RU2017113355A - Устройство и способ получения кристалла оксида галлия - Google Patents

Устройство и способ получения кристалла оксида галлия Download PDF

Info

Publication number
RU2017113355A
RU2017113355A RU2017113355A RU2017113355A RU2017113355A RU 2017113355 A RU2017113355 A RU 2017113355A RU 2017113355 A RU2017113355 A RU 2017113355A RU 2017113355 A RU2017113355 A RU 2017113355A RU 2017113355 A RU2017113355 A RU 2017113355A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
gallium oxide
producing
oxide crystal
crystal according
heater
Prior art date
Application number
RU2017113355A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2017113355A3 (ru
RU2729682C2 (ru
Inventor
Кейго ХОСИКАВА
Такуми КОБАЯСИ
Ецуко ОБА
Дзун ЯНАГИСАВА
Original Assignee
Синсу Юниверсити
Фудзикоси Мэшинери Корп.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Синсу Юниверсити, Фудзикоси Мэшинери Корп. filed Critical Синсу Юниверсити
Publication of RU2017113355A publication Critical patent/RU2017113355A/ru
Publication of RU2017113355A3 publication Critical patent/RU2017113355A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2729682C2 publication Critical patent/RU2729682C2/ru

Links

Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/16—Oxides
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22C—ALLOYS
    • C22C5/00—Alloys based on noble metals
    • C22C5/04—Alloys based on a platinum group metal
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/001—Continuous growth
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/002—Crucibles or containers for supporting the melt
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/003—Heating or cooling of the melt or the crystallised material
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/006—Controlling or regulating
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/007—Mechanisms for moving either the charge or the heater
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/10—Crucibles or containers for supporting the melt
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C30—CRYSTAL GROWTH
    • C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14—Heating of the melt or the crystallised materials
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B14/00—Crucible or pot furnaces
    • F27B14/08—Details peculiar to crucible or pot furnaces
    • F27B14/10—Crucibles
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104—Forming layers
    • H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518—Deposited layers
    • H01L21/02521—Materials
    • H01L21/02565—Oxide semiconducting materials not being Group 12/16 materials, e.g. ternary compounds
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104—Forming layers
    • H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612—Formation types
    • H01L21/02617—Deposition types
    • H01L21/02623—Liquid deposition
    • H01L21/02625—Liquid deposition using melted materials
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
    • F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
    • F27B14/00—Crucible or pot furnaces
    • F27B14/08—Details peculiar to crucible or pot furnaces
    • F27B2014/0825—Crucible or pot support

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Claims (19)

1. Устройство для получения кристалла оксида галлия, содержащее печь для выращивания кристаллов вертикальным методом Бриджмена, которая содержит: опорную плиту; цилиндрический корпус печи, обладающий термостойкостью, расположенный поверх опорной плиты; крышку, закрывающую корпус печи; нагреватель, расположенный внутри корпуса печи; тигельный шток, обладающий возможностью вертикального перемещения через опорную плиту; и тигель, расположенный на тигельном штоке, нагреваемый посредством нагревателя,
данный тигель является тиглем, содержащим сплав на основе Pt,
корпус печи имеет внутреннюю стенку, которая сформирована как термостойкая стенка, содержащая множество кольцеобразных термостойких элементов, каждый из которых имеет заданную высоту, наложенных один на другой, каждый из кольцеобразных термостойких элементов содержит множество отдельных частей, которые соединены друг с другом в форме кольца.
2. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 1, в котором тигель является тиглем, содержащим сплав на основе Pt-Rh, имеющий содержание Rh от 10 до 30 масс.%.
3. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 1 или 2, в котором термостойкая стенка содержит диоксид циркония.
4. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 1 или 2, в котором нагреватель является резистивным нагревателем.
5. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 4, в котором резистивный нагреватель является резистивным нагревателем, содержащим MoSi2 в качестве основного материала.
6. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 1 или 2, в котором нагреватель является высокочастотным индукционным нагревателем.
7. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 6, в котором высокочастотный индукционный нагреватель содержит сплав на основе Pt-Rh.
8. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 1 или 2, в котором корпус печи содержит поддерживающий цилиндрический элемент, сформированный из термостойкого материала и расположенный с наружной стороны термостойкой стенки, и теплоизоляционный материал, расположенный между термостойкой стенкой и поддерживающим цилиндрическим элементом, и крышка поддерживается поддерживающим цилиндрическим элементом.
9. Устройство для получения кристалла оксида галлия по п. 1 или 2, в котором крышка содержит теплоизоляционный материал, и упрочняющий элемент размещен в теплоизоляционном материале.
10. Способ получения кристалла оксида галлия, содержащий выращивание кристалла оксида галлия в кислородной атмосфере посредством применения устройства для получения кристалла оксида галлия по п. 1.
11. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 10, в котором оксид галлия является β-Ga2O3.
12. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 10 или 11, в котором тигель является тиглем, содержащим сплав на основе Pt-Rh, имеющий содержание Rh от 10 до 30 масс.%.
13. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 10 или 11, в котором термостойкая стенка содержит диоксид циркония.
14. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 10 или 11, в котором нагреватель является резистивным нагревателем.
15. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 14, в котором резистивный нагреватель является резистивным нагревателем, содержащим MoSi2 в качестве основного материала.
16. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 10 или 11, в котором нагреватель является высокочастотным индукционным нагревателем.
17. Способ получения кристалла оксида галлия по п. 16, в котором высокочастотный индукционный нагреватель содержит сплав на основе Pt-Rh.
RU2017113355A 2016-04-21 2017-04-18 Устройство и способ получения кристалла оксида галлия RU2729682C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016-085153 2016-04-21
JP2016085153A JP6726910B2 (ja) 2016-04-21 2016-04-21 酸化ガリウム結晶の製造装置および酸化ガリウム結晶の製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2017113355A true RU2017113355A (ru) 2018-10-18
RU2017113355A3 RU2017113355A3 (ru) 2020-03-05
RU2729682C2 RU2729682C2 (ru) 2020-08-11

