具体实施方式
对实施本发明的优选方式进行说明。本发明具有通过独立地选择被输入的信号的上升(Rise)沿和下降(Fall)沿的传输通路,使占空比(dutyratio)可变的延迟电路串。由该延迟电路串能实现例如x.5T模式的DLL(x为1时为1.5T模式)。
即,如图3(C)所示,使从时钟信号的上升沿(C)LK延迟的数据输出DQ与时钟信号的下降(C)LK同步(参照上升传输),使从时钟信号的下降沿(C)LK的数据输出DQ的延迟与时钟信号的上升沿(C)LK同步(参照下降传输),如果能够设定这样的模式(1.5T模式),就能够缩短(最大的)传输时间。因此,就能够降低波动。
具体而言,为实施本发明的延迟电路的优选的一种方式具有:具有多级延迟单元(反相器101、102、103…、110、…)的第1延迟电路串;具有多级延迟单元(NAND111、112、113、…121、…)的第2延迟电路串;与第1延迟电路串的各级对应而设,对于是否根据分别输入的控制信号,向对应的上述第2延迟电路串的级传送上述第1延迟电路串的各级的输出延迟单元的输出(I1、I2、I3、…)进行控制的传送电路群(131、132、133、…、141、…)。第2延迟电路串的各级的延迟单元(111、112、113、…)输入与该延迟单元对应的传送电路(131、132、133…)的输出和该延迟单元的前级延迟单元(112、113、114、115、…)的输出(O1、O2、O3、O4…),把输出信号输出到后级的延迟单元或者输出端(O0)。以第1延迟电路串(反相器)的偶数级的输出(10、12、14、16)为输入的传送电路(131、133、135、137、…)的其中之一的传送电路由与该传送电路对应的控制信号(R_2、R_6、R_10.…)来选择,以第1延迟电路串的奇数级的输出(I1、I3、I5、I7、…)为输入的传送电路(132、134、136、138、…)的其中之一的传送电路由与该传送电路对应的控制信号(F_4、F_8、F_12.…)来选择,从第2延迟电路串输出的输出信号O1的上升和下降的时序,相对于输入到上述第1延迟电路串的信号I0的上升和下降,被分别设定为可变。分别供给偶数级、奇数级的传送电路的控制信号群的标号,优选的是,由温度计(サ一モメ一タ)标号构成。
在本发明另外的方式中,至少包括:具有多级延迟单元(例如图7的111~115)的延迟电路串;输入选择控制信号,被控制导通、截止的第1开关(例如图7的N12);以及,连接于上述延迟电路串的延迟单元中的与上述选择控制信号对应的级数的延迟单元的输出端,输入到上述延迟电路串中并进行传输的输入信号的上升和下降中的一方的沿在通过与上述选择控制信号对应的级数的时刻导通,把共用节点(例如图7的MFE11)设定为第1逻辑值的第2开关(例如图7的N11),还具有:接受从共用节点的第1逻辑值向第2逻辑值的跃变,生成上升或下降信号的信号生成电路(例如图7的晶体管P21、P22、反相器INV7);接受输入到延迟电路串的输入信号,以上述输入信号上升或下降的另一方的沿把上述共用节点设定为原来的第1逻辑值的控制电路(图7的例如AND2、反相器INV8、晶体管P25)。在本实施方式中,分别与延迟电路串的互不相同的级数的多个延迟单元的输出(例如图7的I1、I5)相连接的第2开关群(例如图7的N11、N51)的一端与共用节点(例如图7的MFE11)共连,在上述第2开关群的另一端与第2逻辑值对应的电源之间,设有输入选择控制信号,受导通、截止控制的第1开关群(例如图7的N12、N52)。在本实施方式中,也可以构成为:用反相电路(反相器)构成延迟电路串的延迟单元,对于奇数级的延迟单元的输出,把第2开关群和第1开关群共连于奇数级用的共用节点(MFE11、MFO11),对偶数级的延迟单元的输出,把第1开关群和第2开关群共连于偶数级用的共用节点(MRE11、MRO11),使输出的上升和下降的时序对输入的上升和下降的时序的延迟可变。
参照图8,本发明的延迟同步回路(DLL)装置的优选的一种方式具有:输入输入信号,使输入信号的上升和下降的时序可变地延迟,并将其输出的可变延迟电路10;按经上述可变延迟电路所延迟的信号的上升和下降,输出规定脉冲宽度的输出信号的多路复用电路(92);以及,对上述输入信号的上升和下降与上述输出信号的上升和下降的相位进行比较,根据上述相位比较结果,对可变延迟电路的延迟时间可变地进行控制的控制电路(12、13),多路复用电路(92)具有根据输入的模式判断信号进行切换控制的电路:或者根据从上述可变延迟电路输出的信号的上升和下降,来决定上述输出信号的上升和下降的时序,或者根据从上述可变延迟电路输出的信号的下降和上升,来决定上述输出信号的上升和下降的时序,上述控制电路根据模式判断信号,根据输入信号CLK的上升和输出信号CLK_FDB的上升、上述输入信号的下降和上述输出信号的下降的相位比较结果,使可变延迟电路(10)中的输出信号的上升的时序和下降的时序分别可变,或是,根据上述输入信号的上升和上述输出信号的上升、上述输入信号的下降和上述输出信号的下降的相位比较结果,使上述可变延迟电路中的输出信号的下降的时序和上升的时序分别可变。
在本方式中,优选的是,具有根据从鉴相器输出的相位比较结果,来判断动作模式,确定模式判断信号的值并将其输出的模式判断电路(91)。
如图14所示,在本发明另外的方式中,具有对DLL中的反馈时钟信号CLK_FDB的占空比进行检测、输出占空比检测信号的占空比检测电路(93),多路复用电路(92)根据控制动作模式的模式判断信号M_SEL进行以下切换控制,或者根据从可变延迟电路(10)输出的信号的上升和下降来决定上述输出信号的上升和下降的时序,或者根据从上述可变延迟电路输出的信号的下降和上升来决定上述输出信号的上升和下降的时序。还有,控制电路也可以构成为:具有根据占空比检测使能信号DCCen和模式判断信号M_SEL,在第1鉴相器(121)中的输入时钟信号CLK的上升和反馈时钟信号CLK_FDB的上升的第1相位比较结果PD_R0、第2鉴相器(122)中的输入时钟信号CLK的下降和反馈时钟信号CLK_FDB的下降的第2相位比较结果PD_F0以及占空比检测信号PD_DCC之中,选择输出2个的选择电路(90a),根据所选择的2个的信号,使上述可变延迟电路(10)中的输出信号的上升的时序和下降时序的延迟量分别可变。选择电路(90a)在控制信号DCCen为非激活状态时,根据模式判断信号M_SEL,按照第1相位比较结果PD_R0和第2相位比较结果PD_F0,使上述可变延迟电路(10)中的输出信号的上升的时序和下降时序的延迟量分别可变,或者,按照第2相位比较结果和第1相位比较结果,使上述可变延迟电路(10)中的输出信号的上升的时序和下降时序的延迟量分别可变。选择电路(90a)在控制信号DCCen为激活状态时,根据模式判断信号M_SEL,按照第1相位比较结果PD_R0和PD_DCC,使上述可变延迟电路(10)中的输出信号的上升的时序和下降时序的延迟量分别可变,或者,按照PD_DCC和PD_R0,使可变延迟电路(10)中的输出信号的上升的时序和下降时序的延迟量分别可变。
