KR950020754A - 컬럼 리던던시 회로 - Google Patents

컬럼 리던던시 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR950020754A
KR950020754A KR1019930031893A KR930031893A KR950020754A KR 950020754 A KR950020754 A KR 950020754A KR 1019930031893 A KR1019930031893 A KR 1019930031893A KR 930031893 A KR930031893 A KR 930031893A KR 950020754 A KR950020754 A KR 950020754A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
column
redundancy
block
address
bad
Prior art date
Application number
KR1019930031893A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960012792B1 (ko
Inventor
한광마
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019930031893A priority Critical patent/KR960012792B1/ko
Publication of KR950020754A publication Critical patent/KR950020754A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960012792B1 publication Critical patent/KR960012792B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/781Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices combined in a redundant decoder
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/80Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
    • G11C29/808Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout using a flexible replacement scheme

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 소자의 리던던시 회로에 관한 것으로, 각각의 메모리 블럭 내에 칼럼 리페어를 위한 여분의 셀을 준비하고 이를 선택하는 리던던시 회로로 입력되는 어드레스 신호로 컬럼 어드레스 뿐만 아니라 블럭 선택어드레스 신호도 함께 사용함으로써, 각각의 블럭 내의 형성된 리던던시 컬럼으로 해당 블럭 내의 불량 컬럼 뿐만 아니라, 다른 블럭 내의 불량 컬럼도 대체할 수 있도록 구현한 것이다.

Description

컬럼 리던던시 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명의 컬럼 리던던시 회로를 포함하는 디코딩 블럭도.
제5도는 본 발명에 의한 컬럼 리던던시 회로의 실시예를 도시한 구성도.

Claims (1)

  1. 반도체 소자의 전체 메모리 어레이를 다수개의 메모리 블럭으로 나누어 구성하고, 각 블럭당 하나 이상의 리던던시 컬럼을 구현하여 블럭 내부에서 불량컬럼이 발생하면 이를 상기의 리던던시 컬럼으로 리페어하는 컬럼 리던던시 회로에 있어서, 각 메모리 블럭 내에 구현된 리던던시 컬럼으로 해당 메모리 블럭 뿐만 아니라, 다른 메모리 블럭의 불량 컬럼도 리페어할 수 있도록 하기 위하여, 컬럼 어드레스와 블럭 선택 어드레스를 입력으로하며 퓨즈를 이용하여 불량 컬럼을 선택하는 주소를 프로그램하는 리던던시 어드레스 선택수단과, 상기 리던던시 어드레스 선택수단의 프로그램된 어드레스 출력을 조합하여 리페어할 메모리 블럭의 블럭 선택 패스를 동작시키는 리던던스 컬럼프리 디코딩 수단과, 각 메모리 블럭의 상기 리던던시 컬럼 프리 디코딩 수단의 출력을 조합하여 리페어 동작시에 불량 컬럼을 선택하는 정상 컬럼 선택 패스를 디스에이블시키는 리던던시 로직수단과, 상기 리던던시 컬럼 프리 디코딩 수단의 출력을 입력으로 하여 리페어된 리던던시 컬럼을 인에이블시키는 리던던시 컬럼 디코딩 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 컬럼 리던던시 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930031893A 1993-12-31 1993-12-31 컬럼 리던던시 회로 KR960012792B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930031893A KR960012792B1 (ko) 1993-12-31 1993-12-31 컬럼 리던던시 회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930031893A KR960012792B1 (ko) 1993-12-31 1993-12-31 컬럼 리던던시 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950020754A true KR950020754A (ko) 1995-07-24
KR960012792B1 KR960012792B1 (ko) 1996-09-24

Family

ID=19374808

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930031893A KR960012792B1 (ko) 1993-12-31 1993-12-31 컬럼 리던던시 회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR960012792B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100356803B1 (ko) * 2000-11-23 2002-10-18 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 리페어 회로
US7359264B2 (en) 2005-08-05 2008-04-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100650710B1 (ko) * 2000-02-29 2006-11-27 주식회사 하이닉스반도체 메모리의 구제 회로 및 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100356803B1 (ko) * 2000-11-23 2002-10-18 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 리페어 회로
US7359264B2 (en) 2005-08-05 2008-04-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
KR960012792B1 (ko) 1996-09-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960008855A (ko) 반도체 메모리 장치의 컬럼 리던던시 회로 및 그 방법
KR900019028A (ko) 리던던트 블럭을 가지는 반도체 메모리장치
KR950024220A (ko) 용장 회로 장치
KR950015398A (ko) 더블로우디코오더를 가지는 반도체 메모리 장치에서의 로우리던던시회로 및 방법
KR950030151A (ko) 반도체 기억장치
KR940026948A (ko) 결함구제회로
US7218558B2 (en) Semiconductor memory devices having column redundancy circuits therein that support multiple memory blocks
KR940020415A (ko) 메모리용 컬럼 여유도 회로(column redundance circuit configuration for a memory)
KR960002368A (ko) 리던던시 기능을 가지는 반도체 메모리 장치
KR920020523A (ko) 반도체 기억장치
KR880009373A (ko) 반도체 기억장치
KR910007000A (ko) 여유 수단을 가지는 반도체 메모리 장치
US6094381A (en) Semiconductor memory device with redundancy circuit
KR950020754A (ko) 컬럼 리던던시 회로
KR100724567B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR960005625A (ko) 테스트타임이 단축되는 반도체메모리장치 및 이를 위한 컬럼선택트랜지스터 제어방법
KR970051427A (ko) 리던던시 효율을 높인 반도체 메모리 장치
KR100253395B1 (ko) 로우/컬럼 선택 회로
KR970051443A (ko) 리페어 효율을 향상시킨 반도체 메모리 장치
KR100359778B1 (ko) 반도체 메모리 소자의 어드레스 발생 회로
KR930003163A (ko) 리던던시 회로를 구비하는 반도체 메모리 장치
KR100306906B1 (ko) 반도체메모리
KR970051438A (ko) 로우 리던던시 회로를 가지는 반도체 메모리 장치
KR19980046167A (ko) 에스램에서의 컬럼 리페어시 패일된 입출력 선택 회로 및 방법
KR0172748B1 (ko) 플래쉬 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090828

Year of fee payment: 14

LAPS Lapse due to unpaid annual fee