JP2005074000A - X線ct装置および被曝線量分布算出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 被検体の各部位ごとの被曝線量分布を算出する。
【解決手段】 所定量のX線を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部からのデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置であって、所定量のX線を所定時間照射した場合の被曝線量に関する情報を格納する格納部306と、前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量を算出するX線線量算出部304と、前記被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出部305とを備える。
【選択図】 図3
【解決手段】 所定量のX線を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部からのデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置であって、所定量のX線を所定時間照射した場合の被曝線量に関する情報を格納する格納部306と、前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量を算出するX線線量算出部304と、前記被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出部305とを備える。
【選択図】 図3
Description
本発明はX線照射によって被検体の断層像を得るX線CT(Computerized Tomography )装置の被曝線量分布測定に関するものである。
従来は、X線CT装置の被曝線量予測の方法として、CTDIvolなどの規格があるが、これらの方法は決められた径のファントム(頭部用18cmアクリルファントム、腹部用35cmアクリルファントム)の中に、線量測定機を入れて行った測定値を元に撮影条件ごとに被曝線量を予測していた。しかしこの方法では、人体の被曝線量測定とはかけ離れ、精度が得られなかった。
X線CT装置において、X線断層像を再構成するまでの流れを図15を用いて簡単に説明する。図15(a)は一般的なX線CT装置において、X線の照射から透過X線の検出までを示した図である(なお、紙面横方向をX軸、縦方向をY軸とする)。
1501はX線管であり、X線はX線管1501より照射され、フィルタ1502を介して被検体1503に到達する。被検体1503に入射したX線は、被検体1503を透過し、X線検出器1504に到達し、X線検出器1504において透過X線線量が検出される。
このとき、被検体1503に入射するX線線量をIo、被検体1503の厚みをx、被検体1503のX線線吸収係数をuとすると、X線検出器1504において検出される透過X線線量Iは、式1により表される。
(式1)I=Ioe-ux
ここで、(式1)をuxについて解くと、式2のようになる。
(式2)ux=−ln(I/Io)
また、CT値=(u−uw)×1000/uw uw:水の線吸収係数
u=(CT値+1000)×uw/1000
したがって、被検体1503に入射するX線線量(Io)を予め求めておけば、各回転角度ごとの透過X線線量Iを検出することで、X線断層像(図15の(b))を再構成することが可能である。
(式1)I=Ioe-ux
ここで、(式1)をuxについて解くと、式2のようになる。
(式2)ux=−ln(I/Io)
また、CT値=(u−uw)×1000/uw uw:水の線吸収係数
u=(CT値+1000)×uw/1000
したがって、被検体1503に入射するX線線量(Io)を予め求めておけば、各回転角度ごとの透過X線線量Iを検出することで、X線断層像(図15の(b))を再構成することが可能である。
ここで、被検体1503に入射するX線線量(Io)は、エアスキャンを行うことで求めることができる。エアスキャンとは、被検体1503が無い場合に、X線管1501より照射したX線を、フィルタ1502を介して、X線検出器1504にて直接検出するスキャンをいう。つまり、被検体1503が無い場合にX線検出器1504で検出されるX線線量は、被検体1503がある場合に、被検体1503表面に入射するX線線量に等しい。
このように、X線CT装置は、被検体に所定の線量のX線を照射することで、スライス面における被検体の各部位のX線吸収率の差異を求め、これをCT値として可視化するものである。このため、被検体は人体に影響のない範囲で被曝することとなるが、上述のように、被検体1503に入射するX線線量をエアスキャンにより求めれば、被検体全体の被曝線量を算出することは可能である。
