JP2002200073A - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JP2002200073A
JP2002200073A JP2000388453A JP2000388453A JP2002200073A JP 2002200073 A JP2002200073 A JP 2002200073A JP 2000388453 A JP2000388453 A JP 2000388453A JP 2000388453 A JP2000388453 A JP 2000388453A JP 2002200073 A JP2002200073 A JP 2002200073A
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ray
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JP2000388453A
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Akihiko Nishide
明彦 西出
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GE Medical Systems Global Technology Co LLC
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 X線CT装置に関し、被検体のサイズ等に応
じて必要なCT断層像を高速かつ効率よく得られること
を課題とする。 【解決手段】 被検体100を挟んで相対向するX線管
40及びX線検出器70を備え、該X線検出器から収集
した投影データに基づき被検体のCT断層像を再構成す
るX線CT装置において、被検体を撮影した各所定ビュ
ーの投影データg(X,θ)と空気のX線吸収係数に対
応する空気レベルTHairとを比較することで前記投影
データが空気レベルを超えるX線検出チャネル方向の範
囲(ai〜bi,cj〜dj等)を検出する範囲検出手段1
と、検出された範囲の両側に所定の余裕範囲を加えてC
T断層像の再構成エリア(ai'〜bi',cj'〜dj'等)
を設定する再構成エリア設定手段2と、設定された再構
成エリア内の各注目画素につきCT断層像を再構成する
再構成手段3とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はX線CT装置に関
し、更に詳しくは被検体を挟んで相対向するX線管及び
X線検出器を備え、該X線検出器から収集した投影デー
タに基づき被検体のCT断層像を再構成するX線CT装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図10,図11は従来技術を説明する図
(1),(2)で、図10は従来のX線CT装置の要部
構成を示している。図において、40はX線管、50は
X線の体(Z)軸方向の曝射範囲を制限するコリメー
タ、100は被検体、20は被検体100を載せて体軸
方向に移動させる撮影テーブル、70は多数(n=10
00程度)のX線検出器(素子)が円弧状の一列に配列
されているX線検出器、11はX線CT装置の主制御・
処理(スキャン制御,投影データ収集,CT断層像再構
成処理等)を行う中央処理装置、13はスキャン計画画
面やスキャン結果のCT断層像等を表示する表示装置
(CRT)である。
【0003】動作を概説すると、X線管40からのファ
ンビームは被検体100を介してX線検出器70に一斉
に入射する。中央処理装置11はX線検出器70の検出
データに基づく投影データg(X,θ)を走査・収集して
不図示のデータ収集バッファに格納する。ここで、Xは
X線検出器70のチャネル方向の座標(1〜n)、θは
走査ガントリ(X線管40及びX線検出器70等を含
む)の被検体体軸回りの回転角を夫々表す。更に、走査
ガントリが僅かに回転した各ビューで上記同様の投影を
行い、こうして走査ガントリ1回転分の投影データを収
集・蓄積すると共に、アキシャル/ヘリカルスキャン方
式に従って撮影テーブル20を体軸方向に間欠的/連続
的に移動させ、こうして所要撮像領域についての全投影
データを収集・蓄積する。そして、中央処理装置11
は、得られた全投影データに基づき被検体100のCT
断層像を再構成(Back Projection)し、表示装置13
に表示する。
【0004】図11はX線CT装置の投影・逆投影処理
を説明する図で、この種のX線CT装置は被検体断面を
撮影した全方向からのX線投影データを注目する各点に
つき全方向から重ね合わせることでCT断層像を再構成
する基本原理に基づいている。図11(A)は投影処理
を示しており、図において、x,yは被検体100に固
定した座標系、f(x,y)は被検体のX線吸収係数分
布、X,Yは走査ガントリの座標系を夫々表す。今、走
査ガントリの回転角=θとすると、被検体100上の座
標(x,y)と走査ガントリの座標(X,Y)間には
(1)式の関係がある。
【0005】
【数1】 従って、被検体上のX線吸収係数分布f(x,y)の各
投影データg(X,θi),g(X,θj)は(2)式で与えら
れる。
【0006】
【数2】 図11(B)は逆投影処理を示しており、被検体上の着
目点(x,y)を通過する投影データg(X,θ)を全方向
から逆投影し、これらを重ね合わせることでX線吸収係
数分布p(x,y){f(x,y)に対応}を推定する。
ここで被検体上の着目点(x,y)に対応する走査ガント
リのX座標は(3)式で与えられる。
【0007】
【数3】 従って、逆投影法により再構成される着目点(x,y)の
断層像は(4)式で与えられる。
【0008】
【数4】 なお、このままでは再構成画像に逆投影によるボケが生
じるため、これを回避するために予め投影データg(X,
θ)に所定の再構成関数をコンボリューションする所謂
コンボリューション・バックプロジェクション法、その
他のフーリェ変換法、フィルタ補正逆投影法等が知られ
ている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来は一律一定サイズ
(例えば512×512画素)の再構成エリア22につ
き画像再構成を行っていため,CT断層像の表示までに
多大の時間を要していた。
【0010】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みなさ
れたもので、その目的とする所は、被検体のサイズ等に
応じて必要なCT断層像を高速かつ効率よく得られるX
線CT装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図1
の構成により解決される。即ち、本発明(1)のX線C
T装置は、被検体100を挟んで相対向するX線管40
及びX線検出器70を備え、該X線検出器から収集した
投影データに基づき被検体のCT断層像を再構成するX
線CT装置において、被検体を撮影した各所定ビューの
投影データg(X,θ)と空気のX線吸収係数に対応す
る空気レベルTHairとを比較することにより前記投影
データが空気レベルを超えるX線検出チャネル方向の範
囲(ai〜bi,cj〜dj等)を検出する範囲検出手段1
と、前記検出された範囲の両側に所定の余裕範囲を加え
てCT断層像の再構成エリア(ai'〜bi',cj'〜dj'
等)を設定する再構成エリア設定手段2と、前記設定さ
れた再構成エリア内の各注目画素につきCT断層像を再
構成する再構成手段3とを備えるものである。
【0012】本発明(1)によれば、被検体断層像が存在
しないようなエリアについての画像再構成処理を行わな
いため、被検体のサイズ等に応じて必要なCT断層像を
高速かつ効率よく得られる。
【0013】好ましくは本発明(2)においては、上記
本発明(1)において、範囲検出手段1は被検体体軸回
りのX線照射角を固定して行うスカウトスキャンにより
収集された各所定スライス位置の投影データに基づき夫
々に空気レベルを超える範囲を検出する。従って、事前
に行うスカウトスキャンによりその方向で必要な再構成
範囲を検出でき、これに基づく再構成エリアの情報を続
くアキシャル/ヘリカルスキャンのためのスキャン計画
に反映できる。
【0014】また好ましくは本発明(3)においては、
