JPH06291631A - 電圧駆動形素子の駆動方法及びその回路 - Google Patents

電圧駆動形素子の駆動方法及びその回路

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JPH06291631A
JPH06291631A JP5073081A JP7308193A JPH06291631A JP H06291631 A JPH06291631 A JP H06291631A JP 5073081 A JP5073081 A JP 5073081A JP 7308193 A JP7308193 A JP 7308193A JP H06291631 A JPH06291631 A JP H06291631A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】電圧駆動形素子の電流容量に依存せずにターン
オン,ターンオフ時の電圧変化dV/dt,電流変化d
i/dtを緩和してノイズ並びにサージ電圧を抑制す
る。 【構成】主電流の入出力に係る第1,第2端子と絶縁ゲ
ート構造を有するゲート端子を備えた電圧駆動形素子の
前記第2端子と前記ゲート端子間のゲート電圧を抵抗器
を介して印加或いは除去する電圧駆動形素子の駆動方法
において、前記第1,第2端子間の電圧を検出し、この
検出値に応じて前記抵抗器の抵抗値を変化させることに
より、前記ゲート電圧を増加或いは減少させる速度を遅
くすることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電圧駆動形素子の駆動
方法及びその回路に係り、特にターンオフ及びターンオ
ン時の電圧変化dV/dt,電流変化di/dtを緩和
してノイズ並びにサージ電圧を抑制する駆動方法及び回
路に関する。
【0002】
【従来の技術】MOSゲート構造の電界効果形トランジ
スタ(以後、MOSFETと呼ぶ)や絶縁ゲート型バイ
ポーラトランジスタ(以後、IGBTと呼ぶ)等の電圧
駆動形素子はターンオン、或いはターンオフ時のスイッ
チング速度が速いことが特徴であり、高周波のインバー
タ装置やスイッチング電源に用いられている。近年、こ
れらの素子は大電流化と高速化の進歩が顕著であるが、
反面、高速スイッチングが原因で、サージ電圧による素
子の破壊やノイズによる他の電子機器への妨害という問
題を招いている。こうした問題の対策として、スイッチ
ング時に制御端子(以後、ゲート端子と呼ぶ)への電圧
の印加或いは除去を緩やかに行いスイッチング速度を緩
和することが検討されている。一例として、特開平1−1
83214 号にはターンオフ速度を緩和する方法が述べられ
ており、第1,第2のオフゲート抵抗手段を設け、第1
のオフゲート抵抗手段は低抵抗を、第2のオフゲート抵
抗手段は高抵抗を有している。上記第1,第2のオフゲ
ート抵抗手段はターンオフの開始と同時に働くが、第1
のオフゲート抵抗手段は予め設定された期間のみ働く。
上記構成によって、ターンオフ直後のストレージ期間
(主電流が下降するまでの期間)は第1,第2のオフゲ
ート抵抗手段で大きなゲート電流を流して高速化し、次
に電圧駆動形素子に流れる主電流が下降するフォール期
間は第2のオフゲート抵抗手段のみを働かせて小さなゲ
ート電流を流し、電流の下降時間を長くして電流の変化
di/dtを緩和している。
【0003】また、ターンオン時のサージ電圧を低減す
る方法の例が特開平3−93457号に述べられている。この
方法は、ターンオン直後はゲート電圧の大きさを時間的
に切り替え、ゲート電圧の印加を制限して電圧駆動形素
子に流れる電流の変化di/dtを緩和するものであ
る。本例では、ゲート電圧がツェナーダイオードで決ま
る電圧まで達したら、上記制限を止めてゲート電圧を最
高値まで上昇させる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記2例で、前者は第
1のオフゲート抵抗手段の働く期間を抵抗とコンデンサ
で決まる時定数の時間として予め設定しており、後者は
ゲート電圧の印加を制限する期間をツェナーダイオード
とコンデンサ及び抵抗で設定している。しかしながら、
いずれの方法においても電圧駆動形素子は電流容量に依
存してゲート部の静電容量が増加することから、両方法
では駆動すべき電圧駆動形素子の電流容量に応じて、そ
れぞれ最適な抵抗とコンデンサの値に変更する必要があ
る。また、前者の駆動方法を用いると、電流容量が同じ
素子であってもモータ制御のように素子を流れる電流が
時間的に変化する場合には、第1のオフゲート抵抗手段
の働く期間を電流値に応じて変えることが望ましく、1
つの最適値を選ぶことは容易でない。
【0005】一方、同一の電圧駆動形素子に対してスイ
ッチング時に発生するサージ電圧やノイズの影響は電流
値に依存して大きくなる。また、上記従来例のような方
法でスイッチング時間を遅くすると、スイッチング損失
の増加が問題となる。そこで、フォール、又はライズ期
間のゲート抵抗条件を電流に応じて変えるか、或いは電
流がノイズ等の問題になる電流値以上でのみdi/dt
を抑制することが望ましい。上記2例はいずれもこうし
た電流値に応じたスイッチング速度の緩和については考
慮していない。
【0006】本発明の目的は、上記各問題点を除去する
ものであって、その目的は電圧駆動形素子のゲート容
量、或いは電流値に応じてゲート容量の充放電速度を緩
和しスイッチング時に生じるサージ電圧及びノイズを抑
制することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、主電流の入出力に係る第1,第2端子と絶縁
ゲート構造を有するゲート端子を備えた電圧駆動形素子
の前記第2端子と前記ゲート端子間に、前記第2端子と
前記ゲート端子間に第1のスイッチ手段及び第1の抵抗
手段を介して前記ゲート電圧を除去する回路と、外部制
御電源より第2のスイッチ手段及び第2の抵抗手段を介
してゲート電圧を印加する回路とからなる電圧駆動形素
子の駆動回路において、前記第1,第2端子間の電圧を
検出する電圧検出手段と、前記第1または第2の抵抗手
段の少なくともいずれかは前記電圧検出手段からの電圧
検出信号に基づいて抵抗値を変化させる抵抗可変手段を
備えることにより、前記ゲート電圧を増加或いは減少さ
せる速度を遅くすることを特徴とする。
【0008】さらに、上記回路において、前記第2端子
と前記ゲート端子間のゲート電圧を検出するゲート電圧
検出手段と、該ゲート電圧検出手段からのゲート電圧検
出信号に基づいて前記第1の抵抗手段における抵抗値を
変化させる抵抗可変手段を備えるか、または、前記主電
流の大きさを検出する電流検出手段と、該電流検出手段
からの電流検出信号に基づいて前記第1の抵抗手段にお
ける抵抗値を変化させる抵抗可変手段を備えたことを特
徴とする。
【0009】
【作用】上記によれば、第1,第2端子間の電圧を検出
する手段の出力からターンオン或いはターンオフ時に、
フォール期間の開始或いはライズ期間の終了を判別し、
この期間には抵抗手段を高抵抗化してゲート電圧の減少
或いは増加速度を緩和し、電流の下降或いは上昇に関す
るdi/dtを抑制する。ここで、上記電圧検出手段は
電圧駆動形素子のフォール期間の開始とライズ期間の終
了では、第1,第2端子間の電圧が急激に変化をする特
性を持つことを利用して、ライズ期間の終了とフォール
期間の開始を検出する。
【0010】また、上記構成で高抵抗手段に半導体素子
を使用し、ゲート電圧或いは主電流の一方の値に応じて
上記半導体素子の内部抵抗を変化させる制御信号を出力
する制御信号出力手段を備えることによって、フォール
期間とライズ期間におけるdi/dtの抑制程度を電流
値に応じて調整することが可能である。
【0011】更に、上記構成でゲート電圧を検出する手
段を備えたことにより、第1,第2端子間の電圧が所定
の値に達した時点においてゲート電圧が予め設定した値
以上の場合には、前記抵抗手段の抵抗値を低抵抗から高
抵抗に切り替えると共に、前記所定の値に達した時点の
前記ゲート電圧が前記予め設定した値未満の場合には、
前記抵抗手段の抵抗値を低抵抗のまま維持することでノ
イズ等の問題になる電流値以上でのみdi/dtを抑制
することができ、スイッチング損失の不要な増加を押さ
えることが出来る。ここで、上記ゲート電圧の検出によ
る電流値の判断は、電圧駆動形素子のゲート電圧と飽和
電流値の関係を利用している。即ち、第1,第2端子間
の電圧検出手段から素子が飽和領域に入ったことを、ま
た、ゲート電圧の検出手段からゲート電圧が所望する電
流値に対する設定値(言い換えれば、ゲート電圧が前記
予め設定した値における飽和電流は検出すべき電流値に
相当する)であるかを検出し、両電圧検出手段の結果か
ら電流が検出すべき値以上であるかどうかを識別する。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。図1は、本発明の第1の実施例を示す電圧駆動形素
子の駆動回路の基本ブロック図である。
【0013】図1において、Q1は電圧駆動形素子のI
GBTであり、電流を入力するコレクタ端子(記号
c),電流を出力するエミッタ端子(e)、及び制御電
圧を印加するゲート端子(g)を備える。Q1は負荷2
を介して主電源VEと閉回路を構成する。本実施例では
負荷2は誘導性であるものと仮定し、負荷には逆並列に
フリーホイールダイオードDを設けている。ここで、イ
ンダクタンスLeは負荷2とQ1を接続する配線のイン
ダクタンス成分を表したものである。次にSW1,SW
2はそれぞれスイッチ手段であり制御回路1からの入力
信号Soff、及びSonによってオン,オフ動作させ
る。ここで、本実施例ではSoff、及びSonはいず
れも図に示す制御回路1の出力信号Sで共通であり、ハ
イレベル(H)或いはローレベル(L)の二値化された
信号とする。Q1のゲート端子とSW1の間に接続した
3は第1の抵抗手段であり、Q1のゲート端子間とSW
2の間に接続した4は第2の抵抗手段である。
【0014】制御回路1からSW1に入力信号Soff
が供与されると、SW1はオンし第1の抵抗手段3を介
してQ1のゲート端子とエミッタ端子間のゲート容量C
geに充電された電荷を放電し、Q1をターンオフす
る。また、制御回路1からSW2に入力信号Sonが供与
されると、SW2はオンし第2の抵抗手段4を介して制
御電源Vccからゲート容量Cgeに電荷を充電し、Q
1をターンオンする。ここで、第1,第2の抵抗手段3
及び4はそれぞれ、Q1のコレクタ端子とエミッタ端子
間の電圧(以下コレクタ電圧と呼ぶ)を検出する電圧検
出手段5の出力に応じて抵抗値を変化させる。即ち、コ
レクタ電圧が所定の値未満では、第1,第2の抵抗手段
3及び4の抵抗値は低抵抗,コレクタ電圧が所定の値以
上では、第1,第2の抵抗手段3及び4の抵抗値は高抵
抗に変化させるものとする。この結果、上記Q1のター
ンオフ,ターンオンの期間中にコレクタ電圧が変化する
ことによって第1,第2の抵抗手段3及び4の抵抗値が
変化し、ゲート容量Cgeから電荷を放電、或いは充電
する速度が変化する。ターンオフ時においてはコレクタ
電圧は増加することから、第1の抵抗手段が低抵抗から
高抵抗に変化しCgeからの電荷の放電は遅くなる。一
方、ターンオン時においてはコレクタ電圧は減少するこ
とから、第2の抵抗手段が高抵抗から低抵抗に変化しC
geへの電荷の充電は、始めは遅く、コレクタ電圧が所
定値以上の期間からは速くなる。
【0015】次に、本実施例に関する具体的な回路構成
の一例を図2に示す。図2で破線で囲んだ領域3,4,
5はそれぞれ、図1に示した第1の抵抗手段3,第2の
抵抗手段4、及び電圧検出手段5に関する具体的な回路
構成の一例を示している。第1の抵抗手段3としては、
SW1とQ1のエミッタ端子の間にPチャンネルMOS
FET M1を備え、M1に対して並列に抵抗R1を備
える。第2の抵抗手段4としては、制御電源Vccの正
極とSW2の間にPチャンネルMOSFET M2を備え、M2
に対して並列に抵抗R2を備える。ここで、M1,M2
は電圧検出手段5の出力に応じて内部抵抗が変化するこ
とから可変抵抗手段として用いている。また、R1の抵
抗値はM1のオン時の内部抵抗に比べて十分大きく、同
様にR2の抵抗値はM2のオン時の内部抵抗に比べて十
分大きいものを選ぶ。尚、本実施例ではスイッチ手段S
W1,SW2としてpnp、及びnpnのバイポーラト
ランジスタを用いているが、これらのスイッチ素子はM
OSFETでも良い。同様にM1,M2にはMOSFE
Tを用いているがこれらはバイポーラトランジスタを用
いても良い。次に、コレクタ電圧Vcを検出する電圧検
出手段5としては、制御電源Vccの正極と負極間に直
列に接続した抵抗R5とR6を備え、R5とR6の接続
部(以後、A点と呼ぶ)にアノード端子を、また、Q1
のコレクタ端子にカソード端子をそれぞれ接続したダイ
オードD1を備える。スイッチ手段SW1,SW2を入
力信号Sに応じてオン,オフする手段として抵抗R3,
R4及びnpnトランジスタQ2を備えており、Sがロ
ーレベルの場合にはQ2がオフして、R3とR4の接続
部の電圧は上昇し、SW2はベース電流を供給されてオ
ン,SW1はベースが逆バイアスされてオフ状態とな
る。逆に、Sがハイレベルの場合にはQ2がオンして、
R3とR4の接続部の電圧は減少し、SW2はベースが
逆バイアスされてオフ,SW1はベース電流を供給され
てオン状態となる。
【0016】次に、電圧検出手段5で検出する電圧レベ
ル(前述した所定の電圧)について説明する。まず、電
圧検出手段5でA点の電圧は、Q1がオン状態にある場
合にはそのオン電圧にD1の順方向電圧降下を加えた値
に等しく約3V程度であり、信号の基準電位をVccの
負極を基準電位とすると、論理信号としてはローレベル
(L)に相当する。次に、スイッチングの過渡時でQ1
の電圧がVccより高くなると、D1が逆バイアスされ
オフ状態になるため、A点の電圧はR5とR6の分圧比
で決まる値となり、R5に対してR6の抵抗値を十分大
きい値に選ぶと、ほぼVccに等しい電圧となる(論理
信号としてはハイレベルに相当しHで表す)。この時の
コレクタ電圧の値は上述のようにVccにほぼ等しい
が、この値をVc1と定義する。Vc1はコレクタとゲ
ート間の静電容量Ccgが電圧依存性のため急激に変化
(VcがVc1以上ではCcgは急減する)する際の電
圧にほぼ等しい。また、Ccgが急激に変化する時刻は
ライズ期間の終了、或いはフォール期間の開始に相当す
る。即ち、電圧検出手段5はQ1のコレクタ電圧がVc
1以上かどうかを検出し、A点の電圧を出力としてL又
はHの二値化した出力を発生する機能を有する。
【0017】上記構成による駆動回路で、本発明の狙い
であるターンオフ及びターンオン時におけるdV/d
t,di/dt及びサージ電圧の抑制の動作を次の図3
を用いて述べる。
【0018】図3は、図2に示した駆動回路の動作説明
図である。同図(a)はターンオン時、同図(b)はタ
ーンオフ時の動作をそれぞれ表している。同図(a),
(b)はいずれも駆動信号S,第2或いは第1の抵抗手
段の抵抗値,Q1のゲート電圧Vg,Q1のコレクタ電
圧Vc,Q1のコレクタとゲート間の静電容量Ccg、
及びQ1を流れるコレクタ電流Icに関して時間的な変
化を示している。
【0019】図3(a)のターンオン時には、駆動信号S
がローレベルになると図2のSW2がオンする。ここ
で、Sが印加された直後にはVcの値は前述のCcgが
急減する際の電圧(Vc1)に比べて十分大きく、A点
の電圧はハイレベル(H)である。そこで、M2はオフ
状態であり、第2の抵抗手段の抵抗値はR2の値とな
り、ゲート電圧はゲート容量CgeとR2の積で決まる
時定数でゆっくりと増加する。また、コレクタ電流Ic
は上記ゲート電圧に対する飽和電流が流れ、Vgの増加
に依存して上昇する。このため、コレクタ電流の時間的
変化di/dtは上記時定数に応じたゆっくりしたもの
になり、コレクタ電圧がVc1に達するまでの期間t1
では電流上昇の時間変化di/dtを抑制することがで
きる。Icが負荷電流の定常値(Ic1)に達すると、
それまで飽和の状態にあったQ1が非飽和の状態に移行
する。この結果、コレクタ電圧Vcが減少してVc1の
レベルに達する。VcがVc1未満になると電圧検出手
段5の働きでA点の電圧がハイレベルからローレベル
(L)に変化する。また、同時にCcgはVcに対する
電圧依存性によって急激に増加する。A点の電圧がLに
変化した以降の期間(t2と定義する)ではM2がオン
する。この結果、第2の抵抗手段の抵抗値はR2の高抵
抗からM2のオン抵抗(Ron(M2)と表す)の低抵
抗に変わり、Ccgに蓄積された電荷の放電は急速に行
われる。また、ゲート電圧も急速に増加する。
【0020】次に、図3(b)のターンオフ時の動作に
ついて述べる。駆動信号SがハイレベルになるとSW2
はオフし、変わってSW1がオンする。Sのハイレベル
が印加された直後にはVcの値はVc1に比べて十分小
さく、A点の電圧はLである。そこでVcがVc1以下
の期間t3 においてはM1がオンし、第1の抵抗手段の
抵抗値はM1のオン抵抗(Ron(M1)と表す)の低
抵抗であることから、Cgeに蓄積された電荷の放電は
急速に行われる。Vgの減少が進むとやがてQ1は非飽
和から飽和へと移行する。この過程においてVcが増加
し、Vc1に達するとA点の電圧がHレベルに変化す
る。この結果M1はオフし、第1の抵抗手段の抵抗値は
低抵抗Ron(M1)からR1の高抵抗に変わり、ゲー
ト電圧はゲート容量CgeとR1で決まる時定数でゆっ
くりと減少する。VcがVc1以上の期間t4 において
はQ1は飽和動作に入り、コレクタ電圧が増加すること
によって飽和電流を流し、定常時の負荷電流を維持す
る。コレクタ電圧が増加する期間ではゲート電圧の減少
を抑制しても、コレクタ電圧がVc1から主電源電圧V
Eに達するまでの電圧変化dV/dtを緩和する効果は
少ない。dV/dtを抑制するのはむしろコレクタ電圧
がVEに達した以後の期間である。コレクタ電圧がVE
に達すると、もはやコレクタ電流Icを維持することは
できず、Icは減少過程にあるVgの飽和電流として徐
々に減少する。その時間的変化di/dtはCgeとR
1の積の時定数に応じたゆっくりしたものになる。この
時、Q1のコレクタ電圧としては主電源電圧VEに加え
て配線インダクタンスLeと上記di/dtの積で決ま
るサージ電圧が重畳されるが、ゲート電圧の減少を緩和
していることによりdi/dtは小さく押さえることが
でき、サージ電圧(同図(b)中のVsp)もわずかに
なる。従来の駆動回路ではターンオフの過程において電
流下降期間中のdV/dtが最も大きいが、本実施例に
よればdi/dtの緩和によりdV/dtも抑制するこ
とが出来る。
【0021】以上のように本駆動回路によれば、ターン
オフ過程で電流下降時のdi/dt,dV/dtを抑制
できるほか、配線インダクタンスの影響で生じるサージ
電圧も軽減する効果がある。
【0022】尚、上記図2の実施例においては高抵抗R
1を固定値としたが、この値を可変抵抗化する方法も有
効である。即ち、di/dtはCgeとR1の積の時定
数に応じた変化を示すことから、電流Icが大きい場合
にはR1の抵抗値をより大きくすることで、電流値に応
じたdi/dtの抑制を行うことが出来る。
【0023】図4は、本発明の他の実施例を示す駆動回
路の基本ブロック図である。ここで、図4においては、
前述の図1と同じ構成要素には同一の記号を付してお
り、説明は省略する。同図で6はゲート電圧の検出手段
であり、この出力に応じて第1の抵抗手段における高抵
抗を可変抵抗化する。図4の実施例の具体的な回路例を
図5に示す。図5で図2の回路と構成が異なるのは第1
の抵抗手段3とゲート電圧検出手段6であり、他の部分
は図2と同じであることから説明は省略する。図5で第
1の抵抗手段は図2のM1及びR1に並列にNチャンネ
ルMOSFETM3を備えている。また、ゲート電圧検
出手段6はVccの正極と負極間にPチャンネルMOS
FET M4と抵抗R7の直列接続を備え、M4のソー
ス端子とゲート端子間には抵抗R8をまたM4のゲート
端子とQ1のゲート端子間にツェナーダイオードZDを
備える。そして、M4とR7の接続部から出力Bを取り
出し、この信号をM3の制御信号として供与する。上記
構成のゲート電圧検出手段6はQ1のゲート電圧が減少
し、Vccの正極とQ1のゲート端子間の電圧がZDの
降服電圧以上になると、M4のゲートにバイアス電圧が
与えられ、M4はオンする。また、M4のオンによって
出力Bの電圧値は,Vccの電圧をM4のオン抵抗とR
7で分圧した値となり、この電圧がM3のしきい値電圧
より大きければM3もオン状態となる。以後、Q1のゲ
ート電圧の減少に依存してM4,M3のゲートバイアス
電圧は増加して行く。このため、M3のオン抵抗は時間
的に減少する。ここで、図3(b)に示したように、V
cがVc1の値に達した時点(t3とt4の境界)における
ゲート電圧は、以下に述べるように平坦化しており、そ
の値は定常時の電流Ic1に依存して大きくなる。図3
(b)図において、t3 期間では前述のようにVgの減
少が進み、Q1は非飽和から飽和へと移行する。この過
程においてVcは増加し、第1の抵抗手段とSW1はQ
1のゲート容量の放電電流と同時にCcgの充電電流を
流すが、Vcが増加を始めるとCcgが大きいためゲー
ト電流はほとんどがCcgの充電電流に充てられる。こ
のため、Vgの減少は一旦休止し電圧が平坦になる期間
が生じる。
【0024】次に、平坦化した際のゲート電圧とQ1の
電流値の関係について説明する。図6(a)はゲート電
圧をパラメータとした場合のQ1のコレクタ電圧Vcと
コレクタ電流Icの関係であり、この図でコレクタ電圧
Vc1の状態を飽和領域とすれば、印加したゲート電圧
(Vg1〜Vg4)に対してコレクタ電流はIc1〜I
c4の飽和電流として一義的に決まる。Q1がオン時の
電流がIc2の場合を例とすると、t3 の期間では図6
(a)の1〜3に示すようにQ1の動作点が変化してコ
レクタ電圧が増加する。この結果、電圧が平坦化する際
の値はIc2を飽和電流とするゲート電圧Vg2にな
る。図6(a)からコレクタ電流の飽和値とゲート電圧
の関係を表した図が(b)であり、電流値に依存して平
坦化する際のゲート電圧も大きくなることを示す。図5
の構成に用いたツェナーダイオードの降服電圧をVzと
すると、t4 の期間開始時におけるM3のオン抵抗は、
電流値が大きいほど上記平坦化したゲート電圧が高く、
M4及びM3に印加されるゲートバイアス電圧は小さ
い。このためにM3のオン抵抗は高くなる。次に、M3
のオン抵抗が高いほど、M3のオン抵抗とCgeとで決
まる時定数が長くなり、Vgの時間的な減少も遅くな
る。そして、Vgの減少が遅いほどM3のオン抵抗の減
少も遅くなり、di/dtもこれに依存して抑制され
る。図5の実施例によるターンオフ時のゲート電圧,コ
レクタ電流及びコレクタ電流の特性を図7に示す。この
図で、コレクタ電流が大きいほどt4 の期間におけるゲ
ート電圧の減少が緩和することを示している。
【0025】図5の実施例では電流に応じてM3の抵抗
を変化させる手段としてゲート電圧検出6を用いたが、
この機能に関する他の実施例を図8に示す。図8で破線
で囲む領域7は電流を直接検出してM3のゲートバイア
ス電圧を変化させる手段であり、電流検出手段と呼ぶこ
とにする。尚、領域7以外は図5と同じであり、説明は
省略する。電流検出手段7はQ1に電流検出端子を備え
た素子を用い、電流検出端子に流れる電流をQ3とQ4
からなるカレントミラー手段で取り出し、Q1のエミッ
タ端子を流れる主電流に応じて変化する微小電流をQ4
とこれに直列に接続した抵抗R10に流す。尚、Q4に
は並列に抵抗R9を接続し、Q4がオフ時にはR9とR
10の比で出力Bの電圧が決まるようにしている。上記
構成によると、主電流が大きいほどR10両端の電圧降
下が大きくなり、出力Bの電圧(即ち、M3のゲートバ
イアス電圧)は低下するためM3のオン抵抗は高くな
る。このため、図5のゲート電圧検出手段と同様に、電
流に応じたdi/dtの抑制が行える。
【0026】次に、電流値に応じたdi/dt抑制の選
択機能を備えた実施例について図9を用いて説明する。
図9でdi/dt抑制の選択手段8を除くと、残りの構
成は図2或いは図5と同じであり説明は省略する。但
し、本実施例ではターンオフ時のdi/dt抑制につい
てのみ説明するため、第2の抵抗手段4は抵抗R2で一
定とした。また、図2に示したM1と異なり、第1の抵
抗手段内のトランジスタM1にはNチャンネルMOSF
ETを用いている。
【0027】di/dt抑制の選択手段8としては、ゲ
ート電圧検出手段6の出力Bをロジックインバータ9−
1を介して2入力NAND回路10−1に入力し、NA
ND回路10−1の他の入力端子にはコレクタ電圧検出
手段5の出力Aを入力する。NAND回路10−1の出
力をフリップフロップ手段11のセット端子に入力す
る。駆動信号Sをロジックインバータ9−2に入力し、
その出力をNAND回路10−2の一方の入力端子に入
力する。また、ロジックインバータ9−2の出力を分岐
してロジックインバータ9−3に入力し、9−3の出力
を抵抗R11とコンデンサC1からなる遅延手段を介し
た後、NAND回路10−2の他方の入力端子に入力す
る。NAND回路10−2の出力はフリップフロップ手
段11のリセット端子に入力する。ここで、フリップフ
ロップ手段11の論理はセット端子にローレベルの信号
を入力すると出力Qがハイレベルになり、リセット端子
にローレベルの信号を入力すると出力Qはローレベルに
なる。また、上記フリップフロップ手段11の出力をC
とすると、信号Cをロジックインバータ9−4を介して
AND回路10−3の一方の入力端子に入力し、10−
3の他方の入力端子には駆動信号Sを入力する。AND
回路10−3の出力信号は第1の抵抗手段3内部のM1
に制御信号Soff2として出力する。
【0028】上記構成による駆動方法はターンオフの期
間中にコレクタ電圧検出手段5及びゲート電圧検出手段
6の結果から、前述の平坦化したゲート電圧を検出し、
このゲート電圧に対応するコレクタ電流が設定値以上で
あればdi/dtを抑制することが特徴である。この動
作を次の図10を用いて述べる。
【0029】図10は、図9に示した駆動回路でターン
オフ時の動作説明図である。図10(a)はQ1を流れ
る電流が設定値未満の場合(小電流時と記す)、図10
は電流が設定値レベル以上の場合(大電流時と記す)で
ある。図10(a)と(b)において、t3(或いは
3′)の期間とt4(或いはt4′)の期間の境界では前
述のようにゲート電圧が平坦化し、その値は定常時のコ
レクタ電流に応じて大きくなる。電流値がIc2以上に
おいて抑制を行う場合を例とすると、上記ゲート電圧は
図6(b)からVg2となる。そこで、電流がIc2以
上の場合にdi/dtを抑制するためには、図9のツェ
ナーダイオードZDには、(Vcc−Vg2)の値を降
服電圧とする素子を選ぶ。
【0030】図10(b)の場合には駆動信号Sに応じ
たt3′ 期間の開始直後から第1の抵抗手段内のM1が
オンする。Sの印加直後にはQ1のコレクタ電圧はVc
1以下であるため、第1の電圧検出手段の出力AはLで
ある。このためNAND回路10−1の出力はHであ
り、フリップフロップ手段の出力CはLとなるためSo
ff2はHとなりM1をオンさせてQ1のゲート容量を
急速に放電する。
【0031】t3′ の期間の最終に達すると、Q1のコ
レクタ電圧はVc1に達し、出力AはHに変化する。こ
の時、平坦化したゲート電圧が検出すべきVg2以上で
あれば、ZD1は降服せず、M4にはゲートバイアス電
圧が印加されないためオフであり、B点の電圧はLであ
る。出力AがH,出力BがLの条件が揃うとNAND回
路10−1の出力はLに変化し、フリップフロップ手段
の出力CもHに変わる。この結果、Soff2はLとな
りM1はオフして以後の期間t4′ では、第1の抵抗手
段の抵抗値はR1の高抵抗になり、ゲート電圧の減少を
遅くして電流変化di/dtは抑制される。図9(a)
の場合にはt3の期間の最終で出力AはHに変化した
際、平坦化したゲート電圧は検出すべきVg2より小さ
いため、ZD1は降服しM4はオン状態となってB点の
電圧はHになる。この結果、フリップフロップ手段の出
力CはLを維持するため、ターンオフの終了までM1の
オンも維持され、t4 期間でのdi/dt抑制は行われ
ない。
【0032】
【発明の効果】以上の説明から理解されるように、本発
明によれば電圧駆動形素子に適したサージ電圧及びノイ
ズの抑制が可能となり、素子にサージ電圧防止のスナバ
回路が不要になる他、スイッチング時のノイズが他の電
