JP5022445B2 - スペクトラム拡散クロック発生装置 - Google Patents
スペクトラム拡散クロック発生装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5022445B2 JP5022445B2 JP2009538927A JP2009538927A JP5022445B2 JP 5022445 B2 JP5022445 B2 JP 5022445B2 JP 2009538927 A JP2009538927 A JP 2009538927A JP 2009538927 A JP2009538927 A JP 2009538927A JP 5022445 B2 JP5022445 B2 JP 5022445B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spread spectrum
- pll
- loop bandwidth
- clock signal
- frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims description 131
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 47
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/16—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/18—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop
- H03L7/183—Indirect frequency synthesis, i.e. generating a desired one of a number of predetermined frequencies using a frequency- or phase-locked loop using a frequency divider or counter in the loop a time difference being used for locking the loop, the counter counting between fixed numbers or the frequency divider dividing by a fixed number
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1206—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device using multiple transistors for amplification
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1228—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device the amplifier comprising one or more field effect transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1237—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator
- H03B5/124—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising a voltage dependent capacitance
- H03B5/1243—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising a voltage dependent capacitance the means comprising voltage variable capacitance diodes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/08—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
- H03B5/12—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
- H03B5/1237—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator
- H03B5/1262—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising switched elements
- H03B5/1265—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising switched elements switched capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/087—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using at least two phase detectors or a frequency and phase detector in the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/089—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
- H03L7/0891—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump
- H03L7/0895—Details of the current generators
- H03L7/0898—Details of the current generators the source or sink current values being variable
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/093—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal using special filtering or amplification characteristics in the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/099—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/099—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop
- H03L7/0995—Details of the phase-locked loop concerning mainly the controlled oscillator of the loop the oscillator comprising a ring oscillator
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/10—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range
- H03L7/107—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using a variable transfer function for the loop, e.g. low pass filter having a variable bandwidth
- H03L7/1075—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using a variable transfer function for the loop, e.g. low pass filter having a variable bandwidth by changing characteristics of the loop filter, e.g. changing the gain, changing the bandwidth
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/10—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range
- H03L7/107—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using a variable transfer function for the loop, e.g. low pass filter having a variable bandwidth
- H03L7/1077—Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using a variable transfer function for the loop, e.g. low pass filter having a variable bandwidth by changing characteristics of the phase or frequency detection means
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03B—GENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
- H03B2200/00—Indexing scheme relating to details of oscillators covered by H03B
- H03B2200/003—Circuit elements of oscillators
- H03B2200/005—Circuit elements of oscillators including measures to switch a capacitor
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L2207/00—Indexing scheme relating to automatic control of frequency or phase and to synchronisation
- H03L2207/06—Phase locked loops with a controlled oscillator having at least two frequency control terminals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Description
11 PD(位相比較器)
12 LPF(ループフィルタ)
13 VCO(電圧制御発振器)
14 分周器
15 分周器(第2の分周器)
20 スペクトラム拡散制御部
30 ループ帯域幅制御部
40 検知部
50 比較器
60 PD(第2の位相比較器)
70 メモリ
121 抵抗素子(抵抗回路)
122 容量回路
1221 容量素子
1223 容量素子
131 リング発振器
132 VI変換回路
133 インダクタ素子(インダクタ回路)
134 容量回路
1341 容量素子
1344 バリキャップ(容量素子)
図1は、第1の参考例に係るスペクトラム拡散クロック発生装置の構成を示す。PLL10は、クロック信号CKref(基準クロック信号)を受け、クロック信号CKoutを出力する。具体的には、分周器14はクロック信号CKoutを分周し、位相比較器(PD)11は分周器14から出力されるクロック信号CKdivとクロック信号CKrefとの位相比較をし、ループフィルタ(LPF)13はPD11の出力を平滑化し、電圧制御発振器(VCO)13は入力電圧に応じた周波数で発振し、クロック信号CKoutを出力する。分周器15は、クロック信号CKorg(原クロック信号)を分周してクロック信号CKrefを生成する。
ω ∝ Kpd・F・Kvco・(1/N) ・・・ (1)
したがって、PD11、LPF12、VCO13及び分周器14の少なくとも一つを制御することで、PLL10のループ帯域幅を変化させることができる。以下、ループ帯域幅制御部30によって制御されるPLL10の各要素の具体的構成について説明する。
図2は、PD11における出力部分(電流型チャージポンプ回路)の回路構成例を示す。信号UP及びDNは、PD11における図示しない位相比較部分から出力される。信号UPは、クロック信号CKrefの位相がクロック信号CKdivの位相よりも進んでいるときに出力される。信号DNは、クロック信号CKrefの位相がクロック信号CKdivの位相よりも遅れているときに出力される。スイッチ111は、信号UPによってスイッチング制御され、ソース電流Icppの出力の有無を制御をする。スイッチ112は、信号DNによってスイッチング制御され、シンク電流Icpnの出力の有無を制御をする。
図3は、PD11の出力部分(電圧型チャージポンプ回路)の回路構成例を示す。信号UP及びDNについては上述したとおりである。スイッチ111は、信号UPによってスイッチング制御され、ソース電圧Vcppの出力の有無を制御をする。スイッチ112は、信号DNによってスイッチング制御され、シンク電圧Vcpnの出力の有無を制御をする。