しかし、被検体である人体は様々な組織より形成されており、X線に対する許容量は各組織により大きく異なっている。例えば、人間の頭部を一例として挙げると、脳の部分は比較的X線に強いが、眼球部分はX線に対する許容量が小さい。このため、被検体全体の被曝線量のみならず、各部位ごとの被曝線量を算出し、スキャン計画に考慮することが、X線による人体への影響を最小限にとどめつつ、良質なX線断層像を得るために重要となってくる。しかしながら、これまでのX線CT装置には、各部位毎の被曝線量を算出する機能(つまり、スライス面における被曝線量分布を求める機能)がなかった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、被検体の各部位ごとの被曝線量を算出することが可能なX線CT装置を提供することを目的とする。
かかる課題を解決するための本発明のX線CT装置は、以下の構成を備える。すなわち、
所定のX線線量を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部から受信したデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置であって、
前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量を算出するX線線量算出手段と、
所定のX線線量を所定時間照射した場合の被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出手段とを備える。
所定のX線線量を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部から受信したデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置であって、
前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量を算出するX線線量算出手段と、
所定のX線線量を所定時間照射した場合の被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出手段とを備える。
本発明によれば、被検体の各部位ごとの被曝線量を算出することが可能となる。
はじめに本発明の概略について、図1を用いて簡単に説明する。図1は、被検体のスライス面におけるX線断層像の所定の位置(10)に対応する被検体の各部位における被曝線量を算出する方法を図示したものである(なお、被曝線量を求めようとするスライス面における所定の位置(10)を「被曝線量算出点」と称す。以下同じ)。
X線管11より照射され、被検体表面13に到達したX線線量をIoとした場合、被曝線量算出点10に到達するX線線量Ipは、X線透過パス12における、被検体表面13から被曝線量算出点10の手前までの間(図中の14で示す範囲)のX線吸収率によって決まる。
ここで、X線透過パス12における被検体表面13から被曝線量算出点10手前までの間のX線吸収率は、再構成されたX線断層像におけるX線透過パス12上の各画素のCT値に基づいて求めることが可能である。上述のように、X線断層像は、被検体のX線吸収率の差異を可視化したものであり、CT値はX線吸収率に比例する値であるからである。
したがって、再構成されたX線断層像に基づいて、被検体表面13から被曝線量算出点10までのCT値を抽出し、それらを加算すれば、X線管11が図1に示す位置にあった場合における、被曝線量算出点10でのX線線量Ipを求めることができる。
そして、かかる計算をあらゆる照射角度に対して行うとともに、X線管11の回転速度に基づくX線照射時間を考慮することで、被曝線量算出点10における被曝線量を算出することができる。
さらに、かかる計算を、スライス面におけるX線断層像上のすべての点に対して行うことで、X線断層像を再構成する際に照射したX線による被検体の被曝線量分布を求めることができる。
以下、添付図面に従って本発明の好適なる複数の実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通して同一符号は同一または相当部分を示すものとする。
(第1の実施形態)
<全体システム構成>
図2は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置のシステム構成図である。
<全体システム構成>
図2は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置のシステム構成図である。
図2に図示の如く、X線CT装置は、被検体(患者)へのX線照射と被検体を透過したX線を検出するためのガントリ120と、ガントリ120に対して指示信号を送信し各種設定を行うとともに、ガントリ120から出力されてきた投影データに基づいてX線断層像を再構成し、表示する操作コンソール100、および被検体を乗せ、ガントリ内部へ搬送する搬送装置140とを備えている。
120に示すガントリは、その全体を制御するメインコントローラ122を始め以下の構成を備える。
121は操作コンソール100との通信を行うためのインターフェース、132はガントリ回転部であり、内部には、X線を発生するX線管124(X線管コントローラ123により駆動制御される)、X線の照射範囲を規定するコリメータ127、コリメータ127のX線照射範囲を規定するスリット幅の調整、及びコリメータ127のZ軸方向(図面に垂直な方向、すなわち、後述する天板142が空洞部133に向かって搬送される方向)の位置を調整するコリメータモータ126が設けられている。かかるコリメータモータ126の駆動はコリメータコントローラ125により制御される。
また、132に示すガントリ回転部は、被検体を透過したX線を検出するX線検出部131、及びX線検出部131より得られた投影データを収集するデータ収集部130も備える。なお、X線検出部131には、複数の検出素子(チャネル)からなる検出素子群を有する検出器列がある。
X線管124及びコリメータ127と、X線検出部131とは互いに空洞部分133をはさんで対向する位置に設けられ、その関係が維持された状態でガントリ回転部132が矢印135の向きに回転するようになっている。この回転は、回転モータコントローラ128からの駆動信号により所定の制御周期で回転速度制御される回転モータ129によって行われる。
また、搬送装置140は、被検体を実際に乗せる天板142と天板142を保持するテーブル143とを有し、天板142は天板モータ141によってZ軸方向に駆動され(すなわち、天板の搬送方向=Z軸方向)、天板モータ141の駆動は天板モータコントローラ134からの駆動信号に基づいて所定の制御周期で搬送速度制御される。
メインコントローラ122は、I/F121を介して受信した各種指示信号の解析を行い、それに基づいて上記のX線管コントローラ123、コリメータコントローラ125、データ収集部130の制御は回転側コントローラ136を通して行われ、回転モータコントローラ128、天板モータコントローラ134に対しても各種制御信号を出力することになる。また、データ収集部130で収集された投影データを、DASI/F137を介して操作コンソール100に送出する処理も行う。
操作コンソール100は、所謂ワークステーションであり、図示に示すように、装置全体を制御するCPU105、ブートプログラム等を記憶しているROM106、主記憶装置(メモリ)として機能するRAM107をはじめ、以下の構成からなる。
HDD108は、ハードディスク装置であって、ここにOSならびにX線CT装置全体を制御するプログラムが格納されている。
また、VRAM101は表示しようとするイメージデータ(主に512×512画素)を展開するメモリであり、ここにイメージデータ等を展開することでCRT102にX線断層像を表示させることができる。103および104は各種設定を行うためのキーボードとマウスである。また、109はガントリ120と通信を行うためのインターフェースである。
<機能ブロック図>
図3に、本発明の実施形態にかかるX線CT装置のうち、本発明にかかる機能を抽出した機能ブロック図を示す。
図3に、本発明の実施形態にかかるX線CT装置のうち、本発明にかかる機能を抽出した機能ブロック図を示す。
同図において、301はデータ収集部であり、被検体を透過した透過X線を検出し、収集する。302は画像再構成部であり、データ収集部301において収集されたデータに基づいてX線断層像を再構成する。
303は、画像表示部であり、再構成されたX線断層像を表示する。
一方、304はX線線量算出部であり、画像再構成部302で再構成されたX線断層像の各位置に対応する被検体の各部位に到達したX線線量に関連する値を算出する。また、305は被曝線量分布算出部であり、X線断層像に対する被曝線量分布を算出する。算出にあたっては、X線線量算出部304にて算出された、被検体の各部位に到達したX線線量に関連する値と、格納部306に格納された被曝線量に関する情報と、X線断層像を再構成するため照射したX線照射時間とを参照する。
307は被曝線量分布表示部であり、被曝線量分布算出部305において算出された被曝線量分布を表示する。
なお、被曝線量分布の表示方法は、特に限定するものではない。再構成されたX線断層像に重ねて表示してもよいし、1画面上にX線断層像と並べて表示しても良いし、切り替えて表示するようにしてもよい。
また、被曝線量分布は、被曝線量の違いを色分けして表示しても良いし、被曝線量の違いを高さの違いとして3次元的に表示しても良い。
<全体フロー>
図4は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置の処理の流れを示すフローチャートである。
図4は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置の処理の流れを示すフローチャートである。
同図において、ステップS401はスキャン条件設定工程であり、X線照射条件(管電圧、管電流、ガントリ回転速度(スキャン速度)、スライス厚等)を設定する。
ステップS402では、被検体スキャンが行われ、ステップS403においてCT値を算出する。続いて、ステップS404では被曝線量分布算出処理が行われる。被曝線量算出処理の詳細は後述するものとする。ステップS405では、算出された被曝線量分布を表示する。
<被曝線量分布算出処理>
図5は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置における被曝線量分布算出処理の流れを示すフローチャートである。
図5は、本発明の第1の実施形態にかかるX線CT装置における被曝線量分布算出処理の流れを示すフローチャートである。
同図において、ステップS501では、ステップS403(図4)で算出されたCT値を読み込む。
次にステップS502では、各照射角度における被曝線量算出点までのX線透過パス上の(CT値+1000)×uw/1000の和(K(θ))を算出する。K(θ)とは、図6に示すように、X線断層像において、被曝線量算出点601を中心に極座標変換を行う。y軸方向を0とした場合に、0から2πまでのX線透過パスが得られる。
また、図7は、θを0から2πまで変化させた場合の、被曝線量算出点601を中心に極座標変換したK(θ)の変化を示した図である。横軸に角度θをとり、縦軸に被曝線量算出点601までのX線透過パス上の(CT値+1000)×uw/1000の和K(θ)をとっている。この通過パス分だけX線が吸収されて被曝線量算出点601にX線が集まってくる。
図5に戻る。ステップS503では、被曝線量算出点601における各照射角度ごとのX線線量に関連する値(ip(θ))を算出し、ステップS504では、(ip(θ))を用いて被曝線量算出点601に到達したX線線量の総量に関連する値ipを算出する。
ここで、各照射角度ごとのX線線量に関連する値(ip(θ))とX線線量の総量に関連する値ipの算出について、図8および図9を用いて説明する。
X線管の管電圧が一定の場合、被検体表面に到達するX線線量は、X線管の管電流およびスライス厚にそれぞれ比例する。また、被曝線量算出点601における被曝線量は、被検体表面に到達するX線線量に比例すると共に、X線照射時間にも比例する(つまり、ガントリ回転速度と、回転角度の総和との積に比例する。ここで、ガントリ回転速度とは、ガントリが1回転するのにかかる時間をいい、回転角度の総和とは、スキャンを開始してから、終了するまでにガントリが回転した角度の合計をいう)。
したがって、X線照射条件として、所定の管電流、所定のガントリ回転速度、所定のスライス厚のときの被曝線量に関する情報を、あらかじめテーブルとして格納しておくことにより、被曝線量算出点601における被曝線量を求めることができる。図9に、当該テーブルの一例を示す。被曝線量に関する情報は、ガントリが2π回転する間の、被曝線量算出点601に対するX線透過パスと被検体表面との交点部分(図6の603に示す部分)における被曝線量の合計を示す。
図8は、被曝線量算出点601における各照射角度ごとのX線線量に関連する値(ip(θ))を示す図であり、横軸に角度θを、縦軸にip(θ)をとったものである。
ここで、被曝線量算出点における各照射角度ごとのX線線量に関連する値(ip(θ))は、以下の式で求めることができる。
ip(θ)=I0×e-K(θ)K(θ)×(th/th_std)×(mA/mA_std)
上式において、th_stdは図9に示したX線照射条件における基準スライス厚であり、同様にmA_stdは基準管電流である。また、th、mAはそれぞれ、X線断層像再構成時のスライス厚および管電流である。
上式において、th_stdは図9に示したX線照射条件における基準スライス厚であり、同様にmA_stdは基準管電流である。また、th、mAはそれぞれ、X線断層像再構成時のスライス厚および管電流である。
図8において、縦軸、横軸ならびに曲線ip(θ)により囲まれた斜線領域は、X線管が0から2πまで回転する間(つまり、回転角度の総和が2π)の被曝線量算出点601におけるX線線量の総量に関連する値ipに相当する。
再び図5に戻る。ステップS505では、被曝線量算出点601における被曝線量を算出する。被曝線量算出点601における被曝線量は、図9に示すテーブルと、ステップS504で求めたX線線量の総量に関連する値ipとに基づいて求めることができる。
具体的には、図9のガントリ基準回転速度での、ガントリ1周あたりの被曝線量α[mSv/周]を用いて、以下の式で求めることができる。
被曝線量算出点における被曝線量=α[mSv]×ip×(V/V_std)
上式において、V_stdは図8に示したX線照射条件におけるガントリ基準回転速度である。また、VはX線断層像再構成時のガントリ回転速度[sec/回転]である。
上式において、V_stdは図8に示したX線照射条件におけるガントリ基準回転速度である。また、VはX線断層像再構成時のガントリ回転速度[sec/回転]である。
再び図5に戻る。ステップS506では、X線断層像における被検体上のすべての点について、被曝線量を算出したか否かを確認し、算出していなければステップS502に戻り、ステップS502からステップS505までの処理を繰り返す。
一方、すべての点について被曝線量を算出したと判断した場合には、処理を終了する。
以上の説明から明らかなように、本実施形態によれば、所定のX線照射条件における被曝線量に関する情報を基準データとして格納しておき、再構成されたX線断層像のCT値に基づいて、被検体の各部位ごとの被曝線量を算出することが可能となる。
(第2の実施形態)
上記第1の実施形態では、各照射角度ごとのX線線量に関連する値(ipを算出するにあたり、図9に示すテーブルを用いることとしたがこれに限らず、図10に示すテーブルを用いてもよい。
上記第1の実施形態では、各照射角度ごとのX線線量に関連する値(ipを算出するにあたり、図9に示すテーブルを用いることとしたがこれに限らず、図10に示すテーブルを用いてもよい。
一般に、スライス厚は、X線CT装置ごとにあらかじめ用意された値の中から、操作者が選択することにより設定するものであり、限られた値しか設定されない。そこで、あらかじめ格納しておくテーブルも、図10に示すように、当該スライス厚ごとに個別に被曝線量に関する情報を求めておいてもよい。
(第3の実施形態)
上記各実施形態では、被曝線量算出点における被曝線量を求めるにあたり、X線照射条件として、管電流、ガントリ回転速度、スライス厚をもつこととしたが、これに限らず、照射X線線量およびガントリ回転速度と、それに対応する被曝線量に関する情報とをテーブルとして格納しておいてもよい(図12に本実施形態におけるテーブルを示す)。
上記各実施形態では、被曝線量算出点における被曝線量を求めるにあたり、X線照射条件として、管電流、ガントリ回転速度、スライス厚をもつこととしたが、これに限らず、照射X線線量およびガントリ回転速度と、それに対応する被曝線量に関する情報とをテーブルとして格納しておいてもよい(図12に本実施形態におけるテーブルを示す)。
この場合の全体フローを図11に示す。同図は、上記第1の実施形態における図4とは、ステップS1101にエアスキャン処理が挿入されている点が異なる。
つまり、上記第1の実施形態では、ステップS401において設定された管電圧より、図8に示す複数のテーブルから、当該管電圧に該当するテーブルを読み出し、当該テーブルに記載された基準管電流、基準スライス厚と、X線断層像再構成時の管電流、スライス厚との比から、被曝線量算出点における各照射角度ごとのX線線量に関連する値ip(θ)を求めたが、本実施形態では、エアスキャン(被検体がない状態でX線管より発生したX線をX線検出器が検出するスキャン)を行うことで、被曝線量算出点601における各照射角度ごとのX線線量Ip(θ)を以下の式により直接的に求めることができる。
Ip(θ)=K(θ)×Io
上式において、Ioは、エアスキャンにより検出されたX線線量(つまり、被検体表面に到達したX線線量)である。
上式において、Ioは、エアスキャンにより検出されたX線線量(つまり、被検体表面に到達したX線線量)である。
図13、図14を用いて、本実施形態にかかる被曝線量分布算出処理について説明する。図13において、ステップS501、S502は上記第1の実施形形態において用いた図5のステップS501、S502と同じであるため、説明は省略する。
ステップS1303では、被曝線量算出点における各照射角度ごとのX線線量Ip(θ)を上式を用いて算出する。図14は、被曝線量算出点における各照射角度ごとのX線線量Ip(θ)を示す図である。
ステップS1304では、被曝線量算出点におけるX線線量の総量Ipを算出する。Ipを算出するには断層像上の点P(x、y)のまわりに極座標変換を行い(図7A参照)、r方向にCT加算し、各θ方向のX線吸収量に比例した値を求める(図7B参照)。被曝線量算出点におけるX線線量の総量Ipは、図14に示す斜線領域に相当する。図14に示す例では、極座標が0から2πまで回転する間(つまり、回転角度の総和が2π)の被曝線量算出点におけるX線線量の総和を斜線領域として示している。
図13に戻る。ステップS1305では、被曝線量算出点における被曝線量を算出する。被曝線量算出点における被曝線量は、図12に示すテーブルと、ステップS1304で求めたX線線量の総量Ipとに基づいて求めることができる。
具体的には、図12のガントリ基準回転速度での、ガントリ1周あたりの被曝線量α[mSv/周]を用いて、以下の式で求めることができる。
被曝線量算出点における被曝線量=α[mSv/周]×(Ip/I_std)×(V/V_std)
上式において、I_stdは図12に示したX線照射条件における基準X線線量であり、V_stdはガントリ基準回転速度である。また、VはX線断層像再構成時のガントリ回転速度[sec/2π]である。
上式において、I_stdは図12に示したX線照射条件における基準X線線量であり、V_stdはガントリ基準回転速度である。また、VはX線断層像再構成時のガントリ回転速度[sec/2π]である。
再び図13に戻る。ステップS506では、図5同様、X線断層像における被検体上のすべての点について、被曝線量を算出したか否かを確認し、算出していなければ、ステップS502に戻り、ステップS502、S1303乃至S1305までの処理を繰り返す。
一方、すべての点について被曝線量を算出したと判断した場合には、処理を終了する。
このように、基準X線線量とガントリ回転速度をX線照射条件とし、当該X線照射条件に対応する被曝線量に関する情報とともに格納しておくことで、被検体スキャン前にエアスキャンを行う必要が生じるが、その反面、より精度のよい被曝線量分布を算出することが可能となる。
つまり、同じ管電流や同じスライス厚を設定したとしても、必ず同じX線線量が被検体表面に到達するとは限らず、X線CT装置自体の経時変化等により、微妙に変動することが考えられる。その結果、格納された被曝線量に関する情報と、実際の被曝線量に関する情報とで、誤差が生じ得る。しかし、本実施形態のように、エアスキャンを行うことで、かかる変動による誤差を吸収すれば、より精度のよい被曝線量分布を算出することができる。
(第4の実施形態)
上記各実施形態では、スキャン方法として、ヘリカルスキャンかアキシャルスキャンかを明示しなかったが、いずれのスキャン方法においても本発明が適用可能であることはいうまでもない。
上記各実施形態では、スキャン方法として、ヘリカルスキャンかアキシャルスキャンかを明示しなかったが、いずれのスキャン方法においても本発明が適用可能であることはいうまでもない。
また、上記各実施形態では、被曝線量算出点までのX線透過パス上のCT値の和を算出するにあたり、特に具体的な方法について言及しなかったが、算出時間の短い方法で行うことが望ましいことは言うまでもない。
(他の実施形態)
また、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
また、本発明の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。
この場合、記憶媒体から読出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フロッピ(登録商標)ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROMなどを用いることができる。
また、コンピュータが読出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているOS(オペレーティングシステム)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
さらに、記憶媒体から読出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
Claims (15)
- 所定量のX線を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部から受信したデータに基づき、該被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置であって、
前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量を算出するX線線量算出手段と、
所定量のX線を所定時間照射した場合の被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出手段と
を備えることを特徴とするX線CT装置。 - 前記X線線量算出手段は、
各照射角度における、前記X線発生源から前記X線断層像の所定の位置までを結ぶX線透過パス上のCT値の和を算出する手段と、
前記被検体表面に到達したX線線量を取得する手段と、を更に備え、
前記算出されたCT値の和と、前記取得されたX線線量とに基づいて、前記被検体の所定の部位に到達したX線線量を算出することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。 - 前記X線線量を取得する手段は、
被検体がない状態で前記X線発生源より発生したX線を前記検出器が検出するエアスキャンにより、前記被検体表面に到達したX線線量を取得することを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。 - 前記被曝線量に関する情報を、前記X線発生源における管電圧ごとに格納する格納手段を更に備えることを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。
- 所定量のX線を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部から受信したデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置であって、
所定のX線照射条件における被曝線量に関する情報を格納する格納手段と、
前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量に関連する値を算出するX線線量算出手段と、
前記被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量に関連する値と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出手段と
を備えることを特徴とするX線CT装置。 - 前記X線線量算出手段は、
各照射角度における、前記X線発生源から前記X線断層像内の所定の位置までを結ぶX線透過パス上のCT値の和を算出する手段を更に備え、
前記X線線量に関連する値は、前記算出されたCT値の和と、前記X線断層像再構成時のX線照射条件と前記格納手段に格納された所定のX線照射条件との比と、に基づいて算出されることを特徴とする請求項5に記載のX線CT装置。 - 前記格納手段は、
前記被曝線量に関する情報を、前記X線発生源における管電圧ごとに格納し、該各管電圧ごとの被曝線量に関する情報は、少なくとも管電流およびスライス厚と対応づけられていることを特徴とする請求項5に記載のX線CT装置。 - 所定量のX線を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での該被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ収集部から受信したデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置における被曝線量分布算出方法であって、
所定量のX線を所定時間照射した場合の被曝線量に関する情報を格納する格納工程と、
前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量を算出するX線線量算出工程と、
前記被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出工程と
を備えることを特徴とするX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 前記X線線量算出工程は、
各照射角度における、前記X線発生源から前記X線断層像内の所定の位置までを結ぶX線透過パス上のCT値の和を算出する工程と、
前記被検体表面に到達したX線線量を取得する工程と、を更に備え、
前記算出されたCT値の和と、前記取得されたX線線量とに基づいて、前記被検体の所定の部位に到達したX線線量を算出することを特徴とする請求項8に記載のX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 前記取得する工程は、
被検体がない状態で前記X線発生源より発生したX線を前記検出器が検出するエアスキャンにより、前記被検体表面に到達したX線線量を取得することを特徴とする請求項8に記載のX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 前記格納工程は、
前記被曝線量に関する情報を、前記X線発生源における管電圧ごとに格納することを特徴とする請求項8に記載のX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 所定量のX線を発生し、被検体の周りを回転するX線発生源と、異なる照射角度での該被検体を透過したX線を検出する検出器とを備えるX線データ収集部と、このX線データ集主部から受信したデータに基づき、被検体のX線断層像を再構成する操作コンソールとを備えるX線CT装置における被曝線量分布算出方法であって、
所定のX線照射条件における被曝線量に関する情報を格納する格納工程と、
前記再構成されたX線断層像内の各位置に対応する前記被検体の各部位に到達したX線線量に関連する値を算出するX線線量算出工程と、
前記被曝線量に関する情報と、前記算出された各部位に到達したX線線量に関連する値と、X線照射時間とに基づいて、前記X線断層像を再構成する際に照射したX線による前記被検体の被曝線量分布を算出する被曝線量分布算出工程と
を備えることを特徴とするX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 前記X線線量算出工程は、
各照射角度における、前記X線発生源から前記X線断層像内の所定の位置までを結ぶX線透過パス上のCT値の和を算出する工程を更に備え、
前記X線線量に関連する値は、前記算出されたCT値の和と、前記X線断層像再構成時のX線照射条件と前記格納工程に格納された所定のX線照射条件との比と、に基づいて算出されることを特徴とする請求項12に記載のX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 前記格納工程は、
前記被曝線量に関する情報を、前記X線発生源における管電圧ごとに格納し、該各管電圧ごとの被曝線量に関する情報は、少なくとも管電流およびスライス厚と対応づけられていることを特徴とする請求項12に記載のX線CT装置における被曝線量分布算出方法。 - 請求項8乃至14のいずれか1つに記載の被曝線量分布算出方法をコンピュータによって実現させるための制御プログラム。
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