JP2001318116A - 表示用パネル基板の検査装置 - Google Patents
表示用パネル基板の検査装置Info
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Abstract
を複雑に移動させることなく、短時間で実行し得るよう
にすること 【解決手段】 検査装置は、複数の表示パネル部を互い
に交差する第1及び第2の方向に列の形に有する複数個
取りの表示用パネル基板の検査に用いられる。検査装置
は、ワークテーブルに受けられたパネル基板の電極部に
当接される複数の接触子であって前記第1の方向に整列
する少なくとも一列分の表示パネル部に設けられた電極
部に個々に対応された複数の接触子を有するプローブユ
ニットを用い、プローブユニットとワークテーブルとを
第2の方向へ相対的に移動させることにより、少なくと
も一表示パネル部列毎に検査する。
Description
部を互いに交差する第1及び第2の方向に列の形に有す
る複数取りの表示用パネル基板を検査する装置に関す
る。
板は、製造過程において各種の特性検査(試験又は測
定)をされる。そのような検査は、表示用パネル基板の
電極部に接触される接触子を有するプローブユニットを
用いて行われる。また、複数の表示パネル部をマトリッ
クス状に形成した複数取りの表示用パネル基板の検査
は、一般に、各表示パネル部を表示用パネル基板から個
々に切り離して、独立した表示パネルとする前に、行わ
れる。
して、表示パネル部毎に検査する技術と、1つの表示用
パネル基板の表示パネル部を複数の表示パネル群に分け
て表示パネル群毎に検査する技術とが提案されている。
示用パネル基板の検査に長時間を要し、検査コストが高
くなる。また、後者では、表示用パネル基板とプローブ
ユニットとを相対的に移動させて行われるが、表示用パ
ネル基板とプローブユニットとの相対的移動が複雑にな
り、その制御が煩雑になる。
の検査においては、表示用パネル基板とプローブユニッ
トとを複雑に移動させることなく、短時間で実行し得る
ことが重要である。
は、複数の表示パネル部を互いに交差する第1及び第2
の方向に列の形に有する複数個取りの表示用パネル基板
の検査に用いられる。そのような検査装置は、前記パネ
ル基板を受けるワークテーブルと、該ワークテーブルに
受けられたパネル基板の電極部に当接される複数の接触
子であって前記第1の方向に整列する少なくとも一列分
の表示パネル部に設けられた電極部に個々に対応された
複数の接触子を有するプローブユニットと、該プローブ
ユニットと前記ワークテーブルとを前記第2の方向へ相
対的に移動させる移動手段とを含む。
は、それらの各電極部が所定の接触子に接触された状態
で通電されて、検査をされる。次の少なくとも一列分の
表示パネル部は、プローブユニットとワークテーブルと
が第2の方向へ相対的に移動されることにより、それら
の各電極部を所定の接触子に接触された状態で通電され
て、検査をされる。以後その工程が所定回数繰り返され
る。
つ次々に検査するときのプローブユニット及びワークテ
ーブルの相対的移動の方向が常に同じ方向であるから、
複数の表示パネル部を同時に検査することができるにも
かかわらず、表示用パネル基板とプローブユニットとを
複雑に移動させることなく、表示用パネル基板を短時間
で検査することができる。
パネル部に個々に対応された複数のプローブブロックを
備え、各プローブブロックは対応する前記表示パネル部
の電極部に個々に対応されて前記第1又は第2の方向に
間隔をおいた複数の前記接触子を備えることができる。
そのようにすれば、第1又は第2の方向に伸びる辺に複
数の電極部を有する表示パネルの検査をすることができ
る。また、表示パネル部毎にプローブブロックを製造す
ることができるから、プローブユニットの製作が容易に
なる。
の方向に伸びる板状の支持体であって厚さ方向を前記第
1又は第2の方向とされた支持体と、該支持体の前記ワ
ークテーブルの側の部位に配置された弾性体と、電気絶
縁フィルムに複数の配線を形成したフィルム状プローブ
シートであって前記配線が前記支持体の一方の面側から
前記弾性体を経て他方の面の側に伸びる状態に前記支持
体にU字状に配置されたプローブシートとを備え、前記
接触子は、前記配線に電気的に接続された1以上の突起
電極であって前記プローブシートの前記U字状に曲げら
れた部位から前記ワークテーブルに向けて突出する突起
電極であってもよい。
示パネル部に個々に対応された複数の第1のプローブブ
ロックと、前記一列分の表示パネル部に個々に対応され
た複数の第2のプローブブロックとを備え、各第1のプ
ローブブロックは前記第1の方向に間隔をおいた複数の
前記接触子を備え、各第2のプローブブロックは前記第
2の方向に間隔をおいた複数の前記接触子を備えること
ができる。そのようにすれば、矩形の隣り合う少なくと
も2つの辺のそれぞれに複数の電極部を有する表示パネ
ルの検査をすることができる。また、表示パネル部毎に
第1及び第2のプローブブロックを製造することができ
るから、プローブユニットの製作が容易になる。
ブブロックは、前記第1の方向に伸びる板状の第1の支
持体であって厚さ方向を前記第2の方向とされた第1の
支持体と、該第1の支持体の前記ワークテーブルの側の
部位に配置された第1の弾性体と、電気絶縁フィルムに
複数の配線を形成したフィルム状の第1のプローブシー
トとを備え、各第2のプローブブロックは、前記第2の
方向に伸びる板状の第2の支持体であって厚さ方向を前
記第1の方向とされた第2の支持体と、該第2の支持体
の前記ワークテーブルの側の部位に配置された第2の弾
性体と、電気絶縁フィルムに複数の配線を形成したフィ
ルム状の第2のプローブシートとを備え、各プローブシ
ートは、前記配線が対応する支持体の一方の面側から対
応する弾性体を経て他方の面側に伸びる状態に、対応す
る支持体にU字状に配置されており、前記接触子は、前
記配線に電気的に接続された1以上の突起電極であって
前記プローブシートの前記U字状に曲げられた部位から
前記ワークテーブルに向けて突出する突起電極である。
ローブブロックが組み付けられた板状のプローブベース
を備え、前記プローブベースは、前記第1の方向へ伸び
ており、また前記表示パネル部に個々に対応された矩形
の複数の開口を少なくとも一列に有していることができ
る。そのようにすれば、各表示パネル部がプローブべー
スの開口を介して露出するから、作業者の肉眼又はテレ
ビカメラによる点灯検査をすることができる。
トに組み付けられた複数のタブであって前記プローブシ
ートの配線に個々に接続された複数の配線をそれぞれ有
する複数のタブと、該タブの配線に個々に接続された複
数の配線をそれぞれ有する複数のフラットケーブルとを
含むことができる。そのようにすれば、各接触子を、測
定回路のような電気回路に直接接続することなく、タブ
及びフラットケーブルを介して電気回路に接続すること
ができる。
い開口を有するベースプレートを含み、前記移動手段は
前記ワークテーブルを前記プローブユニットに対し少な
くとも三次元的に移動させる測定ステージであり、前記
プローブユニットは前記接触子が前記ベースプレートの
開口から前記ワークテーブルの側に突出する状態に前記
ベースプレートに配置されていてもよい。そのようにす
れば、プローブユニットをワークテーブルに移動させる
ことなく、プローブユニットと表示用基板とを相対的に
移動させることができるし、プローブユニットと表示用
基板との位置合わせをすることができる。
記第1の方向の一端部に形成されているアライメントマ
ークを撮影する第1のテレビカメラと、前記パネル基板
の前記第1の方向の他端部に形成されているアライメン
トマークを撮影する第2のテレビカメラとを含むことが
できる。そのようにすれば、一列分の表示パネル部の位
置あわせを共通の第1及び第2のテレビカメラで行うこ
とができる。
介して対応する前記アライメントマークを撮影するよう
に、プローブユニット又はベースプレートに配置するこ
とができる。また、前記タブ及び前記フラットケーブル
は前記プローブブロック毎に備えることができる。
装置10は、図3に示す矩形をした複数個取りの表示用
パネル基板12の点灯検査に用いられる。パネル基板1
2は、長方形をした複数の表示パネル部14をマトリッ
クス状に形成している。それら表示パネル部14は、パ
ネル基板12の幅方向(Y方向)及び長手方向(X方
向)のそれぞれに列の形に配置されており、一表示パネ
ル部列ずつ検査される。
型電気機器等に用いる小型の表示パネルであってもよい
し、コンピュータ用表示装置、テレビジョン受像機等に
用いる大型の表示パネルであってもよい。
は、矩形の1つの辺に対応する箇所及び該辺の隣りの辺
に対応する箇所にそれぞれ長方形をした複数の電極部1
6及び18を有する。電極部16はパネル基板12の幅
方向に間隔をおいており、電極部18はパネル基板12
の長手方向に間隔をおいている。パネル基板12は、ア
ライメントマーク20を幅方向に整列する表示パネル部
列の一端部及び他端部に有する。
上に配置された測定ステージ24と、パネル基板12を
受けるように測定ステージ24に配置されたワークテー
ブル26と、ワークテーブル26から上方に間隔をおい
たベースプレート28と、ベースプレート28に配置さ
れたプローブユニット30と、表示パネル部14を上方
から撮影する測定用テレビカメラ32と、テレビカメラ
32を前後方向(Y方向)へ移動させるY移動機構34
とを含む。
装置10のフレーム(図示せず)にほぼ水平に組み付け
られている。Y移動機構34は、テレビカメラ32をほ
ぼ水平に移動させるように、検査装置10のフレームに
ほぼ水平に組み付けられている。
を左右方向(X方向)へ移動させるXステージと、ワー
クテーブル26を前後方向へ移動させるYステージと、
ワークテーブル26を上下方向(Z方向)へ移動させる
Zステージと、ワークテーブル26を上下方向へ伸びる
軸線の周りに回転させるθステージとを備えている。
X,Y,Z及びθステージは、それぞれ、基台22,X
ステージ、Yステージ及びZステージに受けられてい
る。
ネル基板12をその下方(背後)から照明するバックラ
イトユニット(図示せず)を備えており、また測定ステ
ージ24のθステージに支持されている。
ける中央を前後方向(Y方向)へ伸びる長方形の開口3
6を有する。ベースプレート28は、プローブユニット
30を支持していると共に、パネル基板12の前後方向
の各端部に形成されたアライメントマーク20を撮影す
る位置合わせ用テレビカメラ38を支持している。
示すように、前後方向に長い長方形をした板状のプロー
ブベース40と、プローブベース40に配置された複数
組の第1及び第2のプローブブロック42及び44とを
備える。第1及び第2のプローブブロック42,44の
各組は、前後方向に整列する一列分の表示パネル部14
の1つに対応されている。
各端部に形成された取付穴46(図4参照)を貫通して
ベースプレート28に螺合されたねじ部材48により、
ベースプレート28の上に組み付けられて、ベースプレ
ート28の開口36を閉鎖している。
ス40の位置は、ベースプレート28に前後方向に間隔
をおいて設けられた一対の位置決めピン50(図3参
照)がプローブベース40の長手方向端部に形成された
位置決め穴52(図4参照)に嵌合されることにより、
維持される。
おいた複数の開口54を有する。各開口54は、第1及
び第2のプローブブロック42,44の1つの組と、パ
ネル基板12の前後方向へ伸びる一列分の表示パネル部
14の1つとに対応されており、また対応する表示パネ
ル部14に対応した長方形の形状を有する。
のプローブブロック42及び44のそれぞれは、長い板
状の支持体56と、支持体56の幅方向における一方の
側面に配置された蒲鉾状の弾性体58と、支持体56に
U字状に組み付けられたフィルム状プローブシート60
と、プローブシート60に形成された複数の接触子62
とを備える。
ており、またプローブベース40をこれの厚さ方向に貫
通して支持体56の他方の側面に螺合された複数のねじ
部材64により、その幅方向を上下方向とした状態に、
プローブベース40の下面に組み付けられている。
びる状態に、平坦面において支持体56の一方の側面に
接着されている。
いた複数の配線66を電気絶縁性フィルム68に形成し
ており、また配線66が対応する支持体56の一方の面
側から弾性体58の弧状面部を経て他方の面の側に伸び
る状態に支持体56にU字状に組み付けられており、さ
らに接触子62を各配線66に形成している。
(A)に示すように、配線66のU字状に曲げられた部
分の先端から下方に突出する突起電極であり、また円錐
状又は角錐状の形状を有する。
接触子62を各配線66に形成してもよいし、また各接
触子62は半球状の突起電極であってもよい。さらに、
図10(C)に示すように、幅寸法の小さい板状の弾性
体58を用い、この弾性体58を幅方向へ横切る配線6
6の部分に1以上の接触子62を形成してもよい。
位置は、支持体56の一方の面から突出する複数の位置
決めピン70(図8参照)がプローブシート60に形成
された穴(図示せず)に嵌合されることにより、維持さ
れる。
62及び各配線66の配列方向が前後方向となるよう
に、及び、互いに前後方向に整列するように、プローブ
ベース40に組み付けられている。
4は、各接触子62及び各配線66の配列方向が左右方
向となるように、及び、対応する第1のプローブブロッ
ク42と共同してL字状の平面形状を形成するように、
プローブベース40に組み付けられている。
のプローブブロック42及び44のそれぞれの位置は、
プローブベース40の下面から突出する複数の位置決め
ピン72(図6及び図8参照)がプローブブロック42
又は44に形成された穴(図示せず)に嵌合されること
により、維持される。
ブロック42及び44がベースプレート28の開口36
を介して下方に突出する状態に、プローブベース40に
おいて、ベースプレート28に組み付けられている。こ
れにより、全ての接触子62は、対応するプローブブロ
ック42又は44からワークテーブル26に向けて突出
される。
ローブユニット30の前後方向における端部に位置する
開口54を介して、対応するアライメントマーク20を
撮影する。各テレビカメラ38の出力信号は、図示しな
い画像処理回路において、プローブユニット30とパネ
ル基板12との相対的な位置決め(アライメント)に用
いられる。
は、さらに、第1及び第2のプローブブロック42及び
44毎にプローブユニット30に組み付けられたタブ支
持板74を含む。各タブ支持板74は、複数のねじ部材
76によりプローブベース40の下側に組み付けられて
おり、またテープ自動化実装すなわちタブ(TAB=tapeaut
omated bonding)78を支持している。
せる駆動用集積回路80を備えており、また集積回路8
0に接続された2種類の配線群を備えている。一方の配
線群の各配線82は対応するプローブシート60の配線
66に電気的に接続されており、他方の配線群の各配線
84はフラットケーブル86の配線に電気的に接続され
ている。
ロック42及び44に対応する両タブ支持板76が第1
のプローブブロック42の側に配置されている。このた
め、第2のプローブブロック44のプローブシート60
の各配線66は、第2のプローブブロック44の側から
第1のプローブブロック42の側に曲げられた接続シー
ト88の配線90により対応するタブ78の配線82に
接続されている。
ーブル26の上に配置され、その状態でテレビカメラ3
0を用いてプローブユニット30に対し位置決めをされ
る。そのような位置決めは、アライメントマーク20が
テレビカメラ38の視野内の所定の座標位置になるよう
に、ワークテーブル26を測定ステージ24により移動
させることにより行われる。
4により所定高さ位置まで上昇される。これにより、パ
ネル基板12の電極部16及び18は、それぞれ、プロ
ーブロック42及び44の接触子62に押圧される。
イトが点灯された状態で、測定用のテレビカメラ32が
プローブユニット30の所定の開口54を介して所定の
表示パネル部14を撮影するように、Y移動機構34に
より間欠的に移動されて、一列分の表示パネル部14を
次々に撮影する。
撮影する間、その表示パネル部14の所定の電極部1
6,18に通電される。テレビカメラ32の出力信号
は、表示パネル部14が所定の状態に点灯したか否かの
判定に用いられる。
終了すると、ワークテーブル26が測定ステージ24に
より、左右方向への表示パネル部14の配置ピッチ分だ
け左右方向へ移動された後、二列目の表示パネル部14
の検査が上記と同様の手法で行われる。
の検査が終了すると、バックライトが消灯され、パネル
基板12が測定ステージ24により下降され、検査済の
パネル基板が新たなパネル基板に交換され、その後新た
なパネル基板の検査が開始される。
ネル部14を、一列ずつ検査すると、表示パネル部14
を一列分ずつ次々に検査するときのワークテーブル26
の移動方向が常に同じ方向であるから、複数の表示パネ
ル部14を同時に検査することができるにもかかわら
ず、パネル基板12とプローブユニット30とを複雑に
移動させることなく、パネル基板12を短時間で検査す
ることができる。
4がプローブべース40の開口54を介して露出するか
ら、テレビカメラによる点灯検査装置のみならず、作業
者の肉眼による点灯検査装置にとしても用いることがで
きる。
灯検査専用の装置及び作業者の肉眼による点灯検査専用
の装置のいずれにも適用するすることができる。作業者
の肉眼による点灯検査をすることができる装置の場合、
基台22、測定ステージ24、ワークテーブル26、ベ
ースプレート28、プローブユニット30等を傾斜させ
て、パネル基板12を斜め上方から目視するようにする
ことが好ましい。
わりに、複数列分の表示パネル部用のプローブブロック
を備えるプローブユニットを用いて、複数列分ずつ検査
するようにしてもよい。また、プローブシートを備える
プローブユニットを用いる代わりに、金属細線から製作
されたプローブを接触子とするプローブユニットを用い
てもよい。
向のいずれか一方のみに配置した表示用パネル基板の検
査装置にも適用することができ、また点灯検査装置のみ
ならず、薄膜トランジスタ(TFT)を形成したガラス
基板のような他のパネル基板の検査装置にも適用するこ
とができる。前者の場合、プローブユニットは、第1及
び第2のプローブブロックのいずれか一方のみを備えて
いればよい。
発明は、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更すること
ができる。
の一部を断面でッ示す正面図
図
示す平面図
ークの一実施例を示す図
Claims (9)
- 【請求項1】 複数の表示パネル部を互いに交差する第
1及び第2の方向に列の形に有する表示用パネル基板を
検査する装置であって、 前記パネル基板を受けるワークテーブルと、 該ワークテーブルに受けられたパネル基板の電極部に当
接される複数の接触子であって前記第1の方向に整列す
る少なくとも一列分の表示パネル部に設けられた電極部
に個々に対応された複数の接触子を有するプローブユニ
ットと、 該プローブユニットと前記ワークテーブルとを前記第2
の方向へ相対的に移動させる移動手段とを含む、表示用
パネル基板の検査装置。 - 【請求項2】 前記プローブユニットは前記一列分の表
示パネル部に個々に対応された複数のプローブブロック
を備え、 各プローブブロックは対応する前記表示パネル部の電極
部に個々に対応されて前記第1又は第2の方向に間隔を
おいた複数の前記接触子を備える、請求項1に記載の検
査装置。 - 【請求項3】 各プローブブロックは、前記第1又は第
2の方向に伸びる板状の支持体であって厚さ方向を前記