上記本発明(2)において、範囲検出手段1は被検体体
軸回りのX線照射角を変えて行う複数のスカウトスキャ
ンに基づき各対応する空気レベルを超えるX線検出チャ
ネル方向の範囲を検出すると共に、再構成エリア設定手
段2は前記各対応する空気レベルを超えるX線検出チャ
ネル方向の範囲より求めた各再構成エリアにつきスライ
ス位置毎の論理積を採ることにより続くアキシャル/ヘ
リカルスキャンのための再構成エリアを設定する。
【0015】図1において、今、所定サイズの再構成エ
リアを22とすると、例えばθi=0°とするような第
1のスカウトスキャンに対応して被検体のx軸方向に制
限された再構成エリア22Aが設定され、またθi=9
0°とするような第2のスカウトスキャンに対応して被
検体のy軸方向に制限された再構成エリア22Bが設定
され、これらの各再構成エリア22A,22Bにつきス
ライス位置毎の論理積を採ることにより被検体のx軸及
びy軸方向に制限された再構成エリア22Cが設定され
る。
【0016】また好ましくは本発明(4)においては、
上記本発明(2)又は(3)において、被検体のスカウ
ト像に対して再構成エリアの範囲を表すマークを重ねて
表示する表示手段と、前記再構成エリアの範囲を変更可
能な入力手段とを備える。従って、ユーザは上k自動設
定された再構成エリアの確認と微調整とを容易に行え
る。
【0017】また好ましくは本発明(5)においては、
上記本発明(4)において、再構成エリアの範囲を表す
マーク表示はスカウトスキャン後のアキシャル/ヘリカ
ルスキャン計画に基づく被検体の各スライス位置に対応
させて表示される。
【0018】好ましくは本発明(6)においては、上記
本発明(1)において、範囲検出手段1は被検体に対す
るアキシャル/ヘリカルスキャンにより収集された各所
定ビューの投影データに基づき空気レベルを超える範囲
を検出する。
【0019】従って、事前にスカウトスキャンを行わな
いような場合であっても、アキシャル/ヘリカルスキャ
ンの投影データに基づき精密な範囲を検出でき、かつこ
れらに基づき再構成エリアを最適に設定できる。また、
再構成エリア設定のためのスカウトスキャンを必要とし
ないので被検体の被曝を軽減できる。
【0020】また好ましくは本発明(7)においては、
上記本発明(6)において、範囲検出手段1は被検体に
対するアキシャル/ヘリカルスキャンにより収集された
各所定ビューの投影データに基づき対応する範囲を検出
すると共に、再構成エリア設定手段2は前記各対応する
範囲より求めた各再構成エリアにつきビュー毎の論理積
を採ることにより前記アキシャル/ヘリカルスキャンに
基づく再構成エリアを設定する。
【0021】従って、アキシャル/ヘリカルスキャンに
より得られる豊富な投影データを利用し、所望に制限さ
れた再構成エリアを容易に設定でき、よって再構成処理
を大幅に軽減かつ高速化できる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。なお、全
図を通して同一符号は同一又は相当部分を示すものとす
る。
【0023】図2は実施の形態によるX線CT装置の要
部構成図で、図において、10はユーザが操作する操作
コンソール部、20は被検体100を載せて体軸方向に
移動させる撮影テーブル、30はX線ファンビームによ
り被検体のアキシャル(Axial)/ヘリカル(Herica
l)スキャン・読取を行う走査ガントリである。
【0024】走査ガントリ30において、40は回転陽
極型のX線管、41はX線管40の管電圧kV,管電流
mA,曝射時間Sec等を制御するX線制御部、50は
X線の体軸方向の曝射範囲を制限するコリメータ、51
はコリメータ制御部、70は多数(n=1000程度)
のX線検出器(素子)が円弧状の例えば一列に配列され
ているX線検出器(XDA)、80はX線検出器70の
検出データ(投影データ)を収集するデータ収集部(D
AS)、60は走査ガントリ30を被検体体軸の回りに
回転させる回転制御部である。
【0025】操作コンソール部10において、11はX
線CT装置の主制御・処理(スキャン計画処理,スキャ
ン制御,CT断層像再構成処理等)を行う中央処理装
