JP4707271B2 - エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 - Google Patents
エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4707271B2 JP4707271B2 JP2001198927A JP2001198927A JP4707271B2 JP 4707271 B2 JP4707271 B2 JP 4707271B2 JP 2001198927 A JP2001198927 A JP 2001198927A JP 2001198927 A JP2001198927 A JP 2001198927A JP 4707271 B2 JP4707271 B2 JP 4707271B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mask
- substrate
- glass substrate
- manufacturing
- electroluminescent element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 31
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 title description 73
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 177
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 26
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 117
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 44
- 239000010408 film Substances 0.000 description 21
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 17
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 13
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 7
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 5
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- VBVAVBCYMYWNOU-UHFFFAOYSA-N coumarin 6 Chemical compound C1=CC=C2SC(C3=CC4=CC=C(C=C4OC3=O)N(CC)CC)=NC2=C1 VBVAVBCYMYWNOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 3
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 3
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 3
- HXWWMGJBPGRWRS-CMDGGOBGSA-N 4- -2-tert-butyl-6- -4h-pyran Chemical compound O1C(C(C)(C)C)=CC(=C(C#N)C#N)C=C1\C=C\C1=CC(C(CCN2CCC3(C)C)(C)C)=C2C3=C1 HXWWMGJBPGRWRS-CMDGGOBGSA-N 0.000 description 2
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K bis[(2-methylquinolin-8-yl)oxy]-(4-phenylphenoxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC([O-])=CC=C1C1=CC=CC=C1 UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- -1 3-methylphenylphenylamino Chemical group 0.000 description 1
- YOZHUJDVYMRYDM-UHFFFAOYSA-N 4-(4-anilinophenyl)-3-naphthalen-1-yl-n-phenylaniline Chemical compound C=1C=C(C=2C(=CC(NC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=CC=1NC1=CC=CC=C1 YOZHUJDVYMRYDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000846 In alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N Quinacridone Chemical class N1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3NC1=C2 NRCMAYZCPIVABH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- HXWWMGJBPGRWRS-UHFFFAOYSA-N b2738 Chemical compound O1C(C(C)(C)C)=CC(=C(C#N)C#N)C=C1C=CC1=CC(C(CCN2CCC3(C)C)(C)C)=C2C3=C1 HXWWMGJBPGRWRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 description 1
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000009849 deactivation Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 125000002080 perylenyl group Chemical group C1(=CC=C2C=CC=C3C4=CC=CC5=CC=CC(C1=C23)=C45)* 0.000 description 1
- CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N peryrene Natural products C1=CC(C2=CC=CC=3C2=C2C=CC=3)=C3C2=CC=CC3=C1 CSHWQDPOILHKBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N tris Chemical compound OCC(N)(CO)CO LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/04—Coating on selected surface areas, e.g. using masks
- C23C14/042—Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/10—Deposition of organic active material
- H10K71/16—Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
- H10K71/164—Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using vacuum deposition
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明はエレクトロルミネッセンス(Electro Luminescence:EL)表示装置の製造方法に係り、詳しくはマスクを介して基板面にEL素子が形成されるEL表示装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、EL素子を用いた表示装置が注目されてきている。
このEL素子は、例えば、ITO(酸化インジウムスズ)等の透明電極からなる陽極、MTDATA(4,4-bis(3-methylphenyllamino)biphenyl)や(4,4,4-tris(3-methylphenylphenylamino)triphenylanine)などからなるホール輸送層、キナクリドン(Quinacridone)誘導体を含むBebq2(10−ベンゾ[h]キノリノールーベリリウム錯体)などからなる発光層、Bebq2などからなる電子輸送層、マグネシウム・インジウム合金などからなる電極(陰極)が順次積層形成された構造を有している。そして、このEL素子では、上記電極間に所要の電圧が印加されることで、陽極から注入されたホールと、陰極から注入された電子とが発光層の内部で再結合し、発光層を形成する有機分子を励起して励起子が生じるとともに、この励起子が放射失活する過程で発光層から光が放たれ、この光が透明な陽極から透明絶縁基板を介して外部へ放出されて所要の発光が得られる。