第1又は第2の方向とされた支持体と、該支持体の前記
ワークテーブルの側の部位に配置された弾性体と、電気
絶縁フィルムに複数の配線を形成したフィルム状プロー
ブシートであって前記配線が前記支持体の一方の面側か
ら前記弾性体を経て他方の面の側に伸びる状態に前記支
持体にU字状に配置されたプローブシートとを備え、 前記接触子は、前記配線に電気的に接続された1以上の
突起電極であって前記プローブシートの前記U字状に曲
げられた部位から前記ワークテーブルに向けて突出する
突起電極である、請求項2に記載の検査装置。 - 【請求項4】 前記プローブユニットは、前記一列分の
表示パネル部に個々に対応された複数の第1のプローブ
ブロックと、前記一列分の表示パネル部に個々に対応さ
れた複数の第2のプローブブロックとを備え、 各第1のプローブブロックは前記第1の方向に間隔をお
いた複数の前記接触子を備え、各第2のプローブブロッ
クは前記第2の方向に間隔をおいた複数の前記接触子を
備える、請求項1に記載の検査装置。 - 【請求項5】 各第1のプローブブロックは、前記第1
の方向に伸びる板状の第1の支持体であって厚さ方向を
前記第2の方向とされた第1の支持体と、該第1の支持
体の前記ワークテーブルの側の部位に配置された第1の
弾性体と、電気絶縁フィルムに複数の配線を形成したフ
ィルム状の第1のプローブシートとを備え、 各第2のプローブブロックは、前記第2の方向に伸びる
板状の第2の支持体であって厚さ方向を前記第1の方向
とされた第2の支持体と、該第2の支持体の前記ワーク
テーブルの側の部位に配置された第2の弾性体と、電気
絶縁フィルムに複数の配線を形成したフィルム状の第2
のプローブシートとを備え、 各プローブシートは、前記配線が対応する支持体の一方
の面側から対応する弾性体を経て他方の面側に伸びる状
態に、対応する支持体にU字状に配置されており、 前記接触子は、前記配線に電気的に接続された1以上の
突起電極であって前記プローブシートの前記U字状に曲
げられた部位から前記ワークテーブルに向けて突出する
突起電極である、請求項4に記載の検査装置。 - 【請求項6】 前記プローブユニットは、さらに、前記
プローブブロックが組み付けられた板状のプローブベー
スを備え、前記プローブベースは、前記第1の方向へ伸
びており、また前記表示パネル部に個々に対応された矩
形の複数の開口を少なくとも一列に有している、請求項
2から5のいずれか1項に記載の検査装置。 - 【請求項7】 さらに、前記プローブユニットに組み付
けられた複数のタブであって前記プローブシートの配線
に個々に接続された複数の配線をそれぞれ有する複数の
タブと、該タブの配線に個々に接続された複数の配線を
それぞれ有する複数のフラットケーブルとを含む、請求
項1から6のいずれか1項に記載の検査装置。 - 【請求項8】 さらに、前記第1の方向に長い開口を有
するベースプレートを含み、 前記移動手段は前記ワークテーブルを前記プローブユニ
ットに対し少なくとも三次元的に移動させる測定ステー
ジであり、 前記プローブユニットは前記接触子が前記ベースプレー
トの開口から前記ワークテーブルの側に突出する状態に
前記ベースプレートに配置されている、請求項1から7
のいずれか1項に記載の検査装置。 - 【請求項9】 さらに、前記パネル基板の前記第1の方
向の一端部に形成されているアライメントマークを撮影
する第1のテレビカメラと、前記パネル基板の前記第1
の方向の他端部に形成されているアライメントマークを
撮影する第2のテレビカメラとを含む、請求項1から8
のいずれか1項に記載の検査装置。
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Cited By (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SG99412A1 (en) * | 2002-04-09 | 2003-10-27 | Tokyo Cathode Lab | Probe contact apparatus for display panel inspection |
EP1420259A1 (en) * | 2002-11-18 | 2004-05-19 | Applied Materials GmbH | Apparatus and method for contacting of test objects |
WO2005095999A1 (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Nhk Spring Co., Ltd. | 検査ブロック |
JP2006226747A (ja) * | 2005-02-16 | 2006-08-31 | Yamaha Corp | プローブアッセンブリ、プローブカード及びプローブユニット |
