KR101209160B1 - 각도 조절이 가능한 능동형 유기 발광 다이오드 원장 검사장치 - Google Patents

각도 조절이 가능한 능동형 유기 발광 다이오드 원장 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 AMOLED 원장 검사장치에 있어서, 원장 기판상에 형성되는 AMOLED 패널을 구비하는 검사 스테이지; 상기 검사 스테이지를 지지하며, 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단을 구비하는 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임의 상단부로부터 수직방향으로 연장형성되어, 상기 검사 스테이지가 회전가능하도록 상기 검사 스테이지와 결합하는 한 쌍의 회전수단0); 및 상기 베이스 프레임의 상단부와 상기 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 상기 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치를 제공한다.

Description

각도 조절이 가능한 능동형 유기 발광 다이오드 원장 검사장치{AMOLED inspection apparatus capable of adjusting angle}
본 발명은 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치에 관한 것으로, 베이스 프레임의 상단부와 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단을 구비하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치에 관한 것이다.
액정표시AMOLED 패널이나 유리판상과 같은 표시용 AMOLED 패널은, 이것이 사양서 대로 작동하는지 아닌지의 통전시험 즉 검사가 된다.
이러한 종류의 검사장치의 하나로서, 표시용 AMOLED 패널을 받는 검사 스테이지를 수평방향으로 연장하는 축선 주위로 각도적으로 회전시켜, 표시용 AMOLED 패널을 수평상태와 경사상태로 선택적으로 놓을 수 있도록 한 것이 있다.
상기 종래의 검사장치에 있어서, 검사 스테이지는, 판상의 베이스와, 상기 베이스 위에 설치된 지지 스테이지와, 지지 스테이지 위에 설치되어 표시용 AMOLED 패널을 받는 워크 테이블 즉 지지대를 포함한다. 지지 스테이지는, 지지대를, 이것에 받은 표시용 AMOLED 패널과 평행한 면내에서 이차원적으로 이동시킴과 동시에, 그 표시용 AMOLED 패널에 수직인 방향으로 이동시키고, 게다가 그 표시용 AMOLED 패널에 수직인 축선 주위로 각도적으로 회전시킨다. 이에 의해, 지지대에 받아진 표시용 AMOLED 패널이 통전용 프로브에 대하여 이동되어 위치 결정된다.
검사장치에 있어서는, 표시용 AMOLED 패널을 좌우방향으로부터 비스듬히 관찰하여 그 표시용 AMOLED 패널에 의해 표시되는 화상을 눈으로 볼 수 있는 시야각의 검사를 하는 일이 있다.
그러나 상기와 같은 시야각 검사 시, 종래의 검사장치에서는, 표시용 AMOLED 패널을 통전용 프로브에 대하여 이동할 수 있는데 불과하기 때문에, 육안 점등검사의 경우에는, 작업자가 검사장치에 대하여 좌우로 이동해야 하고, 비디오카메라를 이용하는 자동검사의 경우에는, 비디오카메라를 검사 스테이지에 대하여 좌우로 이동시켜야하는 번거로움이 있는 문제점이 있었다.
본 발명은, 종래와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 베이스 프레임의 상단부와 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단을 구비함으로써, 작업환경에 적합하게 작업대상물의 위치조정작업을 보다 간편하고 신속하게 진행되어 검사의 효율성을 극대화시킬 수 있는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 본 발명은 검사 스테이지를 지지하는 베이스 프레임에 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단을 구비함으로써, 작업자의 키 내지는 체형, 작업자세 등에 따라 높낮이 조절이 가능하여 작업이 매우 용이하고 작업성을 현저히 향상시킬 수 있는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은 AMOLED 원장 검사장치에 있어서, 원장 기판상에 형성되는 AMOLED 패널을 구비하는 검사 스테이지; 상기 검사 스테이지를 지지하며, 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단을 구비하는 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임의 상단부로부터 수직방향으로 연장형성되어, 상기 검사 스테이지가 회전가능하도록 상기 검사 스테이지와 결합하는 한 쌍의 회전수단; 및 상기 베이스 프레임의 상단부와 상기 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 상기 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치를 제공한다.
또한, 상기 베이스 프레임은 상기 검사 스테이지를 지지하는 지지대와 상기 지지대의 하부에 구비되어 상기 높이 조절수단을 이용하여 상기 지지대를 상하이동시키는 베이스를 포함할 수 있다.
또한, 상기 높이 조절수단은 상기 베이스 내에 구비되는 모터의 힘이 벨트에 전달되어 샤프트를 회전시키고 회전된 상기 샤프트는 상기 베이스 상부에 구비되는 엑츄에이터를 구동시켜 상기 지지대를 상하이동시킬 수 있다.
그리고 상기 엑츄에이터는 상기 샤프트와 연결되어 상기 샤프트의 회전운동을 직선 운동으로 바꿔주는 기어유니트에 의해 구동될 수 있다.
또한, 상기 각도 조절수단은 일측이 개방되어 소정의 길이를 갖는 고정바와 상기 고정바의 내측으로 슬라이드 삽입되는 이동로드를 포함할 수 있다.
그리고 상기 고정바 끝단은 상기 베이스 프레임의 상단부에 결합되고, 상기 이동로드 끝단은 상기 검사 스테이지 회전시 상기 베이스 프레임이 인접하는 상기 검사 스테이지의 하단부에 결합될 수 있다.
또한, 상기 베이스 프레임에는 상기 높이 조절수단의 높이 조절을 조작하는 조작수단이 더 구비될 수 있다.
또한, 상기 검사 스테이지에 인접하여, 상기 AMOLED 패널의 발광상태를 모니터링 하는 모니터 수단이 더 구비될 수 있다.
이상에서, 설명한 바와 같이 본 발명은 베이스 프레임의 상단부와 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단을 구비함으로써, 작업환경에 적합하게 작업대상물의 위치조정작업을 보다 간편하고 신속하게 진행할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 검사 스테이지를 지지하는 베이스 프레임에 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단을 구비함으로써, 작업자의 키 내지는 체형, 작업자세 등에 따라 높낮이 조절이 가능하여 작업이 매우 용이하고 작업성을 현저히 향상될 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치를 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치가 각도 조절수단에 의해 90°로 조정된 모습을 도시한 단면도이다.
도 3는 본 발명의 실시예에 따른 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치가 각도 조절수단에 60°로 조정된 모습을 도시한 단면도이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치가 높이 조절수단에 의해 상하이동되는 모습을 도시한 단면도이다.
본 발명에 따른 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치에 대한 기술적 구성을 비롯한 작용효과에 관한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예가 도시된 도면을 참조하여 아래의 상세한 설명에 의해서 명확하게 이해될 것이다.
도 1 및 도 5를 참조하여 설명하면, 본 발명은 AMOLED 원장 검사장치(100)에 있어서, 원장 기판상에 형성되는 AMOLED 패널(111)을 구비하는 검사 스테이지(110), 상기 검사 스테이지(110)를 지지하며, 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단(130)을 구비하는 베이스 프레임(120), 상기 베이스 프레임(120)의 상단부로부터 수직방향으로 연장형성되어, 상기 검사 스테이지(110)가 회전가능하도록 상기 검사 스테이지(110)와 결합하는 한 쌍의 회전수단(140) 및 상기 베이스 프레임(120)의 상단부와 상기 검사 스테이지(110) 하단부에 연결되어, 상기 검사 스테이지(110) 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단(150)을 포함하여 이루어진다.
