JP2009105369A - 金属キャパシタ及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】電気伝導度を大きく改善させた金属キャパシタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】形成部,第1・第2電極引き出し部を有する端子増加型金属部材11と、該金属部材に形成される金属酸化層12と、金属部材の溝形成部に形成された多数個の溝が埋まるように溝形成部に形成される複数のメーン電極層14と、第1・第2電極引き出し部が外部に露出されるようにメーン電極層と金属部材に形成される絶縁層15と、第1・第2電極引き出し部と直交するようにメーン電極層と絶縁層に形成されメーン電極層を連結する多数個の導電性連結層16と、第1・第2電極引き出し部に選択的に連結される第1のリード端子21と、メーン電極層に連結される第2のリード端子22と、前記各リード端子が連結された金属部材を前記各リード端子が外部に露出されるように密封させる密封部材30を具備する金属キャパシタ。
【選択図】図3

Description

本発明は、金属キャパシタ及びその製造方法に係るもので、より詳しくは電解質で金属材質を適用して電気伝導度を大きく改善させた金属キャパシタ及びその製造方法に関するものである。
従来、電源回路から出力される電源を一定な値になるように平滑させるか又は低周波バイパスで使用されるキャパシタとしてはアルミニウム電解キャパシタ(aluminium electrolytic capacitor)が公知されており、その製造方法は次のとうりである。
まず、アルミニウム箔の表面積を広げて静電容量を大きくするためにアルミニウム箔(aluminium foil)の表面を食刻(etching)する過程を実施する。食刻過程が完了されるとアルミニウム箔に誘電体を形成させる化成(forming)過程を実施する。食刻と化成過程を通じてそれぞれ陰極と陽極のアルミニウム箔が製造されるとアルミニウム箔と電解紙を製品の長さによって必要寸法の幅だけ切る断裁(slit)過程を実施する。断裁が完了されるとアルミニウム箔に引き出し端子であるアルミニウムリード棒を接合させるステッチ(stich)過程を実施する。
アルミニウム箔と電解紙の断裁が完了されると陽極アルミニウム箔と陰極アルミニウム箔の間に電解紙を挿入した後円筒状で巻いて解かされないようにテープで接着させる巻取り(winding)過程を実施する。巻取り過程が完了されると巻取りされた素子をアルミニウムケースに挿入した後電解液を注入する含浸(impregnation)を実施する。電解液の注入が完了されるとアルミニウムケースを封口材で封入する封入(curling)過程を実施する。封入過程が完了されると誘電体損傷を復旧するエージング(aging)過程を実施してアルミニウム電解キャパシタの組立を完了する。
ところが、最近電子機器のデジタル化及び小型化の進展で高周波数で低いインピーダンスを有するキャパシタを要求していて上記のように製造される従来のアルミニウム電解キャパシタを改善するために機能性積層型アルミニウム固体キャパシタや機能性タンタルキャパシタが適用されているが次のような問題点がある。
従来の機能性積層型アルミニウム固体キャパシタ又は機能性タンタルキャパシタは電解質でポリピロー(polypyrrole)やポリチオフェン(polythiophene)等の導電性の高分子化合物が使用されることによって耐熱性、耐電圧(50V以上)の限界がある。また、グラファイト(graphite)のようなペーストを順次に塗布して陰極を形成するのでキャパシタの厚さが厚くなって積層数に限界があり、層間接触抵抗が生じてインピーダンス特性を悪化させる。
本発明の目的は前記のような問題点を解決するためのもので、電解質で金属材質を適用して電気伝導度を従来の電解質で電解液や有機半導体を使用することに比べて10,000〜1,000,000倍改善させた金属キャパシタ及びその製造方法を提供することにある。
本発明の他の目的は電解質で金属材質を使用することによって小型化、低損失化、リップル発熱低減、長寿命化、耐熱安全性、非発煙、非発火及び耐環境性を改善させることができる金属キャパシタ及びその製造方法を提供することにある。
このような目的を達成するための本発明の金属キャパシタは、多数個の溝が形成される溝形成部と、溝形成部にそれぞれ形成される第1及び第2電極引き出し部を有する端子増加型金属部材と、端子増加型金属部材に形成される金属酸化層と、端子増加型金属部材の溝形成部に形成された多数個の溝が埋まるように溝形成部に形成される多数個のメーン電極層と、端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるように多数個のメーン電極層と端子増加型金属部材に形成される絶縁層と、端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に形成され前記多数個のメーン電極層を連結する多数個の導電性連結層と、端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部に選択的に連結される第1のリード端子と、端子増加型金属部材のメーン電極層に連結される第2のリード端子と、第1及び第2のリード端子が連結された端子増加型金属部材を第1及び第2のリード端子が外部に露出されるように密封させる密封部材と、で構成されることを特徴とする。
本発明の金属キャパシタの製造方法は、母材にプリンティング方式インク、物理的なスクラッチ、ナノ針を用いてパターンや溝を形成する過程と、DC食刻方法を用いて母材の両面にそれぞれ多数個の溝が配列される溝形成部を形成して、その一側と他側に第1及び第2電極引き出し部を一体に形成する端子増加型金属部材を形成する過程と、端子増加型金属部材に溝形成部と第1及び第2電極引き出し部が一体に形成されると陽極酸化方法を用いて端子増加型金属部材に金属酸化層を形成する化成過程と、端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるようにCVD方法を用いて多数個のメーン電極層と端子増加型金属部に絶縁層を形成する過程と、電解メッキや無電解メッキ方法を用いて端子増加型金属部の溝形成部に多数個のシード電極層を形成する過程と、多数個のシード電極層に電解メッキや無電解メッキ方法を用いて多数個のシード電極層を媒介として前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成された多数個の溝が埋没されるように多数個のメーン電極層を形成する過程と、端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に多数個のメーン電極層を連結する導電性連結層を形成する過程と、端子増加型金属部材の前記メーン電極層に第2のリード端子を連結させて前記第1及び第2電極引き出し部にそれぞれ第1のリード端子を選択的に連結させる過程と、第1及び第2のリード端子が連結されると端子増加型金属部材の第1及び第2のリード端子が外部に露出されるように前記端子増加型金属部材を密封部材で密封させる過程と、で構成されることを特徴とする。
本発明の金属キャパシタは電解質で金属材質を適用することによって従来の電解質で電解液や有機半導体を使用することに比べて電気伝導度を10,000〜1,000,000倍改善させることができて、直列積層して高電圧化が可能で、電気的な安全性が高くて、小型化、低損失化、低ESR(Equivalent Series Resistance)、低インピーダンス(impedance)化、耐熱安全性、非発煙、非発火及び耐環境性を改善させることができる利点を提供する。
(第1実施例)
以下、本発明の第1実施例による金属キャパシタの構成を添付された図面を参照して説明する。
図1は本発明の第1実施例による金属キャパシタの斜視図で、図2は図1に示された金属キャパシタのA1―A2線の切断面図で、図3は図1に示された金属キャパシタのB1―B2線の切断面図である。本発明の金属キャパシタ10は図1乃至図3に示されたように、端子増加型金属部材11、金属酸化層12、多数個のシード電極層13、多数個のメーン電極層14、絶縁層15、多数個の導電性連結層16、第1のリード端子21、第2のリード端子22及び密封部材30で構成されるが、前記シード電極層13は使用者によって適用しない場合もある。
次に、本発明の金属キャパシタ10のそれぞれの構成について説明する。
端子増加型金属部材11は、図4Bに示されたように両面にそれぞれ多数個の溝11dが配列され形成される溝形成部11aと、溝形成部11aの一側と他側にそれぞれ形成される第1及び第2電極引き出し部11b,11cと、で構成される。そして、前記溝形成部11aに形成された多数個の溝11dは円形や多角形で形成される。多数個の溝11dが形成される端子増加型金属部材11は溝形成部11aと第1及び第2電極引き出し部11b,11cが一体に形成されて、アルミニウム(Al)、ニオビウム(Nb)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)及びジルコニウム(Zr)のうちいずれか一つが適用される。
金属酸化層12は端子増加型金属部材11の表面に形成されて、アルミナ(Al)、酸化ニオビウム(Nb)、一酸化ニオビウム(NbO)、酸化タンタル(Ta)、酸化チタン(TiO)及び酸化ジルコニウム(ZrO)のうちいずれか一つが適用される。金属酸化層12は端子増加型金属部材11の上/下両面と側面11eに形成される。
絶縁層15は、端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cと多数個の溝11dがそれぞれ露出されるように端子増加型金属部材11に形成される。このような絶縁層15は、多数個のメーン電極層14を形成した後にも形成することができる。即ち、絶縁層15は、端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cが外部に露出されるように端子増加型金属部材11の側面11eに沿って多数個のメーン電極層14と端子増加型金属部材11に形成される。即ち、絶縁層15は端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cを除いた残りの側面11eに形成される。
多数個のシード電極層13は、端子増加型金属部材11の溝形成部11aの両面に形成された金属酸化層12にそれぞれ形成される。多数個のメーン電極層14は、端子増加型金属部材11の溝形成部11aに形成された多数個の溝11dが埋まるように溝形成部11aの両面に形成されたシード電極層13にそれぞれ形成される。
多数個の導電性連結層16は、図1に示されたように、端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cと直交するように多数個のメーン電極層14と絶縁層15に形成され多数個のメーン電極層14を連結する。多数個のメーン電極層14を連結するために多数個の導電性連結層16は、互いに対向するように形成される第1及び第2電極引き出し部11b,11cと直交されるように多数個のメーン電極層14と絶縁層15に形成され多数個のメーン電極層14が電気的に連結されるようにする。導電性連結層16によって電気的に連結される多数個のメーン電極層14、シード電極層13及び導電性連結層(16)はそれぞれアルミニウム(Al)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、錫(Sn)、インジウム(In)、パラジウム(Pd)、白金(Pd)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru)及び金(Au)のうちいずれか一つが適用される。
第1のリード端子21は、端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cに選択的に連結される。例えば、第1のリード端子21は、端子増加型金属部材11の第1電極引き出し部11bに連結するか又は端子増加型金属部材11の第2電極引き出し部1c)に連結することができる。第2のリード端子22は、端子増加型金属部材11のメーン電極層14に連結して無極性を有する金属キャパシタ10を構成する。
多数個のメーン電極層14のうち一つに連結される第2のリード端子22は、接着力を改善させるために導電性接着層17がさらに具備されて、導電性接着層17は多数個のメーン電極層14のうち第2のリード端子22が連結されるメーン電極層14に設置される。密封部材30は第1及び第2のリード端子21,22が連結された端子増加型金属部材11を第1及び第2のリード端子21,22が外部に露出されるように密封させるために設置され、モールディング材質や内部の空いたカバー部材が適用される。
次に、前記の構成を有する本発明の第1実施例による金属キャパシタ10の製造方法を添付された図面を参照して説明する。
本発明の第1実施例による金属キャパシタ10の製造方法は、まず図4A及び図4Bに示された金属材質の膜やホイル(foil)のような母材1が用意した後、プリンティング方式インクや物理的なスクラッチを用いてパターン(図示せず)を形成するか又はナノ針で傷をつかせる。そして、前記母材1をDC(Direct Current)食刻方法を用いて母材1の両面にそれぞれ多数個の溝11dが配列される溝形成部11aを形成して一側と他側に第1及び第2電極引き出し部11b,11cが一体に形成された端子増加型金属部材11を形成する。
前記食刻方法は、母材1を略50℃でリン酸1%水溶液で1分程度前処理過程を行って、70乃至90℃で硫酸、リン酸及びアルミニウム等が混合された混合物で2分程度1次エッチングを行うことになる。この時、電流密度は100乃至400mA/cmである。そして、再び略80℃近傍で硝酸、リン酸及びアルミニウム等が混合された混合物で10分程度2次エッチングを行うことになる。この時、電流密度は10乃至100mA/cmである。前記エッチングが完了されると、60乃至70℃で硝酸30〜70g/l溶液で10分程度化学的洗浄を行う。
端子増加型金属部材11に形成される第1及び第2電極引き出し部11b,11cは、それぞれ第1のリード端子21を選択的に連結させ有極性の有する金属キャパシタを構成する場合に3端子を有するように構成したものである。しかし、無極性である場合にも2端子を有する金属キャパシタとしても構成することもできる。このような端子増加型金属部材11の溝形成部11aに形成される多数個の溝11dは円形や多角形で形成されて、径が1μm乃至100μmになるように形成されて、深さは端子増加型金属部材11の厚さが1である場合両面で0.5未満になるように形成される。例えば、端子増加型金属部材11の厚さが300μmであれば150μm以下になるように形成される。また、前記多数個の溝11dが多角形である場合にも円形の溝と同じく有効径を1μm乃至100μmになるように形成することが好ましい。
端子増加型金属部材11に溝形成部11aと第1及び第2電極引き出し部11b,11cを一体に形成した後、図4Cに示されたように陽極酸化方法を用いて端子増加型金属部材11に金属酸化層12を形成する化成過程を実施する。
前記陽極酸化方法は、まず70〜100℃で2〜10分間加熱(Boiling)工程を行って、ホウ酸とホウ酸アンモニウムの混合物で電圧150vで1次に酸化を進行して、だんだん前記混合物の濃度と電圧を変化させながら複数回(2〜3次)酸化を進行させることになる。そして、所定の温度例えば、400〜600℃で熱処理を行って、再び再化成を行うことになる。また、再化成の際発生された副産物を除去するために副産物処理を行う。そして、また再び再化成と熱処理を繰り返し行う。そして、ホウ酸やリン酸を拭き取るために所定の洗浄工程を行う。
端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cが外部に露出されるように図4Dに示されたように、CVD(Chemical Vapor Deposition)方法を用いて端子増加型金属部材11の側面11e(図1に示される)に絶縁層15を形成して、絶縁層15は絶縁テープ(tape)や樹脂系列の材質が適用される。参考に、ここではCVDを適用したが、絶縁樹脂や絶縁インクを用いたディッピング(Diping)工程やインクジェットプリンティング(Ink-jet printing)やスクリーンプリンティング(Screen printing)を適用したスプレー(Spray)工程やスタンピング(Stamping)工程のうちいずれか一つを適用することもできる。
図4Eに示されたように、金属酸化層12に電解メッキや無電解メッキ方法を用いて浸透するように端子増加型金属部材11の溝形成部11aに多数個のシード電極層13を形成する。
シード電極層の形成工程で、活性剤(Activator)として常温の硫酸パラジウム水溶液で10〜数百秒間浸積した後、常温で1秒〜30秒間浸積洗浄して表面の活性剤を除去する。ニッケル無電解メッキではニッケルリン酸塩水溶液を適用して、pH範囲(pHは4〜8)や温度(50〜80℃)を適切に調節して5〜20分間メッキをすることになる。この場合、多数個の溝11dの内部にのみシード電極層13を形成することができるようになる。そして、使用者の要求によって追加的なメッキ工程と100℃以下で乾燥工程を行うことになる。
多数個のシード電極層13が形成されると図4Fに示されたように、電解メッキや無電解メッキ方法を用いて多数個のシード電極層13を媒介として端子増加型金属部材11の溝形成部11aに形成された多数個の溝11dが埋没されるように多数個のメーン電極層14を形成する。
前記メーン電極層14を形成するための電解メッキは硫酸ニッケルや塩化ニッケル水溶液をpH1から5にして、温度は30〜70℃で維持して、電流密度は20〜120mA/cmのDC電流を印加して電解メッキを実施してメーン電極層14を形成する。そして、メーン電極層14を形成するための無電解メッキは70〜90℃の間のニッケルリン酸水溶液をpH5〜7の間に調節してここにシード電極層13が形成された素材を10〜30分間無電解メッキを行って、表面のメッキ液成分を除去するための洗浄と100℃以下の乾燥を進行してメーン電極層14を形成する。
図4Gに示されたように、端子増加型金属部材11の第1及び第2電極引き出し部11b,11cと直交する方向の端子増加型金属部材11の側面11eに多数個のメーン電極層14を連結する導電性連結層16を形成する。
導電性連結層16が形成されると図3に示されたように、端子増加型金属部材11のメーン電極層14に第2のリード端子22を連結させて第1及び第2電極引き出し部11b,11cにそれぞれ第1のリード端子21を選択的に連結させる。例えば、第1及び第2電極引き出し部11b,11cにそれぞれ第1のリード端子21を選択的に連結させて有極性の有する金属キャパシタを構成する場合に3端子を有するように構成することができて、無極性である場合にも2端子を有する金属キャパシタとしても構成することができる。
導電性連結層16を形成する過程と第1及び第2のリード端子21,22を連結させる過程の間には第1及び第2のリード端子21,22の接着力を改善させるために第2のリード端子22が連結されるメーン電極層14に導電性接着層17を形成する。導電性接着層17は金属接着剤やソルダーペーストを塗布する方法、電解メッキ方法及び無電解メッキ方法のうちいずれか一つが適用される。
第1及び第2のリード端子21,22が連結されると図3に示されたように、端子増加型金属部材11の第1及び第2のリード端子21,22が外部に露出されるように端子増加型金属部材11を密封部材30で密封させる。端子増加型金属部材11を密封部材30で密封させる過程は端子増加型金属部材11の密封の際モールディング材質や内部の空いたカバー部材で密封する。
(第2実施例)
本発明の第1実施例による金属キャパシタ10を構成する非貫通型金属部材10aを用いた無極性の有する金属キャパシタ110を、添付された図面を用いて説明する。
本発明の第2実施例による金属キャパシタ110は、図5に示されたように多数個の非貫通型金属部材10a、導電性接着層17、第3のリード端子23、第4のリード端子24及び密封部材30で構成されて、それぞれの構成を順次に説明すると次のようだ。
多数個の非貫通型金属部材10aは、それぞれ端子増加型金属部材11、金属酸化層12、多数個のシード電極層13、多数個のメーン電極層14、絶縁層15及び多数個の導電性連結層16からなり、それぞれの構成は金属キャパシタ10と同一なので詳細な説明は省略する。ここではシード電極層13があることについて説明したが、前記シード電極層13は使用者の要求によって除去し使用することもできる。
前記のような構成を有する多数個の非貫通型金属部材10aは、それぞれ順次に積層される。導電性接着層17は、多数個の非貫通型金属部材10aのメーン電極層14の間にそれぞれ設置され多数個の非貫通型金属部材10aを接着させる。
第3のリード端子23は、積層された多数個の非貫通型金属部材10aのうち奇数番目に位置した多数個の非貫通型金属部材10aの第1電極引き出し部11bにそれぞれ連結される。即ち、図5に示されたように積層された多数個の非貫通型金属部材10aのうち最上側に位置した非貫通型金属部材10aが一番目の非貫通型金属部材10aだと仮定すると、その下側に位置した非貫通型金属部材10aを順に2番目、3番目及び4番目に位置したことになる。
ここで、第3のリード端子23は、1番目や3番目のような奇数番目に位置した非貫通型金属部材10aの第1電極引き出し部11bにそれぞれ連結される。これと反対に、第4のリード端子24は、積層された多数個の非貫通型金属部材10aのうち偶数番目に位置した非貫通型金属部材10aの第2電極引き出し部11cにそれぞれ連結され無極性を有する金属キャパシタ110を構成する。即ち、同一な極性を有する金属酸化層12が形成される端子増加型金属部材11の第1電極引き出し部11b及び第2電極引き出し部11cにそれぞれ第3のリード端子23及び第4のリード端子24が連結されることによって金属キャパシタ110は無極性を有するように構成される。
密封部材30は、非貫通型金属部材10aに連結された第3及び第4のリード端子23,24を外部に露出されるように密封させて、その内部に積層された多数個の非貫通型金属部材10aを保護することになる。
(第3実施例)
本発明の第1実施例による金属キャパシタ10を構成する非貫通型金属部材10aを用いた本発明の第3実施例による金属キャパシタ120を、添付された図6を参照して説明する。
図6に示されたように、本発明の第3実施例による金属キャパシタ120は、3端子を有する金属キャパシタ120で多数個の非貫通型金属部材10a、導電性接着層17、第1の極性リード端子25、第2の極性リード端子26及び第3の極性リード端子27で構成されて、それぞれの構成を順次に説明する。
多数個の非貫通型金属部材10aは端子増加型金属部材11、金属酸化層12、多数個のシード電極層13、多数個のメーン電極層14、絶縁層15及び多数個の導電性連結層16からなり、それぞれの構成は金属キャパシタ10と同一なので詳細な説明は省略する。このような構成を有する多数個の非貫通型金属部材10aはそれぞれ順次に積層されて、導電性接着層17は多数個の非貫通型金属部材10aのメーン電極層14の間にそれぞれ設置され多数個の非貫通型金属部材10aを接着させる。
第1の極性リード端子25は積層された多数個の非貫通型金属部材10aの第1電極引き出し部11bにそれぞれ連結されて、第2の極性リード端子26は非貫通型金属部材10aのうち一つのメーン電極層14に連結される。即ち、図6に示されたように、第2の極性リード端子26は積層された多数個の非貫通型金属部材10aのうち最下側に位置した多数個のメーン電極層14に連結される。しかし、前記第2の極性リード端子26は使用者の要求によって多数個の非貫通型金属部材10aのうちいずれか一つにも連結可能である。メーン電極層14に連結される第2の極性リード端子26の接着力を改善するために多数個の非貫通型金属部材10aのうち一つのメーン電極層14に導電性接着層17が形成される。
第3の極性リード端子27は、積層された多数個の非貫通型金属部材10aの第2電極引き出し部11cにそれぞれ連結され金属キャパシタ120を3端子で構成することができる。3端子からなる第1乃至第3の極性リード端子25,26,27のうち第1の極性リード端子25と第3の極性リード端子27はそれぞれ陽極箔で作用するように金属酸化層12が形成された端子増加型金属部材11の第1電極引き出し部11b及び第2電極引き出し部11cにそれぞれ連結されることによってアノード(anode)電極で使用されて、第2の極性リード端子26は陰極箔で作用するように金属酸化層12を形成していないメーン電極層14に連結されることによってカソード(cathode)電極で使用され金属キャパシタ120が有極性を有するように構成される。
第1電極引き出し部11b及び第2電極引き出し部11cが具備される端子増加型金属部材11は、陰極箔で作用するように適用することができる。端子増加型金属部材11が陰極箔で作用する場合にメーン電極層14は陽極箔で作用する。従って、第1の極性リード端子25と第3の極性リード端子27は第2の極性リード端子26がカソード電極で適用される場合にそれぞれアノード電極で適用されて、第2の極性リード端子26がアノード電極で適用される場合にはそれぞれカソード電極で適用される。また、第2の極性リード端子26は第1の極性リード端子25と第3の極性リード端子27がそれぞれカソード電極で適用される場合にアノード電極で適用されて、第1の極性リード端子25と第3の極性リード端子27がそれぞれアノード電極で適用される場合にカソード電極で適用される。
密封部材30は、第1乃至第3の極性リード端子25,26,27が連結された多数個の非貫通型金属部材10aを第1乃至第3の極性リード端子25,26,27が外部に露出されるように密封させて積層された多数個の非貫通型金属部材10aを保護する役割をすることになる。このように本発明の金属キャパシタは金属材質を使用することによって高電圧が可能となり、耐熱安全性、耐環境性を改善させることができるので陰極形成が必要なくてキャパシタの厚さを薄く製造することができて、層間接触抵抗が生じなくてインピーダンス特性を改善させることができる。
本発明の金属キャパシタは、電源回路の平滑回路、ノイズフィルタやバイパスキャパシタ等に適用することができる。
本発明の第1実施例による金属キャパシタの斜視図。 図1に示された金属キャパシタのA1―A2線の切断面図。 図1に示された金属キャパシタのB1―B2線の切断面図。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第1実施例による金属キャパシタの製造過程を示した図面。 本発明の第2実施例による金属キャパシタの断面図。 本発明の第3実施例による金属キャパシタの断面図。
符号の説明
10,110,120…金属キャパシタ、10a…非貫通型金属部材、11…端子増加型金属部材、11a…溝形成部、11b…第1電極引き出し部、11c…第2電極引き出し部、12…金属酸化層、13…シード電極層、14…メーン電極層、15…絶縁層、16…導電性連結層、17…導電性接着層。

Claims (19)

  1. 多数個の溝が形成される溝形成部と、前記溝形成部にそれぞれ形成される第1及び第2電極引き出し部を有する端子増加型金属部材と、
    前記端子増加型金属部材に形成される金属酸化層と、
    前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成された多数個の溝が埋まるように溝形成部に形成される多数個のメーン電極層と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるように多数個のメーン電極層と端子増加型金属部材に形成される絶縁層と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に形成され前記多数個のメーン電極層を連結する多数個の導電性連結層と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部に選択的に連結される第1のリード端子と、
    前記端子増加型金属部材のメーン電極層に連結される第2のリード端子と、
    前記第1及び第2のリード端子が連結された端子増加型金属部材を第1及び第2のリード端子が外部に露出されるように密封させる密封部材と、で構成されることを特徴とする金属キャパシタ。
  2. 多数個の溝が形成される溝形成部と、前記溝形成部にそれぞれ形成される第1及び第2電極引き出し部を有する端子増加型金属部材と、
    前記端子増加型金属部材に形成される金属酸化層と、
    前記端子増加型金属部材の溝形成部の両面に形成された金属酸化層にそれぞれ形成される多数個のシード電極層と、
    前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成される多数個の溝が埋まるように溝形成部に形成された多数個のシード電極層にそれぞれ形成される多数個のメーン電極層と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるように多数個のメーン電極層と端子増加型金属部材に形成される絶縁層と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に形成され前記多数個のメーン電極層を連結する多数個の導電性連結層と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部に選択的に連結される第1のリード端子と、
    前記端子増加型金属部材のメーン電極層に連結される第2のリード端子と、
    前記第1及び第2のリード端子が連結された端子増加型金属部材を第1及び第2のリード端子が外部に露出されるように密封させる密封部材と、で構成されることを特徴とする金属キャパシタ。
  3. 請求項2において、前記端子増加型金属部材はアルミニウム(Al)、ニオビウム(Nb)、タンタル(Ta)、チタン(Ti)及びジルコニウム(Zr)のうちいずれか一つが適用されることを特徴とする金属キャパシタ。
  4. 請求項2において、前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成される多数個の溝は円形や多角形で形成されることを特徴とする金属キャパシタ。
  5. 請求項2において、前記金属酸化層はアルミナ(Al)、酸化ニオビウム(Nb)、一酸化ニオビウム(NbO)、酸化タンタル(Ta)、酸化チタン(TiO)及び酸化ジルコニウム(ZrO)のうちいずれか一つが適用されることを特徴とする金属キャパシタ。
  6. 請求項2において、前記シード電極層と前記メーン電極層及び導電性連結層はそれぞれアルミニウム(Al)、銅(Cu)、亜鉛(Zn)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、錫(Sn)、インジウム(In)、パラジウム(Pd)、白金(Pt)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru)及び金(Au)のうちいずれか一つが適用されることを特徴とする金属キャパシタ。
  7. 請求項2において、前記多数個のメーン電極層のうち一つは前記第2のリード端子を連結するための導電性接着層がさらに具備されることを特徴とする金属キャパシタ。
  8. 請求項2において、前記密封部材はモールディング材質や内部の空いたカバー部材が適用されることを特徴とする金属キャパシタ。
  9. 多数個の溝が配列され形成される溝形成部と、前記溝形成部にそれぞれ形成される第1及び第2電極引き出し部を有する端子増加型金属部材と、前記端子増加型金属部材に形成される金属酸化層と、前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成される多数個の溝が埋まるように溝形成部に形成される多数個のメーン電極層と、前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるように多数個のメーン電極層と端子増加型金属部材に形成される絶縁層と、前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に形成され前記多数個のメーン電極層を連結する多数個の導電性連結層と、からなり、それぞれ順次に積層される非貫通型金属部材と、
    前記多数個の非貫通型金属部材のメーン電極層の間にそれぞれ設置され多数個の非貫通型金属部材を接着させる導電性接着層と、
    前記積層された多数個の非貫通型金属部材のうち奇数番目に位置した多数個の非貫通型金属部材の第1電極引き出し部にそれぞれ連結される第3のリード端子と、
    前記積層された多数個の非貫通型金属部材のうち偶数番目に位置した非貫通型金属部材の第2電極引き出し部にそれぞれ連結される第4のリード端子と、
    前記第3及び第4のリード端子が連結された多数個の非貫通型金属部材を第3及び第4のリード端子が外部に露出されるように密封させる密封部材と、で構成されることを特徴とする金属キャパシタ。
  10. 請求項9において、前記金属キャパシタは端子増加型金属部材の溝形成部の両面に形成された金属酸化層に形成される多数個のシード電極層をさらに含むことを特徴とする金属キャパシタ。
  11. 多数個の溝が配列され形成される溝形成部と、前記溝形成部にそれぞれ形成される第1及び第2電極引き出し部を有する端子増加型金属部材と、前記端子増加型金属部材に形成される金属酸化層と、前記端子増加型金属部材の溝形成部の両面に形成された金属酸化層にそれぞれ形成される多数個のシード電極層と、前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成される多数個の溝が埋まるように溝形成部に形成された多数個のシード電極層にそれぞれ形成される多数個のメーン電極層と、前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるように多数個のメーン電極層と端子増加型金属部材に形成される絶縁層と、前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に形成され前記多数個のメーン電極層を連結する多数個の導電性連結層と、からなり、それぞれ順次に積層される非貫通型金属部材と、
    前記多数個の非貫通型金属部材のメーン電極層の間にそれぞれ設置され多数個の非貫通型金属部材を接着させる導電性接着層と、
    前記積層された多数個の非貫通型金属部材の第1電極引き出し部にそれぞれ連結される第1の極性リード端子と、
    前記非貫通型金属部材のうち一つのメーン電極層に連結される第2の極性リード端子と、
    前記積層された多数個の非貫通型金属部材の第2電極引き出し部にそれぞれ連結される第3の極性リード端子と、
    前記第1乃至第3の極性リード端子が連結された多数個の非貫通型金属部材を第1乃至第3の極性リード端子が外部に露出されるように密封させる密封部材と、から構成されることを特徴とする金属キャパシタ。
  12. 請求項11において、前記第2の極性リード端子が連結される多数個の非貫通型金属部材のうち一つのメーン電極層には導電性接着層がさらに具備されることを特徴とする金属キャパシタ。
  13. 母材にプリンティング方式インク、物理的なスクラッチ、ナノ針を用いてパターンや溝を形成する過程と、
    DC食刻方法を用いて母材の両面にそれぞれ多数個の溝が配列される溝形成部を形成して、その一側と他側に第1及び第2電極引き出し部を一体に形成する端子増加型金属部材を形成する過程と、
    前記端子増加型金属部材に溝形成部と第1及び第2電極引き出し部が一体に形成されると陽極酸化方法を用いて端子増加型金属部材に金属酸化層を形成する化成過程と、
    前記端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部が外部に露出されるようにCVD方法を用いて多数個のメーン電極層と端子増加型金属部に絶縁層を形成する過程と、
    前記電解メッキや無電解メッキ方法を用いて端子増加型金属部の溝形成部に多数個のシード電極層を形成する過程と、
    前記多数個のシード電極層に電解メッキや無電解メッキ方法を用いて多数個のシード電極層を媒介として前記端子増加型金属部材の溝形成部に形成された多数個の溝が埋没されるように多数個のメーン電極層を形成する過程と、
    端子増加型金属部材の第1及び第2電極引き出し部と直交するように前記多数個のメーン電極層と前記絶縁層に多数個のメーン電極層を連結する導電性連結層を形成する過程と、
    前記端子増加型金属部材の前記メーン電極層に第2のリード端子を連結させて前記第1及び第2電極引き出し部にそれぞれ第1のリード端子を選択的に連結させる過程と、
    前記第1及び第2のリード端子が連結されると端子増加型金属部材の第1及び第2のリード端子が外部に露出されるように前記端子増加型金属部材を密封部材で密封させる過程と、で構成されることを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
  14. 請求項13において、前記化成過程の陽極酸化方法は脱イオン水で加熱工程を行って、ホウ酸とホウ酸アンモニウムの混合物で混合物の濃度と電圧を変化させながら複数回酸化を進行させるように工程を行って、熱処理、再化成を繰り返し行う工程を行って、再化成の際発生された副産物を除去するために副産物処理を行って、ホウ酸やリン酸を拭き取るための洗浄工程を行うことを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
  15. 請求項13において、前記金属酸化層に多数個のシード電極層を形成する過程で活性剤として硫酸パラジウム水溶液を適用して所定の時間浸積した後、再び所定の時間浸積洗浄して表面の活性剤を除去することを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
  16. 請求項13において、前記メーン電極層を形成する過程で電解メッキは硫酸ニッケルや塩化ニッケル水溶液をpH1から5にして、温度は30〜70℃で維持して、電流密度は20〜120mA/cmのDC電流を印加して実施することを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
  17. 請求項13において、前記メーン電極層を形成する過程で無電解メッキは70〜90℃の間のニッケルリン酸水溶液をpH5〜7の間に調節してここにシード電極層が形成された素材を10〜30分間無電解メッキを行って、表面のメッキ液成分を除去するための洗浄と100℃以下の乾燥を進行することを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
  18. 請求項13において、前記溝形成部と溝形成部の一側と他側に第1及び第2電極引き出し部を一体に形成する過程で溝形成部に形成される多数個の溝は円形や多角形で形成されて、円形の溝の径は1μm乃至100μmになるように形成して、その深さが両面で0.5未満になるように形成されることを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
  19. 請求項13において、前記導電性連結層を形成する過程と前記第1及び第2のリード端子を連結させる過程の間には第1及び第2のリード端子の接着力を改善させるために第2のリード端子が連結されるメーン電極層に導電性接着層を形成する過程がさらに具備されて、前記導電性接着層の形成は金属接着剤やソルダーペーストを塗布する方法、電解メッキ方法及び無電解メッキ方法のうちいずれか一つが適用されることを特徴とする金属キャパシタの製造方法。
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