JP4716652B2 - 切断機にて単結晶を切断する装置 - Google Patents
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Description
送り速度が2mm/minの場合、例えば、最小反り値は約60°、150°、240°、330°となる。これらの値に対して、抑制力Fx −、Fx +の合計から生じる合成力は最小となる。前記抑制力が補償されると共にワイヤが横方向に片寄ることなく単結晶に貫入する好ましい角度は、単結晶の材質によって決まる。或は、半導体の場合には、同様に、不純物の注入や他の要因によって決まる。該角度は、各単結晶の材質に応じて経験的に決定される。
2 ウェハ外面
3 単結晶
4 ワイヤ領域
4a〜4c ワイヤ
10 装置
11 ホルダ
12 ソーイング基板
14 オートコリメーション・テレスコープ
15 X線管
16 検出器
17 ミラー
20 装置
21,22 ローラ
23 送り装置
24 XY位置決め装置
25 オートコリメーション・テレスコープ
26 評価装置
27 ミラー
28 楔形光学板
30 ホルダ
31 止め具
32 基準面
Claims (10)
- 単結晶切断装置であって、
長手方向中心軸(M)を有する実質的に円筒形の単結晶(3)からウェハを切断するために、ワイヤ面を形成する切断用の複数の平行なワイヤ(4)を有するワイヤソーとして構成された切断機(4)と、
前記切断装置に設けられ、前記切断機に対する前記単結晶の向きを合わせる方位合わせ装置(24)と、
前記切断機に対して、中心軸と実質的に垂直な送り方向に前記結晶(3)を移動する送り装置(23)と、
を備え、
前記方位合わせ装置(24)は、前記単結晶(3)が、前記送り方向によって規定される軸を中心として、また前記長手方向中心軸(M)と前記送り方向(V)とによって規定される面に垂直な軸を中心として、回転可能なように構成されていること、及び、前記単結晶用のホルダ(12)が設けられ、それによって、所定結晶方向(K)が前記送り方向に対して所定角度を有するように、前記切断装置において単結晶の位置決めをすること、
また、前記単結晶をその長手方向中心軸を中心として回転させる回転装置を備えることと、
前記ワイヤ面に対する前記単結晶(3)の端面(2)の方位を測定する角度測定装置が設けられ、前記角度測定装置は、前記単結晶(3)の端面(2)に固定可能なミラー(27)と、前記切断面と垂直な光軸(O)を持つオートコリメーション・テレスコープ(25)とを含むことと、
前記切断装置の基準座標に対する前記方位合わせ装置(24)及び前記オートコリメーション・テレスコープ(25)の調整を行うための基準装置(32)が設けられていることと、
所定楔形角度を持ち、前記単結晶のXY方位の所定角度偏位(angle offset)を調整する楔形板(28)が設けられていることと、
前記楔形板(28)は、前記楔形角度の所定方位角方位が調節可能であるように、前記単結晶の長手方向中心軸を中心として、切断面で回転可能であること
を特徴とする単結晶切断装置。 - 前記基準座標は、前記送り方向(YM)及び前記ワイヤの伸張方向(XM)に関連付けられた軸に基づき形成されていることを特徴とする請求項1に記載の単結晶切断装置。
- 前記ミラー(27)は、真空装置によって、前記単結晶端面(2)に取り付け可能であることを特徴とする請求項1又は2に記載の単結晶切断装置。
- 前記単結晶用のホルダ(12)が設けられ、それによって、前記単結晶の所定外側形体が前記長手方向中心軸(M)を中心として回転した所定位置に向くように、前記切断装置において単結晶の位置決めをすることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載の単結晶切断装置。
- 前記切断装置は、更に、結晶外面に対する結晶面の方位を決定する装置を含み、
該決定装置は、
単結晶(3)を、その測定する外面(2)が露出するように保持する単結晶(3)用ホルダ(11)と、
前記測定する外面(2)が前記ホルダの基準軸に対してなす角度を測定する角度測定装置(14、17)と、
前記基準軸に対する結晶面の角度を測定するX線測定装置(15、16)と、
を含み、
前記測定装置(14、17)は、
前記測定する外面(2)に配置されたミラー(17)と、
前記基準軸と一致する光軸(O)を持つオートコリメーション・テレスコープ(14)とを含む
ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一つに記載の単結晶切断装置。 - 前記単結晶(3)は実質的に円筒形状であると共に、前記測定する外面(2)は該円筒形の端面であり、前記ホルダ(11)は平面(11a)を含み、該平面には、前記単結晶を、前記測定する外面とは反対側の端面で固定することが可能であり、また、前記基準軸は前記平面(11a)に対する垂線であることを特徴とする請求項5に記載の単結晶切断装置。
- 前記X線測定装置は、X線管(15)と検出器(16)とを含むX線ゴニオメータとして構成され、該X線管と検出器は、前記結晶面に対するブラッグ反射を測定するため、前記基準軸を中心としてある角度範囲内で同時に移動可能であることを特徴とする請求項5又は6に記載の単結晶切断装置。
- 前記ホルダ(11)は、前記基準軸の方向に移動可能であることを特徴とする請求項5乃至7の何れか一つに記載の単結晶切断装置。
- 前記ホルダ(11)は、分圧又は真空によって前記単結晶(3)を固定する真空吸引装置を備えていることを特徴とする請求項5乃至8の何れか一つに記載の単結晶切断装置。
- 前記ホルダにおける前記単結晶は、前記基準軸に対して垂直な面で所定角度方位に単結晶を固定することが出来る止め具(13)を含み、好ましくは止め具(13)が設けられていることを特徴とする請求項5乃至9の何れか一つに記載の単結晶切断装置。
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