KR930024010A - 불휘발성 반도체 기억장치 - Google Patents

불휘발성 반도체 기억장치 Download PDF

Info

Publication number
KR930024010A
KR930024010A KR1019930008530A KR930008530A KR930024010A KR 930024010 A KR930024010 A KR 930024010A KR 1019930008530 A KR1019930008530 A KR 1019930008530A KR 930008530 A KR930008530 A KR 930008530A KR 930024010 A KR930024010 A KR 930024010A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
power supply
memory
voltage
supply voltage
mos transistor
Prior art date
Application number
KR1019930008530A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960007636B1 (ko
Inventor
도모하루 다나카
리이치로 시로타
Original Assignee
사토 후미오
가부시키가이샤 도시바
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 사토 후미오, 가부시키가이샤 도시바 filed Critical 사토 후미오
Publication of KR930024010A publication Critical patent/KR930024010A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR960007636B1 publication Critical patent/KR960007636B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/30Power supply circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/145Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/03Astable circuits
    • H03K3/0315Ring oscillators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Non-Volatile Memory (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 전원전압의 변동에 의존하지 않는 승압능력을 갖춘 승압회로를 탑재하여 기입·소거시에 전원파워가 헛되이 소비되는 것을 억제하거나 방지하도록 된 불휘발성 반도체 기억장치를 제공하고자함에 그 목적이 있다.
이를 위해 본 발명은, 전원전극의 강하와 더불어 발진주파수가 높아지는 발진회로(9)와, 승압능력에 구동주파수의존성을 가지며 발진회로(9)의 구동에 의해 전원전압을 승압시켜 메모리수단(1)의 기입·소거시에 필요한 전압을 발생시키는 승압회로(8)를 갖춘 것을 특징으로 한다.

Description

불휘발성 반도체 기억장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 불휘발성 반도체 기억장치의 제1실시예를 나타낸 블럭도.

Claims (4)

  1. 불휘발성 메모리 기능을 갖추고 있는 메모리 수단을 구비한 메모리 본체와, 전원 전압의 강하와 더불어 발전 주파수가 높아지는 발진회로 및 승압능력에 구동주파수의존성을 가지며, 상기 발진회로의 구동에 의해 전원전압을 승압시켜 상기 메모리수단의 기입·소거시에 필요한 전압을 발생시키는 승압회로를 갖춘 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 기억장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 발진회로로서 링오실레이터가 이용되고, 상기 링오실레이터는, 복수개의 인버터회로를 서로 전하전송용 MOS 트랜지스터를 매개로 하여 고리모양으로 접속하고, 이 MOS 트랜지스터의 게이트 전극을 출력전압이 전원전압의 강하와 더불어 당해 MOS 트랜지스터의 전송능력을 향상시키는 방향으로 변화하는 전압변환용 회로의 출력단에 접속하여 구성된 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 기억장치.
  3. 제1항에 있어서, 발진회로로서 링오실레이터가 이용되고, 상기 링오실레이터는, 복수개의 인버터회로를 고리 모양으로 접속하고, 사기 각 인버터회로를 각각 전하전성용 MOS 트랜지스터를 매개로 하여 전원전위, 접지전위에 접속하며, 이 이 MOS 트랜지스터의 게이트 전극을 출력전압이 전원전압의 강화와 더불어 당해 MOS 트랜지스터의 전송능력을 향상시키는 방향으로 변화하는 전압변환회로의 출력단에 접속하여 구성된 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 기억장치.
  4. 불휘발성 메모리기능을 갖추고 있는 메모리 수단을 각각 구비한 복수개의 메모리 본체와, 이 복수개의 메모리 본체에 대해 전원 전압을 승압시켜 상기 각 메모리 수단의 기입·소거시에 필요한 전압을 발생시키는 공통의 승압장치를 갖춘 것을 특징으로 하는 불휘발성 반도체 기억장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930008530A 1992-05-19 1993-05-19 불휘발성 반도체 기억장치 KR960007636B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP92-126002 1992-05-19
JP12600292A JP3170038B2 (ja) 1992-05-19 1992-05-19 不揮発性半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR930024010A true KR930024010A (ko) 1993-12-21
KR960007636B1 KR960007636B1 (ko) 1996-06-07