子機器へ影響を及ぼし誤動作を招く問題を解消すること
ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す電圧駆動形素子の駆動
回路の基本ブロック図である。
【図2】図1の一実施例の具体的な回路構成図である。
【図3】図2の実施例の動作を説明するための動作波形
である。
【図4】本発明の他の実施例を示す電圧駆動形素子の駆
動回路の基本ブロック図である。
【図5】図4の実施例の具体的な回路構成図である。
【図6】図5の実施例の動作を説明するための動作波形
である。
【図7】電圧駆動形素子の素子特性を説明する図であ
る。
【図8】図4の実施例の他の具体的な回路構成図であ
る。
【図9】本発明に係るdi/dt抑制を選択する駆動方
法の実施例である。
【図10】図9の実施例の動作を説明するための動作波
形である。
【符号の説明】
1…制御回路手段、2…負荷、3…第1の抵抗手段、4
…第2の抵抗手段、5…コレクタ電圧検出手段、SW
1,SW2…スイッチ手段、Q1…電圧駆動形素子、V
cc…制御電源、VE…主電源、6…ゲート電圧検出手
段、7…電流検出手段。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】主電流の入出力に係る第1,第2端子と絶
    縁ゲート構造を有するゲート端子を備えた電圧駆動形素
    子の前記第2端子と前記ゲート端子間のゲート電圧を抵
    抗器を介して印加或いは除去する電圧駆動形素子の駆動
    方法において、 前記第1,第2端子間の電圧を検出し、この検出値に応
    じて前記抵抗器の抵抗値を変化させることにより、前記
    ゲート電圧を増加或いは減少させる速度を遅くすること
    を特徴とする電圧駆動形素子の駆動方法。
  2. 【請求項2】請求項1において, 前記第1,第2端子間の電圧が所定値を超えた場合に
    は、前記抵抗器の抵抗値の値を大きくすることを特徴と
    する電圧駆動形素子の駆動方法。
  3. 【請求項3】主電流の入出力に係る第1,第2端子と絶
    縁ゲート構造を有するゲート端子を備えた電圧駆動形素
    子の前記第2端子と前記ゲート端子間に、前記第2端子
    と前記ゲート端子間に第1のスイッチ手段及び第1の抵
    抗手段を介して前記ゲート電圧を除去する回路と、外部
    制御電源より第2のスイッチ手段及び第2の抵抗手段を
    介してゲート電圧を印加する回路とからなる電圧駆動形
    素子の駆動回路において、 前記第1,第2端子間の電圧を検出する電圧検出手段
    と、 前記第1または第2の抵抗手段の少なくともいずれかは
    前記電圧検出手段からの電圧検出信号に基づいて抵抗値
    を変化させる抵抗可変手段を備えたことを特徴とする電
    圧駆動形素子の駆動回路。
  4. 【請求項4】請求項3において、 前記第2端子と前記ゲート端子間のゲート電圧を検出す
    るゲート電圧検出手段と、 該ゲート電圧検出手段からのゲート電圧検出信号に基づ
    いて前記第1の抵抗手段における抵抗値を変化させる抵
    抗可変手段を備えたことを特徴とする電圧駆動形素子の
    駆動回路。
  5. 【請求項5】請求項3において、 前記主電流の大きさを検出する電流検出手段と、 該電流検出手段からの電流検出信号に基づいて前記第1
    の抵抗手段における抵抗値を変化させる抵抗可変手段を
    備えたことを特徴とする電圧駆動形素子の駆動回路。
  6. 【請求項6】請求項3乃至5において、前記抵抗可変手
    段は、前記電圧検出信号あるいは前記電流検出信号に基
    づいて開閉動作するに半導体スイッチ素子と、該素子に
    並列接続された固定抵抗器からなることを特徴とする電
    圧駆動形素子の駆動回路。
  7. 【請求項7】請求項6において、 前記半導体スイッチ素子は、MOSFETで構成したこ
    とを特徴とする電圧駆動形素子の駆動回路。
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