JPS6152860A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPS6152860A JPS6152860A JP59174972A JP17497284A JPS6152860A JP S6152860 A JPS6152860 A JP S6152860A JP 59174972 A JP59174972 A JP 59174972A JP 17497284 A JP17497284 A JP 17497284A JP S6152860 A JPS6152860 A JP S6152860A
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- Japan
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 9
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 235000006732 Torreya nucifera Nutrition 0.000 description 4
- 244000111306 Torreya nucifera Species 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はＸ嘩ＣＴ装置に係り、特に最適なＸ線条件で断
層像を撮影するに好適なＸ線条件算出回路に関する。
層像を撮影するに好適なＸ線条件算出回路に関する。
従来の装置は、取扱い者の経験によりＸ線条件を設定し
たり、まだ第１図の如く被検体の周囲の数箇所で実際に
Ｘ線を発生させその透過量により取扱者の設定したＸ線
条件に対し判定を行なっていた。その為、Ｘｆ１条件が
不適正となったり、また画像を得る為以外の不必要なＸ
線被曝が行なわれるという欠点があった。
たり、まだ第１図の如く被検体の周囲の数箇所で実際に
Ｘ線を発生させその透過量により取扱者の設定したＸ線
条件に対し判定を行なっていた。その為、Ｘｆ１条件が
不適正となったり、また画像を得る為以外の不必要なＸ
線被曝が行なわれるという欠点があった。
本発明の目的は、位置決め用の透視像を用い、個体差１
部位差を考慮して最適な撮影条件を選択可能な、Ｘ線Ｃ
Ｔ装置を提供する事にある。
部位差を考慮して最適な撮影条件を選択可能な、Ｘ線Ｃ
Ｔ装置を提供する事にある。
本発明は、扇状Ｘ線ビームを発生するＸ線管及び発生器
を有し、上記Ｘ線ビームの範囲内に被検体を保持する保
持機構を有し、Ｘ線発生期間中に移動可能な上記の天板
移動制御器を有し、Ｘ線発生期間中、天板の移動距離に
同期してＸ線透過データを収集する検出系を有し、上記
により求めた透過データより被検体の透視像を求める画
像演算器を有するＸ線ＣＴ装置において、上記画像演算
器により求めた透視像に基づき、最適なＸ線条件を算出
する回路を設けた事を特徴とするものである。
を有し、上記Ｘ線ビームの範囲内に被検体を保持する保
持機構を有し、Ｘ線発生期間中に移動可能な上記の天板
移動制御器を有し、Ｘ線発生期間中、天板の移動距離に
同期してＸ線透過データを収集する検出系を有し、上記
により求めた透過データより被検体の透視像を求める画
像演算器を有するＸ線ＣＴ装置において、上記画像演算
器により求めた透視像に基づき、最適なＸ線条件を算出
する回路を設けた事を特徴とするものである。
以下本発明の一実施例を第３図により説明する。
１は透視像を表わす表示回路、２は表示データを記憶す
る記憶回路、３は指定された位置に対応するデータを記
憶する記憶回路、４は指定された位置に対応する２の番
地を計算し、記憶内容を、２から３へ転送するデータ管
理回路、５は、３のデータより、Ｘ線吸収量と被写体の
大きさを計算する計算回路（以下μ計算回路と呼ぶ）、
６は、５により計算されたデータにより、Ｘ線条件を定
めるＸ線条件設定回路、７は、定められたＸ線条件を表
