JP2006320523A - シャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびx線ct装置 - Google Patents
シャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびx線ct装置 Download PDFInfo
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Abstract
【課題】部位または臓器ごとに独立してシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータを効率よく、判りやすく設定できるようにする。
【解決手段】被検体のスカウト画像を表示し、操作者がスカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定し、各範囲ごとに独立させてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータをグラフィカル入力またはキー入力して設定する。
【効果】部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【選択図】図23
【解決手段】被検体のスカウト画像を表示し、操作者がスカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定し、各範囲ごとに独立させてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータをグラフィカル入力またはキー入力して設定する。
【効果】部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【選択図】図23
Description
本発明は、シャトルモードヘリカルスキャン(Shuttle Mode Herical Scan)のスキャンパラメータ設定方法およびX線CT(Computed Tomography)装置に関し、更に詳しくは、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチや各断層像の画像ノイズの指標であるノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定でき、画質を保ちつつ、患者被曝を低減できるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびX線CT装置に関する。
従来、スライス厚,ヘリカルピッチ,管電圧,管電流等のスキャンパラメータの入力を終了した後、スカウト画像(スキャノグラム像)に基づいて1つの再構成範囲を指定すると、その再構成範囲からスキャン範囲を算出し、そのスキャン範囲を、先に入力したスキャンパラメータを用いてヘリカルスキャンするX線CT装置が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
上記従来のX線CT装置では、所定の範囲に対し一方向スキャンまたは往復スキャンを繰り返すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータの設定については考慮されていない問題点があった。
そこで、本発明の目的は、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定でき、画質を保ちつつ、患者被曝を低減できるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびX線CT装置を提供することにある。
そこで、本発明の目的は、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定でき、画質を保ちつつ、患者被曝を低減できるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびX線CT装置を提供することにある。
第1の観点では、本発明は、被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定する過程と、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第1の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチを設定する。これにより、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第1の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチを設定する。これにより、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
第2の観点では、本発明は、被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定する過程と、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第2の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスを設定する。これにより、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。また、各断層像の画像ノイズの目標値が定められるので、X線照射も断層像毎に制御でき、被曝低減も実現できる。
上記第2の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスを設定する。これにより、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。また、各断層像の画像ノイズの目標値が定められるので、X線照射も断層像毎に制御でき、被曝低減も実現できる。
第3の観点では、本発明は、第1の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第3の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよびノイズインデックスを設定する。これにより、第1の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよびノイズインデックスを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第3の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよびノイズインデックスを設定する。これにより、第1の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよびノイズインデックスを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
第4の観点では、本発明は、第1から第3の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンの管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第4の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよび/またはノイズインデックスを設定し、さらに管電圧および管電流の少なくとも一方を設定する。これにより、第1から第3の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンの管電圧および管電流の少なくとも一方を効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第4の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよび/またはノイズインデックスを設定し、さらに管電圧および管電流の少なくとも一方を設定する。これにより、第1から第3の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンの管電圧および管電流の少なくとも一方を効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
第5の観点では、本発明は、上記構成のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第5の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、第1から第4の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第5の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、第1から第4の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、シャトルモードヘリカルスキャンのスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
第6の観点では、本発明は、第1の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第6の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第1の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第6の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第1の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
第7の観点では、本発明は、第2の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第7の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第1の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第7の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第1の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
第8の観点では、本発明は、第3の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第8の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第3の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよびノイズインデックスを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第8の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第3の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチおよびノイズインデックスを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