图18所示,在本发明另一方式中,具有:输出使延迟时间可变,使输入时钟信号的上升延迟的信号的第1延迟电路(101);输出使延迟时间可变,使输入时钟信号的下降延迟的信号的第2延迟电路(102);输入从第1延迟电路(101)输出的信号,输出对相位进行微调整后的信号的第3延迟电路(151);输入从第2延迟电路(102)输出的信号,输出对相位进行微调整后的信号的第4延迟电路(152);输入第3延迟电路的输出信号和第4延迟电路的输出信号,对其进行多路复用,每输出1个输出时钟信号,就按照输入的模式判断信号M_SEL,根据输入时钟信号CLK的上升和下降,输出分别规定了上升和下降的时序的输出时钟信号CLK_0,或者,根据输入时钟信号的上升和下降,输出分别规定了下降和上升的时序的输出时钟信号CLK_0的多路复用电路(92);根据输出时钟信号CLK_0的跃变,生成与上述输出时钟信号同相及反相的反馈时钟信号,根据模式判断信号,把一方作为反馈时钟信号CLK_FDB而选择输出的延迟调整用的仿真电路(95);对输入时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的上升沿的相位进行比较,输出正相及反相的相位比较结果,根据模式判断信号,把正相及反相的相位比较结果的一方作为第1相位比较结果PD_R0而输出的第1鉴相器(941);对上述输入时钟信号和上述反馈时钟信号的下降沿的相位进行比较,输出正相及反相的相位比较结果,根据模式判断信号,把正相及反相的相位比较结果的一方作为第2相位比较结果PD_F0而输出的第2鉴相器(942);对第1相位比较结果进行计数的第1计数器(131);对上述第2相位比较结果进行计数的第2计数器(132);根据上述第1计数器的计数输出,输出用于调整上述第1延迟电路中的上升的时序的控制信号的第1选择电路(141);根据上述第2计数器的计数输出,输出用于调整上述第1延迟电路中的下降的时序的控制信号的第2选择电路(142)。
以下,就本发明的延迟电路的实施例和DLL电路的实施例,详细进行说明。
<实施例>
图1是表示本发明的一实施例的延迟电路串的构成的图。在图1中,I0为输入,O0为输出,R_2、R_6、R_10、R_14、R_18为上升控制信号,F_4、F_8、F_12、F_16、F_20为下降控制信号。参照图1,本实施例的延迟电路具备:由多级串联连接的反相器101、102、…、110组成的第1延迟电路串;由多级串联连接的NAND电路111、112、113、…、121组成的第2延迟电路串;以及由多个NAND电路131~141组成的传送电路群。
传送电路群之中,关于NAND电路131、133、135、137,…,其第1输入端分别连接于第1延迟电路串的偶数级的输入I0、I2、I4、I6、…,其第2输入端分别连接于上升控制信号R_2、R_6、R_10、R_14、…,其输出端分别连接于第2延迟电路串的NAND电路111、113、115、117、…的第1输入端。第2延迟电路串的NAND电路111、113、115、117、…的第2输入端分别连接于前级的NAND电路112、114、116、118、…的输出O1、O3、O5、O7、…。
还有,关于NAND电路132、134、136、138、…,其第1输入端分别连接于第1延迟电路串的奇数级的输出I1、I3、I5、I7、…,其第2输入端分别连接于下降控制信号F_4、F_8、F_10、F_16、…,其输出端分别连接于第2延迟电路串的NAND电路112、114、116、118、…的第1输入端。第2延迟电路串的NAND电路112、114、116、118、…的第2输入端分别连接于前级的NAND电路113、115、117、119、…的输出O2、O4、O6、O8、…。
下降沿由控制信号F_(4×i+4)从奇数级的输出节点I1、I3、I5、…(=I2×i+1,i=0,2,3…)来选择,被输入到第2延迟电路串对应的级的NAND电路,还有,上升沿由控制信号R_(4×i+2)从偶数级的输出节点I2、I4、I6、…(=I2×i,i=0,1,2,3…)来选择,被输入到第2延迟电路串对应的级的NAND电路,上升和下降通过NAND电路而被多路复用。
上升和下降用的控制信号R_I(I=4×i+2)和F_J(J=4×i+4)(i=0,1,2…)能够独立设定,为温度计标号(Thermometer Code),即被选择的控制信号以及其后的控制信号为高电平,之前的控制信号为低电平。
在图1中,例如,如果选择第1延迟电路串的I2和I7所对应的传送电路的话(R_2为低电平,R_6、R_10、R_14…为高电平,F_4、F_8、F_12为低电平,F_16、F_20…为高电平),第2延迟电路串的各延迟单元的输出O0~O10就被设定为如图2所示的上升和下降的时序。附加在图2的动作波形的上升和下降沿上的数字,是从输入I0的上升和下降起的门的级数(构成信号的传输路径的第1延迟电路串、传送电路以及第2延迟电路串的门级数)。以下,参照图1及图2,对本实施例的电路动作进行说明。
在图1中,从输入I0输入的上升沿经反相器101反相而变为下降沿(参照图2的I1的下降“1”),再经反相器102反相而变为上升沿。由于控制信号R_6为高电平,因而NAND电路133接受节点I2从低电平向高电平的上升跃变,使其输出从高电平向低电平跃变。接受该跃变后,构成第2延迟电路串的延迟单元的NAND电路113的输出O2就从低电平跃变到高电平。即,输出O2从输入I0的上升沿起滞后4单元延迟时间的量而上升(参照图2的O2的上升“4”)。
还有,输入低电平的控制信号F_4的NAND电路132的输出被置为高电平,接受输出O2从低电平向高电平跃变后,NAND电路112的输出O1就从高电平跃变到低电平。输出O1从输入I0的上升沿起滞后5单元延迟时间的量而下降(参照图2的O1的下降“5”)。
输入低电平的控制信号R_2的NAND电路131的输出被置为高电平,接受输出O1从高电平向低电平跃变后,NAND电路111的输出O0就从低电平跃变到高电平。输出O0从输入I0的上升沿起滞后6单元延迟时间的量而上升(参照图2的O0的上升“6”)。即,从输入I0输入到第1延迟电路串的上升沿滞后了第1延迟电路串的2级延迟元件(反相器)的量的延迟时间(2×td)、信号的折返点的传送电路133的延迟时间(td)以及第2延迟电路串的3级延迟元件(NAND)的量的延迟时间(3×td)之和,总计6单元的延迟时间(6×td),而输出到输出O0。
还有,由于控制信号R_10为高电平,因而,将其作为输入的NAND电路135接受输出I4从低电平向高电平的上升跃变后,其输出就从高电平向低电平跃变,NAND电路115的输出O4就从低电平向高电平跃变。输出O4从输入I0的上升沿起滞后6单元延迟时间的量而上升(参照图2的O4的上升“6”)。
由于控制信号F_8为低电平,因而,NAND电路134的输出被置为高电平,NAND电路114接受输出O4的上升跃变后,就使其输出O3从高电平向低电平跃变。即,输出O3从输入I0的上升沿起滞后7单元延迟时间的量而下降(参照图2的O3的下降“7”)。
同样,第2延迟电路串的输出O6、O8、O10从输入I0的上升沿起分别滞后8、10、12单元延迟时间的量而上升,输出O5、O7、O9从输入I0的上升沿起分别滞后9、11、13单元延迟时间的量而下降(参照图2)。
另一方面,从输入I0输入的下降沿(参照图2的I0的下降“0”)经反相器101反相而变为上升沿(参照图2的I1的上升“1”)。再经反相器102~107反相,在I7变为上升沿。
由于控制信号F_16为高电平,因而,以输出17为输入的NAND电路138接受输出I7从低电平向高电平的上升跃变后,就使其输出从高电平向低电平跃变,NAND电路118的输出O7就从低电平向高电平跃变。输出O7从输入I0的下降沿起滞后9单元延迟时间的量而上升(参照图2的O7的上升“9”)。
由于控制信号R_14为高电平,因而,以输出I6为输入的NAND电路137接受输出I6从高电平向低电平的下降跃变后,就使其输出从低电平向高电平跃变,NAND电路116的输出O6接受输出O7从低电平向高电平D跃变后,就从高电平跃变到低电平。输出O6从输入I0的下降沿起滞后10单元延迟时间的量而下降到低电平(参照图2的O6的下降“10”)。
由于控制信号F_12为低电平,因而,以输出I5为输入的NAND电路136的输出被置为低电平,接受输出O6从高电平向低电平的跃变后,NAND电路116的输出O5就从低电平跃变到高电平。即,输出O5从输入I0的下降沿起滞后11单元延迟时间的量而上升到高电平(参照图2的O5的上升“11”)。
由于控制信号R_10为高电平,因而以输出I4为输入的NAND电路135接受输出I4从高电平向低电平的下降跃变后,就使其输出从低电平向高电平跃变,接受输出O5从低电平向高电平的跃变后,NAND电路115就使输出O4从高电平跃变到低电平。输出O4从输入I0的下降沿起滞后12单元延迟时间的量而下降到低电平(参照图2的O4的上升“12”)。
以下相同,输出O3、O1从输入I0的下降沿起分别滞后13、15单元延迟时间的量而上升到高电平。还有,输出O2、O0从输入I0的下降沿起分别滞后14、16单元延迟时间的量而下降到低电平。即,从输入I0输入到第1延迟电路串的下降沿滞后了第1延迟电路串的7级延迟元件(反相器)的量的延迟时间(7×td)、信号折返点的传送电路139的延迟时间(td)以及第2延迟电路串的8级延迟元件(NAND)的量的延迟时间(8×td)之和,总计16单元的延迟时间(16×td),而输出到输出O0。
再有,由于控制信号F_20为高电平,因而,以输出I9为输入的的NAND电路140接受输出I9从低电平向高电平的跃变后,就使其输出从高电平跃变到低电平,NAND电路120的输出O9就从低电平跃变到高电平。输出O9从输入I0的下降沿起滞后11单元延迟时间的量,而上升到高电平(参照图2的O9的上升“11”)。
由于控制信号R_18为高电平,以输出I8为输入的NAND电路139接受输出I8从高电平向低电平的跃变后,其输出就从低电平向高电平跃变,NAND电路119接受输出O9从低电平向高电平的跃变后,就使其输出O8从高电平跃变到低电平。即,输出O8从输入I0的下降沿起滞后12单元延迟时间的量,而到下降低电平(参照图2的O8的下降“12”)。
还有,由于控制信号R_22为高电平,以输出I10为输入的NAND电路141接受输出I10从高电平向低电平的跃变后,就使其输出从低电平跃变到高电平。NAND电路121以NAND电路141的输出和O11(固定电位:高电平)为输入,NAND电路121接受NAND电路141的输出的下降后,就使输出O10从高电平跃变到低电平。输出O10从输入I0的下降沿起滞后12单元延迟时间的量,而上升到高电平(参照图2的O10的下降“12”)。
如上所述,选择上升控制信号R_6(即,使R_2为低电平,R_6、R_10、R_14、R_18、R_22为高电平),选择下降控制信号F_16(使F_4、F_8、F_12为低电平,F_12、F_20为高电平),由于这样的设定,来自O1的输出信号就成为其上升离输入I0的上升为6延迟单元,下降离输入I0的下降为16延迟单元的信号而被输出。
因而,使上升控制信号(R_2、R_6、R_10、R_14、R_18、R_22)、下降控制信号(F_4、F_8、F_12、F_16、F20)的选择适当可变,就能够使来自输出O0的信号的上升对输入I0的上升的延迟时间和来自输出O0的信号的下降对输入I0的下降的延迟时间独立可变。即,就能够使脉冲宽度乃至占空比(Duty RatI0)可变。另外,在第1及第2延迟电路串中,延迟单元的级数是任意的。
图1所示的延迟电路串以简易的构成实现了1.5T模式,适用于DLL。
图4是表示采用本实施例的延迟电路串的DLL的构成之一例的图。它具有:输入输入时钟信号,使输出信号的上升和下降沿的延迟分别自由可变的第1延迟电路(粗调整延迟电路:CDL)10A;输入从第1延迟电路(CDL)10A输出的时钟信号的上升沿(O0_R和E0_R),对输出信号进行微调整的第2延迟电路(微调整延迟电路:FDL)151;输入从第1延迟电路10A输出的时钟信号的下降沿(O0_F和E0_F),对输出信号进行微调整的第3延迟电路(微调整延迟电路:FDL)152;输入第2延迟电路151的输出信号和第3延迟电路152的输出信号,对其进行多路复用而输出的多路复用器(MUX)16;接受来自多路复用器(MUX)16的时钟信号CLK_0,与该时钟信号的上升和下降沿同步,把并行输入的读出数据转换为串行数据而输出到数据输出端子DQ的多路复用器17(数据多路复用器)。另外,在图4中,标号17表示由数据多路复用器和输出缓冲器等组成的数据输出路径。它还具有:具有与多路复用器17等价的延迟时间的仿真电路(等效多路复用器)18,以输入时钟信号(CLK)和仿真电路18的输出为输入,检测两者的上升沿的相位差的第1鉴相器(PD(R))121;以输入时钟信号(CLK)和仿真电路18的输出为输入,检测两者的下降沿的相位差的第2鉴相器(PD(F))122;根据从第1鉴相器(PD(R))121输出的相位比较结果(UP/DOWN),进行递增/递减计数的第1计数器131;根据从第2鉴相器(PD(F))122输出的相位比较结果(UP/DOWN),进行递增/递减计数的第2计数器132;输出用于根据第1计数器131的计数输出,对第1延迟电路10A中的上升的时序进行调整的控制信号的第1选择电路(SEL(R))141;输出用于根据第2计数器132的计数输出,对第1延迟电路10A中的下降的时序进行调整的控制信号的第2选择电路(SEL(F))142。第2延迟电路(FDL)151由公知的相位插值器构成,该相位插值器输出与把二个信号的上升沿(O0_R,E0_R的)相位差分割后的值所对应的相位的输出信号。第3延迟电路(FDL)152由相位插值器构成,该相位插值器输出与把二个信号的下降沿(O0_F,E0_F的)相位差分割后的值所对应的相位的输出信号。关于FDL的构成之一例,可参照例如上述专利文献1的图1等。另外,也可以在仿真电路18和鉴相器121、122的输入之间插入输入缓冲器11和等价延迟时间的仿真电路。
在图4中,第1延迟电路(R/F)10A由图1所示的实施例的延迟电路串构成。如上所述,在图1中,在选择了例如控制信号R_6和F_16的例子中,在图2的动作波形中,用从输入I0的上升、下降起的门级数来表示,输入I0的上升沿和I0的下降沿的输入I0→输出O0的传输通路分别为6级、16级。即,使进行选择的控制信号可变,就能够可变地设定占空比(duty ratI0)。
这样,在采用该延迟电路串的DLL中,就能够使时钟信号CLK的上升沿所引出的来自数据输出端子DQ的数据输出与下一周期中的时钟信号CLK的下降同步,使时钟信号CLK的下降沿所引出的来自数据输出端子DQ的数据输出与下一周期中的时钟信号CLK的上升同步。
即,用1组延迟电路10A就能够实现图3(C)的1.5T模式。另外,在本实施例中,并不限于1.5T模式,而是能够实现x.5(此处,x为x>0的数)模式。
还有,为适用于采用对2级门的量(即构成延迟电路串的延迟单元的2级反相器的量)的相位差进行插值的FDL(图4的151、152)的高精度DLL,如图5所示,把2组图1的第2延迟电路串连接于由反相器串(101~110)构成的第1延迟电路串。参照图5,在该实施例中,对于具有多级延迟单元(反相器)的第1延迟电路串(101~110),具有:第1群传送电路(121~129);具有多级延迟单元(NAND电路)的第2延迟电路串(111~119)的组;第2群传送电路(141~147);具有多级延迟单元(NAND电路)的第3延迟电路串(131~137)。另外,各延迟电路串的延迟电路的级数是任意的。对于第1群传送电路(121~129)和第2群传送电路(141~147),与图1所示的构成相同,交替输入下降控制信号(F_J)和上升控制信号(R_I)。从第2延迟电路串和第3延迟电路串,从来自输入I0的上升沿和下降沿起,滞后由被选择的控制信号规定的门级数的量,而输出上升、下降的信号(O0_R、O0_F和E0_R、E0_F)。对于图4所示的延迟电路10A,适用图5的延迟电路,上升沿O0_R、E0_R和下降沿E0_R、E0_F被分别输入到图4的微调整延迟电路(FDL)151、152。图5所示的构成对电路的简化、小型化有贡献。在图5所示的延迟电路中,通过独立选择上升和下降沿的传输通路,就能够使占空比周期可变。因此,几乎不增大DLL的延迟电路串的面积和工作电流,就能够实现1.5T模式,降低波动。另外,在图5中,用虚线围着的电路块(第1延迟电路串的2级反相器,对应的第2、第3延迟电路串的2级NAND电路,以及第1、第2群传送电路的各2个传送电路)由36个晶体管构成。
图6是表示本发明又一实施例的构成的图。图6所示的电路中,由NOR电路171~181构成图1的传送电路群的NAND电路131~141,由NOR电路151~161构成第2延迟电路串的NAND电路111~121,上升控制信号/R_2、/R_6、/R_10、/R_14、/R_18,下降控制信号/F_4、/F_8、/F_12、/F_16、/R_20都以低电平为激活状态。图6所示的延迟电路串的动作与图1基本相同。
对本发明又一实施例进行说明。图7是表示本发明的粗调整延迟电路(CDL)的又一实施例的构成的图。参照图7,该实施例的粗调整延迟电路(CDL)作为多路复用器的构成:输入由多级反相延迟元件构成的延迟电路串的规定的级数的信号,根据输入的选择控制信号,在传输延迟电路串的沿之中,选择被选择的级数中的沿,将其取出并输出。另外,在图7所示的构成中,输出上升沿O0_R、E0_R和下降沿O0_R、E0_F,作为向图4的2个FDL151、152的输入。作为多路复用器的选择控制信号的上升控制信号R_5、R_7、R_9、R_11、…和下降控制信号F_4、F_6、F_8、F_10,由二进制码构成。从由反相器串101~115组成的第1延迟电路串的奇数级(I1、I3、I5、I7、…)的输出由控制信号F_j,从偶数级的输出(I2、I4、I6、…)由R_i,独立(分别)进行选择。
参照图7,本实施例的延迟电路串(CDL)具有:具有多级反相器串101~115的1个延迟电路串。并且,其栅极连接于该延迟电路串的输出I1而受导通、截止控制的N沟晶体管N11和其栅极接受控制信号F_4而受导通、截止控制的N沟晶体管N12被串联连接在地线与共用节点MFE11之间,其栅极连接于输出I5而受导通、截止控制的N沟晶体管N51和其栅极接受控制信号F_8而受导通、截止控制的N沟晶体管N52被串联连接在地线与共用节点MFE11之间,还有,其栅极连接于输出I3而受导通、截止控制的N沟晶体管N31和其栅极接受控制信号F_6而受导通、截止控制的N沟晶体管N32被串联连接在地线与共用节点MFO11之间,其栅极连接于输出I7而受导通、截止控制的N沟晶体管N71和其栅极接受控制信号F_10而受导通、截止控制的N沟晶体管N72被串联连接在地线与共用节点MFO11之间。还设有其源极通过导通状态的P沟晶体管P21而连接于电源,栅极连接于共用节点MFE11的P沟晶体管P22,P沟晶体管P22的漏极连接于共用节点MFE2,从以共用节点MFE2为输入的反相器INV7输出偶数下降信号E0_F。
设有其源极通过导通状态的P沟晶体管P23被连接于电源,栅极连接于共用节点MFO11的P沟晶体管P24,P沟晶体管P24的漏极被连接于共用节点MFO2,从以共用节点MFO2为输入的反相器INV6输出奇数下降信号O0_F。
设有以反相器INV6、INV7的输出和信号I0为输入的第2AND电路(AND2)。
在电源与共用节点MFE11、MFO11之间设有P沟晶体管P25、P26,AND2的输出由反相器INV8进行反相,输入到P沟晶体管P25、P26的栅极。
在共用节点MFE2与地线之间、共用节点MFO2与地线之间设有N沟晶体管N3、N4,AND2的输出被输入到N沟晶体管N3、N4的栅极。
输入I0从高电平下降到低电平后,再从低电平上升到高电平的话,AND2的输出就变为高电平,使N沟晶体管N3、N4、P沟晶体管P25、P26导通,使共用节点MFE11、MFO11充电,使共用节点MFE2、MFO2放电。以上为下降控制用的电路。上升控制用的电路如下所述。
其栅极连接于延迟电路串的偶数级输出I2而受导通、截止控制的N沟晶体管N21和其栅极接受控制信号R_5而受导通、截止控制的N沟晶体管N22被串联连接在地线与共用节点MRE11之间,其栅极连接于输出I6而受导通、截止控制的N沟晶体管N61和其栅极接受控制信号R_9而受导通、截止控制的N沟晶体管N62被串联连接在地线与共用节点MRE11之间。其栅极连接于输出I4而受导通、截止控制的N沟晶体管N41和其栅极接受控制信号R_7而受导通、截止控制的N沟晶体管N42被串联连接在地线与共用节点MRO11之间,其栅极连接于输出I8而受导通、截止控制的N沟晶体管N81和其栅极接受控制信号R_11而受导通、截止控制的N沟晶体管N82被串联连接在地线与共用节点MRO11之间。
设有其源极通过导通状态的P沟晶体管P11被连接于电源,栅极连接于共用节点MRE11的P沟晶体管P12,P沟晶体管P12的漏极连接于共用节点MRE2,从使以共用节点MRE2为输入的反相器INV2的输出反相的反相器INV5输出偶数上升信号E0_R。
设有其源极通过导通状态的P沟晶体管P13被连接于电源,栅极连接于共用节点MRO11的P沟晶体管P14,P沟晶体管P14的漏极连接于共用节点MRO2,从使以共用节点MRO2为输入的反相器INV1的输出反相的反相器INV5输出奇数上升信号O0_R。
设有以反相器INV1、INV2的输出和输入I0为输入的第1AND电路(AND1)。