図4は、LPF12の回路構成例を示す。LPF12は、抵抗回路としての抵抗素子121及びこれに直列接続された容量回路122からなる。容量回路122は、容量素子1221及びこれに並列接続された複数の容量スイッチ回路1222からなる。容量スイッチ回路1222は、1個の容量素子1223とその両端のスイッチ対1224からなる。スイッチ対1224はループ帯域幅制御部30からの制御信号Bの各ビットによってスイッチング制御される。すなわち、制御信号Bによって容量回路122の合成容量値を変化させてLPF12の伝達関数を変化させることができる。PLL10のループ帯域幅はLPF12の伝達関数に比例することから(関係式(1)参照)、容量回路122における容量素子1221及び1223の接続状態を変化させることでPLL10のループ帯域幅を変化させることができる。
図5は、VCO13の回路構成例を示す。リング発振器131は、与えられたバイアス電流Ibiasに応じた周波数で発振してクロック信号CKoutを出力する。VI変換回路132は、バイアス電流Ibiasを生成する。バイアス電流Ibiasはカレントミラー回路1321から出力される。カレントミラー回路1321の入力側には、トランジスタ1322及びこれに並列接続された複数のトランジスタ1323が接続されている。トランジスタ1322のゲートにはVCO13の入力電圧が印加される。トランジスタ1323のゲートにはVCO13の入力電圧がスイッチ1324を介して印加される。スイッチ1324は、ループ帯域幅制御部30からの制御信号Bの各ビットによってスイッチング制御される。すなわち、制御信号Bによってトランジスタ1323のオン/オフを制御してVI変換回路132の電圧電流変換ゲインを変化させることでVCO13のゲインを変化させることができる。PLL10のループ帯域幅はVCO13のゲインに比例することから(関係式(1)参照)、VI変換回路132の電圧電流変換ゲインを変化させることでPLL10のループ帯域幅を変化させることができる。
図6は、VCO13の回路構成例を示す。VCO13は、インダクタ回路としてのインダクタ素子133及びこれに並列接続された容量回路134からなる。容量回路134は、容量素子1341及びこれに並列接続されたバリキャップ対1342及び複数のバリキャップスイッチ回路1343からなる。バリキャップ対1342は、対向する2個のバリキャップ1344から構成され、2個のバリキャップ1344の接続点にVCO13の入力電圧が印加される。バリキャップスイッチ回路1343は、1個のバリキャップ1344とその両端のスイッチ対1345からなる回路が対向して接続された構成となっている。当該接続点にはVCO13の入力電圧が印加される。スイッチ対1345はループ帯域幅制御部30からの制御信号Bの各ビットによってスイッチング制御される。すなわち、制御信号Bによって容量回路134の合成容量値を変化させることでVCO13のゲインを変化させることができる。PLL10のループ帯域幅はVCO13のゲインに比例することから(関係式(1)参照)、容量回路134における容量素子1341及びバリキャップ1344の接続状態を変化させることによりPLL10のループ帯域幅を変化させることができる。
分周器14は、ループ帯域幅制御部30からの制御信号Bに従って分周比を変化させる。例えば、制御信号B[3:0]が[1,0,0,0]のときは分周器14は分周比を1/8に設定し、制御信号B[3:0]が[1,1,0,0]のときは分周器14は分周比を1/12に設定する。PLL10のループ帯域幅は分周器14の分周比に比例することから(関係式(1)参照)、分周器14の分周比を変化させることでPLL10のループ帯域幅を変化させることができる。
制御信号CTLがスペクトラム拡散制御のオン/オフを制御するものであり、制御信号CTLによってスペクトラム拡散制御がオンにされる場合には、ループ帯域幅制御部30は、PLL10のループ帯域幅を大きくしてクロック信号CKoutのピークを低減させる。一方、制御信号CTLによってスペクトラム拡散制御がオフにされる場合には、ループ帯域幅制御部30は、PLL10のループ帯域幅を小さくしてクロック信号CKoutのジッタ及びノイズ特性を向上させる。
制御信号CTLがスペクトラム拡散の変調周波数を変化させるものであり、制御信号CTLによってスペクトラム拡散の変調周波数が高く設定される場合には、ループ帯域幅制御部30は、PLL10のループ帯域幅を小さくしてクロック信号CKoutのジッタ及びノイズ特性を向上させる。一方、制御信号CTLによってスペクトラム拡散の変調周波数が低く設定される場合には、ループ帯域幅制御部30は、PLL10のループ帯域幅を大きくしてクロック信号CKoutのピークを低減させる。
制御信号CTLがスペクトラム拡散の変調幅を変化させるものであり、制御信号CTLによってスペクトラム拡散の変調幅が大きく設定される場合には、ループ帯域幅制御部30は、PLL10のループ帯域幅を小さくしてクロック信号CKoutのジッタ及びノイズ特性を向上させる。一方、制御信号CTLによってスペクトラム拡散の変調幅が小さく設定される場合には、ループ帯域幅制御部30は、PLL10のループ帯域幅を大きくしてクロック信号CKoutのピークを低減させる。
図9は、第2の参考例に係るスペクトラム拡散クロック発生装置の構成を示す。本参考例に係る装置は、第1の参考例に係る装置に検知部40を追加した構成をしている。以下、第1の参考例と異なる点についてのみ説明する。
図14は、第3の参考例に係るスペクトラム拡散クロック発生装置の構成を示す。本参考例に係る装置は、第2の参考例に係る装置に比較器50を追加した構成をしている。以下、第2の参考例と異なる点についてのみ説明する。
図15は、第1の実施形態に係るスペクトラム拡散クロック発生装置の構成を示す。本実施形態に係る装置は、第2の参考例に係る装置に位相比較器(PD)60を追加した構成をしている。以下、第2の参考例と異なる点についてのみ説明する。
図16は、第2の実施形態に係るスペクトラム拡散クロック発生装置の構成を示す。本実施形態に係る装置は、第2の参考例に係る装置にメモリ70を追加した構成をしている。メモリ70には、検知部40の検知結果、又はPLL10の各要素に対する制御値が記録される。以下、第2の参考例と異なる点についてのみ説明する。
ループ帯域幅制御部30は、検知部40の検知結果をメモリ70に記録する。そして、メモリ70から検知部40の検知結果を読み出して、当該検知結果に基づいて、PLL10のループ帯域幅を変化させる。例えば、本装置の出荷前や、本装置から供給されるクロック信号を受けて動作するシステムの動作前の初期動作時において、PLL10のループ帯域幅をさまざまに変えて、そのときのループ帯域幅と、検知部40によって検知されたクロック信号CKoutのピークレベル、ジッタ、ノイズレベル及び周波数変化率並びにクロック信号CKoutのスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つとをルックアップテーブルにしてメモリ70に記録する。そして、本装置の出荷後や、上記システムの動作開始時において、メモリ70から所望のピークレベル、ジッタ、ノイズレベル及び周波数変化率並びにクロック信号CKoutのスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つを達成可能なループ帯域幅を読み出し、PLL10のループ帯域幅を当該読み出した値に設定する。