【0003】
また、このEL素子を用いた表示装置、すなわちEL表示装置は、これがカラー画像の表示装置として構成される場合、レッド(R)、グリーン(G)、ブルー(B)の3原色に各々対応して発光するEL素子が例えばマトリクス状に配置されたドットマトリクスの表示装置として構成される。そして、こうしたドットマトリクスからなるEL素子を駆動する方式としては、単純マトリクス方式とアクティブマトリクス方式とがある。
【0004】
このうち、単純マトリクス方式は、表示パネル上にマトリクス状に配置されて各ドットを形成するEL素子を走査信号に同期して外部から直接駆動する方式であり、EL素子だけで表示装置の表示パネルが構成されている。
【0005】
また、アクティブマトリクス方式は、マトリクス状に配置されて各ドットを形成するEL素子に画素駆動素子(アクティブエレメント)を設け、その画素駆動素子を走査信号によってオン・オフ状態が切り替わるスイッチとして機能させる。そして、オン状態にある画素駆動素子を介してデータ信号(表示信号、ビデオ信号)をEL素子の陽極に伝達し、そのデータ信号をEL素子に書き込むことで、EL素子の駆動が行われる。
【0006】
一方、こうした表示装置に用いられるEL素子の形成に際しては、真空蒸着法がよく用いられる。この真空蒸着法によるEL素子の形成には、
(1)真空のチャンバ内において、基板のうちのEL素子を形成する部分以外の部分をマスクするとともに、同マスクされた基板面を鉛直下方に向けて配置する工程
(2)同基板の下方から上記発光層を形成する材料等、EL素子を構成する材料を加熱して蒸発させることで、同基板面にそれら材料を蒸着形成する工程
といった、基本的には2つの工程が用いられる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記態様にて基板面にEL素子を形成するためには、基板とマスクとの位置合わせを極めて高精度にて行う必要がある。ただし、この位置合わせに際して、EL素子を形成する基板面を下面としてこれを支持する際、同基板面のほとんどがEL素子等の形成される表示パネル領域であるために、この面を直接載置することはできない。すなわち、表示パネル領域以外の基板端部を適宜のサポートハンド等にて支持する必要がある。しかし、このような態様で基板を支持した場合には、自ずと基板の中央部にたわみが生じ易くなる。このため、基板をマスク側に移動させる際には、基板の中央部が先にマスクに接触することになり、その状態で上記位置合わせのための基板とマスクとの相対移動が行われるようになるような場合には、基板膜面に傷が発生する等、同位置合わせを適切に行うことができなくなることがある。
【0008】
なお、位置合わせ精度の観点、あるいは蒸着精度の観点からも、上記基板とマスクとは極力近接した状態におかれることが望ましく、そうした意味からも上記問題は深刻である。
【0009】
また、上記真空蒸着法に限らず、他の方法を用いてEL素子の形成が行われる場合であれ、上記基板とマスクとの正確な位置合わせが必要とされる場合には、基板のたわみに起因して位置合わせが困難となるこうした実情も概ね共通したものとなっている。
【0010】
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、マスクを介してエレクトロルミネッセンス素子を形成するに際し、マスクと基板との位置合わせをより好適に行うことのできるエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、基板と該基板の下方に配置されたマスクとを位置合わせし、エレクトロルミネッセンス素子材料を前記マスクを介して前記基板に付着形成するエレクトロルミネッセンス素子の製造方法であって、前記マスクを保持台上に配置されたマスクフレームに予め固定するとともに、それら保持台及びマスクフレームの少なくとも一方には前記基板を支持するための複数のピンを形成しておき、前記基板の3つ以上の辺についてそれら各辺を辺支持手段によって支持しつつ、前記各辺を支持した基板を更に同ピンにより支持した状態で前記位置合わせを行うことをその要旨とする。
【0012】
請求項2記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記マスクはマスクフレームに固定され、前記辺支持手段は対応するマスクフレーム間より短く、前記辺支持手段が前記マスクフレームに接触しないように前記基板を載置することをその要旨とする。
【0013】
請求項3記載の発明は、基板とマスクとを位置合わせし、エレクトロルミネッセンス素子材料を前記マスクを介して前記基板に付着形成するエレクトロルミネッセンス素子の製造方法であって、前記マスクはマスクフレームに固定され、対応する前記基板の辺より短い辺を有する複数の支持部を有する辺支持手段によって、前記対応する基板の辺をそれぞれ支持しつつ、前記辺支持手段が前記マスクフレームに接触しないように前記基板を載置して前記位置合わせを行うことをその要旨とする。
【0014】
請求項4記載の発明は、請求項3に記載の発明において、前記辺支持手段は対応する前記基板の辺を等分した点を支持することをその要旨とする。また、請求項5記載の発明は、請求項3または4に記載の発明において、前記辺支持手段は対応するマスクフレーム間より短いことをその要旨とする。
【0015】
請求項6記載の発明は、請求項1〜5のいずれかに記載の発明において、前記位置合わせ後は、前記辺支持手段を除去し、前記基板を前記マスク及び前記マスクを固定するマスクフレームの少なくとも一方にて支持した状態で前記エレクトロルミネッセンス素子材料の付着形成を行うことをその要旨とする。また、請求項7記載の発明は、請求項1〜6のいずれかに記載の発明において、前記辺支持手段として、前記基板との接触部が各対向する辺間で対称性の保たれるものを用いることをその要旨とする。
【0016】
請求項8記載の発明は、請求項1〜7のいずれかに記載の発明において、少なくとも前記位置合わせを真空容器内にて行うことをその要旨とする。請求項9記載の発明は、請求項1〜8のいずれかに記載の発明において、前記各辺を支持した基板の上面を更に静電吸着にて支持した状態で前記位置合わせを行うことをその要旨とする。
【0017】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
以下、本発明にかかるEL表示装置の製造方法をアクティブマトリクス方式のカラーEL表示装置の製造方法に具体化した第1の実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
【0018】
図1は、本実施形態の製造対象となるEL表示装置のEL素子(本実施形態では有機EL素子:図中ELと表記)とその周辺部についての平面図である。同図1に示されるように、このEL表示装置は、大きくは、EL素子によって形成される表示ドットと、これら表示ドットの各々に対して設けられる能動素子である薄膜トランジスタ(TFT)とを備えている。
【0019】
具体的には、図1に示されるように、EL素子の駆動制御を行なうための信号線として、ゲート信号線GL及びドレイン信号線DLがマトリクス状に形成されている。そして、これら各信号線の交差部に対応してEL素子(表示ドット)が形成されている。なお、このEL表示装置においては、カラー画像表示を可能とすべく、各表示ドットが各原色R、G、Bのいずれかに対応して形成されている。
【0020】
また、これら各EL素子の駆動制御を各別に行なうための素子として、次のものが形成されている。まず、上記各信号線の交差部付近に、ゲート信号線GLと接続され、同ゲート信号線GLの活性により能動とされるスイッチング素子としての薄膜トランジスタ(TFT)aが形成されている。このTFTaのソースSaは、クロム(Cr)やモリブデン(Mo)などの高融点金属からなる容量電極CEと接続されており、同TFTaが能動とされることで容量電極CEにドレイン信号線DLからの電圧が印加される。
【0021】
この容量電極CEは、EL素子を駆動する薄膜トランジスタ(TFT)bのゲートGbに接続されている。また、TFTbのソースS2はEL素子の陽極である透明電極11に接続され、同TFTbのドレインDbは、EL素子に電流を供給する電流源となる駆動電源線ILと接続されている。これにより、上記容量電極CEからゲートGbへの電圧の印加によって、駆動電源線ILからの電流がEL素子に供給されるようになる。
【0022】
一方、上記容量電極CEとの間で電荷を蓄積すべく、保持容量電極線CLが形成されている。この保持容量電極線CL及び容量電極CE間の保持容量により、上記TFTbのゲートGbに印加される電圧が保持される。
【0023】
図2は、図1の一部断面図である。特に、図2(a)はD−D線に沿った断面を、また図2(b)はE−E線に沿った断面をそれぞれ示している。同図2に示されるように、上記EL表示装置は、ガラス基板1上に、薄膜トランジスタ、EL素子を順次積層形成したものである。
【0024】
ここで、上記容量電極CEへの充電制御を行なうスイッチングトランジスタとしてのTFTaは、図2(a)に示されるような態様にて形成されている。すなわち、上記ガラス基板1上にポリシリコン層2が形成されている。同ポリシリコン層2には、上記ソースSa及びドレインDaの他、チャネルCaや、チャネルCaの両側に形成された低濃度領域(Lightly Doped Drain)LDD、更には上記保持容量電極CEが形成されている。そして、これらポリシリコン層2及び保持容量電極CE上には、ゲート絶縁膜3及び、クロム(Cr)やモリブデン(Mo)などの高融点金属からなる上記ゲート信号線GLやゲート電極Ga、保持容量電極線CLが形成されている。そして、これらの上面に、シリコン酸化膜及びシリコン窒化膜の順に積層された層間絶縁膜4が形成されている。更に、同層間絶縁膜4は上記ドレインDaに対応して開口され、同開口部にアルミニウム等の導電物が充填されることで、同ドレインDaが上記ドレイン信号線DLと電気的にコンタクトがとられている。更に、これらドレイン信号線DLや上記層間絶縁膜4上には、例えば有機樹脂からなり、表面を平坦にする平坦化絶縁膜5が形成されている。
【0025】
一方、EL素子を駆動する上記TFTbは、図2(b)に示されるような態様にて形成されている。すなわち、上記ガラス基板1上には、先の図2(a)に示したものと同等のポリシリコン層2が形成されている。このポリシリコン層2には、TFTbのチャネルCbやソースS2、ドレインDbが形成されている。そして、このポリシリコン層2上には、先の図2(a)に示したものと同等のゲート絶縁膜3が形成されているとともに、同ゲート絶縁膜3のうちチャネルCb上方には、クロム(Cr)やモリブデン(Mo)などの高融点金属からなるゲートGbが形成されている。これらゲートGb及びゲート絶縁膜3上には、先の図2(a)に示したものと同等の層間絶縁膜4、平坦化絶縁膜5が順次積層形成されている。なお、層間絶縁膜4のうち、上記ドレインDbに対応した部分が開口され、同開口部にアルミニウム等の導電物が充填されることで、同ドレインDbと上記駆動電源線ILとの電気的なコンタクトがとられている。また、層間絶縁膜4及び平坦化絶縁膜5のうち、上記ソースS2に対応した部分が開口され、同開口部にアルミニウム等の導電物が充填されることで、同ソースS2とITO(Indium Tin Oxide)等の透明電極11の電気的なコンタクトがとられている。この透明電極11は、EL素子の陽極をなすものである。
【0026】
上記EL素子は、次のものが順次積層形成されてなる。
a.透明電極11
b.ホール輸送層12:NBPからなる
c.発光層13:レッド(R)…ホスト材料(Alq3)に赤色のドーパント(DCJTB)をドープしたもの。
【0027】
グリーン(G)…ホスト材料(Alq3)に緑色のドーパント(Coumarin 6)をドープしたもの。
ブルー(B)…ホスト材料(BAlq)に青色のドーパント(Perylene)をドープしたもの。
d.電子輸送層14:Alq3からなる
e.電子注入層15:フッ化リチウム(LiF)からなる
f.電極(陰極)16:アルミニウム(Al)からなる
なお、ここで、上記略称にて記載した材料の正式名称は以下のとおりである。
・「NBP」…N,N‘−Di((naphthalene-1-yl)-N,N'-diphenyl-benzidine)
・「Alq3」…Tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum
・「DCJTB」…(2-(1,1-Dimethylethyl)-6-(2-(2,3,6,7-tetrahydro-1,1,7,7-tetramethyl-1H,5H-benzo[ij]quinolizin-9-yl)ethenyl)-4H-pyran-4-ylidene)propanedinitrile。
【0028】
・「Coumarin 6」…3-(2-Benzothiazolyl)-7-(diethylamino)coumarin。
・「BAlq」…(1,1'-Bisphenyl-4-Olato)bis(2-methyl-8-quinolinplate-N1,08)Aluminum。
【0029】
これらホール輸送層12や、電子輸送層14、電子注入層15、電極16は、図2(a)に示した領域においても共通して形成されている。ただし、発光層13については、透明電極11に対応して島状に形成されているために、図2(a)に示す領域には形成されていない。なお、図2において平坦化絶縁膜5上には、絶縁膜10が形成されている。
【0030】
次に、本実施形態にかかるEL表示装置の製造方法について説明する。
図3に、本実施形態にかかるEL表示装置の製造手順を示す。同図3に示されるように、この一連の製造手順においては、まず上記ガラス基板1上にTFT及び透明電極11を形成し(ステップ100)、更に、ホール輸送層12、13を形成する(ステップ110)。
【0031】
こうしてホール輸送層12、13が形成された上記ガラス基板1は、同ホール輸送層12、13の形成された面を鉛直下方にして、真空チャンバ内へ挿入される(ステップ120)。同チャンバ内には、図4に示す態様にて、予め上記発光層14の形状に合わせて開口(図示略)された例えばニッケル(Ni)からなるマスク30が配置されている。詳しくは、このマスク30は、保持台34上に配置されたマスクフレーム31によって固定されている。
【0032】
そして、真空チャンバ内に上記ホール輸送層12、13の形成されたガラス基板1が挿入されると、同ガラス基板1と、その下方に位置するマスク30との位置合わせが行われる。すなわち、同図4に示すCCD(Charge Coupled Device )カメラ32等により、マスク30内に形成されているアラインメントマーク30a及びガラス基板1に形成されているアラインメントマーク1aの各位置をモニタしつつ、それらアラインメントマーク30a、1aが合致するように、ガラス基板1とマスク30との位置合わせが行われる(図3、ステップ130)。この図4に示すアラインメントマーク30a及び1aは見やすくするために大きく表されているが、実際には縦50μm、横50μmの十字型をしている。
【0033】
なお、実際には、上記工程は、カラー表示装置としての各原色R、G、Bに対応して各別に行われる。すなわち、ホール輸送層13,14の形成されたガラス基板1は、上記各原色R、G、Bに対応する発光層14を形成するための各別の真空チャンバへと順に挿入される。そして、これら各真空チャンバには、上記マスクと30として、上記透明電極(陽極)11のうち、所定の原色の発光に用いられる透明電極(陽極)11に対応した部分のみが開口されたマスクが備えられている。すなわち、各真空チャンバ内には、R、G、Bのいずれかの色に対応したマスクが備えられている。これにより、各チャンバにおいて、各原色に対応した発光層をそれぞれ所定の位置に形成することができる。
【0034】
図5(a)に、マスク30に対して位置合わせされたガラス基板1(図中、破線で表記)の配置態様を示す。このマスク30は、本実施形態では、多数の表示パネルを一枚のガラス基板から形成すべく構成されている。詳しくは、本実施形態におけるマスク30は、同図5(a)に例示されるように16枚の表示パネルを同時に形成すべく、16個のパネル形成部30pを備えている。そして、これら16個のパネル形成部30pは、各4個のパネル形成部30pが備えられた4つのマスク30によって形成される。そして、これら各パネル形成部30pは、図5(b)に示されるように、該当する原色の発光に用いられる上記透明電極11に応じて開口部30hが形成されている。
【0035】
図5(a)に示す態様にてマスク30とガラス基板1との位置合わせが行われると、ガラス基板1は、マスクフレーム31等によって支持される。そして、先の図4において、保持台34の下方に配置された蒸着源(ソース)40から、上記発光層14の材料を加熱して蒸発させることで、上記マスクの開口部を介してガラス基板1表面に同材料を蒸着させる(図3、ステップ140)。
【0036】
このマスク30を介した発光層の形成態様を、図6に模式的に示す。同図6に示すように、各透明電極(陽極)11のうち、各チャンバ内で該当する原色に対応した透明電極の形成領域以外がマスク30で覆われる。そして、該当する原色に対応したEL材料(有機EL材料)は、ソース40内で加熱され、気化されてマスク30の開口部30hを介してガラス基板1(正確にはそのホール輸送層13)上に蒸着形成される。
【0037】
こうして、各チャンバ内で対応する原色の発光層が蒸着形成されたガラス基板1は、これら発光層形成用真空のチャンバから取り出され、別の真空チャンバ内で上記電子輸送層15や電極(陰極)16が形成される(図2、ステップ150)。なお、実際には、これら電子輸送層15や電極(陰極)16の形成は、各別の真空チャンバ内で行なわれる。
【0038】
ところで、上記態様にて真空チャンバ内で上記ガラス基板1とマスク30との位置合わせを行う際には、ガラス基板1及びマスクにたわみが生じる等の問題があることは前述したとおりである。特に、本実施形態のように複数の表示パネルを同時に形成すべく大型のガラス基板1を用いる場合には、同ガラス基板1のたわみも大きくなりがちである。
【0039】
以下、このガラス基板のサイズや支持態様と同ガラス基板に生じるたわみとの関係を図7に基づいて説明する。
図7(a)に各ガラス基板のサイズ及びその支持態様と同ガラス基板に生じるたわみとの関係を示す。同図7(a)に示すケース1は、図7(b)に示す支持態様にて長さKのガラス基板を支持した場合のたわみ量を、同ガラス基板の材質別に示したデータである。これに対して、ケース2では、同図7(b)の支持態様にて長さL(L>K)のガラスを支持した場合のたわみ量を、同ガラス基板の材質別に示したデータである。一方、ケース3は、図7(c)に示す支持態様にて長さKのガラス基板を支持した場合のたわみ量を、同ガラス基板の材質別に示したデータである。
【0040】
図7(a)から明らかなように、ガラス基板を点支持する(図7(c))よりも線支持する(図7(b))方がたわみを抑制することができる。更に、同図7(a)によれば、ガラス基板の長さが短いほどたわみを抑制することができることがわかる。ちなみに、重力加速度をg、ポアッソン比をσ、ガラスの密度をρ、ガラスのヤング率をE、ガラスの厚みをtとすると、図7(b)に示す態様にてガラス基板を支持した場合のたわみnは、下式(c1)で表される。
n=K4gρ(1−σ2)/6.4Et2 …(c1)
上式(c1)からわかるように、ガラス基板の長さが長くなるほど、たわみ量が飛躍的に増大することがわかる。
【0041】
そこで、本実施形態においては、図8に示す態様にてガラス基板1の4辺を辺支持部材50で支持することで、ガラス基板1に生じるたわみを抑制するようにする。すなわち、ガラス基板1の支持されていない辺の長さが長くなるほどたわみが増大することから、ガラス基板1の4辺を辺支持することで、ガラス基板1の長さの増大によるたわみの増大を抑制する。
【0042】
また、この4辺の支持は、ガラス基板1と辺支持部材50との接触部が、ガラス基板1の面に対して、すなわち各対向する辺間で対称性を保つ態様にて行う。
これにより、ガラス基板1に生じるたわみを抑制する。
【0043】
更に、本実施形態では、各辺支持部材50によって、マスク30と対向するガラス基板1の面の端辺を線支持する。このように、辺支持部材50によってガラス基板1をその各辺に沿って線支持することで、ガラス基板1の表示領域に同辺支持部材50が接触することなく、ガラス基板1を支持することができる。
【0044】
詳しくは、同図7に示されるように、この辺支持部材50はL字型をしており、ガラス基板1の下方、換言すれば、ホール輸送層12、13の形成された側の面をこの辺支持部材50に載置することで、同ガラス基板1を支持する。
【0045】
そして、これら各辺支持部材50の長さは、ガラス基板1の各辺の長さよりも短く設定する。具体的には、辺支持部材50のうちガラス基板1を載置する部分の長さを、ガラス基板1の外周に対応するマスクフレーム31のうち隣接する2つのマスクフレーム31間の長さよりも短く設定する。これにより、先の図5(a)に示したマスクフレーム31と辺支持部材50との干渉を避けることができる。すなわち、ガラス基板1とマスク30との位置合わせが終了した後、辺支持部材50は取り除かれる。この辺支持部材50の長さを上記のようにすることで、図5(a)に一点鎖線で示す位置にて、辺支持部材50によるガラス基板1の支持が実現されるとともに、同辺支持部材50の除去もマスクフレーム31と接触することなく容易に行うことができる。
【0046】
以上説明した本実施形態によれば、以下の効果が得られるようになる。
(1)ガラス基板1の4辺を辺支持部材50によって支持しつつ、同ガラス基板1及びマスク30の位置合わせを行った。これにより、ガラス基板1に生じるたわみを更に好適に抑制することができるとともに、ガラス基板1の蒸着面がマスク30によって損傷することを防止できる。
【0047】
なお、上記実施形態は、以下のように変更して実施してもよい。
・辺支持部材50によってガラス基板1を支持したまま、同ガラス基板1へのEL材料の蒸着形成を行ってもよい。この場合、マスクフレーム31の形状は任意である。
【0048】
(第2の実施形態)
以下、本発明にかかるEL表示装置の製造方法をアクティブマトリクス方式のカラーEL表示装置の製造方法に具体化した第2の実施形態について、上記第1の実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。
【0049】
この第2の実施形態では、先の第1の実施形態によるガラス基板1とマスク30との位置合わせに際し、更に以下の基板支持手法を併用する。
すなわち、本実施形態では、図5(a)に併せて示すように、マスクフレーム31に樹脂及び金属等からなる複数のピン33を設ける。このピン33は、図9に示されるように、ガラス基板1との当接面が球面となっており、ガラス基板1とマスク30との位置合わせに際し、この球面となっている当接面を通じてガラス基板1を支持する。これにより、位置合わせに際し、ガラス基板1に損傷を与えることなくそのたわみを抑制する。
【0050】
詳しくは、このピン33は、ガラス基板1面の中央部等、上記支持手段50によって支持されない部分を少なくとも支持することができるよう配置される。また、このピン33は、ガラス基板1の面に対して対称性を保つ態様にて配置される。
【0051】
また、本実施形態では、ピン33は、例えば下部にバネ(板バネを含む)を備えた伸縮可能な構成とする。これにより、ガラス基板1の自重によってピン33は収縮するために、ガラス基板1を的確に支持することができる。更に、ピン33をマスクフレーム31の高さまで収縮することができるようにする。これにより、位置合わせ終了後、ガラス基板1の自重又は外部からの力によってピン33をマスク30の高さまで収縮させることができる。また、これに代えて、ピン33の収縮によっても同ピン33の高さがマスク30の高さよりも高くなるように設定するなら、マスクとガラス基板との間にギャップを保つことができる。
【0052】
以上説明した本実施形態によれば、先の第1の実施形態の上記(1)の効果に加えて更に以下の効果が得られるようになる。
(2)ガラス基板1をピン33によって支持しつつ位置合わせを行うことで、位置合わせに際し、ガラス基板1に生じるたわみをいっそう好適に抑制することができる。
【0053】
(3)ピン33を鉛直方向に伸縮可能な構成とした。これにより、ガラス基板1とマスク30との位置合わせを行った後、ガラス基板1のマスク30等による支持を円滑に行なうことや、ガラス基板1を同ピン33によって支持することでマスク30とガラス基板1とのギャップを保つことができる。
【0054】
なお、上記第2の実施形態は、以下のように変更して実施してもよい。
・ピン33の配置態様は上記のものに限らない。要は、表示領域以外の領域においてガラス基板1を支持することのできる配置であればよい。また、マスクフレーム31上にピンを設ける代わりに、マスクフレーム31の保持台34にピンを形成するなどしてもよい。
【0055】
・ピン33の構成は、上記のように必ずしも伸縮可能な構成でなくてもよい。
この場合、同ピン33によってガラス基板1を支持しつつ、位置合わせやEL材料の蒸着形成を行う。
【0056】
(第3の実施形態)
以下、本発明にかかるEL表示装置の製造方法をアクティブマトリクス方式のカラーEL表示装置の製造方法に具体化した第3の実施形態について、上記第2の実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。
【0057】
この第3の実施形態では、先の第2の実施形態によるガラス基板1とマスク30との位置合わせに際し、更に以下の基板支持手法を併用する。
すなわち、本実施形態では、ガラス基板1の位置合わせに際して、同ガラス基板1の上面を静電吸着にて支持するようにする。すなわち、真空チャンバ内ではガラス基板1の上面を大気圧よりも低い圧力を利用して吸着するなどして支持することはできない。そこで、ガラス基板1の上面を静電吸着にて支持することで、真空チャンバ内においてもガラス基板1を吸着支持することを可能とする。
【0058】
図10に、この静電吸着の原理を示す。同図10に示されるように、本実施形態で用いる静電吸着装置60は、セラミック等からなる吸着部61内に備えられた一対の電極62,63にバッテリ64の陽極及び陰極をそれぞれ接続した装置である。この静電吸着装置60によりガラス基板1を吸着支持することで、ガラス基板1によって生じるたわみを更に抑制することができる。
【0059】
ここで、図11を参照して、本実施形態におけるガラス基板1とマスク30との位置合わせ手順について総括する。
この一連の手順においては、真空チャンバ内へガラス基板1が挿入されると(ステップ200)、上記静電吸着装置60及び支持部材50によってガラス基板1を支持しつつ、これをマスク30側へ移動させる(ステップ210)。そして、ガラス基板1がピン33と接触した後、同ガラス基板1とマスク30との位置合わせを行う(ステップ220)。そして、位置合わせが終了すると、静電吸着装置60及び支持部材50によってガラス基板1を支持しつつ、同ガラス基板1を下降させる。そして、ガラス基板1がマスク30によって支持されるかピン33によって支持された状態で、静電吸着装置60及び支持部材50を除去する(ステップ230)。こうして、マスク30に対して位置合わせされ、且つガラス基板1に対してEL材料を蒸着形成する(ステップ240)。
【0060】
以上説明した本実施形態によれば、先の第1の実施形態の上記(1)の効果、及び先の第2の実施形態の上記(2)、(3)の効果に加えて更に以下の効果が得られるようになる。
【0061】
(4)ガラス基板1の上面を静電吸着にて吸着支持した。これにより、ガラス基板1とマスク30との位置合わせに際し、ガラス基板1に生じるたわみを好適に抑制することができ、ひいてはガラス基板1とマスク30との位置合わせを適切に行うことができる。
【0062】
なお、この第3の実施形態は、以下のように変更して実施してもよい。
・本実施形態においては、第2の実施形態によるガラス基板1とマスク30との位置合わせに際し、更に静電吸着を併用することとしたが、第1の実施形態によるガラス基板1とマスク30との位置合わせに際し、更に静電吸着を併用するようにしてもよい。
【0063】
(その他の実施形態)
その他、上記各実施形態に共通して変更可能な要素としては以下のものがある。
【0064】
・多数の表示パネルのためのマスクの配置態様は、図5に例示したように4分割されたマスクによるものに限らない。このマスクの変更に際しては、マスクフレームの形状もマスクを固定することができる態様にて適宜変更すればよい。
【0065】
・必ずしも多数の表示パネルを同時に形成するものにも限らない。
・ガラス基板1の4辺の支持態様に関しては、上記辺支持部材50によるものに限らない。例えば、図12に示すように、各辺を等間隔に3等分した2つの等分点を支持する支持部材を用いてもよい。これによっても、ガラス基板の辺の長さが長くなった場合に、4辺を支持することで、たわみを抑制することはできる。更に、4辺の支持態様は、同図12に例示するものにも限らない。ただし、各辺の支持態様は対称性が保たれるようにすることが望ましい。
【0066】
・4辺支持の代わりに、少なくとも3辺を支持するようにしてもよい。
・また、マスクフレーム31の構成も図5(a)に例示したものに限らない。
マスク30を固定しつつ、支持部材50等との干渉を排除することのできる形状であればいかなる形状のものであってもよい。
【0067】
・真空蒸着法に限らず、ガラス基板等のEL素子形成基板とマスクとの位置合わせを行う際にガラス基板に生じるたわみの抑制のために本発明は有効である。
・マスクによるR、G、Bの各領域毎のEL素子の形成は、発光層の形成に限らない。例えば、ホール輸送層や電子輸送層についても、R、G、Bでその成膜量を変更したい場合等においては、上記各実施形態での発光層の形成工程によるようにマスクを介して形成することは有効である。したがって本発明は、その際のマスクと基板との位置合わせにも有効に適用することができる。
【0068】
・アクティブマトリクス方式のEL表示装置に限らず、単純マトリクス方式等、任意のEL表示装置の製造に関して本発明は有効である。
・その他、EL素子材料は、上記実施形態において例示したものに限らず、EL表示装置として実現可能な任意のEL素子材料を用いることができる。更に、マスク等の素材についても、上記実施形態で例示したものには限らない。
【0069】
【発明の効果】
請求項1記載の発明によれば、辺支持手段により基板の少なくとも3辺を支持した状態にてマスクと基板との位置合わせが行われる。したがって、この位置合わせに際して、基板に生じるたわみを抑制することができ、ひいては位置合わせを好適に行うことができる。
【0070】
請求項2記載の発明によれば、辺支持手段と基板との接触部においては、各対向する辺間の対象性が保たれるため、基板に生じるたわみをいっそう抑制することができる。
【0071】
請求項3記載の発明によれば、辺支持手段として簡易な構成を有するものを用いることができる。
請求項4記載の発明によれば、マスクフレーム又はマスクにて基板を支持することで、エレクトロルミネッセンス材料の付着形成を簡易に行うことができる。
【0072】
請求項5記載の発明によれば、辺支持手段に加えてピンにより基板が支持された状態で位置合わせを行うことで、同位置合わせをいっそう好適に行うことができる。
【0073】
請求項6記載の発明によれば、エレクトロルミネッセンス素子の付着形成を真空蒸着法によって行う場合であれ、同蒸着形成を速やかに行うことができる。
請求項7記載の発明によれば、真空容器内においても好適に基板をその上面から支持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】アクティブマトリクス方式のEL表示装置を上方から見た平面図。
【図2】アクティブマトリクス方式のEL表示装置についてその一部断面構造を示す断面図。
【図3】本発明にかかるEL表示装置の製造方法の第1の実施形態について、その製造手順を示すフローチャート。
【図4】同実施形態における真空チャンバ内でのマスクとガラス基板との位置合わせ態様を示す斜視図。
【図5】同実施形態でのマスクとガラス基板との配置態様を示す平面図。
【図6】同実施形態におけるEL素子の蒸着形成態様を模式的に示す側面図。
【図7】ガラス基板のサイズ及び支持態様と同ガラス基板に生じるたわみとの関係を説明する図。
【図8】同実施形態におけるガラス基板の支持態様を示す斜視図。
【図9】本発明にかかるEL表示装置の製造方法の第2の実施形態におけるガラス基板の支持態様を示す断面図。
【図10】本発明にかかるEL表示装置の製造方法の第3の実施形態におけるガラス基板の支持態様を模式的に示す断面図。
【図11】同実施形態のEL素子の蒸着形成手順を示すフローチャート。
【図12】上記各実施形態の変形例としてのガラス基板の支持態様を示す平面図。
【符号の説明】
1…ガラス基板1a…アラインメントマーク、2…ポリシリコン層、Ca,Cb…チャネル、Da、Db…ドレイン、Sa,Sb…ソース、3…ゲート絶縁膜、Ga、Gb…ゲート電極、4…層間絶縁膜、5…平坦化絶縁膜、11…透明電極、12,13…ホール輸送層、14…発光層、15…電子輸送層、16…電極、30…マスク、30a…アラインメントマーク、30h…開口部、30p…パネル形成部、31…マスクフレーム、32…CCDカメラ、33…ピン、40…ソース、50…支持部材、60…静電吸着装置、61…吸着部、62,63…電極、64…バッテリ。
Claims (9)
- 基板と該基板の下方に配置されたマスクとを位置合わせし、エレクトロルミネッセンス素子材料を前記マスクを介して前記基板に付着形成するエレクトロルミネッセンス素子の製造方法であって、
前記マスクを保持台上に配置されたマスクフレームに予め固定するとともに、それら保持台及びマスクフレームの少なくとも一方には前記基板を支持するための複数のピンを形成しておき、
前記基板の3つ以上の辺についてそれら各辺を辺支持手段によって支持しつつ、前記各辺を支持した基板を更に同ピンにより支持した状態で前記位置合わせを行うことを特徴とするエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。 - 前記マスクはマスクフレームに固定され、前記辺支持手段は対応するマスクフレーム間より短く、前記辺支持手段が前記マスクフレームに接触しないように前記基板を載置することを特徴とする請求項1に記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 基板とマスクとを位置合わせし、エレクトロルミネッセンス素子材料を前記マスクを介して前記基板に付着形成するエレクトロルミネッセンス素子の製造方法であって、
前記マスクはマスクフレームに固定され、
対応する前記基板の辺より短い辺を有する複数の支持部を有する辺支持手段によって、前記対応する基板の辺をそれぞれ支持しつつ、前記辺支持手段が前記マスクフレームに接触しないように前記基板を載置して前記位置合わせを行うことを特徴とするエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。 - 前記辺支持手段は対応する前記基板の辺を等分する点を支持する請求項3に記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 前記辺支持手段は対応するマスクフレーム間より短いことを特徴とする請求項3または4に記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 前記位置合わせ後は、前記辺支持手段を除去し、前記基板を前記マスク及び前記マスクを固定するマスクフレームの少なくとも一方にて支持した状態で前記エレクトロルミネッセンス素子材料の付着形成を行うことを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 前記辺支持手段として、前記基板との接触部が各対向する辺間で対称性の保たれるものを用いる請求項1〜6のいずれかに記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 少なくとも前記位置合わせを真空容器内にて行う請求項1〜7のいずれかに記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
- 前記各辺を支持した基板の上面を更に静電吸着にて支持した状態で前記位置合わせを行う請求項1〜8記載のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001198927A JP4707271B2 (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
TW091112860A TW560223B (en) | 2001-06-29 | 2002-06-13 | Method for preparing electro luminescence display device |
US10/185,534 US6827622B2 (en) | 2001-06-29 | 2002-06-28 | Method of manufacturing electroluminescence display apparatus |
CNB021251681A CN1195392C (zh) | 2001-06-29 | 2002-06-28 | 电场发光显示装置的制造方法 |
KR10-2002-0037540A KR100485300B1 (ko) | 2001-06-29 | 2002-06-29 | 일렉트로 루미네센스 표시 장치의 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001198927A JP4707271B2 (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003017258A JP2003017258A (ja) | 2003-01-17 |
JP4707271B2 true JP4707271B2 (ja) | 2011-06-22 |
Family
ID=19036284
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001198927A Expired - Lifetime JP4707271B2 (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6827622B2 (ja) |
JP (1) | JP4707271B2 (ja) |
KR (1) | KR100485300B1 (ja) |
CN (1) | CN1195392C (ja) |
TW (1) | TW560223B (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW490714B (en) * | 1999-12-27 | 2002-06-11 | Semiconductor Energy Lab | Film formation apparatus and method for forming a film |
US20020011205A1 (en) | 2000-05-02 | 2002-01-31 | Shunpei Yamazaki | Film-forming apparatus, method of cleaning the same, and method of manufacturing a light-emitting device |
US7517551B2 (en) * | 2000-05-12 | 2009-04-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of manufacturing a light-emitting device |
KR100778286B1 (ko) * | 2001-12-29 | 2007-11-22 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전기발광소자의 제조 방법 |
SG113448A1 (en) | 2002-02-25 | 2005-08-29 | Semiconductor Energy Lab | Fabrication system and a fabrication method of a light emitting device |
US7309269B2 (en) | 2002-04-15 | 2007-12-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of fabricating light-emitting device and apparatus for manufacturing light-emitting device |
US20030221620A1 (en) * | 2002-06-03 | 2003-12-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Vapor deposition device |
TWI252706B (en) * | 2002-09-05 | 2006-04-01 | Sanyo Electric Co | Manufacturing method of organic electroluminescent display device |
US20040123804A1 (en) | 2002-09-20 | 2004-07-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Fabrication system and manufacturing method of light emitting device |
JP2005126821A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-05-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 真空蒸着装置および真空蒸着の前処理方法 |
KR100515955B1 (ko) * | 2003-11-18 | 2005-09-23 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | 상부 커버를 개폐할 수 있는 개폐장치가 구비된평판표시소자 제조장치의 공정챔버 |
KR101073204B1 (ko) * | 2004-12-31 | 2011-10-12 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 및 그 구동방법 |
KR100658762B1 (ko) * | 2005-11-30 | 2006-12-15 | 삼성에스디아이 주식회사 | 증착용 마스크 프레임 조립체 및 이를 이용한 증착 방법 |
KR100741092B1 (ko) * | 2005-12-07 | 2007-07-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 증착용 마스크 |
US8304014B2 (en) * | 2006-02-09 | 2012-11-06 | Global Oled Technology Llc | Aligning OLED substrates to a shadow mask |
KR100947425B1 (ko) | 2007-09-05 | 2010-03-12 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 증착장치 |
JP2009170200A (ja) | 2008-01-15 | 2009-07-30 | Sony Corp | 表示装置の製造方法 |
EP2135970A1 (en) * | 2008-06-20 | 2009-12-23 | Applied Materials, Inc. | Processing system and method for processing a substrate |
US20090317562A1 (en) * | 2008-06-20 | 2009-12-24 | Applied Materials, Inc. | Processing system and method for processing a substrate |
KR101232181B1 (ko) * | 2010-02-03 | 2013-02-12 | 엘지디스플레이 주식회사 | 마스크 어셈블리 |
JP5539154B2 (ja) * | 2010-10-27 | 2014-07-02 | キヤノン株式会社 | アライメント方法、アライメント装置、及び有機el素子製造装置 |
CN103713466B (zh) * | 2013-12-30 | 2016-05-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 掩膜板及其制作方法 |
EP3705600A4 (en) * | 2017-11-01 | 2021-07-14 | Dainippon Printing Co., Ltd. | VAPOR SEPARATION MASK DEVICE |
CN113005397B (zh) * | 2019-12-20 | 2023-04-07 | 佳能特机株式会社 | 成膜装置、成膜方法及电子器件的制造方法 |
KR102501615B1 (ko) * | 2019-12-20 | 2023-02-17 | 캐논 톡키 가부시키가이샤 | 성막 장치, 성막 방법, 및 전자 디바이스의 제조방법 |
CN113005403B (zh) * | 2019-12-20 | 2023-06-20 | 佳能特机株式会社 | 成膜装置、使用其的成膜方法及电子器件的制造方法 |
JP2021175824A (ja) * | 2020-03-13 | 2021-11-04 | 大日本印刷株式会社 | 有機デバイスの製造装置の蒸着室の評価方法、評価方法で用いられる標準マスク装置及び標準基板、標準マスク装置の製造方法、評価方法で評価された蒸着室を備える有機デバイスの製造装置、評価方法で評価された蒸着室において形成された蒸着層を備える有機デバイス、並びに有機デバイスの製造装置の蒸着室のメンテナンス方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57106758U (ja) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | ||
JPH1021586A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Sony Corp | Dcスパッタリング装置 |
JPH10121241A (ja) * | 1996-10-17 | 1998-05-12 | Nec Corp | 真空蒸着装置 |
JPH1161379A (ja) * | 1997-08-20 | 1999-03-05 | Fujitsu Ltd | ガラス基板用蒸着装置 |
JP2000133451A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Toray Ind Inc | 有機電界発光素子の製造方法 |
JP2000160323A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-13 | Toyota Motor Corp | 薄膜形成方法 |
JP2001160586A (ja) * | 2000-09-11 | 2001-06-12 | Hitachi Ltd | 基板保持装置 |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US76847A (en) * | 1868-04-14 | stover | ||
US6827A (en) * | 1849-10-30 | Mill for grinding | ||
US3601A (en) * | 1844-05-25 | X m mill-bush | ||
US4143297A (en) * | 1976-03-08 | 1979-03-06 | Brown, Boveri & Cie Aktiengesellschaft | Information display panel with zinc sulfide powder electroluminescent layers |
US4344988A (en) * | 1978-08-01 | 1982-08-17 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Method for forming patterned coating |
JPS57106758A (en) * | 1980-12-25 | 1982-07-02 | Nitto Boseki Co Ltd | Glass fiber roving cloth |
US4492180A (en) * | 1981-03-16 | 1985-01-08 | Applied Magnetics Corporation | Apparatus for indexing and registering a selected deposition mask to a substrate and method therefor |
US4372248A (en) * | 1981-09-21 | 1983-02-08 | Applied Magnetics-Magnetic Head Division Corporation | Apparatus for accurately registering a member and a substrate in an interdependent relationship |
US4469719A (en) * | 1981-12-21 | 1984-09-04 | Applied Magnetics-Magnetic Head Divison Corporation | Method for controlling the edge gradient of a layer of deposition material |
US4915057A (en) * | 1985-10-23 | 1990-04-10 | Gte Products Corporation | Apparatus and method for registration of shadow masked thin-film patterns |
JP2598353B2 (ja) * | 1991-12-04 | 1997-04-09 | アネルバ株式会社 | 基板処理装置、基板搬送装置及び基板交換方法 |
JPH05290970A (ja) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Fuji Electric Co Ltd | 薄膜エレクトロルミネセンス素子の製造方法 |
JPH0673541A (ja) * | 1992-08-26 | 1994-03-15 | Kubota Corp | 蒸着装置用基板ホルダー |
TW277139B (ja) * | 1993-09-16 | 1996-06-01 | Hitachi Seisakusyo Kk | |
KR970000079B1 (ko) * | 1993-11-08 | 1997-01-04 | 엘지전자 주식회사 | 회로기판 동박인쇄장비의 스크린 마스크 평행도 및 스크린 마스크와 스테이지 사이의 간격조절장치 |
KR970051901A (ko) * | 1995-12-28 | 1997-07-29 | 이우복 | 대면적 하드 마스크용 마스크 홀더 |
US5817366A (en) * | 1996-07-29 | 1998-10-06 | Tdk Corporation | Method for manufacturing organic electroluminescent element and apparatus therefor |
JPH1072668A (ja) * | 1996-09-02 | 1998-03-17 | Toray Ind Inc | 基板支持具ならびに該支持具を用いた薄膜の製造方法およびその製造装置 |
JP3704883B2 (ja) * | 1997-05-01 | 2005-10-12 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 有機エレクトロルミネセンス素子及びその製造方法 |
JPH10319870A (ja) * | 1997-05-15 | 1998-12-04 | Nec Corp | シャドウマスク及びこれを用いたカラー薄膜el表示装置の製造方法 |
JP4269195B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2009-05-27 | ソニー株式会社 | 発光又は調光素子、及びその製造方法 |
KR100618675B1 (ko) * | 1999-04-16 | 2006-09-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 엑스-선 마스크의 구조 및 그 제조방법 |
US6469439B2 (en) * | 1999-06-15 | 2002-10-22 | Toray Industries, Inc. | Process for producing an organic electroluminescent device |
JP2001023773A (ja) * | 1999-07-08 | 2001-01-26 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | 有機el素子の製造方法と装置 |
US6328807B1 (en) * | 1999-12-14 | 2001-12-11 | Corning Incorporated | Chuck heater for improved planar deposition process |
TW490714B (en) * | 1999-12-27 | 2002-06-11 | Semiconductor Energy Lab | Film formation apparatus and method for forming a film |
TW451601B (en) * | 2000-08-07 | 2001-08-21 | Ind Tech Res Inst | The fabrication method of full color organic electroluminescent device |
JP2002175878A (ja) * | 2000-09-28 | 2002-06-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 層の形成方法及びカラー発光装置の製造方法 |
JP4078813B2 (ja) * | 2001-06-12 | 2008-04-23 | ソニー株式会社 | 成膜装置および成膜方法 |
US6475287B1 (en) * | 2001-06-27 | 2002-11-05 | Eastman Kodak Company | Alignment device which facilitates deposition of organic material through a deposition mask |
JP2003017254A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-17 | Sanyo Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 |
US6589382B2 (en) * | 2001-11-26 | 2003-07-08 | Eastman Kodak Company | Aligning mask segments to provide a stitched mask for producing OLED devices |
US6935038B2 (en) * | 2002-02-14 | 2005-08-30 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Gap gauge |
-
2001
- 2001-06-29 JP JP2001198927A patent/JP4707271B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-06-13 TW TW091112860A patent/TW560223B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-06-28 CN CNB021251681A patent/CN1195392C/zh not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-28 US US10/185,534 patent/US6827622B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-06-29 KR KR10-2002-0037540A patent/KR100485300B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57106758U (ja) * | 1980-12-19 | 1982-07-01 | ||
JPH1021586A (ja) * | 1996-07-02 | 1998-01-23 | Sony Corp | Dcスパッタリング装置 |
JPH10121241A (ja) * | 1996-10-17 | 1998-05-12 | Nec Corp | 真空蒸着装置 |
JPH1161379A (ja) * | 1997-08-20 | 1999-03-05 | Fujitsu Ltd | ガラス基板用蒸着装置 |
JP2000133451A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Toray Ind Inc | 有機電界発光素子の製造方法 |
JP2000160323A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-13 | Toyota Motor Corp | 薄膜形成方法 |
JP2001160586A (ja) * | 2000-09-11 | 2001-06-12 | Hitachi Ltd | 基板保持装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1195392C (zh) | 2005-03-30 |
JP2003017258A (ja) | 2003-01-17 |
KR100485300B1 (ko) | 2005-04-27 |
TW560223B (en) | 2003-11-01 |
US6827622B2 (en) | 2004-12-07 |
US20030017259A1 (en) | 2003-01-23 |
CN1395453A (zh) | 2003-02-05 |
KR20030003122A (ko) | 2003-01-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4707271B2 (ja) | エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 | |
KR100603403B1 (ko) | 마스크 프레임 조립체, 및 이를 이용한 유기 전계 발광소자의 제조방법 | |
JP5677785B2 (ja) | 薄膜蒸着装置及びこれを利用した有機発光表示装置の製造方法 | |
EP1207557A2 (en) | Method of attaching layer material and forming layer in predetermined pattern on substrate using mask | |
TWI553133B (zh) | 薄膜沉積裝置及利用其製造薄膜的方法 | |
KR102474208B1 (ko) | 마스크 조립체, 이를 이용한 표시 장치의 제조 장치 및 표시 장치의 제조 방법 | |
KR20030071651A (ko) | 증착 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
TWI284006B (en) | Manufacturing method for electroluminescence display device | |
KR20030078749A (ko) | 증착 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
US20170148990A1 (en) | Mask assembly, method of manufacturing mask assembly, and method of manufacturing display apparatus | |
KR100481346B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 표시 장치의 제조 방법 | |
KR100497088B1 (ko) | 일렉트로 루미네센스 표시 패널의 제조 방법 및 증착 마스크 | |
JP6418440B2 (ja) | メタルマスク及びメタルマスクの製造方法並びにメタルマスクを用いた成膜方法 | |
US20010009280A1 (en) | Organic electroluminescence display device | |
JP2001134214A (ja) | 表示装置 | |
US20160079569A1 (en) | Organic layer deposition apparatus and method of manufacturing organic light-emitting display apparatus using the same | |
JP5276716B2 (ja) | 有機el素子及びその製造方法 | |
KR100603398B1 (ko) | 증착용 마스크 및 전계발광 디스플레이 장치 | |
JP2004006282A (ja) | 蒸着方法及び表示装置の製造方法 | |
JP2003017256A (ja) | エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法 | |
KR20040092529A (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
JP2003157974A (ja) | エレクトロルミネッセンス表示パネルの製造方法及び蒸着マスク |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20051226 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080610 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100827 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110105 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110215 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110315 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4707271 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |