TWI345751B - Control-device with improved test-properties - Google Patents

Description

1345751 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明渉及一種光電子裝置之測試及一種爲進行此種測 試而修改之光電子裝置。該光電子裝置特別是具有一種顯示 裝置（其包含顯像點）之形式。本發明特別是涉及一種控制電 子裝置以控制該光電子裝置，一種測試接觸面配置及測試該 光電子裝置（特別是具有顯像點之顯示器形式者）之方法。 液晶顯示器（LCD)和其它顯示元件（其使用開關元件，例如 ，薄膜電晶体（TFT))之需求隨著無顯像管之螢幕元件之逐漸 增加之需求而增加。在這些顯示元件中以矩陣方式配置各顯 像點（其稱爲像素）。 每一像素之開關元件通常由控制線（即，閘極線和資料線） 所控制。爲了防止各顯像元件被充電，則各控制線在製造期 間以短路條來短路。否則顯像元件充電時會使開關元件或所 屬之像素被破壞。 此外，亦進行如下所述之發展：除了各顯像元件之外，周 邊之驅動電路亦直接配置在玻璃基板上。這樣可使各顯示元 件之外部控制簡化。此種具有整合式驅動電路之顯示裝置已 描述在文件DE 1 9832297中。在此種情況下圖像控制所需之 接觸面之數目可下降。無此種驅動電路時，每一條控制線都 須具有一可接觸之面，以便在操作時可控制各圖像。可藉由 外部控制器來接觸之面亦稱爲”墊（Pad ) ”。 爲了確保各顯示元件有良好之圖像品質，則例如數百萬像 素中只能允許很少數之像素有缺陷。爲了確保生產時之成本 1345751 較有利，則主要是對通常會變大之各顯示元件而言重要的是 v :使用各種有效率之線上（On-line)測試方法。此種測試方 法例如已揭示在文件EP 0523584中。在此種測試方法中， 各別之圖像點以微粒射線來測試。因此，可使用該微粒射線 ' 來偵測各導線上所施加之電荷及/或施加電荷至像素電極上 〇 【先前技術】 文件US 5081687 (Henley et al.)顯示LCD-顯示器測試 用之方法和裝置，其中每第二條資料線和每第二條閘極線分 鲁 別與一短路條相連接。一種測試圖像藉由該短路條之控制而 產生。在測試時例如-5V之電壓施加至每第二像素之電極以 作爲測試圖像且+5V之電壓施加至各介於第二像素之間之像 素之電極上。但這些短路條在與積体式驅動電路一起設置時 會有間題，因其會使各驅動輸出端短路。 文件US 5 93 6687 (Lee et al.)(其中使用一種驅動電路） 使用多個接觸面以產生一種測試圖像，各接觸面與一種電路 相連接以防止靜電放電（ESD)。該電路含有短路條，其經由 ® 二極体而與導線相連以控制各別之顯像元件。文件 US63 37772 (Ha et al.)使用電晶体以便連接各短路條至各 控制線。 若經由各與該驅動電路相連接之短路條而產生各測試圖 像，則須滿足以下之先決條件以進行測試。其一是各驅動電 路在測試時點時仍不可積体化，另一先決條件是須形成該積 体電路之各輸出，使其可影響各測試信號而不會造成干擾。 -6- 1345251-j Θ年/a月响 i y — ΐ ^"1 l _____________ί 但上述之先決條件只能在極少數之情況下才可實現。 此外’須考慮以下各點。各短路條由於製程-，位置-或電 路技術上之原因通常不能實現。又，以此種方式不能測試該 驅動電路之功能。此外，只能產生一些簡單之測試圖樣，其 周期性重複之基本單元不可大於短路條之數目。 正常操作時若使用多個已使用之墊以產生一種測試圖像 ，則就大的顯示元件而言在測試期間須接觸多個接觸面。這 在大的顯示元件受測試時是困難的，此乃因測試期間該顯示 元件須移動。許多較小之顯示器須配置在玻璃上，使得在此 種情況中在測試期間該玻璃板亦須重複地移動，以測試全部 之顯示器。於是對接觸方塊（block)之需求會提高。該接觸 方塊用來使外部信號輸入至驅動電路之接觸面上或至資料 線和閘極線-或所屬之短路條之接觸面上。 【發明內容】 先前技術之上述問題以本發明申請專利範圍第1，1 3項之 裝置及第15，21項之方法來解決。 依據本發明第一外觀，上述目的是以光電子裝置控制用之 電子控制器（其具有矩陣形式之顯像元件）來達成。該電子控 制器具有一種驅動電路，其包含多個輸入及輸出。又，該電 子控制器含有由多個接觸面所構成之第一配置（其與該驅動 電路相連接）和由多個接觸面所構成之第二配置（其與該驅 動電路相連接）。此二種由多個接觸面所構成之配置較佳是 與該驅動電路之輸入端相連。 又’該由多個接觸面所構成之第一配置較佳是具有第一接 -7- 1345751 觸面且該由多個接觸面所構成之第二配置較佳是具有第二 . 接觸面。由多個接觸面所構成之第二配置之第二接觸面較佳 是大於由多個接觸面所構成之第一配置之第一接觸面。 藉由本發明，則可經由多個接觸面所構成之第二配置來產 ' 生一種對測試目的而言足夠複雜之測試圖樣。就測試目的而 言不必產生任意之圖像，而是產生一些不像在正常操時那樣 複雜之圖樣。因此，產生一測試圖樣所需之接觸面之數目較 在正常操作時產生任意圖像所需之接觸面之數目還少。此種 接觸面數目之減少可使各接觸面變大。因此能可靠，快速且 · 有效地測試各顯示元件。 較佳是須構成該電子控制器，使該驅動電路之輸入端（藉 此使測試用之接觸面所構成之配置可與該驅動電路相連接） 之數目最多是該驅動電路之輸出端（藉此使連接至螢幕矩陣 之顯像元件所用之各控制線可與該驅動電路相連接）之數目 之5%，較佳是1%，特別好的情況是〇.5%。 依據本發明另一外觀，本發明之目的是以各測試接觸面所 形成之配置來達成，其提供信號至一種光電子裝置以產生一 ® 種測試圖樣。該光電子裝置含有一由各顯像元件所構成之矩 陣。此種配置具有：至少一個墊，即，至少一個連接面；及 至少一個墊之至該驅動電路所用之至少一個連接件，其中該 驅動電路在正常操作時經由各接觸面所形成之配置而被供 應以信號。 依據本發明另一外觀，本發明之目的是以一種光電子裝置 來達成，其具有：一由各顯像元件所構成之矩陣；至少一驅 -8- 1345751 動電路；一由多個接觸面所構成之第一配置，其是與該驅動 電路相連接；一由多個接觸面所構成之第二配置，其是與該 驅動電路相連接。 達成本發明之目的所用之其它外觀是測試該光電子裝置 所用之方法，其具有以下之步驟：在一外部控制器和各測試 接觸面所構成之配置之間形成一種接觸區；經由各測試接觸 面所構成之配置使各輸入信號供應至該驅動電路之輸入端 ，以便在各顯像元件所構成之矩陣上產生一種測試圖樣；測 試各顯像元件所構成之矩陣之各顯像元件。 達成本發明之目的所用之其它外觀涉及一種光電子裝置（ 其具有由各顯像元件所構成之矩陣）之電子控制器之製造方 法。因此進行以下之各步驟：在基板上設置一種驅動電路； 由各顯像元件所構成之矩陣之控制線須與該驅動電路之輸 出端相連；在該基板上設置一由多個接觸面所構成之第一配 置，該由多個接觸面所構成之第一配置須與該驅動電路之輸 入端相連；在基板上設置一由多個接觸面所構成之第二配置 ，該由多個接觸面所構成之第二配置須與該驅動電路之輸入 端相連。 本發明較佳之實施形式和特殊之外觀描述在申請專利範 圍各附屬項中。 【實施方式】 本發明之實施形式顯示在各圖式中且將詳述於下： 第5圖是先前技術之實施形式，其是該顯像元件10之頂 視圖。各別之圖像點（像素）3 0經由像素控制用之控制線1 3 1345751 而與各驅動電路12相連。在正常操作時，信號在外部經由 各接觸面14而供應至各驅動電路。第4圖中只以符號顯示 5個接觸面14。但就大的顯像元件而言需要數百個此種接觸 面，以便使信號供應至各驅動電路。 控制線13經由開關元件22而與短路電路相連。該靜電放 電（ESD)保護用之短路電路只針對過（over)電壓來進行保護 且允許施加各種正常之操作電壓或在測試期間和正常操作 期間可藉由各接觸面20來斷開。資料線和閘極線用之短路 電路經由耦合電路24而互相連接。上述之各元件都積体化 於玻璃基板上。 上述之習知之實施形式具有以下之缺點。線上-測試方法 用之測試圖樣經由各驅動電路之接觸面14而產生。由於這 些接觸面數目多而很小，則在測試過程中不易達成接觸作用 。這主要是針對各顯像元件而言，其須夠大，以便在測試過 程中可進行一種機械式移動。此種機械式移動例如在微粒射 線之偏向不足以測試整個顯示器時是須要的。就大小例如小 於80 um之接觸面之數目較多時，則須使用高級之接觸技術 ，以防止由於錯誤之接觸所造成之測試誤差。若由於顯示大 小而須在測試期間移動各接觸面時，則技術上之需求更高。 此外，就經濟之測試而言須達成高的速率。又，藉由該測 試方法可對該接觸機構設定其它之需求。若考慮此點，則可 快速地知悉：這些需求不能由目前之先前技術來達成。例如 ，在以微粒射線來測試時對該接觸機構之其它需求是：在真 空下使用；少量地產生磁場使電子束或測量信號不會受干擾 - 1 0 _ 1345751 :使該微粒射線可自由地接近像素矩陣之區域。 本發明之較佳之外觀和實施形式以下將依據第1至4圖來 描述。 第la圖顯示一顯示元件100,其例如可爲行動式電話，PC 或電視用之顯示器。該像素矩陣101之圖像點配置成矩陣形 式。爲了產生圖像，各圖像點須由控制線103x或103y來控 制。爲了使圖像產生用之外部控制器簡化，則基板上須另外 存在該驅動電路102x或102y。就像該像素矩陣1〇1 —樣， 在製程中須在基板上施加各驅動電路。由外部之控制器使信 號經由墊104b而供應至各驅動電路。信號因此經由導線 104a而傳送至各驅動電路。墊104b和導線l〇4a —起形成 各可接觸之面。這些面以下亦稱爲接觸面。 實際上就具有很多圖像點（可超過一百個）之大的顯示器 而言存在許多接觸面（104a和104b)。這些接觸面在可用之 有限空間中不能設置成足夠大，以便有效且可靠地進行測試 。先前技術之各接觸面例如就大小是4吋之顯示器（640*480 像素）而言具有60 um至2000 um之大小。例如，在以電子 束來測試該顯示元件或該像素矩陣之各別之圖像點時，須符 合下述之準則。首先，須經由外部之控制器來產生一種測試 圖樣。必須可靠地達成該墊1 04b之接觸作用。由於該顯示 元件之大小，則須在電子束下移動該顯示器。爲了能達成快 速之測試方法，則在測試時該接觸作用和移動作用可連續地 一起進行或其必須儘快且可靠地達成且又再繼續。同時，該 接觸方塊（其用來實現該接觸作用）在真空條件下須可正常 1345751 作用且不會由於電磁場而對該電子束或偵測用之電子造成 千擾。此外，該像素矩陣101不可被該接觸機構所覆蓋，否 則即不可能以電子束來進行測試。 在上述之邊界條件下一種無誤差-且有效之接觸是因難的 且不可能。本發明中因此製備其它之接觸面以進行測試。各 接觸面由墊105b和與其相連之導線105a所構成。由於測試 過程中並非任意之圖像而是只有足夠複雜之圖樣才須產生 在顯示器上，則各測試接觸面之數目較一般操作時所使用之 接觸面之數目更少。各測試接觸面（105a和105b)之數目較 操作時接觸面之數目因此最多可下降至9 0%，較佳是下降至 5 0%，特別好之情況是下降至20%。以此種方式例如對大的 顯示器而言除了大約200個接觸面以用於正常操作之外另 外需30個接觸面以用於測試過程中。就小的顯示器而言正 常操作時須30個接觸面，另需製備5個測試用之接觸面。 於是，該驅動電路102x之輸入端（藉此使接觸面（105a, l〇5b)所構成之第二配置可與該驅動電路相連接）之數目最 多是該驅動電路之輸出端（藉此使顯像元件101之矩陣之各 控制線103x可與該驅動電路相連接）之數目之5%。這表示 :先前技術中測試期間所用之墊經由控制線而與可能存在之 驅動電路之輸出端相連接。這些輸出端通常是短路條，其施 加在控制線上。反之，本發明中該測試圖樣產生用之墊經由 驅動電路之各輸入端而與該驅動電路相連。各測試用之接觸 面至驅動電路之各輸入端之連接件之數目較驅動電路之各 輸出端（其是與控制線相連）之數目還少。 -12- 1345751 由於上述原因，則可形成該測試過程中所用之各接觸面， 使各墊105b至少具有100 um之大小，較佳是至少0.5 mra ，特別是至少2 roro。所謂”大小”是指該墊l〇5b之尺寸之最 小値之方向中之尺寸。因此，就長方形之墊而言較短邊之長 度即爲該大小。上述之接觸面大小允許一種可靠，快速且不 易干擾之接觸。 如第4圖所示者，爲了產生一種測試圖樣，則該測試墊 105b在第一實施形式中經由導線105a而與導線104a相連 。導線104a用於一般操作之墊104b中。一個或多個測試墊 可經由各連接件而與各驅動電路102x及/或102y之各輸入 端相連。此外，一測試墊亦可經由開關元件或其它組件（例 如，二極体，電晶体或其它等等）而與正常之圖像產生用之 多條導線104a相連。此種連接件之一種例子在第lc圖中是 以開關元件或組件1 20表示。使多條導線與一測試墊相連之 另一種可能性是使用一種連接結構，其在正常操作時不需要 。即，該結構例如在玻璃分離時或蝕刻時被分離。 本發明另亦涉及光電子裝置，其形式例如是一種顯示器， 其在測試過程時設有本發明之由各接觸面所構成之第一和 第二配置，藉此可進行本發明之測試方法且該由各接觸面所 構成之測試配置之至少一部份在測試過程之後須分離。 由於測試過程中不須有任意之圖樣產生在該顯示器上，則 在測試期間該驅動電路102x之全部之輸入端110不必都是 可控制的。這樣之優點是：至少當全部之輸入端都保持在一 固定之電位時，則可防止各輸入端之浮動。就本發明而言， -13- 1345751 各測試墊l〇5b亦可經由各測試接觸面之導線105a而與各操 > 作墊104b相連而不會偏離本發明之原理。 依據本發明之實施形式，該驅動電路l〇2x之各終端顯示 ^ 在第lb圖中。像素矩陣101(第lb圖中未顯示）用之各控制 線103x是與該驅動電路102x之各輸出端相連。各導線104a 或105a是與該驅動電路之各輸入端相連。 因此，本發明中所謂驅動電路之”輸出端”是指：各輸出端 是與各別圖像點之控制用之控制線相連接。所謂驅動電路之 ”輸入端”是指一種終端，經由該終端可使外部之信號供應至 ® 各驅動電路。因此，外部之信號在該驅電路中須修正，以便 使各顯像元件用之信號供應至各輸出端上所連接之控制線 1 0 3 X ° 第2圖中顯示一顯示元件100之另一實施形式。類似於第 la圖中所示之實施形式之各組件以相同之參考符號來表示 且以下不再詳述。與第la圖不同之處是：此處所示之實施 形式中各測試接觸面（105 a+10 5b)經由測試驅動電路20 2x 或202y而與驅動電路102x或102y相連。 ® 因此，各測試驅動電路2 02 X或202y用來使由各測試接觸 面（105a，105b)所獲得之信號轉換成各驅動電路102x或 102y所用之信號。該驅動電路（102x，102y)隨後可對各已 轉換之信號作進一步處理以產生圖樣且藉由各控制線（103， 103y)來傳送各像素。 就該測試驅動電路（20 2x,202y)而言，多種實施形式是可 能的。其中一種實施形式類似於第3a圖。該測試驅動電路 1345751 因此可支配各測試接觸面之各輸入端且使各信號繼續傳送 至各驅動電路（102x，102y)之相對應之接觸區。 另一種實施形式則如下所述者，其中在該測試驅動電路 (202x，202y)中整合一種記憶体。該記憶体中儲存一種或多 種測試圖樣。藉由外部之信號（其可由該測試接觸面（l〇5a, l〇5b)來支配）使該測試圖樣之產生可起始或停止。在儲存多 個測試圖樣時，另外須藉由外部之信號來選取各圖樣之一。 該測試驅動電路使該測試圖樣所需之信號傳送至各驅動電 路（102x，102y)。由於這些信號而產生該測試圖樣。依據本 實施形式，可使一測試過程中所需之接觸面或墊之數目進一 步下降。若只須起始或停止該測試圖樣之產生，則電源電壓 用之墊上及一控制墊上之各測試接觸面之數目可降低。 依據另一實施形式，該測試驅動電路（202x，20 2y)承擔多 工器之功能。例如，對各信號進行時間上之多工，則可經由 較少數目之測試墊105b來支配許多信號。此處所需之中間 記憶体或計時器單元在本實施形式中同樣積体化於各驅動 電路之一之晶片上。 依據第3a圖所示之實施形式，各測試接觸面（105a，105b) 直接與驅動電路之各輸入端相連。各測試圖樣產生用之各輸 入端設置在該驅動電路之佈局中或如第2圖所示各測試驅 動電路（202x, 202y)可積体化於該驅動電路（102x，102y) 中，因此只須唯一之驅動電路。當該驅動電路可支配一測試 圖樣產生用之各輸入端且這些輸入端是與測試接觸面相連 接時對本實施形式是有利的。 -15- 1345751 類似於第1 b圖，第3b圖中亦可區分該驅動電路（l〇2x , . 102y)之各輸入端11〇和各輸出端ιΐ2» —測試圖樣之一種可能之形式顯示在第4圖中，其就像以 ‘ 本發明所產生者一樣。 第4圖中以小格顯示各別之圖像點，即，像素。各小格中 之字母表示一種電位，在產生一測議圖樣時各圖像點之電極 充電至該電位。例如，就二種不同之電壓V1 = -7V和V2 = +6V 而言，不同之電壓可配置至各圖像點。像素A至D中之那一 個配屬於那一個電位係由測試用之內部設定（Setup)所決定 Φ 。例如，可選取A = B = C = V1和D=V2。這樣可使全部之圖像點 (其與具有電位V2之像素D相鄰）處於電位VI處。藉由選取 其它之配置方式，例如，A = C = V1和B = D = V2，則例如可產生 水平之條紋。 如第4圖中所示，利用該測試圖樣可在垂直，水平和對角 線方向中產生一種周期。相對於上述之例子而言，可允許多 於二種之不同之電位。每一圖像點因此可對稱地個別在水平 ，垂直或對角線方向中由任意之電壓所圍繞。在該顯像元件 ® 本身之電極上可產生另一電位· 藉由上述方式來選取一測試圖樣（其不限於上述之例子） ，則由於各顯像元件之電極之電位之周期性之配置而可使全 部之自由度（其對一種測試圖樣而言是足夠的）都可充份利 用。 就更複雜之測試圖樣而言，可產生一種對應於字母A至Η 之圖樣。由一顯像元件開始，另一電位値可對應於每一相鄰 -16- 1345751 之像素。 ' 儘管如此，上述周期性圖樣之控制仍然不像任意圖像產生 - 時那樣複雜。因此，各測試接觸面之數目可較各操作接觸面 之數目還少。這樣可使測試過程中所用之各接觸面較大。這 樣在本發明中可造成一種較佳之測試方法，此乃因接觸時之 誤差可下降。此外，與該待測試之顯示器相接觸所用之機構 可快速地設置。由於此種最佳化，則該測試方法另外可被加 速。因此該待測試之貨物之流通量增大。 本發明上述之實施形式可有利地用在本發明之方法中，如 以下將詳述者。爲了降低該製造成本，則例如在誤差測試過 程中可加入一種LCD顯示器。在誤差測試過程中，可對各別 顯像元件之電極及/或各開關元件進行測試以控制各顯像元 件。此處可使用一種已充電之微粒射束（粒子束，例如，電 子束或離子束）或雷射束。以下所謂微粒射線是指雷射束（ 其中各微粒是光子）或粒子束（其中各微粒是離子，原子，電 子或其它粒子）。 以下將依據電子束來描述本測試方法而不會對本發明造 成限制。一種可能之測試方法是：經由導線使各顯像元件之 電極充電至一種電位。該電位或其時間上之變化能以微粒射 線來測量。因此可辨認各種缺陷（例如，短路）或錯誤之接觸 區，且亦可決定各寄生元件及其大小。 在另一種方法中，各顯像元件之電極經由微粒射線來充電 且因此所產生之電位同樣以該微粒射線來測量。各導線之控 制器於是可決定各起始和邊界條件。 -17- 1345751 在另一方法中’各顯像元件之電極經由微粒射線來充電且 須測量各導線中所產生之電流。依據該驅動電路之作用方式 ，則須設計該驅動電路’使該電流之測量可在該驅動電路上 之可由外部接近之接觸區上測量。 在上述之大部份之方法中，須供應各信號至各顯像元件之 導線或須測量各導線上之信號。因此，就該測試方法而言， 各顯像元件之墊須與一外部之控制件或外部之測量儀器相 連。此種接觸作用可藉由本發明之裝置來改良。 在該測試方法中，該待測試之顯示器首先安裝在一室中且 置放在電子束下方。爲了使用該電子束，則該室須抽真空直 至壓力小於ιο_4毫巴爲止。此外，一接觸方塊須與本發明之 測試接觸面相連接。該接觸方塊是一種機構，藉此可使一測 試設備形成一至該顯示器之各接觸面之電性接觸，使信號傳 送至各接觸面。依據各信號之情況，則各顯像元件之電極被 充電至一確定之電位。於是產生一種測試圖樣，此時該電子 束另藉由偏向器而轉向，各測試設備之控制件測試各別電極 之電位。由於大的顯示器中該電子束不能實現足夠之偏向， 則首先須測試該顯示器之區域且隨後藉由一偏移單元使該 顯示器移動。就可靠之測試而言，重要的是：使至各墊之接 觸作用連續地保持著或能可靠且快速地再形成。這在本發明 中可藉由各測試接觸面來達成。在移動之後對另一區進行測 試。由各顯像元件之移動和一種區域之測試所形成之交替變 化可繼續進行直至整個顯示器被測試爲止或基板上全部之 顯示器已測試完成爲止。 _ 1 8 _ 1345751 爲了達成高的流通量，則測試速率對上述之測試方法很重 要。此外，該測量須很可靠，此乃因千分之0.1有缺陷之顯 像元件就可阻止該顯示器被使用。在製程中及早辨認各種誤 差時，則可藉由離子束或雷射束來進行該誤差修正。 由於寄生元件可使小的漏電流造成可辨認之圖像誤差，則 較佳是使該測試設備設有敏感性之測試方法。因此，在接觸 時須廣泛地防止電磁干擾場（其會干擾該電子束或干擾二 次電子及散射回來之電子之測量）。 由於上述之原因，則本發明之裝置對上述本發明之方法而 言是有利的，此乃因藉由各測試接觸面可使該測試設備內部 之顯示器之接觸作用簡化。於是可有效地達成一種接觸作用 。該接觸作用滿足上述之邊界條件。 由各別之實施形式而言，通常可使用本發明以下較佳之外 觀以較佳地達成本發明之目的。 由各接觸面所形成之第二配置經由各接觸面所形成之第 —配置而與該驅動電路相連時較佳。該測試圖樣產生用之接 觸面因此可與一般操作用之多個接觸面相連。此外，各測試 接觸面之數目較一般操作用之接觸面之數目可特別有利地 下降，因此，與該驅動電路相連之操作用之接觸面並非全部 都與一測試接觸面相連。 此外，各接觸面所形成之第二配置經由一測試電子裝置而 與該驅動電路相連時是有利的。若該測試電子裝置含有一種 記憶体（由此可讀出該待產生之測試圖樣）時特別有利。該驅 動電路可支配該測試圖樣。 -19- 1345751 此外，若各接觸面所形成之第二配置直接與該驅動電路相 連時，則亦是有利的。因此，特別有利的是·‘形成該驅動電 路，使其含有一種電路，以便處理由該測試圖樣用之各測試 接觸面而來之信號。 上述之外觀可用來使該測試過程進一步簡化，此時須使該 測試過程用之各接觸面與一般圖像產生用之各接觸面相隔 開。此外，由於上述較佳之外觀，則可使測試用之接觸面之 數目降低且因此使測試用之接觸面變大。 依據一種較佳之外觀，由各接觸面所形成之第二配置之第 二墊之數目最多是各接觸面所形成之第一配置之第一墊之 數目之90%，較佳是50%，特別好之情況是20%。因此，特 別有利的是可使各接觸面所形成之第二配置之第二墊之大 小至少是100 um，較佳是0.5 ram，特別好之情況是2 mra。 在本發明之較佳之實施形式中，若該測試驅動電路具有一 記憶体，則當由各接觸面所形成之第二配置之第二墊（其用 來傳送信號）之數目爲1時是有利的。 由各別之實施形式而言，在測試本發明之光電子裝置時通 常可使用本發明以下較佳之外觀。 在測試本發明之光電子裝置時，若各輸入信號產生一種周 期性之測試圖樣時是較佳的。特別好之情況是在垂直，水平 和對角線方向中產生周期性之測試圖樣。 此外，本發明特別有利的是：測試時在待測試之光電子裝 置之環境中使用一種真空或該測試方法含有以下之步驟：在 各顯像元件所形成之矩陣區域中測試該顯像元件或對一較 -20- 1345751 小之矩陣之全部之顯像元件進行測試；移動該光電子裝置且 在該矩陣之另一區中測試各顯像元件或對另一較小之矩陣 進行測試。 【圖式簡單說明】 第 la圖 本 發 明 之 一實施形式之圖解。 第 1 b圖 本 發 明 第 la圖所示之實施形式 之 區 段圖 第 lc圖 係 第 11 b圖所示之區段之另一種 形 式 〇 第 2圖 本 發 明 之 第二實施形式之圖解< > 第 3a圖 本 發 明 另 一實施形式之圖解。 第 3 b圖 本 發 明 第 3a圖所示之實施形式 之 1品 段圖 第 4圖 一 種 測 試 圖樣之像素之設置圖1 > 第 5圖 先 前 技 術 之螢幕元件之圖解。 元件符號說明 1 00 顯示元件 101 像素矩陣 1 0 2 X， 1 02y 驅動電路 103x, 103y 控制線 1 04a 導線 104b 墊 105a , 105b 測試接觸面 1 10 輸入端 1 12 輸出端 120 開關元件 1345751 2 Ο 2 x , 2 Ο 2 y 測試驅動電路

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Claims (1)

1345751 竹年丨0月日修正本 第092 1 1 6249號「具有較佳測試特性之電子控制裝 置J專利案 (2010年1〇月21日修正） 拾、申請專利範圍： 1. 一種具有顯像元件矩陣之光電子裝置控制用之電子 控制裝置，其特徵爲包含： —驅動電路（102χ)，其具有各輸入端（ι10)和各 輸出端（112)，該各輸入端（11〇)用以接收信號，該 各輸出端（112)用以提供信號至該顯像元件矩陣， 以於正常操作期間該顯像元件矩陣之圖像產生，及 以於該顯像元件矩陣之測試模式期間測試圖樣的產 生； —由各接觸面（l〇4a，104b)所形成之第一配 置，其是與該驅動電路（102 X)之輸入端相連； —由各接觸面（l〇5a，105b)所形成之第二配 置，其是與該驅動電路（102x)之輸入端相連； 其中由各接觸面所形成之第二配置之各接觸面 (105a，105b)大於由各接觸面所形成之第一配置之 各接觸面（l〇4a，104b)，並被構成爲藉由一外部控 制而被接觸，以傳送自該外部控制之一外部信號至 該驅動電路（l〇2x); 其中，該驅動電路包括一電路，其用以處理傳 送自該由各接觸面所形成之第二配置之各接觸面 (105a，105b)之該外部信號以產生該測試圖樣。 1345751 2 .如申請專利範圍第1項之電子控制裝置，其中該驅 動電路（102x)之輸入端（藉此使接觸面（l〇5a，105b) 所構成之第二配置可與該驅動電路相連接）之數目 最多是該驅動電路之輸出端（藉此使顯像元件（101) 之矩陣之各控制線（103x)可與該驅動電路相連接）之 數目之5%。 3 .如申請專利範圍第2項之電子控制裝置，其中由各 接觸面（104a，104b)所形成之第一配置在一般操作 期間用來產生圖像； 由各接觸面（l〇5a，105b)所形成之第二配置在 測試期間用來產生圖樣。 4.如申請專利範圍第1至3項中任一項之電子控制裝 置，其中由各接觸面（105a，105b)所形成之第二配 置經由各接觸面（104a，104b)所形成之第一配置而 與該驅動電路（1 0 2 X)相連。 5 .如申請專利範圍第4項之電子控制裝置，其中由各 接觸面（105a，105b)所形成之第二配置經由各接觸 面（104a，104b)所形成之第一配置藉由開關元件或 組件而與該驅動電路（1 0 2 X)相連。 6 _如申請專利範圍第4項之電子控制裝置，其中由各 接觸面（l〇5a，105b)所形成之第二配置經由各接觸 面（104a，104b)所形成之第一配置而直接與該驅動 電路（102x)相連。 7.如申請專利範圍第1至3項中任一項之電子控制裝 -2- 1345751 置，其中由各接觸面（105a，105b)所形成之第二配 置經由一測試電子裝置（202x)而與該驅動電路 (l〇2x)相連。 8 .如申請專利範圍第1至3項中任一項之電子控制裝 置，其中由各接觸面（105a，105b)所形成之第二配 置直接與該驅動電路相連。 9 .如申請專利範圍第8項之電子控制裝置，其中該驅 動電路中積体化著各測試電路。 1 0 .如申請專利範圍第1至3項中任一項之電子控制裝 置，其中由各接觸面（105a，105b)所形成之第二配 置之第二墊（l〇5b)之數目最多是由各接觸面（104 a, l〇4b)所形成之第一配置之第一墊（104b)之數目之 90%，較佳是50%，特別好之情況是20%。 1 1 .如申請專利範圍第1至3項中任一項之電子控制裝 置，其中由各接觸面所形成之第二配置之第二墊 (105 b)大於由各接觸面所形成之第一配置之第一墊 (104b) ° 1 2 .如申請專利範圍第1至3項中任一項之電子控制裝 置，其中由各接觸面所形成之第二配置之第二墊 (105b)具有至少100 um之大小，較佳是0.5 mm， 特別好之情況是2 mm。 13. —種光電子裝置，其特徵爲包含： 一由各顯像元件（1 〇 1)所形成之矩陣；及 如申請專利範圍第1至1 2項任一項之電子控 1345751 制裝置。 14.如申請專利範圍第13項之光電子裝置’其中第二 配置之至少一部分與各接觸面分離。 15· —種光電子裝置之測試方法’其特徵爲以下各步 驟： a) 在一外部之控制件與一由各測試接觸面所形成之 配置之間形成一接觸區’而該測試接觸面大於操 作用接觸面； b) 經由該由各測試接觸面所形成之配置使各輸入信 號供應至一驅動電路之輸入端，以便在各顯像元 件所形成之矩陣上產生一測試圖樣； Ο對各顯像元件所形成之矩陣之各顯像元件進行測 試。 1 6 ·如申請專利範圍第1 5項之測試方法，其中該輸入 信號產生一種周期性測試圖樣。 17·如申請專利範圍第15項之測試方法，其中該輸入 信號產生一種垂直、水平、或對角周期性測試圖 樣。 1 8 _如申請專利範圍第i 5至1 7項中任一項之測試方 法，其中各顯像元件是以已充電之微粒射線或雷射 輻射來測試。 1 9 ·如申請專利範圍第1 5至1 7項中任一項之測試方 法，其中包含另一步驟：在該待測試之光電子裝置 之環境中形成一種真空。 1345751 2 Ο _如申請專利範圍第1 5至1 7項中任一項之測試方 法’其中步驟c)包含以下之步驟： cO各顯像元件在由顯像元件所構成之矩陣之一區 域中測試； c2)使該光電子裝置偏移； c3)各顯像元在由顯像元件所構成之矩陣之另—區 域中測試。 21. —種具有顯像元件矩陣之光電子裝置之電子控制裝 置之製造方法，其具有以下之步驟： a) 使用一驅動電路； b) 由顯像元件所構成之矩陣之控制線須與該驅動電 路之輸出端相連； c) 使用一由各接觸面所形成之第一配置； d) 由各接觸面所形成之第一配置須與該驅動電路之 輸入端相連； e) 使用一由各接觸面所形成之第二配置’而該第二 配置之各接觸面大於由各接觸面所形成之第一配 置之各接觸面； f) 由各接觸面所形成之第二配置須與該驅動電路之 輸入端相連