在电源与共用节点MRE11、MRO11之间设有P沟晶体管P15、P16,AND1的输出由反相器INV3进行反相,输入到P沟晶体管P15、P16的栅极。
在共用节点MRE2与地线之间、共用节点MRO2与地线之间设有N沟晶体管N1、N2,AND1的输出被输入到N沟晶体管N1、N2的栅极。
在输入I0从低电平上升到高电平后,再下降到低电平的时刻,AND1的输出就变为高电平,使N沟晶体管N1、N2、P沟晶体管P15、P16导通,使共用节点MRE11、MRO11充电,使共用节点MRE2、MRO2放电。以上为下降的控制电路。
另外,虽未图示,不过,延迟电路串的输出I9以下的电路也构成为:通过栅极连接于相隔例如4级的奇数级的输出的晶体管和其栅极连接于控制信号的晶体管的串联电路,通过开关,而连接于共用节点MFE11、MFO11。同样,延迟电路串的输入I0以下也构成为:通过其栅极连接于相隔例如4级的偶数级的输出的晶体管和其栅极连接于控制信号的晶体管的串联电路,通过开关,而连接于共用节点MRE11、MRO11。
以下对图7所示的延迟电路串的动作之一例进行说明。例如,如果控制信号R_5为高电平,在延迟电路串中传输输入I0的上升沿的话,在传输完延迟电路串的反相器101、102的2级传输后的时刻,就通过其栅极接受输出I2的N沟晶体管N21和从其栅极输入高电平的控制信号R_5的N沟晶体管N22,使共用节点MRE11放电,其栅极接受节点MRE11的电压的P沟晶体管P12就导通,使共用节点MRE2充电至电源电位VDD,由反相器INV2反相而变为低电平,由反相器INV5反相而上升为高电平,从而获得偶数输出的上升E0_R。同样,奇数输出的上升O0_R通过选择控制信号R_7、R_11之一,由反相器INV4输出。接着,由于在同一时钟周期的输入I0的下降,AND1的输出就变为高电平,使P沟晶体管P15导通,使共用节点MRE11再充电,使节点MRE2再放电。
还有,例如,如果控制信号F_9为高电平,在延迟电路串中传输输入I0的下降沿的话,在传输完延迟电路串的反相器101~107的7级传输后的时刻,就通过其栅极接受输出I7的上升的N沟晶体管N71和从其栅极输入高电平的控制信号F_10的N沟晶体管N72,使共用节点MFE11放电,其栅极接受节点MFE11的电压的P沟晶体管P22就导通,使共用节点MFE2充电至电源电位VDD,由反相器INV7反相而变为低电平,从而获得偶数输出的下降E0_F。同样,奇数输出的下降O0_F通过选择控制信号F_6、F_10之一,由反相器INV6输出。接着,由于在同一时钟周期的输入I0的上升,AND2的输出就变为高电平,使P沟晶体管P25、P26导通,使共用节点MFE11再充电为电源电压VDD,使节点MFE2再放电为地电位。这样,通过使上升时间的相位可变,就能够使占空比可变。
如所上述,在本实施例中,能够使输出信号的上升和下降的相位独立可变,能够使占空比可变。
另外,在图7中举例说明了生成供给图4的FDL的信号的电路构成,不过,也可以采用分别选择上升沿和下降沿中的1个的电路构成。在这种情况下,采用将例如信号E0_R和E0_F输出的电路构成。
将上述各实施例的延迟电路用作图4的延迟电路10A,就能够实现1.5模式。即,能够对DDRII/I-SDRAM等半导体存储装置的消耗电流、芯片面积的减小作出贡献。
另外,对上述实施例的延迟电路串的输入I0,例如,输入来自源频率合成器(PLL)的基准时钟信号,使时钟的跃变沿的时序改变,就能够使频率瞬间可变,实现频率调制。或是,当然也可以用作将上升、下降时间设定为对于基准信号可变的各种信号发生装置。
图8是表示本发明又一实施例的构成的图。对于与图22所示的元件相同的元件,标以相同的参照标号。略去对与图22所示的现有的DLL电路相同的元件的说明。
第1鉴相器(P/D(R))121对输入时钟信号CLK的上升和DLL电路的反馈时钟信号CLK_FDB(称为“内部时钟信号”)的上升的相位进行比较,把第1相位比较结果信号PD_R0输出到选择器90。
第2鉴相器(P/D(F))122对输入时钟信号CLK的下降和反馈时钟信号CLK_FDB的下降的相位进行比较,把第2相位比较结果信号PD_F0输出到选择器90。
选择器90将从模式判断电路91输出的模式判断信号M_SEL,作为切换控制信号输入,对于把第1相位比较结果信号PD_R0供给第1、第2计数器131、132中的哪一个进行选择。选择器90所进行的控制是,把第2相位比较结果信号PD_F0供给不同于第1相位比较结果信号PD_R0的输出目的地的计数器。
模式判断电路91根据输入的模式锁存信号LAT,取入第1相位比较结果信号PD_R0,和/或第2相位比较结果信号PD_F0,再根据一方或两方的组合,决定动作模式,并输出模式判断信号M_SEL。
在本实施例中,当模式判断信号M_SEL为高电平时,作为1.5T模式;当模式判断信号M_SEL为低电平时,作为1T模式。
第1微调整延迟电路151按控制信号所规定的延迟时间的量来延迟从缓冲器11输出的时钟信号的上升沿,输出以单元相位的量(例如2级反相器的量)互不相同的相位而上升的1对信号O0_R、E0_R。第2微调整延迟电路152按控制信号所规定的延迟时间的量来延迟从缓冲器11输出的时钟信号的下降沿,输出以单元相位的量(例如2级反相器的量)互不相同的相位而上升的1对信号O0_F、E0_F。
多路复用电路92具有对从第1微调整延迟电路151输出的信号CLK_R和从第2微调整延迟电路152输出的信号CLK_F进行复用,生成1个时钟信号CLK_0的多路复用器和选择电路(都未图示),选择电路所进行的控制是:根据输入的模式判断信号M_SEL,对规时序钟信号CLK_0的上升和下降沿的输入信号的沿的组进行切换。即,时钟信号CLK_0的上升的时序由选择电路根据输入的模式判断信号M_SEL在信号CLK_R与信号CLK_0之中所选择的一方信号的跃变来决定,时钟信号CLK_0的下降的时序由信号CLK_R与信号CLK_0之中的另一方信号的跃变来决定。
以下对图9的选择器90、多路复用电路92以及模式判断电路91的构成之一例进行说明。
图9是表示选择器90的构成之一例的图。它具有从第1、第2输入端子输入第1相位比较结果信号PD_R0、第2相位比较结果信号PD_F0的多路复用器901、902。模式判断信号M_SEL为低电平时,多路复用器901把输入到第1输入端子的第1相位比较结果信号PD_R0作为输出信号PD_R而选择输出,多路复用器902把输入到第2输入端子的第2相位比较结果信号PD_F0作为输出信号PD_F而选择输出。模式判断信号M_SEL为高电平时,多路复用器901把输入到第2输入端子的第2相位比较结果信号PD_F0作为输出信号PD_R而选择输出,多路复用器902把输入到第1输入端子的第1相位比较结果信号PD_R0作为输出信号PD_F而选择输出。
图10是表示多路复用电路92的构成的图。如图10所示,多路复用电路92具有:从第1及第2输入端子输入从第1微调整延迟电路151输出的信号CLK_R和从第2微调整延迟电路152输出的信号CLK_F的二个多路复用电路921、922;以及,从置位端子输入多路复用电路921的输出,从复位端子输入多路复用电路922的输出的SR触发器923。
