JP2005094754A - ハイパーリングオシレータ、該リングオシレータを備えたシステム、及びリングオシレーティング方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 リングオシレータは、第1ループを形成する第1論理回路を有する。また、リングオシレータは、第2ループを形成する第2論理回路を有することによって、第1ループと第2ループに共通であるノードで位相補間が行われるようにする。位相補間に高周波数の出力信号が生成される。
【選択図】 図4
Description
本発明の他の目的は、前記目的を達成するためのリングオシレーティング方法を供給することにある。
本発明のまた他の目的は、前記目的を達成するためのリングオシレータを備えたシステムを供給することにある。
前記第1論理回路は、前記第2論理回路と共有された少なくとも一つの回路素子を備え、前記回路素子はインバーターまたは差動増幅器で構成されることを特徴とする。
そして、前記リングオシレータは、少なくとも二つの追加回路ループをさらに備え、前記第1発振信号よりも高い周波数を有する発振信号を生成することを特徴とする。
前記第1論理ループは奇数のインバーティングステージ段を備え、前記第2論理回路は偶数のインバーティングステージ段を備えることを特徴とする。
前記クロック発生器はマザーボード上に直接実装されることを特徴とする。
図1Aには、リングオシレータの従来の実施例が示されている。図に示すように、出力(Vosc)がインバーターI1に戻されて信号がハイレベルとローレベルとの間でトグルされる。この信号の周期はインバーターによる信号処理により引き起こされる遅延に相当する。インバーターの代わりに差動増幅器を利用する従来のリングオシレータの他の実施例が図1Bに示されている。インバーター、または差動増幅器のような実施とは関係なく、これらの構成要素をインバーティングステージ段と言う。図1A及び図1Bの各実施例は、三つのインバーティングステージ段を有する。ハイ信号とロー信号との間のトグルの全体周期はステージの数と各ステージでの遅延によって決定される。
Claims (28)
- 第1ループを形成する第1論理回路と、
第2ループを形成する第2論理回路と、
を備えて前記第1ループと第2ループに共通であるノードで位相補間が行われるようにすることを特徴とするリングオシレータ。 - 前記第1論理回路は、前記第2論理回路と共有された少なくとも一つの回路素子を備えることを特徴とする請求項1に記載のリングオシレータ。
- 前記回路素子は、インバーターまたは差動増幅器を備えることを特徴とする請求項2に記載のリングオシレータ。
- 前記第1論理回路は奇数のインバーティングステージ段(stage)を備え、
前記第2論理回路は偶数のインバーティングステージ段を備えることを特徴とする請求項1に記載のリングオシレータ。 - インバーティングステージ段は、インバーターを備えることを特徴とする請求項4に記載のリングオシレータ。
- インバーティングステージ段は、差動増幅器を備えることを特徴とする請求項4に記載のリングオシレータ。
- 第1奇数のインバーティングステージ段を有する第1ループを形成する第1論理回路と、
前記第1ループ及び第2ループに共通である第1ノードで位相補間が行われるように第2ループを形成する第2論理回路と、
第2奇数のインバーティングステージ段を有する第3ループを形成する第3論理回路と、
を備えて前記位相補間が第2ノードで行われるようにし、前記第2ループと第3ループに共通であることを特徴とするリングオシレータ。 - 前記位相補間が少なくとも三つの相異なるノードで行われるように配列された少なくとも二つの追加回路ループを備えることを特徴とする請求項7に記載のリングオシレータ。
- 位相ロックループを備えることを特徴とする請求項7に記載のリングオシレータ。
- 第1及び第2回路ループと、
位相補間が行われる前記第1及び第2回路ループに共通であるノードと、を備えて前記第1ループによって独立的に供給される発振信号よりも高い周波数を有する第1発振信号を生成することを特徴とするリングオシレータ。 - 位相補間が行われる第2ノード及び第3ループをさらに備え、
前記オシレータは、前記第1発振信号よりも高い周波数を有する発振信号を生成することを特徴とする請求項10に記載のリングオシレータ。 - 少なくとも二つの追加回路ループをさらに備え、
前記オシレータは、前記第1発振信号よりも高い周波数を有する発振信号を生成することを特徴とする請求項10に記載のリングオシレータ。 - 第1回路ループ及び第2回路ループの共通出力に位置した第1ノードと、
前記第1ノードの前のインバーティングステージ段に位置した第2ノードと、
前記第1ノードの後のインバーティングステージ段に位置した第3ノードと、
少なくとも二つの回路ループに共通となるように位置した第4ノードと、
を備えて位相補間が前記第4ノードで行われるようにすることを特徴とするリングオシレータ。 - 前記第1回路ループは、前記第2回路ループと共有された少なくとも一つの回路素子を備えることを特徴とする請求項13に記載のリングオシレータ。
- 前記第2ノードが前記第2回路ループ及び第3回路ループに共通となり、位相補間が行われるように配列された第3回路ループをさらに備えることを特徴とする請求項13に記載のリングオシレータ。
- 少なくとも三つのノードが前記ループのうち少なくとも二つのループと共通となり位相補間が前記三つのノードの各ノードで行われるよう配列された少なくとも二つの追加回路ループをさらに備えることを特徴とする請求項13に記載のリングオシレータ。
- 第1ノードで第1位相を有する第1出力信号を生成する段階と、
前記第1ノードで第2位相を有する第2出力信号を生成する段階と、
前記第1ノードで前記第1及び第2位相を補間して前記第1出力信号の周波数よりも高い出力周波数を有する第1結果的な出力信号を生成する段階と、
を含むことを特徴とするリングオシレーティング方法。 - 第2ノードで第3位相を有する第3出力信号を生成する段階と、
前記第3出力信号を前記第2ノードの第1出力信号と第2出力信号の少なくとも一つを補間して、第2結果的な出力信号が前記第1結果的な出力信号よりも高い周波数を有する段階と、
をさらに含むことを特徴とする請求項17に記載のリングオシレーティング方法。 - 複数の命令及びアドレス信号を発生するメモリ制御機と、
複数のメモリ装置を有すると共に前記メモリ制御機から複数の命令及びアドレス信号を受信するメモリモジュールとを備え、
データを貯蔵するための前記メモリ装置のそれぞれは、
前記データを貯蔵するための複数のメモリセルと、
位相ロックループ用として動作するリングオシレータとを備え、
前記リングオシレータは、
第1ループを形成する第1論理回路と、
第2ループを形成する第2論理回路と、
を備えて、前記第1ループと第2ループに共通であるノードで位相補間が行われるようにすることを特徴とするシステム。 - 前記メモリ装置は、静的ランダムアクセスメモリ(SRAM),動的ランダムアクセスメモリ(DRAM),及びリード専用メモリ(ROM)で構成されたグループから選択された一つを備えることを特徴とする請求項19に記載のシステム。
- 前記第1論理ループは、奇数のインバーティングステージ段を備えることを特徴とする請求項19に記載のシステム。
- 前記第2論理回路は、偶数のインバーティングステージ段を備えることを特徴とする請求項19に記載のシステム。
- 前記インバーティングステージ段は、インバーターを備えることを特徴とする請求項21に記載のシステム。
- 前記インバーティングステージ段は、差動増幅器を備えることを特徴とする請求項21に記載のシステム。
- 前記インバーティングステージ段は、インバーターを備えることを特徴とする請求項22に記載のシステム。
- 前記インバーティングステージ段は、差動増幅器を備えることを特徴とする請求項22に記載のシステム。
- 複数の命令及びアドレス信号を発生し、第1クロック信号を受信するメモリ制御機と、
複数のメモリ装置を有すると共に前記メモリ制御機から複数の命令及びアドレス信号を受信するメモリモジュールと、
前記第1クロック信号を発生し、前記第1クロック信号を前記メモリ制御機に転送するクロック発生器とを備え、
前記クロック発生器は、クロックソース及びリングオシレータを含む位相ロックループを備え、
前記リングオシレータは、
第1ループを形成する第1論理回路と、
第2ループを形成する第2論理回路と、
を備えて、前記第1ループと第2ループに共通であるノードで位相補間が行われるようにすることを特徴とするシステム。 - 前記クロック発生器は、マザーボード(motherboard)上に直接実装されることを特徴とする請求項27に記載のシステム。
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