JPH02100583A - 画像処理方法およびその装置 - Google Patents

画像処理方法およびその装置

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JPH02100583A
JPH02100583A JP63252977A JP25297788A JPH02100583A JP H02100583 A JPH02100583 A JP H02100583A JP 63252977 A JP63252977 A JP 63252977A JP 25297788 A JP25297788 A JP 25297788A JP H02100583 A JPH02100583 A JP H02100583A
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    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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    • G06T5/50Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、X線管から被検者を透過したX線をイメージ
ングプレートに写し込み、得られた2枚の画像をサブト
ラクションする際、2枚の画像を位置合せする画像位置
合せ方法およびその装置に関する。
(従来の技術) 従来よりX線診断装置において、蓄積性蛍光体を利用し
たディジタル・ラジオグラフィ(CR)システムでは、
エネルギーサブトラクションやテンポラルサブトラクシ
ョン処理が行なわれている。
例えば前記エネルギーサブトラクションは、エネルギー
の異なった2枚の画像を減算し、その差分を画像化する
処理である。これらのサブトラクション処理は、以下の
2つの方法が用いられている。
第1のサブトラクション処理方法は、まず予め決められ
た位置例えばカセツテの右上隅および左下隅に重金属の
ようなX線吸収の高い材料で製作された専用マーカを貼
り付ける。そしてX線管から被写体にX線を曝射し、第
4図に示す如(透過したX線をカセツテ内の2枚のイメ
ージングプレート(以下I Pl 、  I P2と称
する。)に被写体像Ql、Q2および専用マーカ像m 
la、 m lb。
クションされるべき2枚の被写体像Ql、Q2にそれぞ
れ写し込まれた前記専用マーカ像mla。
m lb、 m 2a、 m 2bを検出し、その専用
マーカ像の位置に従って、サブトラクション位置を決定
するようにしている。
一方、第2のサブトラクション処理方法は、上述したよ
うな専用マーカをIPに写し込まずに画像の位置合せす
る方法であり、差分画像のエントロピーを最小になるよ
うなサブトラクション位置を探索する方法である。すな
わち、この方法は、前記IPの横方向シフト量、縦方向
シフト量、回転量の3つの変数に対し、サブトラクショ
ンされた画像のエントロピーを計算し、このエントロピ
ーが最小となるように前記3つの変数を極値検索する方
法である。ここにエントロピーEは、に イレベルがiになった相対頻度であり、Nは画像のグレ
イレベル数である。
(発明が解決しようとする課題) 然し乍ら、前述した2つの方法は、次のような問題があ
る。第1の方法にあっては、撮影時に必ず決められた専
用マーカが画像とともにIPに写し込まれる。しかし、
汎用の撮影装置においては、通常の撮影時においても専
用マーカが残存し、このためX線診断の邪魔になる。ま
た仮に専用マーカを写し込まなかった場合には、サブト
ラクションされる2枚の画像の位置合せができず、撮影
そのものが無駄となってしまう。
一方、第2の方法にあっては、前述したCRのように画
素数の多い画像では計算時間が必要以上にかかりすぎる
という問題があった。
そこで本発明の目的は、簡単な操作により短時間でサブ
トラクションの位置合せができ、撮影失敗を低減して被
検者へのX線被曝を低減し得、撮影時にマーカを写し込
むことなく構成を簡単化し得る画像位置合せ方法および
その装置を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決する為の手段) 本発明は上記の問題を解決し目的を達成する為に次のよ
うな手段を講じた。本発明は、X線源から被検者を透過
したX線を被撮影部材に写し込み、得られた2枚の画像
をサブトラクションする際、2枚の画像を位置合せする
画像位置合せ方法において、前記2枚の画像のそれぞれ
の任意な部分を2か所切出し、一方の切出し画像を上下
、左右に移動しこの切出し画像をサブトラクションした
画像のエントロピーを最小にする上下、左右位置を探索
し、前記一方の切出し画像を中心として前記他方の切出
し画像を回転し他方の切出し画像をサブトラクションし
た画像のエントロピーを最小にする回転量を探索したも
のである。
またX線源から被検者を透過したX線を被撮影部材に写
し込み、得られた2枚の画像をサブトラクションする際
、2枚の画像を位置合せする画像位置合せ装置において
、前記2枚の画像のそれぞれの任意な部分を2か所切出
す画像切出し手段と、画像位置合せのための設定された
変数に基き前記画像切出し手段により切出された切出し
画像をサブトラクションする計算手段と、この計算手段
からのサブトラクション画像のエントロピーを計算する
エントロピー計算手段と、このエントロピー計算手段か
ら入力するサブトラクションされた一方の切出し画像の
エントロピーを最小にするよう上下、左右位置合せ変数
を設定し、エントロピー計算手段から入力するサブトラ
クションされた他方の切出し画像のエントロピーを最小
にするよう一方の切出し画像を中心として他方の切出し
画像を回転させる回転量変数を設定する変数設定手段と
、を備えたものである。
(作用) このような手段を講じたことにより次のような作用を呈
する。2枚の画像のそれぞれの任意な部分を2か所切出
し、画像のエントロピー極値探索方法を用いて一方の切
出し画像により上下、左右位置を探索し、他方の画像を
用いて回転量を探索したので、画素数の多いCRであっ
ても、画像の一部分を2箇所切出すという簡単な操作に
より短時間でサブトラクションの位置合せができ、撮影
失敗を低減して被検者へのX線被曝を低減でき、撮影時
にマーカを写し込むことなく構成を簡単化できる。
(実施例) 第1図は本発明方法を適用した2枚のIPを示す概略図
、第2図は本発明方法の作用を説明するためのフロー図
である。
まず、本発明方法について、第1図および第2図を参照
して説明する。2枚のIPI、IP2の画像すなわち被
写体像の位置を合せるために、I PI 、  I P
2に対して左右方向シフト14 X r 上下方向シフ
トQY、回転量θの3つの変数が必要である。ここでは
例えば1760X 1760の画素からなる10ビツト
(0〜1023)のグレイレベルを持つデジタル画像の
位置合せ方法について説明する。まず、第1図に示すよ
うに2枚のI Pi 、  I P2から例えば右上隅
に例えば500 X500画素の撮影用関心領域(以下
ROIと称する。)ROlla。
ROI2aを設定し、そのROIla、  RO12a
内の画像を切出す(ステップA)。そしてシフト量X、
Yの変数に初期値、例えば0を与え、2つのROI l
a、 ROI 2a内のみのサブトラクション画像を計
算する。そして計算されたサブトラフ(1/ P i 
)を計算する。ただしPiはROI内でグレイレベルが
iとなっている画素の数であり、Nは1024である。
次にシフト=x、yの値を変化させた時、エントロピー
Eが最小となるようなシフト量X、Yを検索する(ステ
ップB)。例えば2次元ニュートン法等の一般的な極値
検索方法によりシフトmX、Yの探索が行なわれる。す
なわちこの2次元ニュートン法とは、2階導関数傾斜法
であり、最適点のまわりの等高線は2次形式であると仮
定し、最小点へのステップを評価関数の1階および2階
偏導関数を用いて決定する方法である。2次元ニュート
ン方法によりROI la、 2a内のエントロピーE
が最小となるシフトmxo 。
YOが探索されると、IPI、IP2の左下隅に例えば
500 X500を画素のROIlb、  ROI2b
を設定し、そのROI lb、 ROI 2b内の画像
を切出す(ステップC)。このROI lb、 RO1
2bにおけるシーyトmX、Yは、すてにROI la
、  ROI 2aで得られたシフトmXO、YOを使
用し、且つ回転量θの回転中心をROIla、 RO1
2aの中央に設定して回転量をθだけ変化させる。すな
わち、回転量〇の初期値、例えば0を与え、ROI l
b。
ROI2b内のみのサブトラクション画像を計算する。
そして計算されたサブトラクション画像のエントロピー
が最小になるような回転量θを探索する(ステップD)
 前記回転量θの回転中心をRO11a、 RO12a
の中央に設定して回転させる方法としては、例えば1次
元ニュートン法等の一般的な極値探索法が利用される。
この1次元ニュートン法とは、前記2次元ニュートン法
が2つの変数に対して極値探索するのに対し、この1次
元ニュートン法は、1つの変数に対して極値探索するも
のである。
このようにしてエントロピーを特徴とする特許の変数シ
フト量X、yおよ−び回転量θが探索される。したがっ
て、CRのような画素数の大きな画像に対しても、画素
数の比較的少ないROI la。
lb+ 2a、2b内の極値探索を2回実行することに
より、2枚のI Pi 、  I P2の画像を簡単な
操作によりしかも短時間で且つ正確に位置合せできる。
その結果、撮影失敗を低減できるので、被検者の再撮影
をなくし、被検者へのX線被曝を低減できる。これによ
り撮影時にマーカを挿入するすることがなくなるので、
術者の操作負担も軽減でき、さらに撮影装置の構成を簡
単化できる。
第3図は本発明方法を適用したX線診断装置を示す図で
ある。第3図において、画像記憶手段12はマスク像お
よびライブ像を記憶するものであり、画像切出し位置設
定手段11は画像記憶手段12に記憶された画像のうち
、前述したIPの右上隅または左下隅のROIのみに対
応する記憶領域を切出し設定するものである。変数設定
手段14は位置合せのための変数、シフト量ΔX、Δy
および回転量Δθを設定するものであり、この変数設定
手段I4には最適化手段例えば前述した1次元および2
次元ニュートン法が含まれている。計算手段16は、画
像記憶手段12から読出された画像データを記憶するマ
スク像バッフ7メモリ13の出力Q’ll1akおよび
ライブ像ラインバッファ17の出力Qliveと、前記
変数設定手段の変数A、B、Cと、に基き画像を加減算
するものである。エントロピー計算手段18は、計算画
像ラインバッファ17を介しテ計算手段IBからの画像
データを入力してエントロピーを計算するものである。
次に第3図を参照して本発明方法を適用したX線診断装
置の動作について説明する。まず、画像切出し位置設定
手段11によりI PI 、  I P2の右上隅にR
OI la、  ROI 2aが設定される。そして画
像記憶手段12から前記画像切出し位置設定手段11に
より切出されたROIla、  RO12aの位置にお
ける画像データが読出され、マスク像バッファメモリ1
3に書込まれる。一方、変数設定手段14により位置合
せのための変数すなわちシフト量ΔX。
Δyおよび回転量Δθが初期値例えばOに設定される。
さらにアフィンアドレス計算手段15により位置合せ変
数ΔX、Δy、Δθに応じた位置における画像データが
計算され、計算手段1Bに出力される。
一方、ライブ画像は、ROI la、 ROI 2a内
の1ライン毎に画像記憶手段Iから読出され、ライブ画
像ラインバッファ17に書込まれた画像データは、1ラ
イン毎に計算手段1Bに出力される。変数設定手段14
により設定されるA、B、Cを例えばA−1、B−−1
、C−511とすると、計算手段16により画像データ
A Q’ mak + B Q l1ve+ Cが計算
され、この画像データは計算画像ラインバッファ17に
一ライン毎に出力される。計算画像ラインバッファ17
に記録された計算後の画像データは、エントロピー計算
手段18によりその画像のエントロピーが計算され、そ
の計算結果が変数設定手段14に出力される。すなわち
変数設定手段14にエントロピー計算手段18からの出
力エントロピーが入力されると、この値に基き次の位置
合せ変数が決定され、エントロピーに対応した位置合せ
変数がアフィンアドレス計算手段15に出力される。右
上隅にROIla、  RO12aを設定した時には、
位置合せ変数は、シフト量ΔX、Δyであり、左下隅に
ROIを設定した時には、位置合せ変数は、Δθ−のみ
となる。上述のような動作が繰返して行なわれ、エント
ロピーEが最小となるシフト量ΔX、Δyが決定される
次に画像切出し位置設定手段11によりIPI。
IP2の左下隅にROI lb、 RO12bが設定さ
れ、上述した右上隅のROI la、 ROI 2aと
同様の動作により位置合せ変数Δθについても実行され
る。
そして画像のエントロピーが最小になると、計算された
画像は計算画像ラインバッファ17からデイスプレィメ
モリ19に出力され、CRT20に表示される。
このように本実施例によれば、画像切出し手段11、変
数設定手段14.エントロピー計算手段18゜計算手段
L(i等によりエントロピーを最小とする3つの変数シ
フトax、yおよび回転量θが決定されるので、2枚の
IPl、1P2の画像を正確に位置合せできる。
なお本発明は、上述した実施例に限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施可能
であるのは勿論である。
[発明の効果] 本発明によれば、X線源から被検者を透過したX線を被
撮影部材に写し込み、得られた2枚の画像をサブトラク
ションする際、2枚の画像を位置合せする画像位置合せ
方法において、前記2枚の画像のそれぞれの任意な部分
を2か所切出し、一方の切出し画像を上下、左右に移動
しこの切出し画像をサブトラクションした画像のエント
ロピーを最小にする上下、左右位置を探索し、前記−方
の切出し画像を中心として前記他方の切出し画像を回転
し他方の切出し画像をサブトラクションした画像のエン
トロピーを最小にする回転ユを探索したので、画素数の
多いCRであっても、画像の一部分を2か所切出すとい
う簡単な操作により短時間でサブトラクションの位置合
せができ、撮影失敗を低減して被検者へのX線被曝を低
減し得、撮影時にマーカを写し込むことなく構成を簡単
化し得る画像位置合せ方法およびその装置を提供できる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の概略構成を示す図、第2図は本発
明方法の作用を説明するためのフロ図、第3図は本発明
方法を適用したX線診断装置を示す図、第4図は従来の
サブトラクション処理における画像位置合せ方法を示す
図である。 11・・・画像切出し位置設定手段、12・・・画像記
憶手段、13・・・マスク画像バッファメモリ、14・
・・変数設定手段、15・・・アフィンアドレス計算手
段、16・・・計算手段、17・・・計算画像ラインバ
ッファ、18・・・エントロピー計算手段、19・・・
デイスプレィメモリ、20・・・CRTSROI・・・
撮影用関心領域、IPIIP2・・・イメージングプレ
ート。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第4図 第 2 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)X線源から被検者を透過したX線を被撮影部材に
    写し込み、得られた2枚の画像をサブトラクションする
    際、2枚の画像を位置合せする画像位置合せ方法におい
    て、前記2枚の画像のそれぞれの任意な部分を2か所切
    出し、一方の切出し画像を上下、左右に移動しこの切出
    し画像をサブトラクションした画像のエントロピーを最
    小にする上下、左右位置を探索し、前記一方の切出し画
    像を中心として前記他方の切出し画像を回転し他方の切
    出し画像をサブトラクションした画像のエントロピーを
    最小にする回転量を探索したことを特徴とする画像位置
    合せ方法。
  2. (2)X線源から被検者を透過したX線を被撮影部材に
    写し込み、得られた2枚の画像をサブトラクションする
    際、2枚の画像を位置合せする画像位置合せ装置におい
    て、前記2枚の画像のそれぞれの任意な部分を2か所切
    出す画像切出し手段と、画像位置合せのための設定され
    た変数に基き前記画像切出し手段により切出された切出
    し画像をサブトラクションする計算手段と、この計算手
    段からのサブトラクション画像のエントロピーを計算す
    るエントロピー計算手段と、このエントロピー計算手段
    から入力するサブトラクションされた一方の切出し画像
    のエントロピーを最小にするよう上下、左右位置合せ変
    数を設定し、エントロピー計算手段から入力するサブト
    ラクションされた他方の切出し画像のエントロピーを最
    小にするよう一方の切出し画像を中心として他方の切出
    し画像を回転させる回転量変数を設定する変数設定手段
    と、を具備したことを特徴とする画像位置合せ装置。
JP63252977A 1988-10-07 1988-10-07 画像処理方法およびその装置 Granted JPH02100583A (ja)

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