Family

ID=60021074

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017113355A RU2729682C2 (ru) 2016-04-21 2017-04-18 Устройство и способ получения кристалла оксида галлия

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10570528B2 (ru)
JP (1) JP6726910B2 (ru)
KR (2) KR102349701B1 (ru)
CN (2) CN113930841B (ru)
DE (1) DE102017206741A1 (ru)
RU (1) RU2729682C2 (ru)
TW (2) TWI794810B (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2779353C2 (ru) * 2020-02-27 2022-09-06 Фудзикоси Мэшинери Корп. Тигель для выращивания монокристалла оксида галлия
US11674238B2 (en) 2020-02-27 2023-06-13 Fujikoshi Machinery Corp. Crucible for growing metal oxide single crystal

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6800468B2 (ja) * 2018-10-11 2020-12-16 国立大学法人信州大学 酸化ガリウム結晶の製造装置及び酸化ガリウム結晶の製造方法並びにこれらに用いる酸化ガリウム結晶育成用のるつぼ
JP7155968B2 (ja) 2018-12-04 2022-10-19 Tdk株式会社 単結晶育成用ルツボ及び単結晶製造方法
JP7228440B2 (ja) * 2019-03-28 2023-02-24 一般財団法人ファインセラミックスセンター 転位の評価方法および転位の評価を行うためのコンピュータプログラム
JP7403101B2 (ja) * 2019-08-29 2023-12-22 不二越機械工業株式会社 酸化ガリウム結晶育成用るつぼ
JP7258293B2 (ja) * 2019-08-29 2023-04-17 不二越機械工業株式会社 酸化ガリウム結晶育成用るつぼ
US11674239B2 (en) 2020-02-27 2023-06-13 Fujikoshi Machinery Corp. Gallium oxide crystal manufacturing device
JP2022063653A (ja) * 2020-10-12 2022-04-22 不二越機械工業株式会社 酸化ガリウム結晶の製造装置
CN114686819B (zh) * 2020-12-28 2024-02-09 Tcl科技集团股份有限公司 一种坩埚盖及坩埚
JP2022116758A (ja) 2021-01-29 2022-08-10 不二越機械工業株式会社 酸化ガリウム結晶の製造装置および酸化ガリウム結晶の製造方法
JP2022116761A (ja) 2021-01-29 2022-08-10 不二越機械工業株式会社 金属酸化物単結晶製造装置
JP2022149310A (ja) 2021-03-25 2022-10-06 Tdk株式会社 結晶製造方法、結晶製造装置、及び単結晶
CN114561701B (zh) * 2021-06-07 2022-08-19 浙江大学杭州国际科创中心 一种铸造法生长氧化镓单晶的方法及包含氧化镓单晶的半导体器件
EP4219803A1 (en) 2022-01-31 2023-08-02 Siltronic AG Method and apparatus for producing electrically conducting bulk beta-ga2o3 single crystals and electrically conducting bulk beta-ga2o3 single crystal
WO2024078704A1 (en) 2022-10-11 2024-04-18 Forschungsverbund Berlin E.V. MELT-GROWN BULK ß-(AlxGa1-x)2O3 SINGLE CRYSTALS AND METHOD FOR PRODUCING BULK ß-(AlxGA1-x)2O3 SINGLE CRYSTALS

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS604599B2 (ja) * 1976-03-17 1985-02-05 株式会社東芝 タンタル酸リチウム単結晶の製造方法
JPS589800B2 (ja) 1978-11-20 1983-02-22 三洋電機株式会社 酸化物単結晶の製造法
JPS5969490A (ja) 1982-10-14 1984-04-19 Sumitomo Metal Mining Co Ltd タンタル酸リチウム単結晶の製造方法
JPS63218596A (ja) 1987-03-05 1988-09-12 Hitachi Metals Ltd 光透過性に優れたリチウムタンタレ−ト単結晶およびその製造方法
JP2538598B2 (ja) * 1987-06-05 1996-09-25 株式会社東芝 単結晶の引き上げ装置
JP2957857B2 (ja) 1993-07-21 1999-10-06 信越化学工業株式会社 酸化物単結晶の製造方法
JP3254329B2 (ja) * 1994-06-02 2002-02-04 株式会社神戸製鋼所 化合物単結晶の製造方法及び製造装置
US5698029A (en) * 1995-06-06 1997-12-16 Kabushiki Kaisha Kobe Sekio Sho Vertical furnace for the growth of single crystals
JP3881052B2 (ja) * 1996-02-08 2007-02-14 株式会社神戸製鋼所 単結晶製造装置
JP3188923B2 (ja) * 1997-03-18 2001-07-16 日陽エンジニアリング株式会社 硼酸リチウム単結晶育成用容器及び硼酸リチウム単結晶の育成方法
JP2000313696A (ja) * 1999-04-27 2000-11-14 Victor Co Of Japan Ltd 酸化物単結晶の作製方法
JP2000313698A (ja) * 1999-04-27 2000-11-14 Victor Co Of Japan Ltd ランガサイト型結晶の処理方法
CN1272475C (zh) * 2000-02-24 2006-08-30 东芝株式会社 氧化物单晶的制造装置及制造方法
JP2001250787A (ja) * 2000-03-06 2001-09-14 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置および基板処理方法
JP4524527B2 (ja) * 2001-01-31 2010-08-18 三菱マテリアル株式会社 ランガサイト単結晶の作製方法
JP3679097B2 (ja) 2002-05-31 2005-08-03 株式会社光波 発光素子
JP4630986B2 (ja) 2003-02-24 2011-02-09 学校法人早稲田大学 β−Ｇａ２Ｏ３系単結晶成長方法
ATE525498T1 (de) * 2003-02-24 2011-10-15 Univ Waseda Verfahren zum ziehen von beta-ga2o3 einkristallen
JP4168790B2 (ja) * 2003-03-07 2008-10-22 三菱マテリアル株式会社 単結晶製造方法及び単結晶製造装置並びにランガサイト単結晶
JP4475052B2 (ja) * 2004-08-04 2010-06-09 三菱マテリアル株式会社 酸化物単結晶の製造方法及び装置
JP4611103B2 (ja) 2005-05-09 2011-01-12 株式会社光波 β−Ｇａ２Ｏ３結晶の製造方法
US20090025628A1 (en) * 2005-08-17 2009-01-29 Pengdi Han Hybrid stockbarger zone-leveling melting method for directed crystallization and growth of single crystals of lead magnesium niobate-lead titanate (pmn-pt) solid solutions and related piezocrystals
CN100350081C (zh) * 2005-10-08 2007-11-21 山东大学 磷酸镓晶体的助熔剂生长法
JP2008162854A (ja) * 2006-12-28 2008-07-17 Shinshu Univ ランガサイト系単結晶の作製方法及び作製装置並びにその単結晶を用いた燃焼圧センサ
CN101070608B (zh) * 2006-12-29 2010-06-23 嘉兴学院 旋转多坩埚下降法晶体生长系统
TW200932963A (en) * 2008-01-29 2009-08-01 Green Energy Technology Inc Crystal growing furnace with heating improvement structure
JP5446241B2 (ja) * 2008-12-18 2014-03-19 国立大学法人信州大学 融液組成制御一方向凝固結晶成長装置および結晶成長方法
US8460751B2 (en) * 2009-08-28 2013-06-11 Max-Planck-Gesellschaft Zur Foerderung Der Wissenschaften E.V. Method for the synthesis of metallic nanotubes and nanotubes synthesized by the method
JP5493092B2 (ja) 2010-01-28 2014-05-14 並木精密宝石株式会社 酸化ガリウム単結晶の製造方法および酸化ガリウム単結晶
JP5786179B2 (ja) 2010-03-12 2015-09-30 並木精密宝石株式会社 酸化ガリウム単結晶及びその製造方法
JP5618318B2 (ja) 2010-03-12 2014-11-05 並木精密宝石株式会社 酸化ガリウム単結晶の製造方法及び製造装置
JP5879102B2 (ja) 2011-11-15 2016-03-08 株式会社タムラ製作所 β−Ｇａ２Ｏ３単結晶の製造方法
EP2841630B1 (en) * 2012-04-24 2017-04-12 Forschungsverbund Berlin E.V. METHOD AND APPARATUS FOR GROWING INDIUM OXIDE (In203) SINGLE CRYSTALS AND INDIUM OXIDE (In203) SINGLE CRYSTAL
JP2013237591A (ja) 2012-05-16 2013-11-28 Namiki Precision Jewel Co Ltd 酸化ガリウム融液、酸化ガリウム単結晶、酸化ガリウム基板、および酸化ガリウム単結晶の製造方法
CN104372408B (zh) * 2014-12-15 2017-03-22 山东大学 常压下提拉法生长大尺寸氧化镓单晶的方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2779353C2 (ru) * 2020-02-27 2022-09-06 Фудзикоси Мэшинери Корп. Тигель для выращивания монокристалла оксида галлия
US11674238B2 (en) 2020-02-27 2023-06-13 Fujikoshi Machinery Corp. Crucible for growing metal oxide single crystal

Also Published As

Publication number Publication date
RU2017113355A3 (ru) 2020-03-05
CN113930841A (zh) 2022-01-14
TWI729118B (zh) 2021-06-01
KR20220005606A (ko) 2022-01-13
US10570528B2 (en) 2020-02-25
JP6726910B2 (ja) 2020-07-22
CN113930841B (zh) 2023-10-13
KR102374317B1 (ko) 2022-03-14
US20170306521A1 (en) 2017-10-26
TW201807265A (zh) 2018-03-01
TWI794810B (zh) 2023-03-01
KR20170120501A (ko) 2017-10-31
TW202132639A (zh) 2021-09-01
CN107304481A (zh) 2017-10-31
KR102349701B1 (ko) 2022-01-10
JP2017193466A (ja) 2017-10-26
DE102017206741A1 (de) 2017-10-26
CN107304481B (zh) 2021-11-05
RU2729682C2 (ru) 2020-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2017113355A (ru) Устройство и способ получения кристалла оксида галлия
RU2018107517A (ru) Устройство для получения монокристаллов
CN106636664B (zh) 真空蒸馏高纯镁的方法和装置
JP2012084856A5 (ru)
TWI555886B (zh) 藍寶石單結晶之製造裝置
JP2021502942A5 (ru)
RU2016140099A (ru) Спеченный цирконовый материал для матрицы пресс-формы
JP2020066555A (ja) 単結晶育成装置及び単結晶育成方法
JP2019147698A (ja) 結晶育成装置及び結晶育成方法
JP2014125404A (ja) サファイア単結晶育成装置
JP2022024897A (ja) 単結晶製造装置及び単結晶の製造方法
JP4957619B2 (ja) 酸化物単結晶の製造方法
JP6834493B2 (ja) 酸化物単結晶の育成装置及び育成方法
RU2019131468A (ru) Устройство для изготовления кристалла оксида галлия, способ изготовления кристалла оксида галлия и тигель для выращивания кристалла оксида галлия, используемый для этого
US20150068444A1 (en) Holder, crystal growing method, and crystal growing apparatus
CN105276981A (zh) 一种坩埚
JP2005231958A (ja) サファイア単結晶育成装置
CN205329208U (zh) 一种直拉单晶硅的Sb掺杂装置
CN104330517A (zh) 一种化学品燃烧危险性等级测试装置
JP2019026492A (ja) 変形抑制体及び単結晶育成装置
CN204203182U (zh) 一种化学品燃烧危险性等级测试装置
JP6992488B2 (ja) 単結晶育成用ルツボ
JP7079708B2 (ja) 熱合成結晶膜製造装置および熱合成結晶膜製造方法
TW202342831A (zh) 金屬氧化物單晶的製造裝置及金屬氧化物單晶的製造方法
JP2018002573A (ja) 結晶育成装置