づいて、被検体Ｐの体幅方向に略等価な水ファント
ムの厚みを計算し、この厚みを当該被検体Ｐの体幅方向
の厚みをみなす。
【００６２】なお、この場合においも、スキャン方向に
複数の列のマトリクスのＸ線吸収率の和または平均値
を、その位置での体幅方向のＸ線吸収率としてもよい。
また、ファントムの材質は水に限定する趣旨ではない。
例えばポリプロピレンなどのように、ＣＴ値計測に用い
ることの可能な材料であればどんな物質であってもよ
い。
【００６３】次に、スキャン毎に正面側厚みに対する体
幅方向の厚みの比をとり、被検体Ｐの断面に略等価な楕
円断面を有する仮想水ファントムが求められる。これを
体軸方向に全スキャン範囲にわたって積み上げることに
より、被検体Ｐに略等価な楕円断面を有する水ファント
ムを得る。
【００６４】管電流値のパターンは、この水ファントム
に対して、体軸方向の位置と体軸に対する角度方向とに
応じて適正なＸ線発生量となるように決定される。すな
わち、水ファントムの大きさに応じて、当該水ファント
ムを通過するＸ線のパス長は変化する。従って、Ｘ線吸
収率もパス毎に異なる。従って、Ｘ線管２の管電流値
は、スキャン時の各回転角度における水ファントムのＸ
線パスを考慮しながら、画像のノイズのざらつき、すな
わち、画像標準偏差（画像ＳＤ）が同じになるようにパ
ターン化して作成される。
【００６５】例えば、被検体Ｐに対するスキャン方向の
位置Ａにおいて、管電流ＩａでＸ線を曝射するものとす
る。また、被検体Ｐの体軸周りの最も厚みの大きいとこ
ろをＤＰａとし、Ｘ線管２が回転して位置Ｂに来たとき
の最も厚みの大きいところをＤＰｂとする。この場合、
位置Ａと位置Ｂとで同じ画像ＳＤの断層画像を得るよう
にするためには、位置Ｂでの管電流Ｉｂを、次式のよう
にすればよい。
【００６６】 Ｉｂ＝Ｉａ＊exp（−μＤＰａ）／exp（−μＤＰｂ） ここで、μは、水のＸ線吸収率である。パターン演算部
１３は、この被検体Ｐの体軸方向の位置及び回転角度に
対応した管電流を、全スキャン範囲にわたって演算する
ことで、管電流値パターンを作成する。作成された管電
流値パターンは、パターン記憶部１４に記憶される。
【００６７】具体的な当該管電流のパターンとしては、
被検体Ｐの体軸方向には、各スキャン毎でも、或いは複
数スキャン毎に変化させる構成が考えられる。同様に、
被検体Ｐの体軸に対する角度方向については、例えば被
検体Ｐの断面を楕円と見做したとき、その楕円の長軸方
向と短軸方向のように、Ｘ線吸収量が大きく異なる角度
毎（例えば９０°毎）に当該管電流を切り替える構成で
あってもよい。
【００６８】次に、本Ｘ線ＣＴ装置の動作について、ヘ
リカルスキャンを例に説明する。図８は、Ｘ線ＣＴ装置
がヘリカルスキャンを行う場合の処理の流れを示したフ
ローチャートである。図８に示すように、まず、被検体
の一方向に関するスキャノ像が撮影され、作成される
（ステップＳ１）。
【００６９】次に、スキャノ像に基づいて、既述の手法
により吸収率マップが作成され（ステップＳ２）、操作
者によってＸ線管２の管電圧、ヘリカルピッチ、スキャ
ン範囲、アイソセンタ上の撮影スライス厚等の撮影条件
が入力される（ステップＳ３）。
【００７０】パターン演算部１３は、上記入力されたＸ
線管２の管電圧等とＸ線吸収率マップとに基づいて、Ｘ
線管２の管電流の制御パターンを作成する（ステップＳ
４）。
【００７１】次に、被曝線量算出部１７は、作成された
管電流の制御パターンを含む撮影条件に基づいて、ＣＴ
ＤＩ等を計算する（ステップＳ５）。計算されたＣＴＤ
Ｉ等及び撮影条件は、表示部１１に表示される（ステッ
プＳ６）。
【００７２】図９は、撮影条件、ＣＴＤＩ等の及び総被
曝線量の表示形態の一例を示した図である。図９に示す
ように、スキャノ像等の画像とともに、被曝線量を示す
指標としてのＣＴＤＩ、ＤＬＰ、ｍＡｓ、及び撮影条件
が、検査の進行状況が分かる形態にて表示される。これ
により、操作者は、撮影条件、被曝線量を示す指標等を
視覚的に確認することができる。
【００７３】次に、表示した撮影条件が変更されるか否
かを判別する（ステップＳ７）。撮影条件が変更される
場合には、ステップＳ３〜Ｓ６の操作を繰り返す。一
方、撮影条件が変更されない場合には、ステップＳ４に
おいて作成された管電流制御パターン、及び他の撮影条
件に従って、断層像撮影の為のヘリカルスキャンが、次
の様にして実行される（ステップＳ８）。
【００７４】すなわち、回転駆動部６は、システム制御
部１５の制御に基づいて、回転リングによりＸ線管２お
よびＸ線検出器４を、被検体Ｐの周りに回転させる。ま
た、寝台駆動部８は、同じくシステム制御部１５の制御
に基づいて、被検体Ｐを載せた寝台７を体軸方向へ水平
に等速度で移動させる。従って、Ｘ線管２は、被検体Ｐ
の周囲にＸ線を曝射しながら回転し、ヘリカルスキャン
を行う。このとき、被検体Ｐを透過する前のＸ線量は補
償用検出器３によって検出され、被検体Ｐを透過したＸ
線量はＸ線検出器４によって検出される。このＸ線検出
器４によって検出されたＸ線量は、Ｘ線透過データとし
てデータ収集部９に収集される。
【００７５】また、システム制御部１５は、ヘリカルス
キャン時において、パターン記憶部１４に記憶されたＸ
線管２の管電流の制御パターンに基づいて、高電圧発生
部５を制御する。高電圧発生部５は、当該制御に従っ
て、Ｘ線管２の体軸方向の位置と体軸に対する角度とに
応じた管電流を、Ｘ線管２に供給する。なお、Ｘ線管２
に印加される管電圧は一定とする。Ｘ線管２からは、被
検体Ｐの体軸方向の位置と体軸に対する角度とに応じ
て、与えられた管電圧、管電流に基づく量のＸ線が被検
体Ｐへ曝射される。
【００７６】次に、データ収集部９で収集された透過デ
ータは、画像再構成部１０へ供給され、ここで透過デー
タに基づき画像再構成処理が施される（ステップＳ
９）。再構成された画像は、表示部１１に断層画像とし
て表示される（ステップＳ１０）。
【００７７】このように、本Ｘ線ＣＴ装置によれば、少
なくとも１方向のスキャノ像から吸収率マップを作成
し、当該吸収率マップに基づいて、被曝線量を低減さ
せ、かつ画像標準偏差が小さくなるように撮影条件を決
定する。断層像撮影は、当該撮影条件に従って実行され
るから被検体の被曝Ｘ線量が軽減されるとともに、良好
な画質の断層像を得ることができる。特に、Ｘ線管の被
検体の体軸方向の位置と体軸に対する角度とに応じた管
電流制御を行う場合には、管電流制御の精度を向上させ
ることができる。
【００７８】なお、上記実施形態では、ヘリカルスキャ
ンを例としたが、これに限定する趣旨ではない。例え
ば、１ルーチンで複数部位（スライス）の断層像を得る
場合は勿論、１スキャンで複数スライスの断層像を得る
マルチスライス、ＣＴ透視や脳血流測定などを行うダイ
ナミックスキャン、ＣＴ透視やリアルプレップ等の間歇
的なＸ線曝射を含むスキャン等においても、吸収率マッ
プを作成し、当該吸収率マップに基づいて、被曝線量を
低減させ、かつ画像標準偏差が小さくなるように撮影条
件を決定することができる。
【００７９】また、本Ｘ線ＣＴ装置によれば、断層像撮
影における被曝線量を示す指標等が、撮影条件に基づい
て、スキャン実施に先立って計算され表示される。この
断層像撮影における被曝線量を示す指標等は、撮影条件
が、Ｘ線管の位置に関わらず被検体のコンピュータ断層
の画像標準偏差が同じになるように、被検体体軸方向に
関する前記Ｘ線源の位置、又は被検体体軸を中心とした
Ｘ線源の回転角度の少なくとも一方に応じて変化させる
Ｘ線源の電流値をを含む場合にも表示される。従って操
作者は、断層像撮影前に、正確な被曝線量をしることが
でき、必要に応じて撮影条件を任意に変更することがで
きる。また、本Ｘ線ＣＴ装置では、撮影条件が更新され
る毎に被曝線量を示す指標を更新表示するため、操作者
は、実行予定のスキャンに関する被曝線量の指標等を迅
速に把握することができる。
【００８０】（第２の実施形態）次に、第２の実施形態
に係るＸ線ＣＴ装置について説明する。本実施形態に係
るＸ線ＣＴ装置は、断層像に先立って撮影されるスキャ
ノ像に基づき被検体Ｐの大きさを判別し、被検体の大き
さに応じて断層撮影時に曝射するＸ線量を調整するもの
である。以下、説明を具体的にするために、スキャノ像
から得られた吸収率マップに基づき被検体Ｐが小児か否
かを判別し、当該判別に応じて断層撮影時に曝射するＸ
線量を調整する場合について説明する。しかしながら、
これに限定する趣旨ではない。例えば直接スキャノ像の
各検出素子のＣＴ値に基づいて、被検体サイズを判別
し、当該サイズに応じて断層撮影時に曝射するＸ線量を
調整することも可能である。
【００８１】本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成は、
図４及び図５に示した構成と略同一である。
【００８２】図１０は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置
が断層撮影において実行する処理のフローチャートであ
る。図１０に示すように、まずパターン演算部１３は、
データ収集部９で収集された透過Ｘ線量のデータから、
各スライスにおけるチャンネル毎のＸ線吸収率（すなわ
ちマトリクス単位のＸ線吸収率）を求める（ステップＳ
１１）。
【００８３】次に、パターン演算部１３は、各マトリク
スの吸収率が予め決定された基準値よりも小さいか否か
を判別する（ステップＳ１２）。この各マトリクスの吸
収率毎の判別は、被検体Ｐの正面方向に沿った体厚が基
準の厚さより小さいか否かの判別に対応する。すなわ
ち、Ｘ線吸収率が基準値を越えていれば、被検体Ｐの体
厚が基準の厚さより基準値より厚いことが分かる。一
方、Ｘ線吸収率が基準値以下であれば、被検体Ｐの体厚
は基準の厚さより薄いことが分かる。
【００８４】次に、マトリクス単位のＸ線吸収率を被検
体の側面方向（チャンネル方向）に積算する（ステップ
Ｓ１３）。すなわち、全てのマトリクスのＸ線吸収率の
和を、スキャン方向毎に求める。
【００８５】次に、パターン演算部１３は、得られたス
キャン毎のＸ線吸収率の積算値が予め決定された基準値
よりも小さいか否かを判別する（ステップＳ１５）。こ
の判別は、被検体Ｐの側面方向に沿った体幅が基準の厚
さより小さいか否かの判別に対応する。すなわち、積算
値が基準値を越えていれば、被検体Ｐの体幅が基準値よ
り広いことがわかる。一方、積算値が基準値以下であれ
ば、被検体Ｐの体幅は基準値より狭いことが分かる。
【００８６】次に、パターン演算部１３は、ステップ２
とステップ４との判別結果のＡＮＤが成立するか否かを
判別する（ステップ１５）。ＡＮＤが成立する場合に
は、パターン演算部１３は、被検体Ｐを、体厚が基準値
より薄く体幅が基準値より狭い小児、または被曝低減を
必要とする対象であると判別する。
【００８７】このとき、システム制御部１５は、操作者
に対し、撮影条件を被曝低減用に変更するメッセージ
を、表示部１１に表示することが好ましい。また、音声
等によって操作者に同メッセージを知らせる構成であっ
てもよい。さらにシステム制御部１５は、例えば管電
圧、管電流の少なくとも一方を低減するように高電圧発
生部５を制御し、撮影条件を小児用に変更する（ステッ
プＳ１６）。これにより、被検体の大きさに応じて、自
動的に曝射Ｘ線量を低減させることができる。
【００８８】一方、パターン演算部１３が、ステップ２
およびステップ４においてＮＯと判別した場合、又はス
テップ２とステップ４との判別結果のＡＮＤが成立しな
いと判別した場合には、通常の撮影条件でのスキャンを
実行する（ステップＳ１７）。
【００８９】なお、上記一連の処理において、ステップ
１２を省略し、積算したスキャン毎のマトリクス単位の
Ｘ線吸収量データのみを或る基準値と比較するステップ
１４の動作のみから、被検体が小児または被曝低減を必
要とする被検体であると判別するようにしてもよい。こ
の場合には、ステップ５の処理も省略することができ
る。更に、ステップ１１及びステップ１３で得たＸ線吸
収率を基に、第１の実施形態にて説明した手法によって
人体に等価なファントムの大きさを仮想的に求め、これ
をある基準値と比較することにより、被検体が小児か否
かを判別するようにしてもよい。
【００９０】また、上記実施形態では、被検体を小児と
判別した場合には、自動的に撮影条件を小児用に変更す
る構成であった。これに対し、被検体を小児と判別した
場合には、撮影条件の自動変更は行わず、撮影条件を小
児用（被曝低減用）に変更することを促すメッセージ
を、表示部１１に表示する構成であってもよい。さら
に、第１の実施形態と同様に、被曝線量を示す指標等を
表示する構成であってもよく、撮影条件を吸収率マップ
によって求める構成であってもよい。
【００９１】一般のＸ線ＣＴ装置では、初期設定される
撮影条件が成人と小児とでは大幅に異なる。例えば、成
人に対して管電流を２００ｍＡとして撮影するところ、
新生児あるいは小児に対しては３０ｍＡの管電流とする
こともある。これに対し、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装
置では、被検体のサイズに応じて撮影条件、例えば管電
流を被曝低減用に制御する。従って、サイズの小さな被
検体、例えば小児に対して、有効な被曝低減策を講じる
ことができる。この被検体サイズに応じた被曝低減策
は、被曝線量が多くなる傾向があるヘリカルスキャンを
行う際に、特に実益がある。
【００９２】以上、本発明を各実施形態に基づき説明し
たが、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、
各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それ
ら変形例及び修正例についても本発明の範囲に属するも
のと了解される。
【００９３】また、各実施形態は可能な限り適宜組み合
わせて実施してもよく、その場合組合わせた効果が得ら
れる。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含
まれており、開示される複数の構成要件における適宜な
組合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実
施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削
除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた
課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果
の少なくとも１つが得られる場合には、この構成要件が
削除された構成が発明として抽出され得る。
【００９４】
【発明の効果】以上本発明によれば、適切な撮影条件を
決定しこれに従ってスキャンを実行することで、被検体
の被曝線量を低減させ、作業効率及び画質を向上させる
Ｘ線ＣＴ装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、人体の体軸方向に対する断面を模式的
に示した図である。
【図２】図２は、従来のＸ線コンピュータ断層撮影装置
におけるＸ線管の角度位置と透過Ｘ線量との関係を示し
た図である。
【図３】図３は、寝台上に寝かせた被検体を模式的に示
した側面図である。
【図４】図４は、第１実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の概
略構成図である。
【図５】図５は、第１実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の概
略構成図である。
【図６】図６は、取得されたスキャノ像を模式的に示し
た図である。
【図７】図７は、ｓｃｎのマトリクス毎のＸ線吸収率を
示したグラフである。
【図８】図８は、Ｘ線ＣＴ装置がヘリカルスキャンを行
う場合の処理の流れを示したフローチャートである。
【図９】図９は、撮影条件、ＣＴＤＩ等の及び総被曝線
量の表示形態の一例を示した図である。
【図１０】図１０は、本実施形態に係るＸ線ＣＴ装置が
断層撮影において実行する処理のフローチャートであ
る。
【符号の説明】
２…Ｘ線管 ３…補償用検出器 ４…Ｘ線検出器 ５…高電圧発生部 ６…回転駆動部 ７…寝台 ８…寝台駆動部 ９…データ収集部 １０…画像再構成部 １１…表示部 １２…スキャノ像生成部 １３…パターン演算部 １４…パターン記憶部 １５…システム制御部 １６…操作部 １７…被曝線量算出部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 4C093 AA22 BA17 CA01 CA18 CA34 EA02 FA18 FA55 FA59 FB09 FB20 FD11 FF16

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】Ｘ線を曝射するＸ線源と、 被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子を有す
    るＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づいて、被検体の第１の方向
    に関するスキャノ像を生成するスキャノ像生成セクショ
    ンと、 前記スキャノ像をマトリクス状に分割し、当該マトリク
    ス単位のＸ線吸収率又はＸ線吸収量を計算することで、
    前記被検体の当該第１の方向に関するＸ線吸収率又はＸ
    線吸収量の分布情報を生成する分布情報生成セクション
    と、 前記分布情報に基づいて、撮影条件を決定する撮影条件
    決定セクションと、 前記撮影条件に基づいて、前記被検体のコンピュータ断
    層撮影に関する制御を行うコントローラと、 を具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影
    装置。
  2. 【請求項２】前記撮影条件は、前記Ｘ線源に供給される
    電圧値又は電流値、前記検出素子の大きさ、前記Ｘ線源
    又は前記Ｘ線検出器の移動速度、ヘリカルスキャンを行
    う場合のヘリカルピッチ、前記被検体のスキャン範囲の
    うちの少なくとも一つを含む請求項１記載のコンピュー
    タ断層撮影装置。
  3. 【請求項３】撮影条件決定セクションは、前記Ｘ線源の
    位置に関わらず前記被検体のコンピュータ断層の画像標
    準偏差が同じになるように、前記被検体体軸方向に関す
    る前記Ｘ線源の位置、又は前記被検体体軸を中心とした
    前記Ｘ線源の回転角度の少なくとも一方に応じて変化さ
    せる前記Ｘ線源の電流値を前記撮影条件として決定し、 前記コントローラは、前記撮影条件に基づいて、前記Ｘ
    線源の電流値を制御すること、 を特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装
    置。
  4. 【請求項４】前記分布情報生成セクションは、前記マト
    リクス単位のＸ線吸収率又はＸ線吸収量を、前記第１の
    方向とは異なる第２の方向に関して積算することで、前
    記第２の方向に関するＸ線吸収率又はＸ線吸収量の分布
    情報を生成し、 前記撮影条件決定セクションは、前記第１及び第２の方
    向に関する前記分布情報に基づいて、前記撮影条件を決
    定すること、 を特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装
    置。
  5. 【請求項５】ヘリカルスキャンの場合、前記分布情報生
    成セクションは、撮影スライス厚又は撮影スライス幅に
    従って、前記マトリクス単位の大きさを決定することを
    特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装置。
  6. 【請求項６】前記分布情報生成セクションは、前記第１
    の方向とは異なる第２の方向に関するスキャノ像又は前
    記第１の方向に関するＸ線吸収率又はＸ線吸収量の分布
    情報に基づいて、前記第２の方向に関するＸ線吸収率又
    はＸ線吸収量の分布情報を生成し、 前記撮影条件決定セクションは、前記第１及び第２の方
    向に関する分布情報に基づいて、前記撮影条件を決定す
    ること、 を特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装
    置。
  7. 【請求項７】前記撮影条件は、前記Ｘ線源に供給される
    電流値であり、 前記コントローラは、前記撮影条件に基づいて、前記Ｘ
    線源に供給される電流値を当該Ｘ線源の移動に従って変
    化させること、 を特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装
    置。
  8. 【請求項８】前記撮影条件に基づいて、前記被検体の被
    曝線量を計算する被曝線量計算セクションと、 計算された記被検体の被曝線量を表示する表示装置と、 をさらに具備することを特徴とする請求項１記載のコン
    ピュータ断層撮影装置。
  9. 【請求項９】前記第１の方向に関するスキャノ像に基づ
    いて、前記被検体のサイズを判別するサイズ判別セクシ
    ョンをさらに具備し、 撮影条件決定セクションは、判別された前記被検体のサ
    イズに応じて、前記撮影条件を決定すること、 を特徴とする請求項１記載のコンピュータ断層撮影装
    置。
  10. 【請求項１０】前記撮影条件に基づいて、前記Ｘ線源が
    曝射される総Ｘ線量又は前記被検体の被曝線量を計算す
    るＸ線量計算セクションと、 計算された記被検体の被曝線量を、前記被検体のコンピ
    ュータ断層の撮影前に表示する表示装置と、 をさらに具備することを特徴とする請求項９記載のコン
    ピュータ断層撮影装置。
  11. 【請求項１１】Ｘ線を曝射するＸ線源と、 被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子を有す
    るＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づいて、前記被検体に関する
    少なくとも一つのスキャノ像を生成するスキャノ像生成
    セクションと、 前記少なくとも一つのスキャノ像に基づいて、前記被検
    体のサイズを判別するサイズ判別セクションと、 判別された前記被検体のサイズに応じて、第１のＸ線量
    を曝射する第１の撮影モードと、当該第１のＸ線量より
    低線量である第２のＸ線量を曝射する第２の撮影モード
    とを選択する撮影モード選択セクションと、 選択された前記撮影モードに基づいて、前記被検体のコ
    ンピュータ断層撮影に関する制御を行うコントローラ
    と、 を具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影
    装置。
  12. 【請求項１２】前記サイズ判別セクションは、前記少な
    くとも一つのスキャノ像に基づいて、少なくとも二方向
    についての長さを求め、前記被検体のサイズを判別する
    ことを特徴とする請求項１１記載のコンピュータ断層撮
    影装置。
  13. 【請求項１３】前記第２の撮影モードは小児用モードで
    あり、 前記サイズ判別セクションは、前記サイズが所定値以下
    である場合には前記被検体を小児と判別し、 撮影モード選択セクションは、前記サイズ判別セクショ
    ンが前記被検体を小児と判別した場合には、前記第２の
    撮影モードを選択すること、 を特徴とする請求項１１記載のコンピュータ断層撮影装
    置。
  14. 【請求項１４】前記撮影モード選択セクションが選択し
    た撮影モードに関するＸ線量を表示する表示装置をさら
    に具備することを特徴とする請求項１１記載のコンピュ
    ータ断層撮影装置。
  15. 【請求項１５】Ｘ線を曝射するＸ線源と、 被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子を有す
    るＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づいて、前記被検体に関する
    少なくとも一つのスキャノ像を生成するスキャノ像生成
    セクションと、 推奨する撮影条件を被検体のサイズ毎に記憶するメモリ
    と、 前記少なくとも一つのスキャノ像に基づいて、前記被検
    体のサイズを判別するサイズ判別セクションと、 判別された前記被検体のサイズに対応する撮影条件を選
    択する選択セクションと、 選択された撮影条件を設定するように促す情報を表示す
    る表示装置と、 を具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影
    装置。
  16. 【請求項１６】Ｘ線を曝射するＸ線源と、 被検体を透過したＸ線を検出する複数の検出素子を有す
    るＸ線検出器と、 前記Ｘ線検出器の出力に基づいて、前記被検体のスキャ
    ノ像を生成するスキャノ像生成セクションと、 前記被検体の第１の方向に関するスキャノ像に基づい
    て、前記被検体のコンピュータ断層撮影に関する撮影条
    件を決定する撮影条件決定セクションと、 前記撮影条件に基づいて、前記被検体の被曝線量又は前
    記Ｘ線源から曝射される総Ｘ線量を計算するＸ線量計算
    セクションと、 計算された前記被曝線量又は前記総Ｘ線量を、前記コン
    ピュータ断層撮影前に表示する表示装置と、 を具備することを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影
    装置。
  17. 【請求項１７】前記表示装置は、前記撮影条件を、計算
    された前記被曝線量又は前記総Ｘ線量とともに表示する
    ことを特徴とする請求項１６記載のＸ線コンピュータ断
    層撮影装置。
  18. 【請求項１８】撮影条件を被検体のサイズ毎に記憶する
    メモリと、 前記少なくとも一つのスキャノ像に基づいて、前記被検
    体のサイズを判別するサイズ判別セクションと、をさら
    に具備し、 前記撮影条件決定セクションは、判別された前記被検体
    のサイズに基づいて撮影条件を決定すること、 を特徴とする請求項１６記載のＸ線コンピュータ断層撮
    影装置。
  19. 【請求項１９】撮影条件は、前記Ｘ線源の位置に関わら
    ず前記被検体のコンピュータ断層の画像標準偏差が同じ
    になるように、前記被検体体軸方向に関する前記Ｘ線源
    の位置、又は前記被検体体軸を中心とした前記Ｘ線源の
    回転角度の少なくとも一方に応じて変化させる前記Ｘ線
    源の電流値を含むことを特徴とする請求項１６記載のコ
    ンピュータ断層撮影装置。
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Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004329661A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び画像ノイズシミュレーション装置
JP2005074000A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置および被曝線量分布算出方法
JP2005143948A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2005143759A (ja) * 2003-11-13 2005-06-09 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2005168870A (ja) * 2003-12-12 2005-06-30 Shimadzu Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2005305026A (ja) * 2004-04-26 2005-11-04 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2006034619A (ja) * 2004-07-27 2006-02-09 Toshiba Corp Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線フィルタ
JP2006116137A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Hitachi Medical Corp Ｘ線管電流決定方法及びｘ線ｃｔ装置
US7050532B2 (en) 2003-09-05 2006-05-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Imaging condition determining method and an X-ray CT apparatus
JP2006150033A (ja) * 2004-03-09 2006-06-15 Toshiba Corp Ｘ線曝射報告システム、医用装置及び検査プロトコル配信システム
JP2006149958A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 線量評価方法およびｘ線ｃｔ装置
JP2007054372A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2007185358A (ja) * 2006-01-13 2007-07-26 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2007209746A (ja) * 2006-01-12 2007-08-23 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線コンピュータ断層撮影用補正データ生成方法
JP2007222447A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置及び撮影方法
JP2008018044A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2008113960A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 放射線撮影装置
JP2008142390A (ja) * 2006-12-12 2008-06-26 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2009112627A (ja) * 2007-11-08 2009-05-28 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2010022869A (ja) * 2009-11-04 2010-02-04 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2011045588A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2011152325A (ja) * 2010-01-28 2011-08-11 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP4822478B2 (ja) * 2005-09-15 2011-11-24 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置
JP2012130542A (ja) * 2010-12-22 2012-07-12 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2013255850A (ja) * 2013-09-30 2013-12-26 Toshiba Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2015134106A (ja) * 2014-01-17 2015-07-27 株式会社東芝 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2017521203A (ja) * 2014-06-13 2017-08-03 パロデックス グループ オサケ ユキチュア Ｘ線撮像における自動の１回量制御のシステム及び方法
JP2018175248A (ja) * 2017-04-10 2018-11-15 株式会社Ａｚｅ 被曝線量算出装置及び被曝線量管理システム、並びに、それらの制御方法及びそのプログラム
KR20190044917A (ko) * 2017-10-23 2019-05-02 주식회사 칼레이도소프트 X선 촬영 시스템을 위한 최적 촬영조건 결정 방법
JP2020065696A (ja) * 2018-10-24 2020-04-30 株式会社モリタ製作所 医療用ｃｔ撮影装置、医療用ｃｔ撮影方法、プログラム及び記録媒体
WO2020090168A1 (ja) * 2018-10-31 2020-05-07 株式会社島津製作所 Ｘ線位相差撮影システム
JP2020192142A (ja) * 2019-05-29 2020-12-03 キヤノン株式会社 放射線撮影システム、放射線撮影制御装置及びその制御方法、並びに、プログラム

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005000121A1 (en) * 2003-06-30 2005-01-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Contour and scout scanning technique for pulsed x-ray large area ct detectors
JP3999176B2 (ja) * 2003-08-20 2007-10-31 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔ装置、情報処理方法ならびに記憶媒体、プログラム
US7039163B2 (en) * 2003-09-11 2006-05-02 Siemens Aktiengesellschaft Method for automatically setting an X-ray dosage for producing an X-ray tomographic image
JP2005185718A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 放射線断層撮像装置および撮像方法
JP4568023B2 (ja) * 2004-05-13 2010-10-27 株式会社東芝 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP4675589B2 (ja) * 2004-07-06 2011-04-27 東芝メディカルシステムズ株式会社 Ｘ線コンピュータトモグラフィ装置
US7082183B2 (en) * 2004-07-21 2006-07-25 General Electric Company Computed tomography dose indexing phantom selection for dose reporting
CN1754508A (zh) * 2004-09-30 2006-04-05 西门子（中国）有限公司 一种计算机断层成像检查流程的用户界面的操作方法
WO2006090877A1 (ja) * 2005-02-25 2006-08-31 Hitachi Medical Corporation Ｘ線ｃｔ装置
CN100508890C (zh) * 2005-03-01 2009-07-08 马越 X射线机
CN101150987B (zh) * 2005-04-04 2011-04-13 株式会社日立医药 X射线ct装置
JP2006320523A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc シャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびｘ線ｃｔ装置
JP4597936B2 (ja) * 2005-10-06 2010-12-15 富士フイルム株式会社 乳房画像撮影装置
JP4614001B2 (ja) * 2006-04-13 2011-01-19 株式会社島津製作所 透過ｘ線を用いた三次元定量方法
US7813471B2 (en) * 2006-05-25 2010-10-12 Hitachi Medical Corporation X-ray CT apparatus
JP4509971B2 (ja) * 2006-06-09 2010-07-21 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔ装置
JP5184834B2 (ja) * 2007-07-18 2013-04-17 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔ装置
JP5389345B2 (ja) * 2007-10-04 2014-01-15 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー Ｘ線ｃｔ装置
US20090147908A1 (en) * 2007-12-10 2009-06-11 Walter Garms Compression of computed tomography data
JP5523726B2 (ja) * 2008-04-04 2014-06-18 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置
DE102008028929B4 (de) 2008-06-18 2023-05-04 Siemens Healthcare Gmbh Medizinisches Bildgebungsgerät mit Strahlungsbelastungsanzeige
JP2012066062A (ja) * 2010-08-24 2012-04-05 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
CN102370491A (zh) * 2010-08-24 2012-03-14 富士胶片株式会社 放射线照相图像捕捉系统以及放射线照相图像捕捉方法
US8447011B2 (en) * 2010-08-24 2013-05-21 Fujifilm Corporation Radiographic image capturing system and radiographic image capturing method
US8798228B2 (en) * 2011-03-03 2014-08-05 General Electric Company Method to reduce radiation dose delivered by imaging system
KR20130010425A (ko) * 2011-07-18 2013-01-28 삼성전자주식회사 엑스선 장치 및 이를 이용한 엑스선 조사영역 조절방법
JP5706269B2 (ja) * 2011-08-16 2015-04-22 富士フイルム株式会社 放射線撮影システムの線量情報共有化装置および方法
KR20140087246A (ko) * 2012-12-28 2014-07-09 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법
JP6238575B2 (ja) * 2013-05-29 2017-11-29 東芝メディカルシステムズ株式会社 Ｘ線ｃｔ装置
CN104510486B (zh) * 2013-09-30 2021-04-20 Ge医疗系统环球技术有限公司 计算机化断层扫描设备及其机架旋转控制装置和方法
US20160089103A1 (en) * 2014-09-29 2016-03-31 General Electric Company Systems and methods for optimized image acquisition with image-guided decision support
CN107249465B (zh) * 2015-12-18 2018-09-28 皇家飞利浦有限公司 用于稀疏角度采样的断层摄影成像装置和方法
JP6342437B2 (ja) * 2016-02-22 2018-06-13 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 放射線断層撮影システム及びその制御プログラム
JP6125126B1 (ja) * 2017-01-18 2017-05-10 典人 畠山 Ｘ線撮影条件補正方法、プログラム、及び、ｘ線システム
EP3311744B1 (de) * 2017-07-12 2020-02-26 Siemens Healthcare GmbH In kopf-fuss-richtung ortsaufgelöste wed-ermittlung
EP3628233B1 (en) * 2018-09-28 2021-06-02 Siemens Healthcare GmbH Method and system for providing a dose reference value for a patient
CN111887872A (zh) * 2019-05-05 2020-11-06 有方（合肥）医疗科技有限公司 X射线成像设备及x射线成像方法
US20210015438A1 (en) * 2019-07-16 2021-01-21 Siemens Healthcare Gmbh Deep learning for perfusion in medical imaging
JP7432378B2 (ja) 2020-01-29 2024-02-16 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線高電圧装置
EP3960086A1 (en) * 2020-08-31 2022-03-02 Vatech Co., Ltd. X-ray imaging apparatus

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6152860A (ja) * 1984-08-24 1986-03-15 株式会社　日立メデイコ Ｘ線ｃｔ装置
JPS63294839A (ja) * 1987-05-27 1988-12-01 Nec Corp 放射線治療用ｃｔシミュレ−タ
JPH0636793B2 (ja) * 1988-05-20 1994-05-18 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔスキヤナ
JP2704084B2 (ja) * 1992-05-01 1998-01-26 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置
JPH10155778A (ja) * 1996-11-29 1998-06-16 Shimadzu Corp Ｘ線画像診断装置
JPH10295681A (ja) * 1997-04-01 1998-11-10 Siemens Ag コンピュータトモグラフィ（ｃｔ）システムのｘ線管の電力レベルを適合的に変調する方法
JPH11104121A (ja) * 1997-09-30 1999-04-20 Ge Yokogawa Medical Systems Ltd Ｘ線断層撮影方法及びｘ線断層撮影装置
JPH11206755A (ja) * 1998-01-30 1999-08-03 Shimadzu Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2933107B2 (ja) * 1992-02-14 1999-08-09 株式会社東芝 Ｃｔ装置
EP0994442A2 (en) * 1998-06-17 2000-04-19 Her Majesty The Queen In Right Of Canada As Represented By The Minister Of National Defence A method for tracking organ motion and removing artifacts for computed tomography imaging systems
JP2000516834A (ja) * 1997-06-26 2000-12-19 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 調整可能なコンピュータ断層撮影装置
JP2001043993A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Ge Yokogawa Medical Systems Ltd 管電流調節方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置
EP1103221A1 (en) * 1999-11-29 2001-05-30 General Electric Company Methods and apparatus for optimizing CT image quality with optimized data acquisition
JP2002200073A (ja) * 2000-12-21 2002-07-16 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6152860A (ja) * 1984-08-24 1986-03-15 株式会社　日立メデイコ Ｘ線ｃｔ装置
JPS63294839A (ja) * 1987-05-27 1988-12-01 Nec Corp 放射線治療用ｃｔシミュレ−タ
JPH0636793B2 (ja) * 1988-05-20 1994-05-18 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔスキヤナ
JP2933107B2 (ja) * 1992-02-14 1999-08-09 株式会社東芝 Ｃｔ装置
JP2704084B2 (ja) * 1992-05-01 1998-01-26 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置
JPH10155778A (ja) * 1996-11-29 1998-06-16 Shimadzu Corp Ｘ線画像診断装置
JPH10295681A (ja) * 1997-04-01 1998-11-10 Siemens Ag コンピュータトモグラフィ（ｃｔ）システムのｘ線管の電力レベルを適合的に変調する方法
JP2000516834A (ja) * 1997-06-26 2000-12-19 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 調整可能なコンピュータ断層撮影装置
JPH11104121A (ja) * 1997-09-30 1999-04-20 Ge Yokogawa Medical Systems Ltd Ｘ線断層撮影方法及びｘ線断層撮影装置
JPH11206755A (ja) * 1998-01-30 1999-08-03 Shimadzu Corp Ｘ線ｃｔ装置
EP0994442A2 (en) * 1998-06-17 2000-04-19 Her Majesty The Queen In Right Of Canada As Represented By The Minister Of National Defence A method for tracking organ motion and removing artifacts for computed tomography imaging systems
JP2001043993A (ja) * 1999-07-30 2001-02-16 Ge Yokogawa Medical Systems Ltd 管電流調節方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置
EP1103221A1 (en) * 1999-11-29 2001-05-30 General Electric Company Methods and apparatus for optimizing CT image quality with optimized data acquisition
JP2002200073A (ja) * 2000-12-21 2002-07-16 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置

Cited By (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004329661A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及び画像ノイズシミュレーション装置
JP2005074000A (ja) * 2003-09-01 2005-03-24 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置および被曝線量分布算出方法
US7050532B2 (en) 2003-09-05 2006-05-23 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Imaging condition determining method and an X-ray CT apparatus
JP2005143759A (ja) * 2003-11-13 2005-06-09 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2005143948A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP4554185B2 (ja) * 2003-11-18 2010-09-29 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置
JP2005168870A (ja) * 2003-12-12 2005-06-30 Shimadzu Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2006150033A (ja) * 2004-03-09 2006-06-15 Toshiba Corp Ｘ線曝射報告システム、医用装置及び検査プロトコル配信システム
US8175894B2 (en) 2004-03-09 2012-05-08 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray exposure report system, medical apparatus, and examination protocol distribution system
JP4675633B2 (ja) * 2004-03-09 2011-04-27 株式会社東芝 放射線レポートシステム
JP2005305026A (ja) * 2004-04-26 2005-11-04 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP4679068B2 (ja) * 2004-04-26 2011-04-27 株式会社東芝 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2006034619A (ja) * 2004-07-27 2006-02-09 Toshiba Corp Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線フィルタ
JP4589672B2 (ja) * 2004-07-27 2010-12-01 株式会社東芝 Ｘ線ｃｔ装置およびｘ線フィルタ
JP2006116137A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Hitachi Medical Corp Ｘ線管電流決定方法及びｘ線ｃｔ装置
JP4731151B2 (ja) * 2004-10-22 2011-07-20 株式会社日立メディコ Ｘ線管電流決定方法及びｘ線ｃｔ装置
JP2006149958A (ja) * 2004-12-01 2006-06-15 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 線量評価方法およびｘ線ｃｔ装置
JP4739738B2 (ja) * 2004-12-01 2011-08-03 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 線量評価方法およびｘ線ｃｔ装置
US7756243B2 (en) 2004-12-01 2010-07-13 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Dose evaluating method and X-ray CT apparatus
JP2007054372A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP4822478B2 (ja) * 2005-09-15 2011-11-24 株式会社日立メディコ Ｘ線ｃｔ装置
JP2007209746A (ja) * 2006-01-12 2007-08-23 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びｘ線コンピュータ断層撮影用補正データ生成方法
JP2007185358A (ja) * 2006-01-13 2007-07-26 Hitachi Medical Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2007222447A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置及び撮影方法
JP2008018044A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2008113960A (ja) * 2006-11-07 2008-05-22 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 放射線撮影装置
JP2008142390A (ja) * 2006-12-12 2008-06-26 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2009112627A (ja) * 2007-11-08 2009-05-28 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2011045588A (ja) * 2009-08-28 2011-03-10 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2010022869A (ja) * 2009-11-04 2010-02-04 Toshiba Corp Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2011152325A (ja) * 2010-01-28 2011-08-11 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2012130542A (ja) * 2010-12-22 2012-07-12 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc Ｘ線ｃｔ装置
JP2013255850A (ja) * 2013-09-30 2013-12-26 Toshiba Corp Ｘ線ｃｔ装置
JP2015134106A (ja) * 2014-01-17 2015-07-27 株式会社東芝 Ｘ線コンピュータ断層撮影装置
JP2017521203A (ja) * 2014-06-13 2017-08-03 パロデックス グループ オサケ ユキチュア Ｘ線撮像における自動の１回量制御のシステム及び方法
JP2018175248A (ja) * 2017-04-10 2018-11-15 株式会社Ａｚｅ 被曝線量算出装置及び被曝線量管理システム、並びに、それらの制御方法及びそのプログラム
KR20190044917A (ko) * 2017-10-23 2019-05-02 주식회사 칼레이도소프트 X선 촬영 시스템을 위한 최적 촬영조건 결정 방법
KR102020836B1 (ko) 2017-10-23 2019-09-11 주식회사 칼레이도소프트 X선 촬영 시스템을 위한 최적 촬영조건 결정 방법
JP2020065696A (ja) * 2018-10-24 2020-04-30 株式会社モリタ製作所 医療用ｃｔ撮影装置、医療用ｃｔ撮影方法、プログラム及び記録媒体
WO2020090168A1 (ja) * 2018-10-31 2020-05-07 株式会社島津製作所 Ｘ線位相差撮影システム
JPWO2020090168A1 (ja) * 2018-10-31 2021-09-09 株式会社島津製作所 Ｘ線位相差撮影システム
JP7163969B2 (ja) 2018-10-31 2022-11-01 株式会社島津製作所 Ｘ線位相差撮影システム
JP2020192142A (ja) * 2019-05-29 2020-12-03 キヤノン株式会社 放射線撮影システム、放射線撮影制御装置及びその制御方法、並びに、プログラム
JP7350519B2 (ja) 2019-05-29 2023-09-26 キヤノン株式会社 放射線撮影システム、放射線撮影制御装置及びその制御方法、並びに、プログラム

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