JP7162030B2 - 感光性樹脂組成物 - Google Patents
感光性樹脂組成物 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7162030B2 JP7162030B2 JP2020064645A JP2020064645A JP7162030B2 JP 7162030 B2 JP7162030 B2 JP 7162030B2 JP 2020064645 A JP2020064645 A JP 2020064645A JP 2020064645 A JP2020064645 A JP 2020064645A JP 7162030 B2 JP7162030 B2 JP 7162030B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photosensitive resin
- resin composition
- compound
- ethylenically unsaturated
- unsaturated bond
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 title claims description 126
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 109
- -1 methacrylate compound Chemical class 0.000 claims description 82
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 76
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 76
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 61
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 46
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 30
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 claims description 29
- IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N Ethylene oxide Chemical group C1CO1 IAYPIBMASNFSPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 26
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 24
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical group OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 20
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 claims description 18
- 238000003475 lamination Methods 0.000 claims description 15
- 239000003999 initiator Substances 0.000 claims description 14
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 14
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 10
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 8
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 8
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 claims description 7
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 claims description 7
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 5
- 125000006267 biphenyl group Chemical group 0.000 claims description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 59
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 35
- 238000011161 development Methods 0.000 description 34
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 24
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 22
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 19
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 16
- 125000003647 acryloyl group Chemical group O=C([*])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical group C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 13
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 12
- IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N bisphenol A Chemical compound C=1C=C(O)C=CC=1C(C)(C)C1=CC=C(O)C=C1 IISBACLAFKSPIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 11
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 11
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 10
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 9
- 230000000740 bleeding effect Effects 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 7
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 7
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 6
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 6
- 238000007334 copolymerization reaction Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003504 photosensitizing agent Substances 0.000 description 6
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 6
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 5
- GOOHAUXETOMSMM-UHFFFAOYSA-N Propylene oxide Chemical group CC1CO1 GOOHAUXETOMSMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 5
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 4,4'-Bis(dimethylamino)benzophenone Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 VVBLNCFGVYUYGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 4
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 4
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 4
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 4
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 4
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000008365 aromatic ketones Chemical class 0.000 description 3
- ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N benzoin Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(O)C(=O)C1=CC=CC=C1 ISAOCJYIOMOJEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 3
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 3
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 description 3
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 3
- CDOSHBSSFJOMGT-UHFFFAOYSA-N linalool Chemical compound CC(C)=CCCC(C)(O)C=C CDOSHBSSFJOMGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 3
- 150000003219 pyrazolines Chemical class 0.000 description 3
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- KJUGUADJHNHALS-UHFFFAOYSA-N 1H-tetrazole Chemical compound C=1N=NNN=1 KJUGUADJHNHALS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KFJDQPJLANOOOB-UHFFFAOYSA-N 2h-benzotriazole-4-carboxylic acid Chemical class OC(=O)C1=CC=CC2=NNN=C12 KFJDQPJLANOOOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GUOVBFFLXKJFEE-UHFFFAOYSA-N 2h-benzotriazole-5-carboxylic acid Chemical compound C1=C(C(=O)O)C=CC2=NNN=C21 GUOVBFFLXKJFEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IRQWEODKXLDORP-UHFFFAOYSA-N 4-ethenylbenzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=C(C=C)C=C1 IRQWEODKXLDORP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N Fumaric acid Chemical compound OC(=O)\C=C\C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-OWOJBTEDSA-N 0.000 description 2
- OAZWDJGLIYNYMU-UHFFFAOYSA-N Leucocrystal Violet Chemical compound C1=CC(N(C)C)=CC=C1C(C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 OAZWDJGLIYNYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 244000028419 Styrax benzoin Species 0.000 description 2
- 235000000126 Styrax benzoin Nutrition 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000008411 Sumatra benzointree Nutrition 0.000 description 2
- 235000005811 Viola adunca Nutrition 0.000 description 2
- 240000009038 Viola odorata Species 0.000 description 2
- 235000013487 Viola odorata Nutrition 0.000 description 2
- 235000002254 Viola papilionacea Nutrition 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 125000005529 alkyleneoxy group Chemical group 0.000 description 2
- 229960002130 benzoin Drugs 0.000 description 2
- AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N benzyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC1=CC=CC=C1 AOJOEFVRHOZDFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYHBFRJRBHMIQZ-UHFFFAOYSA-N bis[4-(diethylamino)phenyl]methanone Chemical compound C1=CC(N(CC)CC)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(CC)CC)C=C1 VYHBFRJRBHMIQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005422 blasting Methods 0.000 description 2
- NNBFNNNWANBMTI-UHFFFAOYSA-M brilliant green Chemical compound OS([O-])(=O)=O.C1=CC(N(CC)CC)=CC=C1C(C=1C=CC=CC=1)=C1C=CC(=[N+](CC)CC)C=C1 NNBFNNNWANBMTI-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 2
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 2
- 235000019382 gum benzoic Nutrition 0.000 description 2
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 description 2
- WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N hydroxyacetaldehyde Natural products OCC=O WGCNASOHLSPBMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000003884 phenylalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 229920001451 polypropylene glycol Polymers 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 description 2
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000003440 styrenes Chemical class 0.000 description 2
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N trans-butenedioic acid Natural products OC(=O)C=CC(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- 239000003021 water soluble solvent Substances 0.000 description 2
- 150000007934 α,β-unsaturated carboxylic acids Chemical class 0.000 description 2
- WBYWAXJHAXSJNI-VOTSOKGWSA-M .beta-Phenylacrylic acid Natural products [O-]C(=O)\C=C\C1=CC=CC=C1 WBYWAXJHAXSJNI-VOTSOKGWSA-M 0.000 description 1
- YHMYGUUIMTVXNW-UHFFFAOYSA-N 1,3-dihydrobenzimidazole-2-thione Chemical compound C1=CC=C2NC(S)=NC2=C1 YHMYGUUIMTVXNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SLBOQBILGNEPEB-UHFFFAOYSA-N 1-chloroprop-2-enylbenzene Chemical compound C=CC(Cl)C1=CC=CC=C1 SLBOQBILGNEPEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOHZHMUQBFJTNH-UHFFFAOYSA-N 1-methyl-2h-tetrazole-5-thione Chemical compound CN1N=NN=C1S XOHZHMUQBFJTNH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MHHJQVRGRPHIMR-UHFFFAOYSA-N 1-phenylprop-2-en-1-ol Chemical compound C=CC(O)C1=CC=CC=C1 MHHJQVRGRPHIMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MACMNSLOLFMQKL-UHFFFAOYSA-N 1-sulfanyltriazole Chemical compound SN1C=CN=N1 MACMNSLOLFMQKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AFBBKYQYNPNMAT-UHFFFAOYSA-N 1h-1,2,4-triazol-1-ium-3-thiolate Chemical compound SC=1N=CNN=1 AFBBKYQYNPNMAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KWVGIHKZDCUPEU-UHFFFAOYSA-N 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(OC)(OC)C(=O)C1=CC=CC=C1 KWVGIHKZDCUPEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NEBBLNDVSSWJLL-UHFFFAOYSA-N 2,3-bis(2-methylprop-2-enoyloxy)propyl 2-methylprop-2-enoate Chemical class CC(=C)C(=O)OCC(OC(=O)C(C)=C)COC(=O)C(C)=C NEBBLNDVSSWJLL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JFWOLMRNYJBCCJ-UHFFFAOYSA-N 2,4-bis(2-chlorophenyl)-2-[2-(2-chlorophenyl)-4,5-diphenylimidazol-2-yl]-5-(3,4-dimethoxyphenyl)imidazole Chemical compound C1=C(OC)C(OC)=CC=C1C1=NC(C2(N=C(C(=N2)C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)Cl)(C=2C(=CC=CC=2)Cl)N=C1C1=CC=CC=C1Cl JFWOLMRNYJBCCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RKFITYIZOSRLCV-UHFFFAOYSA-N 2-(2,4-difluorophenyl)-2-[2-(2,4-difluorophenyl)-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=CC(F)=CC=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=CC(F)=CC=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 RKFITYIZOSRLCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JCYHWKVBYDDNKD-UHFFFAOYSA-N 2-(2,5-difluorophenyl)-2-[2-(2,5-difluorophenyl)-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=CC=C(F)C=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=CC=C(F)C=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 JCYHWKVBYDDNKD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LVXWJQRVXVFARN-UHFFFAOYSA-N 2-(2,6-difluorophenyl)-2-[2-(2,6-difluorophenyl)-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=CC=CC=2F)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=CC=CC=2F)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 LVXWJQRVXVFARN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NSWNXQGJAPQOID-UHFFFAOYSA-N 2-(2-chlorophenyl)-4,5-diphenyl-1h-imidazole Chemical class ClC1=CC=CC=C1C1=NC(C=2C=CC=CC=2)=C(C=2C=CC=CC=2)N1 NSWNXQGJAPQOID-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TVIPVNDJQQUGOQ-UHFFFAOYSA-N 2-(2-fluorophenyl)-2-[2-(2-fluorophenyl)-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=CC=CC=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 TVIPVNDJQQUGOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 2-(3-fluorophenyl)-1h-imidazole Chemical compound FC1=CC=CC(C=2NC=CN=2)=C1 JAHNSTQSQJOJLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FXRQXYSJYZPGJZ-UHFFFAOYSA-N 2-[(2-methylpropan-2-yl)oxy]ethenylbenzene Chemical compound CC(C)(C)OC=CC1=CC=CC=C1 FXRQXYSJYZPGJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WMYINDVYGQKYMI-UHFFFAOYSA-N 2-[2,2-bis(hydroxymethyl)butoxymethyl]-2-ethylpropane-1,3-diol Chemical compound CCC(CO)(CO)COCC(CC)(CO)CO WMYINDVYGQKYMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JQMPYPZEZKHJTJ-UHFFFAOYSA-N 2-[2,3-bis(fluoromethyl)phenyl]-2-[2-[2,3-bis(fluoromethyl)phenyl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)imidazole Chemical compound FCC1=C(C=CC=C1CF)C1(N=C(C(=N1)C1=CC(=CC=C1)OC)C1=CC(=CC=C1)OC)C1(N=C(C(=N1)C1=CC(=CC=C1)OC)C1=CC(=CC=C1)OC)C1=C(C(=CC=C1)CF)CF JQMPYPZEZKHJTJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOLNSMTWLSOUQY-UHFFFAOYSA-N 2-[2-[2-[2-[2-[2-[2-(2-hydroxyethoxy)ethoxy]ethoxy]ethoxy]ethoxy]ethoxy]ethoxy]-1-(4-nonylphenoxy)ethanol;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCCCCCCCCC1=CC=C(OC(O)COCCOCCOCCOCCOCCOCCOCCO)C=C1 XOLNSMTWLSOUQY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AIYITDGPHANYCA-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4,5,6-pentafluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4,5,6-pentafluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=C(F)C(F)=C(F)C=2F)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=C(F)C(F)=C(F)C=2F)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 AIYITDGPHANYCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QIBDXULXPMPHQJ-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4,5-tetrafluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4,5-tetrafluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=C(F)C(F)=C(F)C=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=C(F)C(F)=C(F)C=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 QIBDXULXPMPHQJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CURWTGUJTJSIHH-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4,6-tetrafluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4,6-tetrafluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=C(F)C(F)=CC=2F)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=C(F)C(F)=CC=2F)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 CURWTGUJTJSIHH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SBFRPEDNHKKDLM-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4-trifluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,4-trifluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=C(F)C(F)=CC=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=C(F)C(F)=CC=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 SBFRPEDNHKKDLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UEXKPAUCRZATAJ-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,5-trifluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,5-trifluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=C(F)C=C(F)C=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=C(F)C=C(F)C=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 UEXKPAUCRZATAJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HJYAQPQKJSSJDT-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,6-trifluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,3,6-trifluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=C(F)C=CC=2F)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=C(F)C=CC=2F)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 HJYAQPQKJSSJDT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FSJIFAIDISSFSN-UHFFFAOYSA-N 2-[4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,4,5-trifluorophenyl)imidazol-2-yl]-4,5-bis(3-methoxyphenyl)-2-(2,4,5-trifluorophenyl)imidazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C(=NC(N=2)(C=2C(=CC(F)=C(F)C=2)F)C2(N=C(C(=N2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C=C(OC)C=CC=2)C=2C(=CC(F)=C(F)C=2)F)C=2C=C(OC)C=CC=2)=C1 FSJIFAIDISSFSN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WCQJWYPIPVYGHI-UHFFFAOYSA-N 2-[4-[3-(4-tert-butylphenyl)-5-[2-(4-tert-butylphenyl)ethenyl]-1,3-dihydropyrazol-2-yl]phenyl]-1,3-benzoxazole Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C=CC1=CC(C=2C=CC(=CC=2)C(C)(C)C)N(C=2C=CC(=CC=2)C=2OC3=CC=CC=C3N=2)N1 WCQJWYPIPVYGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KUAUJXBLDYVELT-UHFFFAOYSA-N 2-[[2,2-dimethyl-3-(oxiran-2-ylmethoxy)propoxy]methyl]oxirane Chemical compound C1OC1COCC(C)(C)COCC1CO1 KUAUJXBLDYVELT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000954 2-hydroxyethyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])O[H] 0.000 description 1
- LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-1-(4-methylsulfanylphenyl)-2-morpholin-4-ylpropan-1-one Chemical compound C1=CC(SC)=CC=C1C(=O)C(C)(C)N1CCOCC1 LWRBVKNFOYUCNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QEARHKZQYSYPNS-UHFFFAOYSA-N 2-methylprop-2-enoic acid 1,3,5-triazinane-2,4,6-trione Chemical class CC(=C)C(O)=O.CC(=C)C(O)=O.CC(=C)C(O)=O.O=C1NC(=O)NC(=O)N1 QEARHKZQYSYPNS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TWKGRZHFOJJWGP-UHFFFAOYSA-N 2-phenyl-3-(4-propan-2-ylphenyl)-5-[2-(4-propan-2-ylphenyl)ethenyl]-1,3-dihydropyrazole Chemical compound C1=CC(C(C)C)=CC=C1C=CC1=CC(C=2C=CC(=CC=2)C(C)C)N(C=2C=CC=CC=2)N1 TWKGRZHFOJJWGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FMFHUEMLVAIBFI-UHFFFAOYSA-N 2-phenylethenyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=CC1=CC=CC=C1 FMFHUEMLVAIBFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LZHCVNIARUXHAL-UHFFFAOYSA-N 2-tert-butyl-4-ethylphenol Chemical compound CCC1=CC=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 LZHCVNIARUXHAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ULRPISSMEBPJLN-UHFFFAOYSA-N 2h-tetrazol-5-amine Chemical compound NC1=NN=NN1 ULRPISSMEBPJLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCVSNZBGCXUYAK-UHFFFAOYSA-N 3-(2,3-dimethoxyphenyl)-5-[2-(2,3-dimethoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound COC1=CC=CC(C=CC=2NN(C(C=2)C=2C(=C(OC)C=CC=2)OC)C=2C=CC=CC=2)=C1OC YCVSNZBGCXUYAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KCVVTXFNIHFLGX-UHFFFAOYSA-N 3-(2,4-dimethoxyphenyl)-5-[2-(2,4-dimethoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound COC1=CC(OC)=CC=C1C=CC1=CC(C=2C(=CC(OC)=CC=2)OC)N(C=2C=CC=CC=2)N1 KCVVTXFNIHFLGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XGIKBNXXNDSMQM-UHFFFAOYSA-N 3-(2,5-dimethoxyphenyl)-5-[2-(2,5-dimethoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound COC1=CC=C(OC)C(C=CC=2NN(C(C=2)C=2C(=CC=C(OC)C=2)OC)C=2C=CC=CC=2)=C1 XGIKBNXXNDSMQM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QSOSDSRECCIDKA-UHFFFAOYSA-N 3-(2,6-dimethoxyphenyl)-5-[2-(2,6-dimethoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound COC1=CC=CC(OC)=C1C=CC1=CC(C=2C(=CC=CC=2OC)OC)N(C=2C=CC=CC=2)N1 QSOSDSRECCIDKA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- APYVTGGXPXFRBC-UHFFFAOYSA-N 3-(3,4-dimethoxyphenyl)-5-[2-(3,4-dimethoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound C1=C(OC)C(OC)=CC=C1C=CC1=CC(C=2C=C(OC)C(OC)=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)N1 APYVTGGXPXFRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ONZXDAZFTRWYQU-UHFFFAOYSA-N 3-(3,5-dimethoxyphenyl)-5-[2-(3,5-dimethoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C=CC=2NN(C(C=2)C=2C=C(OC)C=C(OC)C=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 ONZXDAZFTRWYQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMESCNYFNZEIFB-UHFFFAOYSA-N 3-(4-methoxyphenyl)-5-[2-(4-methoxyphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1C=CC1=CC(C=2C=CC(OC)=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)N1 ZMESCNYFNZEIFB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZEABUURVUDRWCF-UHFFFAOYSA-N 3-(4-tert-butylphenyl)-5-[2-(4-tert-butylphenyl)ethenyl]-2-phenyl-1,3-dihydropyrazole Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C=CC1=CC(C=2C=CC(=CC=2)C(C)(C)C)N(C=2C=CC=CC=2)N1 ZEABUURVUDRWCF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JLBJTVDPSNHSKJ-UHFFFAOYSA-N 4-Methylstyrene Chemical compound CC1=CC=C(C=C)C=C1 JLBJTVDPSNHSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XESZUVZBAMCAEJ-UHFFFAOYSA-N 4-tert-butylcatechol Chemical compound CC(C)(C)C1=CC=C(O)C(O)=C1 XESZUVZBAMCAEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WZUUZPAYWFIBDF-UHFFFAOYSA-N 5-amino-1,2-dihydro-1,2,4-triazole-3-thione Chemical compound NC1=NNC(S)=N1 WZUUZPAYWFIBDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GDGIVSREGUOIJZ-UHFFFAOYSA-N 5-amino-3h-1,3,4-thiadiazole-2-thione Chemical compound NC1=NN=C(S)S1 GDGIVSREGUOIJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KSMGAOMUPSQGTB-UHFFFAOYSA-N 9,10-dibutoxyanthracene Chemical compound C1=CC=C2C(OCCCC)=C(C=CC=C3)C3=C(OCCCC)C2=C1 KSMGAOMUPSQGTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GJNKQJAJXSUJBO-UHFFFAOYSA-N 9,10-diethoxyanthracene Chemical compound C1=CC=C2C(OCC)=C(C=CC=C3)C3=C(OCC)C2=C1 GJNKQJAJXSUJBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FCNCGHJSNVOIKE-UHFFFAOYSA-N 9,10-diphenylanthracene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=CC=CC=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 FCNCGHJSNVOIKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DOGGTYYFTFGYQM-UHFFFAOYSA-N 9-(3-methylphenyl)acridine Chemical compound CC1=CC=CC(C=2C3=CC=CC=C3N=C3C=CC=CC3=2)=C1 DOGGTYYFTFGYQM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KORJZGKNZUDLII-UHFFFAOYSA-N 9-(4-methylphenyl)acridine Chemical compound C1=CC(C)=CC=C1C1=C(C=CC=C2)C2=NC2=CC=CC=C12 KORJZGKNZUDLII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MTRFEWTWIPAXLG-UHFFFAOYSA-N 9-phenylacridine Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=C(C=CC=C2)C2=NC2=CC=CC=C12 MTRFEWTWIPAXLG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N Acrylonitrile Chemical compound C=CC#N NLHHRLWOUZZQLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- IYPRQDJDFFCBHV-UHFFFAOYSA-N C(C=C)(=O)O.C(CCCCCCCC)C1=CC=C(OC(COCCOCCOCCO)O)C=C1 Chemical compound C(C=C)(=O)O.C(CCCCCCCC)C1=CC=C(OC(COCCOCCOCCO)O)C=C1 IYPRQDJDFFCBHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WBYWAXJHAXSJNI-SREVYHEPSA-N Cinnamic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C1=CC=CC=C1 WBYWAXJHAXSJNI-SREVYHEPSA-N 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- IMROMDMJAWUWLK-UHFFFAOYSA-N Ethenol Chemical class OC=C IMROMDMJAWUWLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005118 N-alkylcarbamoyl group Chemical group 0.000 description 1
- NPKSPKHJBVJUKB-UHFFFAOYSA-N N-phenylglycine Chemical compound OC(=O)CNC1=CC=CC=C1 NPKSPKHJBVJUKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 240000007594 Oryza sativa Species 0.000 description 1
- 235000007164 Oryza sativa Nutrition 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- 229920001328 Polyvinylidene chloride Polymers 0.000 description 1
- OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N Propanedioic acid Natural products OC(=O)CC(O)=O OFOBLEOULBTSOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DHXVGJBLRPWPCS-UHFFFAOYSA-N Tetrahydropyran Chemical group C1CCOCC1 DHXVGJBLRPWPCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKKRPWIIYQTPQF-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane trimethacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(CC)(COC(=O)C(C)=C)COC(=O)C(C)=C OKKRPWIIYQTPQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JUDXBRVLWDGRBC-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-(2-methylprop-2-enoyloxy)-2-(2-methylprop-2-enoyloxymethyl)propyl] 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(CO)(COC(=O)C(C)=C)COC(=O)C(C)=C JUDXBRVLWDGRBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ARNIZPSLPHFDED-UHFFFAOYSA-N [4-(dimethylamino)phenyl]-(4-methoxyphenyl)methanone Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1C(=O)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 ARNIZPSLPHFDED-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 150000008062 acetophenones Chemical class 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- 150000001251 acridines Chemical class 0.000 description 1
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000012644 addition polymerization Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004453 alkoxycarbonyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003282 alkyl amino group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004448 alkyl carbonyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004414 alkyl thio group Chemical group 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001454 anthracenes Chemical class 0.000 description 1
- 239000002518 antifoaming agent Substances 0.000 description 1
- 239000003963 antioxidant agent Substances 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 1
- 150000001565 benzotriazoles Chemical class 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000002915 carbonyl group Chemical group [*:2]C([*:1])=O 0.000 description 1
- 125000004181 carboxyalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 125000004803 chlorobenzyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 229930016911 cinnamic acid Natural products 0.000 description 1
- 235000013985 cinnamic acid Nutrition 0.000 description 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- AFYCEAFSNDLKSX-UHFFFAOYSA-N coumarin 460 Chemical compound CC1=CC(=O)OC2=CC(N(CC)CC)=CC=C21 AFYCEAFSNDLKSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004775 coumarins Chemical class 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N crotonic acid Chemical compound C\C=C\C(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-NSCUHMNNSA-N 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 125000004663 dialkyl amino group Chemical group 0.000 description 1
- VFHVQBAGLAREND-UHFFFAOYSA-N diphenylphosphoryl-(2,4,6-trimethylphenyl)methanone Chemical compound CC1=CC(C)=CC(C)=C1C(=O)P(=O)(C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 VFHVQBAGLAREND-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- STVZJERGLQHEKB-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol dimethacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCOC(=O)C(C)=C STVZJERGLQHEKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 239000001530 fumaric acid Substances 0.000 description 1
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 1
- 150000002366 halogen compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002768 hydroxyalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N maleic acid Chemical compound OC(=O)\C=C/C(O)=O VZCYOOQTPOCHFL-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 239000011976 maleic acid Substances 0.000 description 1
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229920003145 methacrylic acid copolymer Polymers 0.000 description 1
- WBYWAXJHAXSJNI-UHFFFAOYSA-N methyl p-hydroxycinnamate Natural products OC(=O)C=CC1=CC=CC=C1 WBYWAXJHAXSJNI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N methylenebutanedioic acid Natural products OC(=O)CC(=C)C(O)=O LVHBHZANLOWSRM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 229910003465 moissanite Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000000449 nitro group Chemical group [O-][N+](*)=O 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- UHHKSVZZTYJVEG-UHFFFAOYSA-N oxepane Chemical group C1CCCOCC1 UHHKSVZZTYJVEG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N p-methoxyphenol Chemical compound COC1=CC=C(O)C=C1 NWVVVBRKAWDGAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 125000000843 phenylene group Chemical group C1(=C(C=CC=C1)*)* 0.000 description 1
- 125000000286 phenylethyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 150000003021 phthalic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920002239 polyacrylonitrile Polymers 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 239000005033 polyvinylidene chloride Substances 0.000 description 1
- 238000003918 potentiometric titration Methods 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- HJWLCRVIBGQPNF-UHFFFAOYSA-N prop-2-enylbenzene Chemical compound C=CCC1=CC=CC=C1 HJWLCRVIBGQPNF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 150000004053 quinones Chemical class 0.000 description 1
- 235000009566 rice Nutrition 0.000 description 1
- 125000006413 ring segment Chemical group 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000005201 scrubbing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005846 sugar alcohols Polymers 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 125000003718 tetrahydrofuranyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 1
- LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N trans-crotonic acid Natural products CC=CC(O)=O LDHQCZJRKDOVOX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- DWWMSEANWMWMCB-UHFFFAOYSA-N tribromomethylsulfonylbenzene Chemical compound BrC(Br)(Br)S(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 DWWMSEANWMWMCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013638 trimer Substances 0.000 description 1
- FIQMHBFVRAXMOP-UHFFFAOYSA-N triphenylphosphane oxide Chemical compound C=1C=CC=CC=1P(C=1C=CC=CC=1)(=O)C1=CC=CC=C1 FIQMHBFVRAXMOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- PAPBSGBWRJIAAV-UHFFFAOYSA-N ε-Caprolactone Chemical compound O=C1CCCCCO1 PAPBSGBWRJIAAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F2/00—Processes of polymerisation
- C08F2/44—Polymerisation in the presence of compounding ingredients, e.g. plasticisers, dyestuffs, fillers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F2/00—Processes of polymerisation
- C08F2/46—Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation
- C08F2/48—Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation by ultraviolet or visible light
- C08F2/50—Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation by ultraviolet or visible light with sensitising agents
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F2/00—Processes of polymerisation
- C08F2/46—Polymerisation initiated by wave energy or particle radiation
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F20/00—Homopolymers and copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride, ester, amide, imide or nitrile thereof
- C08F20/02—Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms, Derivatives thereof
- C08F20/10—Esters
- C08F20/26—Esters containing oxygen in addition to the carboxy oxygen
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F265/00—Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers of unsaturated monocarboxylic acids or derivatives thereof as defined in group C08F20/00
- C08F265/04—Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers of unsaturated monocarboxylic acids or derivatives thereof as defined in group C08F20/00 on to polymers of esters
- C08F265/06—Polymerisation of acrylate or methacrylate esters on to polymers thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F290/00—Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups
- C08F290/02—Macromolecular compounds obtained by polymerising monomers on to polymers modified by introduction of aliphatic unsaturated end or side groups on to polymers modified by introduction of unsaturated end groups
- C08F290/06—Polymers provided for in subclass C08G
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/028—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
- G03F7/029—Inorganic compounds; Onium compounds; Organic compounds having hetero atoms other than oxygen, nitrogen or sulfur
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/028—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
- G03F7/031—Organic compounds not covered by group G03F7/029
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/032—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/032—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
- G03F7/033—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders the binders being polymers obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds, e.g. vinyl polymers
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/038—Macromolecular compounds which are rendered insoluble or differentially wettable
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
- G03F7/40—Treatment after imagewise removal, e.g. baking
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/26—Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
- G03F7/42—Stripping or agents therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/18—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using precipitation techniques to apply the conductive material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Graft Or Block Polymers (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
- Macromonomer-Based Addition Polymer (AREA)
- Polymerisation Methods In General (AREA)
Description
[1]
(A)アルカリ可溶性高分子;
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤;
を含む感光性樹脂組成物であって、
該感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層を基板表面上に形成し、露光及び現像を行って得られたレジストパターンを耐薬液性評価の薬液で処理した後に、硬化レジストラインの最小ライン幅が17μm以下である、感光性樹脂組成物。
[2]
前記感光性樹脂層を前記基板表面上に形成し、ストーファー41段ステップタブレットをマスクとして露光し、次いで、現像したときの最高残膜段数が15段となる露光量で、該感光性樹脂層に露光を行った時、
FT-IR測定において、露光前の波数810cm-1におけるピーク高さをP、前記露光を行った後の前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中のエチレン性二重結合の反応率をQ、前記感光性樹脂層の膜厚をRとした場合のP×Q/Rの値が0.21以上である、[1]に記載の感光性樹脂組成物。
[3]
前記(A)アルカリ可溶性高分子のガラス転移温度Tgの重量平均値Tgtotalが、110℃以下である、[1]又は[2]に記載の感光性樹脂組成物。
[4]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物の重量平均分子量が760以上である、[1]~[3]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[5]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中におけるメタクリロイル基の濃度が0.20mol/100g以上である、[1]~[4]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[6]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中におけるエチレンオキサイドユニットの濃度が0.80mol/100g以上である、[1]~[5]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[7]
前記(C)光重合開始剤として、ヘキサアリールビスイミダゾール化合物を含む、[1]~[6]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[8]
(A)アルカリ可溶性高分子;
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤;
を含む感光性樹脂組成物であって、
前記(A)アルカリ可溶性高分子のガラス転移温度Tgの重量平均値Tgtotalが、110℃以下であり、かつ
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、エチレン性不飽和結合を3個以上有する(メタ)アクリレート化合物を含む、前記感光性樹脂組成物。
[9]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、エチレン性不飽和結合を5個以上有し、かつアルキレンオキサイド鎖を有する(メタ)アクリレート化合物を含む、[8]に記載の感光性樹脂組成物。
[10]
前記(A)アルカリ可溶性高分子が、100~600の酸当量及び5,000~500,000の重量平均分子量を有し、かつその側鎖に芳香族基を有する、[8]又は[9]に記載の感光性樹脂組成物。
[11]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、エチレン性不飽和結合を5個以上有し、かつエチレンオキサイド鎖を有する(メタ)アクリレート化合物を含む、[8]~[10]のいずれか1項に記載の前記感光性樹脂組成物。
[12]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、エチレンオキサイド鎖とジペンタエリスリトール骨格とを有する(メタ)アクリレート化合物を含む、[8]~[11]のいずれか1項に記載の前記感光性樹脂組成物。
[13]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、下記一般式(II):
で表される化合物をさらに含む、[8]~[12]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[14]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、下記一般式(I):
で表される化合物をさらに含む、[8]~[13]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[15]
前記(C)光重合開始剤として、ヘキサアリールビスイミダゾール化合物を含む、[8]~14のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[16]
前記(C)光重合開始剤として、ピラゾリン化合物を含む、[8]~[15]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[17]
ダイレクトイメージング露光用である、[8]~[16]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[18]
前記(A)アルカリ可溶性高分子のガラス転移温度Tgの重量平均値Tgtotalが、105℃以下であり、
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、(b1)メタクリロイル基を少なくとも3個有する化合物を、前記感光性樹脂組成物の固形分総量に対して0質量%を超え16質量%以下の範囲で含み、かつ
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物のうちの70質量%以上が、500以上の重量平均分子量を有する化合物である、
[8]に記載の感光性樹脂組成物。
[19]
前記(b1)メタクリロイル基を少なくとも3個有する化合物は、500以上の重量平均分子量を有する、[18]に記載の感光性樹脂組成物。
[20]
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、(b2)ブチレンオキサイド鎖と1個又は2個の(メタ)アクリロイル基とを有する化合物を含む、[18]又は[19]に記載の感光性樹脂組成物。
[21]
前記(b2)ブチレンオキサイド鎖と1個又は2個の(メタ)アクリロイル基とを有する化合物は、500以上の重量平均分子量を有する、[20]に記載の感光性樹脂組成物。
本実施形態では、感光性樹脂組成物が、(A)アルカリ可溶性高分子、(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物、及び(C)光重合開始剤を含む。所望により、感光性樹脂組成物は、(D)添加剤、といったその他の成分をさらに含んでよい。
P×Q/R≧0.21
{式中、感光性樹脂層について、Pは、FT-IR測定において、露光前の波数810cm-1におけるピーク高さを表し、Qは、(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中のエチレン性二重結合の露光後の反応率を表し、かつRは、膜厚を表す。}
により表される関係を満たすことが好ましい。上記で説明された式P×Q/Rで表される値は、より好ましくは、0.22以上、0.23以上、0.24以上、0.25以上、又は0.27以上である。式P×Q/Rで表される値の測定方法及び条件は、実施例において説明される。
(A)アルカリ可溶性高分子は、アルカリ物質に溶解可能な高分子である。本実施形態では、感光性樹脂組成物は、アルカリ現像性の観点から、カルボキシル基を有することが好ましく、カルボキシル基含有単量体を共重合成分として含む共重合体であることがより好ましい。
芳香族基を有するコポリマーが、(A)成分中に占める割合としては、好ましくは50質量%以上、好ましくは60質量%以上、好ましくは70質量%以上、好ましくは80質量%以上、好ましくは90質量%以上であり、100質量%であっても良い。
フェニルアルキル基を有するコモノマーとしては、フェニルエチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。
ベンジル基を有するコモノマーとしては、ベンジル基を有する(メタ)アクリレート、例えば、ベンジル(メタ)アクリレート、クロロベンジル(メタ)アクリレート等;ベンジル基を有するビニルモノマー、例えば、ビニルベンジルクロライド、ビニルベンジルアルコール等が挙げられる。中でもベンジル(メタ)アクリレートが好ましい。
なお、本明細書において「(メタ)アクリル酸」とは、アクリル酸又はメタクリル酸を意味し、「(メタ)アクリロイル基」とは、アクリロイル基又はメタクリロイル基を意味し、かつ「(メタ)アクリレート」とは、「アクリレート」又は「メタクリレート」を意味する。
アラルキル基を有するモノマー、及び又はスチレンをモノマーとして含有することがレジストパターンの耐薬品性、密着性、高解像性、又はスソ形状の観点から好ましく、例えば、メタクリル酸とベンジルメタクリレートとスチレンからなる共重合体、メタクリル酸とメチルメタクリレートとベンジルメタクリレートとスチレンからなる共重合体等が好ましい。
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物は、その構造中にエチレン性不飽和基を有することによって重合性を有する化合物である。
エチレン性不飽和結合を3個以上有する(メタ)アクリレート化合物は、例えば、エチレンオキサイド鎖とジペンタエリスリトール骨格とを有する(メタ)アクリレート化合物、又は(b1)メタクリロイル基を少なくとも3個有する化合物として後述される。
エチレン性不飽和結合を5個以上有し、かつアルキレンオキサイド鎖を有する(メタ)アクリレート化合物は、例えば、エチレンオキサイド鎖とジペンタエリスリトール骨格とを有する(メタ)アクリレート化合物として後述される。
同様の観点から、(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中における、メタクリロイル基の濃度/(メタクリロイル基の濃度+アクリロイル基の濃度)の値が、好ましくは0.50以上、より好ましくは0.60以上、更に好ましくは0.80以上、特に好ましくは0.90以上、最も好ましくは0.95以上である。
で表される化合物が好ましい。一般式(III)において、全てのnの平均値が4以上であるか、又はnがそれぞれ1以上であることが好ましい。Rとしてはメチル基が好ましい。
で表されるテトラメタクリレート化合物であることがより好ましい。
(b2)ブチレンオキサイド鎖と1個又は2個の(メタ)アクリロイル基とを有する化合物は、ブリードアウトの抑制の観点から、好ましくは500以上、より好ましくは700以上、さらに好ましくは1000以上の分子量を有する。
で表される化合物を使用することができる。
例えば、ビスフェノ-ルAの両端にそれぞれ平均5モルずつのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコ-ルのジメタクリレ-ト、ビスフェノ-ルAの両端にそれぞれ平均2モルずつのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコ-ルのジメタクリレ-ト、ビスフェノ-ルAの両端にそれぞれ平均1モルずつのエチレンオキサイドを付加したポリエチレングリコ-ルのジメタクリレ-ト等が、解像性、及び密着性の点で好ましい。
ヘテロ原子としては、例えば、ハロゲン原子等が挙げられ、そして置換基としては、炭素数1~20のアルキル基、炭素数3~10のシクロアルキル基、炭素数6~18のアリール基、フェナシル基、アミノ基、炭素数1~10のアルキルアミノ基、炭素数2~20のジアルキルアミノ基、ニトロ基、シアノ基、カルボニル基、メルカプト基、炭素数1~10のアルキルメルカプト基、アリール基、水酸基、炭素数1~20のヒドロキシアルキル基、カルボキシル基、アルキル基の炭素数が1~10のカルボキシアルキル基、アルキル基の炭素数が1~10のアシル基、炭素数1~20のアルコキシ基、炭素数1~20のアルコキシカルボニル基、炭素数2~10のアルキルカルボニル基、炭素数2~10のアルケニル基、炭素数2~10のN-アルキルカルバモイル基若しくは複素環を含む基、又はこれらの置換基で置換されたアリール基等が挙げられる。これらの置換基は縮合環を形成しているか、又はこれらの置換基中の水素原子がハロゲン原子等のヘテロ原子に置換されていてもよい。一般式(II)中の芳香環が複数の置換基を有する場合には、複数の置換基は同一であるか、又は異なっていてよい。
また、4-ノルマルノニルフェノキシオクタエチレングリコールアクリレート、4-ノルマルノニルフェノキシテトラエチレングリコールアクリレート、γ-クロロ-β-ヒドロキシプロピル-β'-メタクリロイルオキシエチル-о-フタレートのようなエチレン性不飽和結合を1個有する化合物を含むと、剥離性や硬化膜柔軟性の観点で好ましく、γ-クロロ-β-ヒドロキシプロピル-β'-メタクリロイルオキシエチル-о-フタレートを含むと感度、解像性、又は密着性の観点でも好ましい。
(C)光重合開始剤は、光によりモノマーを重合させる化合物である。感光性樹脂組成物は、(C)光重合開始剤として本技術分野において一般に知られている化合物を含む。
感光性樹脂組成物は、所望により、染料、可塑剤、酸化防止剤、安定化剤等の添加剤を含んでよい。例えば、特開2013-156369号公報に列挙されている添加剤を使用してよい。
本実施形態では、感光性樹脂組成物に溶媒を添加することにより感光性樹脂組成物調合液を形成することができる。好適な溶媒としては、ケトン類、例えば、メチルエチルケトン(MEK)等;及びアルコール類、例えば、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール等が挙げられる。感光性樹脂組成物調合液の粘度が25℃で500mPa・秒~4000mPa・秒となるように、溶媒を感光性樹脂組成物に添加することが好ましい。
本実施形態では、支持体と、支持体上に積層された、上記感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層とを有する感光性樹脂積層体が提供されることができる。感光性樹脂積層体は、所望により、感光性樹脂層の支持体側と反対側に保護層を有していてもよい。
レジストパターンの形成方法は、支持体に上述の感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層を積層するラミネート工程、感光性樹脂層を露光する露光工程、及び露光された感光性樹脂層を現像する現像工程を、好ましくはこの順に、含む。本実施形態においてレジストパターンを形成する具体的な方法の一例を以下に示す。
SAPは、基板全面に配置された導体シード層上の非回路部分にレジストを形成してから、回路部分のみをめっきで形成する方法である。
本実施形態では、感光性樹脂組成物はSAPのために使用されることがより好ましい。
本実施形態では、感光性樹脂組成物の硬化物の伸度が、レジストパターンの柔軟性を改善するために、1mm以上であることが好ましく、2mm以上であることがより好ましく、3mm以上であることがさらに好ましい。
導体パターンの製造方法は、金属板、金属皮膜絶縁板等の基板に上述の感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層を積層するラミネート工程、感光性樹脂層を露光する露光工程、露光された感光性樹脂層の未露光部又は露光部を現像液で除去することによって、レジストパターンが形成された基板を得る現像工程、及びレジストパターンが形成された基板をエッチング又はめっきする導体パターン形成工程を、好ましくはこの順に、含む。
導体パターンの製造方法により導体パターンを製造した後に、レジストパターンを、現像液よりも強いアルカリ性を有する水溶液により基板から剥離する剥離工程を更に行うことにより、所望の配線パターンを有する配線板(例えば、プリント配線板)を得ることができる。
SAPを行うためには、配線板の製造方法は、得られた配線板からパラジウムを除去する工程をさらに含むことが好ましい。
基板として銅、銅合金、又は鉄系合金等の金属板を用いて、レジストパターン形成方法によってレジストパターンを形成した後に、以下の工程を経ることにより、リードフレームを製造できる。先ず、現像により露出した基板をエッチングして導体パターンを形成する工程を行う。その後、配線板の製造方法と同様の方法でレジストパターンを剥離する剥離工程を行って、所望のリードフレームを得ることができる。
レジストパターン形成方法により形成されるレジストパターンは、サンドブラスト工法により基板に加工を施す時の保護マスク部材として使用することができる。この場合、基板としては、例えば、ガラス、シリコンウエハー、アモルファスシリコン、多結晶シリコン、セラミック、サファイア、金属材料等が挙げられる。これらの基板上に、レジストパターン形成方法と同様の方法によって、レジストパターンを形成する。その後、形成されたレジストパターン上からブラスト材を吹き付けて、目的の深さに切削するサンドブラスト処理工程、及び基板上に残存したレジストパターン部分をアルカリ剥離液等で基板から除去する剥離工程を行って、基板上に微細な凹凸パターンを有する基材を製造できる。
基板として大規模集積化回路(LSI)の形成が終了したウエハを用いて、レジストパターン形成方法によりウエハにレジストパターンを形成した後に、以下の工程を経ることによって、半導体パッケージを製造することができる。先ず、現像により露出した開口部に銅、はんだ等の柱状めっきを施して、導体パターンを形成する工程を行う。その後、配線板の製造方法と同様の方法でレジストパターンを剥離する剥離工程を行って、更に、柱状めっき以外の部分の薄い金属層をエッチングにより除去する工程を行うことにより、所望の半導体パッケージを得ることができる。
なお、上述した各パラメータの値については特に断りのない限り、後述する実施例での測定方法に準じて測定される。
<高分子の重量平均分子量又は数平均分子量の測定>
高分子の重量平均分子量又は数平均分子量は、日本分光(株)製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)(ポンプ:Gulliver、PU-1580型、カラム:昭和電工(株)製Shodex(登録商標)(KF-807、KF-806M、KF-806M、KF-802.5)4本直列、移動層溶媒:テトラヒドロフラン、ポリスチレン標準サンプル(昭和電工(株)製Shodex STANDARD SM-105)による検量線使用)によりポリスチレン換算として求めた。
さらに、高分子の分散度は、数平均分子量に対する重量平均分子量の比(重量平均分子量/数平均分子量)として算出された。
本明細書において、酸当量とは、分子中に1当量のカルボキシル基を有する重合体の質量(グラム)を意味する。平沼産業(株)製平沼自動滴定装置(COM-555)を使用し、0.1mol/Lの水酸化ナトリウム水溶液を用いて電位差滴定法により酸当量を測定した。
アルカリ可溶性高分子のガラス転移温度は、下記式(Fox式):
Tgiは、アルカリ可溶性高分子を構成するコモノマーのそれぞれがホモポリマーであった場合のガラス転移温度であり、
Wtotalは、アルカリ可溶性高分子の合計質量であり、そして
nは、アルカリ可溶性高分子を構成するコモノマーの種類の数である。}
に従って求められる値である。
ここで、ガラス転移温度Tgiを求める際には、対応するアルカリ可溶性高分子を形成するコモノマーから成るホモポリマーのガラス転移温度として、Brandrup,J. Immergut, E. H.編集「Polymer handbook, Third edition, John wiley & sons, 1989, p.209 Chapter VI 『Glass transition temperatures of polymers』」に示される値を使用するものとする。なお、実施例において計算に用いた各コモノマーから成るホモポリマーのTgiを表1に示す。
実施例I-1~I-16及び比較例I-1~I-3では、(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物の分子構造から計算することで分子量を求めた。複数種類の(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物が存在する場合は、各化合物の分子量を含有量で加重平均することにより求めた。
また、実施例II-1~II-6及び比較例II-1~II-5では、エチレン性不飽和結合を有する化合物の重量平均分子量は、日本分光(株)製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)(ポンプ:Gulliver、PU-1580型、カラム:昭和電工(株)製Shodex(登録商標)(K-801、K-801、K-802、KF-802.5)4本直列、移動層溶媒:テトラヒドロフラン、ポリスチレン標準サンプル(東ソー株式会社製TSK standard POLYSTYRENE)による検量線使用)によりポリスチレン換算として求めた。
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物100gに対するメタクリロイル基のモル数を計算により求めた。
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物100gに対するエチレンオキサイド(EO)ユニットのモル数を計算により求めた。
評価用サンプルは以下のように作製した。
下記表2~5に示す成分(但し、各成分の数字は固形分としての配合量(質量部)を示す。)及び溶媒を十分に攪拌、混合して、感光性樹脂組成物調合液を得た。表2及び4中に略号で表した成分の名称を、それぞれ下記表3及び5に示す。支持フィルムとして16μm厚のポリエチレンテレフタラートフィルム(東レ(株)製、FB-40)を用い、その表面にバーコーターを用いて、この調合液を均一に塗布し、95℃の乾燥機中で2.5分間乾燥して、感光性樹脂組成物層を形成した。感光性樹脂組成物層の乾燥厚みは25μmであった。
実施例I-1~I-16及び比較例I-1~I-3では、感度、画像性、密着性及び耐薬液性の評価基板として、35μm圧延銅箔を積層した0.4mm厚の銅張積層板をソフトエッチング剤(菱江化学(株)製、CPE-900)で処理して、10質量%H2SO4で基板表面を洗浄した。
また、実施例II-1~II-6及び比較例II-1~II-5では、研削材(日本カーリット(株)製、サクランダムR(登録商標#220))を用いて、35μm圧延銅箔を積層した0.4mm厚の銅張積層板をスプレー圧0.2MPaでジェットスクラブ研磨することにより、評価用基板を作製した。
感光性樹脂積層体のポリエチレンフィルムを剥がしながら、整面して60℃に予熱した銅張積層板に、ホットロールラミネーター(旭化成(株)社製、AL-700)により、感光性樹脂積層体をロール温度105℃でラミネートして試験片を得た。エアー圧は0.35MPaとし、ラミネート速度は1.5m/分とした。
実施例I-1~I-16及び比較例I-1~I-3では、直接描画露光機(日立ビアメカニクス(株)製、DE-1DH、光源:GaN青紫ダイオード、主波長405±5nm)により、ストーファー41段ステップタブレット又は所定のダイレクトイメージング(DI)露光用のマスクパターンを用いて、照度85mW/cm2の条件下で露光した。露光は、前記ストーファー41段ステップタブレットをマスクとして露光、現像したときの最高残膜段数が15段となる露光量で行った。
また、実施例II-1~II-6及び比較例II-1~II-5では、クロムガラスマスクを用いて、平行光露光機((株)オーク製作所社製、HMW―801)により、表4に示す露光量で露光を行った。
実施例I-1~I-16及び比較例I-1~I-3では、露光した評価基板のポリエチレンテレフタラートフィルムを剥離した後、アルカリ現像機(フジ機工製、ドライフィルム用現像機)を用いて30℃の1質量%Na2CO3水溶液を所定時間スプレーし、感光性樹脂層の未露光部分を溶解除去した。この際、最小現像時間の2倍の時間に亘って現像し、硬化レジストパターンを作製した。なお、最小現像時間とは、未露光部分の感光性樹脂層が完全に溶解するのに要する最も少ない時間をいう。
また、実施例II-1~II-6及び比較例II-1~II-5では、感光性樹脂積層体からポリエチレンテレフタレートフィルムを剥離した後、(株)フジ機工製現像装置を用い、フルコーンタイプのノズルにて、現像スプレー圧0.15MPaで、30℃の1質量%Na2CO3水溶液を所定時間スプレーして現像し、感光性樹脂層の未露光部分を溶解除去した。このとき、未露光部分の感光性樹脂層が完全に溶解するのに要する最も少ない時間を最小現像時間として測定し、最小現像時間の2倍の時間で現像してレジストパターンを作製した。その際、水洗工程は、フラットタイプのノズルにて水洗スプレー圧0.15MPaで、現像工程と同時間処理した。
ラミネート後15分経過した感度評価用基板をストーファー41段ステップタブレットのマスクを通して露光した。最小現像時間の2倍の時間で現像し、最高残膜段数が15段となる露光量によって以下の基準によりランク分けした。
○(良好):最高残膜段数が15段となる露光量が70mJ/cm2未満。
×(不良):最高残膜段数が15段となる露光量が70mJ/cm2以上。
ラミネート後15分経過した解像性評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:1の比率のラインパターンを有する描画データを使用して露光した。最小現像時間の2倍の現像時間で現像し、硬化レジストラインを形成した。
実施例I-1~I-16及び比較例I-1~I-3では、硬化レジストラインが正常に形成されている最小ライン幅を解像度の値として以下の基準によりランク分けした。
○(良好):解像度の値が12μm以下。
△(許容):解像度の値が12μmを超え、17μm以下。
×(不良):解像度の値が17μmを超える。
また、実施例II-1~II-6及び比較例II-1~II-5では、硬化レジストラインが正常に形成されている最小ライン幅を解像度の値として以下の基準によりランク分けした。
◎(極めて良好):解像度の値が7.5μm以下。
○(良好):解像度の値が7.5μmを超え、9μm以下。
△(許容):解像度の値が9μmを超える。
感光性樹脂積層体のポリエチレンフィルムを剥がした後に、FT-IR(Thermo SCIENTIFIC製、NICOLET 380)測定を行った。
波数810cm-1におけるピーク高さPは、露光前にFT-IRで吸光度を測定することで求めた。当該ピークが他のピークと重なっている場合は、当該ピークの両側の立ち上がり点同士を線で結び、その線からの最高高さを計測した。
エチレン性二重結合の反応率Qは以下の方法で求めた。感光性樹脂積層体のポリエチレンテレフタレートフィルム(支持層)側から直接描画露光機(日立ビアメカニクス(株)製、DE-1DH、光源:GaN青紫ダイオード(主波長405±5nm))を用いて、露光を行った。露光時の照度は85mW/cm2とした。このときの露光量は、前記の方法でストーファー41段ステップタブレットをマスクとして露光し、次いで現像したときの最高残膜段数が15段となる露光量で行った。以上の操作により得られた硬化レジストのエチレン性二重結合の反応率Qを、波数810cm-1の露光前後でのピーク高さよりエチレン性二重結合基の消失率(%)を算出し、反応率Q(%)を求めた。
Rは感光性樹脂層の膜厚(μm)であり、P×Q/Rを計算により求めた。
実施例I-1~I-16及び比較例I-1~I-3では、ラミネート後15分経過した解像性評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:400の比率のラインパターンを有する描画データを使用して露光した。最小現像時間の2倍の現像時間で現像し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小ライン幅を密着性の値として以下の基準によりランク分けした。
○(極めて良好):密着性の値が12μm以下。
○△(良好):密着性の値が12μmを超え、13μm以下。
△(許容):密着性の値が13μmを超え、15μm以下。
×(不良):密着性の値が15μmを超える。
また、実施例II-1~II-6及び比較例II-1~II-5では、ラミネート後15分経過した評価用基板を、露光部と未露光部との幅が1:100の比率のラインパターンを有するクロムガラスマスクを通して露光した。最小現像時間の2倍の時間で現像し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小ライン幅を密着性の値とし、下記のようにランク分けした。
◎(極めて良好):密着性の値が7.5μm以下。
○(良好):密着性の値が7.5μmを超え、9μm以下。
△(許容):密着性の値が9μmを超え、10μm未満。
×(不良):密着性の値が10μm以上。
アトテックジャパン(株)製キュプラプロS2 100mLと98%硫酸60mLと純水840mLを混合して、薬液を作製した。ラミネート後15分経過した解像性評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:400の比率のラインパターンを有する描画データを使用して露光した。最小現像時間の2倍の現像時間で現像し、ビーカーで40℃に加温した薬液に5分間浸漬した。浸漬後、純水にて洗浄し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小ライン幅を耐薬液性の値として得た。なお、表2では、耐薬液性の値が17μmを超える場合のみを「×(不良)」として示した。
ロール状に巻き取った感光性樹脂積層体を23℃、遮光条件で保管し、ブリードアウトにより支持フィルム表面(但しロールの最外層は除く)にべたつきが生じるまでの時間を以下のようにランク分けし、ブリードアウト性を評価した。
○(良好):支持フィルム表面にべたつきが生じるまでの時間が1か月以上
×(不良):支持フィルム表面にべたつきが生じるまでの時間が1か月未満
評価結果を下記表2~5に示す。耐薬液性評価が17μm以下であるように設計されている感光性樹脂組成物は、レジストパターンの密着性、解像性、又はスソ形状のバランスにも優れる。また、このような感光性樹脂組成物を用いることにより、めっきにより配線パターンを形成する際、ショートを抑制することができる。耐薬液性評価の後に銅めっきを行ったところ、比較例I-1の組成では硬化レジストのライン幅15μmの部分にショートが観察されたが、実施例I-1の組成ではショートが観察されず、不良低減可能であると推察された。
Claims (14)
- (A)アルカリ可溶性高分子;
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤;
を含み、露光後に基板から全面が剥離可能な感光性樹脂層を形成するための感光性樹脂組成物であって、
前記(A)アルカリ可溶性高分子のガラス転移温度Tgの重量平均値Tgtotalが、110℃以下であり、かつ
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、エチレン性不飽和結合を5個以上有し、かつエチレンオキサイド鎖とジペンタエリスリトール骨格とを有するメタクリレート化合物を含む、前記感光性樹脂組成物(ただし、下記一般式(I):
で表される構造を有するアルキレンオキサイド変性ジペンタエリスリトール(メタ)アクリレートと、顔料と、を含む感光性樹脂組成物を除く)。 - 前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物の重量平均分子量が760以上である、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中におけるメタクリロイル基の濃度が0.20mol/100g以上である、請求項1又は2に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物中におけるエチレンオキサイドユニットの濃度が0.80mol/100g以上である、請求項1~3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(A)アルカリ可溶性高分子が、100~600の酸当量及び5,000~500,000の重量平均分子量を有し、かつその側鎖に芳香族基を有する、請求項1~4のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、下記一般式(ii):
で表される化合物をさらに含む、請求項1~5のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。 - 前記(C)光重合開始剤として、ヘキサアリールビスイミダゾール化合物を含む、請求項1~7のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(C)光重合開始剤として、ピラゾリン化合物を含む、請求項1~8のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- ダイレクトイメージング露光用である、請求項1~9のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- 請求項1~10のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層を基板に積層するラミネート工程;
該感光性樹脂層を露光する露光工程;及び
該露光された感光性樹脂層を現像する現像工程;
を含むレジストパターンの形成方法。 - 請求項1~10のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層を基板に積層するラミネート工程;
該感光性樹脂層を露光する露光工程;
該露光された感光性樹脂層を現像して、レジストパターンが形成された基板を得る現像工程;
該レジストパターンが形成された基板をエッチング又はめっきする導体パターン形成工程;及び
該レジストパターンを剥離する剥離工程;
を含む配線板の製造方法。 - 支持体と、感光性樹脂組成物を含む感光性樹脂組成物層と、を備える感光性樹脂積層体であって、
前記感光性樹脂組成物は、
(A)アルカリ可溶性高分子;
(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤;
を含み、露光後に基板から全面が剥離可能な感光性樹脂層を形成するための感光性樹脂組成物であって、
前記(A)アルカリ可溶性高分子のガラス転移温度Tgの重量平均値Tgtotalが、110℃以下であり、かつ
前記(B)エチレン性不飽和結合を有する化合物として、エチレン性不飽和結合を5個以上有し、かつエチレンオキサイド鎖とジペンタエリスリトール骨格とを有するメタクリレート化合物を含む、
感光性樹脂積層体。 - 前記支持体が、ポリエチレンテレフタラートである、請求項13に記載の感光性樹脂積層体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021077956A JP7242748B2 (ja) | 2015-04-08 | 2021-04-30 | 感光性樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015079381 | 2015-04-08 | ||
JP2015079381 | 2015-04-08 | ||
JP2015166570 | 2015-08-26 | ||
JP2015166570 | 2015-08-26 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017511104A Division JPWO2016163540A1 (ja) | 2015-04-08 | 2016-04-08 | 感光性樹脂組成物 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021077956A Division JP7242748B2 (ja) | 2015-04-08 | 2021-04-30 | 感光性樹脂組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020126251A JP2020126251A (ja) | 2020-08-20 |
JP7162030B2 true JP7162030B2 (ja) | 2022-10-27 |
Family
ID=57073148
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017511104A Pending JPWO2016163540A1 (ja) | 2015-04-08 | 2016-04-08 | 感光性樹脂組成物 |
JP2020064645A Active JP7162030B2 (ja) | 2015-04-08 | 2020-03-31 | 感光性樹脂組成物 |
JP2021077956A Active JP7242748B2 (ja) | 2015-04-08 | 2021-04-30 | 感光性樹脂組成物 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017511104A Pending JPWO2016163540A1 (ja) | 2015-04-08 | 2016-04-08 | 感光性樹脂組成物 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021077956A Active JP7242748B2 (ja) | 2015-04-08 | 2021-04-30 | 感光性樹脂組成物 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (3) | JPWO2016163540A1 (ja) |
KR (2) | KR101990230B1 (ja) |
CN (2) | CN114437251B (ja) |
MY (1) | MY187481A (ja) |
TW (3) | TWI667539B (ja) |
WO (1) | WO2016163540A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI666518B (zh) * | 2016-12-30 | 2019-07-21 | 奇美實業股份有限公司 | 感光性樹脂組成物及其應用 |
JP6981864B2 (ja) * | 2017-01-30 | 2021-12-17 | 旭化成株式会社 | 感光性樹脂組成物、感光性樹脂積層体、レジストパターンが形成された基板および回路基板の製造方法 |
CN116300314A (zh) * | 2017-03-01 | 2023-06-23 | 旭化成株式会社 | 感光性树脂组合物 |
CN115524922A (zh) * | 2017-03-29 | 2022-12-27 | 旭化成株式会社 | 感光性树脂组合物 |
CN109976092B (zh) * | 2017-12-27 | 2022-04-01 | 太阳油墨(苏州)有限公司 | 固化性树脂组合物、干膜、固化物、及印刷电路板 |
JP7169351B2 (ja) * | 2018-06-22 | 2022-11-10 | 旭化成株式会社 | 感光性樹脂組成物およびレジストパターンの形成方法 |
KR102605003B1 (ko) * | 2018-06-22 | 2023-11-22 | 아사히 가세이 가부시키가이샤 | 감광성 수지 조성물 및 레지스트 패턴의 형성 방법 |
JPWO2020013111A1 (ja) * | 2018-07-11 | 2021-08-19 | 富士フイルム株式会社 | 薬液、薬液収容体 |
JP7422664B2 (ja) * | 2018-08-09 | 2024-01-26 | 旭化成株式会社 | 感光性樹脂組成物及びレジストパターンの形成方法 |
JP7300619B2 (ja) * | 2019-01-11 | 2023-06-30 | 太陽ホールディングス株式会社 | 積層構造体、ドライフィルム、その硬化物および電子部品 |
WO2021054457A1 (ja) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | クラレノリタケデンタル株式会社 | 歯科用硬化性組成物 |
CN114503030A (zh) * | 2019-10-08 | 2022-05-13 | 东京应化工业株式会社 | 负型感光性树脂组合物、感光性抗蚀剂薄膜、图案形成方法、固化膜及制造方法及辊体 |
CN114667487A (zh) * | 2019-11-11 | 2022-06-24 | 旭化成株式会社 | 感光性树脂组合物和感光性树脂层叠体 |
WO2022030053A1 (ja) * | 2020-08-07 | 2022-02-10 | 昭和電工マテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの形成方法、及びプリント配線板の製造方法 |
JPWO2022181485A1 (ja) * | 2021-02-26 | 2022-09-01 | ||
KR20230151977A (ko) * | 2021-02-26 | 2023-11-02 | 다이요 홀딩스 가부시키가이샤 | 적층 구조체 및 플렉시블 프린트 배선판 |
KR20240031514A (ko) * | 2022-08-30 | 2024-03-08 | 삼성에스디아이 주식회사 | 감광성 수지 조성물, 이를 이용하여 제조된 감광성 수지막 및 컬러 필터 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000347400A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Nichigo Morton Co Ltd | 感光性樹脂組成物及びこれを用いたドライフィルムレジスト |
WO2012086371A1 (ja) | 2010-12-24 | 2012-06-28 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JP2014126653A (ja) | 2012-12-26 | 2014-07-07 | Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd | カラーフィルター、ブラックマトリックス、又は回路形成用の硬化性樹脂組成物 |
JP2014191318A (ja) | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Asahi Kasei E-Materials Corp | レジストパターンの形成方法 |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3916605B2 (ja) * | 2001-11-12 | 2007-05-16 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 感光性樹脂組成物及びその用途 |
CN1989456A (zh) * | 2004-07-30 | 2007-06-27 | 日立化成工业株式会社 | 感光性薄膜、感光性薄膜层积体及感光性薄膜卷 |
JP4535851B2 (ja) * | 2004-11-19 | 2010-09-01 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 光重合性樹脂組成物 |
JP4646759B2 (ja) | 2005-09-20 | 2011-03-09 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | パターン形成材料、並びにパターン形成装置及びパターン形成方法 |
JP2007133349A (ja) * | 2005-10-14 | 2007-05-31 | Hitachi Chem Co Ltd | 感光性フィルムロール |
JP4936848B2 (ja) * | 2006-10-16 | 2012-05-23 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物およびその積層体 |
EP2096493A4 (en) * | 2006-12-19 | 2010-11-17 | Hitachi Chemical Co Ltd | PHOTOSENSITIVE ELEMENT |
JP2008202022A (ja) * | 2007-01-23 | 2008-09-04 | Fujifilm Corp | 光ナノインプリントリソグラフィ用硬化性組成物およびそれを用いたパターン形成方法 |
JP5164982B2 (ja) * | 2007-06-18 | 2013-03-21 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物、フレキソ印刷版、及びフレキソ印刷版の製造方法 |
CN101952777B (zh) * | 2007-12-18 | 2014-04-09 | 旭化成电子材料株式会社 | 使用负型感光性树脂层压体的抗蚀剂固化物的制造方法、负型感光性树脂层压体、以及负型感光性树脂层压体的使用方法 |
TWI536094B (zh) * | 2007-12-25 | 2016-06-01 | Asahi Kasei Emd Corp | Photosensitive resin laminate |
JP5396833B2 (ja) * | 2008-11-28 | 2014-01-22 | Jsr株式会社 | 感放射線性樹脂組成物、液晶表示素子のスペーサーおよび保護膜ならびにそれらの形成方法 |
CN102472969A (zh) * | 2009-07-29 | 2012-05-23 | 旭化成电子材料株式会社 | 感光性树脂组合物、感光性树脂层压体和抗蚀图案形成方法 |
CN102549498B (zh) * | 2009-09-25 | 2013-10-30 | 旭化成电子材料株式会社 | 抗蚀材料用感光性树脂组合物以及感光性树脂层压体 |
JP5526868B2 (ja) * | 2010-03-03 | 2014-06-18 | Jsr株式会社 | 感放射線性樹脂組成物、表示素子のスペーサーおよび保護膜ならびにそれらの形成方法 |
JP5570275B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-08-13 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | ドライフィルムレジストロール |
KR20120002864A (ko) * | 2010-07-01 | 2012-01-09 | 동우 화인켐 주식회사 | 흑색 감광성 수지 조성물, 컬러 필터 및 이를 구비한 액정 표시 장치 |
CN106918991A (zh) * | 2010-07-13 | 2017-07-04 | 日立化成工业株式会社 | 感光性元件、抗蚀图案的形成方法、印刷电路布线板的制造方法及印刷电路布线板 |
JP6022749B2 (ja) | 2010-07-30 | 2016-11-09 | 日立化成株式会社 | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの製造方法、リードフレームの製造方法及びプリント配線板の製造方法 |
JP5771944B2 (ja) * | 2010-10-18 | 2015-09-02 | Jsr株式会社 | カラーフィルタの製造方法 |
JP5835014B2 (ja) * | 2011-03-31 | 2015-12-24 | Jsr株式会社 | 画素パターンの形成方法及びカラーフィルタの製造方法 |
KR20130047656A (ko) * | 2011-10-31 | 2013-05-08 | 히타치가세이가부시끼가이샤 | 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법 및 인쇄 배선판의 제조 방법 |
JP6229256B2 (ja) | 2011-10-31 | 2017-11-15 | 日立化成株式会社 | 感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 |
JP5948539B2 (ja) | 2012-01-27 | 2016-07-06 | 旭化成株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JP2013195681A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Mitsubishi Chemicals Corp | 感光性樹脂組成物、カラーフィルタ、液晶表示装置、及び有機elディスプレイ |
JP5853806B2 (ja) * | 2012-03-23 | 2016-02-09 | Jsr株式会社 | 感放射線性樹脂組成物、硬化膜及び硬化膜の形成方法 |
JP6019791B2 (ja) * | 2012-06-19 | 2016-11-02 | 日立化成株式会社 | 隔壁形成材料、これを用いた感光性エレメント、隔壁の形成方法及び画像表示装置の製造方法 |
JP5826135B2 (ja) * | 2012-08-23 | 2015-12-02 | 富士フイルム株式会社 | 着色感放射線性組成物、これを用いたカラーフィルタ |
JP6063200B2 (ja) | 2012-10-15 | 2017-01-18 | 旭化成株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JP6135314B2 (ja) * | 2012-12-26 | 2017-05-31 | Jsr株式会社 | 着色組成物、カラーフィルタ及び表示素子 |
TW201512709A (zh) * | 2013-05-27 | 2015-04-01 | Fujifilm Corp | 彩色濾光片的製造方法、底層形成用組成物、有機el顯示元件 |
KR102234812B1 (ko) | 2013-07-23 | 2021-03-31 | 쇼와덴코머티리얼즈가부시끼가이샤 | 투영 노광용 감광성 수지 조성물, 감광성 엘리먼트, 레지스트 패턴의 형성 방법, 프린트 배선판의 제조 방법 및 리드 프레임의 제조 방법 |
CN111694218B (zh) * | 2014-05-21 | 2023-09-08 | 旭化成株式会社 | 感光性树脂组合物以及电路图案的形成方法 |
-
2016
- 2016-04-08 CN CN202210104954.1A patent/CN114437251B/zh active Active
- 2016-04-08 KR KR1020177020557A patent/KR101990230B1/ko active IP Right Grant
- 2016-04-08 MY MYUI2017703393A patent/MY187481A/en unknown
- 2016-04-08 JP JP2017511104A patent/JPWO2016163540A1/ja active Pending
- 2016-04-08 WO PCT/JP2016/061610 patent/WO2016163540A1/ja active Application Filing
- 2016-04-08 CN CN201680019911.6A patent/CN107407880B/zh active Active
- 2016-04-08 KR KR1020197012465A patent/KR102286107B1/ko active IP Right Grant
- 2016-04-08 TW TW106146049A patent/TWI667539B/zh active
- 2016-04-08 TW TW105111187A patent/TWI620017B/zh active
- 2016-04-08 TW TW108122448A patent/TWI706222B/zh active
-
2020
- 2020-03-31 JP JP2020064645A patent/JP7162030B2/ja active Active
-
2021
- 2021-04-30 JP JP2021077956A patent/JP7242748B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000347400A (ja) | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Nichigo Morton Co Ltd | 感光性樹脂組成物及びこれを用いたドライフィルムレジスト |
WO2012086371A1 (ja) | 2010-12-24 | 2012-06-28 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
JP2014126653A (ja) | 2012-12-26 | 2014-07-07 | Dai Ichi Kogyo Seiyaku Co Ltd | カラーフィルター、ブラックマトリックス、又は回路形成用の硬化性樹脂組成物 |
JP2014191318A (ja) | 2013-03-28 | 2014-10-06 | Asahi Kasei E-Materials Corp | レジストパターンの形成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107407880A (zh) | 2017-11-28 |
CN107407880B (zh) | 2022-02-08 |
JP2021131556A (ja) | 2021-09-09 |
JPWO2016163540A1 (ja) | 2017-11-02 |
KR101990230B1 (ko) | 2019-06-17 |
JP7242748B2 (ja) | 2023-03-20 |
TWI620017B (zh) | 2018-04-01 |
KR20170101263A (ko) | 2017-09-05 |
KR20190047146A (ko) | 2019-05-07 |
TW201812454A (zh) | 2018-04-01 |
TW201947323A (zh) | 2019-12-16 |
CN114437251B (zh) | 2024-02-20 |
WO2016163540A1 (ja) | 2016-10-13 |
TWI667539B (zh) | 2019-08-01 |
TWI706222B (zh) | 2020-10-01 |
CN114437251A (zh) | 2022-05-06 |
JP2020126251A (ja) | 2020-08-20 |
MY187481A (en) | 2021-09-23 |
TW201701070A (zh) | 2017-01-01 |
KR102286107B1 (ko) | 2021-08-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7242748B2 (ja) | 感光性樹脂組成物 | |
TWI570513B (zh) | And a method for forming a photosensitive resin composition and a circuit pattern | |
JP6865811B2 (ja) | 感光性樹脂組成物 | |
JP7340643B2 (ja) | 感光性樹脂組成物及び感光性樹脂積層体 | |
JP5193361B2 (ja) | 感光性樹脂組成物及びその積層体 | |
JP7137370B2 (ja) | 感光性樹脂積層体ロール | |
JP2007128057A (ja) | 感光性樹脂組成物及び積層体 | |
JP5205464B2 (ja) | 感光性樹脂組成物、感光性樹脂積層体、レジストパターン形成方法並びに導体パターン、プリント配線板、リードフレーム、基材及び半導体パッケージの製造方法 | |
TW201932307A (zh) | 感光性樹脂積層體 | |
JP2012220686A (ja) | 感光性樹脂組成物及びその積層体 | |
JP5411521B2 (ja) | 感光性樹脂積層体 | |
JPWO2018105620A1 (ja) | 感光性樹脂組成物及び感光性樹脂積層体 | |
JP2014081440A (ja) | 感光性樹脂組成物 | |
WO2012131912A1 (ja) | 感光性樹脂組成物及びその積層体 | |
JP6630088B2 (ja) | 感光性樹脂組成物 | |
JP2011137879A (ja) | 感光性樹脂組成物及びその積層体 | |
JP2015062080A (ja) | 感光性樹脂積層体 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200331 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210302 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210430 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210927 |
|
C60 | Trial request (containing other claim documents, opposition documents) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60 Effective date: 20210927 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20211004 |
|
C21 | Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21 Effective date: 20211005 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20211022 |
|
C211 | Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211 Effective date: 20211026 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220301 |
|
C22 | Notice of designation (change) of administrative judge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22 Effective date: 20220412 |
|
C13 | Notice of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C13 Effective date: 20220419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220615 |
|
C13 | Notice of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C13 Effective date: 20220726 |
|
C302 | Record of communication |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C302 Effective date: 20220729 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220804 |
|
C23 | Notice of termination of proceedings |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23 Effective date: 20220823 |
|
C03 | Trial/appeal decision taken |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03 Effective date: 20220920 |
|
C30A | Notification sent |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012 Effective date: 20220920 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20221017 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7162030 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |