KR930024021A - 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 메모리 장치에서 특히 메모리 셀의 컬럼중에서 불량 셀이 발생시에 이를 여분의 컬럼으로 대치하는 컬럼 리던던시에 관한 것으로, 소정의 정전압에 접속된 퓨우즈를 적어도 포함하는 퓨우즈회로를 다수개로 가지며 입력단과 출력단이 상기 컬럼 리던던트 제어회로의 출력신호 및 상기 퓨우즈회로에 각각 연결되는 블럭 선택제어회로를 컬럼 리던던시회로에 구비하므로서, 상기 블럭선택제어회로를 구성하는 다수개의 퓨우즈회로에 정전압이 각각 입력되어 특정 어드레스를 무시할 수 있으므로 해서 동일한 컬럼에서 2개이상의 블럭이 결함으로 발생되어도 이를 용이하게 해결할 수 있어 리페어 영역을 크게 확장할 수 있다. 이로부터 신뢰성 높고 효율이 최대화되는 리던던시를 제공할 수 있고 또한 칩의 레이-아웃이 용이한 리던던시를 제공할 수 있게 된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 의한 컬럼 리던던시의 블럭도. 제6도는 제5도의 일실시예.
Claims (8)
- 로우 어드레스를 입력하는 컬럼 리던던트 제어회로와 상기 컬럼 리던던트 제어회로의 출력신호가 입력으로 연결되는 퓨우즈박스를 구비하는 컬럼 리던던시회로를 가지고 노멀 컬럼선택선에 연결되어 있는 컬럼중의 임의의 하나에 페일이 발생시에 이를 스페어 셀에 구비되어 있는 여분의 컬럼으로 리페어 처리하는 반도체 메모리 장치에 있어서, 소정의 정전압에 접속된 퓨우즈를 적어도 포함하는 퓨우즈회로를 다수개로 가지며 입력단과 출력단이 상기 컬럼 리던던트 제어회로의 출력신호 및 상기 퓨우즈회로에 각각 연결되는 블럭선택제어회로를 구비하고, 리던던시 동작시 상기 블럭 선택제어회로에 의해 리페어가 이루어짐을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 정전압에 의해 상기 퓨우즈회로에 입력되는 특정 어드레스의 입력이 무시됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 정전압이 칩의 외부에서 공급되는 전원전압임을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 블럭선택제어회로가 상기 정전압과 제1어드레스를 입력되는 제1퓨우즈회로와, 상기 정전압과 제2어드레스를 입력하는 제2퓨우즈회로를 구비함을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 컬럼 리던던시를 가지는 반도체 메모리 장치에 있어서, 로우 어드레스를 입력하는 컬럼 리던던트 컨트롤회로와, 상기 컬럼 리던던트 컨트롤회로의 출력신호에 연결되고 회로내에 소정의 정전압에 접속된 퓨우즈를 적어도 포함하는 제1퓨우즈회로를 다수개로 가지는 블럭선택제어회로와, 상기 블럭선택회로의 출력신호에 연결되고 회로내에 소정의 컬럼 어드레스를 입력하는 제2퓨우즈회로를 다수개로 가지는 퓨우즈 박스를 구비함을 특징으로 하는 컬럼 리던던시 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 정전압에 의해 상기 제1퓨우즈회로에 입력되는 특정 어드레스의 입력이 무시됨을 특징으로 하는 컬럼 리던던시 회로.
- 제6항에 있어서, 상기 정전압이 칩의 외부에서 공급되는 전원전압임을 특징으로 하는 컬럼 리던던시 회로.
- 제5항에 있어서, 상기 블럭선택제어회로의 제1퓨우즈회로가 상기 정전압과 제1어드레스를 입력하는 제1스위칭회로와, 상기 정전압과, 제2어드레스를 입력하는 제2스위칭 회로를 구비함을 특징으로 하는 컬럼 리던던시 회로.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920007621A KR950000275B1 (ko) | 1992-05-06 | 1992-05-06 | 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 |
TW083215092U TW296838U (en) | 1992-05-06 | 1992-10-03 | Column redundancy circuit for a semiconductor memory device |
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JP4292914A JP2555252B2 (ja) | 1992-05-06 | 1992-10-30 | 半導体メモリ装置 |
GB9222905A GB2266795B (en) | 1992-05-06 | 1992-11-02 | Column redundancy circuit for a semiconductor memory device |
US08/014,305 US5325334A (en) | 1992-05-06 | 1993-02-05 | Column redundancy circuit for a semiconductor memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920007621A KR950000275B1 (ko) | 1992-05-06 | 1992-05-06 | 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR930024021A true KR930024021A (ko) | 1993-12-21 |
KR950000275B1 KR950000275B1 (ko) | 1995-01-12 |
Family
ID=19332732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920007621A KR950000275B1 (ko) | 1992-05-06 | 1992-05-06 | 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5325334A (ko) |
JP (1) | JP2555252B2 (ko) |
KR (1) | KR950000275B1 (ko) |
DE (1) | DE4236099C2 (ko) |
FR (1) | FR2691000B1 (ko) |
GB (1) | GB2266795B (ko) |
IT (1) | IT1255933B (ko) |
TW (1) | TW296838U (ko) |
Families Citing this family (61)
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JP2555252B2 (ja) | 1996-11-20 |
DE4236099C2 (de) | 2001-01-11 |
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