置、11aはそのCPU、11bはCPU11aが使用
する主メモリ(MEM)、12はキーボードやマウス等
を含む入力装置、13はスキャン計画画面やスキャン結
果のCT断層像等を表示するための表示装置(CR
T)、14はCPU11aと走査ガントリ30や撮影テ
ーブル20との間で制御信号Cやモニタ信号SDのやり
取りを行う制御インタフェース、15はデータ収集部8
0からの投影データを蓄積するデータ収集バッファ、1
6はX線CT装置の運用に必要な各種データやアプリケ
ーションプログラム等を記憶している二次記憶装置(デ
ィスク装置等)、17はCPU11aの共通バスであ
る。
【0026】係る構成により、X線管40からのファン
ビームは被検体100を介してX線検出器70に一斉に
入射する。データ収集部80はX線検出器70の検出デ
ータ(投影データ)を走査・収集してデータ収集バッフ
ァ15に格納する。更に走査ガントリ30が僅かに回転
した各ビューで上記同様の投影を行い、こうして走査ガ
ントリ1回転分の投影データを収集・蓄積すると共に、
アキシャル/ヘリカルスキャン方式に従って撮影テーブ
ル20を体軸方向に間欠的/連続的に移動させ、こうし
て所要撮像領域についての全投影データを収集・蓄積す
る。そして、CPU11aは得られた全投影データに基
づき被検体100のCT断層像を再構成し、表示装置1
3に表示する。
【0027】なお、以下の説明ではアキシャルスキャン
方式の場合を中心に述べるが、ヘリカルスキャン方式で
も画像再構成に関してはデータ補間によりアキシャルス
キャン相当の投影データが得られることから、アキシャ
ルスキャン方式と同様に考えられる。
【0028】図3は実施の形態によるX線CT撮像処理
のフローチャートである。ステップS1ではスキャンパ
ラメータ(管電圧kV,管電流mA,ガントリ回転角,
スキャン領域等)の設定を行い、ステップS2では被検
体100のスカウトスキャンを行う。スカウトスキャン
とは、走査ガントリ30を所定回転角に保持したまま撮
影テーブル20を体軸方向に移動させ、被検体100の
二次元レントゲン透視画像(スカウト像)を得るスキャ
ンである。ステップS3ではこのスカウトスキャンで得
られた投影データg(X,θ)に基づきX線CT断層像の再
構成エリアを求める。
【0029】図4にこの再構成エリア決定処理のイメー
ジを示す。図4(a)において、この例では被検体10
0の真上(例えばθ=0°)からスカウトスキャンを行
なっている。図4(b)において、X線検出器70のチ
ャネルCH方向をX軸、被検体100の体軸(ビュー)
方向をZ軸とすると、撮影テーブル20の移動に伴い図
示のようなスカウト像100Aが得られる。
【0030】これに伴い、上記ステップS3では、まず
投影データg(X,θ)が空気レベルTHairを下回る(即
ち、X線吸収係数が大きい)領域を検出する。この処理
イメージを図4(c)〜(e)に示す。図4(c)はZ
=i(ビューi)の状態を示しており、ここでは投影デ
ータg(X,θ)はai<X<biの範囲内で空気レベルT
airを下回っている。図4(d)はZ=j(ビュー
j)の状態を示しており、ここでは投影データg(X,
θ)はaj<X<bjの範囲内で空気レベルTHairを下回
っている。図4(d)はZ=k(ビューk)の状態を示
しており、ここでは投影データg(X,θ)はak<X<b
kの範囲内で空気レベルTHairを下回っている。
【0031】次にCPU11aは上記検出された範囲を
幾分広げるようにして再構成エリアを決定する。この処
理イメージを図4(f)〜(h)に示す。これらは上記
図4(c)〜(e)に各対応している。図4(f)で
は、例えば再構成エリアの開始座標ai'=ai−α
(α:所定値)、また終了座標bi'=bi+β(β:所
定値)により夫々求める。α,βは余裕のための値であ
る。以下同様にして、図4(g)では開始座標aj'=a
j−α、かつ終了座標bj'=bj+βにより求め、また図
4(h)では開始座標ak'=ak−α、かつ終了座標
k'=bk+βにより求める。こうして得られる再構成
エリアは所定エリア22の内のx軸方向に制限された再
構成エリア22Ai〜22Akである。なお、実際の再構
成エリア22Ai〜22Akは、図の点線で挟まれるエリ
アの如く、X線ファンビームの傾き(X軸方向への広が
り)を考慮したものである。この点は、以下の説明でも
同様である、
【0032】図3に戻り、ステップS4では、必要なら
得られたスカウト像を画面に表示し、ステップS5では
続くアキシャル/ヘリカルスキャンのためのスキャン計
画(ローカライズ情報等の設定)操作を行う。以下、一
例のスキャン計画処理を具体的に説明する。
【0033】図6は実施の形態によるアキシャルスキャ
ン設定画面の説明図(1)で、被検体100の広範囲に
渡る疾患の有無を大まかに検査する場合を示している。
上記スカウトスキャンの終了後、表示装置13にはアキ
シャルスキャンのためのスキャン設定(View/Edit)画
面13aが表示され、ユーザは必要なアキシャルスキャ
ンパラメータをマウスでクリック入力又はキー入力等す
る。イメージAを取得するための一例のスキャン計画は
以下の通りである。
【0034】 スキャンタイプ[Scan Type]=アキシャルスキャン Z軸上のスキャン開始位置[Start Loc]=Z1 Z軸上のスキャン終了位置[End Loc]=Z4 撮像枚数[NO.of Images]=11枚 被検体のスライス厚[Thick]=10mm X線管の管電圧[kV]=120kV X線管の管電流[mA]=280mA このスキャン設定画面上でユーザが更に[Show Localize
r]アイコンをクリックすると、表示装置13のイメージ
表示エリア13bには図示のようなスカウト像100A
が表示され、その上にアキシャルスライス位置を示す線
が重ねて表示される。図中の太線はアキシャルスキャン
の開始位置Z1及び終了位置Z4に対応し、点線は中間
の各スライス位置に対応する。なお、実際には被検体1
00の息継ぎ/息止めを考慮して、このスキャン計画は
いくつかのグループにグループ分けされるが、ここでは
説明の簡単のために全体を1グループとして説明する。
【0035】ユーザは、更に入力装置(マウス,キーボ
−ド等)12を介して、全スライス位置のシフト、スラ
イス間隔(ピッチ)の変更、グループの先頭/後備に対
するスライス位置の追加/削除等の各種調整を行える。
また、このスカウト像100Aに重ねて再構成エリアの
決定情報が例えば図示の如く各横線分a',b'で示され
る。各横線分a',b'は各アキシャルスライス位置に対
応して必要なものだけが選択(演算)され、表示され
る。これにより、ユーザは再構成エリアの過不足を確認
でき、かつ過不足があるときは対応する横線分a'及び
又はb'の部分を例えばマウス等により移動し、微調整
できる。
【0036】図3に戻り、ステップS6ではスキャン計
画の設定終了か否かを判別し、設定終了でない(例えば
更に他の角度のスカウト像が欲しい)場合はステップS
1に戻る。ステップS1では新たなガントリ回転角(例
えばθ=90°)を設定し、ステップS2ではスカウト
スキャンを行う。ステップS3ではこのスカウトスキャ
ンで得られた投影データg(X,θ)に基づきX線CT断層
像の再構成エリアを求める。
【0037】図5にこの再構成エリア決定処理のイメー
ジを示す。図5(a)において、この例では被検体10
0の真横(例えばθ=90°)からスカウトスキャンを
行なっている。図5(b)において、X線検出器70の
チャネルCH方向をX軸、被検体100の体軸(ビュ
ー)方向をZ軸とすると、撮影テーブル20の移動に伴
い図示のようなスカウト像100Aが得られる。
【0038】これに伴い、上記ステップS3では、まず
投影データg(X,θ)が空気レベルTHairを下回る領域
を検出する。この処理イメージを図5(c)〜(e)に
示す。図5(c)はZ=i(ビューi)の状態を示して
おり、ここでは投影データg(X,θ)はci<X<di
範囲内で空気レベルTHairを下回っている。図5
(d)はZ=j(ビューj)の状態を示しており、ここ
では投影データg(X,θ)はcj<X<djの範囲内で空
気レベルTHairを下回っている。図5(e)はZ=k
(ビューk)の状態を示しており、ここでは投影データ
g(X,θ)はck<X<dkの範囲内で空気レベルTHair
を下回っている。
【0039】次にCPU11aは上記検出された範囲を
幾分広げるようにして再構成エリアを決定する。この処
理イメージを図5(f)〜(h)に示す。これらは上記
図5(c)〜(e)に各対応している。図5(f)で
は、例えば再構成エリアの開始座標ci'=ci−α
(α:所定値)、また終了座標di'=di+β(β:所
定値)により夫々求める。α,βは余裕のための値であ
る。同様にして、図5(g)では開始座標cj'=cj
α、かつ終了座標dj'=dj+βにより求め、また図5
(h)では開始座標ck'=ck−α、かつ終了座標dk'
=dk+βにより求める。こうして得られる再構成エリ
アは被検体のy軸方向に制限された再構成エリア22B
i〜22Bkである。また上記1回目及び2回目の各再構
成エリアの論理積(AND)を採ると、最終的に得られ
る再構成エリアは図の太点線で囲まれるような再構成エ
リア22Ci〜22Ckである。かくして、被検体100
のサイズに応じて再構成エリアを大幅に削減できる。
【0040】図3に戻り、ステップS4では、必要なら
得られたスカウト像を画面に表示し、ステップS5では
スキャン計画(ローカライズ情報等の設定)操作を行
う。但し,ここで行うのは主に再構成エリアの確認と必
要な微調整である。この場合のアキシャルスキャン設定
画面を図7に示す。このスカウト像100Aに重ねて再
構成エリアの決定情報が例えば図示の如く各横線分
c',d'で示される。各横線分c',d'はアキシャルス
ライス位置に対応して必要なものだけが選択(演算)さ
れ、表示される。これにより、ユーザは再構成エリアの
過不足を確認でき、かつ過不足があるときは対応する横
線分c'及び又はd'の部分をマウス等により移動し、微
調整できる。また、この時点でユーザは図6,図7の各
設定画面を容易に切替表示できる。
【0041】図3に戻り、ステップS6の判別で設定終
了になると、ステップS7では上記ステップS5の設定
情報に従い走査ガントリ30及び撮影テーブル20に対
する各種制御情報(コリメータ50のスリット幅w,X
線管40の曝射開始及び終了位置,撮影テーブル20の
搬送ピッチ/搬送速度等)を生成する。ステップS8で
は上記ステップS7の制御情報に従いアキシャル/ヘリ
カルスキャンを行う。
【0042】ステップS9では各ビューの投影データを
収集し、ステップS10では収集した投影データにつき
必要な補正処理(リファレンス補正,チャネル間感度補
正等)を行う。なお、ヘリカルスキャンの場合は更にア
キシャルスキャン相当の投影データを得るための補間処
理等を行う。ステップS11では投影データに対するフ
ィルタ処理を行い、ステップS12では上記スキャン計
画に従うCT断層像の再構成(逆投影)処理を行う。こ
のとき、再構成処理は、各スライス位置の投影データに
基づき上記決定された各再構成エリア(22Ci〜22
k等)内の各画素点(注目点)についてのみ行われ
る。従って、トータルの再構成時間及び処理が大幅に削
減される。そして、ステップS13では処理結果のCT
断層像を表示装置13に表示する。
【0043】図8は他の実施の形態による再構成エリア
決定処理のイメージ図で、上記スカウトスキャンに代
え、アキシャル/ヘリカルスキャンで得られた投影デー
タを基にCT断層像の再構成エリアを決定する場合を示
している。図8(A)において、アキシャル/ヘリカル
スキャンをスタートすると、走査ガントリ30は例えば
i→j→kの方向に回転し、ビュー毎に被検体100の
投影データg(X,θ)を収集する。
【0044】この場合のCPU11aは、図示しない
が、例えば図3のステップS11とステップS12との
間で以下のような再構成エリア決定処理を行う。即ち、
まず走査ガントリの各所定の回転角(VIEW)に対応
して、得られた投影データg(X,θ)が空気レベルTH
airを下回る領域を検出する。
【0045】この処理イメージを図8(c)〜(e)に
示す。図8(c)はθ=i(ビューi)の状態を示して
おり、ここでは投影データg(X,θi)はai<X<bi
範囲内で空気レベルTHairを下回っている。図8
(d)はθ=j(ビューj)の状態を示しており、ここ
では投影データg(X,θj)はcj<X<djの範囲内で空
気レベルTHairを下回っている。図8(e)はθ=k
(ビューk)の状態を示しており、ここでは投影データ
g(X,θk)はek<X<fkの範囲内で空気レベルTH
airを下回っている。
【0046】次に好ましくは上記検出された範囲を幾分
広げるようにして再構成エリアを決定する。この処理イ
メージを図8(f)〜(h)に示す。これらは上記図8
(c)〜(e)に各対応している。図8(f)では再構
成エリアのx軸の開始座標a i'=ai−α(α:所定
値)、かつその終了座標bi'=bi+β(β:所定値)
により夫々求める。α,βは余裕のための値である。ま
た図8(g)では再構成エリアの開始座標cj'=cj
α、かつその終了座標dj'=dj+βにより求める。こ
こで、走査ガントリ30の座標(X,Y)の再構成メモ
リ22の座標(x,y)への座標変換は上記(1)式に
より得られる。このとき、α,βは上記座標変換で得ら
れる各線分cj',dj'に直角の方向の長さに相当する。
また図8(h)では再構成エリアのy軸の開始座標ek'
=ek−α、かつ終了座標fk'=fk+βにより求める。
【0047】こうして得られる再構成エリアは、各段階
で得られる再構成エリアのANDを採ることにより図示
の再構成エリア22Ai→22Aj→22Akと変化す
る。以上は3つの再構成エリアを重ねる(ANDを採
る)場合を示したが、再構成エリア決定のためのガント
リ角度θを細分化すればするほど、得られる再構成エリ
アは被検体100の断面視形状100Bに限りなく近づ
くことは明らかである。これにより、スカウトスキャン
を行うことなく、再構成エリアを必要最小限のものにで
き、かつ被検体の被曝を軽減できる。
【0048】図9は更に他の実施の形態による再構成エ
リア決定処理のイメージ図で、一部の産業用X線装置又
は第二世代のX線CT装置等への適用例を示している、
図9(A)において、この種のX線装置では撮影部に対
する被検体200のサイズが相対的に大きくなるので、
例えば1度目は被検体200の左半分についてスカウト
スキャンを行い、2度目は被検体200の右半分につい
てスカウトスキャンを行い、2つをつなげて合成表示す
ることによりスカウト画像が得られる。更に各スカウト
スキャンで検出された各範囲の情報X>ai,X<bj
図9(B)に示す如く所定サイズの再構成エリア22上
で合成することにより、上記同様にして再構成エリア2
2Ai,22Ajを設定できる。これにより、再構成エリ
アの制限ができ、再構成処理時間の短縮が図れる。
【0049】なお、上記本発明に好適なる複数の実施の
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で各部
の構成、制御、処理及びこれらの組み合わせの様々な変
更が行えることは言うまでも無い。
【0050】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、被検体
のサイズ等に応じて必要最小限の画像再構成処理を行う
ことにより、必要な枚数のCT断層像を高速かつ効率よ
く得られ、X線CT撮影の高速化に寄与するところが極
めて大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理を説明する図である。
【図2】実施の形態によるX線CT装置の要部構成図で
ある。
【図3】実施の形態によるX線CT撮像処理のフローチ
ャートである。
【図4】実施の形態による再構成エリア決定処理のイメ
ージ図(1)である。
【図5】実施の形態による再構成エリア決定処理のイメ
ージ図(2)である。
【図6】実施の形態によるアキシャルスキャン設定画面
の説明図(1)である。
【図7】実施の形態によるアキシャルスキャン設定画面
の説明図(2)である。
【図8】他の実施の形態による再構成エリア決定処理の
イメージ図である。
【図9】更に他の実施の形態による再構成エリア決定処
理のイメージ図である。
【図10】従来技術を説明する図(1)である。
【図11】従来技術を説明する図(2)である。
【符号の説明】
