DE19713656A1 - Leistungshalbleitermodul - Google Patents
LeistungshalbleitermodulInfo
- Publication number
- DE19713656A1 DE19713656A1 DE19713656A DE19713656A DE19713656A1 DE 19713656 A1 DE19713656 A1 DE 19713656A1 DE 19713656 A DE19713656 A DE 19713656A DE 19713656 A DE19713656 A DE 19713656A DE 19713656 A1 DE19713656 A1 DE 19713656A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- control circuit
- circuit section
- power semiconductor
- wiring
- semiconductor module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 108
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 46
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 39
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 39
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 25
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 81
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 claims description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 abstract 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 13
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 101100346656 Drosophila melanogaster strat gene Proteins 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 4
- 229910052729 chemical element Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 241000282941 Rangifer tarandus Species 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 2
- 235000005505 Ziziphus oenoplia Nutrition 0.000 description 1
- 244000104547 Ziziphus oenoplia Species 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/16—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
- H01L25/162—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits the devices being mounted on two or more different substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32225—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/4847—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
- H01L2224/48472—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
- H01L2924/13055—Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19107—Disposition of discrete passive components off-chip wires
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S257/00—Active solid-state devices, e.g. transistors, solid-state diodes
- Y10S257/925—Bridge rectifier module
Description
eine Metallbasis,
einen Hauptschaltungsabschnitt, in welchem Leistungshalblei terelemente in Form von Chips auf einer keramischen Isolier platine angebracht sind, die thermisch mit der Metallbasis gekoppelt ist, und
einen Steuerschaltungsabschnitt, in welchem Steuerschaltungen für die Halbleiterelemente auf einem Verdrahtungssubstrat an gebracht sind, welches durch Verlegen von Verdrahtungsleitern auf einer Isolierplatine ausgebildet wird,
wobei der Hauptschaltungsabschnitt über Verbindungsvorrich tungen mit dem Steuerschaltungsabschnitt verbunden ist, und
Eingangs- und Ausgangsklemmen der Brückenschaltung von den Verbindungsleitern des Hauptschaltungsabschnitts ausgehen, und
Verbindungsklemmen der Steuerschaltungen, die an externe Ge räte angeschlossen werden sollen, von den Verdrahtungsleitern aus ausgehen.
- (a) Die Verbindungsleiter sind auf der keramischen Isolier platine gehaltert, die eine hohe Wärmeleitfähigkeit aufweist, und thermisch mit der Metallbasis gekoppelt ist, und die Halb leiterelemente sind in Form von Chips darauf angebracht, so daß die Wärmeabstrahlung zur Metallbasisseite verbessert ist; so daß sich das ergebende Modul geeignet für Anwendungen mit hoher Leistung ist;
- (b) die Eingangs- und Ausgangsklemmen für hohen Strom verlau fen einfach von dem Verbindungsleiter des Hauptschaltungsab schnitts aus, was die Arbeiten für den Zusammenbau des Moduls wesentlich vereinfacht;
- (c) die integrierten Schaltungen für Steuerschaltungen mit ge ringer Leistung sind auf dem Verdrahtungssubstrat angebracht, und die Verdrahtungsleiter sind als feines Muster ausgebildet, wodurch sich eine wesentliche Verringerung der Fläche des Steuerschaltungsabschnitts ergibt; und
- (d) der Steuerschaltungsabschnitt ist über die Verbindungs vorrichtungen mit dem Hauptschaltungsabschnitt verbunden, wo durch die Arbeit zur Herstellung der internen Verdrahtungen vereinfacht wird oder automatisiert werden kann, so daß die Herstellungskosten sinken.
- (a) Die keramische Isolierplatine, die ein hohes Wärmeleit vermögen aufweist, und thermisch eng mit der Metallbasis ge koppelt ist, haltert die Verbindungsleiter, und auf diesen werden die Halbleiterelemente in Form von Chips angebracht. Die von den Halbleiterelementen erzeugte Warme wird daher wirksam über die keramische Isolierplatine und die Metallbasis abgestrahlt, die beide einen geringen Wärmewiderstand auf weisen. Daher kann einfach ein Modul für hohe Leistung aus gebildet werden.