여기서, AMOLED 원장 검사장치(100)는 원장 검사(대량의 패널(111)을 하나의 기판 상에서 형성한 후 이를 개별적인 패널(111)로 절단하는 이른바 '원장단위'로 검사하는 방법)에서 AMOLED 패널(111)에서 출력되는 신호(휘도, 감마 특성을 나타내는 정보 등이 될 수 있음)등이 사용자 설정한 데이터 범위 또는 제품 스펙을 만족하는 범위 내에 존재하는지 판단하는 장치이다.
그리고 상기 AMOLED 원장 검사장치(100)에서 출력되는 상기 출력 신호가 상기 제품 스펙 등의 범위를 벗어나서 존재하면, 해당 AMOLED 패널은 불량으로 판정하여 폐기 처분하거나 또는 제품의 수리를 하게 된다. 이때, 상기 AMOLED 원장 검사장치(100)에서 불량이 아닌 것으로 판정된 다수개의 AMOLED 패널이 스크라이빙(scribing)되어 개개의 AMOLED 패널(111)들로 분리된다. 그리고 상기 AMOLED 원장 검사장치(100)에 의해 분리된 AMOLED 패널 각각은 개별적으로 모듈출하장치에 의해 모듈 출하 검사를 받게 된다. 모듈 출하 검사란, AMOLED 패널(111) 각각에 대하여 에이징 특성, 감마 특성, 또는 입력 전압 대비 휘도 성능 등의 제품품질 및 구동 성능을 검사하는 것이다.
즉, 상기 AMOLED 원장 검사장치(100)는 모듈 출하 검사를 수행하기 이전의 AMOLED 패널(111)에 대하여 제품 스펙 검사를 실시하는 장치이다.
상기 AMOLED 원장 검사장치(100)는 크게 검사 스테이지(110), 베이스 프레임(120)으로 구성된다.
상기 검사 스테이지(110)는 원장 기판상에 형성되는 AMOLED 패널(111)을 구비한다.이때. 상기 AMOLED 패널(111)은 박막 트랜지스터 기판과 컬러 필터 기판이 액정이 포함된 채로 합착된 상태의 액정 표시 패널(111)로서, 요구되는 표시 장치의 크기에 맞추어 절단되기 이전 상태이다. 그러나 이에 한정되지 않고 절단된 표시 패널(111)에서 또한 적용가능하다.
상기 검사 스테이지(110)는 사각형의 판의 형상을 갖으며, 중앙에 상기 AMOLED 패널(111)을 고정 및 지지하는 영역 즉, 프레임(112)을 구비하고 있다. 이때, 상기 프레임(112)은 상기 AMOLED 패널(111)을 고정 및 지지한 상태로 작업자가 상기 AMOLED 패널(111)의 구동을 목시 검사하여 불량지점을 판별할 수 있도록 구성된다. 요구되는 공정 특성에 따라 상기 프레임(112)은 지면에 대하여 수직 또는 수평으로 다양한 각도로 배치될 수 있다. 상기 프레임(112)에 고정 및 지지된 AMOLED 패널(111)은 상기 프레임에 의하여 구동이 가능하며, 이를 위하여 상기 프레임(112)에는 상기 AMOLED 패널(111)에 전력을 인가할 수 있도록 구성된다. 전력 인가가 가능하도록 구성되는 상기 프레임(112)에 의하여 상기 AMOLED 패널(111)의 신호라인, 박막 트랜지스터 및 액정 캐패시터 등의 검사가 이루어진다.
상기 검사 스테이지(110)에 인접하는 위치에는, 상기 원장검사가 이루어지는 AMOLED 패널(111)의 발광상태를 모니터링 하는 모니터 수단(170)이 더 구비될 수 있다.
상기 베이스 프레임(120)은 상기 검사 스테이지(110)의 하부에 설치되어 상기 검사 스테이지(110)를 지지한다. 상기 베이스 프레임(120)은 상기 검사 스테이지(110)를 지지하는 지지대(121)와, 상기 지지대(121)의 하부에 구비되어, 상기 지지대(121)를 상하이동시키는 베이스(122)를 포함하여 구성된다. 이때, 상기 베이스(122)는 높이 조절수단(130)을 이용하여 작업자의 키 내지는 체형, 작업자세 등에 따라 상기 지지대(121)의 높이를 조절할 수 있다.
상기 높이 조절수단(130)은 상기 베이스(122) 내에 구비되는 모터(131), 상기 모터(131)와 상기 베이스(122) 상에 구비되는 샤프트(133)를 연결하는 벨트(132), 상기 샤프트(133)의 양측에 구비되는 기어유니트(134), 상기 기어유니트(134) 상에 구비되는 엑츄에이터(135)를 포함하여 이루어진다.
상기 높이 조절수단(130)은 상기 모터(131)의 힘이 상기 벨트(132)에 전달되어 샤프트를 회전시키고 회전된 상기 샤프트(133)는 상기 엑츄에이터(135)를 구동시켜 상기 지지대(121)를 상하이동시킨다. 이때, 상기 기어유니트(134)는 상기 샤프트(133)의 회전운동을 직선 운동으로 바꿔주는 역할을 한다. 그리고 본 발명에서의 상기 엑츄에이터(135)는 벨로우즈(bellows)밸브 형태로 도시되었으나, 이에 한정되지 않고 용이하게 굽혀지고 펴지는 주름관형상을 갖는 자바라, 호스 등이 적용될 수 있다.
그리고 상기 베이스 프레임(120)의 측면이나 상면에는 상기 높이 조절수단(130)을 조작하는 조작수단(160)이 더 구비될 수 있다. 이때, 상기 조작수단(160)은 상기 높이 조절수단(130)을 구동시키기 위해 전원을 온 또는 오프시키는 전원 버튼부(161)와 전원이 인가되면 상기 작업자가 자신의 작업환경에 맞게 가압하여 가압시간에 따라 높이를 조절하는 조작 버튼부(162)를 포함하여 구성될 수 있다.
상기 베이스 프레임(120)의 상단부에는 0°에서 90°각도 내에서 상기 검사 스테이지(110)의 자유로운 회전이 가능하도록 하는 한 쌍의 회전수단(140)이 구비된다. 상기 회전수단(140)은 상기 베이스 프레임(120)의 상단부로부터 수직방향으로 연장형성되어 상기 검사 스테이지(110)의 외측면과 결합된다.
그리고 상기 베이스 프레임(120)의 상단부에는 상기 검사 스테이지(110) 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅이 가능하도록 하는 각도 조절수단(150)이 구비된다. 상기 각도 조절수단(150)은 일측이 개방되어 소정의 길이를 갖는 고정바(151)와 상기 고정바(151)의 내측으로 슬라이드 삽입되는 이동로드(152)를 포함하여 구성되는 전동실린더 형태로 구성될 수 있다. 보다 자세하게 설명하면 상기 각도 조절수단(150)의 상기 고정바(151) 끝단은 상기 베이스 프레임(120)의 상단부에 결합되고, 상기 이동로드(152) 끝단은 상기 검사 스테이지(110) 회전시 상기 베이스 프레임(120)이 인접하는 상기 검사 스테이지(110)의 하단부에 결합 된다.
상기 각도 조절수단(150)은 도면에 도시된 바와 같이, 상기 검사 스테이지(110)의 회전 각도가 90°에 가까워질수록 상기 이동로드(152)는 상기 고정바(151) 외측으로 펼쳐져 돌출되고 0°에 가까워질수록 상기 이동로드(152)는 상기 고정바(151) 내측으로 접혀져 삽입되어 상기 검사 스테이지(110)의 각도를 조절 및 유지할 수 있다. 이때, 상기 고정바(151)의 일측 또는 하단에 상기 검사 스테이지(110)의 각도를 완고하게 고정시키기 위해 걸림고정부재(도면미도시)를 더 구비할 수도 있다.