模式判断信号M_SEL为低电平时,多路复用电路921选择输出被输入到第1输入端子的信号CLK_R,多路复用电路922选择输出被输入到第2输入端子的信号CLK_F。SR触发器923由来自多路复用电路921的输出的上升来置位,并把输出CLK_0置为高电平;由来自多路复用电路922的输出的上升来复位,并把输出CLK_0置为低电平。
即,多路复用电路92输出由信号CLK_R和CLK_F的上升规定了上升和下降的时钟脉冲信号CLK_0。
模式判断信号M_SEL为高电平时,多路复用电路921选择输出第2输入端子所输入的信号CLK_F,多路复用电路922选择输出第1输入端子所输入的信号CLK_R。SR触发器923由来自多路复用电路921的输出的上升沿(信号CLK_F的上升沿)来置位,并把输出时钟信号CLK_0置为高电平;由来自多路复用电路922的输出的上升沿(信号CLK_R的上升沿)来复位,并把输出时钟信号CLK_0置为低电平。即,多路复用电路92输出由信号CLK_F的上升沿(使输入时钟信号CLK的下降延迟后的信号)和信号CLK_R上升沿(使输入时钟信号CLK的上升延迟后的信号)规定了上升和下降的时钟脉冲信号CLK_0。
如上所述,多路复用电路92在以下模式之间进行切换:模式判断信号M_SEL为低电平时,从由第1微调整延迟电路151输出的信号CLK_R的上升沿(因而,输入时钟信号CLK的上升沿)起,生成输出信号CLK_0的上升沿,从由第2微调整延迟电路152输出的信号CLK_F的上升沿(因而,输入时钟信号CLK的下降)起,生成信号CLK_0的下降沿的模式(1T模式);模式判断信号M_SEL为高电平时,从由第1微调整延迟电路151输出的信号CLK_R的上升沿(因而,输入时钟信号CLK的上升沿)起,生成输出信号CLK_0的下降沿,从由第2微调整延迟电路152输出的信号CLK_F的下降沿(因而,输入时钟信号CLK的下降沿)起,生成信号CLK_0的上升沿的模式(1.5T模式)。
图11是表示模式判断电路91的构成之一例的图。模式判断电路91由D型触发器911构成。以模式锁存信号LAT的上升对相位比较结果信号PR_R0进行取样,将其作为模式判断信号M_SEL而输出。模式锁存信号LAT采用在装置的电源启动时或者复位时等初始动作时,由DLL电路外部的通电复位电路等所生成的单脉冲。
图12及图13是用于说明图8所示的本实施例的动作的时序图。图12是表示模式判断信号M_SEL为低电平时的动作的时序图,与参照图3(A)说明的1T模式的动作对应。
参照图12及图8,说明本实施例的1T模式的动作。动作之初(初始动作时),时钟信号CLK_FDB从时钟信号CLK起以电路内的固有延迟的量滞后而生成。第1鉴相器121对时钟信号CLK_FDB的上升沿和时钟信号CLK的相位进行比较,作为第1相位比较结果信号PD_R0,如果时钟信号CLK_FDB对时钟信号CLK相位滞后,就输出高电平作为相位比较结果信号PD_R0;如果相位超前,就输出低电平作为相位比较结果信号PD_R0。
在DLL动作初始时的初始化动作中,模式锁存信号LAT作为单触发脉冲而被输出,模式判断电路91对第1相位比较结果信号PD_R0进行锁存,输出模式判断信号M_SEL。
在图12所示的例子中,模式锁存信号LAT输出时(单触发脉冲上升时),第1相位比较结果信号PD_R0为低电平。即,如图12所示,反馈输入到鉴相器121的时钟信号CLK_FDB,在作成该时钟信号CLK_FDB的上升沿的时钟信号CLK的下一周期的时钟信号CLK的上升的时序的前方上升。因而第1鉴相器121输出低电平,作为第1相位比较结果信号PD_R0。因此,在模式锁存信号LAT的上升沿对第1相位比较结果信号PD_R0进行取样的模式判断电路91输出低电平,作为模式判断信号M_SEL,成为1T模式。在1T模式中,选择器90把第1相位比较结果信号PD_R0输出到第1计数器(R)131,把第2相位比较结果信号PD_F0输出到第2计数器(F)132。
根据来自第1计数器(R)131的控制信号,对把延迟时间设定为可变的第1粗调整延迟电路(CDL(R))101控制延迟量,使反馈时钟信号CLK_FDB的上升与输入时钟信号CLK的上升相位相合。还有,根据来自第2计数器(F)132的控制信号,对把延迟时间设定为可变的第2粗调整延迟电路(CDL(F))102控制延迟量,使反馈时钟信号CLK_FDB的下降与时钟信号CLK的下降相位相合。
第1微调整延迟电路(FDL(R))151根据从第1粗调整延迟电路(CDL(R))101输出的2个的信号O0_R、E0_R的上升沿的相位差,输出上升的相位被微调整后的输出信号CLK_R。
第2微调整延迟电路(FDL(F))152根据从第2粗调整延迟电路(CDL(F))102输出的2个的信号O0_F、E0_F的上升沿的相位差,输出上升的相位被微调整后的输出信号CLK_F。
多路复用电路92进行以下切换控制:把由第1微调整延迟电路(FDL(R))151进行延迟调整后的时钟信号CLK_R的上升的时序用于时钟信号CLK_0的上升,把由第2微调整延迟电路(FDL(F))152进行延迟调整后的时钟信号CLK_F的上升的时序用于时钟信号CLK_0的下降。并且,反馈输入到鉴相器121的反馈时钟信号CLK_FDB的下降沿由第1粗调整延迟电路(CDL(R))101调整延迟量,使得在1T模式下与例如下一周期的时钟信号CLK的上升沿相合;反馈时钟信号CLK_FDB的下降沿由第2粗调整延迟电路(CDL(F))102调整延迟量,使得在1T模式下与例如下下周期的时钟信号CLK的下降沿相合。
图13是表示在图8所示的电路中,模式判断信号M_SEL为高电平时的动作的时序图,与参照图3(C)说明的1.5T模式的动作对应。与图12所示的1T模式相比,时钟信号CLK的周期变短。参照图13及图8,说明在本实施例中的1.5T模式下的动作。
与1T模式时相同,例如在DLL电路的初始化动作中,只输出1次模式锁存信号LAT,模式判断电路91锁存第1相位比较结果信号PD_R0,输出模式判断信号M_SEL。
在这种情况下,在模式锁存信号LAT上升跃变时,第1相位比较结果信号PD_R0为高电平。即,如图13所示,由于时钟信号的周期短,因而反馈输入到鉴相器121的反馈时钟信号CLK_FDB滞后于变为作成该时钟信号CLK_FDB的元信号的输入时钟信号CLK的下一周期的输入时钟信号CLK的上升而上升。相位比较结果信号PD_R0被置为高电平,模式判断电路91输出高电平,作为模式判断信号M_SEL,从而变为1.5T模式。
在1.5T模式中,选择器90根据高电平的模式判断信号M_SEL进行切换:把第1相位比较结果信号PD_R0输出到第2计数器(F)132,把第2相位比较结果信号PD_F0输出到第1计数器(R)131。
第1粗调整延迟电路(CDL(R))101根据从第1计数器(R)131输出的控制信号,控制延迟时间,使反馈时钟信号CLK_FDB的下降与时钟信号CLK的上升相位相合;第2粗调整延迟电路(CDL(F))102根据从第2计数器(F)132输出的控制信号,控制延迟时间,使反馈时钟信号CLK_FDB的上升与时钟信号CLK的下降相位相合。即,在1.5T模式中,第1计数器(R)131根据来自对反馈时钟信号CLK_FDB和输入时钟信号的下降的相位差进行检测的第2鉴相器122的第2相位比较结果信号PD_F0,使第1粗调整延迟电路(CDL(R))101的延迟时间可变;第2计数器(R)132根据来自对反馈时钟信号CLK_FDB和输入时钟信号的上升的相位差进行检测的第1鉴相器121的第1相位比较结果信号PD_R0,使第2粗调整延迟电路(CDL(F))102的延迟时间可变。