- (b) Die Verwendung einer Vorrichtung wie beispielsweise Kupferplatten ermöglicht es, die Eingangs- und Ausgangsklem men für hohen Strom des Hauptschaltungsabschnitts von den Verbindungsleitern ausgehen zu lassen, die von der kerami schen Isolierplatine gehaltert werden. Dieses Merkmal verein facht die Arbeit für den Zusammenbau des Moduls, und verrin gert daher entsprechend die Modulherstellungskosten.
- (c) Die integrierten Schaltungen für die Elementensteuerschal tungen mit niedriger Leistung des Steuerschaltungsabschnitts sowie die Brückensteuerschaltung sind auf dem Verdrahtungs substrat angebracht. Durch Erhöhung der Schaltungsdichte der integrierten Schaltungen, und dadurch, daß das Verdrahtungs leitermuster des Verdrahtungssubstrats klein ausgebildet wird, kann das Verdrahtungssubstrat für den Steuerschaltungsab schnitt eine verkleinerte Fläche aufweisen. Das sich ergeben de Modul weist daher verringerte Abmessungen auf, und kann daher mit geringeren Herstellungskosten hergestellt werden.
- (d) Die Verbindung des Hauptschaltungsabschnitts und des Steuerschaltungsabschnitts wird durch die Bondierungsvorrich tungen erreicht. Die Arbeit für die internen Verdrahtungen des Moduls kann daher einfach durchgeführt werden, verglichen mit dem konventionellen Modul, und es ist sogar möglich, die Arbeit für die interne Verdrahtung des Moduls automatisch durchzuführen. Diese Tatsache führt zu einer wesentlichen Verringerung der Kosten für den Zusammenbau des Moduls.
Claims (10)
eine gemeinsames Gehäuse, welches aufnimmt
eine Metallbasis,
einen Hauptschaltungsabschnitt, in welchem die mehreren Halbleiterelemente der Brückenschaltung in Form von Chips auf einer keramischen Isolierplatine angebracht sind, die thermisch mit der Metallbasis gekoppelt ist, und welche Verbindungsleiter haltert, an welche die Halbleiterelemen te angeschlossen sind, und
einen Steuerschaltungsabschnitt, in welchem die Steuer schaltungen für die Halbleiterelemente auf einem Verdrah tungssubstrat angebracht sind, welches durch Anordnung von Verdrahtungsleitern auf einer Isolierplatine gebildet wird,
wobei der Hauptschaltungsabschnitt über Bondierungsvor richtungen mit dem Steuerschaltungsabschnitt verbunden ist,
Eingangs- und Ausgangsklemmen der Brückenschaltung von den Verbindungsleitern des Hauptschaltungsabschnitts aus gehen, und
Anschlußklemmen der Steuerschaltungen, die an externe Geräte angeschlossen werden sollen, von den Verdrahtungs leitern ausgehen.
ein Schaltelement zum Einschalten und Ausschalten von Strom in dem jeweiligen Arm der Brückenschaltung, und
eine Freilaufdiode, die antiparallel an das Schaltelement angeschlossen ist.
