JP2008113960A - 放射線撮影装置 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 113
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 36
- 238000002601 radiography Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 29
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 26
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 22
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 21
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 18
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 15
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N cadmium telluride Chemical compound [Te]=[Cd] RPPBZEBXAAZZJH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Abstract
【解決手段】スキャンの実施にて被検体の撮影領域へ照射されるX線による被曝量を、その撮影領域の位置に対応するように、表示装置51が被曝量分布画像として表示する。
【選択図】図5
Description
前記スキャンの実施にて前記撮影領域に照射される前記放射線による被曝量を、前記撮影領域の位置に対応するように、被曝量分布画像として表示する表示部とを有する。
図1は、本発明にかかる実施形態において、X線CT装置1の全体構成を示すブロック図であり、図2は、本発明にかかる実施形態において、X線CT装置1の要部を示す斜視図である。
本実施形態のX線CT装置1の動作について説明する。
2…走査ガントリ(スキャン部)、
3…操作コンソール、
4…被検体搬送部、
20…X線管、
21…X線管移動部、
22…コリメータ、
23…X線検出器、
23a…検出素子、
24…データ収集部、
241…選択・加算切換回路、
242…アナログ−デジタル変換器、
25…X線コントローラ、
26…コリメータコントローラ、
27…回転部、
28…ガントリコントローラ、
29…撮影空間、
30…中央処理装置、
41…入力装置、
51…表示装置(表示部)、
61…記憶装置、
301…制御部、
302…スキャン条件設定部、
303…画像再構成部、
401…テーブル部、
402…テーブル移動部
Claims (13)
- 被検体の撮影領域へ放射線を照射し、前記撮影領域を透過した前記放射線を検出するスキャンを実施するスキャン部と、
前記スキャンの実施にて前記撮影領域に照射される前記放射線による被曝量を、前記撮影領域の位置に対応するように、被曝量分布画像として表示する表示部と
を有する
放射線撮影装置。 - 前記スキャン部は、前記撮影領域について第1方向に沿うように前記スキャンを実施した後に、前記第1方向に対して反対な第2方向に沿うように前記スキャンを実施し、
前記表示部は、前記第1方向と前記第2方向とのそれぞれにおける前記被曝量を示すように、前記被曝量分布画像を表示する
請求項1に記載の放射線撮影装置。 - 前記被曝線量分布画像は、前記被曝量をグラフで示すように表示するものである
請求項1または2に記載の放射線撮影装置。 - 前記被曝線量分布画像は、前記被曝量を数値で示すように表示するものである
請求項1から3のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記表示部は、前記スキャンが実施される前に、前記被曝量分布画像を表示する
請求項1から4のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記表示部は、前記スキャンが実施されている間に、前記被曝量分布画像を表示する
請求項1から5のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記表示部は、前記撮影領域について生成されたスカウト画像と、前記被曝量分布画像とを、前記撮影領域の位置において対応するように並べて表示する
請求項1から6のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記表示部は、前記スキャンの実施において前記撮影領域が前記放射線を照射される被曝量が上限値を超えている場合には、当該被曝量が上限値を超えている旨を表示する
請求項1から7のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記スキャンを実施する際のスキャン条件を設定するスキャン条件設定部
を有する
請求項1から8のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記スキャン条件設定部は、前記スキャンの実施において前記撮影領域が前記放射線を照射される被曝量が上限値を超えている場合には、前記被曝量が上限値以下になるように、前記スキャン条件を設定する
請求項1から9のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記表示部は、前記スキャンの実施において設定したヘリカルピッチの設定値を、前記撮影領域の位置に対応するように表示する
請求項1から10のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記表示部は、前記スキャンの実施において設定したノイズインデックスの設定値を、前記撮影領域の位置に対応するように表示する
請求項1から11のいずれかに記載の放射線撮影装置。 - 前記被検体が載置されるテーブル部と、
前記テーブル部を移動するテーブル移動部と
を有し、
前記表示部は、前記スキャンの実施において前記テーブル移動部が前記テーブル部を移動するテーブル移動速度の設定値を、前記撮影領域の位置に対応するように表示する
請求項1から12のいずれかに記載の放射線撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006301749A JP2008113960A (ja) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | 放射線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006301749A JP2008113960A (ja) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | 放射線撮影装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008113960A true JP2008113960A (ja) | 2008-05-22 |
Family
ID=39500428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006301749A Pending JP2008113960A (ja) | 2006-11-07 | 2006-11-07 | 放射線撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2008113960A (ja) |
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