多路复用电路92用由第2微调整延迟电路(FDL(F))152进行延迟调整后的时钟信号CLK_F,生成时钟信号CLK_0的上升;用由第1微调整延迟电路(FDL(R))151进行延迟调整后的时钟信号CLK_R,生成时钟信号CLK_0的下降。
输出时钟信号CLK_0的下降的时序由第1粗调整延迟电路(CDL(R))101和第1微调整延迟电路(FDL(R))151进行调整,输出时钟信号CLK_0的上升的时序由第2粗调整延迟电路(CDL(F))102和第2微调整延迟电路(FDL(F))152进行调整。第1粗调整延迟电路(CDL(R))101根据第2鉴相器122的输出PD_F0(输入时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的下降的相位检测结果)来设定延迟量,第2粗调整延迟电路(CDL(F))102根据第1鉴相器121的输出PD_R0(输入时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的上升的相位检测结果)来设定延迟量。
与现有半导体存储装置中仅有1T模式或2T模式的情况相比,根据本实施例,如图13所示,由1.5T模式可把从时钟信号CLK的下降到反馈时钟信号CLK_FDB的上升的延迟量缩短半时钟周期的量。因此,就能够降低由噪音所造成的延迟变动,即波动。
图11所示的模式判断电路91构成为:为实现最低功能,仅用相位比较信号PD_R0进行模式判断。但是,在本实施例中,模式判断电路91当然不限于这种构成。模式判断电路91也可以构成为:对第1相位比较结果信号PD_R0和第2相位比较结果信号PD_F0的逻辑“或”进行锁存。或者,也可以构成为:通过对第1、第2相位比较结果信号PD_R0、PD_F0与其它控制信号进行规定的逻辑运算,来进行模式判断。
图14是表示本发明的DLL电路另一实施例的构成的图。如图14所示,本实施例在图8所示的实施例的构成中还包括占空比检测电路(DCC)93。
占空比检测电路(DCC)93以反馈时钟信号CLK_FDB为输入,检测占空比,把占空比检测信号PD_DCC输出到选择器90a。
选择器90a由从模式判断电路91输出的模式判断信号M_SEL和输入的使占空比检测结果有效的DCC使能信号DCCen进行控制,从第1、第2相位比较结果信号PD_R0、PD_F0和检测信号PD_DCC选择2个信号,传递到第1计数器(R)131和第2计数器(F)132。
图15是表示图14的选择器90a的构成之一例的图。参照图15,选择器90a具有以第1、第2输入端子的第1、第2相位比较结果信号PD_R0、PD_F0为输入的二个的多路复用器901、902,多路复用器901、902在模式判断信号M_SEL为低电平时,分别选择输出PD_R0、PD_F0。还具有:以模式判断信号M_SEL和DCC使能信号DCCen为输入的AND电路903;以模式判断信号M_SEL的反相信号和DCC使能信号DCCen为输入的AND电路904;以从第1和第2输入端子经多路复用器901的输出和占空比检测信号PD_DCC为输入的多路复用器905;以及,以从第1和第2输入端子经多路复用器902的输出和占空比检测信号PD_DCC为输入的多路复用器906。
图16是表示图14的占空比检测电路(DCC)93的构成之一例的图。参照图16,占空比检测电路(DCC)93具有:例如在反馈时钟信号CLK_FDB为高电平期间,对未图示的电容(也可以是内部节点,例如栅极电容等)进行充电,在反馈时钟信号CLK_FDB为低电平期间,对该电容的积蓄进行放电的充电泵电路931;以及,对充电泵电路931的电容的端子电压与规定的基准电压进行比较,判断是高还是低,将其结果作为占空比检测信号PC_DCC而输出的比较电路932。或者,作占空比检测电路(DCC)93另一构成可以是:在反馈时钟信号CLK_FDB为高电平期间,使第1电容(也可以是内部节点,例如栅极电容等)放电(充电);在反馈时钟信号CLK_FDB为低电平期间,使电容值与第1电容相同的第2电容放电(充电),判断二个电容中哪个是高电平,哪个是低电平,并输出占空比检测信号PC_DCC。当然,占空比检测电路(DCC)93也可以用其他任意公知的电路构成。
DCC使能信号DCCen、模式判断信号M_SEL为高电平(1.5T模式)时,多路复用器905选择PD_DCC。此外,多路复用器905选择输出多路复用器901的输出。
DCC使能信号DCCen为高电平、模式判断信号M_SEL为低电平时,多路复用器906选择PD_DCC。此外,第4多路复用器909选择输出多路复用器902的输出。
在本实施例中,使DCC使能信号DCCen=低电平,占空比检测电路93为非激活时,选择器90a就使多路复用器905、906将多路复用器901、902的输出照原样输出,作为信号PD_R、PD_F,与图9所示的选择器90相同,进行与参照图8说明的实施例相同的动作。
在本实施例中,如果采用占空比检测电路93,即如果DCC使能信号DCCen=高电平,就进行调整,使反馈时钟信号CLK_FDB的上升的相位与时钟信号CLK的上升相合,由于采用占空比检测结果信号PD_DCC,就自动地进行占空比的补正。
也可以使反馈时钟信号CLK_FDB的下降的相位与时钟信号CLK的下降相合,对于时钟信号CLK的上升,用占空比检测结果信号PD_DCC来补正占空比。
在现有的DDR存储器中,是使时钟信号CLK_FDB的相位与时钟信号CLK的上升和下降的两沿相合。
但是,在需要更高速动作的情况下,预计时钟信号CLK的占空比的控制将会变得很困难。因此,占空比补正功能是必要的。
以下说明本实施例的动作。DCC使能信号DCCen为低电平时的动作,与图8所示的实施例的动作相同。即,在图15的选择器90a中,AND电路903、904的输出变为低电平,进行与图9的选择器90相同的工作。
DCC使能信号DCCen为低电平,且模式判断信号M_SEL为低电平(1T模式)时,把第1相位比较结果信号(PD_R0)用于第1粗调整延迟电路(CDL(R))101的控制,把第2相位比较结果信号(PD_F0)用于第2粗调整延迟电路(CDL(F))102的控制,用第1粗调整延迟电路(CDL(R))101来调整反馈时钟信号CLK_FDB的上升的时序,用第2粗调整延迟电路(CDL(F))102来调整反馈时钟信号CLK_FDB的下降的时序。
DCC使能信号DCCen为低电平,且模式判断信号M_SELL为高电平(1.5T模式)时,把第2相位比较结果信号PD_F0用于第1粗调整延迟电路(CDL(R))101的控制,把第1相位比较结果信号PD_R0用于第2粗调整延迟电路(CDL(F))102的控制,用使输入时钟信号CLK的下降延迟的第2粗调整延迟电路(CDL(F))102来调整时钟信号CLK_FDB的上升的时序,用使输入时钟信号CLK的上升延迟的第1粗调整延迟电路(CDL(R))101来调整时钟信号CLK_FDB的下降的时序。
DCC使能信号DCCen为高电平,且模式判断信号M_SEL为低电平(1T模式)时,AND电路903的输出变为低电平,AND电路904的输出变为高电平,多路复用器905以多路复用器901的输出,即以第1相位比较结果信号(PD_R0)作为输出信号PD_R而输出,多路复用器906将PD_DCC作为输出信号PD_F而输出。即,把第1相位比较结果信号(PD_R0)用于第1粗调整延迟电路(CDL(R))101的控制,把占空比检测结果信号PD_DCC用于第2粗调整延迟电路(CDL(F))102的控制。用第1粗调整延迟电路(CDL(R))101来调整时钟信号CLK_FDB的上升的时序,用第2粗调整延迟电路(CDL(F))102来调整时钟信号CLK_FDB的下降的时序。
DCC使能信号DCCen为高电平,且模式判断信号M_SEL为高电平(1.5T模式)时,AND电路903的输出变为高电平,AND电路904的输出变为低电平,多路复用器905将PD_DCC作为输出信号PD_R而输出,多路复用器906以多路复用器902的输出,即以第1相位比较结果信号(PD_R0)作为输出信号PD_F而输出。即,把占空比检测结果信号PD_DCC用于第1粗调整延迟电路(CDL(R))101的控制,把第1相位比较结果信号(PD_R0)用于第2粗调整延迟电路(CDL(F))102的控制。用第2粗调整延迟电路(CDL(F))102来调整反馈时钟信号CLK_FDB的上升的时序,用第1粗调整延迟电路(CDL(R))101来调整时钟信号CLK_FDB的下降的时序。
根据上述控制,在附加了占空比检测电路93带来的占空比调整功能的情况下,也能实现1T模式、1.5T模式的动作。
图17从图14的构成中去掉鉴相器(P/D(F))122,把来自占空比检测电路93的占空比检测结果信号PD_DCC用于下降侧的调整。
在图14及图15所示的构成中,把占空比检测结果信号PD_DCC连接于选择器90a的输入端子PD_F0,通过这样的变更,使其与通常DCCen为高电平时的动作相同。该实施例的动作与参照图14及图15说明的上述实施例中DCCen=高电平时的动作相同。
图18是表示本发明又一实施例的构成的图。在本实施例中,去掉了上述实施例中所用的选择器90a,使鉴相器941、942的输出电平能够反相,使作为比较对照的反馈时钟信号CLK_FDB也能反相,使得能够根据模式判断结果M_SEL,自由切换为与时钟信号的上升或下降的任意一方进行比较。
图19是表示图18的第1鉴相器941的构成的图。参照图19,第1鉴相器941具有:对输入时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的相位差进行检测,输出互补(正相及反相)的相位比较结果信号的鉴相器(PD)941;以及,用模式判断信号M_SEL选择从鉴相器941输出的、正相及反相的相位比较结果信号中的任意一方,并将其作为相位比较结果信号PR_R0而输出的多路复用器942。第2鉴相器942的构成也相同。但在第2鉴相器942中,输入反馈时钟信号CLK_FDB的反相信号,输出相位比较结果信号PD_F0。
在模式判断信号M_SEL为低电平时,第1、第2鉴相器941、942分别把正相相位比较结果信号作为PD_R0、PD_F0而输出;在模式判断信号M_SEL为高电平时,第1、第2鉴相器941、942分别把反相相位比较结果信号作为PD_R0、PD_F0而输出。
图20是表示仿真电路95(缓冲与开关电路)的构成的图。根据时钟信号CLK0的沿,缓冲电路951生成上升、下降的信号,多路复用器952用模式判断信号M_SEL选择某一方。在模式判断信号M_SEL为低电平时,多路复用器952选择上升沿,将其作为信号CLK_FDB而输出;在模式判断信号M_SEL为低电平时,多路复用器952选择下降沿,将其作为信号CLK_FDB而输出。
在模式判断信号M_SEL为低电平时,第1、第2鉴相器941、942把时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的上升沿的相位比较结果PD_R0、时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的下降沿的相位比较结果PD_F0分别输出到第1、第2计数器131、132,第1、第2计数器131、132对第1、第2粗调整延迟电路101、102的延迟时间进行调整,多路复用电路92根据用第1、第2粗调整延迟电路101、102、第1、第2微调整延迟电路151、152对输入时钟信号CLK的上升和下降沿进行延迟调整后的信号,输出规定了上升和下降的信号CLK_0。作为输入缓冲器及输出缓冲器的仿真电路的缓冲/开关95在模式判断信号M_SEL为低电平时,把在信号CLK_0的上升沿上升的信号作为CLK_FBD而输出。
在模式判断信号M_SEL为高电平时,第1、第2鉴相器941、942把时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的上升沿的相位比较结果信号的反相信号PD_R0、时钟信号CLK和反馈时钟信号CLK_FDB的下降沿的相位比较结果的反相信号PD_F0分别输出到第1、第2计数器131、132。根据第1、第2计数器131、132的计数值,对第1、第2粗调整延迟电路101、102中的上升沿的延迟量和下降沿的延迟量进行调整。
多路复用电路92根据输入时钟信号CLK的下降(第2微调整延迟电路152的输出),输出上升的输出时钟信号CLK_0;根据输入时钟信号CLK的上升(第2微调整延迟电路151的输出),输出下降的输出时钟信号CLK_0。
作为在DLL电路的反馈回路中构成对DLL电路的输入缓冲器11及输出缓冲器17等的延迟时间进行补偿的仿真电路的缓冲/开关95,在模式判断信号M_SEL为高电平时,选择缓冲器951的反相输出,把在输出时钟信号CLK_0的上升沿下降、在输出时钟信号CLK_0的下降沿上升的信号作为反馈时钟信号CLK_FDB而输出。反馈时钟信号CLK_FDB与由输入时钟信号的下降和上升分别规定为上升和下降的输出时钟信号CLK_0反相。
根据该构成,就能够实现以下模式的切换:对第1粗调整延迟电路(CDL(R))101中的延迟量进行调整,使反馈时钟信号CLK_FDB的上升沿与输入时钟信号CLK的上升相位相合,对第2粗调整延迟电路(CDL(F))102中的延迟量进行调整,使反馈时钟信号CLK_FDB的下降沿与输入时钟信号CLK的下降相位相合的模式;以及,对第2粗调整延迟电路(CDL(F))102中的延迟量进行调整,使反馈时钟信号CLK_FDB的上升与输入时钟信号CLK的下降相位相合,对第1粗调整延迟电路(CDL(R))101中的延迟量进行调整,使反馈时钟信号CLK_FDB的下降(根据输出时钟信号CLK_0的上升而生成)与输入时钟信号CLK的上升相位相合的模式。
以上就上述实施例已对本发明进行了说明,当然,本发明并不仅限于上述实施例的构成,而是包括本领域人员在本发明的原理的范围内所能做的各种变形、修正。