Metallplatten mit beiden Oberflächen der keramischen Iso lierplatine in dem Hauptschaltungsabschnitt verbunden sind, und
die Metallplatte auf einer der Oberflächen der kerami schen Isolierplatine an die Metallbasis angeschweißt ist, während die Metallplatte auf der anderen Oberfläche der keramischen Isolierplatine durch Musterbildung als Ver bindungsleiter ausgebildet wird.
das Verdrahtungssubstrat in dem Steuerschaltungsabschnitt ein mehrschichtiges Verdrahtungssubstrat ist, und
dessen unterste Schicht als Abschirmleiterschicht für die Elementensteuerschaltungen verwendet wird.
der Steuerschaltungsabschnitt eine Brückensteuerschaltung aufweist, und
ein mehrschichtiges Verdrahtungssubstrat als Verdrahtungs substrat verwendet wird, so daß in diesem vergrabene Ver drahtungsleiter dazu verwendet werden, die Brückensteuer schaltung mit der Elementensteuerschaltung zu verbinden.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07974896A JP3206717B2 (ja) | 1996-04-02 | 1996-04-02 | 電力用半導体モジュール |
JP8-79748 | 1996-04-02 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19713656A1 true DE19713656A1 (de) | 1997-10-30 |
DE19713656B4 DE19713656B4 (de) | 2007-01-25 |
Family
ID=13698854
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19713656A Expired - Lifetime DE19713656B4 (de) | 1996-04-02 | 1997-04-02 | Leistungshalbleitermodul |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5942797A (de) |
JP (1) | JP3206717B2 (de) |
DE (1) | DE19713656B4 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000074446A1 (de) * | 1999-05-31 | 2000-12-07 | Tyco Electronics Logistics Ag | Intelligentes leistungsmodul |
DE10103084A1 (de) * | 2001-01-24 | 2002-08-01 | Eupec Gmbh & Co Kg | Halbleitermodul und Verfahren zu seiner Herstellung |
DE10125697A1 (de) * | 2001-05-25 | 2002-12-05 | Eupec Gmbh & Co Kg | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zum Herstellen eines Leistungshalbleitermoduls |
GB2358960B (en) * | 1998-07-31 | 2003-08-13 | Ixys Corp | Electrically isolated power semiconductor package |
DE112007002446B4 (de) * | 2006-12-27 | 2014-08-28 | Aisin Aw Co., Ltd. | Elektronische Schaltungsvorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
EP2747133A3 (de) * | 2012-12-19 | 2018-01-03 | General Electric Company | Leistungsmodulgehäuse mit Kühlflüssigkeitsbehälter |
DE102020106385A1 (de) | 2020-03-09 | 2021-09-09 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Leistungsmodul |
DE102022208580A1 (de) | 2022-08-18 | 2023-07-06 | Zf Friedrichshafen Ag | Halbbrückenmodul |
Families Citing this family (73)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19722355A1 (de) * | 1997-05-28 | 1998-12-03 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Herstellung elektrischer Baugruppen und elektrische Baugruppe |
US6060772A (en) * | 1997-06-30 | 2000-05-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Power semiconductor module with a plurality of semiconductor chips |
US5930666A (en) * | 1997-10-09 | 1999-07-27 | Astralux, Incorporated | Method and apparatus for packaging high temperature solid state electronic devices |
JPH11233712A (ja) * | 1998-02-12 | 1999-08-27 | Hitachi Ltd | 半導体装置及びその製法とそれを使った電気機器 |
SE512710C2 (sv) * | 1998-07-08 | 2000-05-02 | Ericsson Telefon Ab L M | Kapsel för högeffekttransistorchip för höga frekvenser innefattande en elektriskt och termiskt ledande fläns |
JP2000164800A (ja) * | 1998-11-30 | 2000-06-16 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体モジュール |
JP3747699B2 (ja) * | 1999-08-06 | 2006-02-22 | 富士電機デバイステクノロジー株式会社 | 半導体装置 |
US7138708B2 (en) * | 1999-09-24 | 2006-11-21 | Robert Bosch Gmbh | Electronic system for fixing power and signal semiconductor chips |
JP4622048B2 (ja) * | 1999-12-13 | 2011-02-02 | 富士電機システムズ株式会社 | 半導体装置 |
JP2001189416A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Mitsubishi Electric Corp | パワーモジュール |
EP1121009A3 (de) * | 2000-01-28 | 2004-06-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Halbleitende Baugruppe für Stromrichter-Einheiten mit Verkleinerungsanforderungen |
JP3692906B2 (ja) * | 2000-05-25 | 2005-09-07 | 日産自動車株式会社 | 電力配線構造及び半導体装置 |
JP4146607B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2008-09-10 | 三菱電機株式会社 | パワーモジュール |
JP3923716B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2007-06-06 | 株式会社東芝 | 半導体装置 |
US6867493B2 (en) * | 2000-11-15 | 2005-03-15 | Skyworks Solutions, Inc. | Structure and method for fabrication of a leadless multi-die carrier |
JP2002203942A (ja) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Fuji Electric Co Ltd | パワー半導体モジュール |
EP1221718A1 (de) | 2001-01-08 | 2002-07-10 | STMicroelectronics S.r.l. | Integriertes Leistungsbauelement mit verbesserter Effizienz und reduzierten Gesamtabmessungen |
JP3923258B2 (ja) * | 2001-01-17 | 2007-05-30 | 松下電器産業株式会社 | 電力制御系電子回路装置及びその製造方法 |
JP2002232280A (ja) * | 2001-02-06 | 2002-08-16 | Denso Corp | 負荷制御装置 |
JP2002246515A (ja) * | 2001-02-20 | 2002-08-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
EP1289014B1 (de) * | 2001-04-02 | 2013-06-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Leistungshalbleiterbauteil |
US6731002B2 (en) | 2001-05-04 | 2004-05-04 | Ixys Corporation | High frequency power device with a plastic molded package and direct bonded substrate |
US6727585B2 (en) | 2001-05-04 | 2004-04-27 | Ixys Corporation | Power device with a plastic molded package and direct bonded substrate |
KR100442847B1 (ko) * | 2001-09-17 | 2004-08-02 | 페어차일드코리아반도체 주식회사 | 3차원 구조를 갖는 전력 반도체 모듈 및 그 제조방법 |
US6774465B2 (en) * | 2001-10-05 | 2004-08-10 | Fairchild Korea Semiconductor, Ltd. | Semiconductor power package module |
US6885562B2 (en) * | 2001-12-28 | 2005-04-26 | Medtronic Physio-Control Manufacturing Corporation | Circuit package and method for making the same |
FR2839607B1 (fr) * | 2002-05-07 | 2004-09-10 | Univ Angers | Assemblage de composants de puissance sur un circuit imprime ainsi qu'un procede d'obtention d'un tel assemblage |
US7015570B2 (en) * | 2002-12-09 | 2006-03-21 | International Business Machines Corp. | Electronic substrate with inboard terminal array, perimeter terminal array and exterior terminal array on a second surface and module and system including the substrate |
EP1443554A1 (de) * | 2003-01-27 | 2004-08-04 | STMicroelectronics S.r.l. | Gehäuse für Halbleitervorrichtungen |
US7164192B2 (en) * | 2003-02-10 | 2007-01-16 | Skyworks Solutions, Inc. | Semiconductor die package with reduced inductance and reduced die attach flow out |
EP1595287B1 (de) * | 2003-02-13 | 2006-05-10 | Infineon Technologies AG | Elektronisches bauteil mit halbleiterchip und verfahren zur herstellung desselben |
US6775145B1 (en) * | 2003-05-14 | 2004-08-10 | Cyntec Co., Ltd. | Construction for high density power module package (case II) |
US6975513B2 (en) * | 2003-05-14 | 2005-12-13 | Cyntec Co., Ltd. | Construction for high density power module package |
DE102004012818B3 (de) * | 2004-03-16 | 2005-10-27 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Herstellen eines Leistungshalbleiterbauelements |
JP2006060065A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置および半導体装置の製造方法 |
JP2006253183A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Hitachi Ltd | 半導体パワーモジュール |
JP2006351934A (ja) * | 2005-06-17 | 2006-12-28 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 半導体モジュール |
WO2007005864A1 (en) * | 2005-07-01 | 2007-01-11 | King Owyang | Complete power management system implemented in a single surface mount package |
US7995356B2 (en) * | 2005-08-26 | 2011-08-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Power semiconductor module comprising load connection elements applied to circuit carriers |
CN101449371B (zh) * | 2006-05-30 | 2010-09-29 | 国产电机株式会社 | 树脂密封型半导体器件以及用该半导体器件的电子装置 |
JP5168866B2 (ja) * | 2006-09-28 | 2013-03-27 | 三菱電機株式会社 | パワー半導体モジュール |
JP2008118067A (ja) * | 2006-11-08 | 2008-05-22 | Hitachi Ltd | パワーモジュール及びモータ一体型コントロール装置 |
JP5319908B2 (ja) * | 2007-10-31 | 2013-10-16 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 回路装置 |
JP4523632B2 (ja) * | 2007-12-11 | 2010-08-11 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
US7884444B2 (en) * | 2008-07-22 | 2011-02-08 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor device including a transformer on chip |
CN101344572B (zh) * | 2008-09-04 | 2010-06-09 | 铁道部运输局 | 一种半导体功率器件斩波测试电路及方法 |
JP5454073B2 (ja) * | 2009-10-19 | 2014-03-26 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体モジュールとその制御方法 |
JP5106519B2 (ja) * | 2009-11-19 | 2012-12-26 | Necアクセステクニカ株式会社 | 熱伝導基板及びその電子部品実装方法 |
US8547709B2 (en) * | 2010-02-12 | 2013-10-01 | Cyntec Co. Ltd. | Electronic system with a composite substrate |
US8525334B2 (en) * | 2010-04-27 | 2013-09-03 | International Rectifier Corporation | Semiconductor on semiconductor substrate multi-chip-scale package |
KR101343140B1 (ko) * | 2010-12-24 | 2013-12-19 | 삼성전기주식회사 | 3d 파워모듈 패키지 |
KR101224702B1 (ko) * | 2011-07-25 | 2013-01-21 | 삼성전기주식회사 | 파워소자 패키지모듈 및 그의 제조방법 |
KR101772588B1 (ko) * | 2011-08-22 | 2017-09-13 | 한국전자통신연구원 | 클리어 컴파운드 에폭시로 몰딩한 mit 소자 및 그것을 포함하는 화재 감지 장치 |
JP5633496B2 (ja) * | 2011-09-29 | 2014-12-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP6255118B2 (ja) * | 2011-10-31 | 2017-12-27 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
DE102012201885A1 (de) * | 2012-02-09 | 2013-08-14 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Elektrisches Leistungsmodul |
WO2013118478A1 (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-15 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
CN104170075B (zh) * | 2012-03-15 | 2018-06-26 | 富士电机株式会社 | 半导体装置 |
WO2014064822A1 (ja) * | 2012-10-26 | 2014-05-01 | 株式会社日立産機システム | パワー半導体モジュールおよびこれを搭載した電力変換装置 |
DE102013223430A1 (de) * | 2013-11-18 | 2015-05-21 | BSH Hausgeräte GmbH | Vorrichtung mit einem Leistungselektronikmodul zum Versorgen eines elektrischen Verbrauchers eines Haushaltsgeräts mit elektrischer Versorgungsspannung, Haushaltsgerät und Verfahren zum Herstellen einer derartigen Vorrichtung |
KR101983160B1 (ko) * | 2013-11-29 | 2019-05-28 | 삼성전기주식회사 | 전력반도체 모듈 |
US9681558B2 (en) * | 2014-08-12 | 2017-06-13 | Infineon Technologies Ag | Module with integrated power electronic circuitry and logic circuitry |
US9986646B2 (en) * | 2014-11-21 | 2018-05-29 | Nxp Usa, Inc. | Packaged electronic devices with top terminations, and methods of manufacture thereof |
JP6770452B2 (ja) * | 2017-01-27 | 2020-10-14 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
DE112017007415B4 (de) * | 2017-04-06 | 2023-01-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleiterbauelement, Verfahren zur Herstellung desselben und Leistungswandlervorrichtung |
JP6765336B2 (ja) * | 2017-04-06 | 2020-10-07 | 三菱電機株式会社 | 電力用半導体装置およびその製造方法、ならびに電力変換装置 |
DE112017007960B4 (de) * | 2017-09-04 | 2023-06-29 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleitermodul und Leistungsumwandlungsvorrichtung |
RU184560U1 (ru) * | 2018-05-16 | 2018-10-30 | Публичное акционерное общество "Научно-производственное объединение "ЭНЕРГОМОДУЛЬ" | Силовой полупроводниковый модуль |
JP7055109B2 (ja) * | 2019-01-17 | 2022-04-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
JP6960984B2 (ja) * | 2019-12-26 | 2021-11-05 | 三菱電機株式会社 | 電子装置及びその絶縁部材 |
JP2021132080A (ja) * | 2020-02-18 | 2021-09-09 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
JP7438021B2 (ja) * | 2020-05-19 | 2024-02-26 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
EP4318554A1 (de) * | 2022-08-02 | 2024-02-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Halbleitermodul mit zumindest einer ersten halbleiteranordnung, einer zweiten halbleiteranordnung und einem kühlkörper |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4278985A (en) * | 1980-04-14 | 1981-07-14 | Gte Laboratories Incorporated | Monolithic integrated circuit structure incorporating Schottky contact diode bridge rectifier |
JPS5746662A (en) * | 1980-09-04 | 1982-03-17 | Toshiba Corp | Semiconductor rectifier |
DE3127457C2 (de) * | 1981-07-11 | 1985-09-12 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Stromrichtermodul |
JPH06101636B2 (ja) * | 1990-01-25 | 1994-12-12 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
JPH06101636A (ja) * | 1992-09-19 | 1994-04-12 | Denzaburo Nakaya | 往復動ポンプによる移送装置 |
EP0713251B1 (de) * | 1992-11-18 | 1999-01-07 | Fuji Electric Co. Ltd. | Halbleiter-Umwandlungsvorrichtung |
JP2979923B2 (ja) * | 1993-10-13 | 1999-11-22 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
US5391919A (en) * | 1993-10-22 | 1995-02-21 | International Rectifier Corporation | Semiconductor power module with identical mounting frames |
JP3411437B2 (ja) * | 1996-02-23 | 2003-06-03 | 富士電機株式会社 | 電力用半導体モジュール |
-
1996
- 1996-04-02 JP JP07974896A patent/JP3206717B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-03-26 US US08/824,390 patent/US5942797A/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-04-02 DE DE19713656A patent/DE19713656B4/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2358960B (en) * | 1998-07-31 | 2003-08-13 | Ixys Corp | Electrically isolated power semiconductor package |
WO2000074446A1 (de) * | 1999-05-31 | 2000-12-07 | Tyco Electronics Logistics Ag | Intelligentes leistungsmodul |
DE10103084A1 (de) * | 2001-01-24 | 2002-08-01 | Eupec Gmbh & Co Kg | Halbleitermodul und Verfahren zu seiner Herstellung |
US6853088B2 (en) | 2001-01-24 | 2005-02-08 | Eupec Gmbh | Semiconductor module and method for fabricating the semiconductor module |
DE10103084B4 (de) * | 2001-01-24 | 2006-08-03 | Infineon Technologies Ag | Halbleitermodul und Verfahren zu seiner Herstellung |
DE10125697A1 (de) * | 2001-05-25 | 2002-12-05 | Eupec Gmbh & Co Kg | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zum Herstellen eines Leistungshalbleitermoduls |
DE10125697B4 (de) | 2001-05-25 | 2019-01-03 | Infineon Technologies Ag | Leistungshalbleitermodul und Verfahren zum Herstellen eines Leistungshalbleitermoduls |
DE112007002446B4 (de) * | 2006-12-27 | 2014-08-28 | Aisin Aw Co., Ltd. | Elektronische Schaltungsvorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
EP2747133A3 (de) * | 2012-12-19 | 2018-01-03 | General Electric Company | Leistungsmodulgehäuse mit Kühlflüssigkeitsbehälter |
DE102020106385A1 (de) | 2020-03-09 | 2021-09-09 | Danfoss Silicon Power Gmbh | Leistungsmodul |
DE102022208580A1 (de) | 2022-08-18 | 2023-07-06 | Zf Friedrichshafen Ag | Halbbrückenmodul |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19713656B4 (de) | 2007-01-25 |
US5942797A (en) | 1999-08-24 |
JPH09275211A (ja) | 1997-10-21 |
JP3206717B2 (ja) | 2001-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19713656B4 (de) | Leistungshalbleitermodul | |
DE69635440T2 (de) | Halbleiteranordnung mit einem Schaltungssubstrat und einem Gehäuse | |
DE19939933B4 (de) | Elektronische Leistungs-Moduleinheit | |
DE102006050291B4 (de) | Elektronische Baugruppe und Verfahren, um diese zu bestücken | |
DE3420535C2 (de) | Halbleiter-Modul für eine schnelle Schaltanordnung | |
DE19601372B4 (de) | Halbleitermodul | |
DE69532700T2 (de) | Steuerschaltungsmodul | |
DE10254910B4 (de) | Schaltkreisbildende Einheit und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE102013104742B4 (de) | Verdrahtungselement und Halbleitermodul mit demselben | |
DE102012219686B4 (de) | Leistungsmodul mit geringer Streuinduktivität | |
DE102011086407A1 (de) | Leistungshalbleitermodul | |
DE102006012429A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE1933547B2 (de) | Traeger fuer halbleiterbauelemente | |
DE102007012154A1 (de) | Halbleitermodul mit Halbleiterchips und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE102012201080B4 (de) | Leistungsmodul | |
DE4031051C2 (de) | Modul mit mindestens einem Halbleiterschaltelement und einer Ansteuerschaltung | |
DE10226387B4 (de) | Schaltschaltung | |
DE19942915A1 (de) | Leistungshalbleitermodul | |
DE19924993C2 (de) | Intelligentes Leistungsmodul in Sandwich-Bauweise | |
DE102018132663A1 (de) | Schaltnetzteil | |
DE112016005807T5 (de) | Halbleitereinheit und Verfahren zur Herstellung derselben | |
DE112015001270T5 (de) | Halbleitervorrichtung und Sammelschiene | |
DE19618736A1 (de) | Anschlußblock und Steuereinheit mit Anschlußblock | |
DE10252315A1 (de) | Einrichtung zum Anschliessen elektronischer Bauteile zur Steuerung eines Elektromotors | |
DE3614087C2 (de) | Halbleitervorrichtungs-Baueinheit und Verfahren zum elektrischen Verbinden eines IC-Chips |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: FUJI ELECTRIC SYSTEMS CO., LTD., TOKYO/TOKIO, JP |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: FUJI ELECTRIC CO., LTD., JP Free format text: FORMER OWNER: FUJI ELECTRIC SYSTEMS CO., LTD., TOKYO/TOKIO, JP Effective date: 20110826 Owner name: FUJI ELECTRIC CO., LTD., KAWASAKI-SHI, JP Free format text: FORMER OWNER: FUJI ELECTRIC SYSTEMS CO., LTD., TOKYO/TOKIO, JP Effective date: 20110826 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: GRUENECKER, KINKELDEY, STOCKMAIR & SCHWANHAEUS, DE Effective date: 20110826 Representative=s name: GRUENECKER PATENT- UND RECHTSANWAELTE PARTG MB, DE Effective date: 20110826 |
|
R071 | Expiry of right |