KR880009373A - 반도체 기억장치 - Google Patents
반도체 기억장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR880009373A KR880009373A KR1019870015370A KR870015370A KR880009373A KR 880009373 A KR880009373 A KR 880009373A KR 1019870015370 A KR1019870015370 A KR 1019870015370A KR 870015370 A KR870015370 A KR 870015370A KR 880009373 A KR880009373 A KR 880009373A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- word line
- signal
- bit signal
- bit
- logic level
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/80—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout
- G11C29/802—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved layout by encoding redundancy signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/84—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability
- G11C29/844—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability by splitting the decoders in stages
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Dram (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 1실시예에 따른 반도체기억장치의 어드레스 절환회로를 설명하는 회로구성도,
제3도는 제2도에 도시한 반도체기억장치에 있는 퓨우즈회로의 회로 구성도이다.
Claims (6)
- 표준워드선과 보조워드선을 구비한 반도체 기억장치에 있어서, 어드레스신호를 이루는 다수의 비트신호를 받아서 최초의 논리레벨인 비트신호와 상보형 논리레벨인 비트신호를 발생하는 어드레스버퍼(BU)와, 상기 최초의 논리레벨인 미리 설정된 두비트신호와 미리 설정된 두비트신호에 대응하는 상보형 두비트신호를 받아서 디코딩하여 상기 미리 설정된 두비트신호 및 대응하는 두비트신호와 다른 조합신호를 출력하는 부분디코더(PD1) 및, 상기 다른 조합신호를 받아서 불량셀에 접속된 표준워드 선에 대응하는 보조워드선을 선택하도록 상기 다른 신호중 하나늘 선택하는 보조워드선절환회로(SC1)로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 부분디코더(PD1)는 표준워드선의 선택 및 보조워드선의 선택에 공용으로 사용되는 것임을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제1항에 있어서, 보조워드선절환회로(SC1)는 퓨우즈의 끊어짐 여부에 따라 출력신호의 논리레벨이 변하고, 출력신호에 의해 전송게이트회로(T11~T18)를 제어하는 퓨우즈회로(FC11,FC12)로 구성된 것임을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 표준워드선과 보조워드선을 구비한 반도체 기억장치에 있어서, 어드레스신호를 이루는 다수의 비트신호를 받아서 최초의 논리레벨인 비트신호와 상보형 논리레벨인 비트신호를 발생하는 어드레스버퍼(BU)와, 상기 최초의 논리레벨인 미리 설정된 두비트신호와 미리설정된 두비트신호에 대응하는 상보형 두비트신호를 받아 디코딩하여 상기 미리 설정된 두비트 신호 및 대응하는 두비트신호와 다른 조합신호를 출력하는 다수의 제1부분 디코더(PD1~PD4), 상기 제1부분 디코더중 하나에 대응하는 디코더로부터 출력된 다른 신호를 받아 불량셀에 접속된 표준워드선에 대응하는 보조워드선을 선택하도록 상기 다른 신호중 하나를 선택하는 다수의 보조워드선절환회로(SC1~SC4) 및, 상기 보조워드선절환회로에 의해 선택된 신호를 받아 상기 보조워드선을 선택하도록 논리곱신호를 발생하기 위해 선택된 신호의 논리곱을 취하는 제2부분 디코더(SPD)로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제4항에 있어서, 제1부분 디코더(PD1~PD4)각각은 표준 워드선의 선택 및 보조워드선의 선택에 공용으로 사용되는 것임을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
- 제4항에 있어서, 보조워드절환회로(SC1~SC4)는 푸우즈의 끊어짐 여부에 따라 출력신호의 논리레벨이 변하고, 출력신호에 의해 전송게이트회로를 제어하는 퓨우즈회로로 구성된 것임을 특징으로 하는 반도체 기억장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62000832A JPS63168900A (ja) | 1987-01-06 | 1987-01-06 | 半導体記憶装置 |
JP62-832 | 1987-01-06 | ||
JP832 | 1987-01-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR880009373A true KR880009373A (ko) | 1988-09-14 |
KR910004189B1 KR910004189B1 (ko) | 1991-06-24 |
Family
ID=11484593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870015370A KR910004189B1 (ko) | 1987-01-06 | 1987-12-30 | 정규워드선과 보조워드선을 갖춘 반도체기억장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4881202A (ko) |
EP (1) | EP0274378B1 (ko) |
JP (1) | JPS63168900A (ko) |
KR (1) | KR910004189B1 (ko) |
DE (1) | DE3882150T2 (ko) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4972105A (en) * | 1989-09-22 | 1990-11-20 | The U.S. Government As Represented By The Director, National Security Agency | Programmable configurable logic memory |
GB9007796D0 (en) * | 1990-04-06 | 1990-06-06 | Foss Richard C | Dynamic memory row/column redundancy scheme |
DE4041959A1 (de) * | 1990-12-24 | 1992-06-25 | Mikroelektronik Und Technologi | Schaltungsanordnung zur erkennung des programmierzustandes von durchbrennelementen |
US5257228A (en) * | 1991-05-16 | 1993-10-26 | Texas Instruments Incorporated | Efficiency improved DRAM row redundancy circuit |
JP3339641B2 (ja) * | 1991-05-21 | 2002-10-28 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5360988A (en) * | 1991-06-27 | 1994-11-01 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor integrated circuit device and methods for production thereof |
KR940008211B1 (ko) * | 1991-08-21 | 1994-09-08 | 삼성전자 주식회사 | 반도체메모리장치의 리던던트 셀 어레이 배열방법 |
