KR970051443A - 리페어 효율을 향상시킨 반도체 메모리 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 한 칩내에서 다수의 리프레쉬 사이클을 구현할때 리프레쉬 사이클에 따른 리페어 효율을 향상시킨 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 각 단위 셀 블럭 사이에 각각 접속되며 리페어할 셀의 컬럼을 선택하는 리던던시 컬런 엑세스 수단과, 블럭선택 어드레스 및 컬럼 어드레스를 입력으로 하는 결함 셀의 주소가 프로그래밍된 퓨즈를 이용하여 결함 셀의 컬럼을 선택하는 프로그램된 어드레스 신호를 출력하는 리던던시 어드레스 선택수단과, 상기 리던던시 어드레스 선택수단으로부터의 출력신호를 조합하여 한개의 리던던시 컬럼당 적어도 두개 이상의 출력신호를 만들어 상기 리던던시 컬럼 엑세스 수단으로 출력하는 컬럼 디코더 수단을 구비하였다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명의 제1 실시예에 의한 8M 셀 블럭의 구성회로도.
제5도는 본 발명의 제2 실시예에 의한 8M 셀 블럭의 구성회로도.
Claims (4)
- 다수 개의 단위 셀 블럭으로 구성된 반도체 메모리 장치에 있어서, 상기 각 단위 셀 블럭 사이에 각각 접속되며 리페어할 셀의 컬럼을 선택하는 리던던시 컬럼 엑세스 수단과, 블럭선택 어드레스 및 컬럼 어드레스를 입력으로 하여 결함 셀의 주소가 프로그래밍된 퓨즈를 이용하여 결함 셀의 컬럼을 선택하는 프로그램된 어드레스 신호를 출력하는 리던던시 어드레스 선택수단과, 상기 리던던시 어드레스 선택수단으로부터의 출력신호를 조합하여 한개의 리던던시 컬럼당 적어도 두개 이상의 출력신호를 만들어 상기 리던던시 컬럼 엑세스 수단으로 출력하는 컬럼 디코더 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 컬럼 디코더 수단은 3개의 출력신호를 가지며, 그중 하나는 나머지 두개의 신호를 OR연산한 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제2항에 있어서, 상기 OR연산에 의해 만들어진 한개의 출력신호는 리프레시 모드에 따라서 컬럼 디코더 수단의 출력이 중복되는 상기 리던던시 컬럼 엑세스 수단으로 입력되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 컬럼 디코더 수단은 2개의 출력신호를 가지며, 그중 하나를 블럭선택신호에 의해 선택하여 리프레시 모드에 따라서 컬럼 디코더 수단의 출력이 중복되는 상기 리던던시 컬럼 엑세스 수단으로입력하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950065999A KR0172243B1 (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 리페어 효율을 향상시킨 반도체 메모리 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950065999A KR0172243B1 (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 리페어 효율을 향상시킨 반도체 메모리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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KR970051443A true KR970051443A (ko) | 1997-07-29 |
KR0172243B1 KR0172243B1 (ko) | 1999-03-30 |
Family
ID=19447181
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950065999A KR0172243B1 (ko) | 1995-12-29 | 1995-12-29 | 리페어 효율을 향상시킨 반도체 메모리 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0172243B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010070155A (ko) * | 1999-10-27 | 2001-07-25 | 나까무라 쇼오 | 리던던시 연산시스템 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100826641B1 (ko) * | 2006-03-21 | 2008-05-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
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1995
- 1995-12-29 KR KR1019950065999A patent/KR0172243B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010070155A (ko) * | 1999-10-27 | 2001-07-25 | 나까무라 쇼오 | 리던던시 연산시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0172243B1 (ko) | 1999-03-30 |
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