JPH0117691B2 - - Google Patents

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JPH0117691B2
JPH0117691B2 JP56037267A JP3726781A JPH0117691B2 JP H0117691 B2 JPH0117691 B2 JP H0117691B2 JP 56037267 A JP56037267 A JP 56037267A JP 3726781 A JP3726781 A JP 3726781A JP H0117691 B2 JPH0117691 B2 JP H0117691B2
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JP
Japan
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ray
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image
Prior art date
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Expired
Application number
JP56037267A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57153636A (en
Inventor
Hiroyoshi Unno
Mitsuru Hachiman
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP56037267A priority Critical patent/JPS57153636A/ja
Publication of JPS57153636A publication Critical patent/JPS57153636A/ja
Publication of JPH0117691B2 publication Critical patent/JPH0117691B2/ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、X線を用いて被検体の断層像(以
下、CT画像と称する)を撮影するX線CT装置に
関し、特に画像を拡大する拡大装置に関するもの
である。
従来、一般にX線CT装置においては、X線管
から照射されるX線ビームの広がり角によつて定
められた撮影領域内に置かれた被検体を通過する
X線透過量を多数のチヤンネルからなる検出器に
よつて検出し、被検体の体軸の周りにX線管を
360゜程度回転させて得られる検出データを基礎に
して、例えば重畳積分法などにより計算機により
画像を再構成し、あらかじめ定められた表示画素
サイズをもつて、例えばCRTなどの表示装置に
よつて画像表示がなされている。ここで、検出器
によつて検出された再構成前のX線透過量データ
は、生データとよばれ、通常各チヤンネルとX線
の照射方向(プロジエクシヨン方向)のマトリク
ス(サイノグラムとよばれる。)で表わされる。
例えば第7図aに示すようなX線吸収率の高い物
質から成る円筒状の物体Aを断層撮影すると第7
図bに示すようなサイノグラムが得られる。マト
リクス内の各値はX線透過量(CT値)を表わし、
図ではX線透過量の少ない(X線吸収率の高い)
部分を濃く示している。例えば第7図aにおいて
プロジエクシヨン角度pのときチヤンネルc1で
検出したX線透過量は多く、チヤンネルc2で検
出したX線透過量は非常に少なくなつていること
がわかる。
被検体をX線CT装置によつて断層撮影をした
場合、撮影領域に比して被検体の大きさが小さい
と、再構成を行なつてCRTに表示された画像は
図面の大きさに比べて小さくなるので、表示され
た再構成画像をさらに拡大する必要がある。しか
しながら、一旦表示された画像をCRTの画面一
杯に拡大するとしても、それによつて情報量が増
加するわけではなく、最初に表示された画面の画
素サイズ以下の細かい像を表現することはできな
い。また、生データから再構成すればより細部を
表現できるようになるので、表示された画像上で
ある特定の関心領域(Region Of Interest;以
下、ROIと称する。)を指定し、ROIの部分を再
構成しなおしてCRTの画面一杯に表示する方法
もあるが、画像再構成をしなおすために処理時間
が長くなるという欠点のほか、拡大画像を得る前
にCRTの画面の大きさに比べて小さい再構成画
像を一度表示し、ROIを設定しなければならない
という不便さがある。ほかに、撮影領域に対する
被検体の大きさに応じてX線管と被検体との距離
を機構的に変化させる事によつて、被検体に対し
て撮影領域の大きさを変化させることのできる
CT装置もあるが、その機構や操作が複雑なもの
とする。
本発明は以上の事情に鑑みてなされたものであ
り、撮影領域に対する被検体の大きさにかかわら
ず、機構的な操作をすることなく、撮影領域に対
する被検体の大きさを検出し、これによつて最適
な拡大率を決定し、自動的に最適な大きさの画像
を表示することのできるX線断層撮影装置を提供
することを目的としている。
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説
明する。
第1図は、本発明の実施例の構成を示すブロツ
ク図である。X線管1から照射されたX線は被検
体2を透過して多数のチヤンネルからなるX線検
出器3によつて検出される。X線管1およびX線
検出器3を被検体の周りに回転させながらX線を
照射し、X線検出器3の各チヤンネルから検出さ
れたX線透過量データは、データ収集装置4によ
つて増幅、A/D変換などの処理をされ、生デー
タとして生データメモリ5に入力される。また、
被検体を体軸方向に移動させながら、X線管1お
よびX線検出器3を固定して被検体に対して1方
向からX線を照射して得られた被検体の透視画像
データは、透過画像データメモリ6に入力され
る。生データメモリ5または透過画像データメモ
リ6内のデータに基づいて、大きさ検出系7で被
検体2の大きさを検出し、その結果から拡大率ホ
ールド系8で拡大率を決定し記憶する。生データ
メモリ5内の生データは拡大率ホールド系8から
出力された拡大率に基づいて拡大され、拡大生デ
ータメモリ9に入力される。拡大された生データ
は画像再構成系10に入力されて再構成され、
ORT11で拡大された断層像として表示される。
また、それぞれの要素の制御はCPU12で行わ
れている。
次に、本発明の動作例を第2図に示すフローチ
ヤートを参照して説明する。
まず、第3図に示すように被検体を体軸方向に
移動させながら(被検体に対し相対的にX線管が
移動する)、X線管1およびX線検出器3を固定
し被検体に対して1方向からX線を照射して撮影
すると、第4図に示したような透視像が得られる
(STEP1)。この透視像は検出器3の各チヤンネ
ルの出力(CT値)と被検体が移動した方向のマ
トリツクスとなつており、図中横方向がチヤンネ
ル、縦方向が移動方向となつている。また、この
ような透視像上に水平な線を表示させ、断層撮影
を行なう部位を指示することができる。例えば第
4図に示したように線Lで透視像上に撮影部位を
指示すると、大きさ検出系7は線L上の各画素に
ついてCT値を測定し、その画素が空気のデータ
か被検体のデータかを判別し、被検体の大きさを
認識する(STEP2)。装置の機構から撮影領域の
大きさはあらかじめ定まつているので、拡大率ホ
ールド系では撮影領域の大きさをSTEP2で求め
られた被検体の大きさで除して拡大率を算出する
(STEP3)。次に、透視像上に線Lで指示した部
位について断層撮影を行なう(STEP4)。撮影で
得られた生データは生データメモリ5に例えば第
5図に示したような状態で入力される。生データ
メモリ5内の生データは、STEP3で算出された
拡大率に基づいて、補間などの処理を用いてチヤ
ンネル方向について例えば第6図に示すように拡
大され、拡大生データメモリ9に入力される
(STEP5)。拡大された生データは画像再構成系
10で再構成され(STEP6)、CRT11で拡大
された再構成画像として表示される(STEP7)。
このように本実施例では、被検体の断層撮影を
行なつてからCRT画面上に拡大された断層像が
表示されるまで(STEP4〜7)、操作者の手を煩
わすことなく全て自動的に行なうことができる。
また、透視像上で複数の撮影部位を指定して連
続的に複数の断層撮影を行なうことも可能であ
る。その際に透視像上で複数部位の被検体の大き
さを測定し、そのうち最大のものを用いて拡大率
を算出すると、拡大された複数の断層像を同じ拡
大率で表示することができ、各画像間での大きさ
の比較が容易となり、実際の診断に有用である。
さらに本発明は、透視撮影を行なわずにCT装
置の架台に備えられている投光器などを用いて撮
影部位を決定して断層撮影を行なう場合にも適用
することができる。被検体を断層撮影すると例え
ば第5図に示したような生データが得られる。こ
の生データ上で、各プロジエクシヨンごとに各チ
ヤンネルについてCT値を測定し、その画素が空
気のデータか被検体のデータかを判別し、被検体
の大きさを認識し、拡大率を算出する。このよう
にして、透視像を用いずに断層撮影による生デー
タから直接拡大率を求めることもできる。
以上説明したように、本発明では、被検体の大
きさを撮影データに基づいて測定して画像の拡大
率を決定し、その拡大率に基づいて生データを自
動的に拡大して再構成を行なつて表示するため、
一旦表示された画像を拡大し直すという操作者の
手間をなくすことができる。
また、一般にCRT画面の画素数は生データの
情報を全て表示できるほど多くはないので、一旦
画面に表示された画像を拡大し直しても、表示さ
れた画像が拡大補間されて表示されるだけで、表
示されなかつた情報が拡大することによつて新た
に表示できるようになるわけではない。しかし本
発明によれば、再構成前に拡大されたものを用い
て再構成表示するので、従来の拡大では表示でき
なかつた情報も表示できるようになる。これは、
大きさが同じで数の多い画素を持つたCRTを用
いて未拡大の生データを再構成した画像を表示さ
せ、周辺部分を切り捨てたことと等価である。
さらに、生データを保存する際、生データは拡
大されていて診断に不要な被検体でない部分(例
えば空気の部分)のデータが少なくなつているの
で、メモリを有効に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の構成を示すブロツク
図、第2図は本発明の実施例の動作例を示すフロ
チヤート、第3図は透視像撮影の動作を示す説明
図、第4図は透視像の例を示す説明図、第5図は
拡大前の生データを示す説明図、第6図は拡大後
の生デターを示す説明図、第7図は一般的な生デ
ータの例を示す説明図である。 1……X線発生手段、3……X線検出手段、5
……生データメモリ、6……透視画像データメモ
リ、7……大きさ検出系、8……拡大率ホールド
系、9……拡大生データメモリ、10……画像再
構成系、11……CRT。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検体に向けてX線を発生するX線発生手段
    と、このX線発生手段を被検体に対して相対的に
    回転させながらX線を照射し、被検体を透過した
    X線を検出するX線検出手段と、このX線検出手
    段によつて検出された被検体データに基づいて被
    検体の大きさを測定する大きさ測定手段と、この
    大きさ測定手段の出力を受け、それに応じて前記
    被検体のCT画像の拡大率を算出する拡大率算出
    手段と、前記X線検出手段によつて検出される被
    検体の多方向におけるX線透過データを記憶する
    第1のデータメモリと、前記拡大率算出手段によ
    つて算出された拡大率を以つて前記第1のデータ
    メモリ内のデータを処理した結果を記憶する第2
    のデータメモリと、この第2のデータメモリ内の
    拡大処理されたデータに基づき再構成処理して被
    検体の断層画像を作成する再構成手段と、この再
    構成手段によつて作成された断層画像を表示する
    表示手段とを有することを特徴とするX線断層撮
    影装置。 2 前記大きさ測定手段は、X線を被検体に対し
    1方向から照射することによつてX線検出手段か
    ら得られた、被検体の透視画像データに基づいて
    大きさを測定することを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載のX線断層撮影装置。 3 前記大きさ検出手段は、前記第1のデータメ
    モリ内のX線透過データに基づいて大きさを測定
    することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    のX線断層撮影装置。
JP56037267A 1981-03-17 1981-03-17 X-ray tomography apparatus Granted JPS57153636A (en)

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JP56037267A JPS57153636A (en) 1981-03-17 1981-03-17 X-ray tomography apparatus

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JPS57153636A JPS57153636A (en) 1982-09-22
JPH0117691B2 true JPH0117691B2 (ja) 1989-03-31

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60220048A (ja) * 1984-04-16 1985-11-02 株式会社日立メデイコ Ct装置
JP2610442B2 (ja) * 1987-09-07 1997-05-14 株式会社日立メデイコ X線ct装置
JPH0620487Y2 (ja) * 1988-03-30 1994-06-01 株式会社島津製作所 X線断層撮影装置
JP5366385B2 (ja) * 2007-09-26 2013-12-11 株式会社東芝 超音波診断装置及び超音波走査プログラム
JP5806812B2 (ja) * 2010-10-05 2015-11-10 株式会社日立メディコ X線ct装置

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JPS57153636A (en) 1982-09-22

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