KR100622635B1 (ko) | 2005-03-03 | 2006-09-13 | (주)큐엠씨 | 액정 셀 검사방법 |
KR100620852B1 (ko) | 2004-12-13 | 2006-09-13 | 엘지전자 주식회사 | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 |
JP2007040747A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Micronics Japan Co Ltd | 表示パネルの電気検査装置 |
KR100692050B1 (ko) | 2004-12-14 | 2007-03-12 | 엘지전자 주식회사 | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 |
JP2009539112A (ja) * | 2006-05-31 | 2009-11-12 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Tft−lcd検査のための小型プローバ |
JP2010060991A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法 |
US7746088B2 (en) | 2005-04-29 | 2010-06-29 | Applied Materials, Inc. | In-line electron beam test system |
US7786742B2 (en) | 2006-05-31 | 2010-08-31 | Applied Materials, Inc. | Prober for electronic device testing on large area substrates |
JP2010266322A (ja) * | 2009-05-14 | 2010-11-25 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード |
US7847566B2 (en) | 2004-02-12 | 2010-12-07 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
US7919972B2 (en) | 2004-02-12 | 2011-04-05 | Applied Materials, Inc. | Integrated substrate transfer module |
KR101151194B1 (ko) | 2011-09-21 | 2012-06-08 | 서승환 | 패널검사용 지그 및 이를 이용한 패널검사 장치 |
US8208114B2 (en) | 2002-06-19 | 2012-06-26 | Akt Electron Beam Technology Gmbh | Drive apparatus with improved testing properties |
KR101209160B1 (ko) | 2011-04-21 | 2012-12-06 | 구자회 | 각도 조절이 가능한 능동형 유기 발광 다이오드 원장 검사장치 |
WO2014034655A1 (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-06 | 日本電気株式会社 | 光プローブ、検査装置、検査方法 |
WO2015083858A1 (ko) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 주식회사 이엘피 | Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 |
CN106782234A (zh) * | 2015-11-24 | 2017-05-31 | 飞腾动力公司 | 用于促进对包括多个面板的待测试的装置的检验的系统及方法 |
CN107797317A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-03-13 | 苏州广林达电子科技有限公司 | 一种一对十的老化专用平台 |
CN111712714A (zh) * | 2018-03-07 | 2020-09-25 | 欧姆龙株式会社 | 检查单元以及检查装置 |
CN117214806A (zh) * | 2023-11-07 | 2023-12-12 | 成都汉度科技有限公司 | 一种电网设备测试台及测试系统 |
-
2000
- 2000-05-11 JP JP2000138494A patent/JP2001318116A/ja active Pending
Cited By (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SG99412A1 (en) * | 2002-04-09 | 2003-10-27 | Tokyo Cathode Lab | Probe contact apparatus for display panel inspection |
US8208114B2 (en) | 2002-06-19 | 2012-06-26 | Akt Electron Beam Technology Gmbh | Drive apparatus with improved testing properties |
EP1420259A1 (en) * | 2002-11-18 | 2004-05-19 | Applied Materials GmbH | Apparatus and method for contacting of test objects |
WO2004046740A1 (de) * | 2002-11-18 | 2004-06-03 | Applied Materials Gmbh | Vorrichtung und methode zur kontaktierung von testobjekten |
US7474108B2 (en) | 2002-11-18 | 2009-01-06 | Applied Materials, Gmbh | Apparatus and method for contacting of test objects |
JP2006506629A (ja) * | 2002-11-18 | 2006-02-23 | アプライド マテリアルズ ゲーエムベーハー | 検査体の接触のための装置及び方法 |
CN101625823B (zh) * | 2002-11-18 | 2013-04-17 | 应用材料有限公司 | 用于接触检验对象的装置及方法 |
KR100817597B1 (ko) | 2002-11-18 | 2008-03-31 | 어플라이드 머티어리얼즈 게엠베하 | 시험할 대상물들을 접촉시키기 위한 장치 및 방법 |
US7135875B2 (en) | 2002-11-18 | 2006-11-14 | Applied Materials Gmbh | Apparatus and method for contacting of test objects |
US7919972B2 (en) | 2004-02-12 | 2011-04-05 | Applied Materials, Inc. | Integrated substrate transfer module |
US7847566B2 (en) | 2004-02-12 | 2010-12-07 | Applied Materials, Inc. | Configurable prober for TFT LCD array test |
WO2005095999A1 (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Nhk Spring Co., Ltd. | 検査ブロック |
KR100620852B1 (ko) | 2004-12-13 | 2006-09-13 | 엘지전자 주식회사 | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 |
KR100692050B1 (ko) | 2004-12-14 | 2007-03-12 | 엘지전자 주식회사 | 일렉트로 루미네센스 소자의 검사 장치 |
JP2006226747A (ja) * | 2005-02-16 | 2006-08-31 | Yamaha Corp | プローブアッセンブリ、プローブカード及びプローブユニット |
KR100622635B1 (ko) | 2005-03-03 | 2006-09-13 | (주)큐엠씨 | 액정 셀 검사방법 |
US7746088B2 (en) | 2005-04-29 | 2010-06-29 | Applied Materials, Inc. | In-line electron beam test system |
JP4533271B2 (ja) * | 2005-08-01 | 2010-09-01 | 株式会社日本マイクロニクス | 表示パネルの電気検査装置 |
JP2007040747A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Micronics Japan Co Ltd | 表示パネルの電気検査装置 |
US7786742B2 (en) | 2006-05-31 | 2010-08-31 | Applied Materials, Inc. | Prober for electronic device testing on large area substrates |
JP2009539112A (ja) * | 2006-05-31 | 2009-11-12 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Tft−lcd検査のための小型プローバ |
JP2010060991A (ja) * | 2008-09-05 | 2010-03-18 | Hitachi High-Technologies Corp | 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法 |
JP2010266322A (ja) * | 2009-05-14 | 2010-11-25 | Tokyo Electron Ltd | プローブカード |
KR101209160B1 (ko) | 2011-04-21 | 2012-12-06 | 구자회 | 각도 조절이 가능한 능동형 유기 발광 다이오드 원장 검사장치 |
KR101151194B1 (ko) | 2011-09-21 | 2012-06-08 | 서승환 | 패널검사용 지그 및 이를 이용한 패널검사 장치 |
JPWO2014034655A1 (ja) * | 2012-08-31 | 2016-08-08 | 日本電気株式会社 | 光プローブ、検査装置、検査方法 |
US10451520B2 (en) | 2012-08-31 | 2019-10-22 | Nec Corporation | Optical probe, inspection device, and inspection method |
WO2014034655A1 (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-06 | 日本電気株式会社 | 光プローブ、検査装置、検査方法 |
CN105247373A (zh) * | 2013-12-05 | 2016-01-13 | 株式会社Elp | 用于检测amoled面板的显示面板检测装置及其方法 |
WO2015083858A1 (ko) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 주식회사 이엘피 | Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 |
KR102472765B1 (ko) * | 2015-11-24 | 2022-11-30 | 오르보테크 엘티디. | 셀 접촉 프로빙 패드를 사용한 평판 패널 디스플레이의 전기적 검사 시스템 및 그 방법 |
JP2017096949A (ja) * | 2015-11-24 | 2017-06-01 | フォトン・ダイナミクス・インコーポレーテッド | セル接触プロービングパッドを使用して平面パネル型表示装置を電気的に検査するためのシステムおよび方法 |
KR20170060589A (ko) * | 2015-11-24 | 2017-06-01 | 포톤 다이나믹스, 인코포레이티드 | 셀 접촉 프로빙 패드를 사용한 평판 패널 디스플레이의 전기적 검사 시스템 및 그 방법 |
US10962567B2 (en) | 2015-11-24 | 2021-03-30 | Photon Dynamics, Inc. | Systems and methods for electrical inspection of flat panel displays using cell contact probing pads |
JP2021105620A (ja) * | 2015-11-24 | 2021-07-26 | オルボテック リミテッド | プローブシステム |
JP7085042B2 (ja) | 2015-11-24 | 2022-06-15 | オルボテック リミテッド | プローブシステム |
CN106782234A (zh) * | 2015-11-24 | 2017-05-31 | 飞腾动力公司 | 用于促进对包括多个面板的待测试的装置的检验的系统及方法 |
CN107797317A (zh) * | 2017-12-04 | 2018-03-13 | 苏州广林达电子科技有限公司 | 一种一对十的老化专用平台 |
CN111712714A (zh) * | 2018-03-07 | 2020-09-25 | 欧姆龙株式会社 | 检查单元以及检查装置 |
CN111712714B (zh) * | 2018-03-07 | 2023-06-13 | 欧姆龙株式会社 | 检查单元以及检查装置 |
CN117214806A (zh) * | 2023-11-07 | 2023-12-12 | 成都汉度科技有限公司 | 一种电网设备测试台及测试系统 |
CN117214806B (zh) * | 2023-11-07 | 2024-01-19 | 成都汉度科技有限公司 | 一种电网设备测试台及测试系统 |
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