ループ帯域幅制御部30は、PD11、LPF12、VCO13及び分周器14のうち制御対象となるものに対する制御値をメモリ70に記録し、メモリ70から読み出した制御値で当該制御対象を制御する。例えば、本装置の出荷前や初期動作時において、PLL10から出力されるクロック信号CKoutのピークレベル、ジッタ、ノイズレベル及び周波数変化率並びにクロック信号CKoutのスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つが所望値となるようにループ帯域幅をさまざまに変え、当該特性が所望値となったときの制御対象の制御値をメモリ70に記録する。そして、本装置の出荷後やシステム動作開始時において、メモリ70から制御値を読み出し、当該読み出した制御値でPD11、LPF12、VCO13及び分周器14の少なくとも一つを制御する。
Claims (3)
- PLLと、
前記PLLに対して、スペクトラム拡散されたクロック信号の出力のための制御を行うスペクトラム拡散制御部と、
前記スペクトラム拡散制御部の動作中に前記PLLのループ帯域幅を変化させるループ帯域幅制御部と、
前記PLLから出力されるクロック信号のピークレベル、ジッタ、ノイズレベル及び周波数変化率並びに当該クロック信号のスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つを検知する検知部とを備え、
前記ループ帯域幅制御部は、前記PLLのループ帯域幅が所定値に設定されたときの当該ループ帯域幅と前記検知部の検知結果とを対応付けてメモリに記録し、前記メモリから、前記PLLから出力されるクロック信号のピークレベル、ジッタ、ノイズレベル及び周波数変化率並びに当該クロック信号のスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つの所望値に対応する前記PLLのループ帯域幅を読み出し、前記PLLのループ帯域幅が当該読み出したループ帯域幅となるように前記PLLのループ帯域幅を変化させる
ことを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生装置。 - PLLと、
前記PLLに対して、スペクトラム拡散されたクロック信号の出力のための制御を行うスペクトラム拡散制御部と、
前記スペクトラム拡散制御部の動作中に前記PLLのループ帯域幅を変化させるループ帯域幅制御部と、
前記PLLから出力されるクロック信号のピークレベル、ジッタ、ノイズレベル及び周波数変化率並びに当該クロック信号のスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つを検知する検知部とを備え、
前記ループ帯域幅制御部は、前記検知部の検知結果が所望値となったときの制御対象に対する制御値をメモリに記録し、前記メモリから読み出した制御値で前記PLLのループ帯域幅を変化させる
ことを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生装置。 - 入力された電圧に応じた周波数で発振する電圧制御発振器と、前記電圧制御発振器の出力を分周する分周器と、前記分周器の出力と基準クロック信号との位相比較を行う位相比較器と、前記位相比較器の出力を平滑化して、前記電圧制御発振器を制御するための電圧を出力するループフィルタとを有するPLLと、
前記PLLに対して、スペクトラム拡散されたクロック信号の出力のための制御を行うスペクトラム拡散制御部と、
前記スペクトラム拡散制御部の動作中に前記PLLのループ帯域幅を変化させるループ帯域幅制御部と、
前記PLLから出力されるクロック信号及び前記分周器から出力されるクロック信号のいずれか一方と第2の基準クロック信号との位相比較を行う第2の位相比較器と、
前記第2の位相比較器の比較結果に基づいて、前記PLLから出力されるクロック信号のスペクトラム拡散変調の有無及びスペクトラム拡散の変調周波数及び変調幅の少なくとも一つを検知する検知部とを備え、
前記ループ帯域幅制御部は、前記検知部の検知結果に基づいて、前記位相比較器、ループフィルタ、電圧制御発振器及び分周器の少なくとも一つを制御して前記PLLのループ帯域幅を変化させる
ことを特徴とするスペクトラム拡散クロック発生装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009538927A JP5022445B2 (ja) | 2007-11-02 | 2008-10-28 | スペクトラム拡散クロック発生装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007286019 | 2007-11-02 | ||
JP2007286019 | 2007-11-02 | ||
PCT/JP2008/003073 WO2009057289A1 (ja) | 2007-11-02 | 2008-10-28 | スペクトラム拡散クロック発生装置 |
JP2009538927A JP5022445B2 (ja) | 2007-11-02 | 2008-10-28 | スペクトラム拡散クロック発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2009057289A1 JPWO2009057289A1 (ja) | 2011-03-10 |
JP5022445B2 true JP5022445B2 (ja) | 2012-09-12 |
Family
ID=40590696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009538927A Expired - Fee Related JP5022445B2 (ja) | 2007-11-02 | 2008-10-28 | スペクトラム拡散クロック発生装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8085101B2 (ja) |
JP (1) | JP5022445B2 (ja) |
CN (1) | CN101842986A (ja) |
WO (1) | WO2009057289A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104283557A (zh) * | 2013-10-17 | 2015-01-14 | 广州硅芯电子科技有限公司 | Led显示屏驱动装置、方法和锁相环电路 |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100884590B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-02-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 지연고정회로, 반도체 장치, 반도체 메모리 장치 및 그의 동작방법 |
JP4625494B2 (ja) * | 2007-12-25 | 2011-02-02 | 日本電波工業株式会社 | 発振周波数制御回路 |
US7705641B2 (en) * | 2008-04-23 | 2010-04-27 | Ralink Technology Corporation | Fast response phase-locked loop charge-pump driven by low voltage input |
DE102008042847A1 (de) * | 2008-10-15 | 2010-04-22 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Überprüfung eines frequenzmodulierten Taktgebers |
JP2011254122A (ja) * | 2009-03-23 | 2011-12-15 | Nec Corp | 回路、制御システム、制御方法及びプログラム |
JP2011040943A (ja) * | 2009-08-10 | 2011-02-24 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 位相ロックループ回路 |
DE102010005276B4 (de) * | 2010-01-21 | 2019-02-28 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Elektronische Vorrichtung zur Steuerung eines Frequenzmodulationsindexes und Verfahren zur Frequenzmodulation |
JP2012039496A (ja) * | 2010-08-10 | 2012-02-23 | Sony Corp | クロック生成回路および電子機器 |
DE102011002448B4 (de) * | 2011-01-04 | 2014-05-22 | Intel Mobile Communications GmbH | Frequenzteileranordnung und Verfahren zum Bereitstellen eines Quadraturausgangssignals |
US8866468B2 (en) * | 2011-01-27 | 2014-10-21 | Tektronix, Inc. | DF/dT trigger system and method |
US8988122B2 (en) * | 2011-09-30 | 2015-03-24 | Intel Corporation | Apparatus and method for performing spread-spectrum clock control |
US8736324B2 (en) * | 2011-10-13 | 2014-05-27 | Texas Instruments Incorporated | Differentiator based spread spectrum modulator |
US20130114571A1 (en) | 2011-11-07 | 2013-05-09 | Qualcomm Incorporated | Coordinated forward link blanking and power boosting for flexible bandwidth systems |
US9848339B2 (en) | 2011-11-07 | 2017-12-19 | Qualcomm Incorporated | Voice service solutions for flexible bandwidth systems |
US20130114433A1 (en) * | 2011-11-07 | 2013-05-09 | Qualcomm Incorporated | Scaling for fractional systems in wireless communication |
US9516531B2 (en) | 2011-11-07 | 2016-12-06 | Qualcomm Incorporated | Assistance information for flexible bandwidth carrier mobility methods, systems, and devices |
US8610473B2 (en) * | 2011-12-14 | 2013-12-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Phase lock loop with adaptive loop bandwidth |
US10020931B2 (en) | 2013-03-07 | 2018-07-10 | Intel Corporation | Apparatus for dynamically adapting a clock generator with respect to changes in power supply |
CN104426541B (zh) * | 2013-08-28 | 2018-03-30 | 京微雅格(北京)科技有限公司 | 一种扩展频谱控制的锁相环电路和方法 |
DE102014210747B4 (de) | 2014-02-12 | 2023-11-16 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Phasenregelschleife mit Varaktor in Mikrosystemtechnik |
WO2015172372A1 (en) * | 2014-05-16 | 2015-11-19 | Lattice Semiconductor Corporation | Fractional-n phase locked loop circuit |
US9244485B1 (en) * | 2014-07-25 | 2016-01-26 | Infineon Technologies Ag | High frequency oscillator with spread spectrum clock generation |
JP6331918B2 (ja) * | 2014-09-19 | 2018-05-30 | 三菱電機株式会社 | 位相同期回路 |
CN104954016A (zh) * | 2015-04-29 | 2015-09-30 | 南华大学 | 一种快速自适应全数字锁相环及其设计方法 |
KR102511077B1 (ko) * | 2015-09-24 | 2023-03-17 | 삼성전자주식회사 | 선형 조합을 이용한 비선형 확산 스펙트럼 프로파일 생성기 |
US9712174B1 (en) | 2016-01-04 | 2017-07-18 | Infineon Technologies Ag | Double calibration loop for random spread spectrum modulator |
CN107222211B (zh) * | 2016-03-22 | 2020-10-16 | 宏碁股份有限公司 | 扩频时钟产生电路 |
KR20180102866A (ko) * | 2017-03-08 | 2018-09-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 심볼 간섭 제거 회로 |
US10110240B1 (en) * | 2017-10-17 | 2018-10-23 | Micron Technology, Inc. | DLL circuit having variable clock divider |
KR20190043875A (ko) * | 2017-10-19 | 2019-04-29 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 이를 이용한 반도체 시스템 |
US10341082B1 (en) * | 2018-02-27 | 2019-07-02 | Texas Instruments Incorporated | Delay modulated clock division |
US10680585B2 (en) * | 2018-04-09 | 2020-06-09 | Ciena Corporation | Techniques and circuits for time-interleaved injection locked voltage controlled oscillators with jitter accumulation reset |
US10991411B2 (en) | 2018-08-17 | 2021-04-27 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatuses for performing a voltage adjustment operation on a section of memory cells based on a quantity of access operations |
US10431281B1 (en) * | 2018-08-17 | 2019-10-01 | Micron Technology, Inc. | Access schemes for section-based data protection in a memory device |
US10516403B1 (en) * | 2019-02-27 | 2019-12-24 | Ciena Corporation | High-order phase tracking loop with segmented proportional and integral controls |
CN113985958B (zh) * | 2021-10-21 | 2023-06-09 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 时钟展频侦测电路及方法 |
US11936391B2 (en) * | 2022-07-28 | 2024-03-19 | Texas Instruments Incorporated | Multiplying spread-spectrum generator |
US11677403B1 (en) * | 2022-08-04 | 2023-06-13 | Nanya Technology Corporation | Delay lock loop circuit |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02246423A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-02 | Fujitsu Ltd | 位相同期式周波数シンセサイザ |
JPH05175834A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-13 | Mitsubishi Electric Corp | 位相同期ループ回路 |
JPH0786933A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-03-31 | Kenwood Corp | Pllシンセサイザ |
JPH07202638A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電圧制御発振器 |
JPH08107351A (ja) * | 1994-10-06 | 1996-04-23 | Asahi Kasei Micro Syst Kk | Pll回路およびその周波数引込方法 |
JP2003527663A (ja) * | 1999-09-01 | 2003-09-16 | レックスマーク・インターナショナル・インコーポレーテツド | スペクトル拡散クロック発生器を自動的に補正する方法と装置 |
JP2004007642A (ja) * | 2002-05-03 | 2004-01-08 | Altera Corp | プログラム可能な位相ロックループ(pll)におけるアナログ構成の拡散スペクトル周波数変調 |
WO2007080719A1 (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | クロック生成回路 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3267260B2 (ja) | 1999-01-18 | 2002-03-18 | 日本電気株式会社 | 位相同期ループ回路及びそれを使用した周波数変調方法 |
JP2001044826A (ja) | 1999-07-27 | 2001-02-16 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波変調式位相同期ループ回路 |
JP3838180B2 (ja) | 2002-09-12 | 2006-10-25 | 富士通株式会社 | クロック生成回路及びクロック生成方法 |
JP4373267B2 (ja) | 2003-07-09 | 2009-11-25 | 株式会社ルネサステクノロジ | スプレッドスペクトラムクロック発生器及びそれを用いた集積回路装置 |
JP4364621B2 (ja) | 2003-12-04 | 2009-11-18 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | クロックジェネレータ |
JP4376611B2 (ja) | 2003-12-19 | 2009-12-02 | パナソニック株式会社 | 周波数変調回路 |
-
2008
- 2008-10-28 CN CN200880113691A patent/CN101842986A/zh active Pending
- 2008-10-28 JP JP2009538927A patent/JP5022445B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-10-28 US US12/678,630 patent/US8085101B2/en active Active
- 2008-10-28 WO PCT/JP2008/003073 patent/WO2009057289A1/ja active Application Filing
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02246423A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-02 | Fujitsu Ltd | 位相同期式周波数シンセサイザ |
JPH05175834A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-13 | Mitsubishi Electric Corp | 位相同期ループ回路 |
JPH0786933A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-03-31 | Kenwood Corp | Pllシンセサイザ |
JPH07202638A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電圧制御発振器 |
JPH08107351A (ja) * | 1994-10-06 | 1996-04-23 | Asahi Kasei Micro Syst Kk | Pll回路およびその周波数引込方法 |
JP2003527663A (ja) * | 1999-09-01 | 2003-09-16 | レックスマーク・インターナショナル・インコーポレーテツド | スペクトル拡散クロック発生器を自動的に補正する方法と装置 |
JP2004007642A (ja) * | 2002-05-03 | 2004-01-08 | Altera Corp | プログラム可能な位相ロックループ(pll)におけるアナログ構成の拡散スペクトル周波数変調 |
WO2007080719A1 (ja) * | 2006-01-11 | 2007-07-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | クロック生成回路 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104283557A (zh) * | 2013-10-17 | 2015-01-14 | 广州硅芯电子科技有限公司 | Led显示屏驱动装置、方法和锁相环电路 |
CN104283557B (zh) * | 2013-10-17 | 2017-09-29 | 广州硅芯电子科技有限公司 | Led显示屏驱动装置、方法和锁相环电路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100214031A1 (en) | 2010-08-26 |
WO2009057289A1 (ja) | 2009-05-07 |
US8085101B2 (en) | 2011-12-27 |
JPWO2009057289A1 (ja) | 2011-03-10 |
CN101842986A (zh) | 2010-09-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5022445B2 (ja) | スペクトラム拡散クロック発生装置 | |
JP3119205B2 (ja) | Pll回路 | |
US20070120612A1 (en) | Phase lock loop indicator | |
US20120319748A1 (en) | Digital phase locked loop system and method | |
US20030042949A1 (en) | Current-steering charge pump circuit and method of switching | |
US7046093B1 (en) | Dynamic phase-locked loop circuits and methods of operation thereof | |
JPH11163720A (ja) | Pll回路 | |
JP5682281B2 (ja) | Pll回路 | |
US6624706B2 (en) | Automatic bias adjustment circuit for use in PLL circuit | |
JP3984245B2 (ja) | 位相ロックループ及び位相ロックループにおいてロック状況を検出する方法 | |
JP2011259331A (ja) | Pll回路 | |
KR101252048B1 (ko) | 자기잡음제거 전압제어발진기를 이용한 주파수-위상고정루프 | |
US9374038B2 (en) | Phase frequency detector circuit | |
CN101335523A (zh) | 频率合成器 | |
TW201312942A (zh) | 電壓控制器、頻率控制電路、以及使用其之信號產生裝置 | |
JP4534140B2 (ja) | Pll回路 | |
JP3080007B2 (ja) | Pll回路 | |
EP1538451B1 (en) | Phase -locked loop with a programmable frequency detector | |
JP4219669B2 (ja) | 定電圧発生回路及びpll回路 | |
US7471126B2 (en) | Phase locked loop utilizing frequency folding | |
JP2008109452A (ja) | Pll回路 | |
JP2009081557A (ja) | 位相ロックループ回路 | |
JP2002158581A (ja) | 周波数可変型pll回路 | |
JP2010074562A (ja) | Pll回路 | |
JPH03174816A (ja) | Pll回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20120207 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120321 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120424 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120529 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120615 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |