JP4943631B2 - Ct画像における線量制御 - Google Patents
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Description
I(n,θ)=I0exp(−∫μ(l)dl)
である。I(n,θ)を表わす式中、I0はX線源がスライスを照射するX線の強度であり、lについての積分はX線源からn番目の検出器への方向上のスライス中の物質を通る経路に亘る積分を表わし、μ(l)は経路上の位置lにおける物質中の単位経路長当たりのX線についての吸収係数である。(n及びθに対する積分の依存性については、明示的には示されておらず、n及びθに対する経路長lの長さ及び方向の依存性を通じて決定される)。
A(n,θ,z)=∫μ(l)dl
となる。A(n,θ,z)に対する表現では、zは、X線源の回転軸である軸方向に一致するz軸を有する座標系のz軸に沿って測定されるスライスの軸方向座標を表わす。便宜上、座標系のx軸は水平軸、y軸は垂直軸であると想定し、ビュー角度θは、y軸に対して測定されるz軸回りのアジマス角であるとする。0°のビュー角度では、X線源は患者の真上にあり、X線源からのX線は前方から後方へ、即ち前−後(anterior−posterior)方向で患者の体を通過する。90°のビュー角度では、X線源は患者の側方にあり、X線源からのX線は患者の体の一方の側から他方の側へ、即ち横(lateral)方向で患者の体を通過する。
Claims (8)
- 人の体の領域のスライスをCT撮像するCTシステムのX線源によって与えられるX線の強度を変調する変調関数を決定する方法であって、
前記スライスの第1の前−後又は横のビューに対するX線減衰データを取得する段階と、
前記減衰データから第1の最大X線減衰を決定する段階と、
前記減衰データを用いてビュー角度に対して直交する前記スライスの平面上の軸に沿った前記スライスの投影の長さを決定する段階と、
前記決定された長さに基づき前記第1のビューに直交する第2のビューに対する第2の最大X線減衰を決定する段階と、
前記変調関数を決定するために前記第1及び第2の減衰最大を用いる段階とを含む方法。 - 前記第2の最大X線減衰を決定する段階は、前記投影の長さと前記スライスの平均X線吸収係数とを乗算した積に等しくなるよう前記第2の最大X線減衰を決定する段階を含む、請求項1記載の方法。
- 前記平均X線吸収係数は、前記スライスがその中に配置されている前記人の体の領域に特有の所定の平均的な特徴吸収係数に等しい、請求項2記載の方法。
- 前記特徴吸収係数は、前記人の少なくとも1つの個人的特徴の関数である、請求項3記載の方法。
- 前記少なくとも1つの個人的特徴は、人の体型を含む、請求項4記載の方法。
- 前記少なくとも1つの個人的特徴は、人の性別を含む、請求項4又は5記載の方法。
- 前記少なくとも1つの個人的特徴は、人の年齢を含む、請求項4乃至6のうちいずれか一項記載の方法。
- 前記投影の長さを決定する段階は、
前記X線源に対向し、前記体の前記X線源が配置されている側とは反対の側に配置されるX線検出器アレイにより前記第1のビューを取得する段階と、
前記スライス中の物質によって減衰されたX線を受信する検出器アレイ中の検出器と前記スライス中の物質によって減衰されないX線を受信する前記アレイ中の検出器との間の第1及び第2の境界を決定する段階と、
前記X線源の位置が前記第1のビュー角度にあり検出器の位置が前記第1及び第2の境界付近にあるときの前記軸上の前記スライスの縁の投影の位置を決定する段階と、
前記投影の長さを前記縁の間の投影の距離に等しくなるよう決定する段階とを有する、請求項1乃至7のうちいずれか一項記載の方法。
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