US6781895B1 (en) * | 1991-12-19 | 2004-08-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
US5361227A (en) * | 1991-12-19 | 1994-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
US5548225A (en) * | 1994-05-26 | 1996-08-20 | Texas Instruments Incorportated | Block specific spare circuit |
US5731734A (en) * | 1996-10-07 | 1998-03-24 | Atmel Corporation | Zero power fuse circuit |
US5796662A (en) * | 1996-11-26 | 1998-08-18 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit chip with a wide I/O memory array and redundant data lines |
EP1160799A4 (en) | 1999-01-11 | 2003-02-26 | Ebara Corp | REACTION DEVICE FOR ELECTRON BEAM PROJECTION SYSTEM |
JP2000285693A (ja) | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体記憶装置 |
DE19922920C1 (de) * | 1999-05-19 | 2000-11-16 | Siemens Ag | Integrierter Speicher mit Redundanzfunktion |
US7116590B2 (en) * | 2004-08-23 | 2006-10-03 | Micron Technology, Inc. | Memory address repair without enable fuses |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS563499A (en) * | 1979-06-25 | 1981-01-14 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory device |
JPS60191500A (ja) * | 1984-03-08 | 1985-09-28 | Sharp Corp | 冗長回路 |
JPS6177946A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-21 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US4720817A (en) * | 1985-02-26 | 1988-01-19 | Texas Instruments Incorporated | Fuse selection of predecoder output |
JPS6265300A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-24 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPH0694267B2 (ja) * | 1990-05-24 | 1994-11-24 | タカタ株式会社 | エアバッグ装置 |
-
1987
- 1987-01-06 JP JP62000832A patent/JPS63168900A/ja active Pending
- 1987-12-29 US US07/138,800 patent/US4881202A/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-12-30 KR KR1019870015370A patent/KR910004189B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1988
- 1988-01-05 EP EP88100055A patent/EP0274378B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-01-05 DE DE88100055T patent/DE3882150T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3882150D1 (de) | 1993-08-12 |
KR910004189B1 (ko) | 1991-06-24 |
EP0274378A2 (en) | 1988-07-13 |
EP0274378B1 (en) | 1993-07-07 |
EP0274378A3 (en) | 1991-11-27 |
DE3882150T2 (de) | 1993-12-09 |
JPS63168900A (ja) | 1988-07-12 |
US4881202A (en) | 1989-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4586167A (en) | Semiconductor memory device | |
KR880009373A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR960008452B1 (ko) | 반도체 기억장치 | |
US4618784A (en) | High-performance, high-density CMOS decoder/driver circuit | |
KR940026948A (ko) | 결함구제회로 | |
KR860003603A (ko) | 반도체 메모리 | |
US5742556A (en) | Redundancy scheme for semiconductor RAMS | |
KR860003610A (ko) | 여분회로를 갖는 바이폴라 트랜지스터형 랜돔 억세스 메모리 장치 | |
JPH0568040B2 (ko) | ||
KR880000966A (ko) | 메모리셀 블록의 선택적 동작이 가능한 반도체 메모리 장치 | |
US6477072B2 (en) | Layout design method on semiconductor chip for avoiding detour wiring | |
EP0440176B1 (en) | Semiconductor memory device | |
US4951258A (en) | Dynamic random access memory system including predecoder means | |
KR970063278A (ko) | 반도체 메모리 | |
JP2529554B2 (ja) | メモリ | |
JPH0421956B2 (ko) | ||
KR850004856A (ko) | 프로그래머블 반도체 메모리장치 | |
KR900002305A (ko) | 반도체 기억장치 | |
US6272065B1 (en) | Address generating and decoding circuit for use in burst-type random access memory device having a double data rate, and an address generating method thereof | |
EP0329182A2 (en) | Decoder buffer circuit incorporated in semiconductor memory device | |
US5848019A (en) | Pass gate decoder for a multiport memory dEvice that uses a single ported memory cell array structure | |
US5877989A (en) | Semiconductor memory device | |
KR100390835B1 (ko) | 반도체메모리소자의 로우어드레스 디코딩 장치 | |
US6586970B1 (en) | Address decoder with pseudo and or pseudo nand gate | |
KR100307638B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 칼럼 디코더 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20030530 Year of fee payment: 13 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |