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  1. 第1の記憶部と、第2の記憶部と、比較回路と、を有し、
    前記第1の記憶部は、不揮発性の第1の記憶素子を有し、基準データが書き込まれ、第1のデータを記憶する機能を有し、
    前記第2の記憶部は、第2の記憶素子と、トランジスタと、を有し、前記基準データが書き込まれ、第2のデータを記憶する機能を有し、
    前記トランジスタは、チャネル形成領域に酸化物半導体を有し、
    前記トランジスタは、オフ状態となることによって、書き込まれた前記基準データに対応して前記第2の記憶素子に蓄積された電荷を、保持する機能を有し、
    前記比較回路は、前記第1の記憶部から読み出された前記第1のデータと、前記第2の記憶部から読み出された前記第2のデータと、を比較する機能を有することを特徴とする記憶装置。
  2. 第1の記憶部と、第2の記憶部と、比較回路と、を有し、
    前記第1の記憶部は、不揮発性の第1の記憶素子を有し、基準データが書き込まれ、第1のデータを記憶する機能を有し、
    前記第2の記憶部は、第2の記憶素子と、トランジスタと、を有し、前記基準データが書き込まれ、第2のデータを記憶する機能と、前記比較回路から出力される第3のデータを記憶する機能と、を有し、
    前記トランジスタは、チャネル形成領域に酸化物半導体を有し、
    前記トランジスタは、オフ状態となることによって、書き込まれた前記基準データに対応して前記第2の記憶素子に蓄積された電荷を、保持する機能を有し、
    前記比較回路は、前記第1の記憶部から読み出された前記第1のデータと、前記第2の記憶部から読み出された前記第2のデータと、を比較し、前記第3のデータを出力する機能を有することを特徴とする記憶装置。
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