10 1操作コンソール部 11 中央処理装置 11a CPU 11b 主メモリ 12 入力装置 13 表示装置(CRT) 14 制御インタフェース 15 データ収集バッファ 16 二次記憶装置(ディスク装置等) 20 撮影テーブル 30 走査ガントリ 40 X線管 41 X線制御部 50 コリメータ 51 コリメータ制御部 70 X線検出器(XDA) 80 データ収集部(DAS) 60 回転制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西出 明彦 東京都日野市旭が丘4丁目7番地の127 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 内 Fターム(参考) 4C093 AA22 BA10 BA17 CA26 FD09 FD11 FE13 FF28 FG13

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検体を挟んで相対向するX線管及びX
    線検出器を備え、該X線検出器から収集した投影データ
    に基づき被検体のCT断層像を再構成するX線CT装置
    において、 被検体を撮影した各所定ビューの投影データと空気のX
    線吸収係数に対応する空気レベルとを比較することによ
    り前記投影データが空気レベルを超えるX線検出チャネ
    ル方向の範囲を検出する範囲検出手段と、 前記検出された範囲の両側に所定の余裕範囲を加えてC
    T断層像の再構成エリアを設定する再構成エリア設定手
    段と、 前記設定された再構成エリア内の各注目画素につきCT
    断層像を再構成する再構成手段とを備えることを特徴と
    するX線CT装置。
  2. 【請求項2】 範囲検出手段は被検体体軸回りのX線照
    射角を固定して行うスカウトスキャンにより収集された
    各所定スライス位置の投影データに基づき夫々に空気レ
    ベルを超える範囲を検出することを特徴とする請求項1
    に記載のX線CT装置。
  3. 【請求項3】 範囲検出手段は被検体体軸回りのX線照
    射角を変えて行う複数のスカウトスキャンに基づき各対
    応する空気レベルを超えるX線検出チャネル方向の範囲
    を検出すると共に、再構成エリア設定手段は前記各対応
    する空気レベルを超えるX線検出チャネル方向の範囲よ
    り求めた各再構成エリアにつきスライス位置毎の論理積
    を採ることにより続くアキシャル/ヘリカルスキャンの
    ための再構成エリアを設定することを特徴とする請求項
    2に記載のX線CT装置。
  4. 【請求項4】 被検体のスカウト像に対して再構成エリ
    アの範囲を表すマークを重ねて表示する表示手段と、前
    記再構成エリアの範囲を変更可能な入力手段とを備える
    ことを特徴とする請求項2又は3に記載のX線CT装
    置。
  5. 【請求項5】 再構成エリアの範囲を表すマーク表示は
    スカウトスキャン後のアキシャル/ヘリカルスキャン計
    画に基づく被検体の各スライス位置に対応させて表示さ
    れることを特徴とする請求項4に記載のX線CT装置。
  6. 【請求項6】 範囲検出手段は被検体に対するアキシャ
    ル/ヘリカルスキャンにより収集された各所定ビューの
    投影データに基づき空気レベルを超える範囲を検出する
    ことを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
  7. 【請求項7】 範囲検出手段は被検体に対するアキシャ
    ル/ヘリカルスキャンにより収集された各所定ビューの
    投影データに基づき対応する範囲を検出すると共に、再
    構成エリア設定手段は前記各対応する範囲より求めた各
    再構成エリアにつきビュー毎の論理積を採ることにより
    前記アキシャル/ヘリカルスキャンに基づく再構成エリ
    アを設定することを特徴とする請求項6に記載のX線C
    T装置。
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