이처럼, 본 발명에 따른 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치(100)는 상기 베이스 프레임(120)의 상단부와 상기 검사 스테이지(110) 하단부에 연결되어, 상기 검사 스테이지(110) 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 상기 각도 조절수단(150)이 구비됨으로써, 작업환경에 적합하게 작업대상물의 위치조정작업을 보다 간편하고 신속하게 진행할 수 있다. 또한, 상기 검사 스테이지(110)를 지지하는 상기 베이스 프레임(120)에 높이 조절이 가능하도록 상기 높이 조절수단(130)이 구비됨으로써, 작업자의 키 내지는 체형, 작업자세 등에 따라 높낮이 조절이 가능하여 작업이 매우 용이하고 작업성을 현저히 향상될 수 있다.
이상에서, 설명한 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 권리 범위는 개시된 실시예에 한정되는 것을 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명이 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변경 및 개량 형태 또는 본 발명의 권리 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
100 : 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치
110 : 검사 스테이지 120 : 베이스 프레임
130 ; 높이 조절수단 140 : 회전수단
150 : 각도 조절수단 160 : 조작수단
170 : 모니터 수단

Claims (8)

  1. AMOLED 원장 검사장치에 있어서,
    원장 기판상에 형성되는 AMOLED 패널을 구비하는 검사 스테이지;
    상기 검사 스테이지를 지지하며, 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단을 구비하는 베이스 프레임;
    상기 베이스 프레임의 상단부로부터 수직방향으로 연장형성되어, 상기 검사 스테이지가 회전가능하도록 상기 검사 스테이지와 결합하는 한 쌍의 회전수단; 및
    상기 베이스 프레임의 상단부와 상기 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 상기 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단;
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스 프레임은 상기 검사 스테이지를 지지하는 지지대와 상기 지지대의 하부에 구비되어 상기 높이 조절수단을 이용하여 상기 지지대를 상하이동시키는 베이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 높이 조절수단은
    상기 베이스 내에 구비되는 모터의 힘이 벨트에 전달되어 샤프트를 회전시키고 회전된 상기 샤프트는 상기 베이스 상부에 구비되는 엑츄에이터를 구동시켜 상기 지지대를 상하이동시키는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 엑츄에이터는 상기 샤프트와 연결되어 상기 샤프트의 회전운동을 직선 운동으로 바꿔주는 기어유니트에 의해 구동되는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 각도 조절수단은
    일측이 개방된 고정바와 상기 고정바의 개방된 일측의 내부로 슬라이드 삽입되는 이동로드를 포함하는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 고정바 끝단은 상기 베이스 프레임의 상단부에 결합되고, 상기 이동로드 끝단은 상기 검사 스테이지 회전시 상기 베이스 프레임이 인접하는 상기 검사 스테이지의 하단부에 결합되는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스 프레임에는 상기 높이 조절수단의 높이 조절을 조작하는 조작수단이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 검사 스테이지에 인접하여, 상기 AMOLED 패널의 발광상태를 모니터링 하는 모니터 수단이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치.
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CN103529373B (zh) * 2013-10-24 2016-02-10 四川虹视显示技术有限公司 Oled缺陷检测装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001318116A (ja) 2000-05-11 2001-11-16 Micronics Japan Co Ltd 表示用パネル基板の検査装置
JP2004170238A (ja) 2002-11-20 2004-06-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd ディスプレイパネルの点灯検査装置
JP2007040747A (ja) 2005-08-01 2007-02-15 Micronics Japan Co Ltd 表示パネルの電気検査装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001318116A (ja) 2000-05-11 2001-11-16 Micronics Japan Co Ltd 表示用パネル基板の検査装置
JP2004170238A (ja) 2002-11-20 2004-06-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd ディスプレイパネルの点灯検査装置
JP2007040747A (ja) 2005-08-01 2007-02-15 Micronics Japan Co Ltd 表示パネルの電気検査装置

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