第9の観点では、本発明は、第4の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第9の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第4の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンの管電流および管電圧をも一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
上記第9の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した1つの範囲をグループ(1つの範囲に対応するパラメータ群)として、1以上のグループからなる1つのシリーズ(グループを連鎖させたもの)を設定する。これにより、第4の観点に加えて、複数の部位または臓器について、シャトルモードヘリカルスキャンの管電流および管電圧をも一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
第10の観点では、本発明は、第1から第9の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第10の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、1つの臓器または部位を1つの範囲とする。これにより、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチ,ノイズインデックス,管電流および管電圧の調整・最適化を、臓器単位または部位単位で出来る。
上記第10の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、1つの臓器または部位を1つの範囲とする。これにより、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチ,ノイズインデックス,管電流および管電圧の調整・最適化を、臓器単位または部位単位で出来る。
第11の観点では、本発明は、第1から第10の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記指定した1つの範囲に対して少なくとも1つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第11の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者が1つの範囲を指定すると、その範囲に対応するデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とするので、デフォルト値または前回設定値をそのまま使用する場合には設定の手間を省くことが出来る利点がある。
上記第11の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、操作者が1つの範囲を指定すると、その範囲に対応するデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とするので、デフォルト値または前回設定値をそのまま使用する場合には設定の手間を省くことが出来る利点がある。
第12の観点では、本発明は、第1から第11の観点のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記X線CTスキャンは、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集するシャトルモード可変ピッチヘリカルスキャンまたはシャトルモード可変速度ヘリカルスキャンであることを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第12の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、シャトルモード可変ピッチヘリカルスキャンまたはシャトルモード可変速度ヘリカルスキャンにおいても、第1から第11の観点の作用を得ることが出来る。
上記第12の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法では、シャトルモード可変ピッチヘリカルスキャンまたはシャトルモード可変速度ヘリカルスキャンにおいても、第1から第11の観点の作用を得ることが出来る。
第13の観点では、本発明は、X線管と、検出器と、前記X線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したX線CT装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたヘリカルピッチを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第13の観点によるX線CT装置では、第1の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第13の観点によるX線CT装置では、第1の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第14の観点では、本発明は、X線管と、検出器と、前記X線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したX線CT装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第14の観点によるX線CT装置では、第2の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第14の観点によるX線CT装置では、第2の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第15の観点では、本発明は、第13の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第15の観点によるX線CT装置では、第3の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第15の観点によるX線CT装置では、第3の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第16の観点では、本発明は、第13から第15の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンの管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力すると、入力された管電圧および管電流の少なくとも一方を前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第16の観点によるX線CT装置では、第4の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第16の観点によるX線CT装置では、第4の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第17の観点では、本発明は、上記構成のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを入力すると、入力されたスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第17の観点によるX線CT装置では、第5の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第17の観点によるX線CT装置では、第5の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第18の観点では、本発明は、第13の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第18の観点によるX線CT装置では、第6の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第18の観点によるX線CT装置では、第6の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第19の観点では、本発明は、第14の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第19の観点によるX線CT装置では、第7の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第19の観点によるX線CT装置では、第7の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第20の観点では、本発明は、第15の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第20の観点によるX線CT装置では、第8の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第20の観点によるX線CT装置では、第8の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第21の観点では、本発明は、第16の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第21の観点によるX線CT装置では、第9の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第21の観点によるX線CT装置では、第9の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第22の観点では、本発明は、第13から第21の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第22の観点によるX線CT装置では、第10の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第22の観点によるX線CT装置では、第10の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第23の観点では、本発明は、第13から第22の観点のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記指定された1つの範囲に対して少なくとも1つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第23の観点によるX線CT装置では、第11の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第23の観点によるX線CT装置では、第11の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
第24の観点では、本発明は、第13から第23の観点のX線CT装置において、前記ヘリカルスキャン手段は、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集するシャトルモード可変ピッチヘリカルスキャンまたはシャトルモード可変速度ヘリカルスキャンを行うことを特徴とするX線CT装置を提供する。
上記第24の観点によるX線CT装置では、第12の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
上記第24の観点によるX線CT装置では、第12の観点によるシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
本発明のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびX線CT装置によれば、部位または臓器ごとに独立してシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定できる。
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
図1は、実施例1にかかるX線CT装置100の構成ブロック図である。
このX線CT装置100は、操作コンソール1と、テーブル装置10と、走査ガントリ20とを具備している。
このX線CT装置100は、操作コンソール1と、テーブル装置10と、走査ガントリ20とを具備している。
操作コンソール1は、操作者の入力を受け付ける入力装置2と、画像再構成処理などを実行する中央処理装置3と、走査ガントリ20で取得した投影データを収集するデータ収集バッファ5と、投影データから再構成した断層像を表示する表示装置6と、プログラムやデータやX線断層像を記憶する記憶装置7とを具備している。なお、表示装置6は、右画面と左画面の2画面を有しているマルチ画面ディスプレイとする。
テーブル装置10は、被検体を乗せて走査ガントリ20のボア(空洞部)に入れ出しするクレードル12を具備している。クレードル12は、テーブル装置10に内蔵するモータで昇降(y軸方向)および直線移動(z軸方向)される。
走査ガントリ20は、X線管21と、X線コントローラ22と、コリメータ23と、多列X線検出器24と、DAS(Data Acquisition System)25と、被検体の体軸の回りにX線管21などを回転させる回転コントローラ26と、走査ガントリ20を回転軸の前方または後方に傾斜させるときの制御を行うチルトコントローラ27と、制御信号などを操作コンソール1や寝台装置10とやり取りする制御コントローラ29と、スリップリング30とを具備している。
クレードル12の直線移動量はテーブル装置10に内蔵するエンコーダによりカウントされ、制御コントローラ29にて直線移動量からクレードル12のz軸座標を算出し、スリップリング30を経由してDAS25にz軸座標が送られる。
多列X線検出器24で得られた投影データは、DAS25でAD変換され、z軸座標を付加され、スリップリング30を経由し、データ収集バッファ5へ転送される。
中央処理装置3は、データ収集バッファ5に収集した投影データに対して、前処理および画像再構成処理を行ない、断層像を生成し、断層像を表示装置6に表示する。
図2は、X線管21と多列X線検出器24の説明図である。
X線管21と多列X線検出器24は、回転中心ICの回りを回転する。鉛直方向をy方向とし、クレードル12の移動方向をz方向とし、y方向およびz方向に垂直な方向をx方向とする。チルトしないとき、X線管21および多列X線検出器24の回転平面はxy面である。
X線管21は、X線コーンビームCBと呼ばれるX線ビームを発生する。X線コーンビームCBの中心軸方向がy方向に平行なときを、ビュー角度=0゜とする。
多列X線検出器24は、例えば64列の検出器列を有する。また、各検出器列は、例えば1024チャンネルのチャンネルを有する。
X線管21と多列X線検出器24は、回転中心ICの回りを回転する。鉛直方向をy方向とし、クレードル12の移動方向をz方向とし、y方向およびz方向に垂直な方向をx方向とする。チルトしないとき、X線管21および多列X線検出器24の回転平面はxy面である。
X線管21は、X線コーンビームCBと呼ばれるX線ビームを発生する。X線コーンビームCBの中心軸方向がy方向に平行なときを、ビュー角度=0゜とする。
多列X線検出器24は、例えば64列の検出器列を有する。また、各検出器列は、例えば1024チャンネルのチャンネルを有する。
図3は、X線CT装置100の動作の概略を示すフロー図である。
過程1では、被検体のスカウト画像を撮影し、表示する。操作者は、スカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定し、その範囲に対応させてヘリカルピッチやノイズインデックスなどのシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータをグラフィカル入力またはキー入力して設定する。この過程1については、後で詳述する。
過程1では、被検体のスカウト画像を撮影し、表示する。操作者は、スカウト画像の体軸方向の1以上の範囲を指定し、その範囲に対応させてヘリカルピッチやノイズインデックスなどのシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータをグラフィカル入力またはキー入力して設定する。この過程1については、後で詳述する。
過程2では、設定されたスキャンパラメータのシャトルモードヘリカルスキャンにより投影データを収集する。この過程2については、後で詳述する。
過程3では、収集した投影データから断層像を画像再構成し、表示装置6に断層像を表示する。この過程3については、後で詳述する。
図4〜図5は、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルスキャンパラメータ設定処理(過程1)の詳細を示すフロー図である。
図4のステップA1では、中央処理装置3は、図6に示すスキャンパラメータ設定画面を右画面に表示する。
ステップA2では、操作者は、図6のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、新患者(New Patient)をクリックする。
図4のステップA1では、中央処理装置3は、図6に示すスキャンパラメータ設定画面を右画面に表示する。
ステップA2では、操作者は、図6のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、新患者(New Patient)をクリックする。
ステップA3では、中央処理装置3は、図7に示す患者情報画面(Patient Information)およびプロトコル選択画面(Protocol Selection)を右画面に表示する。
ステップA4では、操作者は、図7の患者情報画面で、患者の体重などを入力する。
ステップA5では、操作者は、図7のプロトコル選択画面の部分選択画面(Anatomical Selector)で、撮影したい部分をクリックする。ここでは、例えば胸部(chest)をクリックする。
ステップA4では、操作者は、図7の患者情報画面で、患者の体重などを入力する。
ステップA5では、操作者は、図7のプロトコル選択画面の部分選択画面(Anatomical Selector)で、撮影したい部分をクリックする。ここでは、例えば胸部(chest)をクリックする。
ステップA6では、中央処理装置3は、図8および図9に示すプロトコルリスト画面(Protocol List)をポップアップ表示する。
操作者は、ステップA7で図8に示すように所望のプロトコルをクリックするか、又は、ステップA8で図9に示すように所望のプロトコルに対応するスキャンタイプ(Scan Type)をクリックする。
操作者は、ステップA7で図8に示すように所望のプロトコルをクリックするか、又は、ステップA8で図9に示すように所望のプロトコルに対応するスキャンタイプ(Scan Type)をクリックする。
ステップA7で図8に示すように操作者が所望のプロトコル、ここではシャトルモード(Shuttle Mode)、をクリックすると、中央処理装置3は、プロトコルリスト画面を消し、図5のステップA21へ進む。
ステップA8で図9に示すように、操作者が所望のプロトコルに対応するスキャンタイプ、ここではシャトルモードに対応するスキャンタイプ、をクリックすると、ステップA9へ進む。
ステップA9では、中央処理装置3は、図10に示すスキャンタイプ設定画面(Select the desired Scan Type)をポップアップ表示する。
操作者は、図10のスキャンタイプ設定画面で、ステップA10に示すように所望の部位(Lungなど),スキャン方向(Scan Direction),回転時間(Rotation Time)を選択し、開始加速度(Start Acceleration),終了加速度(End Acceleration),スキャン幅(Scan length),スキャン回数(Scan Times)の値を選択またはキー入力して、OKするか、又は、ステップA11に示すように所望の部位(Lungなど)をダブルクリックする。
なお、スキャン方向は、順方向,逆方向,往復のいずれかを選択する。また、スキャン回数は、対応する範囲に対し順方向スキャンまたは逆方向スキャンまたは往復スキャンを繰り返す回数を選択またはキー入力する。
操作者は、図10のスキャンタイプ設定画面で、ステップA10に示すように所望の部位(Lungなど),スキャン方向(Scan Direction),回転時間(Rotation Time)を選択し、開始加速度(Start Acceleration),終了加速度(End Acceleration),スキャン幅(Scan length),スキャン回数(Scan Times)の値を選択またはキー入力して、OKするか、又は、ステップA11に示すように所望の部位(Lungなど)をダブルクリックする。
なお、スキャン方向は、順方向,逆方向,往復のいずれかを選択する。また、スキャン回数は、対応する範囲に対し順方向スキャンまたは逆方向スキャンまたは往復スキャンを繰り返す回数を選択またはキー入力する。
ステップA10に示すように操作者が所望の部位の選択などをしてOKすると、中央処理装置3は、スキャンタイプ設定画面を消し、ステップA6に戻る。
操作者がステップA11に示すように所望の部位、例えば肺(Lung)、をダブルクリックすると、ステップA12へ進む。
ステップA12では、中央処理装置3は、図11に示すスキャンパラメータ選択画面(Select the desired Parameters)をポップアップ表示する。このスキャンパラメータ選択画面では、デフォルト値または前回設定値がパラメータ値の候補として選択または設定されている。
ステップA13では、操作者は、図11のスキャンパラメータ選択画面で選択または設定されているデフォルト値または前回設定値でよければ、OKをクリックする。値を変更したい場合は、所望の値を選択またはキー入力する。例えばスライス厚(Thickness),テーブル速度(Speed),ヘリカルピッチ(Pitch)では、値を選択する。また、ノイズインデックス(Noise-Index),開始加速度(Start Acceleration),終了加速度(End Acceleration),部位名(Title)は、値をキー入力する。そして、OKをクリックする。OKをクリックすると、中央処理装置3は、スキャンパラメータ選択画面を消して、ステップA9に戻る。
ステップA12では、中央処理装置3は、図11に示すスキャンパラメータ選択画面(Select the desired Parameters)をポップアップ表示する。このスキャンパラメータ選択画面では、デフォルト値または前回設定値がパラメータ値の候補として選択または設定されている。
ステップA13では、操作者は、図11のスキャンパラメータ選択画面で選択または設定されているデフォルト値または前回設定値でよければ、OKをクリックする。値を変更したい場合は、所望の値を選択またはキー入力する。例えばスライス厚(Thickness),テーブル速度(Speed),ヘリカルピッチ(Pitch)では、値を選択する。また、ノイズインデックス(Noise-Index),開始加速度(Start Acceleration),終了加速度(End Acceleration),部位名(Title)は、値をキー入力する。そして、OKをクリックする。OKをクリックすると、中央処理装置3は、スキャンパラメータ選択画面を消して、ステップA9に戻る。
なお、「テーブル速度」/「多列X線検出器24のスライス方向の実使用幅」=「ヘリカルピッチ」の関係が成立するように各値を設定する必要がある。先の数値例では、「多列X線検出器24のスライス方向の実使用幅」=64列×0.625mm:デフォルトであるから、55(mm/rot)/40(mm)=1.375の関係が成立している。
ノイズインデックスは、自動管電流設定機能(Auto mA)使用時の断層像の画素値の標準偏差(SD)の目標値である。
ノイズインデックスは、自動管電流設定機能(Auto mA)使用時の断層像の画素値の標準偏差(SD)の目標値である。
図5に示すステップA21では、中央処理装置3は、図12に示すスカウトスキャン画面を右画面に表示する。このスカウトスキャン画面では、デフォルト値または前回設定値がパラメータ値の候補として選択または設定されている。
ステップA22では、操作者は、図12のスライススキャン画面で選択または設定されているデフォルト値または前回設定値でよければ、受諾(Accept)をクリックする。値を変更したい場合は、所望の項目を選択し、値をキー入力する。例えば部位として肺を指定していると、肺に対応する一般的な開始位置(Start Location)と終了位置(End Location)とが候補として設定されているが、所望により例えば肝臓(Liver)までを含むように終了位置の値をキー入力し、受諾(Accept)をクリックしてもよい。
ステップA22では、操作者は、図12のスライススキャン画面で選択または設定されているデフォルト値または前回設定値でよければ、受諾(Accept)をクリックする。値を変更したい場合は、所望の項目を選択し、値をキー入力する。例えば部位として肺を指定していると、肺に対応する一般的な開始位置(Start Location)と終了位置(End Location)とが候補として設定されているが、所望により例えば肝臓(Liver)までを含むように終了位置の値をキー入力し、受諾(Accept)をクリックしてもよい。
ステップA23では、中央処理装置3は、スカウトスキャンを実行する。すなわち、X線管21と多列X線検出器24とを例えば水平方向に対向させて固定し(Scout Plane = 90)、クレードル12を直線移動させながら、X線を曝射し、スカウトデータを収集する。そして、スカウトデータからスカウト画像(X線透視像)を生成し、図13に示すように、表示装置6の左画面6Lにスカウト像を表示する。このスカウト画像に重ねて、例えば部位として肺を指定していると、肺に対応する一般的な開始スライス位置Lsから終了スライス位置Leまでのスライス位置が表示されている。
また、中央処理装置3は、図14に示すように、表示装置6の右画面にスキャンパラメータ設定画面を表示する。このスキャンパラメータ設定画面では、操作者が指定した部位(例えば肺)をシャトルモードヘリカルスキャンするためのパラメータが表示されている。
また、中央処理装置3は、図14に示すように、表示装置6の右画面にスキャンパラメータ設定画面を表示する。このスキャンパラメータ設定画面では、操作者が指定した部位(例えば肺)をシャトルモードヘリカルスキャンするためのパラメータが表示されている。
ステップA24では、操作者は、スライス位置の表示をドラッグ&ドロップして、図15に示すように所望のスライス位置を設定する。これに合わせて、中央処理装置3は、設定された開始位置Lsから終了位置Leを1つの範囲として認識する。また、設定された1つの範囲を1つのグループとして認識する。
ステップA25では、操作者は、スキャンパラメータの変更及び/又は別の範囲の追加を行う。
例えば、図16に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えばノイズインデックス(Noise Index)の値をクリックすると、中央処理装置3は、図17に示す管電流設定画面(mA Control)をポップアップ表示するので、操作者は、図17に示す管電流設定画面で、例えば自動設定(Auto mA)を選択し、ノイズインデックスの値たとえば「10.00」をキー入力し、OKをクリックする。すると、中央処理装置3は、ノイズインデックスを基に、管電流を自動的に設定する。そして、図17に示す管電流設定画面を消し、図16に示すスキャンパラメータ設定画面を表示する。
また、例えば、図16に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えば厚さ・速度(Thick Speed)の値をクリックすると、中央処理装置3は、図18に示すスライス厚等設定画面(Select the desired Image Thickness)をポップアップ表示するので、操作者は、所望の値を設定/変更する。
また、例えば、図16に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えばグループ準備時間(Prep Shuttle Mode Group)をクリックすると、値をキー入力可能になるので、操作者は、所望の値をキー入力する。なお、グループ準備時間は、当該グループのスキャンを開始する前に置かれる準備時間である。初期値で「0.0」が設定されているが、これは準備時間を置かずに直ちに当該グループのスキャンを開始することを意味する。例えば、あるグループの前に実行するグループがあって、あるグループのグループ準備時間が「0.0」なら、前のグループのスキャンに引き続いて、あるグループのスキャンが実行される。もし、あるグループのグループ準備時間が「1.0」なら、前のグループのスキャンの後、1秒間止まってから、あるグループのスキャンが実行される。
また、例えば、図16に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えば厚さ・速度(Thick Speed)の値をクリックすると、中央処理装置3は、図18に示すスライス厚等設定画面(Select the desired Image Thickness)をポップアップ表示するので、操作者は、所望の値を設定/変更する。
また、例えば、図16に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えばグループ準備時間(Prep Shuttle Mode Group)をクリックすると、値をキー入力可能になるので、操作者は、所望の値をキー入力する。なお、グループ準備時間は、当該グループのスキャンを開始する前に置かれる準備時間である。初期値で「0.0」が設定されているが、これは準備時間を置かずに直ちに当該グループのスキャンを開始することを意味する。例えば、あるグループの前に実行するグループがあって、あるグループのグループ準備時間が「0.0」なら、前のグループのスキャンに引き続いて、あるグループのスキャンが実行される。もし、あるグループのグループ準備時間が「1.0」なら、前のグループのスキャンの後、1秒間止まってから、あるグループのスキャンが実行される。
さらに、図16に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、シャトルモードヘリカルスキャン・グループ追加(Add Shuttle Mode Group)をクリックすると、中央処理装置3は、図4のステップA3に戻るので、ステップA3からステップA24を繰り返して、図19に示すように次の範囲のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータを設定する。
図19に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えば管電流設定ボタン(mA)をクリックすると、中央処理装置3は、図20に示す管電流等表示画面(mA Control)を表示する。この管電流等表示画面では、各範囲(グループ)に設定されている管電流等のスキャンパラメータが表示される。ここで、例えばグループ1(Group1)をクリックすると、図17の管電流設定画面をポップアップ表示する。また、OKをクリックすると、図19のスキャンパラメータ設定画面に戻る。
図19に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、例えばスライス厚・速度設定ボタン(Thick Speed)をクリックすると、中央処理装置3は、図21に示すスライス厚等表示画面(Select the desired Image Thickness)を表示する。このスライス厚等表示画面では、各範囲(グループ)に設定されているスライス厚等のスキャンパラメータが表示される。ここで、例えばグループ1(Group1)をクリックすると、図18のスライス厚等設定画面をポップアップ表示する。また、OKをクリックすると、図19のスキャンパラメータ設定画面に戻る。
図19に示すシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定画面で、所望によりグループ追加を繰り返し、図22に示すように複数の範囲のシャトルモードヘリカルスキャンスのキャンパラメータを設定する。
スキャンパラメータの変更及び/又は別の範囲の追加を終わると、図5のステップA26へ進み、操作者は、パラメータ変化グラフィック表示,シリーズ名の登録および確認を行う。
例えば、図22のスキャンパラメータ設定画面で、パラメータ変化表示(Show Localizer)をクリックすると、中央処理装置3は、表示装置6の左画面6Lに、図23に示すようにスカウト画像と主なスキャンパラメータの変化を表示する。
例えば、図22のスキャンパラメータ設定画面で、パラメータ変化表示(Show Localizer)をクリックすると、中央処理装置3は、表示装置6の左画面6Lに、図23に示すようにスカウト画像と主なスキャンパラメータの変化を表示する。
ここで、スキャンパラメータの変化は、次のような規則で計画される。
(1)範囲内で加速・減速を行う(加速・減速中にも投影データの収集を行う)。
(2)ある範囲と別の範囲とが一部重なる場合、解像度優先(Resolution)を選択していると、小さい方のヘリカルピッチ(遅い方の直線移動速度)を優先する。逆に、低被曝優先(Low Dose)を選択していると、大きい方のヘリカルピッチ(速い方の直線移動速度)を優先する。
(3)範囲と範囲の間は、低被曝とするため、大きい方のヘリカルピッチ(速い方の直線移動速度)で直線移動する。
(4)範囲と範囲の間は、低被曝とするため、X線の照射を停止する。
(5)加速/減速は、設定された開始加速度を基本とする所定関数に基づいて計画する。
この結果、図23に示すようなヘリカルピッチおよびノイズインデックスの変化になる。
なお、図23は加速・減速の所定関数がリニアの場合であるが、図24に示すように所定関数をノンリニアにしてもよい。
(1)範囲内で加速・減速を行う(加速・減速中にも投影データの収集を行う)。
(2)ある範囲と別の範囲とが一部重なる場合、解像度優先(Resolution)を選択していると、小さい方のヘリカルピッチ(遅い方の直線移動速度)を優先する。逆に、低被曝優先(Low Dose)を選択していると、大きい方のヘリカルピッチ(速い方の直線移動速度)を優先する。
(3)範囲と範囲の間は、低被曝とするため、大きい方のヘリカルピッチ(速い方の直線移動速度)で直線移動する。
(4)範囲と範囲の間は、低被曝とするため、X線の照射を停止する。
(5)加速/減速は、設定された開始加速度を基本とする所定関数に基づいて計画する。
この結果、図23に示すようなヘリカルピッチおよびノイズインデックスの変化になる。
なお、図23は加速・減速の所定関数がリニアの場合であるが、図24に示すように所定関数をノンリニアにしてもよい。
図22のスキャンパラメータ設定画面で、確認(Confirm)をクリックすると、中央処理装置3は、表示装置6の右画面に、図25に示すシリーズ登録画面(Enter the Series Name)を表示する。そこで、操作者は、図26のシリーズ登録画面で、シリーズ名をキー入力し、OKをクリックする。すると、中央処理装置3は、設定された1つ以上のグループを1つのシリーズとして登録し、ステップA27へ進む。登録したシリーズ(パラメータ群の連鎖)は、シリーズ名を指定して呼び出すことで、再利用することが出来る。
ステップA27では、中央処理装置3は、表示装置6の右画面に、図26に示すスキャン進行画面を表示する。
ステップA28では、操作者は、図26のスキャン進行画面で、スキャン開始(Scan Start)をクリックする。すると、中央処理装置3は、データ収集処理(図3の過程2)を開始する。中央処理装置3は、図27に示すように、データ収集処理の進行状況をスキャン進行画面で表示する。
ステップA28では、操作者は、図26のスキャン進行画面で、スキャン開始(Scan Start)をクリックする。すると、中央処理装置3は、データ収集処理(図3の過程2)を開始する。中央処理装置3は、図27に示すように、データ収集処理の進行状況をスキャン進行画面で表示する。
図28は、データ収集処理(図3の過程2)の詳細を示すフロー図である。
ステップB1では、図23に示す開始点Z1をX線ビームCBが通る位置までクレードル12を低速で直線移動する。
ステップB1では、図23に示す開始点Z1をX線ビームCBが通る位置までクレードル12を低速で直線移動する。
ステップB2では、X線管21を、現在のクレードル12のz座標に応じて、計画した管電圧・管電流で駆動する。
ステップB3では、X線管21および多列X線管検出器24を、現在のクレードル12のz座標に応じて、計画した回転速度で回転する。
ステップB4では、クレードル12を、現在のクレードル12のz座標に応じて、計画したテーブル速度で加速・定速移動・減速する。
ステップB5では、投影データを収集する(加速・減速中でも収集する)。
ステップB6では、最後のグループが終わったのか否かをチェックし、終わっていなければステップB2〜B5を繰り返し、終わったならステップB7へ進む。
ステップB7では、X線管21と多列X線検出器24の回転,X線出力およびクレードル12の直線移動を停止し、処理を終了する。
ステップB3では、X線管21および多列X線管検出器24を、現在のクレードル12のz座標に応じて、計画した回転速度で回転する。
ステップB4では、クレードル12を、現在のクレードル12のz座標に応じて、計画したテーブル速度で加速・定速移動・減速する。
ステップB5では、投影データを収集する(加速・減速中でも収集する)。
ステップB6では、最後のグループが終わったのか否かをチェックし、終わっていなければステップB2〜B5を繰り返し、終わったならステップB7へ進む。
ステップB7では、X線管21と多列X線検出器24の回転,X線出力およびクレードル12の直線移動を停止し、処理を終了する。
図29は、画像再構成処理(図3の過程3)の詳細を示すフロー図である。
ステップC1では、チルト角度αと,テーブル直線移動位置zと,ビュー角度viewと,検出器列番号jと,チャネル番号iとで表わされる投影データD0(α,z,view,j,i)に対して、オフセット補正,対数変換,X線線量補正,感度補正を含む前処理を行い、投影データDin(α,z,view,j,i)とする。
ステップC2では、前処理した投影データDin(α,z,view,j,i)に対して、ビームハードニング処理を行う。ビームハードニング処理は、例えば次の多項式で表される。ここで、B0,B1,B2はビームハードニング係数である。
Dout(α,z,view,j,i)=Din(α,z,view,j,i)×(B0(j,i)+B1(j,i)×Din(α,z,view,j,i)+B2(j,i)×Din(α,z,view,j,i)2)
この時、検出器の各列ごとに独立したビームハードニング補正を行なえるため、撮影条件で各データ収集系の管電圧が異なっていれば、検出器の各列ごとの特性の違いを補正できる。
ステップC1では、チルト角度αと,テーブル直線移動位置zと,ビュー角度viewと,検出器列番号jと,チャネル番号iとで表わされる投影データD0(α,z,view,j,i)に対して、オフセット補正,対数変換,X線線量補正,感度補正を含む前処理を行い、投影データDin(α,z,view,j,i)とする。
ステップC2では、前処理した投影データDin(α,z,view,j,i)に対して、ビームハードニング処理を行う。ビームハードニング処理は、例えば次の多項式で表される。ここで、B0,B1,B2はビームハードニング係数である。
Dout(α,z,view,j,i)=Din(α,z,view,j,i)×(B0(j,i)+B1(j,i)×Din(α,z,view,j,i)+B2(j,i)×Din(α,z,view,j,i)2)
この時、検出器の各列ごとに独立したビームハードニング補正を行なえるため、撮影条件で各データ収集系の管電圧が異なっていれば、検出器の各列ごとの特性の違いを補正できる。
ステップC3では、ビームハードニング補正した投影データDout(α,z,view,j,i)に対して、z方向(列方向)のフィルタをかけるZフィルタ重畳処理を行なう。すなわち、ビームハードニング補正した投影データDout(α,z,view,j,i)に、例えば図30に示すような列方向フィルタ係数Wk(i)を列方向に掛け、投影データDcor(α,z,view,j,i)を求める。
列方向フィルタ係数wk(i)によりスライス厚を制御できる。
図31に示すように、スライスSLでは、一般的に再構成中心に比べて周辺のスライス厚が厚くなる。
そこで、図32に示すように、中心部チャネルには幅を広く変化させた列方向フィルタ係数wk(中心部チャネルのi)を用い、周辺部チャネルでは幅をせまく変化させた列方向フィルタ係数wk(周辺部チャネルのi)を用いる。これにより、図33に示すように、再構成中心でも周辺でも一様に近いスライス厚のスライスSLとすることが出来る。
図31に示すように、スライスSLでは、一般的に再構成中心に比べて周辺のスライス厚が厚くなる。
そこで、図32に示すように、中心部チャネルには幅を広く変化させた列方向フィルタ係数wk(中心部チャネルのi)を用い、周辺部チャネルでは幅をせまく変化させた列方向フィルタ係数wk(周辺部チャネルのi)を用いる。これにより、図33に示すように、再構成中心でも周辺でも一様に近いスライス厚のスライスSLとすることが出来る。
列方向フィルタ係数wk(i)でスライス厚を弱干厚くすると、アーチファクト,ノイズともに大幅に改善される。これにより、アーチファクト改善具合,ノイズ改善具合も制御できる。つまり、3次元画像再構成された断層像の画質を制御できる。
図34に示すように、列方向フィルタ係数wk(i)を逆重畳(デコンボリューション)フィルタにすることにより、薄いスライス厚の断層像を実現することも出来る。
図29に戻り、ステップC4では、再構成関数重畳処理を行う。すなわち、フーリエ変換し、再構成関数を掛け、逆フーリエ変換する。再構成関数重畳処理後の投影データをDr(α,z,view,j,i)とし、再構成関数をKernel(j)とし、コンボリューション演算を*で表すと、再構成関数重畳処理は次のように表わされる。
Dr(α,z,view,j,i)=Dcor(α,z,view,j,i)*Kernel(j)
検出器の各列ごとに独立した再構成関数Kernel(j)を用いて独立した再構成関数重畳処理を行なえるため、検出器の各列ごとのノイズ特性,分解能特性の違いを補正できる。
Dr(α,z,view,j,i)=Dcor(α,z,view,j,i)*Kernel(j)
検出器の各列ごとに独立した再構成関数Kernel(j)を用いて独立した再構成関数重畳処理を行なえるため、検出器の各列ごとのノイズ特性,分解能特性の違いを補正できる。
ステップC5では、投影データDr(α,z,view,j,i)に対して、3次元逆投影処理を行い、逆投影データD3(x,y)を求める。この3次元逆投影処理については、図35を参照して後述する。
ステップC6では、逆投影データD3(x,y)に対して、画像フィルタ重畳処理,CT値変換処理などの後処理を行い、断層像を得る。
画像フィルタ重畳処理では、画像フィルタ重畳処理後のデータをD4(x,y),断層像の中心画素に対応する検出器列番号をjとし、画像フィルタをFilter(j)とすると、
D4(x,y)=D3(x,y)*Filter(j)
となる。つまり、断層像のスライス位置ごとに独立した画像フィルタ重畳処理を行なえるため、スライス位置ごとのノイズ特性,分解能特性の違いを補正できる。
画像フィルタ重畳処理では、画像フィルタ重畳処理後のデータをD4(x,y),断層像の中心画素に対応する検出器列番号をjとし、画像フィルタをFilter(j)とすると、
D4(x,y)=D3(x,y)*Filter(j)
となる。つまり、断層像のスライス位置ごとに独立した画像フィルタ重畳処理を行なえるため、スライス位置ごとのノイズ特性,分解能特性の違いを補正できる。
図35は、3次元逆投影処理(図29のステップC5)の詳細を示すフロー図である。
ステップC51では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー(すなわち、360°分のビュー又は「180°分+ファン角度分」のビュー)中の一つのビューに着目し、再構成領域Rの各画素に対応する投影データDrを抽出する。
ステップC51では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー(すなわち、360°分のビュー又は「180°分+ファン角度分」のビュー)中の一つのビューに着目し、再構成領域Rの各画素に対応する投影データDrを抽出する。
図36に示すように、xy平面に平行な512×512画素の正方形の再構成領域Pとし、y=0のx軸に平行な画素列L0,y=63の画素列L63,y=127の画素列L127,y=191の画素列L191,y=255の画素列L255,y=319の画素列L319,y=383の画素列L383,y=447の画素列L447,y=511の画素列L511を例にとると、これらの画素列L0〜L511をX線透過方向に多列X線検出器24の面に投影した図37に示す如きラインT0〜T511上の投影データD0を抽出すれば、それらが画素列L0〜L511の投影データDrとなる。
X線透過方向は、X線管21のX線焦点と各画素と多列X線検出器24との幾何学的位置によって決まるが、投影データD0(α,z,view,j,i)のz座標が判っているため、加速・減速中の投影データD0(α,z,view,j,i)でもX線透過方向を正確に求めることが出来る。
なお、例えば画素列L0をX線透過方向に多列X線検出器24の面に投影したラインT0のように、ラインの一部が多列X線検出器24の面外に出た場合は、対応する投影データDrを「0」にする。
かくして、図38に示すように、再構成領域Pの各画素に対応する投影データDr(view,x,y)を抽出できる。
図35に戻り、ステップC52では、投影データDr(view,x,y)にコーンビーム再構成加重係数を乗算し、図39に示す如き投影データD2(view,x,y)を作成する。
ここで、コーンビーム再構成加重係数は、次の通りである。
ファンビーム画像再構成の場合は、一般に、view=βaでX線管21の焦点と再構成領域P上(xy平面上)の画素g(x,y)とを結ぶ直線がX線ビームの中心軸Bcに対してなす角度をγとし、その対向ビューをview=βbとするとき、
βb=βa+180゜−2γ
である。
再構成領域P上の画素g(x,y)を通るX線ビームとその対向X線ビームが再構成領域Pとなす角度をαa、αbとすると、これらに依存したコーンビーム再構成加重係数ωa、ωbを掛けて加算し、逆投影データD2(0,x,y)を求める。
D2(0,x,y)=ωa・D2(0,x,y)_a+ωb・D2(0,x,y)_b
ここで、D2(0,x,y)_aはビューβaでの投影データ、D2(0,x,y)_bはビューβbでの投影データとする。
なお、X線ビームとその対向X線ビームのコーンビーム再構成加重係数ωa、ωbの和は、ωa+ωb=1である。
上記のようにコーンビーム再構成加重係数ωa,ωbを掛けて加算することにより、コーン角アーチファクトを低減することが出来る。
例えば、コーンビーム再構成加重係数ωa,ωbは、次式により求めたものを用いることが出来る。
f()を関数とし、ファンビーム角をγmaxとするとき、
ga= f(π+γmax−|βa|,|tan(αa)|)
gb= f(π+γmax−|βb|,|tan(αb)|)
xa=2・gaq/(gaq+gbq)
xb=2・gbq/(gaq+gbq)
ωa=xa2・(3−2xa)
ωb=xb2・(3−2xb)
例えば、f()=max():値の大きい方を採る関数、q=1とする。
また、ファンビーム画像再構成の場合は、更に距離係数を再構成領域P上の各画素に乗算する。距離係数は、X線管21の焦点から投影データDrに対応する多列X線検出器24の検出器列j,チャネルiまでの距離をr0とし、X線管21の焦点から投影データDrに対応する再構成領域P上の画素までの距離をr1とするとき、(r1/r0)2である。
平行ビーム画像再構成の場合は、βb=βa+180゜とすれば、ファンビーム画像再構成の場合と同様である。なお、平行ビームへの変換処理であるファンパラ変換は、前処理(図29のC1)の前後、ビームハードニング補正処理(図29のC2)の前後、Zフィルタ重畳処理(図29のC3)の前後で予め行っておく。
ファンビーム画像再構成の場合は、一般に、view=βaでX線管21の焦点と再構成領域P上(xy平面上)の画素g(x,y)とを結ぶ直線がX線ビームの中心軸Bcに対してなす角度をγとし、その対向ビューをview=βbとするとき、
βb=βa+180゜−2γ
である。
再構成領域P上の画素g(x,y)を通るX線ビームとその対向X線ビームが再構成領域Pとなす角度をαa、αbとすると、これらに依存したコーンビーム再構成加重係数ωa、ωbを掛けて加算し、逆投影データD2(0,x,y)を求める。
D2(0,x,y)=ωa・D2(0,x,y)_a+ωb・D2(0,x,y)_b
ここで、D2(0,x,y)_aはビューβaでの投影データ、D2(0,x,y)_bはビューβbでの投影データとする。
なお、X線ビームとその対向X線ビームのコーンビーム再構成加重係数ωa、ωbの和は、ωa+ωb=1である。
上記のようにコーンビーム再構成加重係数ωa,ωbを掛けて加算することにより、コーン角アーチファクトを低減することが出来る。
例えば、コーンビーム再構成加重係数ωa,ωbは、次式により求めたものを用いることが出来る。
f()を関数とし、ファンビーム角をγmaxとするとき、
ga= f(π+γmax−|βa|,|tan(αa)|)
gb= f(π+γmax−|βb|,|tan(αb)|)
xa=2・gaq/(gaq+gbq)
xb=2・gbq/(gaq+gbq)
ωa=xa2・(3−2xa)
ωb=xb2・(3−2xb)
例えば、f()=max():値の大きい方を採る関数、q=1とする。
また、ファンビーム画像再構成の場合は、更に距離係数を再構成領域P上の各画素に乗算する。距離係数は、X線管21の焦点から投影データDrに対応する多列X線検出器24の検出器列j,チャネルiまでの距離をr0とし、X線管21の焦点から投影データDrに対応する再構成領域P上の画素までの距離をr1とするとき、(r1/r0)2である。
平行ビーム画像再構成の場合は、βb=βa+180゜とすれば、ファンビーム画像再構成の場合と同様である。なお、平行ビームへの変換処理であるファンパラ変換は、前処理(図29のC1)の前後、ビームハードニング補正処理(図29のC2)の前後、Zフィルタ重畳処理(図29のC3)の前後で予め行っておく。
ステップC53では、図40に示すように、予めクリアしておいた逆投影データD3(x,y)に、投影データD2(view,x,y)を画素対応に加算する。
ステップC54では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー(すなわち、360゜分のビュー又は「180゜分+ファン角度分」のビュー)について、ステップS61〜S63を繰り返し、図40に示すように、逆投影データD3(x,y)を得る。
ステップC54では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー(すなわち、360゜分のビュー又は「180゜分+ファン角度分」のビュー)について、ステップS61〜S63を繰り返し、図40に示すように、逆投影データD3(x,y)を得る。
なお、図41に示すように、再構成領域Pを円形の領域としてもよい。
実施例1のX線CT装置100によれば、判りやすいユーザインタフェース(スキャンパラメータ設定画面など)を通して、シャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチやノイズインデックスなどのスキャンパラメータを効率よく設定でき、被検体の部位または臓器ごとに最適な撮影条件で十分な画質の断層像を最適な被曝で得られるようになる。
なお、画像再構成法は、従来公知のフェルドカンプ法による3次元的画像再構成法でもよい。さらに、特開2003−334188号公報、特開2004−41675号公報、特開2004−41674号号公報、特開2004−73360号公報、特開2003−159244号公報、特開2004−41675号公報で提案されている3次元画像再構成法を用いてもよい。
また、実施例1ではグループは3つであったが、さらに多いグループの例、さらに少ないグループの例でも実施例1と同様である。
また、実施例1では、撮影視野サイズ,再構成関数,画像フィルタなどの設定を説明していないが、実施例1と同様にグループごとに設定することにより、被検体の部位または臓器ごとの画質,被曝を最適化できる。
本発明のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法およびX線CT装置は、医療現場において利用できる。
1 操作コンソール
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 表示装置
7 記憶装置
10 テーブル装置
12 クレードル
100 X線CT装置
2 入力装置
3 中央処理装置
5 データ収集バッファ
6 表示装置
7 記憶装置
10 テーブル装置
12 クレードル
100 X線CT装置
Claims (24)
- 被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1つ以上の範囲を指定する過程と、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の複数の範囲を指定する過程と、操作者が前記各範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1に記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1から請求項3のいずれかに記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンの管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1から請求項4のいずれかに記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1に記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項2に記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項3に記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項4に記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つのグループとし、1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1から請求項9のいずれかに記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記1つの範囲を1つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1から請求項10のいずれかに記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記指定した1つの範囲に対して少なくとも1つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- 請求項1から請求項11のいずれかに記載のシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法において、前記X線CTスキャンは、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集するシャトルモード可変ピッチヘリカルスキャンまたはシャトルモード可変速度ヘリカルスキャンであることを特徴とするシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータ設定方法。
- X線管と、検出器と、前記X線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのスキャンパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したX線CT装置であって、前記スキャンパラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1つ以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたヘリカルピッチを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのrスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置。
- X線管と、検出器と、前記X線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したX線CT装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の1つ以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13に記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13から請求項15のいずれかに記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンの管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力すると、入力された管電圧および管電流の少なくとも一方を前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13から請求項16のいずれかに記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてシャトルモードヘリカルスキャンのスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを入力すると、入力されたスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを前記範囲に対応するシャトルモードヘリカルスキャンのスキャンパラメータとして設定することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13に記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項14に記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項15に記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項16に記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つのグループとして1つ以上のグループからなる1つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、1つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのシャトルモードヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13から請求項21のいずれかに記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記1つの範囲を1つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13から請求項22のいずれかに記載のX線CT装置において、前記パラメータ設定手段は、前記指定された1つの範囲に対して少なくとも1つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするX線CT装置。
- 請求項13から請求項23のいずれかに記載のX線CT装置において、前記ヘリカルスキャン手段は、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集するシャトルモード可変ピッチヘリカルスキャンまたはシャトルモード可変速度ヘリカルスキャンを行うことを特徴とするX線CT装置。
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Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008142387A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2009006027A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 撮影装置および被検体移動装置 |
JP2009089760A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2009095510A (ja) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
US7756242B2 (en) | 2007-07-18 | 2010-07-13 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT apparatus and scan control method |
JP2010273782A (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2011004915A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-01-13 | Toshiba Corp | 画像撮影装置 |
JP2012170736A (ja) * | 2011-02-23 | 2012-09-10 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2013215392A (ja) * | 2012-04-09 | 2013-10-24 | Toshiba Corp | X線診断装置及びx線診断装置の制御方法 |
WO2014024857A1 (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-13 | 株式会社 日立メディコ | X線ct装置およびx線ct装置の撮影方法 |
JP2015500119A (ja) * | 2011-12-14 | 2015-01-05 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 高線量cアーチ幾何学的位置を防ぐためのリアルタイム・フィードバック |
JP2017064141A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線ct装置 |
US10939879B2 (en) | 2016-07-25 | 2021-03-09 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1834585B1 (en) * | 2006-03-15 | 2015-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | An X-ray CT apparatus, a method for changing the helical pitch, an image reconstruction processing apparatus, an image reconstruction processing method, and an image reconstruction processing program |
JP4942024B2 (ja) * | 2006-08-09 | 2012-05-30 | 富士フイルム株式会社 | 医用画像撮影方法及び医用画像撮影装置 |
US20090310740A1 (en) * | 2008-06-16 | 2009-12-17 | General Electric Company | Computed tomography method and system |
JP5330456B2 (ja) * | 2010-07-09 | 2013-10-30 | 株式会社東芝 | 医用画像診断装置及び制御方法 |
KR20130010425A (ko) | 2011-07-18 | 2013-01-28 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 장치 및 이를 이용한 엑스선 조사영역 조절방법 |
DE102012215998A1 (de) * | 2012-09-10 | 2014-03-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgengerät mit angepasster Aufnahmegeschwindigkeit |
US10383582B2 (en) * | 2013-06-18 | 2019-08-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Control device for controlling tomosynthesis imaging, imaging apparatus,imaging system, control method, and program for causing computer to execute the control method |
CN104757986A (zh) * | 2014-01-06 | 2015-07-08 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 一种x射线剂量信息呈现方法、装置和x射线扫描装置 |
JP6640527B2 (ja) * | 2014-10-31 | 2020-02-05 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線ct装置 |
CN104605881A (zh) | 2014-12-31 | 2015-05-13 | 沈阳东软医疗系统有限公司 | 一种参数优化方法及医疗设备 |
US10561391B2 (en) | 2016-08-18 | 2020-02-18 | General Electric Company | Methods and systems for computed tomography |
CN108095751B (zh) * | 2017-12-18 | 2021-02-19 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | Ct灌注扫描方法、系统及存储介质 |
JP2019158534A (ja) * | 2018-03-12 | 2019-09-19 | 株式会社ミツトヨ | 計測用x線ct装置、及び、その断層画像生成方法 |
EP3679862A1 (en) | 2019-01-09 | 2020-07-15 | Koninklijke Philips N.V. | Adaptive helical computed tomography |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2829122B2 (ja) * | 1990-11-14 | 1998-11-25 | 株式会社東芝 | 画像表示装置 |
US5412562A (en) * | 1992-04-02 | 1995-05-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Computerized tomographic imaging method and system for acquiring CT image data by helical dynamic scanning |
US5386446A (en) * | 1992-07-06 | 1995-01-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Positional adjustment of resolution in radiation CT scanner |
US5696807A (en) * | 1996-09-05 | 1997-12-09 | General Electric Company | Methods and apparatus for modulating x-ray tube current |
US6023494A (en) * | 1996-12-19 | 2000-02-08 | General Electric Company | Methods and apparatus for modifying slice thickness during a helical scan |
WO1999000054A1 (en) * | 1997-06-26 | 1999-01-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Adjustable computer tomography device |
US6275562B1 (en) * | 1998-04-28 | 2001-08-14 | General Electric Company | Apparatus and methods for performing scalable multislice computed tomography scan |
US6061420A (en) * | 1998-08-25 | 2000-05-09 | General Electric Company | Methods and apparatus for graphical Rx in a multislice imaging system |
DE69936769T2 (de) * | 1998-12-30 | 2008-04-30 | General Electric Co. | Bilddickeselektion für mehrschichtbildgerät |
US6396897B1 (en) * | 2000-04-18 | 2002-05-28 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and apparatus for selecting retrospective reconstruction parameters |
US6385278B1 (en) * | 2000-04-28 | 2002-05-07 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and apparatus for region of interest multislice CT scan |
US6418183B1 (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-09 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llp | Methods and apparatus for two-pass CT imaging |
JP4532005B2 (ja) * | 2001-03-09 | 2010-08-25 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置及びその画像表示方法 |
US6366638B1 (en) * | 2001-03-16 | 2002-04-02 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Methods and apparatus for CT scout image processing |
JP3847101B2 (ja) * | 2001-05-22 | 2006-11-15 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ct装置及び方法 |
JP2002355239A (ja) * | 2001-06-01 | 2002-12-10 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
JP4387638B2 (ja) * | 2001-07-04 | 2009-12-16 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層診断装置 |
US6904127B2 (en) * | 2001-11-21 | 2005-06-07 | General Electric Company | System and method of medical imaging having default noise index override capability |
US7103134B2 (en) * | 2001-12-28 | 2006-09-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Computed tomography apparatus |
US6587537B1 (en) * | 2002-04-01 | 2003-07-01 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Methods and apparatus for multi-slice image reconstruction |
US6775352B2 (en) * | 2002-08-16 | 2004-08-10 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and system for implementing variable x-ray intensity modulation schemes for imaging systems |
JP4393086B2 (ja) * | 2003-03-14 | 2010-01-06 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP4469555B2 (ja) * | 2003-03-28 | 2010-05-26 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
US6973158B2 (en) * | 2003-06-25 | 2005-12-06 | Besson Guy M | Multi-target X-ray tube for dynamic multi-spectral limited-angle CT imaging |
JP2005080748A (ja) * | 2003-09-05 | 2005-03-31 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 撮影条件設定方法およびx線ct装置 |
US6977984B2 (en) * | 2003-10-07 | 2005-12-20 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Methods and apparatus for dynamical helical scanned image production |
JP4300126B2 (ja) * | 2004-01-20 | 2009-07-22 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ct装置および撮像方法 |
CN1754508A (zh) * | 2004-09-30 | 2006-04-05 | 西门子(中国)有限公司 | 一种计算机断层成像检查流程的用户界面的操作方法 |
US7583781B2 (en) * | 2005-09-22 | 2009-09-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-Ray CT apparatus and method of controlling the same |
-
2005
- 2005-05-19 JP JP2005146355A patent/JP2006320523A/ja active Pending
-
2006
- 2006-05-17 US US11/435,915 patent/US20060262896A1/en not_active Abandoned
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008142387A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2009006027A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 撮影装置および被検体移動装置 |
US7756242B2 (en) | 2007-07-18 | 2010-07-13 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT apparatus and scan control method |
JP2009089760A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
US7606345B2 (en) | 2007-10-04 | 2009-10-20 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT apparatus |
JP2009095510A (ja) * | 2007-10-18 | 2009-05-07 | Toshiba Corp | X線ct装置 |
JP2010273782A (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2011004915A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-01-13 | Toshiba Corp | 画像撮影装置 |
JP2012170736A (ja) * | 2011-02-23 | 2012-09-10 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2015500119A (ja) * | 2011-12-14 | 2015-01-05 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 高線量cアーチ幾何学的位置を防ぐためのリアルタイム・フィードバック |
JP2013215392A (ja) * | 2012-04-09 | 2013-10-24 | Toshiba Corp | X線診断装置及びx線診断装置の制御方法 |
US9402589B2 (en) | 2012-04-09 | 2016-08-02 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus and method for controlling the same |
WO2014024857A1 (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-13 | 株式会社 日立メディコ | X線ct装置およびx線ct装置の撮影方法 |
JPWO2014024857A1 (ja) * | 2012-08-07 | 2016-07-25 | 株式会社日立製作所 | X線ct装置およびx線ct装置の撮影方法 |
JP2017064141A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線ct装置 |
US10939879B2 (en) | 2016-07-25 | 2021-03-09 | Canon Medical Systems Corporation | X-ray CT apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060262896A1 (en) | 2006-11-23 |
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