示するとともに人為的にＸ線条件を変更する為の表示入
力回路、８は、Ｘ線発生回路に６の出力を転送する転送
回路、９はＸ線発生回路である。
る記憶回路、３は指定された位置に対応するデータを記
憶する記憶回路、４は指定された位置に対応する２の番
地を計算し、記憶内容を、２から３へ転送するデータ管
理回路、５は、３のデータより、Ｘ線吸収量と被写体の
大きさを計算する計算回路（以下μ計算回路と呼ぶ）、
６は、５により計算されたデータにより、Ｘ線条件を定
めるＸ線条件設定回路、７は、定められたＸ線条件を表
示するとともに人為的にＸ線条件を変更する為の表示入
力回路、８は、Ｘ線発生回路に６の出力を転送する転送
回路、９はＸ線発生回路である。
次に全体の動作の流れを説明する。
第２図（ａ）の画像が１に表示されるとともに、その数
値化されたデータは２に記憶されている。指定位置を第
２図（ａ）の如く定めると、４は、位置に対応するデー
タの配列を検索し、２から３へ転送する。３へ転送され
たデータは、第２図（ｂ）の様な形状である。５は、３
より与えられたデータによりＸ線吸収量を求めるととも
に、被写体の断面距離を求め、あらかじめ決められた形
状より大きさを決定し、６は被写体外において、Ｘ線検
出系が飽和しない最大Ｘ ＋ｇ！条件を５により与えら
れたデータに基づき発生し７に表示するとともに８を介
して９に転送する。決定されたＸ線条件を修正する場合
は、７から必要な修正量を入力する事により、容易に６
の内容を変更することが出来る。
値化されたデータは２に記憶されている。指定位置を第
２図（ａ）の如く定めると、４は、位置に対応するデー
タの配列を検索し、２から３へ転送する。３へ転送され
たデータは、第２図（ｂ）の様な形状である。５は、３
より与えられたデータによりＸ線吸収量を求めるととも
に、被写体の断面距離を求め、あらかじめ決められた形
状より大きさを決定し、６は被写体外において、Ｘ線検
出系が飽和しない最大Ｘ ＋ｇ！条件を５により与えら
れたデータに基づき発生し７に表示するとともに８を介
して９に転送する。決定されたＸ線条件を修正する場合
は、７から必要な修正量を入力する事により、容易に６
の内容を変更することが出来る。
本発明において、重要な働きを行なう５の動作原理につ
いて説明する。
いて説明する。
指定位置における透視像の数値データは、第４図に示し
た如く、微視的には隣接するデータ間の凹凸があるが、
巨視的には、第５図の様な傾向である。ここで先ず３に
より与えられた第４図の様 トなデータを移
動平均の手法を用いて、第５図の如くその傾向を描出し
、計算に用いるデータとする一方、物体のＸ線吸収量Ａ
は、第６図の如く入射Ｘ線量を■ｏ、透過Ｘ線量を１と
すると、Ｉ ＝ Ｉ ｏε□ｐ（Ａ） の関係よりＡ＝Ｌ、Ｉｏ／Ｉ ・・・・・・
・・・（１）で求められ、第５図のデータは検出系各素
子で検出された被写体のＸ線吸収量を示している。更に
、物体の吸収係数をμ、Ｘ線の透過長さをＬとするとＡ
は、 Ａ＝μｔで示され （１）式より μｔ ＝ ｌ−Ｉ ｏ／ Ｉ −−”（２
）となり、前もってμを与えておけば、透過長ｔはｔ＝
−・Ｌ、 Ｉｏ／ Ｉ ・・・・・・・
・・（３）μ となり、物体の断面距離が求められる。透視像のデータ
ＤＩは、 Ｄ＋＝ムＩｏ／Ｉ ・・・・・・・・・
（４）であり（３）式より、ｔは ｔ＝−・Ｄｌ ・・・・・・・・・
（５）μ で示され、第５図の如く中心からＰだけ離れた場所での
透過長さは、透視像のデータＤＩを用いて（５）式によ
り求められる。
た如く、微視的には隣接するデータ間の凹凸があるが、
巨視的には、第５図の様な傾向である。ここで先ず３に
より与えられた第４図の様 トなデータを移
動平均の手法を用いて、第５図の如くその傾向を描出し
、計算に用いるデータとする一方、物体のＸ線吸収量Ａ
は、第６図の如く入射Ｘ線量を■ｏ、透過Ｘ線量を１と
すると、Ｉ ＝ Ｉ ｏε□ｐ（Ａ） の関係よりＡ＝Ｌ、Ｉｏ／Ｉ ・・・・・・
・・・（１）で求められ、第５図のデータは検出系各素
子で検出された被写体のＸ線吸収量を示している。更に
、物体の吸収係数をμ、Ｘ線の透過長さをＬとするとＡ
は、 Ａ＝μｔで示され （１）式より μｔ ＝ ｌ−Ｉ ｏ／ Ｉ −−”（２
）となり、前もってμを与えておけば、透過長ｔはｔ＝
−・Ｌ、 Ｉｏ／ Ｉ ・・・・・・・
・・（３）μ となり、物体の断面距離が求められる。透視像のデータ
ＤＩは、 Ｄ＋＝ムＩｏ／Ｉ ・・・・・・・・・
（４）であり（３）式より、ｔは ｔ＝−・Ｄｌ ・・・・・・・・・
（５）μ で示され、第５図の如く中心からＰだけ離れた場所での
透過長さは、透視像のデータＤＩを用いて（５）式によ
り求められる。
５はＸ線条件を算出する為のあらかじめ定められた形状
及び吸収係数を記憶しており、まず（５）式により、被
写体の透過長さを求め、定められた形状により被写体と
する場合、その与えられる断面形状は、円又はだ円と見
做す事が出き、その方程式は、 ｘ２／ａ２＋ｙ２／ｂ”＝１ −−・”（６）で与
えられ、ａ＝ｂの時、円となる。
及び吸収係数を記憶しており、まず（５）式により、被
写体の透過長さを求め、定められた形状により被写体と
する場合、その与えられる断面形状は、円又はだ円と見
做す事が出き、その方程式は、 ｘ２／ａ２＋ｙ２／ｂ”＝１ −−・”（６）で与
えられ、ａ＝ｂの時、円となる。
第２図（ａ）の様な透視像において、（５）式により与
えられた中心のｌは２ｂに等しく、また、Ｄｔが零とな
る点の中心からの距離Ｑは、ａに等しい。
えられた中心のｌは２ｂに等しく、また、Ｄｔが零とな
る点の中心からの距離Ｑは、ａに等しい。
即ち３に記憶されているデータを基として、５ではその
データの形状により、（６）式のパラメータであるａ、
ｂを計３７し被写体の大きさを決定する。
データの形状により、（６）式のパラメータであるａ、
ｂを計３７し被写体の大きさを決定する。
上述の動作原理においては、透視像の中心と検出系の中
心が一致している事を前框としていたが、実際の透視像
において、被写体の中心と検出系の中心を一致させる事
は困難であり、その為、透視像のデータより被写体の中
心を求める事が必要である。まだ（６）式のパラメータ
ａ、ｂを定める場合、一般の透視データは、第７図の様
な形状である為、ａを求める為の閾値処理回路が必要で
あり、また、ｂを求める為には、中心のみならず、中心
付近の複数のデータを用いる事が必要である。
心が一致している事を前框としていたが、実際の透視像
において、被写体の中心と検出系の中心を一致させる事
は困難であり、その為、透視像のデータより被写体の中
心を求める事が必要である。まだ（６）式のパラメータ
ａ、ｂを定める場合、一般の透視データは、第７図の様
な形状である為、ａを求める為の閾値処理回路が必要で
あり、また、ｂを求める為には、中心のみならず、中心
付近の複数のデータを用いる事が必要である。
以上の事を考慮した５、６の構成を第８図に示す。５１
は３のデータを修正する計算回路、５２は５１により求
めた計算データを記憶する記憶回路、５３は、読み出す
べきデータの位置即ち５２の番地を発生する番地回路、
５４は、５２の出力と閾値とを判定する判定回路、５５
は、（６）式のパラメータａを５３からの番地による算
出する計算回路１．５６は、中心付近のデータより初代
のパラメータｂを算出する計算回路２．５７は、５５゜
５６より与えられたａ、ｂパラメータにより被写体のＸ
線吸収量により最適なＸ線条件を算出する為のパラメー
タを計算する計算回路３である。
は３のデータを修正する計算回路、５２は５１により求
めた計算データを記憶する記憶回路、５３は、読み出す
べきデータの位置即ち５２の番地を発生する番地回路、
５４は、５２の出力と閾値とを判定する判定回路、５５
は、（６）式のパラメータａを５３からの番地による算
出する計算回路１．５６は、中心付近のデータより初代
のパラメータｂを算出する計算回路２．５７は、５５゜
５６より与えられたａ、ｂパラメータにより被写体のＸ
線吸収量により最適なＸ線条件を算出する為のパラメー
タを計算する計算回路３である。
６１は、５７により与えられるパラメータの基準・値と
を比較する比軟回路、６２は、Ｘ線条件を算出する条件
やｍｍテーブルである。
を比較する比軟回路、６２は、Ｘ線条件を算出する条件
やｍｍテーブルである。
３に記憶さ°；ｔだデータは、５１により移動平均を行
ない傾向の描出を行ない、更に、データのチャンネル方
向に対する重心を求め被写体の中心を決定し５２の番地
中心と被写体中心を一致させ、５２に転送する。先ず５
３は、中心から両側へ向う方向へ５２の記憶番地を発生
し、データを５２から５４に与える、７５４は、指定さ
れた閾値と５２のデータとを比較し、閾値以下となった
時のデータ番地を５５に与える。５５ば、データ番地か
ら（６）式のパラメータａを算出する。
ない傾向の描出を行ない、更に、データのチャンネル方
向に対する重心を求め被写体の中心を決定し５２の番地
中心と被写体中心を一致させ、５２に転送する。先ず５
３は、中心から両側へ向う方向へ５２の記憶番地を発生
し、データを５２から５４に与える、７５４は、指定さ
れた閾値と５２のデータとを比較し、閾値以下となった
時のデータ番地を５５に与える。５５ば、データ番地か
ら（６）式のパラメータａを算出する。
次に５３は、中心付近の５２の記憶番地を発生し、複数
のデータを５２から５６へ転送する。
のデータを５２から５６へ転送する。
５６は与えられた吸収係数（μ）を用い（５）式により
各データに対応するｔを算出した後、平均処理により（
６）式のパラメータｂを求める。５５で求められたパラ
メータａ、５６で求められたバラメー ト
タｂにより、５７は、被写体の等価算定形状を求め、こ
れにＸ線源のＸ線線量分布及び検出系の利得更に５１か
ら与えられる被写体中心の検出系中心からの距離を加味
したＣＴ撮影時の検出系の最大出力電圧と、出力チャン
ネルを求め６に転送する。
各データに対応するｔを算出した後、平均処理により（
６）式のパラメータｂを求める。５５で求められたパラ
メータａ、５６で求められたバラメー ト
タｂにより、５７は、被写体の等価算定形状を求め、こ
れにＸ線源のＸ線線量分布及び検出系の利得更に５１か
ら与えられる被写体中心の検出系中心からの距離を加味
したＣＴ撮影時の検出系の最大出力電圧と、出力チャン
ネルを求め６に転送する。
６１では前もって与えられている基準Ｘ線条件における
検出系出力電圧をチャンネル毎に記憶しており、５７に
より与えられる最大出力チャンネルにより該当するチャ
ンネルの基準条件における出力電圧を６２に転送する。
検出系出力電圧をチャンネル毎に記憶しており、５７に
より与えられる最大出力チャンネルにより該当するチャ
ンネルの基準条件における出力電圧を６２に転送する。
６２では、６１の出力と、５７からの最大出力電圧を比
較し撮影に最適なＸ線条件を算出し７に表示し８に転送
する。
較し撮影に最適なＸ線条件を算出し７に表示し８に転送
する。
本発明においては、基準となるＸ線条件に対して、被写
体を入れた時の最大出力電圧とその検出チャンネルを位
置決めに用いる像を利用して求め検出系の検出範囲内の
最大Ｘ線条件を求めている。
体を入れた時の最大出力電圧とその検出チャンネルを位
置決めに用いる像を利用して求め検出系の検出範囲内の
最大Ｘ線条件を求めている。
その為、検出系及び被写体に対し過大なＸ線を当てる事
が皆無となり、Ｘ線条件の過不足を検査する為の撮影操
作が不用となるばかりでなく、最大Ｘ線条件を越えない
範囲内で自由にＸ線条件を修正できる為、被曝Ｘ線線量
を低減する事も可能である。
が皆無となり、Ｘ線条件の過不足を検査する為の撮影操
作が不用となるばかりでなく、最大Ｘ線条件を越えない
範囲内で自由にＸ線条件を修正できる為、被曝Ｘ線線量
を低減する事も可能である。
本発明によれば、位置決めに用いる透視像を利用して、
被写体の断層撮影を行なう時のＸ線条件を算出する事が
出来るので、従来術者の経験にたよっていたＸ＃Ｊ条件
の設定が、実際の被写体によるＸ線吸収量との関連で設
定でき、再度撮影をする事が不用となり、ＣＴ検査業務
が簡略化される。
被写体の断層撮影を行なう時のＸ線条件を算出する事が
出来るので、従来術者の経験にたよっていたＸ＃Ｊ条件
の設定が、実際の被写体によるＸ線吸収量との関連で設
定でき、再度撮影をする事が不用となり、ＣＴ検査業務
が簡略化される。
第１図は、従来のＸ線条件設定方法の説明図、第２図は
位置決め用透視像と、その時の透視データの一例を示す
説明図、第３図は本発明の一実施例のブロック図、第４
図、第５図は計算する為のデータの分布図、第６図はＸ
線の強度の変化を示す説明図、第７図は実際の透視デー
タの線図、第８図は本発明の他の実施例を示すブロック
図である。 茅 １ 目 ＄２ 図 （戊） 茅 ３ 口 茅４−目 茅５０ す１シ−
位置決め用透視像と、その時の透視データの一例を示す
説明図、第３図は本発明の一実施例のブロック図、第４
図、第５図は計算する為のデータの分布図、第６図はＸ
線の強度の変化を示す説明図、第７図は実際の透視デー
タの線図、第８図は本発明の他の実施例を示すブロック
図である。 茅 １ 目 ＄２ 図 （戊） 茅 ３ 口 茅４−目 茅５０ す１シ−
Claims (1)
- １、扇状Ｘ線ビームを発生するＸ線管及び発生器を有し
、上記Ｘ線ビームの範囲内に被検体を保持する保持機構
を有し、Ｘ線発生期間中に移動可能な上記の天板移動制
御器を有し、Ｘ線発生期間中、天板の移動距離に同期し
てＸ線透過データを収集する検出系を有し、上記により
求めた透過データより被検体の透視像を求める画像演算
器を有するＸ線ＣＴ装置において、上記画像演算器によ
り求めた透視像に基づき、最適なＸ線条件を算出する回
路を設けた事を特徴とするＸ線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59174972A JPS6152860A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59174972A JPS6152860A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6152860A true JPS6152860A (ja) | 1986-03-15 |
Family
ID=15987955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59174972A Pending JPS6152860A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6152860A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2016051603A1 (ja) * | 2014-10-03 | 2016-04-07 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線撮影装置 |
-
1984
- 1984-08-24 JP JP59174972A patent/JPS6152860A/ja active Pending
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| JP4675472B2 (ja) * | 1999-11-29 | 2011-04-20 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 最適化データ取得によりｃｔ画質を最適化する方法及び装置 |
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