Family

ID=14924299

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930008530A KR960007636B1 (ko) 1992-05-19 1993-05-19 불휘발성 반도체 기억장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5394372A (ko)
JP (1) JP3170038B2 (ko)
KR (1) KR960007636B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100718618B1 (ko) * 2005-03-09 2007-05-16 가부시끼가이샤 도시바 반도체 기억 장치 및 반도체 기억 장치의 구동 방법

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2696598B1 (fr) * 1992-10-01 1994-11-04 Sgs Thomson Microelectronics Circuit élévateur de tension de type pompe de charge avec oscillateur bootstrapé.
JP3643385B2 (ja) * 1993-05-19 2005-04-27 株式会社東芝 半導体回路装置
JP3162564B2 (ja) * 1993-08-17 2001-05-08 株式会社東芝 昇圧回路及び昇圧回路を備えた不揮発性半導体記憶装置
TW271011B (ko) 1994-04-20 1996-02-21 Nippon Steel Corp
KR100210981B1 (ko) * 1994-06-23 1999-07-15 니시무로 타이죠 지연회로와 발진회로 및 반도체 메모리장치
JP3167904B2 (ja) * 1994-12-27 2001-05-21 日本鋼管株式会社 電圧昇圧回路
KR0137437B1 (ko) * 1994-12-29 1998-06-01 김주용 챠지 펌프회로의 출력전압 조절회로
KR0137992B1 (ko) * 1994-12-31 1998-06-15 김주용 링 발진기
KR0167692B1 (ko) * 1995-09-14 1999-02-01 김광호 반도체 메모리장치의 차아지 펌프회로
KR100208443B1 (ko) * 1995-10-14 1999-07-15 김영환 네가티브 전압 구동회로
DE69515669T2 (de) * 1995-10-31 2000-07-27 St Microelectronics Srl Negative Ladungspumpenschaltung für elektrisch löschbare Halbleiterspeichervorrichtung
US5793246A (en) * 1995-11-08 1998-08-11 Altera Corporation High voltage pump scheme incorporating an overlapping clock
US5767734A (en) * 1995-12-21 1998-06-16 Altera Corporation High-voltage pump with initiation scheme
EP0880783B1 (en) * 1996-02-15 1999-10-13 Advanced Micro Devices, Inc. Low supply voltage negative charge pump
JP3732884B2 (ja) * 1996-04-22 2006-01-11 株式会社ルネサステクノロジ 内部電源電圧発生回路、内部電圧発生回路および半導体装置
US6134144A (en) * 1997-09-19 2000-10-17 Integrated Memory Technologies, Inc. Flash memory array
US6005804A (en) * 1997-12-18 1999-12-21 Advanced Micro Devices, Inc. Split voltage for NAND flash
JP3223504B2 (ja) * 1998-03-31 2001-10-29 日本電気株式会社 昇圧回路
JPH11328973A (ja) * 1998-05-20 1999-11-30 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体記憶装置
KR100331263B1 (ko) * 1999-03-15 2002-04-06 박종섭 반도체장치의 오실레이터
JP2002026254A (ja) * 2000-07-03 2002-01-25 Hitachi Ltd 半導体集積回路および不揮発性メモリ
JP2003091996A (ja) * 2001-09-19 2003-03-28 Seiko Epson Corp 不揮発性半導体記憶装置
JP2003168959A (ja) 2001-11-30 2003-06-13 Sharp Corp 発振回路、昇圧回路、不揮発性記憶装置、および半導体装置
JP2003187586A (ja) * 2001-12-14 2003-07-04 Hitachi Ltd 不揮発性半導体記憶装置および情報処理装置
US6768366B2 (en) * 2002-06-29 2004-07-27 Macronix International Co., Ltd. Charge pump system and clock generator
US7719343B2 (en) 2003-09-08 2010-05-18 Peregrine Semiconductor Corporation Low noise charge pump method and apparatus
FR2900290B1 (fr) * 2006-04-19 2008-11-21 Atmel Corp Procede et systeme pour fournir une pompe de charge pour les applications basse tension
WO2007120929A2 (en) * 2006-04-19 2007-10-25 Atmel Corporation Method and system for providing a charge pump for low voltage applications
JP2009003991A (ja) * 2007-06-19 2009-01-08 Toshiba Corp 半導体装置及び半導体メモリテスト装置
JP5384010B2 (ja) * 2008-01-16 2014-01-08 ローム株式会社 高電圧生成回路ならびにそれを用いたメモリ駆動装置およびメモリ装置
US8994452B2 (en) * 2008-07-18 2015-03-31 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US9660590B2 (en) 2008-07-18 2017-05-23 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US8816659B2 (en) 2010-08-06 2014-08-26 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
JP2010124618A (ja) * 2008-11-20 2010-06-03 Toshiba Corp 電源回路
KR101642830B1 (ko) * 2009-03-03 2016-07-27 삼성전자주식회사 전압 레벨을 변경하여 출력하는 반도체 장치
US8686787B2 (en) * 2011-05-11 2014-04-01 Peregrine Semiconductor Corporation High voltage ring pump with inverter stages and voltage boosting stages
US9264053B2 (en) 2011-01-18 2016-02-16 Peregrine Semiconductor Corporation Variable frequency charge pump
US9081399B2 (en) 2012-07-09 2015-07-14 Silanna Semiconductor U.S.A., Inc. Charge pump regulator circuit with variable amplitude control
US9041370B2 (en) 2012-07-09 2015-05-26 Silanna Semiconductor U.S.A., Inc. Charge pump regulator circuit with a variable drive voltage ring oscillator

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57199335A (en) * 1981-06-02 1982-12-07 Toshiba Corp Generating circuit for substrate bias
JPH0738274B2 (ja) * 1988-12-22 1995-04-26 株式会社東芝 不揮発性半導体メモリシステム
JPH03144879A (ja) * 1989-10-31 1991-06-20 Mitsubishi Electric Corp 携帯型半導体記憶装置
JPH03154299A (ja) * 1989-11-13 1991-07-02 Seiko Epson Corp 不揮発性半導体メモリ装置
JP3147395B2 (ja) * 1990-05-07 2001-03-19 セイコーエプソン株式会社 集積回路及び電子機器
JPH04129264A (ja) * 1990-09-20 1992-04-30 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
US5182529A (en) * 1992-03-06 1993-01-26 Micron Technology, Inc. Zero crossing-current ring oscillator for substrate charge pump
US5267218A (en) * 1992-03-31 1993-11-30 Intel Corporation Nonvolatile memory card with a single power supply input

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100718618B1 (ko) * 2005-03-09 2007-05-16 가부시끼가이샤 도시바 반도체 기억 장치 및 반도체 기억 장치의 구동 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05325578A (ja) 1993-12-10
JP3170038B2 (ja) 2001-05-28
US5394372A (en) 1995-02-28
KR960007636B1 (ko) 1996-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930024010A (ko) 불휘발성 반도체 기억장치
JP2755047B2 (ja) 昇圧電位発生回路
KR970051145A (ko) 전위 발생회로
KR930024162A (ko) 반도체 기억 장치
KR950025773A (ko) 반도체집적회로장치
KR950024339A (ko) 반도체 집적회로장치
KR870011696A (ko) 전원전압강하회로
KR950015769A (ko) 반도체 메모리 장치의 전압 승압회로
KR850008564A (ko) 반도체 집적회로 장치
US5532640A (en) Voltage generator circuit generating stable negative potential
KR860009423A (ko) 반도체 승압 신호 발생회로
KR870009385A (ko) 반도체 집적회로 장치
KR970076865A (ko) 불휘발성 반도체 메모리 장치의 차지 펌프 회로
KR960015568A (ko) 승압전위 발생회로
KR970017594A (ko) 반도체 메모리장치의 차아지 펌프 회로
US5986935A (en) Semiconductor memory device with high voltage generation circuit
KR970067368A (ko) 워드선 활성화전압의 안정화회로를 가지는 반도체기억장치
KR940003011A (ko) 출력전압에 있어 전계효과트랜지스터의 한계치전압의 손실이 생기지 않는 전압발생회로
KR960706219A (ko) 승압회로(Boosting Circuit)
KR960015904A (ko) 반도체 집적장치의 내부전압 승압회로
JP2613579B2 (ja) 集積半導体回路内の発生器回路
KR960019978A (ko) 펄스 발생기
KR0170286B1 (ko) 반도체 메모리장치의 전압 승압회로
JPH01134796A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
KR900019026A (ko) 반도체 장치의 기준전압 발생회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110502

Year of fee payment: 16

LAPS Lapse due to unpaid annual fee